JP2000260026A

JP2000260026A - 信号解析方法および光記録媒体の検査方法

Info

Publication number: JP2000260026A
Application number: JP11059322A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Fukuda; 博之福田; Masafumi Hikasa; 雅史日笠
Original assignee: Toray Industries Inc
Current assignee: Toray Industries Inc
Priority date: 1999-03-05
Filing date: 1999-03-05
Publication date: 2000-09-22

Abstract

(57)【要約】【課題】信号波形の測定、解析において、従来の方法だ
けでは十分に除去仕切れなかった信号群の中から更に測
定すべき信号を効率よく判定選別し、自動測定の精度を
向上させることのできる信号解析方法およびその方法を
用いた光記録媒体の検査方法を提供する。【解決手段】少なくとも信号波形を測定する手段および
測定された信号波形に基づいて計算する手段を有する信
号解析装置を用い、該信号解析装置に入力された信号波
形における波形の最大値および最小値を計測し、次に該
最大値よりも小さく、最小値よりも大きな信号レベルＶ
_sを設定し、該信号レベルＶ_sと前記信号波形の交錯する
時間軸上の点を計測し、その時間間隔があらかじめ設定
された範囲内にある信号波形を選別する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、信号解析方法およ
びその方法を用いた光記録媒体の検査方法に関し、とく
に、複数の周波数の信号が混在する信号群の中から測定
すべき信号のみを効率よく選別して測定の精度を向上さ
せることができる信号解析方法およびその方法を用いた
光記録媒体の検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】コンピュータ等の計算装置とオシロスコ
ープ等の信号波形を測定する装置を連動させ、信号波形
の振幅レベル等を自動測定することは一般に行われてい
る。通常、入力した信号には複数の周波数の信号が混在
している場合が多いので、不要な信号成分を除去するた
めに、オシロスコープに入力する前に高周波除去フィル
ターに通してノイズを除去したり、オシロスコープに入
力後、信号波形をフーリエ変換等の演算処理で補正する
処理を行っている。しかし、それでも除去できない信号
が残るので、不要な信号も計測し、測定精度を低下させ
ることとなっていた。

【０００３】たとえば図５に、光記録媒体の検査におい
て、光記録媒体記録再生装置からオシロスコープに取り
込んだ信号波形の例を示すが、たとえば検査のために測
定すべき振幅レベルがＡである場合にも、Ｂの振幅レベ
ルを測定してしまうという不都合が生じることがあっ
た。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、信号
波形の測定、解析において、従来の方法だけでは十分に
除去仕切れなかった信号群の中から更に測定すべき信号
を効率よく判定選別し、自動測定の精度を向上させるこ
とのできる信号解析方法およびその方法を用いた光記録
媒体の検査方法を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、少なく
とも信号波形を測定する手段および測定された信号波形
に基づいて計算する手段を有する信号解析装置を用い、
該信号解析装置に入力された信号波形における波形の最
大値および最小値を計測し、次に該最大値よりも小さ
く、最小値よりも大きな信号レベルＶ_sを設定し、該信
号レベルＶ_sと前記信号波形の交錯する時間軸上の点を
計測し、その時間間隔があらかじめ設定された範囲内に
ある信号波形を選別することを特徴とする信号解析方法
によって達成される。

【０００６】また、本発明の目的は、少なくとも光記録
媒体記録再生装置、信号波形を測定する手段および測定
された信号波形に基づいて計算する手段を有する検査装
置を用い、光記録媒体記録再生装置から出力した再生信
号波形を、前記信号波形を測定する手段に入力した後、
前記計算手段に転送し、該信号波形における波形の最大
値および最小値を計測し、次に該最大値よりも小さく、
最小値よりも大きな信号レベルＶ_sを設定し、該信号レ
ベルＶ_sと前記信号波形の交錯する時間軸上の点を計測
し、その時間間隔があらかじめ設定された範囲内にある
信号波形を選別して、検査のための所定の処理を行うこ
とを特徴とする光記録媒体の検査方法によって達成され
る。

