JP2000285843A - Vent device for vacuum preliminary chamber and substrate processing device - Google Patents

Vent device for vacuum preliminary chamber and substrate processing device

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JP2000285843A
JP2000285843A JP11088522A JP8852299A JP2000285843A JP 2000285843 A JP2000285843 A JP 2000285843A JP 11088522 A JP11088522 A JP 11088522A JP 8852299 A JP8852299 A JP 8852299A JP 2000285843 A JP2000285843 A JP 2000285843A
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acting cylinder
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史郎 塩尻
Yoshiyuki Yamamoto
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a vent method and a substrate processing device for a vacuum preliminary chamber capable of certainly preventing a pressure application of a vacuum preliminary chamber at the time of venting even if a relief valve is not used and a particle deposition to the substrate. SOLUTION: An exhaust center three-position directional control valve 48 for discharging air at both sides of a piston 36 of a double acting cylinder 34 at a center position is used at a cylinder control circuit 42a for controlling the double acting cylinder 34 for opening/closing a flap valve 4 partitioning the inside and the outside of the vacuum preliminary chamber. The three position directional control valve 48 is changed to a center position at approximately the same time of an opening of a vent valve to carry out an vent of the vacuum preliminary chamber. Thereby, the flap valve 4 has a function of a relief valve.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、例えばイオン注
入装置、薄膜形成装置等のように、真空中で基板をイオ
ンビーム等によって処理する基板処理装置を構成する真
空予備室に、ベントガスを導入して、当該真空予備室を
ベントする(即ち大気圧に戻す)ベント方法およびその
ようなベント方法を実施する基板処理装置に関し、より
具体的には、ベントガスによる真空予備室の加圧を防止
する手段の改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for introducing a vent gas into a pre-vacuum chamber constituting a substrate processing apparatus for processing a substrate in a vacuum by an ion beam or the like, such as an ion implantation apparatus and a thin film forming apparatus. The present invention relates to a venting method for venting the vacuum preparatory chamber (that is, returning to the atmospheric pressure) and a substrate processing apparatus for performing such a venting method, and more specifically, means for preventing pressurization of the vacuum preparatory chamber by a vent gas. Regarding improvement.

【0002】[0002]

【従来の技術】真空予備室(これはロードロック室とも
呼ばれる)は、真空(通常は高真空)に排気される処理
室を大気中に開放しないで基板の搬出入を行うために、
処理室と大気圧側との間に設けられるものであり、これ
を設けることによってスループットの向上等を図ること
ができる。
2. Description of the Related Art A vacuum preparatory chamber (also referred to as a load lock chamber) is used to carry a substrate in and out without opening a processing chamber evacuated to a vacuum (usually a high vacuum) to the atmosphere.
This is provided between the processing chamber and the atmospheric pressure side, and by providing this, the throughput can be improved.

【0003】このような真空予備室を備える基板処理装
置の一例を図3に示す。この装置は、基板(例えば半導
体ウェーハ)22を処理する(例えばイオン注入を行
う)ための処理室18の上部に、弁体を兼ねる昇降式の
基板支持台20を介して、真空予備室2を隣接した構成
をしている。基板支持台20は、昇降装置28によっ
て、軸24を介して、矢印Cのように昇降させられる。
26は、真空シール機能を有する軸受部である。
FIG. 3 shows an example of a substrate processing apparatus having such a vacuum preparatory chamber. In this apparatus, a vacuum preparatory chamber 2 is provided above a processing chamber 18 for processing a substrate (for example, a semiconductor wafer) 22 (for example, for performing ion implantation) via a vertically movable substrate support table 20 also serving as a valve element. Adjacent configuration. The substrate support table 20 is moved up and down by the elevating device 28 via the shaft 24 as shown by the arrow C.
26 is a bearing part having a vacuum sealing function.

【0004】真空予備室2の側面部には、基板22を大
気側との間で出し入れするための開口部3が設けられて
おり、その外側に、真空予備室2の内外を仕切る外開き
のフラップ弁4が設けられている。フラップ弁とは、片
開きの扉のように、弁体の一方端部にある回転軸6を中
心にして回動することによって開閉する弁を言う。真空
予備室2の天井部には、天井蓋8が設けられている。3
0〜32は、真空シール用のパッキン(例えばOリン
グ)である。
An opening 3 through which the substrate 22 is inserted into and taken out from the atmosphere side is provided in a side surface of the vacuum preparatory chamber 2. A flap valve 4 is provided. A flap valve is a valve that opens and closes by rotating about a rotation shaft 6 at one end of a valve body, such as a one-sided door. A ceiling lid 8 is provided at the ceiling of the vacuum preparatory chamber 2. 3
Reference numerals 0 to 32 denote packings (for example, O-rings) for vacuum sealing.

