JP2000245721A - Radiographic image pickup device - Google Patents
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、マイクロフォー
カス放射線源を用いて高精細な放射線画像を得る放射線
画像撮像装置に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a radiographic imaging apparatus for obtaining a high-definition radiographic image using a microfocus radiation source.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来より、医療診断等を目的として放射
線画像を生成することが行われている。この放射線画像
の生成では、放射線をX線源から被写体に照射して、被
写体を透過した放射線を輝尽性蛍光体を用いた放射線画
像変換パネルや複数の検出素子を2次元的に配列させた
フラットパネルディテクタで検出することが行われてい
る。2. Description of the Related Art Radiation images have conventionally been generated for medical diagnosis and the like. In the generation of the radiation image, the radiation was irradiated to the subject from the X-ray source, and the radiation transmitted through the subject was two-dimensionally arrayed with a radiation image conversion panel using a stimulable phosphor and a plurality of detection elements. The detection is performed by a flat panel detector.
【0003】この放射線画像変換パネルを用いる方法で
は、放射線のエネルギーの一部を蓄積して、その後可視
光等の輝尽励起光を照射すると蓄積されたエネルギーに
応じて輝尽発光を示す輝尽性蛍光体を利用し、この輝尽
性蛍光体を有する輝尽性蛍光体パネルに被写体の放射線
画像情報を記録したのちレーザ光等を照射し、輝尽発光
を光電変換手段により電気信号に変換して各画素の画像
データが生成される。フラットパネルディテクタを用い
る方法では、2次元的に配列された複数の検出素子で照
射された放射線の線量に応じた電気信号を生成し、この
電気信号に基づいて画像データが生成される。In this method using a radiation image conversion panel, when a part of the energy of radiation is accumulated and then irradiated with stimulating excitation light such as visible light, a stimulating luminescence exhibiting a stimulating luminescence according to the accumulated energy is obtained. Using a stimulable phosphor, the stimulable phosphor panel having the stimulable phosphor is recorded with radiation image information of a subject, and then irradiated with a laser beam or the like, and the stimulable luminescence is converted into an electric signal by a photoelectric conversion unit. Thus, image data of each pixel is generated. In the method using the flat panel detector, an electric signal is generated in accordance with the dose of radiation emitted from the plurality of detection elements arranged two-dimensionally, and image data is generated based on the electric signal.
【0004】このため、放射線写真フィルムを用いる場
合のように、化学的現像および定着等の処理が必要ない
ことから、速やかに放射線画像を得ることができると共
に、生成された画像データを用いて種々の放射線画像処
理を行うことができる。また放射線画像変換パネルやフ
ラットパネルディテクタは、放射線写真フィルムに比べ
て高感度であることから、被写体の被曝線量を低減させ
ることができる。[0004] For this reason, unlike the case of using a radiographic film, there is no need for processing such as chemical development and fixing, so that a radiographic image can be obtained quickly and various images can be obtained by using the generated image data. Radiation image processing can be performed. Further, since the radiation image conversion panel and the flat panel detector have higher sensitivity than the radiographic film, the exposure dose of the subject can be reduced.
【0005】一方、X線源については、従来のX線源よ
りも焦点径を小さくして透視画像の空間分解能を向上さ
せることができるマイクロフォーカスX線源が実用化さ
れている。このマイクロフォーカスX線源は、図12A
に示す従来のX線源に比べて図12Bに示すように焦点
径DFが小さいものである。ここで、線源が焦点径DF
を有するために生ずる半影(線源からの放射線が直接照
射される領域と線源からの放射線が被写体を透過して照
射される領域の重なりあう領域)の大きさDSは式
(1)から求めることができ、焦点径DFの小さいマイ
クロフォーカスX線源を用いることにより、半影DHS
を少ないものとすることができ、拡大撮影や厚い被写体
を撮影しても高精細な画像を得ることができる。 DHS=(R2/R1)DF ・・・(1) なお、式(1)において、「R1」は線源から被写体ま
での距離を示しており、「R2」は被写体から放射線画
像変換パネルやフラットパネルディテクタ等の読取装置
までの距離を示している。On the other hand, as the X-ray source, a micro-focus X-ray source capable of improving the spatial resolution of a fluoroscopic image by making the focal diameter smaller than that of a conventional X-ray source has been put to practical use. This microfocus X-ray source is shown in FIG.
