JP2000306847A - Treatment apparatus - Google Patents

Treatment apparatus

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JP2000306847A
JP2000306847A JP11113817A JP11381799A JP2000306847A JP 2000306847 A JP2000306847 A JP 2000306847A JP 11113817 A JP11113817 A JP 11113817A JP 11381799 A JP11381799 A JP 11381799A JP 2000306847 A JP2000306847 A JP 2000306847A
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守弘 高梨
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve workability in inspection and the like of a gas feeding system. SOLUTION: A treatment apparatus has a plurality of treatment units stored in a frame box 2. In a treatment step, a treatment gas is fed to each treatment unit via a pressure adjusting unit 4 and a flow-rate control unit 5 in a gas feeding system. A first storage box 11 for storing the flow-rate control unit 5 is provided at the upper part of the frame box 2, and a second storage box 12 for storing the pressure adjusting unit 4 as a whole is provided at a position, that is lower than the upper part of the frame box 2 and that facilitates working.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、処理装置に関す
る。
[0001] The present invention relates to a processing apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイスの製造プロセスにおいて
は、被処理体である例えば半導体ウエハに酸化、拡散、
成膜、アニール等の処理を施すために、各種の処理装置
が使用されている。この処理装置としては、一度に多数
枚の半導体ウエハの処理が可能なバッチ式の処理装置
と、半導体ウエハを一枚ずつ処理する枚葉式の処理装置
とが知られている。特に、枚葉式の処理装置は、半導体
ウエハの面内均一な処理および急速な昇降温を要する処
理が比較的容易に可能であることから、ウエハサイズの
大型化および半導体素子の微細化に伴い多く使用される
ようになってきている。
2. Description of the Related Art In a semiconductor device manufacturing process, an object to be processed, for example, a semiconductor wafer is oxidized, diffused,
Various processing apparatuses are used to perform processes such as film formation and annealing. As the processing apparatus, there are known a batch processing apparatus capable of processing a large number of semiconductor wafers at a time, and a single-wafer processing apparatus which processes semiconductor wafers one by one. In particular, a single-wafer processing apparatus can relatively easily perform uniform processing within a surface of a semiconductor wafer and processing that requires rapid temperature rise and fall, and accordingly, with the increase in wafer size and miniaturization of semiconductor elements. It is increasingly being used.

【0003】前記処理装置としては、筐体内に収容され
た複数の処理部を備えた共通エンクロージャータイプの
もの(前者という)と、筐体内に個別に収容された複数
の処理部を備えた独立エンクロージャータイプのもの
(後者という)とがあり、何れのものも各処理部にガス
供給系の圧力調整部および流量制御部を介して処理ガス
等のガスを供給して処理を行なうように構成されてい
る。前記流量制御部においては、流量の設定を処理装置
の前面部に設けられた液晶ディスプレイ装置の画面上で
行ない、以後は自動で流量が制御されるようになってい
る。一方、前記圧力調整部においては、手動で圧力を設
定し、以後は日常的ないし定期的に圧力ゲージをチェッ
クすれば良いようになっている。
[0003] As the processing device, a common enclosure type (referred to as the former) having a plurality of processing units housed in a housing, and an independent enclosure having a plurality of processing units individually housed in the housing. There is a type (referred to as the latter) which is configured to perform processing by supplying a gas such as a processing gas to each processing unit via a pressure adjusting unit and a flow control unit of a gas supply system. I have. In the flow rate control unit, the flow rate is set on a screen of a liquid crystal display device provided on the front surface of the processing apparatus, and thereafter, the flow rate is automatically controlled. On the other hand, in the pressure adjusting section, the pressure is manually set, and thereafter, the pressure gauge may be checked on a daily or regular basis.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者の
処理装置においては、設置スペースの関係で、前記ガス
供給系の圧力調整部および流量制御部が筐体の上部(例
えば床面から2400mmの高さ)に設置されていたの
で、圧力の設定やチェックを行なうのに、踏み台や脚立
を用いなければならず、作業がし難いという問題があっ
た。一方、後者の処理装置においては、筐体内の上部
(例えば床面から2000mmの高さ)に前記ガス供給系
の圧力調整部および流量制御部が設けられているため、
前者のものよりも作業はし易いが、共通するガスを使用
していても処理部毎に圧力の設定やチェックを行なわな
ければならず、作業が大変であった。
However, in the former processing apparatus, the pressure adjusting section and the flow rate controlling section of the gas supply system are arranged at the upper part of the housing (for example, at a height of 2400 mm from the floor) due to the installation space. ), It is necessary to use a step ladder or a stepladder to set and check the pressure, and there is a problem that the operation is difficult. On the other hand, in the latter processing apparatus, since the pressure adjustment unit and the flow control unit of the gas supply system are provided in the upper part (for example, at a height of 2000 mm from the floor) in the housing,
Although the work is easier than the former, even if a common gas is used, the pressure must be set and checked for each processing unit, and the work is difficult.

