JP2000276515A - Device and method for verifying timing - Google Patents

Device and method for verifying timing

Info

Publication number
JP2000276515A
JP2000276515A JP11085054A JP8505499A JP2000276515A JP 2000276515 A JP2000276515 A JP 2000276515A JP 11085054 A JP11085054 A JP 11085054A JP 8505499 A JP8505499 A JP 8505499A JP 2000276515 A JP2000276515 A JP 2000276515A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
logic circuit
timing verification
clock cycle
generation circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11085054A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenta Nakai
健太 中井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP11085054A priority Critical patent/JP2000276515A/en
Publication of JP2000276515A publication Critical patent/JP2000276515A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a timing verifying device and a timing verifying method capable of performing a static timing verification when a clock is generated internally and further performing the static timing verification in a short time even when many parts that do not synchronize with an external clock in static timing verification in developing an LSI. SOLUTION: This device consists of an inputting part 11, a data processing part 1 which retrieves a clock generation circuit on the basis of information composed of a net list inputted from the part 11 by program control, a test pattern, the designation information of a clock signal and a library defining the logic and delay of a logical circuit, a clock cycle specifying 31 specifying a clock cycle generated by a clock generation circuit by simulation, a displaying part 32 which shows a message when a clock cycle can not be specified and a timing verifying part 41 which verifies the timing of a flip-flop in a circuit by static timing verification.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、LSIを開発する
上での論理回路のタイミング検証技術に関し、特に非同
期論理回路に対して静的タイミング検証を行うタイミン
グ検証装置およびタイミング検証方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a timing verification technique for a logic circuit in developing an LSI, and more particularly to a timing verification apparatus and a timing verification method for performing static timing verification on an asynchronous logic circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、LSIの設計において、検証対象
回路の動作タイミングの検証方法に静的タイミング解析
方法があり、従来技術として例えば特開平10−124
552号公報に記載のものがある。
2. Description of the Related Art Conventionally, in LSI design, there is a static timing analysis method as a method for verifying the operation timing of a circuit to be verified.
No. 552 discloses this.

【0003】すなわち、同期回路に対して、静的タイミ
ング解析を行い、続いて、静的タイミング検証で検証で
きなかった同期ラッチもしくは外部データピンを起点と
して、これらに接続されている複数段の非同期ラッチに
対して、順に最悪の条件で各素子が正常に動作するため
の非同期クロックのタイミングに関する条件を導出し、
さらに外部データピンもしくは同期ラッチからデータを
受け取る素子に基づき、最悪の条件で正常に動作するた
めの外部入力データもしくはデータのタイミングに関す
る制約条件を導出して検証を行う。
That is, a static timing analysis is performed on a synchronous circuit, and then, starting from a synchronous latch or an external data pin that cannot be verified by the static timing verification, a plurality of stages of asynchronous circuits connected to these are started. For the latch, sequentially derive the condition regarding the timing of the asynchronous clock for each element to operate normally under the worst condition,
Further, based on an element receiving data from an external data pin or a synchronous latch, a constraint condition relating to external input data or data timing for normal operation under worst conditions is derived and verified.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術には以下に掲げる問題点があった。外部クロックの情
報と外部データピンのタイミング情報からだけでは、内
部で生成されるクロック周期を求めることができず、内
部でクロックを生成させている場合には、静的タイミン
グ検証を行えないという問題点があった。
However, the prior art has the following problems. The problem that the internally generated clock cycle cannot be obtained only from the information of the external clock and the timing information of the external data pin, and static timing verification cannot be performed when the clock is generated internally. There was a point.

【0005】さらに、外部クロックに同期しない素子全
てに対して、最悪の条件で動作する外部入力データもし
くはデータのタイミングを導出する必要があるため、外
部クロックに同期しない部分が多い場合、検証に時間が
かかるという問題点があった。
Further, it is necessary to derive external input data or data timing which operates under the worst conditions for all the elements which are not synchronized with the external clock. There was a problem that it took.

