JP2000292122A - Positioning inspection method for bump module - Google Patents

Positioning inspection method for bump module

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JP2000292122A
JP2000292122A JP11097753A JP9775399A JP2000292122A JP 2000292122 A JP2000292122 A JP 2000292122A JP 11097753 A JP11097753 A JP 11097753A JP 9775399 A JP9775399 A JP 9775399A JP 2000292122 A JP2000292122 A JP 2000292122A
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JP
Japan
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camera
bump module
bump
module
projection
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP11097753A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Touchi
宏 登内
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Nidec Sankyo Corp
Original Assignee
Nidec Sankyo Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten the time required for positioning a camera in a shorter time while holding high accuracy. SOLUTION: An oblique ray lighting means 5 is provided to light a bump module 1 comprising a number of protrusion parts 3... arranged in a specified configuration on a circuit board 2 from the direction aslant to the optical axis of a camera 4 and a coaxial lighting means 6 to light the bump module 1 from the same direction with the optical axis of the camera 4. After the camera 4 is moved roughly to the position of the interface of the bump module 1, the protrusion parts 3... alone are taken in as image by the oblique ray lighting from the oblique ray lighting means 5 and the camera 4 is moved to the interface area of the bump module 1. Thereafter, the protrusion parts 3... are lighted by the coaxial lighting from the coaxial lighting means 6 and the images of the protrusion parts 3... are taken in to inspect the protrusion parts 3....

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、バンプモジュール
への位置決め検査方法に関する。さらに詳述すると、本
発明は、はんだなどの複数の突起部により形成されたバ
ンプモジュールの検査時における位置決め手段の改良に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting a position on a bump module. More specifically, the present invention relates to an improvement in a positioning means at the time of inspecting a bump module formed by a plurality of protrusions such as solder.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、CSP(チップ・サイズ・パッケ
ージ)などの普及が急速に広まってバンプモジュールの
集積度は年々上がり、そのモジュールのサイズも大きく
なってきている。通常、このバンプモジュールを形成す
る突起部(バンプ)の検査にはカメラを用いることが多
いが、バンプモジュールのサイズがカメラの視野範囲に
入りきらないときは分割して検査することが一般的であ
る。この場合、モジュールサイズ、カメラ視野範囲は既
知であり、分割数は事前に決定されており、バンプモジ
ュールに対するカメラの位置決めは高精度であることが
要求される。
2. Description of the Related Art In recent years, the spread of CSP (chip size package) and the like has rapidly spread, and the degree of integration of a bump module has been increasing year by year, and the size of the module has been increasing. Normally, a camera is often used to inspect the projections (bumps) that form the bump module. However, when the size of the bump module does not fit within the camera's field of view, it is common to perform a separate inspection. is there. In this case, the module size and the camera field-of-view range are known, the number of divisions is determined in advance, and the positioning of the camera with respect to the bump module needs to be highly accurate.

【0003】このようにカメラを精度良く位置決めする
方法として、図10に示すように回路基板2上に設けら
れた基板認識マーク101を利用して位置を検出しなが
ら位置決めするものがある。この方法では、バンプモジ
ュール1への位置決めのために基板認識マーク101の
認識用カメラと照明を用意し、例えば図11に示すよう
なフローにしたがって画像処理で基板認識マーク101
を数点認識し、基板座標とロボット座標の変換パラメー
タを求めて目標のバンプモジュールにカメラを位置決め
している。
As a method of accurately positioning a camera, there is a method of detecting a position by using a board recognition mark 101 provided on a circuit board 2 as shown in FIG. In this method, a camera and illumination for recognizing the board recognition mark 101 are prepared for positioning on the bump module 1, and the board recognition mark 101 is processed by image processing according to, for example, a flow shown in FIG.
The camera is positioned at the target bump module by recognizing several parameters of the target and calculating conversion parameters between the board coordinates and the robot coordinates.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
方法では2点ないしそれ以上の基板認識マーク101を
画像処理で処理してバンプモジュール1に位置決めする
ので、図11に示すように、カメラを移動(または回路
基板を移動)させて位置決めするのに相応の時間をロス
してしまう問題がある。
However, in the above-described method, two or more board recognition marks 101 are processed by image processing and positioned on the bump module 1, so that the camera is moved as shown in FIG. There is a problem that a corresponding time is lost for positioning by moving (or moving the circuit board).

【0005】また、上述の方法は間接的に認識するもの
なので回路基板2の精度、装置の精度に影響を受けやす
く、バンプモジュール1が高精度になればなるほど基板
認識マーク101だけでは足りずにその他の部品認識マ
ークなどをみる回数を増やさなくてはならなくなる。こ
のため、要求される精度によっては本来の検査に直接関
係のない基板認識マーク認識動作時間が増大するおそれ
がある。さらに、認識用カメラと本来の目的の検査用カ
メラを用意しなければならないので、カメラ数が増える
欠点もある。
Further, since the above-described method is indirectly recognized, the accuracy of the circuit board 2 and the accuracy of the device are easily affected, and the higher the accuracy of the bump module 1, the more the board recognition mark 101 alone is not enough. It is necessary to increase the number of times of viewing other component recognition marks and the like. For this reason, depending on the required accuracy, there is a possibility that the board recognition mark recognition operation time which is not directly related to the original inspection may increase. Further, since a camera for recognition and a camera for inspection for the original purpose must be prepared, there is a disadvantage that the number of cameras increases.