【0005】フラップ弁4は、従来は図4に示すような
フラップ弁駆動装置によって開閉される。このフラップ
弁駆動装置は、この例では、フラップ弁4を開閉駆動す
る空気圧式の複動シリンダ34と、この複動シリンダ3
4のピストン36の矢印Bに示すような往復直線運動を
フラップ弁4の矢印Aに示すような往復回転運動(開閉
運動)に変換するアーム40と、複動シリンダ34の動
きを制御するシリンダ制御回路42とを備えている。
Conventionally, the flap valve 4 is opened and closed by a flap valve driving device as shown in FIG. In this example, the flap valve driving device includes a pneumatic double-acting cylinder 34 for driving the flap valve 4 to open and close,
Arm 40 for converting the reciprocating linear motion of the piston 36 of FIG. 4 as shown by arrow B into the reciprocating rotary motion (opening and closing motion) of the flap valve 4 as shown by arrow A, and cylinder control for controlling the motion of the double-acting cylinder 34 And a circuit 42.

【0006】シリンダ制御回路42は、圧縮空気源44
と、それからの圧縮空気を複動シリンダ34のポートa
側とb側とに切り換えて供給する2位置切換弁46とを
備えている。この2位置切換弁46を図のように閉側に
切り換えると、複動シリンダ34の後方のポートaに圧
縮空気が供給され、ピストン36が前方に移動し、フラ
ップ弁4が閉じられる。2位置切換弁46を開側に切り
換えると、複動シリンダ34の前方のポートbに圧縮空
気が供給され、ピストン36が後方に移動し、フラップ
弁4が開く。この状態で、例えば大気圧側の搬送ロボッ
ト(図示省略)によって、開いたフラップ弁4の部分を
通して、真空予備室2に基板22の搬出入を行うことが
できる。
The cylinder control circuit 42 includes a compressed air source 44
And the compressed air from the port a of the double-acting cylinder 34
And a two-position switching valve 46 for switching and supplying between the b-side and the b-side. When the two-position switching valve 46 is switched to the closed side as shown in the figure, compressed air is supplied to the port a behind the double-acting cylinder 34, the piston 36 moves forward, and the flap valve 4 is closed. When the two-position switching valve 46 is switched to the open side, compressed air is supplied to the port b in front of the double-acting cylinder 34, the piston 36 moves rearward, and the flap valve 4 opens. In this state, for example, the transfer robot (not shown) on the atmospheric pressure side can carry the substrate 22 into and out of the vacuum preliminary chamber 2 through the opened flap valve 4.

【0007】真空予備室2は、基板支持台20を昇降さ
せて基板22を処理室18との間で搬送する前に、排気
弁10を介して真空排気装置(図示省略)によって真空
に排気される。また、フラップ弁4を開いて基板22を
大気圧側との間で搬送する前に、ベント弁12を開いて
ベントガス14を導入してベントされる。
The vacuum preparatory chamber 2 is evacuated to a vacuum by a vacuum exhaust device (not shown) via the exhaust valve 10 before the substrate support table 20 is moved up and down to transfer the substrate 22 to and from the processing chamber 18. You. Before the flap valve 4 is opened to transport the substrate 22 to and from the atmospheric pressure side, the vent valve 12 is opened and the vent gas 14 is introduced to vent.

【0008】このベント方法の従来例を図5をも参照し
て説明すると、排気弁10を閉じた後、ベント弁12を
開き(ステップ60)、ベントガス14を真空予備室2
に導入して大気圧に戻す。ベントガス14は、例えば窒
素ガスであり、その圧力は幾分正圧(例えばゲージ圧で
0.5kg/cm2 程度)である。
Referring to FIG. 5, a conventional example of this venting method will be described. After the exhaust valve 10 is closed, the vent valve 12 is opened (step 60), and the vent gas 14 is supplied to the pre-vacuum chamber 2.
And return to atmospheric pressure. The vent gas 14 is, for example, a nitrogen gas, and its pressure is a somewhat positive pressure (for example, a gauge pressure of about 0.5 kg / cm 2 ).