【0006】本発明は斯かる問題点を鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、LSIを開発する
上での静的タイミング検証において、内部でクロックを
生成させている場合にも、静的タイミング検証が行え、
さらに外部クロックに同期しない部分が多い場合にも、
短時間で静的タイミング検証が行えるタイミング検証装
置およびタイミング検証方法を提供する点にある。
The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to provide a static timing verification for developing an LSI, even when a clock is internally generated. , Static timing verification,
Even when there are many parts that are not synchronized with the external clock,
It is an object of the present invention to provide a timing verification device and a timing verification method capable of performing static timing verification in a short time.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
すべく、以下に掲げる構成とした。請求項1記載の発明
の要旨は、検証対象のネットリストとテストパターンと
外部入力端子から入力される外部入力クロック信号の指
定情報と論理回路の論理や遅延を定義したライブラリと
に基づき、クロック入力端子を持ち且つ前記ネットリス
トの中のセットアップタイムとホールドタイムとリリー
スタイムとリムーバルタイムとが定義されている被検証
論理回路の静的タイミング検証を行うタイミング検証装
置であって、前記検証対象のネットリストの中から前記
外部入力端子から入力される前記外部入力クロック信号
と同期しない前記被検証論理回路を非同期論理回路とし
て検索する非同期論理回路検索手段と、該非同期論理回
路検索手段により検索された前記非同期論理回路の入力
端子に前記非同期論理回路を駆動する検証用クロック信
号を入力して前記非同期論理回路の静的タイミング検証
を行うタイミング検証手段とを具備することを特徴とす
るタイミング検証装置に存する。また請求項2記載の発
明の要旨は、前記非同期論理回路検索手段により検索さ
れた前記非同期論理回路のクロック入力端子から前記ネ
ットリストを辿り、前段の前記論理回路をクロック生成
回路として特定するクロック生成回路特定手段と、前記
テストパターンにより、前記クロック生成回路の出力端
子から出力される内部発生クロック信号をシュミレーシ
ョンして前記内部発生クロック信号のクロック周期を特
定するクロック周期特定手段とを具備し、該クロック周
期特定手段により特定された前記クロック周期のクロッ
ク信号を前記クロック生成回路の出力端子から入力さ
せ、前記検証用クロック信号として使用させることを特
徴とする請求項1記載のタイミング検証装置に存する。
また請求項3記載の発明の要旨は、前記検証対象のネッ
トリストの中から前記被検証論理回路を検索する論理回
路検索手段と、前記検証対象のネットリストの中から前
記外部入力クロック信号と同期する前記被検証論理回路
を検索する同期論理回路検索手段とを具備し、前記非同
期論理回路検索手段は、前記論理回路検索手段の検索結
果と前記同期論理回路検索手段の検索結果との比較から
前記非同期論理回路を検索させることを特徴とする請求
項1又は2記載のタイミング検証装置に存する。また請
求項4記載の発明の要旨は、前記クロック生成回路特定
手段は、前記クロック生成回路の入力端子から前記ネッ
トリストを辿り、前記クロック生成回路を駆動させる信
号が入力される前記外部入力端子を特定させ、前記クロ
ック周期特定手段は、前記クロック生成回路を駆動させ
る信号が入力される前記外部入力端子から前記テストパ
ターンを入力させることを特徴とする請求項1又は3記
載のタイミング検証装置に存する。また請求項5記載の
発明の要旨は、前記クロック周期特定手段は、シュミレ
ーションにより前記クロック生成回路の出力端子から出
力される前記内部発生クロック信号の前記クロック周期
が特定できない場合には、前記クロック周期が特定でき
ないことを知らせるメッセージ信号を出力させることを
特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載のタイミン
グ検証装置に存する。また請求項6記載の発明の要旨
は、前記クロック周期特定手段は、シュミレーションに
より前記クロック生成回路の出力端子から出力される前
記内部発生クロック信号の前記クロック周期が変化する
場合には、前記内部発生クロック信号の前記クロック周
期の最も小さい前記クロック周期を特定させることを特
徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載のタイミング
検証装置。また請求項7記載の発明の要旨は、前記被検
証論理回路は、フリップフロップであることを特徴とす
る請求項1乃至6のいずれかに記載のタイミング検証装
置に存する。また請求項8記載の発明の要旨は、検証対
象のネットリストとテストパターンと外部入力端子から
入力される外部入力クロック信号の指定情報と論理回路
の論理や遅延を定義したライブラリとに基づき、クロッ
ク入力端子を持ち且つ前記ネットリストの中のセットア
ップタイムとホールドタイムとリリースタイムとリムー
バルタイムとが定義されている被検証論理回路の静的タ
イミング検証を行うタイミング検証方法であって、前記
ネットリストの中から前記外部入力端子から入力される
前記外部入力クロック信号と同期しない前記被検証論理
回路を非同期論理回路として検索し、前記非同期論理回
路検索手段により検索された前記非同期論理回路の入力
端子に前記非同期論理回路を駆動する検証用クロック信
号を入力し、前記非同期論理回路の静的タイミング検証
を行うことを特徴とするタイミング検証方法に存する。
また請求項9記載の発明の要旨は、前記検索された前記
非同期論理回路のクロック入力端子から前記ネットリス
トを辿り、前段の前記論理回路をクロック生成回路とし
て特定し、前記テストパターンにより、前記クロック生
成回路の出力端子から出力される内部発生クロック信号
をシュミレーションして前記内部発生クロック信号のク
ロック周期を特定し、該特定された前記クロック周期の
クロック信号を前記クロック生成回路の出力端子から入
力し、前記検証用クロック信号として使用することを特
徴とする請求項8記載のタイミング検証方法に存する。
また請求項10記載の発明の要旨は、前記検証対象のネ
ットリストの中から前記被検証論理回路を検索し、前記
検証対象のネットリストの中から前記外部入力クロック
と同期する前記被検証論理回路を同期論理回路として検
索し、前記検索した前記被検証論理回路と前記検索した
前記同期論理回路との比較から前記非同期論理回路を検
索することを特徴とする請求項8又は9記載のタイミン
グ検証方法に存する。また請求項11記載の発明の要旨
は、前記クロック生成回路の入力端子から前記ネットリ
ストを辿り、前記クロック生成回路を駆動させる信号が
入力される前記外部入力端子を特定し、前記クロック生
成回路を駆動させる信号が入力される前記外部入力端子
から前記テストパターンを入力することを特徴とする請
求項8乃至10のいずれかに記載のタイミング検証方法
に存する。また請求項12記載の発明の要旨は、前記シ
ュミレーションにより前記クロック生成回路の出力端子
から出力される前記内部発生クロック信号の前記クロッ
ク周期が特定できない場合には、前記クロック周期が特
定できないことを知らせるメッセージ信号を出力するこ
とを特徴とする請求項8乃至11のいずれかに記載のタ
イミング検証方法に存する。また請求項13記載の発明
の要旨は、前記シュミレーションにより前記クロック生
成回路の出力端子から出力される前記内部発生クロック
信号の前記クロック周期が変化する場合には、前記内部
クロック信号の前記クロック周期の最も小さい前記クロ
ック周期を特定することを特徴とする請求項7乃至12
のいずれかに記載のタイミング検証方法に存する。また
請求項14記載の発明の要旨は、前記被検証論理回路
は、フリップフロップであることを特徴とする請求項7
乃至13のいずれかに記載のタイミング検証方法に存す
る。また請求項15記載の発明の要旨は、請求項7乃至
14のいずれかに記載のタイミング検証方法を実行可能
なプログラムが記憶されている記憶媒体に存する。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present invention has the following constitution. The gist of the invention described in claim 1 is that a clock input is performed based on a netlist to be verified, a test pattern, designation information of an external input clock signal input from an external input terminal, and a library defining logic and delay of a logic circuit. A timing verification apparatus having a terminal and performing static timing verification of a logic circuit to be verified in which a setup time, a hold time, a release time, and a removal time in the netlist are defined, wherein: An asynchronous logic circuit searching means for searching the verified logic circuit which is not synchronized with the external input clock signal inputted from the external input terminal from the list as an asynchronous logic circuit; and Verification clock for driving the asynchronous logic circuit at an input terminal of the asynchronous logic circuit Resides No. timing verification apparatus characterized by Enter; and a timing verification means for performing a static timing analysis of the asynchronous logic circuit. The gist of the invention according to claim 2 is that a clock generation circuit that traces the netlist from a clock input terminal of the asynchronous logic circuit searched by the asynchronous logic circuit search means and specifies the preceding logic circuit as a clock generation circuit. Circuit specifying means; and clock cycle specifying means for simulating an internally generated clock signal output from an output terminal of the clock generation circuit by the test pattern to specify a clock cycle of the internally generated clock signal. 2. The timing verification device according to claim 1, wherein the clock signal of the clock cycle specified by the clock cycle specifying unit is input from an output terminal of the clock generation circuit and used as the verification clock signal.
Further, the gist of the invention according to claim 3 is that a logic circuit searching means for searching for the verified logic circuit from the netlist to be verified, and a logic circuit searching means for synchronizing with the external input clock signal from the netlist to be verified. Synchronous logic circuit searching means for searching for the logic circuit to be verified, wherein the asynchronous logic circuit searching means compares the search result of the logic circuit searching means with the search result of the synchronous logic circuit searching means. 3. The timing verification device according to claim 1, wherein the asynchronous logic circuit is searched. The gist of the invention according to claim 4 is that the clock generation circuit specifying means traces the netlist from an input terminal of the clock generation circuit and connects the external input terminal to which a signal for driving the clock generation circuit is input. 4. The timing verification device according to claim 1, wherein the clock pattern specifying unit inputs the test pattern from the external input terminal to which a signal for driving the clock generation circuit is input. . The gist of the invention according to claim 5 is that the clock cycle specifying means determines the clock cycle if the clock cycle of the internally generated clock signal output from the output terminal of the clock generation circuit cannot be specified by simulation. 5. The timing verification device according to claim 1, wherein a message signal is output to notify that the signal cannot be specified. The gist of the invention according to claim 6 is that, when the clock cycle of the internally generated clock signal output from the output terminal of the clock generation circuit changes by simulation, the internally generated clock cycle is determined. The timing verification device according to claim 1, wherein the clock cycle having the shortest clock cycle of a clock signal is specified. The gist of the invention according to claim 7 resides in the timing verification device according to any one of claims 1 to 6, wherein the verified logic circuit is a flip-flop. The gist of the invention described in claim 8 is that a clock based on a netlist to be verified, a test pattern, designation information of an external input clock signal input from an external input terminal, and a library defining logic and delay of a logic circuit. A timing verification method for performing static timing verification of a verified logic circuit having an input terminal and having a setup time, a hold time, a release time, and a removal time defined in the netlist, the method comprising: The logic circuit to be verified that is not synchronized with the external input clock signal input from the external input terminal is searched as an asynchronous logic circuit, and the input terminal of the asynchronous logic circuit searched by the asynchronous logic circuit search unit is A verification clock signal for driving the asynchronous logic circuit is inputted, and the asynchronous logic circuit is inputted. It exists to perform a static timing analysis of the timing verification method comprising.
The gist of the invention according to claim 9 is that the netlist is traced from the searched clock input terminal of the asynchronous logic circuit, the preceding logic circuit is specified as a clock generation circuit, and the clock pattern is specified by the test pattern. A clock cycle of the internally generated clock signal is specified by simulating an internally generated clock signal output from an output terminal of the generation circuit, and a clock signal of the specified clock cycle is input from an output terminal of the clock generation circuit. The timing verification method according to claim 8, wherein the timing verification signal is used as the verification clock signal.
The gist of the invention according to claim 10 is that the logic circuit to be verified is searched for from the netlist to be verified and the logic circuit to be synchronized with the external input clock from the netlist to be verified. 10. The timing verification method according to claim 8, wherein a search is made as a synchronous logic circuit, and the asynchronous logic circuit is searched by comparing the searched logic circuit to be searched with the searched synchronous logic circuit. Exists. The gist of the invention according to claim 11 is to trace the netlist from an input terminal of the clock generation circuit, identify the external input terminal to which a signal for driving the clock generation circuit is input, and specify the clock generation circuit. The timing verification method according to any one of claims 8 to 10, wherein the test pattern is input from the external input terminal to which a signal to be driven is input. According to another aspect of the invention, when the clock cycle of the internally generated clock signal output from the output terminal of the clock generation circuit cannot be specified by the simulation, it is notified that the clock cycle cannot be specified. The timing verification method according to any one of claims 8 to 11, wherein a message signal is output. The gist of the invention according to claim 13 is that when the clock cycle of the internally generated clock signal output from the output terminal of the clock generation circuit changes due to the simulation, the clock cycle of the internal clock signal is changed. The minimum clock period is specified.
In the timing verification method described in any of the above. The gist of the invention described in claim 14 is that the verified logic circuit is a flip-flop.
The present invention resides in the timing verification method according to any one of the first to thirteenth aspects. The gist of the invention described in claim 15 resides in a storage medium storing a program capable of executing the timing verification method according to any one of claims 7 to 14.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0009】(第1実施形態)図1は、本発明にかかる
タイミング検証装置の第1実施形態の構成を示すブロッ
ク図である。
(First Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a first embodiment of a timing verification device according to the present invention.