【0006】そこで本発明は、高精度を保持しながら短
時間でカメラを位置決めして検査に要する時間を短縮す
ることができるバンプモジュールへの位置決め検査方法
を提供することを目的とする。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a method of positioning and inspecting a bump module which can position a camera in a short period of time while maintaining high accuracy and reduce the time required for inspection.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
め、請求項1記載の発明のバンプモジュールへの位置決
め検査方法は、回路基板上に所定形状に配置された多数
の突起部からなるバンプモジュールの画像をカメラによ
って取り込み、バンプモジュールの所定位置にカメラを
位置決めし検査するようにしたバンプモジュールへの位
置決め検査方法において、バンプモジュールをカメラの
光軸に対して斜め方向から照明する斜光照明手段と、バ
ンプモジュールをカメラの光軸に対して同方向から照明
する同軸照明手段とを備え、カメラをバンプモジュール
の境界位置に概略移動させた後、斜光照明手段による斜
光照明により突起部のみ画像として取り込んでカメラを
バンプモジュールの境界領域に移動させ、その後、同軸
照明手段による同軸照明により突起部を照明し、突起部
の画像を取り込んで突起部を検査できるようにしたもの
である。
In order to achieve the above object, a method for inspecting the positioning of a bump module according to the first aspect of the present invention is directed to a bump module comprising a large number of protrusions arranged in a predetermined shape on a circuit board. Capturing an image of the bump module with a camera, positioning the camera at a predetermined position of the bump module, and inspecting the bump module. The oblique illumination unit illuminates the bump module obliquely with respect to the optical axis of the camera. And a coaxial illumination means for illuminating the bump module from the same direction with respect to the optical axis of the camera. After the camera is approximately moved to the boundary position of the bump module, only the projection is captured as an image by oblique illumination by oblique illumination. To move the camera to the boundary area of the bump module. Illuminated by illuminating the protrusion, it is obtained by providing a way to examine the projections capturing the image of the protrusions.

【0008】この場合、多数の突起部を照らす斜光はそ
の突起部の先端縁部の曲面などで反射されて一部カメラ
に入射するが、例えば回路基板上のパターンやレジスト
など、突起部以外の部分で反射した光はカメラに入射し
ない。このため、斜光照射時のカメラの画像では突起部
のみが円弧状、リング状などに光り、突起部以外の部分
は映らないから、突起部の形態のみを検出することがで
きる。つまり、斜光を照射しているときは回路基板上の
回路や基板座標などにかかわらず先端縁部が光る突起部
のみの位置を検出し認識することができる。
In this case, oblique light illuminating a number of projections is reflected by a curved surface at the tip edge of the projections and partially enters the camera. For example, a pattern or a resist on a circuit board other than the projections is used. Light reflected by the portion does not enter the camera. For this reason, in the image of the camera at the time of the oblique light irradiation, only the protrusions shine in an arc shape, a ring shape, and the like, and portions other than the protrusions are not reflected, so that only the shape of the protrusions can be detected. In other words, when oblique light is emitted, it is possible to detect and recognize only the position of the protrusion where the leading edge shines irrespective of the circuit on the circuit board or the board coordinates.

【0009】そして、このような斜光時の画像を利用す
ることにより、基板認識マークなどのマーキングに頼ら
ずにカメラ位置を検出することが可能となることから、
基板認識マークの認識に時間をロスすることがなく、検
査に要する時間を短縮することができる。しかも、この
ように位置決めする場合、突起部位置をダイレクトに検
出して突起部形成時の誤差などを排除することができる
ため、基板認識マークを利用して検出する場合に比べて
より精度良く位置決めすることができる。加えて、マー
ク認識用のカメラも特に必要でなくなるため検査用のカ
メラだけで済む利点もある。
The use of such an oblique image makes it possible to detect the camera position without relying on a marking such as a board recognition mark.
The time required for inspection can be reduced without losing time for recognizing the board recognition mark. In addition, in such positioning, since the position of the protrusion can be directly detected to eliminate an error in forming the protrusion, the positioning can be performed with higher accuracy than when the detection is performed using the board recognition mark. can do. In addition, there is also an advantage that a camera for mark recognition is not particularly required, so that only a camera for inspection is sufficient.

【0010】請求項2記載の発明は、請求項1記載のバ
ンプモジュールへの位置決め検査方法において、バンプ
モジュールは多数の突起部が四角形状に配置されたもの
であり、境界位置は四角形状の角部である。この場合、
カメラの視野範囲の隅に四角形状の角部を寄せることに
より、一度に多くの突起部を画像に取り込むことができ
る。
According to a second aspect of the present invention, in the positioning inspection method for a bump module according to the first aspect, the bump module has a large number of protrusions arranged in a square shape, and the boundary position is a square corner. Department. in this case,
By bringing the square corner to the corner of the camera's field of view, many projections can be captured in the image at once.

【0011】請求項3記載の発明は、請求項1または2
記載のバンプモジュールへの位置決め検査方法におい
て、回路基板は所定の位置に設置されるものであり、斜
光照明手段による斜光照明によるバンプモジュールの境
界領域が所定範囲以上ない場合はエラーとするようにし
たものである。このようにバンプモジュールの境界領域
が所定範囲以上ない場合は回路基板が所定の位置に設置
されておらず何らかの不具合が発生したと考えられるか
ら、エラー処理するのがよい。
[0011] The invention according to claim 3 is the invention according to claim 1 or 2.
In the positioning inspection method for a bump module described above, the circuit board is installed at a predetermined position, and an error is generated when the boundary area of the bump module by oblique illumination by the oblique illumination unit is smaller than a predetermined range. Things. If the boundary area of the bump module is not larger than the predetermined range, it is considered that the circuit board is not installed at the predetermined position and some trouble has occurred.

【0012】請求項4記載の発明は、請求項2記載のバ
ンプモジュールへの位置決め検査方法において、斜光照
明手段による斜光照明により突起部のみ画像として取り
込み、X軸方向、Y軸方向の明るさレベルによりバンプ
モジュールの角部の位置を求め、角部の位置にカメラを
移動するようにしたものである。突起部のある列を走査
したときと突起部のない列を走査したときとで検出光量
に差があるため、これら検出光量をつないで得られた明
るさレベルを示すグラフには段差が生じ、角部の位置が
示される。
According to a fourth aspect of the present invention, in the method for inspecting positioning on a bump module according to the second aspect, only the projections are captured as images by oblique illumination by oblique illumination means, and brightness levels in the X-axis direction and the Y-axis direction are obtained. Thus, the position of the corner of the bump module is obtained, and the camera is moved to the position of the corner. Because there is a difference in the amount of light detected when scanning a row with protrusions and when scanning a row without protrusions, there is a step in the graph showing the brightness level obtained by connecting these detected light amounts, The position of the corner is indicated.