【0009】真空予備室2が大気圧になったか否かは、
真空予備室2に接続した大気圧センサー16によって検
出され、その検出後(ステップ61)、ベント弁12を
閉じて(ステップ62。但し、そうせずにベントガス1
4を流したままの場合もある)、フラップ弁4を開き
(ステップ63)、基板22を搬送する。
It is determined whether or not the vacuum preparatory chamber 2 has reached the atmospheric pressure.
It is detected by the atmospheric pressure sensor 16 connected to the pre-vacuum chamber 2, and after the detection (step 61), the vent valve 12 is closed (step 62).
4, the flap valve 4 is opened (step 63), and the substrate 22 is transported.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上記のように大気圧セ
ンサー16で真空予備室2が大気圧になったことを検出
する方法では、大気圧センサー16の誤差によって、真
空予備室2が幾分真空状態で大気圧と検出される場合が
あり、その状態でフラップ弁4を開こうとしても、大気
がフラップ弁4を外から押す力(換言すれば真空でフラ
ップ弁4を吸引する力)の方が複動シリンダ34の駆動
力よりも大きくてフラップ弁4が開かないことが起こる
ので、通常は、ベントガス14で真空予備室2を少し加
圧状態にしてからフラップ弁4を開いている。
As described above, in the method of detecting that the vacuum preparatory chamber 2 has reached the atmospheric pressure by the atmospheric pressure sensor 16, the vacuum preparatory chamber 2 is somewhat evacuated due to an error of the atmospheric pressure sensor 16. Atmospheric pressure may be detected in a vacuum state, and even if the user attempts to open the flap valve 4 in that state, the force of the atmosphere pushing the flap valve 4 from the outside (in other words, the force of suctioning the flap valve 4 by vacuum). Since the driving force of the double-acting cylinder 34 is larger than that of the double-acting cylinder 34, the flap valve 4 does not open. Therefore, usually, the flap valve 4 is opened after the vacuum preliminary chamber 2 is slightly pressurized by the vent gas 14.

【0011】ところが、真空予備室2のベント時に、大
気圧センサー16や、ベントを制御する制御系に故障等
が発生し、全ての弁が閉じられているにも拘わらずベン
トガス14が供給し続けられると、真空予備室2が過大
に加圧されて真空予備室2が破損する可能性がある。そ
の防止対策として、従来は、面積が大きくて圧力の影響
を受けやすい天井蓋8を、固定せずに自由にしておく
か、ばね(図示省略)によって弾性的に真空予備室2側
に押し付けておき、真空予備室2の圧力が一定以上にな
ると天井蓋8が持ち上げられて圧力が抜けるというリリ
ーフ機構を採用している。
However, when venting the pre-vacuum chamber 2, a failure or the like occurs in the atmospheric pressure sensor 16 or the control system for controlling the vent, and the vent gas 14 continues to be supplied even though all the valves are closed. Then, the pre-vacuum chamber 2 may be excessively pressurized and the pre-vacuum chamber 2 may be damaged. Conventionally, as a countermeasure, the ceiling lid 8 which has a large area and is easily affected by pressure is freed without being fixed, or is elastically pressed against the vacuum preliminary chamber 2 by a spring (not shown). In addition, a relief mechanism is adopted in which the ceiling lid 8 is lifted and the pressure is released when the pressure in the pre-vacuum chamber 2 exceeds a certain level.

【0012】ところが、ベントガス14が止まらない
と、天井蓋8は規定圧力になると浮き上がり、圧力が低
下すると下がるため、天井蓋8に振動が発生し、それに
よって天井蓋8とその対向面とが擦れてパーティクル
(ごみ)が発生する。天井蓋8は、基板22の上部に位
置しているので、発生したパーティクルは下方の基板2
2に付着してその表面を汚染するという問題が発生す
る。近年は特に、半導体デバイスの高集積化・微細化が
進んでおり、このパーティクル付着の問題は深刻であ
る。
However, if the vent gas 14 is not stopped, the ceiling lid 8 rises when the pressure reaches a specified pressure, and falls when the pressure decreases, so that vibration occurs in the ceiling lid 8, whereby the ceiling lid 8 rubs against the opposing surface. Particles (garbage) are generated. Since the ceiling lid 8 is located above the substrate 22, the generated particles are
2 and contaminate the surface. In recent years, in particular, the integration and miniaturization of semiconductor devices have been progressing, and the problem of particle adhesion is serious.