【0010】第1実施形態は、検証対象の回路のネット
リストとテストパターンとクロック信号の指定情報と論
理回路の論理や遅延を定義したライブラリとを入力する
入力部11と、プログラム制御により入力部11から入
力されたネットリストとテストパターンとクロック信号
の指定情報と論理回路の論理や遅延を定義したライブラ
リとからなる情報に基づいてクロック生成回路を検索す
るデータ処理部1と、シュミレーションによりクロック
生成回路で生成されているクロック周期を特定するクロ
ック周期特定部31と、クロック周期が特定できなかっ
た場合に、メッセージを表示する表示部32、静的タイ
ミング検証により回路中のフリップフロップ(以下、F
/Fと呼ぶ)のタイミングの検証を行う静的タイミング
検証部41とで構成される。
The first embodiment has an input unit 11 for inputting a netlist of a circuit to be verified, a test pattern, clock signal designation information, and a library defining logic and delay of a logic circuit, and an input unit for program control. A data processing unit 1 for searching for a clock generation circuit based on a netlist, a test pattern, clock signal designation information input from 11 and a library defining logic and delay of a logic circuit, and clock generation by simulation A clock cycle specifying unit 31 for specifying a clock cycle generated in the circuit, a display unit 32 for displaying a message when the clock cycle cannot be specified, and a flip-flop (hereinafter referred to as F
/ F) and a static timing verification unit 41 for verifying the timing.

【0011】データ処理部1は、ネットリスト中の全て
のF/Fを検索する全F/F検索部21と、ネットリス
ト中の同期F/Fを検索する同期F/F検索部22と、
ネットリスト中の非同期F/Fを検索する非同期F/F
検索部23と、ネットリスト中のクロック生成回路を検
索するクロック生成回路検索部24とで構成される。
The data processing section 1 includes an all-F / F search section 21 for searching for all F / Fs in a netlist, a synchronous F / F search section 22 for searching for a synchronous F / F in a netlist,
Asynchronous F / F for searching asynchronous F / F in netlist
It comprises a search unit 23 and a clock generation circuit search unit 24 for searching for a clock generation circuit in the netlist.

【0012】全F/F検索部21は、入力されたネット
リストの中から、ライブラリ中でクロック端子を持つと
定義されたF/FをそれぞれのF/Fに付けられている
固有の名前で検索する。
The all-F / F search unit 21 retrieves the F / F defined as having a clock terminal in the library from the input netlist with a unique name assigned to each F / F. Search for.

【0013】同期F/F検索部22は、入力されたネッ
トリストの中からクロックを入力する外部入力端子を特
定し、特定したクロックを入力する外部入力端子から辿
ることで、クロックを入力する外部入力端子に繋がるF
/Fを同期F/FとしてそれぞれのF/Fに付けられて
いる固有の名前で検索する。
The synchronous F / F search unit 22 specifies an external input terminal for inputting a clock from the input netlist, and traces from the external input terminal for inputting the specified clock, thereby obtaining an external input terminal for inputting a clock. F connected to the input terminal
/ F is searched as a synchronous F / F with a unique name assigned to each F / F.

【0014】非同期F/F検索部23は、全F/F検索
部21と同期F/F検索部22とで検索された結果が一
致しているか否かを調べ、一致していないF/Fを検索
し、一致していないF/Fを非同期F/Fとして、その
検索結果をクロック生成回路検索部24へ供給する。
The asynchronous F / F search unit 23 checks whether or not the results searched by the all F / F search unit 21 and the synchronous F / F search unit 22 match. And an unmatched F / F is set as an asynchronous F / F, and the search result is supplied to the clock generation circuit search unit 24.

【0015】クロック生成回路検索部24は非同期F/
F検索部23で検索された非同期F/Fのクロック入力
端子からネットリストを辿り、その前段の論理回路を検
索し、検索した論理回路をクロック生成回路として特定
し、検索した論理回路の出力端子をクロック生成端子と
して特定する。また、検索した論理回路すなわちクロッ
ク生成回路の入力端子から外部入力端子までネットリス
トを辿ることにより、クロック生成回路を駆動する外部
入力端子を特定する。
[0015] The clock generation circuit search unit 24 outputs an asynchronous F /
The net list is traced from the clock input terminal of the asynchronous F / F searched by the F search unit 23, a logic circuit at the preceding stage is searched, a searched logic circuit is specified as a clock generation circuit, and an output terminal of the searched logic circuit is specified. Is specified as a clock generation terminal. The external input terminal for driving the clock generation circuit is specified by tracing the netlist from the searched logic circuit, that is, the input terminal of the clock generation circuit to the external input terminal.

【0016】クロック周期特定部31は、クロック生成
回路検索部24で特定された外部入力端子のみに入力部
11で指定されたテストパターンを入力し、クロック生
成回路検索部24で特定したクロック生成端子の信号を
観測しながら、入力されたテストパターンを用いてシュ
ミレーションを行い、クロック周期を特定する。具体的
には、クロック生成回路検索部24で特定したクロック
生成端子の出力ピンから出力された信号すなわちクロッ
クの周期を特定し、信号が0から1に変化する時刻と、
次に0から1に変化する時刻との差を連続して観測し、
当該時刻の差が安定したところでクロック周期を特定す
る。入力されたテストパターンによりこの信号の変化が
観測されなかった場合もしくは信号が0から1に変化す
る時刻と次に0から1に変化する時刻との差が安定しな
かった場合には、入力したテストパターンに誤りがあっ
た可能性があるため、クロック周期特定不能信号を出力
し、クロック周期が特定できなかった旨のメッセージを
表示部32に表示し、再度別のテストパターンを入力す
るように求める。
The clock cycle specifying unit 31 inputs the test pattern specified by the input unit 11 only to the external input terminal specified by the clock generating circuit searching unit 24, and outputs the clock generating terminal specified by the clock generating circuit searching unit 24. While observing the signal, the simulation is performed using the input test pattern to specify the clock cycle. Specifically, the signal output from the output pin of the clock generation terminal specified by the clock generation circuit search unit 24, that is, the clock cycle is specified, and the time when the signal changes from 0 to 1;
Next, the difference from the time when it changes from 0 to 1 is continuously observed,
When the time difference is stabilized, the clock cycle is specified. If no change in this signal was observed due to the input test pattern, or if the difference between the time when the signal changed from 0 to 1 and the time when the signal next changed from 0 to 1 was not stable, the signal was input. Since there is a possibility that the test pattern has an error, a signal indicating that the clock cycle cannot be specified is output, a message indicating that the clock cycle could not be specified is displayed on the display unit 32, and another test pattern is input again. Ask.