12B is smaller than the conventional X-ray source shown in FIG. Here, the source is the focal diameter DF
The size DS of the penumbra (the area where the radiation from the source directly radiates and the area where the radiation from the source penetrates the subject and overlaps) caused by the presence of By using a microfocus X-ray source having a small focal diameter DF, the penumbra DHS can be obtained.
Can be reduced, and a high-definition image can be obtained even when an enlarged image or a thick subject is imaged. DHS = (R2 / R1) DF (1) In the expression (1), “R1” indicates a distance from the radiation source to the subject, and “R2” indicates a radiation image conversion panel or flat from the subject. The distance to a reading device such as a panel detector is shown.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】ところで、放射線検出
部に照射される放射線の線量は、線源から読取装置まで
の距離の2乗に反比例して変化する。このため、図12
に示す距離R1,R2を可変させて、読取装置で読み取
られた被写体の放射線画像を所望の大きさに調整する際
には、撮影毎に線源からの照射線量や放射線検出部での
放射線画像の読み取りでのゲインを調整しなければなら
ない。By the way, the dose of radiation applied to the radiation detector changes in inverse proportion to the square of the distance from the radiation source to the reader. Therefore, FIG.
In order to adjust the radiation image of the subject read by the reader to a desired size by changing the distances R1 and R2 shown in FIG. You have to adjust the gain in reading.
【0007】また、距離R1,R2を可変させて放射線
画像の大きさを変化させたときには、得られた放射線画
像から被写体の大きさを正しく認識することができなく
なってしまう。さらに、半影の影響による解像度の低下
がどの程度生じているのかも判別できなくなってしま
う。このため、得られた放射線画像が距離R1,R2を
どのように設定して撮影されたものであるか等の情報を
放射線画像毎に記録しておかなければならない。When the size of the radiographic image is changed by changing the distances R1 and R2, the size of the subject cannot be correctly recognized from the obtained radiographic image. Further, it is impossible to determine how much the resolution has been reduced due to the influence of penumbra. For this reason, it is necessary to record information such as how the obtained radiographic image is captured by setting the distances R1 and R2 for each radiographic image.
【0008】そこで、この発明では所望の大きさの高精
細な放射線画像を得ることができると共に、撮影された
被写体のサイズを正しく認識することができる放射線画
像撮像方法および放射線画像撮像装置を提供するもので
ある。Accordingly, the present invention provides a radiographic image capturing method and a radiographic image capturing apparatus capable of obtaining a high-definition radiographic image of a desired size and correctly recognizing the size of a photographed subject. Things.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】この発明に係る放射線画
像撮像装置は、被写体に放射線を照射するマイクロフォ
ーカス放射線源と、被写体を透過した放射線に基づく放
射線画像を読み取って画像データを生成する読取手段
と、読取手段で放射線画像を読み取りを制御する制御手
段を有し、少なくとも被写体と読取手段の間隔を可変可
能とし、制御手段では、間隔に応じて放射線画像の読取
ゲインを設定するものである。また、マイクロフォーカ
ス放射線源と被写体と読取手段の位置を判別してそれぞ
れの間隔を検出する位置検出手段や、マイクロフォーカ
ス放射線源と被写体と読取手段のそれぞれの間隔から、
放射線画像の拡大率を算出して放射線画像のサイズを判
別するためのスケール情報を生成するスケール情報生成
手段、画像表示手段、マイクロフォーカス放射線源の焦
点の大きさとマイクロフォーカス放射線源と被写体と読
取手段のそれぞれの間隔から、マイクロフォーカス放射
線源の焦点の半影の大きさを算出する半影判別手段を有
するものである。A radiation image capturing apparatus according to the present invention includes a microfocus radiation source that irradiates a subject with radiation, and a reading unit that reads a radiation image based on radiation transmitted through the subject to generate image data. And control means for controlling the reading of the radiation image by the reading means, wherein at least the distance between the subject and the reading means is made variable, and the control means sets the reading gain of the radiation image in accordance with the distance. Further, from a position detecting means for determining the position of the microfocus radiation source, the subject, and the reading means to detect the respective distances, and from the respective distances between the microfocus radiation source, the subject, and the reading means,
Scale information generating means for calculating the magnification of the radiographic image and generating scale information for determining the size of the radiographic image, image display means, focus size of the microfocus radiation source, microfocus radiation source, subject, and reading means And a penumbra discriminating means for calculating the size of the penumbra of the focal point of the microfocus radiation source from the respective intervals.