【0005】本発明は、前記事情を考慮してなされたも
ので、ガス供給系に関する作業性の向上を図った処理装
置を提供することを目的とする。
[0005] The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and has as its object to provide a processing apparatus that improves the workability of a gas supply system.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明のうち、請求項1
に係る発明は、筐体内に収容された複数の処理部を備
え、各処理部にガス供給系の圧力調整部および流量制御
部を介して処理ガス等のガスを供給して処理を行なう処
理装置において、前記流量制御部を収容した第1の収容
箱を前記筐体の上部に設置し、前記圧力調整部をまとめ
て収容した第2の収容箱を前記筐体の上部よりも低い作
業し易い場所に設置したことを特徴とする。
Means for Solving the Problems In the present invention, claim 1 is provided.
The processing apparatus includes a plurality of processing units housed in a housing, and performs processing by supplying a gas such as a processing gas to each processing unit via a pressure adjustment unit and a flow control unit of a gas supply system. In the first aspect, the first housing box accommodating the flow rate control unit is installed at the upper part of the housing, and the second housing box accommodating the pressure adjusting unit collectively is easier to work than the upper part of the housing. It is characterized by being installed in a place.

【0007】請求項2に係る発明は、筐体内に個別に収
容された複数の処理部を備え、各処理部にガス供給系の
圧力調整部および流量制御部を介して処理ガス等のガス
を供給して処理を行なう処理装置において、前記各処理
部の筐体内に複数の処理部に共通する共通ガスの流量制
御部ならびに処理部毎に異なる固有ガスの圧力調整部お
よび流量制御部を収容した第1の収容箱を設置し、前記
共通ガスの圧力調整部をまとめて収容した第2の収容箱
を作業し易い場所に設置したことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, a plurality of processing units individually housed in a housing are provided, and a gas such as a processing gas is supplied to each processing unit via a pressure adjusting unit and a flow control unit of a gas supply system. In a processing apparatus for supplying and performing processing, a housing for each of the processing units accommodates a flow control unit for a common gas common to a plurality of processing units, and a pressure adjustment unit and a flow control unit for a unique gas different for each processing unit. A first storage box is installed, and a second storage box that collectively stores the common gas pressure regulators is installed in a place where it is easy to work.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態を添
付図面に基いて詳述する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

【0009】本発明の第1の実施の形態を示す図1ない
し図2において、1は枚葉式の処理装置(例えば熱処理
装置)で、この処理装置1は共通の一つの筐体2内に複
数の処理部である処理室(プロセスチャンバ)3を備
え、各処理室3にガス供給系の圧力調整部4および流量
制御部5を介して処理ガス等のガスを供給して所定の処
理ガス、処理温度および処理圧力の下で所定の処理例え
ばCVD等を行なうように構成されている。
In FIGS. 1 and 2 showing a first embodiment of the present invention, reference numeral 1 denotes a single-wafer processing apparatus (for example, a heat treatment apparatus). A processing chamber (process chamber) 3 which is a plurality of processing units is provided, and a gas such as a processing gas is supplied to each processing chamber 3 via a pressure adjusting unit 4 and a flow rate control unit 5 of a gas supply system, and a predetermined processing gas A predetermined process, such as CVD, is performed at a process temperature and a process pressure.