【0017】静的タイミング検証部41は、同期F/F
検索部22で検索された同期F/Fに対し、入力部11
から入力されたクロック周期の指定情報に基づいて静的
タイミング解析を行い、非同期F/F検索部23で検索
された非同期F/Fに対し、クロック生成回路検索部2
4で特定されたクロック発生端子にクロック生成回路検
索部24で特定されたクロック周期のクロック信号を与
えて静的タイミング解析を行う。
The static timing verifying section 41 has a synchronous F / F
In response to the synchronous F / F searched by the search unit 22, the input unit 11
The static timing analysis is performed based on the clock cycle designation information input from the asynchronous F / F search unit 23.
The clock signal of the clock cycle specified by the clock generation circuit search unit 24 is supplied to the clock generation terminal specified by 4 to perform the static timing analysis.

【0018】次に、本発明の第1実施形態の動作につい
て図2を用いて詳細に説明する。
Next, the operation of the first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG.

【0019】図2は、本発明にかかるタイミング検証装
置の第1実施形態の動作を説明するフローチャートであ
る。
FIG. 2 is a flowchart for explaining the operation of the first embodiment of the timing verification device according to the present invention.

【0020】まず、入力部11に検証対象の回路のネッ
トリストとテストパターンとクロック指定と論理回路の
論理や遅延を定義したライブラリとを入力する(ステッ
プA10)。
First, a netlist of a circuit to be verified, a test pattern, a clock designation, and a library defining logic and delay of a logic circuit are input to the input unit 11 (step A10).

【0021】次に入力部11に入力された検証対象の回
路のネットリストとテストパターンとクロック指定と論
理回路の論理や遅延を定義したライブラリとは、データ
処理部1に供給され、全F/F検索部21で、入力され
たネットリストの中から、ライブラリ中でクロック端子
を持つと定義されたF/FをそれぞれのF/Fに付けら
れている固有の名前で検索し、同期F/F検索部22
で、入力されたネットリストの中からクロックを入力す
る外部入力端子を特定し、特定したクロックを入力する
外部入力端子から辿ることで、クロックを入力する外部
入力端子に繋がるF/Fを同期F/Fとしてそれぞれの
F/Fに付けられている固有の名前で検索する。次に全
F/F検索部21の検索結果と同期F/F検索部22の
検索結果が非同期F/F検索部23に供給され、非同期
F/F検索部23で、全F/F検索部21と同期F/F
検索部22とで検索結果が一致しているか否かを調べ、
一致していないF/Fを検索し、一致していないF/F
を非同期F/Fとして、検索結果をクロック生成回路検
索部24へ供給する(ステップA20)。
Next, the netlist of the circuit to be verified, the test pattern, the clock specification, and the library defining the logic and delay of the logic circuit, which are input to the input unit 11, are supplied to the data processing unit 1 and all F / The F search unit 21 searches the input netlist for an F / F defined as having a clock terminal in the library with a unique name assigned to each F / F, and searches for a synchronous F / F. F search unit 22
Then, the external input terminal for inputting the clock is specified from the input netlist, and the F / F connected to the external input terminal for inputting the clock is synchronized by tracing from the external input terminal for inputting the specified clock. A search is performed using a unique name assigned to each F / F as / F. Next, the search result of the all F / F search unit 21 and the search result of the synchronous F / F search unit 22 are supplied to the asynchronous F / F search unit 23. Synchronous F / F with 21
Check whether the search result matches with the search unit 22,
Search for unmatched F / Fs and search for unmatched F / Fs
As an asynchronous F / F, and supplies the search result to the clock generation circuit search unit 24 (step A20).

【0022】全F/F検索部21の検索結果と同期F/
F検索部22検索結果が一致していた場合は、始めに与
えられたクロック指定をタイミング制約として静的タイ
ミング検証部41にて静的タイミング解析を行う(ステ
ップA70)。
The search result of the all F / F search unit 21 and the synchronous F / F
When the search results of the F search unit 22 match, the static timing analysis unit 41 performs a static timing analysis using the clock designation given first as a timing constraint (step A70).

【0023】次にクロック生成回路検索部24で、非同
期F/F検索部23で検索された非同期F/Fのクロッ
ク入力端子からネットリストを辿り、その前段の論理回
路を検索し、検索した論理回路をクロック生成回路とし
て特定し、検索した論理回路の出力端子をクロック生成
端子として特定する。また、検索した論理回路すなわち
クロック生成回路の入力端子から外部入力端子までネッ
トリストを辿ることにより、クロック生成回路を駆動す
る外部入力端子を特定する(ステップA30)。
Next, the clock generation circuit search unit 24 traces the netlist from the clock input terminal of the asynchronous F / F searched by the asynchronous F / F search unit 23, searches for the logic circuit at the preceding stage, and searches the searched logic circuit. The circuit is specified as a clock generation circuit, and the output terminal of the searched logic circuit is specified as a clock generation terminal. The external input terminal for driving the clock generation circuit is specified by tracing the netlist from the searched logic circuit, that is, the input terminal of the clock generation circuit to the external input terminal (step A30).

【0024】次にクロック生成回路検索部24の結果と
入力部11から入力されたテストパターンがクロック周
期特定部31に供給され、クロック周期特定部31でク
ロック生成回路検索部24で特定された外部入力端子の
みに入力部11から入力されたテストパターンを入力
し、クロック生成回路検索部24で特定したクロック生
成端子の信号を観測しながら、入力されたテストパター
ンを用いてシュミレーションを行う。クロック生成端子
の信号が0から1に変化する時刻と、次に0から1に変
化する時刻の差を連続して観測し、生成されているクロ
ックの周期を特定し、クロック生成回路検索部24で特
定したクロック生成端子から出力されるクロックのクロ
ック周期を特定できるか否かを判断する(ステップA4
0)。
Next, the result of the clock generation circuit search section 24 and the test pattern input from the input section 11 are supplied to the clock cycle specification section 31, and the external clock specified by the clock generation circuit search section 24 by the clock cycle specification section 31. The test pattern input from the input unit 11 is input only to the input terminal, and the simulation is performed using the input test pattern while observing the signal of the clock generation terminal specified by the clock generation circuit search unit 24. The difference between the time when the signal of the clock generation terminal changes from 0 to 1 and the time when the signal next changes from 0 to 1 is continuously observed, the cycle of the generated clock is specified, and the clock generation circuit search unit 24 It is determined whether or not the clock cycle of the clock output from the clock generation terminal specified in (1) can be specified (step A4).
0).

【0025】クロック周期が特定できた場合は、特定さ
れたクロック周期のクロック信号を特定する(ステップ
50)。そして特定されたクロック信号を静的タイミン
グ検証部41に供給し、静的タイミング検証部41で非
同期F/F検索部23で検索された非同期F/Fに対
し、クロック生成回路検索部24で特定されたクロック
発生端子にクロック生成回路検索部24で特定されたク
ロック周期のクロック信号を与えて静的タイミング解析
を行う。また、同期F/F検索部22で検索された同期
F/Fについては、入力部11から入力されたクロック
信号の指定情報に基づいて静的タイミング解析を行う
(ステップA70)。
If the clock cycle can be specified, a clock signal of the specified clock cycle is specified (step 50). Then, the specified clock signal is supplied to the static timing verification unit 41, and the asynchronous F / F searched by the asynchronous F / F search unit 23 by the static timing verification unit 41 is specified by the clock generation circuit search unit 24. A clock signal having the clock cycle specified by the clock generation circuit search unit 24 is supplied to the specified clock generation terminal to perform a static timing analysis. Further, for the synchronous F / F searched by the synchronous F / F search unit 22, static timing analysis is performed based on the designation information of the clock signal input from the input unit 11 (step A70).