【0013】請求項5記載の発明は、請求項4記載のバ
ンプモジュールへの位置決め検査方法において、X軸方
向、Y軸方向の明るさレベルを、反射している複数の突
起部の反射部分のプロジェクションを検出するプロジェ
クション手段によりバンプモジュール上をX軸方向ある
いはY軸方向に走査したときの光量の合計で表すように
したものである。この場合、走査する列ごとに明るさレ
ベルが検出されるため、突起部のある列とない列の境界
を正確に認識することができる。また、突起部の並びと
走査方向とが平行でない場合にも突起部の有無を検出し
やすい。
According to a fifth aspect of the present invention, in the positioning inspection method for a bump module according to the fourth aspect, the brightness level in the X-axis direction and the Y-axis direction is determined by adjusting the reflection level of the plurality of projections reflecting the brightness level. This is expressed by the total amount of light when the projection module scans the bump module in the X-axis direction or the Y-axis direction by the projection means. In this case, since the brightness level is detected for each row to be scanned, the boundary between the row with the projection and the row without the projection can be accurately recognized. Further, even when the arrangement of the projections is not parallel to the scanning direction, it is easy to detect the presence or absence of the projections.

【0014】請求項6記載の発明は、請求項1から5の
いずれかに記載のバンプモジュールへの位置決め検査方
法において、画像に取り込まれた多数の突起部のうち端
部に近い突起部と該突起部から離れた突起部の両座標を
用いて求められた傾きからカメラの次の移動位置を設定
するようにしたものである。この場合、両突起部の座標
から傾きが求められるため、この傾きを考慮にいれてカ
メラを適正位置に移動させることができる。
According to a sixth aspect of the present invention, in the method for inspecting the positioning on a bump module according to any one of the first to fifth aspects, a projecting portion near an end among a large number of projecting portions captured in an image is provided. The next movement position of the camera is set based on the inclination obtained using both coordinates of the projection apart from the projection. In this case, since the inclination is obtained from the coordinates of both projections, the camera can be moved to an appropriate position in consideration of the inclination.

【0015】請求項7記載の発明は、請求項1から6の
いずれかに記載のバンプモジュールへの位置決め検査方
法において、カメラの視野はバンプモジュール全体の一
部の領域のみを取り込むことのできる大きさに設定され
ているものである。ここでは、カメラの視野範囲に突起
部を十分に取り込むようにカメラの位置決めをすること
により検査時間が短縮される。
According to a seventh aspect of the present invention, in the method for inspecting the positioning on a bump module according to any one of the first to sixth aspects, the field of view of the camera is large enough to capture only a partial area of the entire bump module. This is what is set. In this case, the inspection time is shortened by positioning the camera so that the projection is sufficiently taken in the field of view of the camera.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明の構成を図面に示す
実施の形態の一例に基づいて詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The configuration of the present invention will be described below in detail based on an example of an embodiment shown in the drawings.

【0017】図1〜図10に、本発明のバンプモジュー
ルへの位置決め検査方法の一実施形態を示す。本実施形
態のバンプモジュールへの位置決め検査方法は、回路基
板2上に所定形状に配置された多数の突起部3,…,3
からなるバンプモジュール1の画像をカメラ4によって
取り込み、バンプモジュール1の所定位置にカメラ4を
位置決めして検査するようにしたものである。すなわ
ち、カメラ4をバンプモジュール1の境界位置に概略移
動させた後、斜光照明手段5による斜光照明により突起
部3,…,3のみ画像として取り込み、この画像をもと
にカメラ4をバンプモジュール1の境界領域8(図6参
照)に移動させ、その後、同軸照明手段6による同軸照
明により突起部3,…,3を照明し、画像を取り込んで
バンプモジュール1を検査するようにしている。
FIGS. 1 to 10 show an embodiment of a method for inspecting the positioning of a bump module according to the present invention. The method for inspecting the positioning of the bump module on the bump module according to the present embodiment includes a plurality of projections 3,.
The camera 4 captures an image of the bump module 1 composed of a camera, and positions the camera 4 at a predetermined position of the bump module 1 for inspection. That is, after the camera 4 is roughly moved to the boundary position of the bump module 1, only the projections 3,..., 3 are captured as images by oblique illumination by the oblique illumination means 5, and the camera 4 is moved to the bump module 1 based on this image. ., 3 are illuminated by the coaxial illumination by the coaxial illuminating means 6, and an image is taken in to inspect the bump module 1.

【0018】本実施形態で検査対象となるバンプモジュ
ール1は例えば図1に示すように回路基板2上に多数の
突起部3,…,3が配置されて形成されるものであり、
本実施形態では、突起部3,…,3は図9に示すように
碁盤目状に設けられ、これらの集合が1モジュールで四
角形状となるように配置されている。したがって、この
バンプモジュール1の4隅は図10に示すように四角形
状の角部7であり、各角部7,…,7がカメラ4を位置
決めするときの目安である境界位置となる。また、バン
プモジュール1を形成する突起部3は、図2に示すよう
に先端部が基端部よりも大径とされ、かつ、先端縁部3
aが滑らかな曲面となるように形成されたものであり、
所定の位置に設置される回路基板2上に等間隔に設けら
れている。
The bump module 1 to be inspected in this embodiment is formed by arranging a large number of projections 3,..., 3 on a circuit board 2 as shown in FIG.
In the present embodiment, the projections 3,..., 3 are provided in a grid pattern as shown in FIG. 9, and a set of these is arranged so as to be square in one module. Therefore, the four corners of the bump module 1 are square corners 7 as shown in FIG. 10, and each corner 7,..., 7 is a boundary position which is a standard when positioning the camera 4. As shown in FIG. 2, the protrusion 3 forming the bump module 1 has a distal end portion having a larger diameter than a base end portion and a distal end edge portion 3.
a is formed to be a smooth curved surface,
They are provided at equal intervals on a circuit board 2 installed at a predetermined position.

【0019】カメラ4は、バンプモジュール1の表面に
所望の突起部3,…,3が形成されているかどうかを調
べるための画像を取り込む装置であり、本実施形態で
は、図1に示すように、バンプモジュール1の真上から
の画像を取り込むため、例えば図3に示すようなカメラ
ヘッド11を備え、光軸を回路基板2に対して垂直とし
て下向きに設けられている。またカメラ4は水平方向の
X,Y軸および鉛直方向のZ軸の3軸直交ロボット上に
取り付けられることによって移動可能とされ、バンプモ
ジュール1の所定位置に移動して位置決めされ得るよう
に設けられている。
The camera 4 is a device for taking in an image for checking whether or not desired projections 3,..., 3 are formed on the surface of the bump module 1. In this embodiment, as shown in FIG. In order to capture an image from directly above the bump module 1, for example, a camera head 11 as shown in FIG. 3 is provided, and the optical head is provided downward with the optical axis perpendicular to the circuit board 2. The camera 4 is movable by being mounted on a three-axis orthogonal robot having horizontal X and Y axes and a vertical Z axis, and is provided so that it can be moved to a predetermined position of the bump module 1 and positioned. ing.

