JP2000304784A - スペクトラムアナライザ - Google Patents

スペクトラムアナライザ

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JP2000304784A
JP2000304784A JP11116071A JP11607199A JP2000304784A JP 2000304784 A JP2000304784 A JP 2000304784A JP 11116071 A JP11116071 A JP 11116071A JP 11607199 A JP11607199 A JP 11607199A JP 2000304784 A JP2000304784 A JP 2000304784A
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JP
Japan
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noise
signal noise
measurement
spectrum analyzer
correction
Prior art date
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Pending
Application number
JP11116071A
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English (en)
Inventor
Yuji Yoshino
勇治 吉野
Tatsuhiko Kato
達彦 加藤
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 隣接チャネル漏洩電力のような信号雑音測定
においてダイナミックレンジを拡大する。 【解決手段】 信号雑音の測定条件と同一条件でスペク
トラムアナライザの内部雑音PS (dBm)を測定し
(S2)、また信号雑音PM (dBm)を測定し(S
3)、PN (dBm)=10 log(10^(PM /1
0)−10^(PS /10))(A^BはAB を表わ
す)なる補正演算を行って真の雑音電力PN を得る(S
4)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は隣接チャネル漏洩
電力(ACP)やPDCトリプルバンドにおける送信雑
音などの信号雑音を測定するスペクトラムアナライザに
関する。
【0002】
【従来の技術】図6を参照して従来のスペクトラムアナ
ライザによる信号雑音の測定を説明する。設定部11か
ら周波数掃引スパン、中心周波数、基準レベル、中間周
波数帯域幅、ビデオ帯域幅、減衰量などが設定され、制
御部12により設定された減衰量が可変減衰器13に設
定され、設定された周波数掃引スパン、中心周波数に応
じて掃引開始周波数、掃引きざみ周波数により局部発振
器14の発振周波数が制御され、設定された中間周波数
帯域幅に中間周波数増幅器15の通過帯域幅が設定さ
れ、設定されたビデオ帯域幅に検波回路16の低域通過
ろ波器の遮断周波数が設定され、設定された基準レベル
が表示器17の基準レベルに表示される。
【0003】入力端子18よりの信号雑音は可変減衰器
13により適当なレベルにより、周波数混合器19で局
部発振器14からの局部信号と周波数混合され、その周
波数混合出力中の中間周波信号が中間周波数帯域増幅器
15で選出増幅され、更に対数増幅器20で対数増幅さ
れ、その後、検波回路16で検波され、その検波出力が
図示していないビデオ帯域増幅器(低域通過ろ波器)で
増幅され、表示器17にそのレベルが表示される。
【0004】この構成により例えばW−CDMAの隣接
チャネル漏洩電力(ACP)が測定され、その測定結果
は表示器17に基準線に対する高さとして表示される。
また設定した測定周波数についての信号雑音レベルが数
値表示される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】信号雑音の測定可能な
ダイナミックレンジを決める一つの要素はスペクトラム
アナライザの内部雑音(平均雑音レベル)である。内部
雑音を小さくすればそれだけ測定ダイナミックレンジを
大とすることができる。しかし内部雑音を小さくするに
は、技術、価格の面で簡単に達成することは困難であ
る。
【0006】この発明の目的は内部雑音を小さくするこ
となく、測定感度を上げ測定ダイナミックレンジを大き
くすることができるスペクトラムアナライザを提供する
ことにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明によれば与えら
れた測定条件で内部雑音レベルPS を測定し、また同一
測定条件で信号雑音レベルPM を測定し、測定値PM
対し、測定値PS にもとづく補正演算を行う。スペクト
ラムアナライザの内部雑音電力をPS 、測定信号雑音電
力をPM とすると、真の信号雑音電力PN は PN (W)=PM (W)−PS (W) 測定単位は一般にdBmで得られるから、 PN (dBm)=10 log(10^(PM /10)−10^(PS /10)) ・・・(1) となる。ここでA^BはAのB乗即ちAB を表わす。
【0008】つまりPM 、PS をそれぞれ電力の単位ワ
ット(W)に換算して引算した後、対数をとる。このよ
うに信号雑音を測定する条件でスペクトラムアナライザ
の内部雑音PS を測定しておき、信号雑音の測定結果P
M に対し、内部雑音PS にもとづく補正を行うことによ
り真の信号雑音PN を求めることができる。測定値P M
に対する補正値Kは次式で求まる。
【0009】 K(dB)=PN (dBm)−PM (dBm) =10 log〔10^(PM /10)−10^(PS /10)〕 −10 log(10^(PM /10)) =10 log〔1−10^(PS −PM )/10〕 ・・・(2) 補正値Kは測定信号雑音PM と内部雑音PS との差(P
M −PS )つまりS/Nで決まる。よって測定信号雑音
M と内部雑音PS とから補正値Kを求め、測定信号雑
音PM に対し次式の補正演算を行えば真の信号雑音電力