【0010】この処理装置1は、被処理体例えば半導体
ウエハの搬送を行なう図示しない搬送アーム機構を内部
に備えた搬送室6を備えており、この搬送室6の周囲に
複数図示例では4個の処理室3がゲートバルブ7を介し
て連結されている。これらの処理室3は、例えば2個ず
つ異なる処理を行なうように構成されているが、個々に
同じ処理または別の処理を行なうように構成されていて
もよい。
The processing apparatus 1 has a transfer chamber 6 provided with a transfer arm mechanism (not shown) for transferring an object to be processed, for example, a semiconductor wafer. Are connected through a gate valve 7. These processing chambers 3 are configured to perform different processing, for example, two by two, but may be configured to individually perform the same processing or different processing.

【0011】筐体2の前部(前面部)には、複数枚例え
ば25枚程度の半導体ウエハを収納した運搬容器である
カセットを搬入搬出するための開閉ゲートを有する搬入
出口8が設けられ、前記搬送室3には、カセットを収容
する左右一対のカセット室9が前記搬入出口8に臨んで
設けられている。また、搬送室6には、熱処理後の半導
体ウエハを冷却するための冷却室10が連結されてい
る。
A loading / unloading port 8 having an opening / closing gate for loading / unloading a cassette, which is a transport container containing a plurality of, for example, about 25 semiconductor wafers, is provided at a front portion (front surface portion) of the housing 2. The transfer chamber 3 is provided with a pair of left and right cassette chambers 9 for accommodating cassettes facing the loading / unloading port 8. Further, a cooling chamber 10 for cooling the semiconductor wafer after the heat treatment is connected to the transfer chamber 6.

【0012】前記処理室3、搬送室6、冷却室10およ
びカセット室9は、図示しない減圧ポンプを備えた排気
系により所定の圧力例えば数Torr程度に減圧排気可
能に構成されている。前記ガス供給系は、工場のガス供
給源から圧力調整部4および流量制御部5を介して各処
理室3に処理ガスを供給する配管(ガス種毎に異なる)
と、内部雰囲気を不活性ガスで置換するために各処理室
3、搬送室6、冷却室10およびカセット室9に不活性
ガス例えば窒素ガスを供給する配管と、各処理室3にク
リーニングガスを供給する配管等を備えている(図示省
略)。前記搬送室6内の図示しない搬送アームによっ
て、カセット室9内のカセット内から半導体ウエハが1
枚ずつ取出されて所定の処理室3内に搬入され、処理室
3内で所定の処理後、処理済の半導体ウエハが処理室3
から搬出されて冷却室10で冷却された後、カセット室
9内のカセット内に戻されるように構成されている。
The processing chamber 3, the transfer chamber 6, the cooling chamber 10, and the cassette chamber 9 can be evacuated to a predetermined pressure, for example, about several Torr by an exhaust system having a decompression pump (not shown). The gas supply system is a pipe (different for each gas type) for supplying a processing gas from a gas supply source of a factory to each processing chamber 3 via a pressure regulator 4 and a flow controller 5.
A pipe for supplying an inert gas, for example, nitrogen gas, to each of the processing chambers 3, the transfer chamber 6, the cooling chamber 10, and the cassette chamber 9 in order to replace the internal atmosphere with an inert gas; A supply pipe and the like are provided (not shown). By the transfer arm (not shown) in the transfer chamber 6, one semiconductor wafer can be removed from the cassette in the cassette chamber 9.
The semiconductor wafers are taken out one by one and carried into a predetermined processing chamber 3. After a predetermined processing in the processing chamber 3, the processed semiconductor wafer is transferred to the processing chamber 3.
After being discharged from the cooling chamber 10 and cooled in the cooling chamber 10, it is returned to the cassette in the cassette chamber 9.

