JP2000287956A - X線画像での輪郭検出方法 - Google Patents

X線画像での輪郭検出方法

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Rafael Wiemker
ヴィムカー ラファエル
Sabine Dippel
ディッペル ザビーネ
Thorsten Dr Buzug
ブツーク トルシュテン
Martin Stahl
シュタール マルティーン
Thomas Blaffert
ブラフェルト トーマス
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    • G06T2207/30004Biomedical image processing

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、X線画像での、例えば、シャッタ
ー又は移植物の輪郭を自動検出する方法を提供すること
を目的する。 【解決手段】 多くの閉じたパスはX線画像から誘導さ
れ、前記閉じたパスの一つがその閉じたパスに沿ったコ
ントラストに依存して、輪郭として選択される。その閉
じたパスは、輪郭画素候補が位置する一対の(真っ直ぐ
な)ライン候補から誘導される。輪郭画素候補はX線画
像の高域、又は勾配バージョンから誘導される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、X線画像での高い
X線吸収を示す構造体の輪郭を自動検出する方法に関
し、更に、かかる方法を実行させるX線装置にも関す
る。
【0002】
【従来の技術】放射線医学の業務では、検出しなければ
ならない輪郭の高いX線吸収を示す多種の構造体が存在
し、X線画像の最適処理を可能にする。 1 検査区域でのX線ビームを患者に照射させるシャッ
ターの輪郭は制限されている。X線画像でのシャッター
輪郭の空間配向の各知識はさまざまな方法で利用され
る。 a) モニター又は、いわゆるハードコピーユニットの
ダイナミックレンジは、コントラストが最適に再現され
るように(いわゆる、自動レンジ調整)、シャッター輪
郭により囲まれる画像セクションに自動的に適合され
る。 b) X線画像の出力の際に、シャッターにより覆われ
た領域はブラックで、又はカラーで再現される。仮にこ
の工程が採用されなくても、上記部分の画像は非常に明
るく、観察者をまぶしがらせる。 c) 画像が回転し、斜め投影の場合、補正され、シャ
ッター輪郭は再現画像において、水平及び垂直に伸長す
る。更に、複数の画像は、モニター又はハードコピーで
利用可能である表面積が最適に利用されるように、相互
に隣接して配置される。 d) X線画像に適用される画像処理方法は、シャッタ
ー輪郭により画成されるセクションに制限される。この
ようにして、画像処理に必要とされる計算処理量は、著
しく削減される。 2 例えば、X線画像での人工ヒップの移植物の輪郭で
は、かかる移植物はX線ダイアフラム(diaphragm)より
小さく、骨のX線吸収よりも大きい吸収を示す。X線画
像でのかかる移植物の存在により、平均グレースケール
値(画像値)と、X線画像のグレースケールヒストグラ
ムの他の統計的性質が変化する。結果として、X線画像
から誘導され画像において、X線画像を表示するための
ディスプレイユニットの自動設定は最適化されていない
ことは起こり得る。仮に、移植物が再現されるX線画像
の領域が表示装置のコントラスト設定に基づくヒストグ
ラム分析から除外されるなら、この点に関する改良は可
能であろう。
【0003】既に、米国特許第5、651、042号で
は、X線画像でのシャッター輪郭の自動検出方法が開示
されており、輪郭ポイント候補(つまり、シャッターの
輪郭に位置するであろう画素)は、X線画像(又はその
X線画像から誘導される元画像)の画素と関連する画像
値の空間的変動から決定される。輪郭ポイント候補は、
勾配が最大を示すポイントとして、勾配画像(つまり、
高域通過画像)から誘導され、元画像から誘導される。
いわゆる、線形回帰を利用して、真っ直ぐなライン候補
はかかる輪郭ポイント候補から計算され、ラインは輪郭
ポイント候補がラインに存在する、又はラインのすぐ近
くに存在するように配置される。ライン候補はシャッタ
ー輪郭と一致する(その必要はない)。一般的に言え
ば、より多くのライン候補がシャッターの輪郭があるよ
うに出現する。上記ライン候補から、ライブラリーに保
存されたシャッター輪郭の14原型の一つに最も相応し
く選択される(せいぜい4つ)。シャッター輪郭は平行
に又は互いに垂直に伸長し、シャッター輪郭により囲ま
れた領域は中央に位置することは、この方法にとっては
必要条件である。
【0004】上記条件は、常に、放射線医学の業務を満
足させるものではない。X線が、互いに平行及び垂直に
伸長する対のシャッターにより制限されるときでさえ
も、斜め投影の場合、X線画像におけるシャッター輪郭
は、互いに平行又は垂直には、もはや伸長しない。X線
ビームが入射する一部分の検査範囲の一部は、鉛エプロ
ンなどでカバーされ、稀な場合のみ、その境界はX線画
像でのダイアフラム端と平行又は垂直に伸長する。X線
画像は、矩形とはもはや一致しない輪郭を含み易い。
【0005】更に、X線画像を電気信号に変換させ、デ
