JP2000293985A - Semiconductor memory - Google Patents
Semiconductor memoryInfo
- Publication number
- JP2000293985A JP2000293985A JP11097316A JP9731699A JP2000293985A JP 2000293985 A JP2000293985 A JP 2000293985A JP 11097316 A JP11097316 A JP 11097316A JP 9731699 A JP9731699 A JP 9731699A JP 2000293985 A JP2000293985 A JP 2000293985A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- output
- read
- semiconductor memory
- amplifier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ダイナミックラン
ダムアクセスメモリ等の半導体記憶装置に関するもので
ある。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device such as a dynamic random access memory.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、半導体記憶装置において、高速な
データ転送技術の必要性が高まっている。特に、アクセ
スタイム短縮のために、さまざまなアーキテクチャおよ
び回路が提案されている。2. Description of the Related Art In recent years, there has been an increasing need for high-speed data transfer technology in semiconductor memory devices. In particular, various architectures and circuits have been proposed to shorten the access time.
【0003】従来の半導体記憶装置について、以下に示
す。A conventional semiconductor memory device will be described below.
【0004】図3は従来の半導体記憶装置の主要構成を
示すブロック図である。図3において、1は外部クロッ
ク信号CLKを取り込んで内部でクロックCLK1、C
LK2を発生させるクロック発生回路、2は外部アドレ
ス信号を内部クロックCLK1に同期して取り込みデコ
ードするアドレスデコード回路で、2aはアドレスバッ
ファ、2bはコアアドレスデコーダ、2cは周辺アドレ
スデコーダである。3はメモリセル、センスアンプ等を
含むコア回路、4はメモリセルからのデータを出力する
ためのデータ転送回路で、4aはデータバス対DL、X
DLのデータを増幅するリードアンプ、4bはデータD
Qを出力するための出力バッファ回路である。FIG. 3 is a block diagram showing a main configuration of a conventional semiconductor memory device. In FIG. 3, reference numeral 1 designates an external clock signal CLK, and internally receives clocks CLK1 and C1.
A clock generation circuit for generating LK2, an address decode circuit 2 for taking in and decoding an external address signal in synchronization with the internal clock CLK1, 2a an address buffer, 2b a core address decoder, and 2c a peripheral address decoder. 3 is a core circuit including a memory cell, a sense amplifier, etc., 4 is a data transfer circuit for outputting data from the memory cell, and 4a is a data bus pair DL, X
A read amplifier for amplifying DL data, 4b is data D
This is an output buffer circuit for outputting Q.
【0005】以上のように構成された従来の半導体記憶
装置のデータ読み出し動作について、図4を参照しなが
ら説明する。コマンドとしてリードコマンドが入力され
た場合は、外部クロックCLKから、クロック発生回路
1で内部クロックCLK1が発生し、内部クロックCL
K1によってアドレスが取り込まれる。アドレスが取り
込まれた後、内部クロックCLK1に基づき、アドレス
デコード回路2、コア回路3、リードアンプ4aと逐次
動作することで、出力バッファ回路4bまでデータが転
送される。その後、外部クロックCLKのデータ出力を
規定するクロックエッジからクロック発生回路1を通じ
て発生された内部クロックCLK2によって、出力バッ
ファ回路4bが活性化され、データDQが出力される。[0005] The data read operation of the conventional semiconductor memory device configured as described above will be described with reference to FIG. When a read command is input as a command, the internal clock CLK1 is generated by the clock generation circuit 1 from the external clock CLK, and the internal clock CL is generated.
The address is fetched by K1. After the address is fetched, the data is transferred to the output buffer circuit 4b by sequentially operating with the address decode circuit 2, the core circuit 3, and the read amplifier 4a based on the internal clock CLK1. After that, the output buffer circuit 4b is activated by the internal clock CLK2 generated through the clock generation circuit 1 from the clock edge defining the data output of the external clock CLK, and the data DQ is output.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の構
成では、コア回路やデータ転送回路のアナログ動作時間
に比べて、データ出力ステージのラッチ回路やバッファ
回路のデジタル動作時間が短く、パイプライン動作にお
けるステージの最適化を困難にしている。However, in the conventional configuration, the digital operation time of the latch circuit and the buffer circuit of the data output stage is shorter than the analog operation time of the core circuit and the data transfer circuit. Makes optimization difficult.
【0007】本発明は、前記従来の問題点を解決するも
ので、データ出力を高速にしながら、広域の周波数帯で
最適にステージ分割できる半導体記憶装置を提供するこ
とを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide a semiconductor memory device which can optimally divide a stage in a wide frequency band while speeding up data output.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に、本発明の半導体記憶装置は、外部クロック信号に同
期して動作する半導体記憶装置であって、メモリセル
と、前記メモリセルからのデータを読み出す際にデータ
バスに転送されたデータを増幅するリードアンプと、リ
ードアンプによって増幅された出力データを出力端子に
出力するための出力バッファとを備え、外部クロック信
号のデータ出力を規定するクロックエッジに応答してリ
ードアンプを活性化するよう構成したものである。In order to solve this problem, a semiconductor memory device according to the present invention is a semiconductor memory device which operates in synchronization with an external clock signal, and comprises a memory cell and a memory cell. A read amplifier that amplifies the data transferred to the data bus when reading data; and an output buffer for outputting the output data amplified by the read amplifier to an output terminal, and defines the data output of the external clock signal. The read amplifier is activated in response to a clock edge.
