JP2000268763A - Composite microscope system - Google Patents

Composite microscope system

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JP2000268763A
JP2000268763A JP11075735A JP7573599A JP2000268763A JP 2000268763 A JP2000268763 A JP 2000268763A JP 11075735 A JP11075735 A JP 11075735A JP 7573599 A JP7573599 A JP 7573599A JP 2000268763 A JP2000268763 A JP 2000268763A
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JP
Japan
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microscope
electron microscope
optical microscope
optical
image
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JP11075735A
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Japanese (ja)
Inventor
Kosuke Ikeda
幸介 池田
Masamitsu Watanabe
正満 渡辺
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide the subject system with merits both of an electron microscope and an optical microscope by providing the system with a control personal computer, the electron and optical microscopes controlled by the personal computer, and a monitor displaying an observed magnified image in an changeover manner. SOLUTION: In an optical microscope 1 the magnification ratio is controlled by a control part 3 and the focus is controlled by a focus control part 4, while the position of a sample stage is controlled by a sample stage control part 4. In an electron microscope 6, the magnification ratio is controlled by a magnification control part 8 and the focus is controlled by a focus control part 9, while the position of a sample stage is controlled by a sample stage control part 10. An image changeover part 13 is controlled by a control operation personal computer 15. With such a construction, the cameral 11 and the microscopes 1, 6 are controlled by one control operation personal computer 15, and a required observation image is displayed on one monitor 14.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、複数種の顕微鏡を
統一的に操作して、観察する複合顕微鏡システムに関す
るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a compound microscope system for operating a plurality of microscopes in a unified manner for observation.

【0002】[0002]

【従来の技術】顕微鏡には、透過型電子顕微鏡、走査型
電子顕微鏡、光学顕微鏡などの種類がある。これらの装
置は、いずれも、顕微鏡の試料ステージに試料を設置
し、観察するべき場所をステージで選択し、さらには、
希望の拡大倍率を選択して拡大像を観察するものであ
る。一般的には、光学顕微鏡が用いられ、大学や企業の
研究所などで走査型電子顕微鏡が用いられている。通
常、個別の装置として使用されている。
2. Description of the Related Art Microscopes include transmission electron microscopes, scanning electron microscopes, and optical microscopes. In each of these devices, a sample is set on a sample stage of a microscope, a place to be observed is selected on the stage, and further,
This is to observe a magnified image by selecting a desired magnification. Generally, an optical microscope is used, and a scanning electron microscope is used in a research institute of a university or a company. Usually, they are used as individual devices.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】この走査型電子顕微鏡
と光学顕微鏡の一般的な長所、短所を図4にまとめて示
す。
The general advantages and disadvantages of the scanning electron microscope and the optical microscope are shown in FIG.

【0004】図4より、走査型電子顕微鏡の長所、短所
は光学顕微鏡の長所、短所の裏返しになっていることが
多い状況であり、走査型電子顕微鏡の長所と光学顕微鏡
の長所を併せ持つ装置はない状況にあった。ただし、一
部に走査型電子顕微鏡内に光学カメラを設置して、電子
顕微鏡試料の光学観察を可能とする装置も市販されてい
るが、観察場所の選択を容易にする目的のためであり、
図4に示す光学顕微鏡の長所を有するものではない状況
である。なぜならば、電子顕微鏡では、試料の導電性が
必要であるために、試料への導電性材料の蒸着処理を行
うために、試料のもつ色情報は変更されるからである。
さらには、電子顕微鏡では、試料を真空中に設置する必
要があるために、生き物の試料観察は困難であるからで
ある。
FIG. 4 shows that the advantages and disadvantages of a scanning electron microscope are often the reverse of the advantages and disadvantages of an optical microscope. There was no situation. However, devices that allow optical observation of electron microscope samples by installing an optical camera in a scanning electron microscope are also commercially available, but for the purpose of facilitating the selection of observation sites.
This situation does not have the advantages of the optical microscope shown in FIG. This is because, in an electron microscope, since the conductivity of the sample is required, the color information of the sample is changed in order to perform a deposition process of a conductive material on the sample.
Furthermore, it is difficult to observe a living thing with an electron microscope because the sample must be placed in a vacuum.