ジタル化させるデジタルX線画像変換器は、相対的に大
きな寸法(例えば、43cmx43cm)を有する。例
えば、手又は指は、かかるX線画像変換器により像が写
され、シャッターにより制限されるX線画像は、通常、
中央に位置しないが、端の近くに位置する。
【0006】米国特許出願第08/715225号に記
載されている方法では、シャッターエッジはできるだけ
平行に元画像の端へ伸長し、しかもそのシャッターエッ
ジは中央で元画像を囲むことも必要である。
【0007】同じ制限は、米国特許第5、081、68
0号で開示されている方法にも当てはまり、最大の勾配
を示し、中心からのさまざまな直線に位置するポイント
を決定する。3つ以上のかかるポイントが真っ直ぐなラ
インに存在するなら、骨格構造のある正常なX線画像で
はいつものことであるが、更なるポイントは分離ランキ
ング工程で除外されるにちがいない。残ったポイントは
シャッター輪郭と多くの真っ直ぐなラインに位置し、多
角形を形成するポイントであると考えられ、ハウ(Houg
h)変換によりかかるシャッター輪郭ポイントから誘導
される。上記ラインはシャッター輪郭を表わす。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述の点に鑑
みてなされたものであり、信頼できる形で実行され、一
定の輪郭形に制限されない高いX線吸収を示す構造体
の、輪郭の自動検出方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的は、X線画像
又はそれから誘導される画像での輪郭候補として働く多
くの閉じたパスを決定する段階と、閉じたパスに沿った
コントラストに依存して、閉じたパスの数から閉じたパ
スとして輪郭を選択する段階とからなる方法により達成
される。
【0010】よって、本発明によれば、多くの閉じたパ
スは画像において誘導され、、前記閉じたパスの一つは
調査した輪郭を表わす。本発明によれば、閉じたパスの
個々のセグメントは解析されず、拒絶又は確認もされ
ず、一定の形を有するパスはいずれも選択されない。基
礎となる考察は、輪郭に沿って、内部の画像値と、その
画像値により決定される外部の画像値との間に、特に強
いコントラストが発生する。このようにして、発生した
最も強いコントラストに沿った閉じたパスは、輪郭とし
て選択される。
【0011】請求項2には、シャッター輪郭を決定する
のに特に適した方法が記載されている。元画像から初期
に誘導された輪郭ポイント候補の中で、シャッター輪郭
に位置しない臨床的結果が数多く存在する。しかしなが
ら、請求項2で開示されたバージョンでは、まさにスタ
ートからの更なる処理から、かかる輪郭ポイント候補を
除外する試みは行われていなかった。むしろ、輪郭ポイ
ント候補が位置する場所でのライン候補、又はそのポイ
ント候補が位置するすぐ近くライン候補を決定する働き
がある。かかるライン候補は、少なくとも部分的に、シ
ャッター輪郭の一部を構成するが、その候補はX線画像
での解剖学的輪郭にも関連する。
【0012】さらなる処理からかかるライン候補を除外
する試みは行われない。代わりに、閉じたパス(環状パ
ス)が形成される、つまり、多角形が形成され、スター
トはそのエンドと一致する。複数の閉じたパスはさまざ
まなライン候補のセグメントから構成される。上記閉じ
たパスの一つはシャッター輪郭を表わす。シャッター輪
郭としてこの一つのパスを選択することは、シャッター
輪郭に沿って、特に強いコントラストが内部の画像値
と、それによって形成される画像領域の外部との間で発
生するという考察に基づいている。
【0013】閉じたパスは、原則的には、請求項2で開
示した以外の方法でも決定され、例えば、X線画像のL
oGフィルタリング後のゼロ交差の空間的変動を決定す
ることにより行われる。しかしながら、請求項2記載の
バージョンは、輪郭エッジの個々のセグメントのみが強
いコントラストを示すときでさえも、シャッター輪郭を
信頼できる形で検出する。
【0014】請求項3には、移植物の輪郭を決定するの
に相応しい方法が開示されている。この方法は、移植物
の輪郭検出に対して信頼できる形で機能する。なぜな
ら、通常、かかる輪郭は周辺全体に沿った周囲に対して
明確なコントラストを示すからである。閉じたパスの決
定には、このバージョンでは短時間の計算のみが必要で
ある。
【0015】請求項4には、シャッター輪郭の検出に、
特に効果的なバージョンが開示されている。閉じたパス
に沿ったコントラストの和は、請求項5又は6記載の方
法で実行される。請求項5及び6に示す式は数学的には
同じであり、一方を他方へ変換させたものであることが
立証されている。
【0016】実際には、閉じたパスを形成するライン候
補のセグメントの多くの組合わせが存在し、よってシャ
ッター輪郭候補を構成する。かかるシャッター輪郭候補
の数は、請求項7に従い、顕著に減少する。この点に関
して、シャッター輪郭により囲まれた領域は、常にシャ
ッターによりカバーされた領域での画像値よりも大きい
画像値を示すと仮定される。
【0017】請求項8には、輪郭ポイント候補の決定の
好ましい可能性が記載されている。しかしながら、輪郭
ポイント候補は高域通過画像から誘導もされ、近隣と明
らかに識別できるポイントは、更に強調される。
【0018】請求項9には、輪郭ポイント候補からライ