N が得られる。
【0010】 PN (dBm)=PM (dBm)+K(dB) ・・・(3)
【0011】
【発明の実施の形態】この発明の実施例を図1に示し、
図4と対応する部分に同一符号を付けてある。また動作
処理の流れを図2に示す。信号雑音の測定条件、例えば
掃引周波数スパン、中心周波数、基準レベル、中間周波
数帯域幅、ビデオ帯域幅、入力減衰器などが設定部11
に入力された状態で補正測定か否かの判定が行われ(S
1)、補正測定であれば、無入力状態の雑音電力、つま
り内部雑音電力PS の測定が行われる(S2)。この場
合、雑音レベルは一般に不安定であるから、複数回、例
えば5回測定してその平均値を用いる。
【0012】次に信号雑音電力PM の測定を行う(S
3)。例えば隣接チャネル漏洩電力測定の場合は、上、
下隣接、次隣接・・・チャネルの測定では複数、例えば
5回測定して、その平均値を用いる。次に補正演算部2
1で信号雑音電力PM に対し、内部雑音電力PS を用い
て補正演算を式(1)で行い(S4)、真の信号雑音電
力PN (dBm)を求め、これを表示器17に表示する
(S5)。
【0013】補正演算部21の演算は次のように行って
もよい。予め予測される測定条件について、信号雑音電
力PM と内部雑音電力PS とを信号雑音電力を変化させ
て測定し、式(2)により補正値K(dB)を計算し、
S/N(PM −PS )に対するK(dB)のテーブル2
2を作成しておく。このテーブルの1つをグラフで示す
と例えば図3に示すように、S/Nが大きくなると補正
値Kは大きくなっている。
【0014】測定に当っては、先の場合と同様に、与え
られた測定条件で内部雑音電力PSと信号雑音電力PM
を測定し、その測定条件と一致したテーブルを選択し、
そのテーブルにおけるS/N(PM −PS )に対する補
正値K(dB)を読み(図4、S1)、その補正値Kを
用いて式(3)を演算部23で計算して真の信号雑音P
N を求める(S2)。
【0015】次に実験例を示す。株式会社アドバンテス
ト製のスペクトラムアナライザR3265Aに、約−8
3dBmの雑音を入力し、入力減衰器13を10dBず
つ増加させて、S/Nを悪化させて、信号雑音電力PM
と内部雑音電力PS とを測定した。その測定結果を用い
て式(2)により補正値K(dB)を求め、式(3)に
より測定値PM に対して補正を行い真の信号雑音電力P
N を求めた。各測定は10回測定し、その平均電力を用
いた。この測定値、補正値、補正結果を図5に示す。こ
の結果からスペクトラムアナライザの内部雑音PS が−
66dBmでも−83dBmの信号雑音入力を、0.5
dBの精度で測定できた。
【0016】図3のグラフからすると、S/Nの測定が
±0.2dB程度の安定度であればS/Nが1dB以上
であればKの誤差(変動)は1dB以下であり、十分使
用可能な値である。つまりS/Nが1dBでKは−7d
Bであるから、この補正により、スペクトラムアナライ
ザの感度が等価的に7dB向上したことになる。このグ
ラフによると測定S/Nが0.3dBでS/Nが±0.
2dB変動すれば、Kが2〜5dBも変動することにな
るが、前記実験例によればS/Nが0.1dBでも誤差
は0.5dBに過ぎなかった。
【0017】上述において補正演算部21を設けたが、
制御部12に設けられているCPUに、補正演算部21
の機能をもたせてもよい。
【0018】
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば内部
雑音PS を、信号雑音の測定条件と同一条件で測定し、
この測定値PS により信号雑音測定値PM に対する補正
をすることにより、小さな信号雑音を正しく測定するこ
とが、等価的にスペクトラムアナライザの感度を向上さ
せたことになり、つまり大きなダイナミックレンジが得
られる。
【0019】各種測定条件についてS/N(PM
S )に対する補正値Kのテーブルを用意しておけば、
測定値PS 、PM でテーブルを参照することにより、式
(3)で示す単なる加減算で真の雑音電力PN を求める
ことができ、指数演算や対数演算を行う必要がない。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例の機能構成を示すブロック
図。
【図2】この発明の実施例の処理手順を示す流れ図。
【図3】S/N(PM −PS )と補正値Kの関係を示す
図。
【図4】テーブルを用いる補正演算の手順を示す図。
【図5】実験結果を示す図。
【図6】従来のスペクトラムアナライザを示す図。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 与えられた測定条件で内部雑音レベルP
    S を測定する手段と、 上記与えられた測定条件で信号雑音レベルPM を測定す
    る手段と、 上記測定値PM に対し上記測定値PS にもとづく補正演
    算を行う手段とを具備するスペクトラムアナライザ。
  2. 【請求項2】 与えられた測定条件でそれぞれ測定した
    内部雑音レベルと信号雑音レベルとの比に対する補正値
    を記憶したテーブルを備え、 上記補正演算手段は、上記測定値PM とPS とその測定
    条件とにより上記テーブルを参照して補正値Kを求める
    手段と、その補正値Kにより測定値PM に対し補正を行
    う手段とよりなることを特徴とする請求項1記載のスペ
    クトラムアナライザ。
JP11116071A 1999-04-23 1999-04-23 スペクトラムアナライザ Pending JP2000304784A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007033197A (ja) * 2005-07-26 2007-02-08 Sony Corp 電磁波妨害信号の発生源特定方法及びプログラム
JP2009165060A (ja) * 2008-01-10 2009-07-23 Toshiba Corp 無線通信装置、無線通信方法および通信プログラム

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