【0013】天井蓋8をリリーフ機構として用いる代わ
りに、空気圧回路に用いられる通常のリリーフ弁(安全
弁)を使用する考えもあるけれども、リリーフ弁は本
来、圧力の高い領域で圧力逃がし用に使用される弁であ
って、真空領域で使用されるようにはできておらず、真
空予備室2に接続して真空側に引かれると、真空漏れを
起こしやすいという問題がある。
Although it is considered that a normal relief valve (safety valve) used for a pneumatic circuit is used instead of using the ceiling lid 8 as a relief mechanism, the relief valve is originally used for pressure relief in a high pressure area. This valve is not designed to be used in a vacuum region, and has a problem that when it is connected to the vacuum preparatory chamber 2 and pulled toward the vacuum side, vacuum leakage is likely to occur.

【0014】そこでこの発明は、リリーフ弁を用いなく
てもベント時の真空予備室の加圧を確実に防止すること
ができ、しかも基板へのパーティクル付着を防止するこ
とができる真空予備室のベント方法およびそのようなベ
ント方法を実施する基板処理装置を提供することを主た
る目的とする。
Therefore, the present invention provides a vent in a vacuum preparatory chamber which can surely prevent pressurization of the vacuum preparatory chamber at the time of venting without using a relief valve, and can prevent particles from adhering to a substrate. It is a primary object to provide a method and a substrate processing apparatus for performing such a venting method.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】この発明に係るベント方
法は、前記シリンダ制御回路の切換弁に、中央位置で前
記複動シリンダのピストンの両側の空気を排出するエキ
ゾーストセンタ形の3位置切換弁を用い、前記ベント弁
の開とほぼ同時にこの3位置切換弁を中央位置に切り換
えて前記真空予備室のベントを行うことを特徴としてい
る。
According to a vent method according to the present invention, an exhaust center type three-position switching valve for discharging air on both sides of a piston of a double acting cylinder at a center position to a switching valve of the cylinder control circuit. The three-position switching valve is switched to the center position almost simultaneously with the opening of the vent valve, and the vacuum preliminary chamber is vented.

【0016】上記ベント方法によれば、3位置切換弁を
上記のように切り換えるので、真空予備室のベント開始
とほぼ同時に、複動シリンダおよびそれにつながるフラ
ップ弁は、自由に動き得る状態になる。但し、真空予備
室が真空の間は、フラップ弁は大気圧によって内向きに
押さえ付けられており、真空予備室のベントが進んで真
空予備室が大気圧になると、フラップ弁を軽く開くこと
ができる。
According to the venting method, since the three-position switching valve is switched as described above, the double-acting cylinder and the flap valve connected to the double-acting cylinder can be freely moved almost simultaneously with the start of the venting of the pre-vacuum chamber. However, while the vacuum prechamber is in vacuum, the flap valve is pressed inward by the atmospheric pressure, and when the vacuum prechamber vents and the vacuum prechamber reaches atmospheric pressure, the flap valve may be opened slightly. it can.

【0017】この場合、ベント時に仮に大気圧センサー
の故障、誤差等によって、ベントガスが止まらなくて真
空予備室が加圧状態になろうとしても、そのベントガス
の圧力によってフラップ弁が自動的に押し開かれるの
で、その圧力を逃がすことができる。従って、リリーフ
弁を用いなくても、ベント時の真空予備室の加圧を確実
に防止することができる。
In this case, even if the vent gas does not stop due to a failure or error of the atmospheric pressure sensor at the time of venting and the vacuum preparatory chamber attempts to be pressurized, the flap valve is automatically pushed and opened by the pressure of the vent gas. So that the pressure can be released. Therefore, the pressurization of the pre-vacuum chamber at the time of venting can be reliably prevented without using a relief valve.

【0018】しかも、フラップ弁は元々、開閉する目的
で作られているので、それがベント時に上記のようにし
て開いても、パーティクルの発生は殆ど無い。仮に、圧
力逃がし動作時にフラップ弁部でパーティクルが発生し
たとしても、フラップ弁は真空予備室の側面部に設けら
れていて真空予備室内の基板の上方には位置していない
ので、しかもベントガスの流れによってパーティクルは
外側に向けて流されるので、パーティクルが基板に付着
することを防止することができる。
Moreover, since the flap valve is originally made for opening and closing, even if it is opened as described above at the time of venting, almost no particles are generated. Even if particles are generated in the flap valve during the pressure relief operation, the flap valve is provided on the side surface of the pre-vacuum chamber and is not located above the substrate in the pre-vacuum chamber. As a result, the particles flow outward, so that the particles can be prevented from adhering to the substrate.