【0005】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
で、走査型電子顕微鏡と光学顕微鏡とを統一的に操作・
制御して、走査型電子顕微鏡の長所と光学顕微鏡の長所
を併せ持つ装置を実現する複合顕微鏡システムを提供す
ることを目的とする。
[0005] The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and operates and operates a scanning electron microscope and an optical microscope in a unified manner.
It is an object of the present invention to provide a compound microscope system which realizes a device that controls and realizes both the advantages of a scanning electron microscope and the advantages of an optical microscope.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の複合顕微鏡システムは、制御用パソコンと、
この制御用パソコンにより制御される光学顕微鏡及び電
子顕微鏡と、前記光学顕微鏡の観察拡大像もしくは前記
電子顕微鏡の観察拡大像が切替えられて表示されるモニ
タとを具備することを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, a compound microscope system according to the present invention comprises a control personal computer,
An optical microscope and an electron microscope controlled by the control personal computer, and a monitor on which the observation enlarged image of the optical microscope or the observation enlarged image of the electron microscope is switched and displayed. .

【0007】また本発明の複合顕微鏡システムは、光学
顕微鏡と、この光学顕微鏡の顕微鏡倍率が制御される光
学顕微鏡倍率制御部と、前記光学顕微鏡の顕微鏡焦点が
制御される光学顕微鏡焦点制御部と、前記光学顕微鏡の
試料ステージの位置が制御される光学顕微鏡試料ステー
ジ制御部と、電子顕微鏡と、この電子顕微鏡の顕微鏡倍
率が制御される電子顕微鏡倍率制御部と、前記電子顕微
鏡の顕微鏡焦点が制御される電子顕微鏡焦点制御部と、
前記電子顕微鏡の試料ステージの位置が制御される電子
顕微鏡試料ステージ制御部と、前記光学顕微鏡倍率制御
部と光学顕微鏡焦点制御部と光学顕微鏡試料ステージ制
御部と電子顕微鏡倍率制御部と電子顕微鏡焦点制御部と
電子顕微鏡試料ステージ制御部がそれぞれ制御される制
御部用操作パソコンと、カメラと、このカメラがカメラ
像表示部を介して接続されると共に前記光学顕微鏡が光
学顕微鏡像表示部を介して接続され且つ前記電子顕微鏡
が電子顕微鏡像表示部を介して接続される像切替え部
と、この像切替え部が前記制御部用操作パソコンにより
制御されて前記カメラ像表示部からのカメラ像もしくは
前記光学顕微鏡像表示部からの光学顕微鏡像もしくは前
記電子顕微鏡像表示部からの電子顕微鏡像が切替えられ
て表示されるモニタとを具備することを特徴とするもの
である。
Further, the compound microscope system of the present invention comprises an optical microscope, an optical microscope magnification control unit for controlling the microscope magnification of the optical microscope, an optical microscope focus control unit for controlling the microscope focus of the optical microscope, An optical microscope sample stage controller for controlling the position of the sample stage of the optical microscope, an electron microscope, an electron microscope magnification controller for controlling the microscope magnification of the electron microscope, and a microscope focus of the electron microscope are controlled. An electron microscope focus controller,
An electron microscope sample stage controller for controlling a position of a sample stage of the electron microscope; an optical microscope magnification controller, an optical microscope focus controller, an optical microscope sample stage controller, an electron microscope magnification controller, and an electron microscope focus controller. Unit and an operation personal computer for controlling the electron microscope sample stage control unit, a camera, and the camera are connected via a camera image display unit and the optical microscope is connected via an optical microscope image display unit. An image switching unit to which the electron microscope is connected via an electron microscope image display unit, and that the image switching unit is controlled by the control unit operation personal computer so that the camera image from the camera image display unit or the optical microscope A monitor on which an optical microscope image from the image display unit or an electron microscope image from the electron microscope image display unit is switched and displayed. It is characterized in that it comprises a.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
形態例を詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0009】図1は本発明の一実施形態例を示す構成説
明図である。図において、1は光学顕微鏡であり、この
光学顕微鏡1は、光学顕微鏡倍率制御部3により顕微鏡
倍率が制御されると共に、光学顕微鏡焦点制御部4によ
り顕微鏡焦点が制御され、且つ光学顕微鏡試料ステージ
制御部5により試料ステージの位置が制御される。ま
た、6は電子顕微鏡であり、この電子顕微鏡6は、電子
顕微鏡倍率制御部8により顕微鏡倍率が制御されると共
に、電子顕微鏡焦点制御部9により顕微鏡焦点が制御さ
れ、且つ電子顕微鏡試料ステージ制御部10により試料
ステージの位置が制御される。前記光学顕微鏡倍率制御
部3、光学顕微鏡焦点制御部4、光学顕微鏡試料ステー
ジ制御部5、電子顕微鏡倍率制御部8、電子顕微鏡焦点
制御部9及び電子顕微鏡試料ステージ制御部10はそれ
ぞれ制御部用操作パソコン15により制御される。ま
た、11はカメラであり、このカメラ11はカメラ像表
示部12を介して像切替え部13に接続される。前記光
学顕微鏡1は光学顕微鏡像表示部2を介して像切替え部
13に接続されると共に、前記電子顕微鏡6は電子顕微
鏡像表示部7を介して像切替え部13に接続される。こ
の像切替え部13は前記制御部用操作パソコン15によ
り制御され、前記カメラ像表示部12からのカメラ像、
前記光学顕微鏡像表示部2からの光学顕微鏡像、もしく
は前記電子顕微鏡像表示部7からの電子顕微鏡像が切替
えられてモニタ14に表示される。
FIG. 1 is a structural explanatory view showing an embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 1 denotes an optical microscope. In the optical microscope 1, the microscope magnification is controlled by an optical microscope magnification control unit 3, the microscope focus is controlled by an optical microscope focus control unit 4, and the optical microscope sample stage is controlled. The section 5 controls the position of the sample stage. Reference numeral 6 denotes an electron microscope. The electron microscope 6 has a microscope magnification controlled by an electron microscope magnification control unit 8, a microscope focus is controlled by an electron microscope focus control unit 9, and an electron microscope sample stage control unit. 10 controls the position of the sample stage. The optical microscope magnification control unit 3, the optical microscope focus control unit 4, the optical microscope sample stage control unit 5, the electron microscope magnification control unit 8, the electron microscope focus control unit 9, and the electron microscope sample stage control unit 10 are each a control unit operation. It is controlled by the personal computer 15. Reference numeral 11 denotes a camera, which is connected to an image switching unit 13 via a camera image display unit 12. The optical microscope 1 is connected to an image switching unit 13 via an optical microscope image display unit 2, and the electron microscope 6 is connected to an image switching unit 13 via an electron microscope image display unit 7. The image switching unit 13 is controlled by the control unit operation personal computer 15, and outputs a camera image from the camera image display unit 12.
The optical microscope image from the optical microscope image display unit 2 or the electron microscope image from the electron microscope image display unit 7 is switched and displayed on the monitor 14.