【0020】本実施形態におけるこのカメラ4の視野範
囲12は、例えば図10に示すようにバンプモジュール
1全体の一部の領域のみを取り込むことのできる大きさ
で、換言すれば視野範囲12が1つのバンプモジュール
1の範囲よりも狭くなっている。したがってこのカメラ
4は、1回画像を取り込むだけではバンプモジュール1
の全体を検査することができず、画像を取り込んだ後に
移動して次の画像を取り込むものである。
The field of view 12 of the camera 4 in this embodiment is large enough to take in only a part of the entire bump module 1 as shown in FIG. 10, for example. It is narrower than the range of one bump module 1. Therefore, the camera 4 can be used only for capturing the image once.
Cannot be inspected as a whole, and moves after capturing an image to capture the next image.

【0021】斜光照明手段5は、バンプモジュール1を
カメラ4の光軸に対して斜め方向から照明する部材であ
り、例えば図1に示すように異なる方向から光をあてる
ように設けられても、あるいはある一方向からのみ光を
あてるように設けられても構わない。本実施形態では、
例えば円形の照明手段を図1に示すようにバンプモジュ
ール1の上部に配置して異なる方向から光があたるよう
にしており、何もないその中央部を通じてカメラ4で撮
影し、かつ同軸照明手段6からの光をあてるようにして
いる。
The oblique light illuminating means 5 is a member for illuminating the bump module 1 from an oblique direction with respect to the optical axis of the camera 4. For example, even if the oblique light illuminating means 5 is provided so as to emit light from different directions as shown in FIG. Alternatively, it may be provided so as to emit light only from a certain direction. In this embodiment,
For example, as shown in FIG. 1, a circular illuminating means is arranged on the upper part of the bump module 1 so that light is radiated from different directions. I try to shine light from.

【0022】同軸照明手段6はバンプモジュール1をカ
メラ4の光軸に対して同方向から照明し、回路基板2に
対して光を垂直にあてる手段である。本実施形態の同軸
照明手段6は、図1に示すように、水平方向に光を発す
る発光装置9と、バンプモジュール1の鉛直上方に設け
られたハーフミラーなどからなる反射手段10とによっ
て形成され、反射手段10の反射光がカメラ4の光軸と
平行になるように配置されているが、光軸と平行な光で
バンプモジュール1を照明し得る限りにおいて構成は特
にこれに限られることはない。
The coaxial illumination means 6 is a means for illuminating the bump module 1 from the same direction with respect to the optical axis of the camera 4 and directing the light perpendicular to the circuit board 2. As shown in FIG. 1, the coaxial illumination unit 6 of the present embodiment is formed by a light emitting device 9 that emits light in the horizontal direction, and a reflection unit 10 including a half mirror provided vertically above the bump module 1. Is arranged so that the reflected light of the reflecting means 10 is parallel to the optical axis of the camera 4, but the configuration is not particularly limited as long as the bump module 1 can be illuminated with light parallel to the optical axis. Absent.

【0023】なお、詳しく図示していないが、ある明る
さ以上のものを取り出す二値化手段14、斜光照明手段
5および同軸照明手段6が発する斜光照明と同軸照明と
を瞬時に切り換える切換手段15、反射している複数の
突起部3,…,3の反射部分のプロジェクションを検出
するプロジェクション手段16,AD変換手段13、モ
ジュール角サイズ登録手段17、変換パラメータ取得用
バンプ(突起部)位置登録手段18など、斜光照明手段
5や同軸照明手段6に併設される各装置は、位置決めに
際して図5に示すフローにしたがって機能する。
Although not shown in detail, a binarizing means 14 for taking out light of a certain brightness or more, a switching means 15 for instantaneously switching between oblique illumination and coaxial illumination generated by the oblique illumination means 5 and the coaxial illumination means 6. , A projection unit 16, an AD conversion unit 13, a module angle size registration unit 17, a conversion parameter acquisition bump (projection) position registration unit Each device such as 18, which is provided alongside the oblique illumination unit 5 and the coaxial illumination unit 6, functions according to the flow shown in FIG.

【0024】そして、本実施形態のバンプモジュールへ
の位置決め検査方法は、以上のような各装置を用い、図
4に示すフローにしたがって以下のように行われる。な
お、本実施形態では、回路基板2上に4つのバンプモジ
ュール1,…,1が図10に示すように4隅に等分布配
置されているものとする。
The positioning inspection method for the bump module according to the present embodiment is performed as follows in accordance with the flow shown in FIG. In the present embodiment, it is assumed that four bump modules 1,..., 1 are uniformly distributed and arranged at four corners as shown in FIG.

【0025】まず、バンプモジュール1の角部7が視野
範囲12内に入るようにしながらカメラ4をラフに位置
決めする(ステップ1)。本実施形態では、位置決めさ
れる回路基板2の位置はあらかじめ入力され、ロボット
からみて既知であるためバンプモジュール1の角部7へ
は大まかな位置決めが可能である。ここで、例えば突起
部3,…,3の並びが回路基板2に対して斜行している
ような場合、カメラ4からみたバンプモジュール1の一
部は図6に示すように映る。なお本実施形態では、バン
プモジュール1とカメラ4の平行度は機械的に調整され
得る。
First, the camera 4 is roughly positioned while the corner 7 of the bump module 1 is within the visual field range 12 (step 1). In the present embodiment, the position of the circuit board 2 to be positioned is input in advance and is known from the viewpoint of the robot, so that rough positioning on the corner 7 of the bump module 1 is possible. Here, for example, when the arrangement of the projections 3,..., 3 is oblique to the circuit board 2, a part of the bump module 1 viewed from the camera 4 appears as shown in FIG. In this embodiment, the parallelism between the bump module 1 and the camera 4 can be adjusted mechanically.