【0026】クロック周期が特定できない場合、すなわ
ちクロック生成端子において0から1への変化が連続し
て観測されない場合もしくは信号が0から1に変化する
時刻と次に0から1に変化する時刻との差が安定しなか
った場合には、入力したテストパターンに誤りがあった
可能性が高いため、クロック周期特定不能信号を出力
し、クロック周期が特定できなかった旨のメッセージを
表示部32に表示し、再度別のテストパターンを入力す
る様に求める(ステップA60)。
When the clock cycle cannot be specified, that is, when the change from 0 to 1 is not continuously observed at the clock generation terminal, or when the signal changes from 0 to 1 and the time when the signal next changes from 0 to 1 If the difference is not stable, there is a high possibility that the input test pattern has an error, so that a clock cycle unspecified signal is output and a message indicating that the clock cycle could not be identified is displayed on the display unit 32. Then, a request is made to input another test pattern again (step A60).

【0027】次に、図3および図4に示す具体例を用い
て本実施例の動作をさらに詳細に説明する。
Next, the operation of this embodiment will be described in more detail with reference to the specific examples shown in FIGS.

【0028】図3は、本発明にかかるタイミング検証の
対象となる回路のネットリストの一例を示すネットリス
ト図であり、図4は、図1に示すクロック周期特定部で
特定したクロック周期を説明するためのクロック信号の
波形図である。
FIG. 3 is a netlist diagram showing an example of a netlist of a circuit to be subjected to timing verification according to the present invention, and FIG. 4 illustrates a clock cycle specified by the clock cycle specifying unit shown in FIG. FIG. 6 is a waveform diagram of a clock signal for performing the operation.

【0029】検証対象のネットリストは、図3に示すよ
うに、7個のF/Fが配置されており、7個のF/Fに
は、reg0、reg1、reg2、reg3、reg4、reg5、reg6という
それぞれのF/Fに対して固有の名前が付けられてい
る。
As shown in FIG. 3, the netlist to be verified has seven F / Fs, and reg0, reg1, reg2, reg3, reg4, reg5, A unique name is given to each F / F called reg6.

【0030】まず、図3に示す検証対象のネットリスト
とテストパターンと端子名Clockに周期10nsのクロッ
ク指定と論理回路の論理や遅延を定義したライブラリと
を入力装置11に入力する。
First, a clock list having a cycle of 10 ns and a library defining the logic and delay of a logic circuit are input to the input device 11 as shown in FIG.

【0031】次に全F/F検索部21で、入力されたネ
ットリストの中から、ライブラリ中でクロック端子を持
つと定義されたF/FをそれぞれのF/Fに付けられて
いる固有の名前で検索し、検索結果としてreg0、reg1、
reg2、reg3、reg4、reg5、reg6を得る。
Next, in the entire F / F search unit 21, an F / F defined as having a clock terminal in the library from the input netlist is a unique F / F assigned to each F / F. Search by name, reg0, reg1,
Obtain reg2, reg3, reg4, reg5, reg6.

【0032】次に同期F/F検索部22で、入力された
ネットリストの中からクロックを入力する外部入力端子
であるクロック指定端子Clockを特定し、特定したクロ
ック指定端子Clockから辿ることで、クロック指定端子C
lockに繋がるF/FをそれぞれのF/Fに付けられてい
る固有の名前で検索し、検索結果としてreg0、reg1、re
g2、reg3を得る。次に非同期F/F検索部23で、全F
/F検索部21と同期F/F検索部22とで検索結果が
一致しているか否かを調べ、一致していないF/Fを検
索し、reg4、reg5、reg6を得る。次にクロック生成回路
検索部24は、まずreg4、reg5、reg6のクロック入力端
子に接続されている前段の論理回路の出力端子を特定す
る。この場合、reg4、reg5、reg6ともにnor1の出力に繋
がっているため、nor1の出力端子をクロック生成端子と
して特定する。次にnor1の入力端子から外部入力端子に
到達するまでネットリストを辿り、クロック生成回路を
駆動している外部入力端子を検索し、外部入力端子名En
able、Reset、Clockを特定する。
Next, the synchronous F / F search unit 22 specifies a clock designation terminal Clock which is an external input terminal for inputting a clock from the input netlist, and traces the clock designation terminal Clock from the specified clock designation terminal Clock. Clock designation terminal C
Search for F / F linked to lock by unique name given to each F / F, and search results reg0, reg1, re
g2, reg3. Next, in the asynchronous F / F search unit 23, all F
The / F search unit 21 and the synchronized F / F search unit 22 check whether the search results match, search for unmatched F / Fs, and obtain reg4, reg5, and reg6. Next, the clock generation circuit search unit 24 first specifies the output terminal of the preceding logic circuit connected to the clock input terminals of reg4, reg5, and reg6. In this case, since reg4, reg5, and reg6 are all connected to the output of nor1, the output terminal of nor1 is specified as the clock generation terminal. Next, follow the netlist from the input terminal of nor1 to the external input terminal, search for the external input terminal driving the clock generation circuit, and enter the external input terminal name En.
Specify able, Reset, and Clock.

【0033】次にクロック周期特定部31は入力部11
で与えられたテストパターンをクロック生成回路検索部
24で特定された外部入力端子Enable、Reset、Clockに
のみ与え、クロック発生端子として特定されたnor1の出
力端子の信号変化を観測しながら、シュミレーションを
行う。クロック発生端子として特定されたnor1の出力ピ
ンからの出力された信号から、信号が0から1に変化す
る時刻と、次に0から1に変化する時刻との差を連続し
て観測し、当該時刻の差が安定したところで、図4に示
すように0から1へ変化す時刻ansと次に0から1へ変
化する時刻bnsを特定し、クロック周期はこれらの時間
差から(b-a)nsと特定する。
Next, the clock cycle specifying section 31 is connected to the input section 11.
Is given to only the external input terminals Enable, Reset, and Clock specified by the clock generation circuit search unit 24, and the simulation is performed while observing a signal change of the output terminal of nor1 specified as the clock generation terminal. Do. From the signal output from the output pin of nor1 specified as the clock generation terminal, the difference between the time when the signal changes from 0 to 1 and the time when the signal next changes from 0 to 1 is continuously observed. When the time difference is stabilized, the time ans changing from 0 to 1 and the time bns changing from 0 to 1 are specified as shown in FIG. 4, and the clock cycle is specified as (ba) ns from these time differences. I do.

【0034】次にクロック周期特定部31で特定された
クロック周期(b-a)nsのクロック信号を静的タイミング
検証部41に供給し、静的タイミング検証部41で非同
期F/F検索部23で検索された非同期F/Fに対し、
nor1の出力端子にクロック周期(b-a)nsのクロック信号
を与えて静的タイミング解析を行う。また、同期F/F
検索部22で検索された同期F/Fについては、入力部
11から入力されたクロック信号の指定情報に基づいて
静的タイミング解析を行う。
Next, the clock signal of the clock cycle (ba) ns specified by the clock cycle specifying unit 31 is supplied to the static timing verification unit 41, and the static timing verification unit 41 searches the asynchronous F / F search unit 23. Asynchronous F / F
A static timing analysis is performed by supplying a clock signal having a clock cycle (ba) ns to the output terminal of nor1. Synchronous F / F
For the synchronous F / F searched by the search unit 22, static timing analysis is performed based on the clock signal designation information input from the input unit 11.

【0035】以上説明したように、第1実施形態によれ
ば、ネットリストの接続情報からクロック生成端子を検
索し、シュミレーションを行うことでクロック生成端子
から出力されるクロック信号を特定することができ、回
路中でクロックを生成している様な場合にも、内部で生
成させているクロックで駆動されているF/Fの静的タ
イミング検証が行えるという効果を奏する。
As described above, according to the first embodiment, the clock signal output from the clock signal generating terminal can be specified by searching the clock generating terminal from the connection information of the netlist and performing the simulation. Also, even when a clock is generated in a circuit, there is an effect that static timing verification of the F / F driven by the internally generated clock can be performed.