【0013】そして、前記筐体2の上部には、前記ガス
供給系の流量制御部5を収容した第1の収容箱であるガ
スボックス11が設置され、前記筐体2の上部よりも低
い作業し易い場所には、前記ガス供給系の圧力調整部4
をまとめて収容した第2の収容箱であるレギュレータボ
ックス12が設置されている。前記ガスボックス11
は、前記処理室3に対応して複数図示例では4個設置さ
れている。各ガスボックス11内には、対応する処理室
3に通じる配管、該配管に設けられた流量制御弁を含む
流量制御機構や開閉弁(シャットオフバルブ)等が収容
されている(図示省略)。
A gas box 11, which is a first storage box for storing the flow rate control unit 5 of the gas supply system, is installed on the upper part of the housing 2, and the operation is lower than the upper part of the housing 2. In a place where it is easy to perform, the pressure adjusting section 4 of the gas supply system is provided.
A regulator box 12, which is a second storage box that collectively stores therein, is installed. The gas box 11
In the illustrated example, four are installed corresponding to the processing chambers 3. Each gas box 11 accommodates a pipe connected to the corresponding processing chamber 3, a flow control mechanism including a flow control valve provided in the pipe, an on-off valve (shut-off valve), and the like (not shown).

【0014】前記筐体2の前面部には、プロセスのレシ
ピやガス流量等を設定、表示する画面を有する液晶ディ
スプレイ装置が設けられている。また、筐体2の後面部
にもセパレートタイプのディスプレイ装置が設けられて
いる。前記ディスプレイ装置の制御部には、各種の信号
が取り込まれており、例えばガス供給系のガス圧力が下
がった場合等にアラームを発するように構成されてい
る。
A liquid crystal display device having a screen for setting and displaying a process recipe, a gas flow rate, and the like is provided on a front portion of the housing 2. A separate display device is also provided on the rear surface of the housing 2. The control unit of the display device receives various signals, and is configured to generate an alarm when, for example, the gas pressure of the gas supply system decreases.

【0015】一方、前記筐体2の後部にはメンテナンス
用の出入口扉13が設けられ、筐体2の後部側はメンテ
ナンスエリア14とされている。このメンテナンスエリ
ア14には、出入口扉13に接近するためのステップ1
5が設置されており、このステップ15上の一側に前記
レギュレータボックス12が設置されている。なお、前
記ステップ15内には、各種の配管類が配管されてい
る。
On the other hand, an entrance / exit door 13 for maintenance is provided at a rear portion of the housing 2, and a rear area of the housing 2 is a maintenance area 14. The maintenance area 14 includes a step 1 for approaching the entrance door 13.
The regulator box 12 is installed on one side of the step 15. Various pipes are provided in the step 15.

【0016】前記レギュレータボックス12内には、工
場のガス供給源から供給されるガスをガスボックス11
の流量制御部5に分配するための配管、該配管に設けら
れた手動の圧力調整弁やガス圧力を計測表示するゲージ
等が収容されている(図示省略)。前記レギュレータボ
ックス12およびガスボックス11は、内部にガス漏れ
が発生したとしても外部に漏らさないように気密性を有
する構造とされていると共に、ガス漏れセンサを有する
排気系により内部が排気されており、安全性の向上が図
られている。
In the regulator box 12, gas supplied from a gas supply source of a factory is supplied.
A pipe for distribution to the flow control unit 5, a manual pressure regulating valve provided in the pipe, a gauge for measuring and displaying gas pressure, and the like are accommodated (not shown). The regulator box 12 and the gas box 11 have an airtight structure so that they do not leak to the outside even if gas leaks inside, and the inside is exhausted by an exhaust system having a gas leak sensor. , Safety is improved.