【0026】次に、バンプモジュール1に斜光照明をあ
て、突起部(バンプ)3,…,3のみを光らせる(ステ
ップ2)。このときの斜光照明は平行光に近い照明とさ
れ、回路基板2上のパターンやレジストなどは反射光が
カメラ4に戻らないためカメラ4からみて光っていな
い。一方、バンプモジュール1を構成する突起部3,
…,3は、図2に示すように先端縁部3aの面は滑らか
な曲面とされ丸みが付されて形成されているため、照射
された斜光の一部はこの先端縁部3aで鉛直方向へ反射
する。このため、バンプモジュール1を構成する突起部
3,…,3は図6などに示すように、先端縁部3aが円
弧状あるいはリング状に光ってみえる結果、斜光を照射
しているときは回路基板2上の回路や基板座標などにか
かわらず、先端縁部3aが光る突起部3,…,3のみの
位置を検出し認識することができる。
Next, oblique illumination is applied to the bump module 1 to illuminate only the protrusions (bumps) 3,..., 3 (step 2). At this time, the oblique illumination is illumination close to parallel light, and the pattern, resist, and the like on the circuit board 2 do not shine when viewed from the camera 4 because reflected light does not return to the camera 4. On the other hand, the protrusions 3 constituting the bump module 1
.., 3 are formed in such a manner that the surface of the front edge 3a is formed into a smooth curved surface and rounded as shown in FIG. To reflect. Therefore, as shown in FIG. 6 and the like, the protruding portions 3,..., 3 constituting the bump module 1 appear to shine in the shape of an arc or a ring at the tip end portion 3a. Regardless of the circuit on the substrate 2 or the substrate coordinates, the position of only the protruding portions 3,..., 3 where the front edge 3a shines can be detected and recognized.

【0027】そして、プロジェクション手段16により
バンプモジュール1の角部7を求める(ステップ3)。
本実施形態では、このプロジェクション手段16を用い
てX方向およびY方向の両方に関してプロジェクション
をとり明るさレベルを検出するようにしている。具体的
には、図7に示すように、回路基板2の縁と平行なX軸
およびY軸に沿って筋状にプロジェクション手段16を
走らせて反射光を走査し、1列分走査したときに検出さ
れた光量の合計を明るさレベルとしてグラフに示す。
Then, the corner 7 of the bump module 1 is determined by the projection means 16 (step 3).
In the present embodiment, the projection unit 16 performs projection in both the X direction and the Y direction to detect the brightness level. Specifically, as shown in FIG. 7, when the projection means 16 runs in a streak shape along the X-axis and the Y-axis parallel to the edge of the circuit board 2 and scans the reflected light, and when one line is scanned, The sum of the detected light amounts is shown in a graph as a brightness level.

【0028】このように走査した場合、突起部3のある
列を走査したときと突起部3のない列を走査したときと
で検出光量に差があるため、これら検出光量をつないで
得られた明るさレベルを示すグラフには図7に示すよう
に段差が生じる。そこで、この段差部分を通る直線をそ
れぞれX軸あるいはY軸と平行に引き、突起部3がある
部分とない部分とを分ける境界線を設ける。この境界線
で分けられた区域のうち突起部3がある区域(境界領域
8)のX方向の長さまたはY方向の長さ(以下「モジュ
ール角サイズ」と呼ぶ)により、カメラ4の視野範囲1
2中におけるバンプモジュール1の占有範囲や占有率を
確認することができる。なお、突起部3,…,3の並び
と走査方向とが平行でないと突起部3,…,3の明るさ
レベルが均一化するため、突起部3,…,3の有無がよ
り検出しやすくなる場合がある。また、このときの2つ
の境界線の交点はバンプモジュール1の角部7とほぼ一
致している。
When scanning is performed in this manner, there is a difference in the amount of light detected between when a row having the projection 3 is scanned and when a row having no projection 3 is scanned. In the graph indicating the brightness level, a step occurs as shown in FIG. Therefore, a straight line passing through the step portion is drawn in parallel with the X axis or the Y axis, respectively, and a boundary line is provided to separate the portion having the projection 3 from the portion having no projection. The field of view of the camera 4 is determined by the length in the X direction or the length in the Y direction (hereinafter, referred to as “module angle size”) of the area (boundary area 8) where the protrusion 3 is located among the areas divided by the boundary line. 1
2, the occupation range and the occupancy of the bump module 1 can be confirmed. If the arrangement of the projections 3,..., 3 is not parallel to the scanning direction, the brightness level of the projections 3,..., 3 becomes uniform, so that the presence or absence of the projections 3,. May be. The intersection of the two boundary lines at this time substantially coincides with the corner 7 of the bump module 1.

【0029】ここで、以上のようにして求められたモジ
ュール角サイズが既定値以上であるかどうかをチェック
する(ステップ4)。このモジュール角サイズがモジュ
ール角サイズ登録手段17に登録されている既定値以上
であれば視野範囲12中におけるバンプモジュール1の
占有率が所定以上あることが確認され、したがってこの
場合はカメラ4をわずかに移動させることで視野範囲1
2の全体にバンプモジュール1を取り込むことができ
る。
Here, it is checked whether the module angle size obtained as described above is equal to or larger than a predetermined value (step 4). If this module angle size is equal to or larger than the default value registered in the module angle size registration means 17, it is confirmed that the occupation ratio of the bump module 1 in the visual field range 12 is equal to or larger than a predetermined value. By moving to the field of view 1
2 can take in the bump module 1.

【0030】一方、モジュール角サイズが既定値以下で
あるときは視野範囲12中におけるバンプモジュール1
の占有率も所定以下となるから、角部7が適正位置にあ
る状態で画像を取り込むことができなかったとしてエラ
ー扱いとし、図4に示すように別ルートで処理する。
On the other hand, when the module angle size is smaller than the predetermined value, the bump module 1
Since the occupation ratio is less than a predetermined value, it is determined that an image cannot be taken in a state in which the corner 7 is at an appropriate position and is treated as an error, and is processed by another route as shown in FIG.