ン候補を決定する好ましい可能性が開示されている。そ
のライン候補はさまざまな方法でも決定され、例えば、
米国特許第5、651、042号に記載されている線形
回帰により決定される。しかしながら、ハウ変換には、
X線画像において実際上全くコントラストを示さないロ
ング領域(long region)により遮断されるときでさえ
も、シャッター輪郭がライン候補として認識されるとい
う利点がある。
【0019】請求項10に記載するバージョンは、本発
明によるシャッター輪郭の決定方法により、X線画像の
形成にシャッターが利用されないとき、若しくはかかる
シャッターが幅広く開放するとき、その輪郭はX線画像
において再現されなくても正しい結果をもたらすことを
確実にする。
【0020】移植物の輪郭は、一方でそのコントラスト
が高く、他方でその輪郭の進路がより真っ直ぐである
(つまり滑らかで、「不規則」ではない)という点で、
X線画像での解剖学的構造体の輪郭とははっきりと異な
ることが分かった。この事実は請求項11に記載された
方法に利用される。両選択基準(コントラスト及び直線
性)とも組合わせて利用されるが、二つの基準の一つの
みに基づいて移植物の輪郭を選択することも可能であ
る。請求項12には、直線性の程度を決定するのに好ま
しい可能性が開示されている。
【0021】請求項13には、移植物輪郭の自動検出方
法の好適な適用が記載されている。
【0022】請求項14には、本発明による方法を実行
させるためのX線装置が記載されている。
【0023】本発明は以下の図面を参照して、詳細に説
明される。
【0024】
【発明の実施の形態】図1に線図的に示されたX線検査
装置は、X線源1と、その源に取付けたマルチ‐リーフ
コリメータ2とを具備する。マルチ‐リーフコリメータ
は、図面平面に垂直に延在し、X線ビーム4を形成させ
るシャッターエッジを有する第一の対のシャッター3を
具備する。更に、マルチ‐リーフコリメータ2は、水平
であるが、図1の平面に平行にも延在する別の対のシャ
ッター(図示せず)をも具備する。放射線ビーム4は患
者5が配置された検査ゾーンを横行する。患者の一部分
は、例えば鉛ラバーエプロンのようなX線吸収材料で作
られた適当なカバー6により、X線ビーム4から保護さ
れている。
【0025】患者の後ろには(X線源1から観察し
て)、X線画像を、X線画像を表わすデジタル化された
電気信号へ変換させるデジタルX線画像変換器が配設さ
れている。X線画像変換器の各画素は、被検査対象物5
によるX線の減衰が低下するときの大きい画像値と関連
する。X線変換器7により発生した電気信号が取得さ
れ、画像処理ユニット8により、更に処理される。この
ようにして得られた画像はモニター9に表示される、又
はハードコピーユニット(図示せず)により出力され
る。
【0026】図2のフローチャートは、画像処理ユニッ
ト8で実行された処理工程を示し、シャッター輪郭を検
出する。
【0027】初期設定後(ブロック100)、元画像は
工程101で準備される。後述する準備はそれ自体必要
はないが、以下の画像変換器7により供給される元画像
を準備することが好ましい。個々の画素に供給されたデ
ータは対数処理され、その結果画像値は患者5の後ろの
X線強度に比例しないが、その強度の対数に比例する。
結果として、フィルム上の従来のX線画像の場合と同じ
画像印象が得られる。
【0028】画像はサブサンプリング(sub-sampled)さ
れ、つまり、例えば2000x2000画素の画像に代
わり、例えば500x500画素の画像が処理される。
元画像のサブサンプリングの程度が低ければ、より多く
の計算処理が必要となるのに対して、そのサブサンプリ
ングの程度が高ければ、シャッター輪郭はもはや補正し
て求めることはないという危険が存在する。サブサンプ
リングは画像値を平滑化することにより行われる。
【0029】工程102では、元画像(図3に示す)
が、その外部縁でのフレームで得られ、つまり、画素の
カラム(column)とロウ(row)がその外部縁に付加さ
れ、前記画素に画像値はシャッターの後ろの画像値と正
確に等しい。シャッター3(図1)が幅広く開放するの
でX線画像においてシャッターはもはや再現されないと
きでさえも、画像境界はこのようにして正確に決定され
る。
【0030】工程103では、二つの画像が元画像から
誘導され(準備され)、前記二つの画像は元画像の勾配
のx成分とy成分に夫々対応する。二次元スカラ場の勾
配は(元画像はかかるスカラ場Iである)ベクトルであ
ることは周知である。
【0031】 ∇I = (∇I,∇I) (1) ベクトル成分∇Iと∇Iは、 ∇I = ∂I/∂x, ∇I = ∂I/∂y (2) であることは周知であり、つまりベクトル成分は夫々x
及びy方向での量I(画像値)の空間的導関数を表わ
す。このようにして、画像の全画素に対して勾配を決定
する。勾配のx成分を計算するために、それから画像は
x方向の一次元カーネルでコンボリュートされる。元画
像が工程101で適当にフィルターされていれば、カー
ネルは−1,0,+1成分からなり、各画素に対して、
右隣接画素の画像値と左隣接画素の画像値との間の差異
を割り当てることを意味する。更に、カーネルは大き
い。しかしながら、大きすぎると不正確さが発生し、更
に、計算処理の必要量は増加する。y勾配も同様に計算