【０００７】また、上記において、前記信号波形の選別
および検査のための所定の処理に際し、光記録媒体に記
録されているインデックス信号を検出してから、タイマ
ー回路に設定された遅延時間経過後のセクターからの再
生信号波形を測定することが好ましい。このようにする
ことによって、検査対象とするセクターを正確に特定で
きる。

【０００８】このような信号解析方法においては、信号
波形測定手段（たとえば、オシロスコープ）に入力した
信号波形データを計算手段（たとえば、コンピュータ）
に転送し、その波形の最大値および最小値を計測する。
次に該最大値よりも小さく、最小値よりも大きな信号レ
ベルＶ_sを設定し、該信号レベルＶ_sと前記信号波形の交
錯する点の時間軸上の間隔を順次測定する。コンピュー
タには、あらかじめ測定すべき信号の周波数に対応す
る、該信号レベルＶ_sと前記信号波形の交錯する点間の
時間間隔の範囲を設定しておく。そして、測定した信号
波形の時間軸上の間隔があらかじめ設定した範囲内にあ
るか否かを判定し、範囲内にある信号波形のみを以後の
解析工程に送る。したがって、測定対象となるべき信号
波形のみが効率よく取り出され、検査等のために処理、
解析され、不要な信号は処理、解析対象外として除去さ
れる。

【０００９】上記において、信号波形の最大値を
Ｖ_max、最小値をＶ_min、平均値をＶ_aとすると、信号レ
ベルＶ_sを、Ｖ_a−（Ｖ_max−Ｖ_min）／８≦Ｖ_s≦Ｖ_a＋
（Ｖ_max−Ｖ_m _in）／８の範囲で設定することが好まし
い。このようにすることによって、測定精度が良好にな
る。

【００１０】また、上記において、信号レベルＶ_sと信
号波形の交錯する時間軸上の連続する３点以上を計測
し、その時間間隔があらかじめ設定された範囲内にある
信号波形を選別することが好ましい。このようにするこ
とによって、信号の選別をさらに正確に行うことができ
る。

【００１１】この信号解析方法を光記録媒体の検査に適
用すれば、検査対象とすべき信号波形のみが効率よく取
り出され、検査の精度、信頼性が向上する。

【００１２】また、光記録媒体の検査方法を光記録媒体
の製造工程に適用し、基板上に少なくとも記録層を形成
した後に、上記の検査方法を用いて選別を行うことによ
り、品質の良い光記録媒体を効率よく製造することがで
きる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の望ましい実施の
形態について図面を参照しながら説明する。

【００１４】図１は、本発明の一実施態様に係る信号解
析方法の実施に用いる装置を示しており、とくに、光記
録媒体の検査に用いる装置に本発明を適用した場合を示
している。図１において、１は光記録媒体を示してお
り、光記録媒体記録再生装置２により、回転される光記
録媒体１から記録情報が再生される。記録情報は、たと
えば光学的に検知するピックアップ３によって読み取ら
れる。光記録媒体１を回転させながらピックアップ３を
径方向に走査することにより、実質的に全記録領域の記
録情報を読み取ることができるようになっている。

【００１５】ピックアップ３で検知された信号波形は、
再生信号として出力され、信号波形測定装置としてのオ
シロスコープ４によって測定される。また、光記録媒体
１には、トラック１周に対し１回発生するインデックス
信号が存在し、光記録媒体１の製造段階で記録されてい
る。このインデックス信号が、光記録媒体記録再生装置
２から出力される。出力されたインデックス信号は、イ
ンデックス信号検出回路５によって検出される。

【００１６】光記録媒体１におけるトラック、セクタ
ー、インデックス信号の関係は、たとえば図２に示すよ
うになる。すなわち、光記録媒体１の情報記録領域に、
同心円状または渦巻き状の溝状にトラック１１が形成さ
れており、そのトラック１１が複数のセクター１２に分
割されており、トラック１周に対し１回発生するように
インデックス信号１３が記録されている。

