JP2000304741A - 自動洗浄機能付き間欠式水質計測方法と装置 - Google Patents

自動洗浄機能付き間欠式水質計測方法と装置

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JP2000304741A
JP2000304741A JP11154205A JP15420599A JP2000304741A JP 2000304741 A JP2000304741 A JP 2000304741A JP 11154205 A JP11154205 A JP 11154205A JP 15420599 A JP15420599 A JP 15420599A JP 2000304741 A JP2000304741 A JP 2000304741A
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JP
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water
water quality
measurement
container
measuring
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JP11154205A
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English (en)
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Kisen Tan
記先 湛
Emi Terasawa
江美 寺澤
Shoichi Shinozaki
正一 篠崎
Naruhito Ishiyama
成仁 石山
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Nihon HELS Industry Corp
Original Assignee
Nihon HELS Industry Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 きれいでない水環境では、水質計測機器の信
頼できる測定期間は短い場合が多い。その信頼できる期
間を過ぎると、自動洗浄機能付きであっても手動による
洗浄を行わなければならない。本発明で提案した方法及
び装置を利用すれば、この問題を解決できる。 【解決手段】 計測時のみ、検水用容器に検水試料を自
動採取し水質を測定する。検水時間以外は計測部を自動
洗浄した後、きれいな状態で待機しておく。これによ
り、計測機器の信頼期間は長くなる。また、一つの検水
用容器に複数の計測器を設置することにより、洗浄コス
トを低減できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、水中の汚物の付着や、
微生物膜の生成により水質計測機器の信頼性が落ちるこ
とを軽減する方法と装置であり、連続的に水質を測定す
る必要のない下水処理施設や、公共用水域の水質を監視
する施設などの場所で利用できる。また、本発明を利用
する場合は、一つ以上の水質項目を一つの検水用容器内
で計測するので、複数の計測機器を効率よく洗浄でき
る。
【0002】
【従来の技術】従来の水質計測方法は、各種の水質(例
えばpH、DO、温度、MLSS、透視度、濁度、CO
D、残留塩素)は、一日一回や数日に一回の頻度で手動
にて計測する場合や、計測部が検水中に常時浸かった状
態で連続的に自動計測する場合のいずれかによることが
一般的であった。
【0003】従来の自動計測装置では、計測部が検水中
に常時浸った状態であるのが一般的である。そのため、
洗浄する時は検水中から計測部を手動で引き上げてから
行う。自動洗浄機能付きの装置もあるが、それらの装置
では、検水中において洗浄工程を行うのが一般的であ
る。
【0004】現状においては、下水処理施設や公共用水
域の水質変動を把握するには、一日一回や数日に一回の
周期は長すぎるが、連続測定する必要性もない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】計測機器の種類やその
機器の設置場所にもよるが、自動洗浄機能の有無に関わ
らず、信頼できる測定期間は短い場合が多い。その原因
は、計測部が検水中に常時浸っているため、連続計測機
器には、水中の汚物が付着しやすく、微生物膜も生成し
やすいためである。信頼できる期間を過ぎると、自動洗
浄機能付きであっても手動による洗浄を行わなければな
らない。
【0006】計測機器の手動での洗浄は、時間がかか
る。
【0007】洗浄機能付きの場合は、複数の計測装置の
洗浄が独立して行われるので、洗浄コストは高価とな
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】計測時のみ、検水用容器
に検水試料を自動採取し水質を測定する。検水時間以外
は計測部を自動洗浄した後、きれいな状態で待機してお
く。これにより、計測部に水中の汚物が付着しにくく、
微生物膜も生成しにくい。従って、計測機器の信頼期間
は長くなる。
【0009】一つの検水用容器に複数の計測器を設置す
ることにより、洗浄コストを低減できる。
【0010】
【発明の効果】測定対象の汚れによる計測機器の信頼性
問題を解消し、水質計測データの信頼性が保証される。
【0011】サンプリング管を複数箇所から敷設するこ
とにより、異なる場所の水質を同一計測機器で測定がで
き、計測機器数の削減が可能である。
【0012】計測機器の計測部の寿命を延ばせる。
【0013】計測部の洗浄の手間を減らせる。
【0014】水質計測データの信頼性の改善により、こ
のデータを利用する水処理施設の自動制御が実現しやす
くなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】自動洗浄機能付き間欠式水質計測装置を示した
図である。
【図2】サンプリング、洗浄及び静置工程のタイムチャ
ートを示した図である。
【符号の説明】
1 検水用容器 2 水質計測機器 3 センサー部 4 制御部 5 洗浄弁 6 採水弁 7 採水ポンプ 8 排水弁 9 手動弁 10 越流管 11 下水処理施設、公共用水域等 t1 サンプリング工程の時間 t2 タンクから水を完全に出す時間 t3 センサー及びタンクを洗浄する時間 t4 タンクを満水まで、清水の注入時間 t5 静置工程の時間。t1とあわせて、データ測定の
頻度により、調整する

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一つの検水用容器に一つ又は複数の計測
    機器の計測部を取り付け、水質測定試料を測定時刻に合
    わせて、一定時間のみ検水用容器に導入し、測定後、試
    料を排出して、清水で計測機器を洗浄した状態で次回の
    測定時間まで待機することを特徴とする方法とこの方法
    で水質を自動計測する制御部を持つ装置。
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