【0010】これらを動作させるにあたって、観察すべ
き試料として、例えば、数cmサイズの蝶を例として示
す。まず、数cmサイズの蝶のそのままを光学顕微鏡1
の試料ステージに設置する。蝶の口や触覚や羽根などの
特徴的な部位を数mm角に切り出し、蒸着処理等を行っ
た後に電子顕微鏡6の試料ステージに設置する。
In operating these, a sample to be observed is, for example, a butterfly having a size of several cm. First, an optical microscope 1
On the sample stage. A characteristic part such as a butterfly mouth, a tactile sensation, or a wing is cut out into a few mm square, and is subjected to a vapor deposition process and the like, and then placed on a sample stage of the electron microscope 6.

【0011】次に、光学顕微鏡1の倍率選択、焦点合わ
せ、試料ステージ移動は、それぞれ光学顕微鏡倍率制御
部3、光学顕微鏡焦点制御部4、光学顕微鏡試料ステー
ジ制御部5で制御され、各制御部3、4、5で制御され
た結果は光学顕微鏡像表示部2に表示される。各制御部
3、4、5のそれぞれの操作は制御部用操作パソコン1
5を通して行われる。また、制御部用操作パソコン15
は像切替え部13を操作してモニタ14に光学顕微鏡1
の観察拡大像を表示する。ここで、観察拡大像の倍率は
数倍〜200倍程度であり、当然、カラー表示である。
なお、この光学顕微鏡1には、カメラ11が装備され、
光学顕微鏡1と同一場所を1倍程度の低倍率観察が可能
であり、その観察像はカメラ像表示部12に表示される
ものである。このカメラ11で数cmサイズの蝶の全体
を観察できる。
Next, magnification selection, focusing, and sample stage movement of the optical microscope 1 are controlled by an optical microscope magnification control unit 3, an optical microscope focus control unit 4, and an optical microscope sample stage control unit 5, respectively. The results controlled in 3, 4, and 5 are displayed on the optical microscope image display unit 2. The operation of each of the control units 3, 4, and 5 is performed by the control unit operation personal computer 1.
5 through. In addition, the control unit operation personal computer 15
Operates the image switching unit 13 to display the optical microscope 1 on the monitor 14.
Is displayed. Here, the magnification of the observed enlarged image is several times to about 200 times, and it is a color display as a matter of course.
The optical microscope 1 is equipped with a camera 11,
The same place as the optical microscope 1 can be observed at a low magnification of about 1 ×, and the observed image is displayed on the camera image display unit 12. With this camera 11, the entire butterfly having a size of several cm can be observed.