【００１７】上記インデックス信号検出回路５は、タイ
マー回路６に接続されている。タイマー回路６には、特
定の遅延時間が設定されており、インデックス信号を検
出してから該特定の遅延時間経過時に、トリガ信号を出
力する。タイマー回路６には複数の遅延時間が設定され
てもよく、その場合には、複数の特定の遅延時間経過時
にそれぞれトリガ信号を出力する。

【００１８】前述のオシロスコープ４および上記タイマ
ー回路６は、計算手段としてのコンピュータ７に接続さ
れている。コンピュータ７では、タイマー回路６からの
トリガ信号に基づいて、オシロスコープ４からの波形信
号を、本発明方法にしたがって選別し、検査のための必
要な処理を行う。

【００１９】このような検査システムを用いて、本発明
に係る信号解析方法、とくに、光記録媒体の検査方法
は、次のように行われる。

【００２０】光記録媒体の検査すべき特性として変調度
を測定する場合について説明する。ここで言う変調度と
は、光記録媒体の情報記録面に情報再生光ビームを照射
したときに、情報記録面に記録された凹凸のピット、溝
による光の回折あるいは反射率の高低や磁気光学的な光
の位相差によってもたらされる再生信号レベルの差（振
幅）を、全反射光量和のレベルで割った値である。

【００２１】変調度＝再生信号レベルの最大と最小の差
（振幅）／全反射光量和全反射光量和は光記録媒体の表
面上のフラットな部分を照射して測定する。

【００２２】図２に示したように、光記録媒体１の表面
上には渦巻き状または同心円状に溝状のトラック１１が
形成されており、トラック１１は更に複数のセクター１
２で構成されている。更にセクター１２は、一般に、デ
ータを読み書きできるデータ部とあらかじめアドレス情
報が埋め込まれているヘッダー部とで構成されている。
ヘッダー部には信号の同期をとるためのＶＦＯ部、アド
レス情報であることを示すアドレスマーク（ＡＭ）部、
そしてセクター番号が書かれているアドレス部等があ
る。つまり、一般に、先頭から、ＶＦＯ部、ＡＭ部、ア
ドレス部、その他の記録部、データ部と順に配置されて
いる。

【００２３】次に、このヘッダ部の変調度を測定する手
順について図３を参照しながら説明する。

【００２４】反射光は上記の如く光記録媒体記録再生装
置２が読み取り、オシロスコープ４に送られる。信号波
形をオシロスコープ４に入力して、その信号波形をコン
ピュータ７に取り込むには取り込む信号の位置を指定し
なければならない。すなわち、トリガを掛けなければな
らない。トリガは電圧や時間で掛けることができる。上
記のインデックス信号を検出した後、所定の時間だけ遅
らしてトリガを掛ければ、測定したいセクターのヘッダ
ーの信号を取り込むことができる。セクターの先頭の信
号を取り込めたら、測定したい信号を選別して極大値や
極小値またはその極大値から極小値を引いた振幅レベル
等の測定が可能となる。

【００２５】通常、光記録媒体を検査する場合、時間短
縮を計るために全トラックを測定せず、最内周と最外周
および中央に位置するトラックを測定する。トラック内
にあるセクターの測定結果の平均値をトラック全体の評
価とするが、これも時間短縮を計るため、すべてのセク
ターを測定せず、セクターを選択して測定する。まず、
光記録媒体（光ディスク）を光記録媒体記録再生装置２
（ドライブ）にセットして回転させる（ステップＳ
１）。ピックアップ３を測定対象となるトラックまで径
方向に移動する（ステップＳ２）。