【0017】また、前記レギュレータボックス12の前
面部には、圧力の設定や点検等を行なうための扉16が
設けられている。なお、扉16には、内部が見えるよう
に透明材質からなる窓が装着されていることが好まし
い。
A door 16 is provided on the front surface of the regulator box 12 for setting and checking pressure. Preferably, the door 16 is provided with a window made of a transparent material so that the inside can be seen.

【0018】以上の構成からなる処理装置1によれば、
ガス供給系における流量制御部5を第1の収容箱である
ガスボックス11内に収容して筐体2の上部に配置し、
ガス供給系における圧力調整部4を前記ガスボックス1
1内から分離してまとめて第2の収容箱であるレギュレ
ータボックス12内に収容し、前記筐体2の上部よりも
低い作業し易い場所、本実施の形態ではメンテナンスエ
リア14のステップ15上に配置したので、圧力の設定
や日常的ないし定期的に行なわなければならない圧力の
点検作業等が容易にでき、操作性ないし作業性の向上が
図れる。
According to the processing apparatus 1 having the above configuration,
The flow control unit 5 in the gas supply system is housed in the gas box 11 which is the first housing box, and is arranged at the upper part of the housing 2.
The pressure adjustment unit 4 in the gas supply system is connected to the gas box 1
1 and collectively housed in a regulator box 12 which is a second housing box, which is lower than the upper part of the housing 2 and which is easy to work, in this embodiment, on a step 15 of a maintenance area 14. The arrangement facilitates setting of pressure and checking of pressure which must be performed on a daily or regular basis, thereby improving operability and operability.

【0019】すなわち、前記ガスボックス11内の流量
制御部5におけるガス流量の設定は筐体2前面部のディ
スプレイ装置の画面上で行ない、流量制御部5は自動化
されていて殆ど触る必要がないため、筐体2上部の高い
位置に配置されていても支障はないが、圧力調整部4は
手動による圧力設定や日常的な点検を要するため、メン
テナンスエリア14のステップ15上に配置することに
より操作や点検作業等が容易に行なえるようになる。ま
た、筐体2の上部よりも低い位置にあるメンテナンスエ
リア14のステップ15上に前記圧力調整部4のレギュ
レータボックス12を設置してるため、脚立等を用いる
必要がなく、安全に作業が行なえる。
That is, the setting of the gas flow rate in the flow rate control unit 5 in the gas box 11 is performed on the screen of the display device on the front surface of the housing 2, and the flow rate control unit 5 is automated and requires almost no touch. Although there is no problem even if it is arranged at a high position in the upper part of the housing 2, since the pressure adjustment unit 4 needs manual pressure setting and daily inspection, it is operated by being arranged on the step 15 of the maintenance area 14. And inspection work can be performed easily. Further, since the regulator box 12 of the pressure adjusting section 4 is installed on the step 15 of the maintenance area 14 which is lower than the upper part of the housing 2, it is not necessary to use a stepladder or the like, and the work can be performed safely. .

【0020】図3ないし図4は本発明の第2の実施の形
態である処理装置を示している。前記第1の実施の形態
の処理装置1が複数の処理室(処理部)3を一つ(共
通)の筐体2内に収容した共通エンクロージャータイプ
のものであるのに対し、本実施の形態の処理装置21は
複数の処理室(処理部)3を筐体22内に個別に収容し
た独立エンクロージャータイプのものである。本実施の
形態の処理装置21おいて、前記第1の実施の形態の処
理装置1と同一部分は同一参照符号を付して説明を省略
する。
FIGS. 3 and 4 show a processing apparatus according to a second embodiment of the present invention. The processing apparatus 1 of the first embodiment is of a common enclosure type in which a plurality of processing chambers (processing units) 3 are housed in one (common) housing 2, whereas the present embodiment is different from the first embodiment. Is an independent enclosure type in which a plurality of processing chambers (processing units) 3 are individually accommodated in a housing 22. In the processing device 21 of the present embodiment, the same parts as those of the processing device 1 of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0021】工場のクリーンルーム内は、仕切壁23に
よってクリーン度の高いオペレーションエリア24と、
クリーン度の低いメンテナンスエリア25とに仕切られ
ており、そのメンテナンスエリア25に本実施の形態の
処理装置21が設置されている。前記仕切壁23には、
カセットを搬入搬出するための開閉ゲートを有する搬入
出口26が設けられている。
In the clean room of the factory, an operation area 24 having a high degree of cleanliness by a partition wall 23,
It is divided into a maintenance area 25 having a low cleanness, and the processing apparatus 21 of the present embodiment is installed in the maintenance area 25. On the partition wall 23,
A loading / unloading port 26 having an opening / closing gate for loading / unloading the cassette is provided.