される。
【0032】関連する画素の(おそらく、さらに空間的
に平均化された)画像値Iで、個々の画素に対して決定
された勾配成分に重みを加えることは好ましいことであ
ることが分かった。重みを加えることは、まるで画像値
がまず2乗され、その後以下の関係に従う勾配が形成す
るような、同じ効果を有する。
【0033】 ∇I = 2(I∇I、I∇I) (3) 重みを加えることは、画像変換器に起因するアーティフ
ァクトを抑制するという利点があり、そのアーティファ
クトはマスク画像領域(低X線強度)で主に観察される
からである。同時に、画像の直接の放射線に照射された
領域と関連するシャッターエッジは、その中で発生する
高い画像値により強調される。Iの代わり、一般的に
は、Iが利用され、ここで、bは0以上の定数であ
る。b=1では、純粋な勾配画像が得られる。工程10
4では、輪郭ポイント候補は個々の画素に対して決定さ
れた(おそらく、重みを加えた)勾配から決定される。
勾配が一定の閾値以上の絶対値を有する全ての画素は輪
郭ポイント候補であると考えられる。勾配の絶対値は、
その勾配の個々の成分の2乗の和の平方根であることは
周知である。しかしながら、そのような相対的に複雑な
算術操作に代わり、絶対値の和を単に考慮するだけで十
分である。この差異には、シャッター輪郭の正確さへの
格別な効果を発見するものではない。
【0034】ライン候補を決定するために、ハウ変換が
次の工程105で実行され、つまり速いハウ変換を行
う。座標x、yを有する各輪郭ポイントでは、このポイ
ントが位置し、傾斜角度ψを有するラインと関連する。
その角度ψは以下の式に従って計算される。
【0035】 ψ = arctan(∇/∇) (4) ここで∇と∇は、関連する画素での夫々x方向及び
y方向での勾配成分を表わす。ψは、成分∇と∇
双方とも負であるときに‐180°と‐90°との間で
あり、∇が正で、∇が負であるときに90°と18
0°との間であるように、‐180°から+180°の
角度の範囲で決定される。ポイントx、yのラインと座
標原点との間の距離ρは以下のように計算される。
【0036】 ρ = xcosψ + ycosψ (5) ρに対して負の値になることもある。ρと符号が反対で
あるが同じ値を有するラインはコリニア(colinear)で
あり、アンチパラレル(antiparallel)である。
【0037】速いハウ変換の結果として、x、y平面に
位置する各ポイントに対して、ρ、ψマトリックスでの
ρ及びψにより定義されるセルの内容は、1ずつ増加す
る。典型的なρ、ψマトリックスを図6に示す。輪郭ポ
イント候補が真っ直ぐなラインに位置するとき、ρ、ψ
マトリックスの関連セルの内容は、このラインの各ポイ
ントに対して1ずつ増加する。値ρ、ψは実際には正確
に決定することはできないので、その入力は正しい値
ρ、ψに隣接するセル間に分布する。したがって、ρ、
ψダイアフラムの増加した入力のあるセルの各クラスタ
は、ライン候補に相当する。このようにして、工程10
6では、極大がρ、ψマトリックスで決定され、前記極
大の夫々はライン候補に相当する。
【0038】図4は、x、y平面での図3の元画像に対
して決定されたライン候補L1...L9を示す。上記
ライン候補は外部縁を囲むラインをも含む。前述したよ
うに、‐180°から+180°の範囲の角度は各ライ
ンと関連している。180°ずれた関連する角度ψのあ
る二つのラインは、互いに逆平行に伸長する。よって、
方向は各ライン候補と関連している。(ラインの方向に
見て)ラインの右では、X線露光中に低X線強度で露光
された画素が位置しており、その左では高X線強度に露
光された画素が位置している(このことは、左画素及び
/又は上の画素の画像値は負の重みで入力された勾配成
分∇及び∇の計算に対する指定一次元ケーネルに当
てはまる)。
【0039】次の工程107では、まず、全ライン候補
の交差ポイントV...Vを計算する。少なくとも
数多の上記交差ポイントは、シャッター輪郭により形成
される多角形のコーナポイントを構成する。図5では、
数多の上記交差ポイント、つまり可能なコーナポイント
は参照記号V...Vで表わされる。更に、先に説
明したラインの方向は矢印で表わす。かかるコーナポイ
ントのシーケンスはパスと呼ばれる。最初と最後のコー
ナポイントが一致すると、パスは閉じている(環状)と
考えられる。
【0040】本発明では、シャッター輪郭は、ライン候
補、つまりライン候補の分離セグメントからなる多角形
(閉じたパス)であると仮定している。更に、本発明
は、シャッター輪郭に沿ったコントラストは最大である
という仮定に基づいている。よって、目的は、多くの、
おそらく生じる高いコントラストに沿った閉じたパスの
中から閉じたパスを見つけ出すことである。閉じたパス
に沿ったコントラスト変動を決定する第一の可能性は、
以下の式に従って輪郭積分Utotを計算することにあ
る。
【0041】
【数3】 ここで、nは、閉じたパスへ、常に垂直に延在する長さ
1のベクトルである。よって、Utotは、閉じたパス
の法線に投影した勾配(Iにより重みを加えた)の輪郭
積分を表わす。輪郭積分Utotは、以下の式に従って
計算されたサブインテグラ(sub-integral)の和として
表わされる。
【0042】 Utot = Σu (7) ここで、uは以下の式