【0012】さらには、電子顕微鏡6の倍率選択、焦点
合わせ、試料ステージ移動は、それぞれ電子顕微鏡倍率
制御部8、電子顕微鏡焦点制御部9、電子顕微鏡試料ス
テージ制御部10で制御され、各制御部8、9、10で
制御された結果は電子顕微鏡像表示部7に表示される。
各制御部8、9、10のそれぞれの操作は、前に述べた
制御部用操作パソコン15と同一のパソコンを通して行
われる。また、この制御部用操作パソコン15は像切替
え部13を操作してモニタ14に電子顕微鏡6の観察拡
大像を表示する。ここで、観察拡大像の倍率は数10倍
〜数万倍である。
Further, magnification selection, focusing, and sample stage movement of the electron microscope 6 are controlled by an electron microscope magnification control unit 8, an electron microscope focus control unit 9, and an electron microscope sample stage control unit 10, respectively. The results controlled in 8, 9, and 10 are displayed on the electron microscope image display unit 7.
The respective operations of the control units 8, 9, and 10 are performed through the same personal computer as the control unit operation personal computer 15 described above. The control unit operation personal computer 15 operates the image switching unit 13 to display an enlarged image of the electron microscope 6 on the monitor 14. Here, the magnification of the observed enlarged image is several tens to several tens of thousands.

【0013】以上説明したように、1つの制御部用操作
パソコン15でカメラ11、光学顕微鏡1、電子顕微鏡
6を制御するとともに希望の観察像を1つのモニタ14
に表示するものである。
As described above, the camera 11, the optical microscope 1, and the electron microscope 6 are controlled by one control unit operation personal computer 15, and the desired observation image is displayed on one monitor 14
Is displayed on the screen.

【0014】図2及び図3に示す制御部用操作パソコン
の画面を用いて本発明の効果について説明する。図2は
光学顕微鏡操作モードの制御部用操作パソコンの表示画
面である。画面左上部の「光学顕微鏡操作モード」が反
転表示されており、現在、光学顕微鏡の操作画面が表示
されていることを示している。さらには、右下の「顕微
鏡ボタン」が反転表示となっていることから、光学顕微
鏡の観察画像がモニタに表示されていることを示してい
る。左側のリストに試料名が記載され、それぞれの試料
名のXY座標が入力されている。現在は3番の「蝶の羽
根2」が選択され、文字が反転表示になっている。この
番号あるいは試料名をマウスでクリックすることによっ
て希望の試料ステージが瞬時に移動して、希望の観察像
がモニタに表示される。試料リストの右側の「十字ボタ
ン」がXYステージの疎動・微動ボタンとなっている。
それぞれ、「黒丸」部が疎動ボタン、「白丸」が微動ボ
タンである。この「十字ボタン」で希望の部位に試料を
移動できる。また、右端の「焦点スケール」で焦点を合
わせるものである。この光学顕微鏡の場合、接眼レンズ
の高さ調整で焦点を合わせる方式になっているために、
縦バー形式としている。「十字ボタン」と「焦点スケー
ル」でそれぞれ試料の観察位置の選択と焦点合わせを行
った後、「拡大ボタン」および「縮小ボタン」で観察部
位の最適な大きさを選択する。この「拡大ボタン」、
「縮小ボタン」の操作によって、観察倍率を数倍〜約2
00倍までを容易に選択できるものである。なお、右下
の「カメラボタン」をクリックすることによって、光学
顕微鏡と同一視野領域の低倍像をモニタに表示できる。
「カメラボタン」と「顕微鏡ボタン」の選択によって、
カメラと光学顕微鏡を極めて簡単に切り替えることが可
能である。
The effects of the present invention will be described with reference to the screens of the control unit operation personal computer shown in FIGS. FIG. 2 is a display screen of the control unit operation personal computer in the optical microscope operation mode. “Optical microscope operation mode” at the upper left of the screen is highlighted, indicating that the operation screen of the optical microscope is currently displayed. Furthermore, since the “microscope button” at the lower right is highlighted, it indicates that the observation image of the optical microscope is displayed on the monitor. The sample names are described in the list on the left side, and the XY coordinates of each sample name are input. At present, No. 3 "Butterfly Wing 2" is selected, and the character is highlighted. By clicking this number or the sample name with the mouse, the desired sample stage is instantaneously moved, and the desired observation image is displayed on the monitor. The “cross button” on the right side of the sample list is a sway / fine movement button on the XY stage.
In each case, the “black circle” part is a sloppy button and the “white circle” is a fine movement button. The sample can be moved to a desired site with the “cross button”. In addition, focusing is performed on the rightmost “focal scale”. In the case of this optical microscope, the focus is adjusted by adjusting the height of the eyepiece.
It has a vertical bar format. After selecting and focusing the observation position of the sample with the "cross button" and the "focus scale", respectively, the optimal size of the observation region is selected with the "enlarge button" and the "reduction button". This "magnify button"
The observation magnification can be increased several times to about 2
Up to 00 times can be easily selected. By clicking the "camera button" at the lower right, a low-magnification image of the same field of view as the optical microscope can be displayed on the monitor.
By selecting "Camera button" and "Microscope button",
It is very easy to switch between a camera and an optical microscope.