【0031】バンプモジュール1の視野範囲12におけ
る占有率が所定以上であることが確認されたら、バンプ
モジュール1の角部7が視野範囲12の隅に位置するよ
うにカメラ4を移動させ、所定の検査位置に位置決めす
る(ステップ5)。このときカメラ4は図7に示すよう
な状態からわずかに移動させるだけで良く、移動後は図
8に示すように角部7が隅に位置して視野範囲12内に
バンプモジュール1の境界領域8が取り込まれる。
When it is confirmed that the occupation ratio of the bump module 1 in the visual field range 12 is equal to or more than a predetermined value, the camera 4 is moved so that the corner 7 of the bump module 1 is located at the corner of the visual field range 12. It is positioned at the inspection position (step 5). At this time, the camera 4 only needs to be slightly moved from the state shown in FIG. 7, and after the movement, the corner 7 is located at the corner as shown in FIG. 8 is captured.

【0032】そして、突起部3,…,3の位置を検出す
るため、斜光照明から同軸照明に瞬時に切り換える(ス
テップ6)。この切換えは切換手段15によって行わ
れ、これにより図5に示すようにバンプモジュール1の
角部7の検出過程から変換パラメータ取得のための過程
に移り変わる。同軸照明に切り換えると、円弧状あるい
はリング状に光っていた先端縁部3aは図9に示すよう
に全体が丸く光ってみえるようになる。このとき、カメ
ラの視野範囲12にはバンプモジュール1の境界領域8
が取り込まれて突起部3,…,3のみが映る状態となっ
ているため、同軸照明にしても基板認識マーク101、
パターン、レジストなど、突起部3,…,3以外のもの
は映らない。また、かりに突起部3,…,3が欠落して
いても、同軸照明の場合は特に図示していないが突起部
3の基部を支持する部分であるパッドが光ることにな
る。
Then, in order to detect the positions of the protrusions 3,..., The oblique illumination is instantaneously switched to the coaxial illumination (step 6). This switching is performed by the switching means 15, whereby the process shifts from the process of detecting the corner 7 of the bump module 1 to the process of obtaining the conversion parameters as shown in FIG. When switching to the coaxial illumination, the distal end portion 3a, which has been shining in an arc or ring shape, can be seen as a whole shining as shown in FIG. At this time, the boundary area 8 of the bump module 1
, And only the projections 3,..., 3 are reflected.
Other than the projections 3,..., 3 such as patterns and resists are not shown. Also, even if the projections 3,..., 3 are missing, in the case of coaxial illumination, the pad that supports the base of the projection 3 shines, although not particularly shown.

【0033】続いて、必要な変換パラメータを検出す
る。この時点では図9に示すような画面が得られている
ので、検出された突起部3,…,3のうち、バンプモジ
ュール1の角部7に近い突起部3aを取り出し、さらに
この突起部3aから相対的に離れた任意の突起部3bを
取り出す。このとき、突起部3aの基板座標と突起部3
aから突起部3bまでの相対距離とは変換パラメータ取
得用バンプ位置登録手段18から得ることができるた
め、2つの突起部3a,3bの基板座標、ビジョン座標
から相互の座標の変換パラメータが求まる。また、ビジ
ョン座標とロボット座標の変換パラメータは通常、キャ
リブレーションが既知のものとなっているので、基板座
標、ビジョン座標、ロボット座標のすべての変換にパラ
メータが求められる。
Subsequently, necessary conversion parameters are detected. At this point, a screen as shown in FIG. 9 has been obtained. Out of the detected protrusions 3,..., 3, the protrusion 3a close to the corner 7 of the bump module 1 is taken out. Take out any protrusion 3b that is relatively separated from. At this time, the substrate coordinates of the projection 3a and the projection 3
Since the relative distance from “a” to the projection 3b can be obtained from the conversion parameter acquisition bump position registering unit 18, the mutual conversion parameters of the two projections 3a and 3b are obtained from the substrate coordinates and the vision coordinates. In addition, since the conversion parameters of the vision coordinates and the robot coordinates usually have a known calibration, the parameters are obtained for all the conversions of the board coordinates, the vision coordinates, and the robot coordinates.

【0034】このように変換パラメータが求められた
ら、この変換パラメータによりデータを修正して検査を
行い、次の分割位置へカメラ4を移動させて位置決めす
ることができる(ステップ7)。この場合、両突起部3
a,3bから求められる傾きを考慮にいれてカメラ4を
適正位置に移動させることができる。そして検査位置が
終了すれば検査を終了する一方で、終了していなければ
再びデータを修正する動作を行う(ステップ8)。
When the conversion parameters are obtained in this manner, the data can be corrected using the conversion parameters, an inspection can be performed, and the camera 4 can be moved to the next division position and positioned (step 7). In this case, both projections 3
The camera 4 can be moved to an appropriate position in consideration of the inclination obtained from a and 3b. When the inspection position is completed, the inspection is completed, while when the inspection position is not completed, the operation of correcting the data is performed again (step 8).

【0035】以上説明したように、本発明のバンプモジ
ュール1への位置決め検査方法により検査を行った場
合、回路基板2上の基板認識マーク101を検査の度に
認識することが不要であり、この認識に要する時間をロ
スすることがない。このため、基板認識マーク101な
どのマーキングは必要でなく、高い位置決め精度を確保
しながら検査に要する時間をトータルで大きく短縮する
ことが可能である。
As described above, when the inspection is performed by the positioning inspection method for the bump module 1 of the present invention, it is not necessary to recognize the board recognition mark 101 on the circuit board 2 every time the inspection is performed. There is no loss of time required for recognition. For this reason, marking such as the board recognition mark 101 is not required, and the time required for the inspection can be greatly reduced in total while ensuring high positioning accuracy.

【0036】しかも、この位置決め検査方法によればダ
イレクトにバンプモジュール1を認識することができる
ため、回路基板2や装置の精度の影響を受けない高精度
な位置決め検査が可能となる。また、カメラ4も1台あ
れば足りるため、検査に要する機器が少なくて済みコス
トもかからない。
Further, according to this positioning inspection method, since the bump module 1 can be directly recognized, a high-precision positioning inspection that is not affected by the accuracy of the circuit board 2 or the device can be performed. Further, since only one camera 4 is sufficient, the number of devices required for the inspection is small and the cost is not high.