【0043】
【数4】 に従い、同じライン候補の交差(例えば、V1、V2)
の二つの連続したポイントにより定義されるパスに沿っ
た勾配∇Iの方向導関数である。
【0044】計算時間を短縮するために、閉じたパスの
全セグメントが反時計回りに元画像の領域を囲む上記閉
じたパスのみを調査した。上記領域には、この領域以外
の画素のX線強度よりも強いX線強度のある画素を含
む。実行可能である閉じたパスから、蓄積された最も高
いコントラストに沿った閉じたパスが、シャッター輪郭
として選択された。
【0045】値uが数多の閉じたパスの一部を構成す
るパスsi対して数回計算されるのを回避するために、
工程108では、値uは式8に従って1回計算され、
隣接マトリックス(adjacency matrix)に処理される。
図5には、かかる隣接マトリックスを示し、全てのコー
ナポイントV、V...V...が入力されなけ
ればならない。入力は同じラインに位置するコーナポイ
ントに対してのみ行われる。Vのロウでは、入力u
21があり、VからVに向かうパスに関連してい
る。同じように、VからVに向かうパスの入力u
23がある。
【0046】VからVへのパス(VのロウとV
のカラムでの交差として表わされる)に対して入力を行
うことは可能であるが、かかる入力は必要ではない。し
かしながら、VからVへのパスに対する入力はな
い。なぜならば、V及びVは一つのラインに位置し
ていないからである。更に、Vから、Vと同じライ
ンに位置するVの左側及びそれ以下のポイントへの入
力もない。なぜなら、V からのパスは上記方向を示さ
ないからである(しかしながら、更に指定しないコーナ
ポイントからVへ伸長するパスに対する方向に対し
て、入力は関連するポイントのロウ及びVのカラムで
行われる)。
【0047】したがって、工程109では、閉じたパス
が構成するパスに対する入力から、式7に従って、輪郭
積分が計算される。これは反時計回りに領域を囲む全て
の実行可能なパスに対して繰り返される。
【0048】ブロック110では、全ての他の閉じたパ
スのUtotより大きい閉じたパスは、シャッター輪郭
として選択される。図6は、このようにして求めたシャ
ッター輪郭を示す。
【0049】このようにして決定されたシャッター輪郭
は、工程111で信頼テスト(plausibility test)を
受ける(しかしながら、この方法の高い信頼性のため、
この工程が免除されることもある)。それから、シャッ
ター輪郭により囲まれた領域での画素の画像値の平均値
が得られる。パスにより囲まれた領域の外に位置する画
素の数と、このように計算した平均値よりも大きい画像
値が計算される。そのような外観上過剰に明るい画素の
数は、シャッター輪郭により囲まれた領域の画素の数で
割られる。このように決定された「アウトライアー(ou
tlier)」の数は、一定の閾値を、例えば30%を超え
るならば、工程101から110で求めたシャッター輪
郭は再び拒絶される。理論的に言えば、シャッターによ
りカバーされる全ての画素は、シャッターによりカバー
されていない左側の領域での平均値より小さい画像値を
有する。しかしながら,画像変換器のノイズ若しくはア
ーティファクトのため、平均値より高い画像値を有する
多くの「アウトライアー」がある。しかしながら、この
数があまりにも多いと、求めたシャッター輪郭は正確に
決定されていないことを示唆する。この場合、求めたシ
ャッター輪郭は工程102で付加されたフレームにより
交換される。
【0050】これにより、シャッター輪郭の検出は終了
する(ブロック112)。
【0051】閉じたパスに沿って蓄積されたコントラス
トを決定する第二の可能性は、閉じたパスにより境界を
付けた領域でのラプラシアン演算子の面積分Vtot
計算することにあり、その計算は以下の式に従って行わ
れる。
【0052】
【数5】 ここで、Δはシンボル∇がアングロサクソン文献に通
常使用されるラプラシアン演算子を表わす。x及びyに
依存する関数fのラプラシアン演算子Δは、
【0053】
【数6】 として計算される。たとえ、式(9)によるVtot
式は一見すると、式(6)によるUtotの式からかな
り逸脱しているが、二つの式は数学的には同じであるこ
とは発散定理により証明されている。
【0054】図10及び図11は、式(9)の簡単なバ
ージョンを示す。図10はx方向の画像値の典型的な変
動を示し、図11は関連する(この一次元の場合のラプ
ラシアン演算子を表わす)第二の導関数を示す。シャッ
ターエッジは図11に示す画像の第二の導関数の特に大
きな値の形で現れ、正の値はほぼ同じ大きさの負に値に
より補正される。x方向での第二の導関数の積分はゼロ
交差xとxとの間で計算されると、(式(9)の積
分は一次元の場合に変化する)この積分はx及びx
での正の振幅により決定される。その間に位置する曲線
の部分は平均化される。しかしながら、第二の導関数
は、例えばx及びxで(相対的な)極大及び極小を
さらに有する。しかしながら、それらの極大及び極小は
及びx の値より小さいので、第二の導関数の積分
はxからxよりもxからxで小さい値が得られ
る。
【0055】上記考察に基づくと、図9は、工程108
から工程110に代わる図2のフローチャートの変更部
分を示す。
【0056】図5によれば、コーナポイントV...