【0010】また、被写体に放射線を照射するマイクロ
フォーカス放射線源と、被写体を透過した放射線に基づ
く放射線画像を読み取って画像データを生成する読取手
段と、読取手段で生成された画像データを処理する画像
処理手段を有し、画像処理手段では、画像データに基づ
き拡大画像の画像データを生成するものである。また画
像処理手段は、マイクロフォーカス放射線源の焦点径の
半影に基づき、半影によって生ずる影響を防止する処
理、位相差撮影時の輪郭強調処理、位相差撮影時に検出
された境界位置を正しい位置に補正する位置補正処理を
行うものである。A microfocus radiation source for irradiating the subject with radiation; reading means for reading a radiation image based on the radiation transmitted through the subject to generate image data; and an image for processing the image data generated by the reading means. It has a processing means, and the image processing means generates image data of an enlarged image based on the image data. Further, the image processing means performs processing for preventing the influence caused by the penumbra based on the penumbra of the focal diameter of the microfocus radiation source, contour emphasis processing at the time of phase contrast imaging, and setting the boundary position detected at the time of phase contrast imaging to the correct position. The position correction process is performed to correct the position.
【0011】この発明においては、被写体を透過したマ
イクロフォーカス放射線源からの放射線に基づく放射線
画像が、輝尽性蛍光体を用いた放射線画像変換パネル、
あるいはシンチレータやマイクロプレートを使用して構
成されたフラットパネルディテクタに記録されると共
に、少なくとも被写体と放射線画像変換パネルやフラッ
トパネルディテクタの間隔が可変可能とされて、この間
隔に応じて放射線画像変換パネルやフラットパネルディ
テクタに記録された放射線画像の読取ゲインが設定され
る。また、半影判別手段によってマイクロフォーカスX
線源の焦点径の半影が算出されて、放射線画像の読取画
素サイズは半影の大きさの0.8倍以上、好ましくは
0.9倍以上の大きさであって、所望の鮮鋭度となるよ
うに設定される。In the present invention, a radiation image based on radiation from a microfocus radiation source transmitted through a subject is converted into a radiation image conversion panel using a stimulable phosphor,
Alternatively, it is recorded on a flat panel detector configured using a scintillator or a microplate, and at least the distance between the subject and the radiation image conversion panel or the flat panel detector can be changed. And the reading gain of the radiation image recorded on the flat panel detector. Further, the microfocus X
The penumbra of the focal diameter of the source is calculated, and the read pixel size of the radiation image is 0.8 times or more, preferably 0.9 times or more the size of the penumbra, and the desired sharpness Is set to be
【0012】放射線画像の読み取りによって得られた画
像データを用いて、拡大画像の画像データを生成する処
理、半影によって生ずる影響を防止する処理、位相差撮
影時の輪郭強調処理、位相差撮影時に検出された境界位
置を正しい位置に補正する位置補正処理等の画像処理が
行われる。A process for generating image data of an enlarged image using image data obtained by reading a radiation image, a process for preventing the effect of penumbra, a contour enhancement process for phase contrast photographing, and a process for phase contrast photographing Image processing such as position correction processing for correcting the detected boundary position to a correct position is performed.
【0013】画像データは、画像表示手段い供給され
て、撮影された放射線画像が画像表示手段の画面上に表
示される。また、放射線画像の拡大率を算出して放射線
画像のサイズを判別するためのスケール情報がスケール
情報生成手段で生成されて、このスケール情報に基づく
表示が放射線画像と共に表示される。[0013] The image data is supplied to the image display means, and the taken radiographic image is displayed on the screen of the image display means. Further, scale information for calculating the magnification of the radiographic image to determine the size of the radiographic image is generated by the scale information generating means, and a display based on the scale information is displayed together with the radiographic image.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】以下、この発明に係る放射線画像
撮像装置について図を用いて詳細に説明する。図1は、
放射線画像撮像装置の全体の構成を示している。マイク
ロフォーカスX線源11にはX線源コントローラ12が
接続されており、X線源コントローラ12によってマイ
クロフォーカスX線源11から照射される放射線の照射
線量が制御される。また、マイクロフォーカスX線源1
1から放射された放射線は、被写体15を透過して読取
装置30内のマイクロフォーカスX線源側に装着されて
いる放射線画像変換パネルまたはフラットパネルディテ
クタ(以下「撮像パネル」という)に照射される。ま
た、この発明において被写体とは、人体または人体の一
部のことをいうものとする。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing a radiation image pickup apparatus according to the present invention. FIG.