【0036】さらに、内部クロック生成部分回路を特定
し、その部分のみシュミレーションを行うため、外部ク
ロックに同期しない部分が多い場合にも、短時間で静的
タイミング検証が行えるという効果を奏する。
Further, since the internal clock generating sub-circuit is specified and only that portion is simulated, there is an effect that the static timing can be verified in a short time even when there are many portions not synchronized with the external clock.

【0037】(第2実施形態)図5は、本発明にかかる
タイミング検証装置の第2実施形態の構成を示すブロッ
ク図である。
(Second Embodiment) FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a timing verification device according to a second embodiment of the present invention.

【0038】第2実施形態は、図1に示す第1実施形態
の構成に加え、クロック周期の変化を検証するクロック
周期変化検証部33を有する。
In the second embodiment, in addition to the configuration of the first embodiment shown in FIG. 1, a clock cycle change verifying unit 33 for verifying a change in clock cycle is provided.

【0039】クロック周期変化検証部33は、クロック
周期特定部31で連続して観測したクロック生成端子の
出力ピンから出力された信号が0から1に変化する時刻
と次に0から1に変化する時刻との差が変わらないか否
か検証し、変化時刻の差が変わる場合には、変化時刻の
差すなわちクロック周期の小さい方(制約として厳しい
速いクロック周期)のクロック周期を特定して、静的タ
イミング検証部41に供給する。また、入力部11から
入力されたクロック信号の指定情報についてもクロック
周期を検証し、クロック周期が変わる場合には、クロッ
ク周期の小さい方(制約として厳しいクロック周期)の
クロック周期を特定して、静的タイミング検証部41に
供給する。
The clock cycle change verification section 33 changes the time at which the signal output from the output pin of the clock generation terminal continuously observed by the clock cycle identification section 31 changes from 0 to 1, and then changes from 0 to 1. It is verified whether or not the difference from the time does not change. If the difference between the change times changes, the difference between the change times, that is, the clock cycle of the smaller clock cycle (stricter fast clock cycle as a constraint) is specified, and the Is supplied to the dynamic timing verification unit 41. Further, the clock cycle is also verified with respect to the designation information of the clock signal input from the input unit 11, and when the clock cycle changes, the clock cycle of the smaller clock cycle (stricter clock cycle as a constraint) is specified. This is supplied to the static timing verification unit 41.

【0040】本発明の第2実施形態の動作について図6
〜図7を用いて詳細に説明する。
FIG. 6 shows the operation of the second embodiment of the present invention.
This will be described in detail with reference to FIGS.

【0041】図6は、本発明にかかるタイミング検証装
置の第2実施形態の動作を説明するフローチャートであ
り、図7は、図5に示すクロック周期変化検証部で検証
したクロック周期の変化を説明するためのクロック信号
の波形図である。なお、図2に示すフローチャートと同
一のステップについては、説明を省略する。
FIG. 6 is a flowchart for explaining the operation of the second embodiment of the timing verification device according to the present invention. FIG. 7 is a diagram for explaining the change of the clock cycle verified by the clock cycle change verification section shown in FIG. FIG. 6 is a waveform diagram of a clock signal for performing the operation. The description of the same steps as those in the flowchart shown in FIG. 2 will be omitted.

【0042】クロック周期変化検証部33で、クロック
周期特定部31で観測したクロック生成端子の出力ピン
からの出力された信号が0から1に変化する時刻と次に
0から1に変化する時刻との差が変わらないか否か検証
するとともに入力部11から入力されたクロック信号の
指定情報についてもクロック周期が変わらないか否か検
証する(ステップA51)。
The clock cycle change verifying unit 33 determines the time when the signal output from the output pin of the clock generation terminal observed by the clock cycle specifying unit 31 changes from 0 to 1 and the time when the signal next changes from 0 to 1. And whether the clock cycle of the clock signal designation information input from the input unit 11 does not change is verified (step A51).

【0043】次に変化時刻の差が変わる場合、変化時刻
の差すなわちクロック周期の小さい方(制約として厳し
い速いクロック周期)のクロック信号を特定して、静的
タイミング検証部41に供給する。すなわち図7に示す
ようにクロック生成端子の出力ピンからの出力された信
号が0から1に変化する時刻a、b、c、dを観測し、
信号が0から1に変化する時刻と次に0から1に変化す
る時刻との差(b−a)、(c−b)、(d−c)の中
から最も小さい変化時刻の差(d−c)を特定して静的
タイミング検証部41に供給する(ステップA52)。
Next, when the difference between the change times changes, a clock signal having a smaller change time difference, that is, a clock signal with a smaller clock cycle (a faster clock cycle as a constraint) is specified and supplied to the static timing verification unit 41. That is, as shown in FIG. 7, the times a, b, c, and d at which the signal output from the output pin of the clock generation terminal changes from 0 to 1 are observed,
The difference (d) of the smallest change time among the differences (ba), (cb), and (dc) between the time when the signal changes from 0 to 1 and the time when the signal next changes from 0 to 1 -C) is specified and supplied to the static timing verification unit 41 (step A52).

【0044】以上説明したように、第2実施形態によれ
ば、クロック信号のクロック周期が、回路の動作中に変
わるような場合も考慮した静的タイミング検証が可能に
なるという効果を奏する。
As described above, according to the second embodiment, there is an effect that the static timing verification can be performed in consideration of the case where the clock cycle of the clock signal changes during the operation of the circuit.

【0045】なお、本実施の形態では、タイミング検証
の対象の論理回路をF/Fに特定したが、本発明は、セ
ットアップタイム(Setup time)、ホールドタイム(Ho
ld time)、リリースタイム(Relase time)、リムーバ
ルタイム(Removal time)が定義され、クロック入力端
子を持つ論理回路に適用できる。
In the present embodiment, the logic circuit to be subjected to the timing verification is specified as the F / F. However, the present invention provides a setup time (Setup time), a hold time (Ho
ld time), release time (Relase time), and removal time (Removal time) are defined and can be applied to a logic circuit having a clock input terminal.

【0046】なお、本発明が上記各実施形態に限定され
ず、本発明の技術思想の範囲内において、各実施形態は
適宜変更され得ることは明らかである。また、上記構成
部材の数、位置、形状等は上記実施の形態に限定され
ず、本発明を実施する上で好適な数、位置、形状等にす
ることができる。なお、各図において、同一構成要素に
は同一符号を付している。
It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiments, and it is clear that each embodiment can be appropriately modified within the scope of the technical idea of the present invention. Further, the number, position, shape, and the like of the constituent members are not limited to the above-described embodiment, but can be set to numbers, positions, shapes, and the like suitable for carrying out the present invention. In the drawings, the same components are denoted by the same reference numerals.

【0047】[0047]

【発明の効果】本発明のタイミング検証装置およびタイ
ミング検証方法は、ネットリストの接続情報からクロッ
ク生成端子を検索し、シュミレーションを行うことでク
ロック生成端子から出力されるクロック信号を特定する
ことができ、回路中でクロックを生成している様な場合
にも、内部で生成させているクロックで駆動されている
F/Fの静的タイミング検証が行えるという効果を奏す
る。さらに、内部クロック生成部分回路を特定し、その
部分のみシュミレーションを行うため、外部クロックに
同期しない部分が多い場合にも、短時間で静的タイミン
グ検証が行えるという効果を奏する。
According to the timing verification apparatus and the timing verification method of the present invention, a clock signal output from the clock signal generation terminal can be specified by searching the clock generation terminal from the connection information of the netlist and performing simulation. Also, even when a clock is generated in a circuit, there is an effect that static timing verification of the F / F driven by the internally generated clock can be performed. Furthermore, since the internal clock generation sub-circuit is specified and only that portion is simulated, there is an effect that the static timing can be verified in a short time even when there are many portions not synchronized with the external clock.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明にかかるタイミング検証装置の第1実施
形態の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a first embodiment of a timing verification device according to the present invention.