【0019】この発明に係る基板処理装置は、前記シリ
ンダ制御回路の切換弁に、中央位置で前記複動シリンダ
のピストンの両側の空気を排出するエキゾーストセンタ
形の3位置切換弁を用いており、かつ前記ベント弁の開
とほぼ同時にこの3位置切換弁を中央位置に切り換えて
前記真空予備室のベントを行う制御を司る制御回路を備
えていることを特徴としている。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, an exhaust center type three-position switching valve for discharging air on both sides of a piston of the double-acting cylinder at a central position is used as a switching valve of the cylinder control circuit. A control circuit is provided for controlling the switching of the three-position switching valve to the center position and venting of the vacuum spare chamber almost simultaneously with the opening of the vent valve.

【0020】この基板処理装置によれば、上記ベント方
法を実施することができるので、上記ベント方法の効果
と同様の効果を奏する。
According to this substrate processing apparatus, since the above-described venting method can be performed, the same effects as those of the above-described venting method can be obtained.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】図1は、この発明に係るベント方
法を実施する基板処理装置のフラップ弁駆動装置の一例
を示す図である。図2は、この発明に係るベント方法の
一例を示すフローチャートである。図4および図5に示
した従来例と同一または相当する部分には同一符号を付
し、以下においては当該従来例との相違点を主に説明す
る。また、真空予備室を備える基板処理装置全体の構成
は、例えば図3と同様であるのでそれを参照するものと
し、ここでは重複説明を省略する。
FIG. 1 is a diagram showing an example of a flap valve driving device of a substrate processing apparatus for performing a venting method according to the present invention. FIG. 2 is a flowchart showing an example of the venting method according to the present invention. The same or corresponding parts as those in the conventional example shown in FIGS. 4 and 5 are denoted by the same reference numerals, and differences from the conventional example will be mainly described below. The configuration of the entire substrate processing apparatus including the vacuum preparatory chamber is the same as, for example, that shown in FIG. 3 and will be referred to here, and redundant description will be omitted here.

【0022】この例では、前記シリンダ制御回路42に
相当するシリンダ制御回路42aの切換弁に、中央位置
で前記複動シリンダ34のピストン36の両側の空気を
排出する、いわゆるエキゾーストセンタ形の3位置切換
弁48を用いている。この3位置切換弁48は、この例
では電磁弁である。
In this example, a switching valve of a cylinder control circuit 42a corresponding to the cylinder control circuit 42 discharges air on both sides of a piston 36 of the double-acting cylinder 34 at a central position, that is, a so-called exhaust center type three-position valve. A switching valve 48 is used. The three-position switching valve 48 is an electromagnetic valve in this example.

【0023】なお、シリンダ制御回路42aは、この例
では、前記圧縮空気源44から供給される圧縮空気の圧
力を調節する圧力調整弁50、複動シリンダ34ひいて
はフラップ弁4の開閉動作のスピードを調整する流量調
整弁52および54を備えている。但しこれらは、この
発明の本質に影響するものではない。
In this example, the cylinder control circuit 42a controls the speed of the opening / closing operation of the pressure regulating valve 50 for regulating the pressure of the compressed air supplied from the compressed air source 44, the double-acting cylinder 34 and the flap valve 4. The flow rate adjusting valves 52 and 54 for adjusting are provided. However, these do not affect the essence of the present invention.

【0024】上記3位置切換弁48の切り換え動作およ
び上記ベント弁12の開閉動作は、即ち図2に示すよう
なベント方法は、この例では、制御回路56による制御
によって行われる。この制御回路56には、上記大気圧
センサー16からの大気圧検出信号が供給される。
The switching operation of the three-position switching valve 48 and the opening / closing operation of the vent valve 12, that is, the venting method as shown in FIG. 2, is performed by control of a control circuit 56 in this example. The control circuit 56 is supplied with an atmospheric pressure detection signal from the atmospheric pressure sensor 16.

【0025】上記真空予備室2のベント方法を主に図2
を参照して説明すると、まず従来例と同様に、排気弁1
0を閉じた後に、制御回路56からベント弁12へ開信
号を与えて、ベント弁12を開いて真空予備室2にベン
トガス14の導入を開始する(ステップ60)。
The method of venting the pre-vacuum chamber 2 is mainly shown in FIG.
First, similarly to the conventional example, the exhaust valve 1
After closing 0, the control circuit 56 sends an open signal to the vent valve 12 to open the vent valve 12 and start introducing the vent gas 14 into the vacuum preparatory chamber 2 (step 60).