【0009】この構成により、データ読み出し時には、
アドレス入力からデータバスにデータが転送されるまで
のコア回路の動作と、データバスのデータを増幅するリ
ードアンプを含むデータ出力回路の動作を分離すること
ができ、動作時間の分割をより最適にすることができ
る。また、リードアンプを外部クロックに同期させるこ
とで、周波数によってデータ転送時のアナログ動作にマ
ージンができ、特に、低周波数ではよりマージンをもっ
たデータ転送を行うことができる。With this configuration, when reading data,
The operation of the core circuit from address input to the transfer of data to the data bus can be separated from the operation of the data output circuit including the read amplifier that amplifies the data on the data bus. can do. Further, by synchronizing the read amplifier with an external clock, a margin can be provided for the analog operation at the time of data transfer depending on the frequency, and particularly, at a low frequency, data transfer with a larger margin can be performed.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0011】図1は本発明の一実施の形態における半導
体記憶装置の主要構成を示すブロック図である。本実施
の形態の半導体記憶装置は、例えば、クロック同期式D
RAMである。図1において、1は外部クロック信号C
LKを取り込んで内部でクロックCLK1、CLK2を
発生させるクロック発生回路、2は外部アドレス信号を
内部クロックCLK1に同期して取り込みデコードする
アドレスデコード回路で、2aはアドレスバッファ、2
bはコアアドレスデコーダ、2cは周辺アドレスデコー
ダである。3はメモリセル、センスアンプ等を含むコア
回路、4はメモリセルからのデータを出力するためのデ
ータ転送回路で、4aはデータバス対DL、XDLのデ
ータを増幅するリードアンプ、4bはデータDQを出力
するための出力バッファ回路である。内部クロックCL
K2は、リードアンプ4aに入力される。FIG. 1 is a block diagram showing a main configuration of a semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention. The semiconductor memory device of the present embodiment is, for example, a clock synchronous type D
RAM. In FIG. 1, 1 is an external clock signal C
A clock generation circuit for taking in LK and internally generating clocks CLK1 and CLK2, an address decoding circuit 2 for taking in and decoding an external address signal in synchronization with the internal clock CLK1, and 2a an address buffer, 2a
b is a core address decoder and 2c is a peripheral address decoder. 3 is a core circuit including a memory cell, a sense amplifier, etc., 4 is a data transfer circuit for outputting data from the memory cell, 4a is a read amplifier for amplifying data of the data bus pair DL and XDL, and 4b is data DQ Is an output buffer circuit for outputting. Internal clock CL
K2 is input to the read amplifier 4a.
【0012】以上のように構成された半導体記憶装置に
ついて、以下そのデータ読み出し動作について図2を参
照しながら説明する。The data read operation of the semiconductor memory device configured as described above will be described below with reference to FIG.
【0013】データ読み出し動作において、アドレスが
入力されてから、リードアンプ4aの入力であるデータ
バス対DL、XDLにまでデータが転送される動作は従
来例と同様である。その後、リードアンプ4aは、外部
クロックCLKのデータ出力を規定するクロックエッジ
(図2では、左から2番目の立ち上がりエッジ)からク
ロック発生回路1によって発生された内部クロックCL
K2に同期して活性化する。このリードアンプ4aの活
性化に応答して、出力バッファ回路4bの制御信号を発
生する逐次処理によって、コア回路3からデータバスに
転送されたデータは出力される。In the data read operation, the operation of transferring data from the address input to the data bus pair DL, XDL which is the input of the read amplifier 4a is the same as in the conventional example. Thereafter, the read amplifier 4a outputs the internal clock CL generated by the clock generation circuit 1 from the clock edge (the second rising edge from the left in FIG. 2) that defines the data output of the external clock CLK.
Activated in synchronization with K2. In response to the activation of the read amplifier 4a, data transferred from the core circuit 3 to the data bus is output by sequential processing for generating a control signal for the output buffer circuit 4b.
【0014】以上のように、データ読み出し動作時に、
アドレスの入力からデータバスにデータが転送されるま
でのコア回路の動作と、データバスのデータを増幅する
リードアンプを含むデータ出力回路の動作を分離するこ
とができ、動作時間の分割をより最適にしている。ま
た、リードアンプを外部クロックに同期させることで、
周波数によってデータ転送時のアナログ動作にマージン
ができ、特に、低周波数ではよりマージンをもったデー
タ転送を行うことができる。As described above, during the data read operation,
The operation of the core circuit from the input of an address until the data is transferred to the data bus can be separated from the operation of the data output circuit including the read amplifier that amplifies the data on the data bus. I have to. Also, by synchronizing the read amplifier with an external clock,
There is a margin in the analog operation at the time of data transfer depending on the frequency, and particularly at a low frequency, data transfer with a larger margin can be performed.