の一定の位置で実行可能な全ての多角形は、一つ以
上基本的多角形からなり、それらの幾つかは,図5の参
照記号a...a...aにより表わされる。上
記の各基本的多角形では、画像値のラプラシアン演算子
の面積分は工程108’の式9に従って計算され、例え
ば、aでは値vが、aでは値vが得られる。各
個々の画素のラプラシアン演算子は、カーネル‐1,
0,+1で、一方でこの方向とx方向の隣接画素での成
分∇Iを、他方でこの方向とy方向での隣接画素の成
分∇Iをコンボリュートされ、コンボリューション積
を加えることにより,工程103で計算された勾配から
誘導される。
【0057】全ての閉じたパスは一つ以上のかかる基本
的多角形からなる多角形を囲む。したがって、工程10
9’では、関連する値v、v...vなどは閉じ
たパスにより囲まれた基本的多角形(a,a,a
など)に加え、閉じたパスと関連する全体の値Vtot
が得られる。
【0058】工程110’では、このようにして求めた
閉じたパスから、値Vtotが極大に達した閉じた経路
は、シャッター輪郭として選択された。このようにして
決定されたシャッター輪郭は、ブロック112で停止す
る前に、図2の工程111による信頼テストを再び受け
る。
【0059】更に、この方法は、計算時間の削減の可能
性を提供する。求めたタイン候補の数が多くなればなる
ほど、選択しなければならない、シャッター輪郭を表わ
す閉じたパスからの閉じたパスの数は多くなるというこ
とである。N個のライン候補の場合、2の閉じたパス
が存在する。Nが非常に大きな値の場合、各個々のパス
に対して値Vtotを計算することはほとんど不可能で
ある。
【0060】従って、調べたパスは、非常に少ない計算
を利用して、以下のように求められる。ライン候補
(N)と同じ数の成分を有するベクトルから出発し、ベ
クトル成分は各ライン候補に割り当て、前記成分はこの
ライン候補がシャッター輪郭の一部を構成するか否かに
関する情報を提供する値を有する(構成する場合はその
成分は値1を有し、構成しない場合その成分の値は0で
ある)。例えば、全ての成分を0に設定した開始ベクト
ルから出発し、最大値Vtotが得られる個々のライン
候補に対してチェックする(この目的ため、値v、v
...などは、ライン候補と関連する矢印の方向に観
測され、ライン候補の左側に位置する全ての基本的多角
形a,aなどに対して付加される)。大きな値のV
totが得られたライン候補は逆転される(つまり0か
ら1へ、若しくは1から0へである)。その後、ベクト
ル成分が逆転されるその方法は繰り返され、1回の逆転
で大きな値Vtotを導くことがテストされる。ラプラ
シアン演算子(Vtot)の面積分がこれ以上大きくな
らないところまで、繰り返される。
【0061】移植物の輪郭の自動検出の方法は、図12
に示すフローチャートを参照して、以下に詳細に説明さ
れる。
【0062】ブロック200での初期設定後、まず、X
線画像が、図2のフローチャートの工程101で詳細に
説明した工程201で準備される。これにより、位置
x、yの関数である画像値Iを有する画像が得られる。
【0063】工程202では、いわゆるLGフィルタ
(LoGはガウシアンのラプラシアンである)が、この
ように準備された画像Iに適用される。LoGフィルタ
は、以下の関係式に従うガウス低域通過フィルタにより
平滑化された後、画像値の第二の空間的導関数を構成す
る周知の画像処理フィルタである。
【0064】
【数7】 ここで、ILoGはこのようにフィルターをかけた画像
値を表わし、σはガウシアン低域通過フィルタリングの
幅を表わすパラメータである。かかるフィルタリング
は、異なるカーネルサイズによる二つのガウスフィルタ
リング操作の引き算により、うまく近似される(DoG
フィルタはガウシアンの差異)。X線画像での輪郭はL
oGフィルタ画像でのゼロ交差に対応する(符号の変化
はゼロ交差として示される)。LoGフィルタ画像での
ゼロ交差に続いて得られた輪郭ラインは、常に閉じてい
る周知の性質を有している。かかるゼロ交差が起こる任
意の画素から出発すると、この画素は連続するゼロ交差
が続くときに再び到達する。結果生じた閉じたパスは決
して交差しないことは、LoGフィルタ画像の周知の性
質である。工程203では、このようにして、輪郭は元
画像にて、若しくはX線画像にて検出される。
【0065】上記方法は、先ず輪郭ポイントを決定し、
その後上記輪郭ポイントと接続するラインを決定して、
最後に閉じたパスをラインから構成させる場合よりも簡
単であり、前記パスの一つは調べた輪郭を表わす。しか
しながら、シャッター輪郭の自動検出用の方法として利
用するには進められない。なぜなら、X線画像でのシャ
ッター輪郭は、低コントラストにより確認することが非
常に難しいセクションを有する場合がしばしばあり、ま
た、ゼロ交差はこのような場合には続かないからであ
る。
【0066】このように決定した輪郭の中から、移植物
をおそらく表わす輪郭を選択しなければならない。この