【0026】このベント弁12の開とほぼ同時(同時を
含む)に、制御回路56から3位置切換弁48へ切換信
号を与えて、3位置切換弁48を中央位置に切り換える
(ステップ60a)。これによって、3位置切換弁48
は開放されるので、複動シリンダ34のピストン36の
両側の空気はこの3位置切換弁48から排出され(抜
け)、複動シリンダ34のピストン36およびそれにつ
ながるフラップ弁4は自由状態になる。即ち、フラップ
弁4がリリーフ弁の機能を持つようになる。なお、上記
切換信号は、上記ベント弁12への開信号と同じもので
も良い。
At about the same time (including at the same time as the opening of the vent valve 12), the control circuit 56 supplies a switching signal to the three-position switching valve 48 to switch the three-position switching valve 48 to the center position (step 60a). Thereby, the three-position switching valve 48
Is released, the air on both sides of the piston 36 of the double-acting cylinder 34 is discharged (discharged) from the three-position switching valve 48, and the piston 36 of the double-acting cylinder 34 and the flap valve 4 connected to the piston 36 are in a free state. That is, the flap valve 4 has the function of a relief valve. Note that the switching signal may be the same as the open signal to the vent valve 12.

【0027】これ以降は、前述した図5のステップ61
〜63と同様であるので、重複説明を省略する。
Thereafter, step 61 in FIG.
Since these are the same as in to 63, repeated description is omitted.

【0028】このベント方法によれば、3位置切換弁4
8を上記のように切り換えるので、真空予備室2のベン
ト開始とほぼ同時に、複動シリンダ34およびそれにつ
ながるフラップ弁4は、自由に動き得る状態(自由状
態)になる。但し、真空予備室2が真空の間は、フラッ
プ弁4は大気圧によって内向きに押さえ付けられてお
り、真空予備室2のベントが進んで真空予備室2がほぼ
大気圧になって初めて、フラップ弁4を軽く(即ち小さ
い力で)開くことができる。
According to this venting method, the three-position switching valve 4
8 is switched as described above, the double-acting cylinder 34 and the flap valve 4 connected to the double-acting cylinder 34 become freely movable (free state) almost simultaneously with the start of venting of the pre-vacuum chamber 2. However, while the vacuum preparatory chamber 2 is under vacuum, the flap valve 4 is pressed inward by the atmospheric pressure, and the venting of the vacuum preparatory chamber 2 proceeds, and only when the vacuum preparatory chamber 2 is almost at atmospheric pressure. The flap valve 4 can be opened lightly (that is, with a small force).

【0029】この場合、ベント時に仮に大気圧センサー
16の故障、誤差等によって、ベントガス14が止まら
なくて真空予備室2が加圧状態になろうとしても、その
ベントガス14の圧力によってフラップ弁4が自動的に
押し開かれるので、その圧力を逃がすことができる。従
って、従来例のようにリリーフ弁を用いなくても、ベン
ト時の真空予備室2の加圧を確実に防止することができ
る。
In this case, even if the vent gas 14 does not stop due to a failure or an error of the atmospheric pressure sensor 16 at the time of venting and the vacuum preparatory chamber 2 is to be pressurized, the flap valve 4 is operated by the pressure of the vent gas 14. The pressure is released automatically so that the pressure can be released. Therefore, pressurization of the pre-vacuum chamber 2 at the time of venting can be reliably prevented without using a relief valve as in the conventional example.

【0030】その結果、天井蓋8を従来例のようにリリ
ーフ機構として用いる必要はなく、天井蓋8を真空予備
室2の上部に固定しておくことができる。かつ、従来例
のように、リリーフ弁の真空漏れ等の信頼性の問題も起
こらない。
As a result, it is not necessary to use the ceiling lid 8 as a relief mechanism as in the conventional example, and the ceiling lid 8 can be fixed on the upper part of the vacuum preliminary chamber 2. Also, unlike the conventional example, there is no problem of reliability such as a vacuum leak of the relief valve.