【0022】前記各筐体22は、独立していて、メンテ
ナンスエリア25の床27上に設置されている。筐体2
2内の上部には、複数の処理部3に共通に使用されるガ
ス(共通ガス)の流量制御部5aならびに処理部3毎に
使用される特有のガス(固有ガス)の圧力調整部4bお
よび流量制御部5bを収容した第1の収容箱であるガス
ボックス31が設けられている。なお、固有ガスの圧力
調整部4bは、必ずしも共通のガスボックス31内に収
容されている必要はなく、筐体22内であれば前記ガス
ボックス31と独立した収容箱(レギュレータボック
ス)内に収容されていても良い。
Each of the housings 22 is independent and installed on the floor 27 of the maintenance area 25. Case 2
In the upper part of 2, a flow control unit 5 a of a gas (common gas) commonly used by a plurality of processing units 3, a pressure adjusting unit 4 b of a unique gas (unique gas) used for each processing unit 3, A gas box 31, which is a first storage box that stores the flow control unit 5b, is provided. The pressure adjusting section 4b of the unique gas does not necessarily need to be housed in the common gas box 31, but is housed in a housing box (regulator box) independent of the gas box 31 if it is in the housing 22. It may be.

【0023】前記共通ガスの圧力調整部4aは、第2の
収容箱であるレギュレータボックス32内にまとめて収
容されており、このレギュレータボックス32は筐体2
2内から分離した作業し易い場所に設置されている。前
記各筐体22内の固有ガスの流量制御部5bには、工場
のガス供給源から配管28により筐体22内の固有ガス
の圧力調整部4bを介して固有ガスが供給されるように
なっており、また、各筐体22内の共通ガスの流量制御
部5aには、工場のガス供給源から配管29により筐体
22外の独立したレギュレータボックス32内の圧力調
整部4aを介して共通ガスが供給されるようになってい
る。
The common gas pressure adjusting section 4a is collectively housed in a regulator box 32 which is a second housing box.
It is installed in an easy-to-work place separated from the inside. The unique gas flow controller 5b in each of the casings 22 is supplied with the unique gas from the gas supply source of the factory via the pipe 28 through the unique gas pressure regulator 4b in the casing 22. In addition, a common gas flow control unit 5a in each housing 22 is shared by a pipe 29 from a gas supply source in a factory via a pressure adjusting unit 4a in an independent regulator box 32 outside the housing 22. Gas is supplied.

【0024】共通ガスとしては、例えばクリーニングガ
スや不活性ガス(窒素ガス)等がある。固有ガスは、主
に処理ガスである。なお、プロセスの変更等で固有ガス
を新たに追加する場合、または、工場から直接供給でき
ない処理ガスを使用する場合(例えば、処理ガスを液体
原料から気化させて供給する場合)には、仮想線で示す
ように、筐体22の側部にガスボックス41を適宜取付
ければ良い。このガスボックス41内には、追加する固
有ガスの圧力調整部や流量制御部が適宜収容される。
Examples of the common gas include a cleaning gas and an inert gas (nitrogen gas). The intrinsic gas is mainly a processing gas. In addition, when a unique gas is newly added due to a change in a process, or when a processing gas that cannot be directly supplied from a factory is used (for example, when a processing gas is supplied by being vaporized from a liquid material), a virtual line is used. As shown by, the gas box 41 may be attached to the side of the housing 22 as appropriate. In the gas box 41, a pressure adjusting section and a flow rate controlling section of the additional specific gas are appropriately accommodated.