【００２６】トラックの選択、セクターの選択について
は、トラックを特定後、インデックス信号検出回路５に
よりインデックス信号を検出する。このインデックス信
号検出からタイマー回路６によって特定時間だけ遅らせ
た後トリガ信号が出力され、該トリガ信号出力後の最初
のセクターマークが検出され、それ以降の該セクターに
おける再生信号の信号波形がコンピュータ７で処理され
る。すなわち、トリガ信号出力後の最初に発生するセク
ターマーク信号の検出が、コンピュータ７での処理対象
として取り込まれる信号波形のトリガとされる。セクタ
ーマークとそのセクターは対応しており、かつ、セクタ
ーマークはそのセクターの冒頭に付されているので、こ
のセクターマーク信号の検出によってセクターが特定さ
れる。特定されたセクターの信号波形が、上記トリガを
掛けられることにより、コンピュータ７に取り込まれる
（ステップＳ３）。また、タイマー回路６を複数持つこ
とによって（複数の遅延時間を設定することによっ
て）、１トラックの中の特定の複数セクターの波形を取
り出すことができる。

【００２７】これら光記録媒体記録再生装置２、ピック
アップ３、オシロスコープ４、インデックス信号検出回
路５、タイマー回路６、コンピュータ７は、それぞれ別
個の装置として構成しても良いが、一部または全部が一
つの装置に組み込まれていても良い。一例を図４に示
す。図４においては、インデックス信号検出回路および
タイマー回路が、デジタルオシロスコープに内蔵されて
いる。

【００２８】測定するセクターは極力トラック内に偏ら
ず分散するように選択する。たとえば、トラック内に１
６セクターあると、インデックス信号から１，３，５，
７，９，１１，１３，１５番目のセクターというように
選択する。トラック内のセクター数やセクター長さはあ
らかじめ判っているので、測定したいセクターのトラッ
ク上の位置が判る。

【００２９】コンピュータ７による自動測定では、信号
波形を信号強度の軸および時間軸の２次元の座標データ
としてコンピュータ７に転送し、座標データを解析して
測定するが、信号波形には似通った不要な信号も混在し
ているので、従来方法では、不要な信号も測定し、精度
が低かった。

【００３０】本発明の方法では、まず入力された信号波
形における波形の最大値Ｖ_maxおよび最小値Ｖ_minを計測
する。次にＶ_maxよりも小さく、Ｖ_minよりも大きな信号
レベルＶ_sを設定する。信号レベルＶ_sは、Ｖ_maxとＶ_min
の間であればよいが、信号波形の平均値をＶ_aとする
と、Ｖ_a−（Ｖ_max−Ｖ_min）／８≦Ｖ_s≦Ｖ_a＋（Ｖ_max−
Ｖ_min）／８の範囲で設定することが好ましい。このよ
うにすることによって、測定精度が良好になる。

【００３１】つづいて、信号レベルＶ_sと前記信号波形
の交錯する時間軸上の点を計測し、その時間間隔があら
かじめ設定された範囲内にある信号波形を選別し、範囲
外の信号は除外する。時間間隔の選別の方法としては、
種々の方法を用いることができるが、信号レベルＶ_sと
信号波形の交錯する時間軸上の連続する３点以上を計測
し、その時間間隔が設定された範囲内にある信号波形を
選別することが好ましい。例えば、設定される時間間隔
としてΔｔ₁、Δｔ₂の２つの時間範囲をあらかじめ設定
し、図５におけるｔ_A、ｔ_B、ｔ_Cのような連続する３点
についてｔ_B−ｔ _AがΔｔ₁の範囲内に入っており、か
つ、ｔ_C−ｔ_BがΔｔ₂の範囲内に入っている信号波形の
みを選別するというものである。このようにすることに
よって、信号の選別をさらに正確に行うことができる。
この場合、Δｔ₁、Δｔ₂は、０．９≦（ｔ_B−ｔ_A）／
（ｔ_C−ｔ_B）≦１．１となるような範囲に設定すること
が、測定精度が良好になるので好ましい。そして、ｔ_A
とｔ_Bの間の極小点（あるいは極大点）とｔ_Bとｔ_Cの間
の極大点（あるいは極小点）を計測し、信号の振幅（極
大−極小）を求める（ステップＳ４）。