【0015】[0015]
【発明の効果】以上のように、本発明は、リードアンプ
を、出力を規定する外部クロックに同期させて制御し、
その後の出力回路を逐次制御していく構成により、デー
タ出力を高速にしながら、広域の周波数帯で最適にステ
ージ分割できる優れた半導体記憶装置を提供できるもの
である。As described above, according to the present invention, the read amplifier is controlled in synchronization with the external clock that defines the output,
An excellent semiconductor memory device that can optimally divide a stage in a wide frequency band while increasing the data output speed can be provided by a configuration in which subsequent output circuits are sequentially controlled.
【図1】本発明の一実施の形態における半導体記憶装置
の主要構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram illustrating a main configuration of a semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の一実施の形態における半導体記憶装置
のデータ読み出し動作を説明するためのタイミングチャ
ートFIG. 2 is a timing chart illustrating a data read operation of the semiconductor memory device according to one embodiment of the present invention;
【図3】従来の半導体記憶装置の主要構成を示すブロッ
ク図FIG. 3 is a block diagram showing a main configuration of a conventional semiconductor memory device;
【図4】従来の半導体記憶装置のデータ読み出し動作を
説明するためのタイミングチャートFIG. 4 is a timing chart illustrating a data read operation of a conventional semiconductor memory device;
1 クロック発生回路 2 アドレスデコード回路 3 コア回路 4 データ転送回路 4a リードアンプ 4b 出力バッファ回路 Reference Signs List 1 clock generation circuit 2 address decode circuit 3 core circuit 4 data transfer circuit 4a read amplifier 4b output buffer circuit
Claims (1)
導体記憶装置であって、メモリセルと、前記メモリセル
からのデータを読み出す際にデータバスに転送されたデ
ータを増幅するリードアンプと、前記リードアンプによ
って増幅された出力データを出力端子に出力するための
出力バッファとを備え、前記外部クロック信号のデータ
出力を規定するクロックエッジに応答して前記リードア
ンプを活性化することを特徴とする半導体記憶装置。1. A semiconductor memory device operating in synchronization with an external clock signal, comprising: a memory cell; a read amplifier for amplifying data transferred to a data bus when reading data from the memory cell; An output buffer for outputting the output data amplified by the read amplifier to an output terminal, wherein the read amplifier is activated in response to a clock edge defining the data output of the external clock signal. Semiconductor storage device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11097316A JP2000293985A (en) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | Semiconductor memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11097316A JP2000293985A (en) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | Semiconductor memory |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000293985A true JP2000293985A (en) | 2000-10-20 |
Family
ID=14189090
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11097316A Pending JP2000293985A (en) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | Semiconductor memory |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000293985A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009531805A (en) * | 2006-03-29 | 2009-09-03 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | Storage device having clock synchronous detection amplifier and operation method thereof |
-
1999
- 1999-04-05 JP JP11097316A patent/JP2000293985A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009531805A (en) * | 2006-03-29 | 2009-09-03 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | Storage device having clock synchronous detection amplifier and operation method thereof |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3013714B2 (en) | Semiconductor storage device | |
JP4040953B2 (en) | Data input circuit and data input method for synchronous semiconductor memory device | |
KR100945968B1 (en) | A semiconductor memory | |
JP4434619B2 (en) | Semiconductor memory system, semiconductor memory data writing method, memory control circuit, and memory control method | |
JP2002133867A (en) | Semiconductor memory and system having memory module including this | |
JP2001167580A (en) | Semiconductor memory | |
JPH09265777A (en) | Synchronizing type dram | |
JP4190140B2 (en) | Synchronous semiconductor memory device and input information latch control method | |
KR100260851B1 (en) | Semiconductor memory device with high speed read=modify-write function | |
JPH06203553A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JP3192077B2 (en) | Semiconductor storage device | |
JP2000200484A (en) | Internal instruction signal generating device and method therefor | |
KR100360409B1 (en) | Semiconductor memory device using dedicated command and address strobe signal and method for inputting command and address thereof | |
US7313051B2 (en) | Output control signal generating circuit | |
JP4220621B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
JP2000293985A (en) | Semiconductor memory | |
JP2000100160A (en) | Synchronization-type semiconductor memory | |
JP3097301B2 (en) | Semiconductor memory device | |
KR100304749B1 (en) | Semiconductor storage device | |
KR20000019161A (en) | Circuit for improving data read speed in flash memory | |
JPS62250583A (en) | Semiconductor storage device | |
JP2001332085A (en) | Semiconductor memory and synchronous memory | |
KR100656446B1 (en) | Circuit for inputting address in semiconductor memory apparatus | |
JP2004158166A (en) | Integrated circuit device, method for supplying data, and method for writing data in memory array | |
JP3528964B2 (en) | Semiconductor device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040428 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20050629 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060822 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061023 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070612 |