【0025】本実施の形態の処理装置21によれば、ガ
ス供給系において、複数の処理室(処理部)3に共通す
る共通ガスの流量制御部5aならびに処理部3毎に異な
る固有ガスの圧力調整部4bおよび流量制御部5bを第
1の収容箱であるガスボックス31内に収容して各筐体
22内に配置し、共通ガスの圧力調整部4aを第2の収
容箱であるレギュレータボックス32内にまとめて収容
して作業し易い場所に配置したので、共通ガスの圧力の
設定や点検が一個所で容易にできるようになり、操作性
ないし作業性の向上が図れる。また、独立エンクロージ
ャタイプの処理装置21においては、例えばある一つの
処理室3のプロセスを変更する場合、ガス供給系の配管
等の交換を要せずに筐体22単位でモジュール毎交換す
れば良く、プロセスの変更が容易にできる。
According to the processing apparatus 21 of the present embodiment, in the gas supply system, the common gas flow control section 5a common to the plurality of processing chambers (processing sections) 3 and the pressure of the unique gas different for each processing section 3 The adjustment unit 4b and the flow control unit 5b are housed in a gas box 31 serving as a first storage box and arranged in each housing 22, and the pressure adjustment unit 4a for common gas is used as a regulator box serving as a second storage box. Since they are collectively housed in the space 32 and arranged in a place where they can be easily worked, the setting and inspection of the pressure of the common gas can be easily performed at one place, and the operability or the workability can be improved. Further, in the processing device 21 of the independent enclosure type, for example, when the process of one processing chamber 3 is changed, it is sufficient to replace each module in units of the housing 22 without replacing the gas supply system piping or the like. , The process can be easily changed.

【0026】以上、本発明の実施の形態を図面により詳
述してきたが、本発明は前記実施の形態に限定されるも
のではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲での種々の
設計変更等が可能である。例えば、第1の実施の形態で
は、レギュレータボックスがメンテナンスエリアのステ
ップ上に設置されているが、メンテナンスエリアの床上
に設置されていても良い。
Although the embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings, the present invention is not limited to the above embodiment, and various design changes and the like can be made without departing from the gist of the present invention. Is possible. For example, in the first embodiment, the regulator box is installed on the step of the maintenance area, but may be installed on the floor of the maintenance area.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上要する本発明によれば、次のような
効果を奏することができる。
According to the present invention as described above, the following effects can be obtained.

【0028】(1)請求項1に係る発明によれば、筐体
内に収容された複数の処理部を備え、各処理部にガス供
給系の圧力調整部および流量制御部を介して処理ガス等
のガスを供給して処理を行なう処理装置において、前記
流量制御部を収容した第1の収容箱を前記筐体の上部に
設置し、前記圧力調整部をまとめて収容した第2の収容
箱を前記筐体の上部よりも低い作業し易い場所に設置し
たので、圧力の設定や点検が容易にでき、作業性の向上
が図れる。
(1) According to the first aspect of the present invention, a plurality of processing units housed in a housing are provided, and each processing unit is provided with a processing gas or the like via a pressure adjusting unit and a flow control unit of a gas supply system. In a processing apparatus that performs processing by supplying a gas, a first storage box housing the flow rate control unit is installed on an upper part of the housing, and a second storage box housing the pressure adjustment unit collectively is provided. Since it is installed in an easy-to-work place lower than the upper part of the housing, pressure can be easily set and checked, and workability can be improved.