輪郭の決定に対して、他の輪郭の平均コントラスト値よ
りも大きな平均コントラスト値を有し、更に、解剖学的
対象物の輪郭よりも直線性の程度の高いものを仮定す
る。この点に関して、X線画像での人工移植物はより直
線性を有し、少なくとも天然構造物よりは滑らかな輪郭
を有していると仮定する。
【0067】結果として、工程204では、平均コント
ラストを決定し、工程205では、輪郭の直線性を測定
する。コントラストgは、以下の式に従って決定され
る。
【0068】
【数8】 ここで、iinは輪郭の内側の画像値の平均値であり、
outは輪郭の外側の画像値の平均値を表わす。別の
可能性は、式(6)によるUtot値と式(9)による
totを計算し、輪郭の長さにより上記値を割ること
にある。
【0069】輪郭の各画素Piでは、直線性hの尺度
は、以下の関係による輪郭のN個の隣接画素の座標から
計算される。
【0070】 h = d/N ここで、dは、最後のN個の画素からのx及びy方向の
上記画素の第一の距離間の距離dx、dyからの最大で
ある。図13は、上尺度の重要性を示す。ここで、二つ
の輪郭21を示すが、これらは少なくとも一定の数の画
素以上で直線である。水平輪郭の最初と最後の画素間の
距離dxは、画素幅で測定され、N個の画素の数に相当
し、この場合、尺度hは値1と仮定する。直線を傾け
ると、距離d(この場合d=dy)はわずかに小さく、
の値も小さいが、0.7より大きい。しかしなが
ら、曲がった輪郭22では、d(この場合、dはdyと
等しい)はたった2であり(画素幅)、hに対して小
さい値が得られる。
【0071】全体の輪郭に対する直線性の尺度hは、輪
郭の個々の画素での尺度hの平均値である。直線性尺
度h又はhは、hの計算で考慮された画素の数Nに
よる要件に適合させる。数Nが少なければ少ないほど、
アーチ型の曲線の場合にはh 値は増加するであろう。
したがって、N個の連続画素により定義される長さが輪
郭の曲率の半径と比較して小さいときには、滑らかで、
一様に曲がった輪郭は直線であるとして評価される。
【0072】工程206では、輪郭は、工程204及び
205で決定された値gとhの積が最大のものが選択さ
れる。この輪郭は移植物の調査した輪郭を表わす.工程
207では、移植物として決定された輪郭により囲まれ
た領域は排除され、工程208では、モニター(ハード
コピーユニット)のコントラストの自動調整のパラメー
タが残った画像から公知の方法で決定され、よって最適
なコントラストでX画像が再現される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施に適するX線装置を線図的に示
す。
【図2】本発明による方法のフローチャートを示す。
【図3】被処理元画像を示す。
【図4】元画像から誘導されたライン候補を示す。
【図5】少なくとも二つのライン候補の交差ポイントに
より形成されたノードのグラフを示す。
【図6】図5から誘導されたシャッター輪郭を示す。
【図7】さなざまな閉じたパスに沿ったライン積分の計
算を非常に容易にする近接マトリックス(proximity ma
trix)を示す。
【図8】ハウマトリックスを示す。
【図9】図2に示す方法のさらに別のバージョンを示
す。
【図10】後者のバージョンに基づく画像値の変動を示
す。
【図11】後者のバージョンに基づく画像値の変動を示
す。
【図12】X線画像の移植物輪郭の自動検出用のフロー
チャートを示す。
【図13】直線及び曲線セグメントのある画像領域を示
す。
【符号の説明】
1 X線源 2 マルチ‐リーフコリメータ 3 シャッター 4 放射線ビーム 5 被検査対象物 6 カバー 7 X線変換器 8 画像処理ユニット 9 モニター
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 590000248 Groenewoudseweg 1, 5621 BA Eindhoven, Th e Netherlands (72)発明者 ザビーネ ディッペル ドイツ連邦共和国,22299 ハンブルク, クロホマンシュトラーセ 4 (72)発明者 トルシュテン ブツーク ドイツ連邦共和国,24143 キール,コン ラート−アーデナオアー−ダム 15 (72)発明者 マルティーン シュタール ドイツ連邦共和国,24568 カルテンキル ヒェン,フォーゲルブッシュ 21 (72)発明者 トーマス ブラフェルト ドイツ連邦共和国,122089 ハンブルク, シュレーゲルスヴェーク 7

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線画像において高いX線吸収を示す構
    造体の輪郭を自動検出する方法であって、 a) X線画像又はそのX線画像から誘導された画像で
    の輪郭候補として働く多くの閉じたパスを決定する段階
    と、 b) 前記閉じたパスに沿ったコントラストに依存し
    て、閉じたパスの数から閉じたパスとしての輪郭を選択