【0031】しかも、フラップ弁4は元々、開閉する目
的で作られているので、それがベント時に上記のように
して開いても、パーティクルの発生は殆ど無い。仮に、
圧力逃がし動作時にフラップ弁4の部分でパーティクル
が発生したとしても、フラップ弁4は真空予備室2の側
面部に設けられていて真空予備室2内の基板22の上方
には位置していないので、しかもベントガス14の流れ
によってパーティクルは外側に向けて押し流されるの
で、パーティクルが基板22の表面に付着することを防
止することができる。
Further, since the flap valve 4 is originally made for opening and closing, even if it is opened as described above at the time of venting, there is almost no generation of particles. what if,
Even if particles are generated at the flap valve 4 during the pressure relief operation, the flap valve 4 is provided on the side surface of the vacuum preliminary chamber 2 and is not located above the substrate 22 in the vacuum preliminary chamber 2. Moreover, since the particles are swept outward by the flow of the vent gas 14, the particles can be prevented from adhering to the surface of the substrate 22.

【0032】更に、上記のように真空予備室2の加圧を
確実に防止することができると共に、基板22へのパー
ティクル付着をも防止することができるので、真空予備
室2へ導入するベントガス14の圧力を従来よりも高く
することが可能になる。例えば、ゲージ圧で従来の5倍
の2.5kg/cm2 程度にすることも可能である。そ
の結果、真空予備室2のベント時間の短縮ひいては基板
処理装置のスループット向上が可能になる。
Further, since the pressurization of the pre-vacuum chamber 2 can be reliably prevented as described above, and the adhesion of particles to the substrate 22 can also be prevented, the vent gas 14 introduced into the pre-vacuum chamber 2 can be prevented. Can be made higher than before. For example, the gauge pressure can be increased to about 2.5 kg / cm 2, which is five times the conventional value. As a result, it is possible to shorten the venting time of the pre-vacuum chamber 2 and to improve the throughput of the substrate processing apparatus.

【0033】なお、複動シリンダ34の直線運動をフラ
ップ弁4の開閉運動に変換する機構は、上記アーム40
以外のもの、例えばラックとピニオンの組み合わせ等で
も良い。
The mechanism for converting the linear motion of the double-acting cylinder 34 into the opening / closing motion of the flap valve 4 is based on the arm 40.
Other than these, for example, a combination of a rack and a pinion may be used.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、ベント
時に真空予備室が加圧状態になろうとしても、その圧力
によってフラップ弁が開いて圧力を逃がすことができる
ので、リリーフ弁を用いなくても、ベント時の真空予備
室の加圧を確実に防止することができる。
As described above, according to the present invention, the flap valve can be opened by the pressure and the pressure can be released even if the pre-vacuum chamber is pressurized at the time of venting. Even if it is not provided, pressurization of the pre-vacuum chamber at the time of venting can be reliably prevented.

【0035】しかも、フラップ弁から上記のようにして
圧力を逃がしても、パーティクルの発生は殆ど無く、仮
に発生したとしても、フラップ弁は基板の上方にはな
く、しかもベントガスによってパーティクルは外側に向
けて流されるので、パーティクルが基板に付着すること
を防止することができる。
Further, even if the pressure is released from the flap valve as described above, almost no particles are generated, and even if it is generated, the flap valve is not above the substrate and the particles are directed outward by the vent gas. Therefore, particles can be prevented from adhering to the substrate.

【0036】更に、上記のように真空予備室の加圧を確
実に防止することができると共に、基板へのパーティク
ル付着をも防止することができるので、真空予備室へ導
入するベントガスの圧力を従来よりも高くすることが可
能になり、その結果、真空予備室のベント時間の短縮ひ
いては装置のスループット向上が可能になる。
Further, as described above, the pressurization of the pre-vacuum chamber can be reliably prevented, and the particles can be prevented from adhering to the substrate. Higher, and as a result, it is possible to shorten the vent time of the pre-vacuum chamber, and thereby improve the throughput of the apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明に係るベント方法を実施する基板処理
装置のフラップ弁駆動装置の一例を示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a flap valve driving device of a substrate processing apparatus that performs a venting method according to the present invention.

【図2】この発明に係るベント方法の一例を示すフロー
チャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing an example of a venting method according to the present invention.

【図3】真空予備室を備える基板処理装置の一例を示す
断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating an example of a substrate processing apparatus including a vacuum preparatory chamber.