【0015】次に、光学顕微鏡操作モードから電子顕微
鏡操作モードに切り替えて、電子顕微鏡操作モードの画
面について説明する。図2の画面右上部の「電子顕微鏡
操作モード」をクリックすると図3の電子顕微鏡操作モ
ードの制御部用操作パソコンの表示画面が表示される。
この時、クリックした画面右上部の「電子顕微鏡操作モ
ード」は反転表示される。これで操作モードが電子顕微
鏡の操作画面に切り替わったことが分かる。基本的な画
面構成は光学顕微鏡操作モード画面と同様に設計されて
いる。左側のリストには試料名が記載され、光学顕微鏡
の試料名と関連した名称が入力されている。この画面で
は4番の「蝶の足」が選択されて、文字が反転表示にな
っている。この番号あるいは試料名をマウスでクリック
することによって希望の試料に試料ステージが瞬時に移
動して、希望の観察像がモニタに表示される。試料リス
トの右側の「十字ボタン」は、光学顕微鏡と同様にXY
ステージの疎動・微動ボタンとなっている。この「十字
ボタン」で希望の部位に試料を移動できる。また、右下
の「焦点ボタン」で焦点を合わせるものである。「十字
ボタン」と「焦点ボタン」でそれぞれ試料の観察位置の
選択と焦点合わせを行った後、「拡大ボタン」および
「縮小ボタン」で観察部位の最適な大きさを選択する。
この「拡大ボタン」、「縮小ボタン」の操作によって、
観察倍率を数10倍〜数万倍までを容易に選択できるも
のである。また、電子顕微鏡操作モードから光学顕微鏡
操作モードに戻るには、図3の画面左上部の「光学顕微
鏡操作モード」をクリックすれば良い。この時、図2の
光学顕微鏡操作モードの制御部用操作パソコンの表示画
面が表示され、クリックした画面左上部の「光学顕微鏡
操作モード」は反転表示される。
Next, switching from the optical microscope operation mode to the electron microscope operation mode, the screen of the electron microscope operation mode will be described. When the "electron microscope operation mode" in the upper right part of the screen in FIG. 2 is clicked, the display screen of the control unit operation personal computer in the electron microscope operation mode in FIG. 3 is displayed.
At this time, the “electron microscope operation mode” at the upper right of the clicked screen is highlighted. This indicates that the operation mode has been switched to the operation screen of the electron microscope. The basic screen configuration is designed similarly to the optical microscope operation mode screen. The list on the left shows the sample names, and the names associated with the sample names of the optical microscope are entered. On this screen, No. 4 “Butterfly Feet” is selected, and the characters are highlighted. By clicking this number or sample name with the mouse, the sample stage is instantaneously moved to the desired sample, and the desired observation image is displayed on the monitor. The “cross button” on the right side of the sample list is XY like the optical microscope.
It is a sway / fine movement button for the stage. The sample can be moved to a desired site with the “cross button”. The focus is adjusted by a "focus button" at the lower right. After selecting and focusing the observation position of the sample with the "cross button" and the "focus button", respectively, the optimum size of the observation region is selected with the "magnify button" and the "reduction button".
By operating the “enlarge button” and “reduce button”,
The observation magnification can be easily selected from tens to tens of thousands of times. Further, to return from the electron microscope operation mode to the optical microscope operation mode, it is only necessary to click “optical microscope operation mode” at the upper left of the screen in FIG. At this time, the display screen of the control unit operation personal computer in the optical microscope operation mode shown in FIG. 2 is displayed, and the “optical microscope operation mode” at the upper left of the clicked screen is highlighted.