【0037】なお、上述の実施形態は本発明の好適な実
施の一例ではあるがこれに限定されるものではなく本発
明の要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施可能で
ある。例えば、本実施形態では多数の突起部3,…,3
が碁盤目状に配置された四角形状のバンプモジュール1
を検査する場合について説明したが、検査対象はこのよ
うな形態に限定されることはない。本発明によれば、突
起部3,…,3が斜めに配置されていたり、あるいは間
隔が一定ではないが規則性をもって配置されているよう
なバンプモジュール1であっても短時間でかつ精度良く
位置決めし検査することが可能である。
The above embodiment is an example of a preferred embodiment of the present invention, but the present invention is not limited thereto, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. For example, in the present embodiment, a large number of protrusions 3,.
Is a square bump module 1 arranged in a grid pattern
Has been described, but the inspection target is not limited to such a form. According to the present invention, even in the case of the bump module 1 in which the projections 3,... It is possible to locate and inspect.

【0038】[0038]

【実施例】従来の方法により2点ないしそれ以上の基板
認識マーク101を画像処理で処理しバンプモジュール
1に位置決めした場合、このバンプモジュール1への位
置決めに約1.5〜2秒を要していたところ、本発明の
位置決め検査方法によれば同じバンプモジュール1に対
して位置決めに要する時間を0.2秒以下にまで短縮す
ることができた。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS When two or more substrate recognition marks 101 are processed by image processing and positioned on a bump module 1 by a conventional method, it takes about 1.5 to 2 seconds for positioning on the bump module 1. However, according to the positioning inspection method of the present invention, the time required for positioning the same bump module 1 can be reduced to 0.2 seconds or less.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上の説明より明らかなように、請求項
1記載のバンプモジュールへの位置決め検査方法では、
斜光を照射することによりって回路基板上の回路や基板
座標などにかかわらず突起部のみの位置を検出している
ので、基板認識マークに頼らずにカメラ位置を検出する
ことができる。したがって、基板認識マークの認識に時
間をロスすることがなく、検査に要する時間を短縮する
ことができる。しかも、位置決めする際に突起部位置を
ダイレクトに検出しているため、より精度良く位置決め
することができることに加え、認識用のカメラも特に必
要でなくなることから検査用のカメラがあれば足りコス
トがかからない。
As is apparent from the above description, in the method for inspecting the positioning on the bump module according to the first aspect,
By irradiating the oblique light, the position of only the protrusion is detected regardless of the circuit on the circuit board or the board coordinates, so that the camera position can be detected without relying on the board recognition mark. Therefore, the time required for the inspection can be reduced without losing time for recognizing the board recognition mark. In addition, since the position of the protrusion is directly detected when positioning, the positioning can be performed with higher accuracy. In addition, a camera for recognition is not particularly required. It does not take.

【0040】また請求項2記載のバンプモジュールへの
位置決め検査方法によれば、カメラの視野範囲の隅にバ
ンプモジュールの四角形状の角部を寄せることにより一
度に多くの突起部を画像に取り込むことができる。
According to the positioning inspection method for a bump module according to the second aspect of the present invention, a large number of projections can be taken into an image at a time by bringing a quadrangular corner of the bump module close to a corner of a field of view of a camera. Can be.

【0041】さらに請求項3記載のバンプモジュールへ
の位置決め検査方法によれば、バンプモジュールの境界
領域が所定範囲以上ない場合をエラー扱いするため、カ
メラを相当量移動させることに伴う時間のロスを防止す
ることができる。
According to the method for inspecting the positioning of the bump module on the bump module, a case where the boundary area of the bump module does not exceed the predetermined range is treated as an error. Can be prevented.

【0042】また請求項4記載のバンプモジュールへの
位置決め検査方法によれば、突起部のみの画像の明るさ
レベルによりバンプモジュールの角部の位置を求めて角
部の位置にカメラを移動するようにしているため、カメ
ラを適正位置に移動させて多くの突起部を画像に取り込
むことができる。
According to the positioning inspection method for a bump module according to the fourth aspect, the position of the corner of the bump module is determined based on the brightness level of the image of only the projection, and the camera is moved to the position of the corner. Therefore, the camera can be moved to an appropriate position and many projections can be captured in the image.

【0043】さらに請求項5記載バンプモジュールへの
位置決め検査方法によれば、プロジェクション手段で列
ごとに明るさレベルを検出して突起部のある列とない列
の境界を正確に認識することができる。
Further, according to the method for inspecting the positioning on the bump module, the projection means can detect the brightness level for each row and accurately recognize the boundary between the row with the projection and the row without the projection. .

【0044】また請求項6記載のバンプモジュールへの
位置決め検査方法によれば、端部に近い突起部と該突起
部から離れた突起部の両座標を用いて求められた傾きか
らカメラの次の移動位置を設定しているためカメラを適
正位置に移動させることができる。
Further, according to the method for inspecting the positioning of the bump module on the bump module, the inclination of the next projection of the camera is determined from the inclination obtained using both coordinates of the projection near the end and the projection far from the projection. Since the moving position is set, the camera can be moved to an appropriate position.

【0045】そして請求項7記載のバンプモジュールへ
の位置決め検査方法によれば、バンプモジュール全体の
一部の領域のみを取り込むカメラを適正位置に位置決め
し、検査時間の短縮を図ることができる。
According to the method for inspecting the positioning on the bump module according to the seventh aspect, the camera for capturing only a partial area of the entire bump module can be positioned at an appropriate position, and the inspection time can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明にかかるバンプモジュールへの位置決め
検査方法の一実施形態を示すバンプモジュールやカメラ
などの概略側面図である。
FIG. 1 is a schematic side view of a bump module, a camera, and the like showing an embodiment of a method for inspecting a positioning on a bump module according to the present invention.

【図2】バンプモジュールの突起部の形状を示す部分側
面図である。
FIG. 2 is a partial side view showing a shape of a protrusion of a bump module.

【図3】カメラの構成を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a configuration of a camera.

【図4】本発明にかかるバンプモジュールへの位置決め
検査方法の一実施形態を示すフローである。
FIG. 4 is a flowchart showing an embodiment of a method for inspecting a positioning on a bump module according to the present invention.

【図5】斜光照明によるバンプモジュールの角部検出お
よび同軸照明による変換パラメータ取得の流れを示すフ
ローである。
FIG. 5 is a flowchart showing a flow of detecting a corner of a bump module by oblique illumination and obtaining a conversion parameter by coaxial illumination.