【図4】図2中のフラップ弁を開閉するフラップ弁駆動
装置の従来例を示す図である。
FIG. 4 is a view showing a conventional example of a flap valve driving device for opening and closing the flap valve in FIG. 2;

【図5】従来のベント方法の一例を示すフローチャート
である。
FIG. 5 is a flowchart showing an example of a conventional venting method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 真空予備室 4 フラップ弁 12 ベント弁 14 ベントガス 16 大気圧センサー 22 基板 34 複動シリンダ 42a シリンダ制御回路 44 圧縮空気源 48 3位置切換弁 2 Pre-vacuum chamber 4 Flap valve 12 Vent valve 14 Vent gas 16 Atmospheric pressure sensor 22 Substrate 34 Double-acting cylinder 42a Cylinder control circuit 44 Compressed air source 48 3-position switching valve

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 喜之 京都府京都市右京区梅津高畝町47番地 日 新電機株式会社内 Fターム(参考) 5C001 AA02 BB03 CC07 5C033 KK01 KK09 5C034 CC07 CC09 CC16  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Yoshiyuki Yamamoto, Inventor F-term (reference) 5C001 AA02 BB03 CC07 5C033 KK01 KK09 5C034 CC07 CC09 CC16 in 47 Nisshin Electric Co., Ltd.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 真空に排気されることとベントガスを導
入して大気圧にベントされることとが繰り返される真空
予備室と、この真空予備室の側面部に設けられていて当
該真空予備室の内外を仕切る外開きのフラップ弁と、こ
のフラップ弁を開閉する複動シリンダと、この複動シリ
ンダの動きを制御するものであって圧縮空気源および切
換弁を有するシリンダ制御回路と、前記真空予備室に導
入するベントガスの開閉を行うベント弁とを備える装置
において、前記シリンダ制御回路の切換弁に、中央位置
で前記複動シリンダのピストンの両側の空気を排出する
エキゾーストセンタ形の3位置切換弁を用い、前記ベン
ト弁の開とほぼ同時にこの3位置切換弁を中央位置に切
り換えて前記真空予備室のベントを行うことを特徴とす
る真空予備室のベント方法。
1. A vacuum preparatory chamber, which is repeatedly evacuated to a vacuum and vented to atmospheric pressure by introducing a vent gas, and provided on a side surface of the vacuum preparatory chamber, An externally-opening flap valve that partitions the inside and outside, a double-acting cylinder that opens and closes the flap valve, a cylinder control circuit that controls the movement of the double-acting cylinder, and has a compressed air source and a switching valve; A vent valve for opening and closing a vent gas introduced into a chamber, wherein a switching valve of the cylinder control circuit is provided with an exhaust center type three-position switching valve for discharging air on both sides of a piston of the double acting cylinder at a central position. And venting the vacuum preparatory chamber by switching the three-position switching valve to the center position almost simultaneously with the opening of the vent valve. Method.
【請求項2】 真空に排気されることとベントガスを導
入して大気圧にベントされることとが繰り返される真空
予備室と、この真空予備室の側面部に設けられていて当
該真空予備室の内外を仕切る外開きのフラップ弁と、こ
のフラップ弁を開閉する複動シリンダと、この複動シリ
ンダの動きを制御するものであって圧縮空気源および切
換弁を有するシリンダ制御回路と、前記真空予備室に導
入するベントガスの開閉を行うベント弁とを備える装置
において、前記シリンダ制御回路の切換弁に、中央位置
で前記複動シリンダのピストンの両側の空気を排出する
エキゾーストセンタ形の3位置切換弁を用いており、か
つ前記ベント弁の開とほぼ同時にこの3位置切換弁を中
央位置に切り換えて前記真空予備室のベントを行う制御
を司る制御回路を備えていることを特徴とする基板処理
装置。
2. A vacuum preparatory chamber, which is repeatedly evacuated to a vacuum and vented to the atmospheric pressure by introducing a vent gas, and provided on a side surface of the vacuum preparatory chamber, An externally-opening flap valve that partitions the inside and outside, a double-acting cylinder that opens and closes the flap valve, a cylinder control circuit that controls the movement of the double-acting cylinder, and has a compressed air source and a switching valve; A vent valve for opening and closing a vent gas introduced into a chamber, wherein a switching valve of the cylinder control circuit is provided with an exhaust center type three-position switching valve for discharging air on both sides of a piston of the double acting cylinder at a central position. And a control circuit for controlling the switching of the three-position switching valve to the center position and venting of the vacuum spare chamber almost simultaneously with the opening of the vent valve. A substrate processing apparatus, comprising:
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