【0029】(2)請求項2に係る発明によれば、筐体
内に個別に収容された複数の処理部を備え、各処理部に
ガス供給系の圧力調整部および流量制御部を介して処理
ガス等のガスを供給して処理を行なう処理装置におい
て、前記各処理部の筐体内に複数の処理部に共通する共
通ガスの流量制御部ならびに処理部毎に異なる固有ガス
の圧力調整部および流量制御部を収容した第1の収容箱
を設置し、前記共通ガスの圧力調整部をまとめて収容し
た第2の収容箱を作業し易い場所に設置したので、共通
ガスの圧力の設定や点検が一個所で容易にでき、作業性
の向上が図れる。
(2) According to the second aspect of the present invention, a plurality of processing units individually housed in the housing are provided, and each processing unit performs processing via the pressure adjusting unit and the flow control unit of the gas supply system. In a processing apparatus that performs processing by supplying a gas such as a gas, a flow control unit of a common gas common to a plurality of processing units and a pressure adjustment unit and a flow rate of a unique gas different for each processing unit are provided in the housing of each processing unit Since the first storage box containing the control unit was installed and the second storage box containing the common gas pressure adjustment unit was installed in an easy-to-work place, the setting and inspection of the common gas pressure were easy. It can be easily performed in one place, and workability can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態である処理装置を示
す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a processing apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の処理装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the processing apparatus of FIG.

【図3】本発明の第2の実施の形態である処理装置を示
す平面図である。
FIG. 3 is a plan view showing a processing apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図4】図3の処理装置の1モジュールを示す図であ
る。
FIG. 4 is a diagram showing one module of the processing apparatus of FIG. 3;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,21 処理装置 2,22 筐体 3 処理室(処理部) 4,4a,4b 圧力調整部 5,5a,5b 流量制御部 11,31 ガスボックス(第1の収容箱) 12,32 レギュレータボックス(第2の収容箱) 1,21 processing device 2,22 housing 3 processing chamber (processing unit) 4,4a, 4b pressure adjusting unit 5,5a, 5b flow control unit 11,31 gas box (first storage box) 12,32 regulator box (Second storage box)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4K030 EA01 KA41 LA15 5F045 BB10 BB20 DQ17 EB02 EB08 EE04 EN04 HA24  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 4K030 EA01 KA41 LA15 5F045 BB10 BB20 DQ17 EB02 EB08 EE04 EN04 HA24

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 筐体内に収容された複数の処理部を備
え、各処理部にガス供給系の圧力調整部および流量制御
部を介して処理ガス等のガスを供給して処理を行なう処
理装置において、前記流量制御部を収容した第1の収容
箱を前記筐体の上部に設置し、前記圧力調整部をまとめ
て収容した第2の収容箱を前記筐体の上部よりも低い作
業し易い場所に設置したことを特徴とする処理装置。
1. A processing apparatus comprising a plurality of processing units housed in a housing, and performing processing by supplying a gas such as a processing gas to each processing unit via a pressure adjusting unit and a flow control unit of a gas supply system. In the first aspect, the first housing box accommodating the flow rate control unit is installed at the upper part of the housing, and the second housing box accommodating the pressure adjusting unit collectively is easier to work than the upper part of the housing. A processing device characterized by being installed in a place.
【請求項2】 筐体内に個別に収容された複数の処理部
を備え、各処理部にガス供給系の圧力調整部および流量
制御部を介して処理ガス等のガスを供給して処理を行な
う処理装置において、前記各処理部の筐体内に複数の処
理部に共通する共通ガスの流量制御部ならびに処理部毎
に異なる固有ガスの圧力調整部および流量制御部を収容
した第1の収容箱を設置し、前記共通ガスの圧力調整部
をまとめて収容した第2の収容箱を作業し易い場所に設
置したことを特徴とする処理装置。
2. A plurality of processing units individually housed in a housing, and processing is performed by supplying a gas such as a processing gas to each processing unit via a pressure adjusting unit and a flow control unit of a gas supply system. In the processing apparatus, a first storage box housing a flow control unit for a common gas common to a plurality of processing units and a pressure adjustment unit and a flow control unit for a unique gas different for each processing unit is provided in a housing of each processing unit. A processing apparatus, wherein a second storage box, which is installed and collectively accommodates the common gas pressure regulators, is installed in a place where it is easy to work.
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