【００３２】このように、計測された時間間隔があらか
じめ設定された範囲内にある信号波形のみを選別して検
査、評価に供するので、解析に不要な信号が効率よく除
外される。たとえば図５に示した例では、解析に不要な
Ｂの振幅レベルは除外され、Ａの振幅レベルのみ効率よ
く測定、検査される。

【００３３】コンピュータ７で演算処理された結果は、
必要に応じて記録、あるいは表示される（ステップＳ
５）。

【００３４】その後必要に応じて、測定するセクターを
変え、さらに必要に応じて測定するトラックを変える。

【００３５】このように、本発明においては、従来の方
法では十分に分離できなかった複数の周波数の信号が混
在する波形信号群の中から、光記録媒体の検査に必要な
測定すべき信号のみを効果的に選別し、自動測定の精
度、信頼性を向上することができる。

【００３６】なお、本発明において、光記録媒体として
はとくに限定されず、光を用いてデータを書き込むもの
または記録部位各部の光学的性質（光反射率、分光反射
率、反射光の光偏波状態など）の変化または差異に基づ
いてデータの読み取りを行う光磁気記録媒体、相変化型
光記録媒体などの追記型または書換可能型の光記録媒体
などが用いられる。

【００３７】相変化型光記録媒体は、通常透明な基板上
に記録層を設けたものであり、記録層構成に、レーザ光
により結晶とアモルファスとの可逆変化が可能な特定の
金属が用いられている。基板上の層構成としては、たと
えば、透明な基板上に、少なくとも第１保護層／記録層
／第２保護層／反射層を有する層構成とすることができ
る。

【００３８】相変化型光記録媒体の記録層には、たとえ
ば、Ｔｅ−Ｇｅ−Ｓｂ−Ｐｄ合金、Ｔｅ−Ｇｅ−Ｓｂ−
Ｐｄ−Ｎｂ合金、Ｎｂ−Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅ合金、Ｐｔ−
Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅ合金、Ｎｉ−Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅ合金、
Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅ合金、Ｃｏ−Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅ合金、
Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅ合金、Ｉｎ−Ｓｅ合金、およびこれら
を主成分とする合金が用いられる。とくにＴｅ−Ｇｅ−
Ｓｂ−Ｐｄ合金、Ｔｅ−Ｇｅ−Ｓｂ−Ｐｄ−Ｎｂ合金
が、記録消去再生を繰り返しても劣化が起こり難く、さ
らに熱安定性が優れているので好ましい。とくに望まし
い記録膜組成としては、たとえば次式で表される範囲に
あることが熱安定性と繰り返し安定性に優れている点か
ら好ましい。

【００３９】Ｍ_z（Ｓｂ_xＴｅ_(1-x)）_1-y-z（Ｇｅ_0.5Ｔｅ_0.5）_y ０．３５≦ｘ≦０．５０．２０≦ｙ≦０．５０ ≦ｚ≦０．０５ここでＭはパラジウム、ニオブ、白金、銀、金、コバル
トから選ばれる少なくとも一種の金属、Ｓｂはアンチモ
ン、Ｔｅはテルル、Ｇｅはゲルマニウムを表す。また、
ｘ、ｙ、ｚおよび数字は各元素の原子の数（各元素のモ
ル数）を表す。とくにパラジウム、ニオブについては少
なくとも一種を含むことが好ましい。この場合ｚは０．
０００５以上であることが好ましい。これら合金を、基
板上に設けられた第１保護層上に、たとえばスパッタリ
ングで膜付けし、記録層が形成される。