【図6】カメラをラフに位置決めしたときに視野範囲に
映るバンプモジュールの画像を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an image of a bump module reflected in a field of view when the camera is roughly positioned.

【図7】図6に示す画像においてプロジェクションをと
ったときの明るさレベルを画像とともに示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a brightness level when projection is performed on the image shown in FIG. 6 together with the image.

【図8】カメラを位置決めした後に斜光照明をあてたと
きのバンプモジュールの画像を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing an image of a bump module when oblique illumination is applied after the camera is positioned.

【図9】カメラを位置決めした後に同軸照明をあてたと
きのバンプモジュールの画像を示す図である。
FIG. 9 is a diagram illustrating an image of a bump module when coaxial illumination is applied after the camera is positioned.

【図10】バンプモジュールの形態の一例を示す平面図
である。
FIG. 10 is a plan view showing an example of a form of a bump module.

【図11】従来のバンプモジュールへの位置決め検査方
法の一例を示すフローである。
FIG. 11 is a flowchart showing an example of a conventional method for inspecting the positioning of a bump module.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 バンプモジュール 2 回路基板 3 突起部 4 カメラ 5 斜光照明手段 6 同軸照明手段 7 角部 8 境界領域 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Bump module 2 Circuit board 3 Projection part 4 Camera 5 Oblique illumination means 6 Coaxial illumination means 7 Corner part 8 Boundary area

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 回路基板上に所定形状に配置された多数
の突起部からなるバンプモジュールの画像をカメラによ
って取り込み、上記バンプモジュールの所定位置に上記
カメラを位置決めし検査するようにしたバンプモジュー
ルへの位置決め検査方法において、上記バンプモジュー
ルを上記カメラの光軸に対して斜め方向から照明する斜
光照明手段と、上記バンプモジュールを上記カメラの光
軸に対して同方向から照明する同軸照明手段とを備え、
上記カメラを上記バンプモジュールの境界位置に概略移
動させた後、上記斜光照明手段による斜光照明により上
記突起部のみ画像として取り込んで上記カメラを上記バ
ンプモジュールの境界領域に移動させ、その後、上記同
軸照明手段による同軸照明により上記突起部を照明し、
上記突起部の画像を取り込んで上記突起部を検査できる
ようにしたことを特徴とするバンプモジュールへの位置
決め検査方法。
An image of a bump module composed of a large number of projections arranged in a predetermined shape on a circuit board is captured by a camera, and the camera is positioned at a predetermined position of the bump module to be inspected. In the positioning inspection method, oblique illumination means for illuminating the bump module obliquely with respect to the optical axis of the camera, and coaxial illumination means for illuminating the bump module from the same direction with respect to the optical axis of the camera. Prepared,
After approximately moving the camera to the boundary position of the bump module, oblique illumination by the oblique illumination unit captures only the projection as an image, and moves the camera to the boundary region of the bump module. Illuminating the projection by coaxial illumination by means,
A method for inspecting the positioning of a bump module, wherein an image of the projection is captured so that the projection can be inspected.
【請求項2】 上記バンプモジュールは上記多数の突起
部が四角形状に配置されたものであり、上記境界位置は
上記四角形状の角部であることを特徴とする請求項1記
載のバンプモジュールへの位置決め検査方法。
2. The bump module according to claim 1, wherein the bump module has the plurality of protrusions arranged in a square shape, and the boundary position is a corner of the square shape. Positioning inspection method.
【請求項3】 上記回路基板は所定の位置に設置される
ものであり、上記斜光照明手段による斜光照明による上
記バンプモジュールの境界領域が所定範囲以上ない場合
はエラーとするようにしたことを特徴とする請求項1ま
たは2記載のバンプモジュールへの位置決め検査方法。
3. The method according to claim 2, wherein the circuit board is installed at a predetermined position, and an error occurs when a boundary area of the bump module by the oblique illumination by the oblique illumination unit is smaller than a predetermined range. The inspection method for positioning a bump module according to claim 1 or 2.
【請求項4】 上記斜光照明手段による斜光照明により
上記突起部のみ画像として取り込み、X軸方向、Y軸方
向の明るさレベルにより上記バンプモジュールの上記角
部の位置を求め、上記角部の位置にカメラを移動するよ
うにしたことを特徴とする請求項2記載のバンプモジュ
ールへの位置決め検査方法。
4. The oblique illumination by the oblique illumination unit captures only the protrusion as an image, determines the position of the corner of the bump module based on the brightness levels in the X-axis direction and the Y-axis direction, and calculates the position of the corner. 3. The inspection method according to claim 2, wherein the camera is moved to a predetermined position.
【請求項5】 上記X軸方向、Y軸方向の明るさレベル
は、反射している複数の上記突起部の反射部分のプロジ
ェクションを検出するプロジェクション手段により上記
バンプモジュール上をX軸方向あるいはY軸方向に走査
したときの光量の合計で表されたものであることを特徴
とする請求項4記載のバンプモジュールへの位置決め検
査方法。
5. The brightness level in the X-axis direction and the Y-axis direction is determined on the bump module in the X-axis direction or the Y-axis direction by projection means for detecting the projections of the reflected portions of the plurality of projecting portions. 5. The method according to claim 4, wherein the method is represented by a total amount of light when scanning in a direction.
【請求項6】 上記画像に取り込まれた多数の突起部の
うち端部に近い突起部と該突起部から離れた突起部の両
座標を用いて求められた傾きから上記カメラの次の移動
位置を設定することを特徴とする請求項1から5のいず
れかに記載のバンプモジュールへの位置決め検査方法。
6. The next movement position of the camera from the inclination determined using the coordinates of the projection near the end and the projection apart from the projection among the many projections captured in the image. 6. The method for inspecting the positioning on a bump module according to claim 1, wherein:
【請求項7】 上記カメラの視野は上記バンプモジュー
ル全体の一部の領域のみを取り込むことのできる大きさ
に設定されてなることを特徴とする請求項1から6のい
ずれかに記載のバンプモジュールへの位置決め検査方
法。
7. The bump module according to claim 1, wherein a field of view of the camera is set to a size that can capture only a partial area of the entire bump module. Positioning inspection method.
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