【0016】このように、本システムによれば、従来の
光学顕微鏡並みの操作技術で、電子顕微鏡でしか観察さ
れない数万倍までの拡大像の観察が容易に可能であり、
なおかつ、図4に示した電子顕微鏡の短所をすべて克服
できるという利点を有する。すなわち、数cm角の大き
な試料でも、1倍程度から数万倍程度まで連続して、か
つ、統一的に拡大像を観察することを容易に実現するも
のである。当然ながら、200倍程度までは試料の持つ
色情報を観察することも可能であり、生き物の観察も可
能なシステムである。
As described above, according to the present system, it is possible to easily observe a magnified image up to tens of thousands of times, which can be observed only with an electron microscope, using an operation technique comparable to that of a conventional optical microscope.
Further, there is an advantage that all the disadvantages of the electron microscope shown in FIG. 4 can be overcome. In other words, it is easy to continuously and unifiedly observe a magnified image from about 1 to tens of thousands of times even with a large sample of several cm square. As a matter of course, up to about 200 times, it is possible to observe the color information of the sample and to observe living things.

【0017】なお、本システムは図1でも明らかなよう
に、試料を光学顕微鏡および電子顕微鏡に一旦セットす
れば、観察者は、モニタで拡大像を観察しながら各制御
部用操作パソコンのみを操作するものである。このこと
から、モニタ画像をISDNなどの画像用通信回線に接
続し、かつ、パソコンも通信回線に接続して遠隔地から
の制御も可能になる。すなわち、本システムは中学校な
どの理科の授業などでの新たな用途も生じるものと思わ
れる。
As is apparent from FIG. 1, once the sample is set on the optical microscope and the electron microscope, the observer operates only the control unit operation personal computer while observing the enlarged image on the monitor. Is what you do. Thus, the monitor image can be connected to an image communication line such as ISDN, and a personal computer can also be connected to the communication line for remote control. In other words, this system is expected to have new uses in science classes such as junior high schools.

【0018】[0018]

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、走査
型電子顕微鏡と光学顕微鏡とを統一的に操作・制御し
て、走査型電子顕微鏡の長所と光学顕微鏡の長所を併せ
持つ装置を実現する複合顕微鏡システムを提供すること
ができる。
As described above, according to the present invention, a scanning electron microscope and an optical microscope are unifiedly operated and controlled to realize an apparatus having both advantages of a scanning electron microscope and an optical microscope. A composite microscope system can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態例を示す構成説明図であ
る。
FIG. 1 is a configuration explanatory diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】本発明に係る光学顕微鏡操作モードの制御部用
操作パソコンの表示画面の一例を示す構成説明図であ
る。
FIG. 2 is a configuration explanatory view showing an example of a display screen of a control unit operation personal computer in an optical microscope operation mode according to the present invention.

【図3】本発明に係る電子顕微鏡操作モードの制御部用
操作パソコンの表示画面の一例を示す構成説明図であ
る。
FIG. 3 is a configuration explanatory diagram showing an example of a display screen of a control unit operation personal computer in an electron microscope operation mode according to the present invention.