【００４０】第１保護層および第２保護層は、記録層を
機械的に保護するとともに、基板や記録層が記録による
熱によって変形したり記録消去再生特性が劣化したりす
るのを防止したり、記録層に耐湿熱性や耐酸化性を持た
せる役割を果たす。このような保護層としてはＺｎＳ、
ＳｉＯ₂、Ｔａ₂Ｏ₅、ＩＴＯ、ＺｒＣ、ＴｉＣ、ＭｇＦ₂
などの無機膜やそれらの混合膜が使用できる。とくにＺ
ｎＳとＳｉＯ₂およびＺｎＳとＭｇＦ₂の混合膜は耐湿熱
性に優れており、さらに記録消去再生時の記録層の劣化
を抑制するので好ましい。

【００４１】反射層としては、金属または、金属酸化
物、金属窒化物、金属炭化物などと金属との混合物、た
とえばＺｒ、Ｃｒ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｓｉ、Ａｌ、Ａｕ、Ｐ
ｄ、Ｈｆなどの金属やこれらの合金、これらとＺｒ酸化
物、Ｓｉ酸化物、Ｓｉ窒化物、Ａｌ酸化物などを混合し
たものを使用できる。とくにＡｌ、Ａｕ、Ｔａやそれら
の合金やＡｌ、Ｈｆ、Ｐｄの合金などは膜の形成が容易
であり好ましい。

【００４２】基板上に、第１保護層、記録層、第２保護
層、反射層を形成する方法としては、真空雰囲気中での
薄膜形成方法、たとえばスパッタリング法、真空蒸着
法、イオンプレーティング法などを用いることができ
る。とくに組成、膜厚のコントロールが容易なことから
スパッタリング法が好ましい。

【００４３】基板としては、基板側から記録再生を行う
ためにはレーザ光が良好に透過する材料を用いることが
好ましく、たとえばポリメチルメタアクリレート樹脂、
ポリカーボネート樹脂、ポリオレフィン樹脂、エポキシ
樹脂などの有機高分子樹脂、それらの混合物、共重合体
物などやガラスなどを用いることができる。中でも、昨
今はポリカーボネート樹脂が主流となっている。

【００４４】基板は、円盤体に成形されるものである。
成型方法はとくに限定しないが、たとえば射出成形によ
ることができ、金型内に、表面に所定のグルーブやピッ
ト雄型が形成されたスタンパを装着し、スタンパからの
転写により、表面に所望のトラックが形成された基板を
形成できる。

【００４５】基板の大きさは、光記録媒体ドライブ装置
からの要求規格に合わせる必要がある。たとえば、直径
９０mmや１２０mmあるいは１３０mmの基板に成形するこ
となどが規定される。

【００４６】このような基板上に、順に、少なくとも第
１保護層／記録層／第２保護層／反射層が積層される。
この反射層の上に、さらに有機樹脂保護層を設けてもよ
い。有機樹脂保護層としては、重合性モノマーおよびオ
リゴマーを主成分とする光硬化性樹脂組成物や、熱硬化
性樹脂組成物を用いることができる。さらに、このよう
にして作製した光記録媒体２枚を接着剤等で貼り合わ
せ、貼り合わせ型の光記録媒体としてもよい。

【００４７】このようにして作製した光記録媒体を、本
発明の検査方法によって検査する。検査には、たとえば
図４に示すような装置を用いる。光記録媒体を光記録媒
体記録再生装置によって読み取り、オシロスコープに送
られる波形信号のうち検査に必要な信号のみを効率よく
選別して、振幅レベルを測定する。振幅レベルが規準値
の範囲内に入っていれば、合格と判定し、規準値から外
れていれば、不合格と判定する。検査に必要な信号のみ
を効率よく選別して検査を行うことによって、検査の精
度、信頼性を向上することができる。

【００４８】また、光記録媒体の製造工程において、本
発明の検査方法によって検査を行うことにより、不良品
を効率よく選別できるため、品質の良い光記録媒体を効
率よく製造することができる。

【００４９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の信号解析
方法によれば、従来の方法では十分に分離できなかった
複数の周波数の信号が混在する信号群の中から測定すべ
き信号のみを効率よく選別し、自動測定の精度を向上す
ることができる。