    する段階とからなることを特徴とする方法。
  2. 【請求項2】 シャッター輪郭を検出する方法であっ
    て、a) X線画像又はそのX線画像から誘導された元
    画像の画素と関連する画像値の空間的変動から輪郭ポイ
    ント候補を決定する段階と、 b) 輪郭ポイント候補のロウが各ライン候補又はかか
    る候補のすぐ隣に位置するように、前記輪郭ポイント候
    補からライン候補を決定する段階と、 c) 異なるライン候補のセグメントからなるシャッタ
    ー輪郭候補として閉じたパスを形成させる段階と、 d) 前記閉じたパスに沿ったコントラストに依存し
    て、シャッター輪郭として閉じたパスを選択する段階と
    からなり、前記閉じたパスを決定することを特徴とする
    請求項1記載の方法。
  3. 【請求項3】 移植物の輪郭の検出方法であって、閉じ
    たパスを決定するために、 a) X線画像又はそのX線画像から誘導された画像に
    LoGフィルタをかける段階と、 b) LoGフィルタをかけた画像のゼロ交差が位置す
    る閉じたパスを決定する段階とを実行することを特徴と
    する請求項1記載の方法。
  4. 【請求項4】 前記選択段階は数多の閉じたパスの一つ
    の両側へ、縁でのコントラストの和をとり、最大である
    その和に沿った閉じたパスをシャッター輪郭として決定
    することを含むことを特徴とする請求項2記載の方法。
  5. 【請求項5】 コントラストの和をとるために、閉じた
    パスに沿った輪郭積分(Utot)は、以下の式によ
    り、 【数1】 ここで、nは閉じたパスに垂直である単位ベクトルであ
    り、aは1以上のべき指数であり、そのパスの方向での
    画像値(I)の勾配(∇I)の方向導関数で計算される
    ことを特徴とする請求項4記載の方法。
  6. 【請求項6】 コントラストの和をとるために、ラプラ
    シアン演算止(Δ)での積分(Vtot)は、以下の式
    により、 【数2】 閉じたパスにより囲まれた領域で算することを特徴とす
    る請求項4記載の方法。
  7. 【請求項7】 選択は、夫々の領域を囲み、画像値が上
    記領域の外の値よりも大きい閉じたパスに制限されるこ
    とを特徴とする請求項2記載の方法。
  8. 【請求項8】 画像値が最も大きい勾配を示すX線画像
    における、又は元画像における輪郭ポイントは、輪郭ポ
    イント候補として選択されることを特徴とする請求項2
    記載の方法。
  9. 【請求項9】 前記ライン候補はハウ変換による輪郭ポ
    イント候補から誘導されることを特徴とする請求項2記
    載の方法。
  10. 【請求項10】 フレームは元画像の周辺で調整され、
    上記フレームの画素はシャッターによるマスク領域での
    画像値に相当することを特徴とする請求項2記載の方
    法。
  11. 【請求項11】 閉じたパスの直線性を評価した直線性
    の尺度に依存した移植物輪郭として、閉じたパスの数か
    ら自動検出されることを特徴とする請求項1記載の方
    法。
  12. 【請求項12】 直線性の尺度を決定するために、多く
    の隣接画素を含む閉じたパスのセグメントの最初の画素
    と最後の画素との間の距離は上記セグメントの長さに関
    係して設定されることを特徴とする請求項11記載の方
    法。
  13. 【請求項13】 移植物輪郭により囲まれた領域は、X
    線画像の内容に依存して、自動コントラスト調整中に削
    除されることを特徴とする請求項1記載の方法。
  14. 【請求項14】 検査範囲を横行するX線を発生させ
    るX線源と、 前記X線源と前記検査範囲との間に配設されたシャッタ
    ー装置と、 前記検査範囲の後ろのX線を検出し、対応する元画像を
    生じさせるX線画像変換器と、 前記元画像でのシャッター装置の輪郭を検出するための
    画像処理ユニットとを具備する請求項1記載の方法を実
    行するためのX線装置であって、 前記画像処理ユニットは、 a) X線画像又はそのX線画像から誘導された元画像
    の画素と関連する画像値の空間的変動から輪郭ポイント
    候補を決定する段階と、 b) 輪郭ポイント候補のロウが各ライン候補に位置す
    る、又はかかる候補のすぐそばに位置するように、前記
    輪郭ポイント候補からのライン候補を決定する段階と、 c) 異なるライン候補のセグメントからなるシャッタ
    ー輪郭候補として多くの閉じたパスを形成させる段階
    と、 d) 前記閉じたパスの両側のコントラストに依存し
    て、シャッター輪郭として閉じたパスの数から閉じたパ
    スを選択する段階とからなる処理工程を実行させるよう
    に配置されていることを特徴とするX線装置。
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