【図4】本発明に係る走査型電子顕微鏡と光学顕微鏡の
長所、短所を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory view showing advantages and disadvantages of a scanning electron microscope and an optical microscope according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光学顕微鏡 2 光学顕微鏡像表示部 3 光学顕微鏡倍率制御部 4 光学顕微鏡焦点制御部 5 光学顕微鏡試料ステージ制御部 6 電子顕微鏡 7 電子顕微鏡像表示部 8 電子顕微鏡倍率制御部 9 電子顕微鏡焦点制御部 10 電子顕微鏡試料ステージ制御部 11 カメラ 12 カメラ像表示部 13 像切替え部 14 モニタ 15 制御部用操作パソコン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical microscope 2 Optical microscope image display part 3 Optical microscope magnification control part 4 Optical microscope focus control part 5 Optical microscope sample stage control part 6 Electron microscope 7 Electron microscope image display part 8 Electron microscope magnification control part 9 Electron microscope focus control part 10 Electron microscope sample stage control unit 11 Camera 12 Camera image display unit 13 Image switching unit 14 Monitor 15 Operation computer for control unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F064 AA09 MM26 MM32 MM34 MM45 2F067 AA45 EE05 HH06 KK09 PP12 SS13 UU33 2H052 AD06 AD19 AF10 AF13 AF14 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2F064 AA09 MM26 MM32 MM34 MM45 2F067 AA45 EE05 HH06 KK09 PP12 SS13 UU33 2H052 AD06 AD19 AF10 AF13 AF14

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 制御用パソコンと、この制御用パソコン
により制御される光学顕微鏡及び電子顕微鏡と、前記光
学顕微鏡の観察拡大像もしくは前記電子顕微鏡の観察拡
大像が切替えられて表示されるモニタとを具備すること
を特徴とする複合顕微鏡システム。
A control personal computer, an optical microscope and an electron microscope controlled by the control personal computer, and a monitor on which an observation enlarged image of the optical microscope or an observation enlarged image of the electron microscope is switched and displayed. A compound microscope system comprising:
【請求項2】 光学顕微鏡と、この光学顕微鏡の顕微鏡
倍率が制御される光学顕微鏡倍率制御部と、前記光学顕
微鏡の顕微鏡焦点が制御される光学顕微鏡焦点制御部
と、前記光学顕微鏡の試料ステージの位置が制御される
光学顕微鏡試料ステージ制御部と、電子顕微鏡と、この
電子顕微鏡の顕微鏡倍率が制御される電子顕微鏡倍率制
御部と、前記電子顕微鏡の顕微鏡焦点が制御される電子
顕微鏡焦点制御部と、前記電子顕微鏡の試料ステージの
位置が制御される電子顕微鏡試料ステージ制御部と、前
記光学顕微鏡倍率制御部と光学顕微鏡焦点制御部と光学
顕微鏡試料ステージ制御部と電子顕微鏡倍率制御部と電
子顕微鏡焦点制御部と電子顕微鏡試料ステージ制御部が
それぞれ制御される制御部用操作パソコンと、カメラ
と、このカメラがカメラ像表示部を介して接続されると
共に前記光学顕微鏡が光学顕微鏡像表示部を介して接続
され且つ前記電子顕微鏡が電子顕微鏡像表示部を介して
接続される像切替え部と、この像切替え部が前記制御部
用操作パソコンにより制御されて前記カメラ像表示部か
らのカメラ像もしくは前記光学顕微鏡像表示部からの光
学顕微鏡像もしくは前記電子顕微鏡像表示部からの電子
顕微鏡像が切替えられて表示されるモニタとを具備する
ことを特徴とする複合顕微鏡システム。
2. An optical microscope, an optical microscope magnification controller for controlling a microscope magnification of the optical microscope, an optical microscope focus controller for controlling a microscope focus of the optical microscope, and a sample stage of the optical microscope. An optical microscope sample stage controller whose position is controlled, an electron microscope, an electron microscope magnification controller that controls the microscope magnification of the electron microscope, and an electron microscope focus controller that controls the microscope focus of the electron microscope. An electron microscope sample stage controller for controlling the position of the sample stage of the electron microscope; an optical microscope magnification controller, an optical microscope focus controller; an optical microscope sample stage controller; an electron microscope magnification controller; An operation personal computer for the control unit that controls the control unit and the electron microscope sample stage control unit, a camera, and this camera An image switching unit connected via an image display unit, the optical microscope is connected via an optical microscope image display unit, and the electron microscope is connected via an electron microscope image display unit, and the image switching unit is The camera image from the camera image display unit, the optical microscope image from the optical microscope image display unit, or the electron microscope image from the electron microscope image display unit is switched and displayed under the control of the control unit operation personal computer. A compound microscope system comprising a monitor.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006126615A (en) * 2004-10-29 2006-05-18 Nikon Corp Microscopic system

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