【００５０】また、本発明の光記録媒体の検査方法によ
れば、検査の精度、信頼性を向上することができる。

【００５１】また、本発明の光記録媒体の製造方法によ
れば、品質の良い光記録媒体を効率よく製造することが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施態様に係る方法の実施に用い
る光記録媒体の検査装置の概略構成図である。

【図２】光記録媒体におけるトラック、セクター、イ
ンデックス信号の関係を示す光記録媒体の概略平面図で
ある。

【図３】本発明の一実施態様に係る光記録媒体の検査
方法における制御のフローチャートである。

【図４】本発明の実施に用いる光記録媒体の検査装置
の一例を示す図である。

【図５】光記録媒体からの信号波形の一例を示す測定
チャートである。

【符号の説明】

１光記録媒体２光記録媒体記録再生装置３ピックアップ４信号波形測定手段としてのオシロスコープ５インデックス信号検出回路６タイマー回路７計算手段としてのコンピュータ１１トラック１２セクター１３インデックス信号

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】少なくとも信号波形を測定する手段およ
び測定された信号波形に基づいて計算する手段を有する
信号解析装置を用い、該信号解析装置に入力された信号
波形における波形の最大値および最小値を計測し、次に
該最大値よりも小さく、最小値よりも大きな信号レベル
Ｖ_sを設定し、該信号レベルＶ_sと前記信号波形の交錯す
る時間軸上の点を計測し、その時間間隔があらかじめ設
定された範囲内にある信号波形を選別することを特徴と
する信号解析方法。
【請求項２】信号波形の最大値をＶ_max、最小値をＶ
_min、平均値をＶ_aとすると、信号レベルＶ_sを、Ｖ_a−
（Ｖ_max−Ｖ_min）／８≦Ｖ_s≦Ｖ_a＋（Ｖ_max−Ｖ_min）／
８の範囲で設定する請求項１記載の信号解析方法。
【請求項３】信号レベルＶ_sと信号波形の交錯する時
間軸上の連続する３点以上を計測し、その時間間隔があ
らかじめ設定された範囲内にある信号波形を選別する請
求項１または２記載の信号解析方法。
【請求項４】少なくとも光記録媒体記録再生装置、信
号波形を測定する手段および測定された信号波形に基づ
いて計算する手段を有する検査装置を用い、光記録媒体
記録再生装置から出力した再生信号波形を、前記信号波
形を測定する手段に入力した後、前記計算手段に転送
し、該信号波形における波形の最大値および最小値を計
測し、次に該最大値よりも小さく、最小値よりも大きな
信号レベルＶ_sを設定し、該信号レベルＶ_sと前記信号波
形の交錯する時間軸上の点を計測し、その時間間隔があ
らかじめ設定された範囲内にある信号波形を選別して、
検査のための所定の処理を行うことを特徴とする光記録
媒体の検査方法。
【請求項５】信号波形の最大値をＶ_max、最小値をＶ
_min、平均値をＶ_aとすると、信号レベルＶ_sを、Ｖ_a−
（Ｖ_max−Ｖ_min）／８≦Ｖ_s≦Ｖ_a＋（Ｖ_max−Ｖ_min）／
８の範囲で設定する請求項４記載の光記録媒体の検査方
法。
【請求項６】信号レベルＶ_sと信号波形の交錯する時
間軸上の連続する３点以上を計測し、その時間間隔があ
らかじめ設定された範囲内にある信号波形を選別する請
求項４または５記載の光記録媒体の検査方法。
【請求項７】前記信号波形の選別および検査のための
所定の処理に際し、光記録媒体に記録されているインデ
ックス信号を検出してから、タイマー回路に設定された
遅延時間経過後のセクターからの再生信号波形を測定す
る、請求項４〜６のいずれかに記載の光記録媒体の検査
方法。
【請求項８】基板上に少なくとも記録層を形成した後
に、請求項４〜７のいずれかに記載の検査方法を用いて
選別を行うことを特徴とする光記録媒体の製造方法。