【図2】本発明にかかるタイミング検証装置の第1実施
形態の動作を説明するフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart illustrating an operation of the first embodiment of the timing verification device according to the present invention.

【図3】本発明にかかるタイミング検証の対象となる回
路のネットリストの一例を示すネットリスト図である。
FIG. 3 is a netlist diagram showing an example of a netlist of a circuit to be subjected to timing verification according to the present invention;

【図4】図1に示すクロック周期特定部で特定したクロ
ック周期を説明するためのクロック信号の波形図であ
る。
FIG. 4 is a waveform diagram of a clock signal for explaining a clock cycle specified by a clock cycle specifying unit shown in FIG. 1;

【図5】本発明にかかるタイミング検証装置の第1実施
形態の構成を示すブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a first embodiment of a timing verification device according to the present invention.

【図6】本発明にかかるタイミング検証装置の第1実施
形態の動作を説明するフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart illustrating an operation of the first embodiment of the timing verification device according to the present invention.

【図7】図5に示すクロック周期変化検証部で検証した
クロック周期の変化を説明するためのクロック信号の波
形図である。
FIG. 7 is a waveform diagram of a clock signal for describing a change in a clock cycle verified by a clock cycle change verification unit illustrated in FIG. 5;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 データ処理部 11 入力部 21 全F/F検索部 22 同期F/F検索部 23 非同期F/F検索部 24 クロック生成回路検索部 31 クロック周期特定部 32 表示部 33 クロック周期変化検証部 41 静的タイミング検証部 Reference Signs List 1 data processing unit 11 input unit 21 full F / F search unit 22 synchronous F / F search unit 23 asynchronous F / F search unit 24 clock generation circuit search unit 31 clock cycle identification unit 32 display unit 33 clock cycle change verification unit 41 static Timing Verifier

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 検証対象のネットリストとテストパター
ンと外部入力端子から入力される外部入力クロック信号
の指定情報と論理回路の論理や遅延を定義したライブラ
リとに基づき、クロック入力端子を持ち且つ前記ネット
リストの中のセットアップタイムとホールドタイムとリ
リースタイムとリムーバルタイムとが定義されている被
検証論理回路の静的タイミング検証を行うタイミング検
証装置であって、 前記検証対象のネットリストの中から前記外部入力端子
から入力される前記外部入力クロック信号と同期しない
前記被検証論理回路を非同期論理回路として検索する非
同期論理回路検索手段と、 該非同期論理回路検索手段により検索された前記非同期
論理回路の入力端子に前記非同期論理回路を駆動する検
証用クロック信号を入力して前記非同期論理回路の静的
タイミング検証を行うタイミング検証手段とを具備する
ことを特徴とするタイミング検証装置。
A clock input terminal based on a netlist to be verified, a test pattern, designation information of an external input clock signal inputted from an external input terminal, and a library defining logic and delay of a logic circuit; A timing verification device for performing static timing verification of a verified logic circuit in which a setup time, a hold time, a release time, and a removal time are defined in a netlist, wherein An asynchronous logic circuit searching means for searching, as an asynchronous logic circuit, the logic circuit to be verified which is not synchronized with the external input clock signal inputted from an external input terminal; and an input of the asynchronous logic circuit searched by the asynchronous logic circuit searching means. A verification clock signal for driving the asynchronous logic circuit is input to the terminal Timing verification apparatus characterized by comprising a timing verification means for performing a static timing analysis of the serial asynchronous logic circuits.
【請求項2】 前記非同期論理回路検索手段により検索
された前記非同期論理回路のクロック入力端子から前記
ネットリストを辿り、前段の前記論理回路をクロック生
成回路として特定するクロック生成回路特定手段と、 前記テストパターンにより、前記クロック生成回路の出
力端子から出力される内部発生クロック信号をシュミレ
ーションして前記内部発生クロック信号のクロック周期
を特定するクロック周期特定手段とを具備し、 該クロック周期特定手段により特定された前記クロック
周期のクロック信号を前記クロック生成回路の出力端子
から入力させ、前記検証用クロック信号として使用させ
ることを特徴とする請求項1記載のタイミング検証装
置。
2. A clock generation circuit specifying means for tracing the netlist from a clock input terminal of the asynchronous logic circuit searched by the asynchronous logic circuit search means and specifying the preceding logic circuit as a clock generation circuit; Clock cycle identification means for simulating an internally generated clock signal output from an output terminal of the clock generation circuit in accordance with a test pattern to identify a clock cycle of the internally generated clock signal; 2. The timing verification device according to claim 1, wherein the clock signal having the clock cycle is input from an output terminal of the clock generation circuit and used as the verification clock signal.
【請求項3】 前記検証対象のネットリストの中から前
記被検証論理回路を検索する論理回路検索手段と、 前記検証対象のネットリストの中から前記外部入力クロ
ック信号と同期する前記被検証論理回路を検索する同期
論理回路検索手段とを具備し、 前記非同期論理回路検索手段は、前記論理回路検索手段
の検索結果と前記同期論理回路検索手段の検索結果との
比較から前記非同期論理回路を検索させることを特徴と
する請求項1又は2記載のタイミング検証装置。
3. A logic circuit retrieving means for retrieving the verified logic circuit from the netlist to be verified, and the verified logic circuit synchronized with the external input clock signal from the netlist to be verified. And a synchronous logic circuit searching means for searching for the asynchronous logic circuit. The asynchronous logic circuit searching means causes the asynchronous logic circuit to be searched based on a comparison between a search result of the logic circuit searching means and a search result of the synchronous logic circuit searching means. The timing verification device according to claim 1, wherein:
【請求項4】 前記クロック生成回路特定手段は、前記
クロック生成回路の入力端子から前記ネットリストを辿
り、前記クロック生成回路を駆動させる信号が入力され
る前記外部入力端子を特定させ、 前記クロック周期特定手段は、前記クロック生成回路を
駆動させる信号が入力される前記外部入力端子から前記
テストパターンを入力させることを特徴とする請求項1
又は3記載のタイミング検証装置。
4. The clock generation circuit specifying means traces the netlist from an input terminal of the clock generation circuit, specifies the external input terminal to which a signal for driving the clock generation circuit is input, and specifies the clock cycle. 2. The identification unit according to claim 1, wherein the test pattern is input from the external input terminal to which a signal for driving the clock generation circuit is input.
Or the timing verification device according to 3.
【請求項5】 前記クロック周期特定手段は、シュミレ
ーションにより前記クロック生成回路の出力端子から出
力される前記内部発生クロック信号の前記クロック周期
が特定できない場合には、前記クロック周期が特定でき
ないことを知らせるメッセージ信号を出力させることを
特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載のタイミン
グ検証装置。
5. The clock cycle specifying means, when the clock cycle of the internally generated clock signal output from the output terminal of the clock generation circuit cannot be specified by simulation, notifies that the clock cycle cannot be specified. 5. The timing verification device according to claim 1, wherein the timing verification device outputs a message signal.
【請求項6】 前記クロック周期特定手段は、シュミレ
ーションにより前記クロック生成回路の出力端子から出
力される前記内部発生クロック信号の前記クロック周期
が変化する場合には、前記内部発生クロック信号の前記
クロック周期の最も小さい前記クロック周期を特定させ
ることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の
タイミング検証装置。
6. The clock cycle specifying means, wherein when the clock cycle of the internally generated clock signal output from the output terminal of the clock generation circuit changes by simulation, the clock cycle of the internally generated clock signal is changed. 6. The timing verification device according to claim 1, wherein the clock cycle having the smallest value is specified.
【請求項7】 前記被検証論理回路は、フリップフロッ
プであることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに
記載のタイミング検証装置。
7. The timing verification device according to claim 1, wherein the verification target logic circuit is a flip-flop.
【請求項8】 検証対象のネットリストとテストパター
ンと外部入力端子から入力される外部入力クロック信号
の指定情報と論理回路の論理や遅延を定義したライブラ
リとに基づき、クロック入力端子を持ち且つ前記ネット
リストの中のセットアップタイムとホールドタイムとリ
リースタイムとリムーバルタイムとが定義されている被
検証論理回路の静的タイミング検証を行うタイミング検
証方法であって、 前記ネットリストの中から前記外部入力端子から入力さ
れる前記外部入力クロック信号と同期しない前記被検証
論理回路を非同期論理回路として検索し、 前記非同期論理回路検索手段により検索された前記非同
期論理回路の入力端子に前記非同期論理回路を駆動する
検証用クロック信号を入力し、前記非同期論理回路の静
的タイミング検証を行うことを特徴とするタイミング検
証方法。
And a clock input terminal based on a netlist to be verified, a test pattern, designation information of an external input clock signal input from an external input terminal, and a library defining logic and delay of a logic circuit. A timing verification method for performing static timing verification of a verified logic circuit in which a setup time, a hold time, a release time, and a removal time are defined in a netlist, wherein the external input terminal is selected from the netlist. The asynchronous logic circuit is searched for the logic circuit to be verified which is not synchronized with the external input clock signal input from the asynchronous logic circuit, and the asynchronous logic circuit is driven to the input terminal of the asynchronous logic circuit searched by the asynchronous logic circuit searching means. A verification clock signal is input, and the static timing of the asynchronous logic circuit is The timing verification method and carrying out the testimony.
【請求項9】 前記検索された前記非同期論理回路のク
ロック入力端子から前記ネットリストを辿り、前段の前
記論理回路をクロック生成回路として特定し、 前記テストパターンにより、前記クロック生成回路の出
力端子から出力される内部発生クロック信号をシュミレ
ーションして前記内部発生クロック信号のクロック周期
を特定し、 該特定された前記クロック周期のクロック信号を前記ク
ロック生成回路の出力端子から入力し、前記検証用クロ
ック信号として使用することを特徴とする請求項8記載
のタイミング検証方法。
9. The logic circuit of a preceding stage is specified as a clock generation circuit by tracing the netlist from a clock input terminal of the searched asynchronous logic circuit, and from the output terminal of the clock generation circuit according to the test pattern. Simulating the internally generated clock signal to be output to specify a clock cycle of the internally generated clock signal; inputting the clock signal of the specified clock cycle from an output terminal of the clock generation circuit; 9. The timing verification method according to claim 8, wherein the timing verification method is used.
【請求項10】 前記検証対象のネットリストの中から
前記被検証論理回路を検索し、 前記検証対象のネットリストの中から前記外部入力クロ
ックと同期する前記被検証論理回路を同期論理回路とし
て検索し、 前記検索した前記被検証論理回路と前記検索した前記同
期論理回路との比較から前記非同期論理回路を検索する
ことを特徴とする請求項8又は9記載のタイミング検証
方法。
10. The logic circuit to be verified is searched from the netlist to be verified, and the logic circuit to be synchronized with the external input clock is searched as a synchronization logic circuit from the netlist to be verified. 10. The timing verification method according to claim 8, wherein the asynchronous logic circuit is searched based on a comparison between the searched logic circuit to be searched and the searched synchronous logic circuit.
【請求項11】 前記クロック生成回路の入力端子から
前記ネットリストを辿り、前記クロック生成回路を駆動
させる信号が入力される前記外部入力端子を特定し、 前記クロック生成回路を駆動させる信号が入力される前
記外部入力端子から前記テストパターンを入力すること
を特徴とする請求項8乃至10のいずれかに記載のタイ
ミング検証方法。
11. An external input terminal to which a signal for driving the clock generation circuit is input by tracing the netlist from an input terminal of the clock generation circuit, and a signal for driving the clock generation circuit is input. 11. The timing verification method according to claim 8, wherein the test pattern is input from the external input terminal.
【請求項12】 前記シュミレーションにより前記クロ
ック生成回路の出力端子から出力される前記内部発生ク
ロック信号の前記クロック周期が特定できない場合に
は、前記クロック周期が特定できないことを知らせるメ
ッセージ信号を出力することを特徴とする請求項8乃至
11のいずれかに記載のタイミング検証方法。
12. When the clock cycle of the internally generated clock signal output from the output terminal of the clock generation circuit cannot be specified by the simulation, outputting a message signal indicating that the clock cycle cannot be specified. The timing verification method according to any one of claims 8 to 11, wherein:
【請求項13】 前記シュミレーションにより前記クロ
ック生成回路の出力端子から出力される前記内部発生ク
ロック信号の前記クロック周期が変化する場合には、前
記内部クロック信号の前記クロック周期の最も小さい前
記クロック周期を特定することを特徴とする請求項7乃
至12のいずれかに記載のタイミング検証方法。
13. When the clock cycle of the internally generated clock signal output from the output terminal of the clock generation circuit changes due to the simulation, the clock cycle having the smallest clock cycle of the internal clock signal is determined. 13. The timing verification method according to claim 7, wherein the timing verification is performed.
【請求項14】 前記被検証論理回路は、フリップフロ
ップであることを特徴とする請求項7乃至13のいずれ
かに記載のタイミング検証方法。
14. The timing verification method according to claim 7, wherein the verified logic circuit is a flip-flop.
【請求項15】 請求項7乃至14のいずれかに記載の
タイミング検証方法を実行可能なプログラムが記憶され
ている記憶媒体。
15. A storage medium storing a program capable of executing the timing verification method according to claim 7. Description:
JP11085054A 1999-03-29 1999-03-29 Device and method for verifying timing Pending JP2000276515A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11085054A JP2000276515A (en) 1999-03-29 1999-03-29 Device and method for verifying timing

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11085054A JP2000276515A (en) 1999-03-29 1999-03-29 Device and method for verifying timing

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000276515A true JP2000276515A (en) 2000-10-06

Family

ID=13847948

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11085054A Pending JP2000276515A (en) 1999-03-29 1999-03-29 Device and method for verifying timing

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000276515A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7694248B2 (en) 2005-03-18 2010-04-06 Fujitsu Microelectronics Limited Method and apparatus for supporting verification, and computer product

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7694248B2 (en) 2005-03-18 2010-04-06 Fujitsu Microelectronics Limited Method and apparatus for supporting verification, and computer product

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Khan et al. gNOSIS: A board-level debugging and verification tool
US7840924B2 (en) Apparatus, method, and program for verifying logic circuit operating with multiple clock signals
CN111383704B (en) Built-in self-test circuit of memory and test method for memory
JP2000276515A (en) Device and method for verifying timing
JP3605506B2 (en) Critical path search method
US7080333B1 (en) Verifying logic synthesizers
JP4831375B2 (en) Verification device, verification method, and program
JP3953250B2 (en) Asynchronous circuit verification method
US5583893A (en) Method and apparatus for safely suspending and resuming operation of an electronic device
US6789242B1 (en) Method and system for integrated circuit design and diagnosis
JP2004145712A (en) Equivalence verification method of motion description in semiconductor design
US7072821B1 (en) Device and method for synchronizing an asynchronous signal in synthesis and simulation of a clocked circuit
JP2001235522A (en) Test vector forming device
JP3408482B2 (en) Integrated circuit tester and integrated circuit test method
JP5942417B2 (en) Simulation device, simulation method, and simulation program
JP3608917B2 (en) Logic simulation method and apparatus, and storage medium storing logic simulation program
JP3654941B2 (en) Logic simulation method and logic simulator
JP2002041595A (en) Device and method for back annotation
JP3052263B2 (en) Logic verification sufficiency evaluation method and system therefor
JPH1021271A (en) Logic circuit design supporting system
JP2004045145A (en) Sequence circuit automatic test pattern generation system reusing test pattern data base
CN117332732A (en) Method, device, equipment and medium for checking register transmission level behavior model
JP2830579B2 (en) Logic simulation equipment
JPH1125132A (en) Simulation device, simulation method and recording medium recorded with simulation program
JP2003067442A (en) Verification device for asynchronous circuit timing and method for verification of timing