1 shows the overall configuration of a radiation image capturing apparatus. An X-ray source controller 12 is connected to the microfocus X-ray source 11, and the X-ray source controller 12 controls an irradiation dose of radiation emitted from the microfocus X-ray source 11. Micro focus X-ray source 1
The radiation radiated from 1 is transmitted through the subject 15 and radiated to a radiation image conversion panel or a flat panel detector (hereinafter referred to as “imaging panel”) mounted on the microfocus X-ray source side in the reading device 30. . In the present invention, the subject refers to a human body or a part of a human body.
【0015】読取装置30では、撮像パネルに照射され
た放射線の線量に基づく画像データを生成してコントロ
ール装置60に供給する。コントロール装置60では、
供給された画像データを用いて種々の画像処理を行い、
診断等に適した放射線画像の画像データに変換して保存
する。The reading device 30 generates image data based on the dose of radiation applied to the imaging panel and supplies the image data to the control device 60. In the control device 60,
Perform various image processing using the supplied image data,
The image data is converted into image data of a radiation image suitable for diagnosis or the like and stored.
【0016】コントロール装置60には、X線源コント
ローラ12や位置判別装置20および入力装置25が接
続されており、X線源コントローラ12では、マイクロ
フォーカスX線源11から照射される放射線の照射線量
を示す放射線情報を生成してコントロール装置60に供
給する。また、位置判別装置20では、マイクロフォー
カスX線源11と被写体15との間隔や被写体15と読
取装置30との間隔を示す距離情報を生成してコントロ
ール装置60に供給する。また、入力装置25を用いて
患者情報や撮影部位等の情報および放射線画像の拡大率
等がコントロール装置60に供給される。An X-ray source controller 12, a position discriminating device 20, and an input device 25 are connected to the control device 60. The X-ray source controller 12 controls the irradiation dose of radiation emitted from the microfocus X-ray source 11. Is generated and supplied to the control device 60. In addition, the position determination device 20 generates distance information indicating the distance between the microfocus X-ray source 11 and the subject 15 and the distance between the subject 15 and the reading device 30 and supplies the distance information to the control device 60. In addition, the input device 25 is used to supply the control device 60 with information such as patient information and an imaging region, a magnification of a radiographic image, and the like.
【0017】コントロール装置60では、放射線情報や
距離情報および患者情報等に基づいて読取装置30での
画像読取条件の設定等を行うための制御信号を生成して
読取装置30に供給する。また読取装置30から供給さ
れた画像データを用いて種々の画像処理を行い、診断等
に適した放射線画像の画像データに変換する。このコン
トロール装置60には、画像表示装置80が接続されて
おり、画像処理前の画像データや画像処理後の画像デー
タが画像表示装置80に供給されて、画像表示装置80
で放射線画像が表示される。さらに、コントロール装置
60では、位置判別装置20からの距離情報に基づき放
射線画像の拡大率を算出して、あるいは入力装置25に
よって入力された拡大率に基づき、放射線画像のサイズ
を判別するためのスケール情報を生成する。このスケー
ル情報が画像表示装置80に供給されて、このスケール
情報に基づく表示が放射線画像と共に画像表示装置80
で表示される。The control device 60 generates a control signal for setting image reading conditions in the reading device 30 based on radiation information, distance information, patient information and the like, and supplies the control signal to the reading device 30. Various image processing is performed using the image data supplied from the reading device 30, and the image data is converted into radiation image data suitable for diagnosis or the like. An image display device 80 is connected to the control device 60, and image data before image processing and image data after image processing are supplied to the image display device 80.
Displays a radiation image. Further, the control device 60 calculates a magnification of the radiation image based on the distance information from the position determination device 20 or a scale for determining the size of the radiation image based on the magnification input by the input device 25. Generate information. The scale information is supplied to the image display device 80, and the display based on the scale information is displayed together with the radiation image on the image display device 80.
Is displayed with.
【0018】また、拡大撮影を行う際に、被写体が動い
てしまうと放射線の画像のブレを生じてしまうことか
ら、被写体15を固定するための被写体ホルダ16が設
けられる。In addition, when the subject is moved during the enlargement photographing, the image of the radiation is blurred. Therefore, a subject holder 16 for fixing the subject 15 is provided.
【0019】さらに、被写体15のマイクロフォーカス
X線源11側に放射線を遮蔽する材料で形成されたマス
ク18aを設けるものとすれば、拡大撮影部位以外に放
射線が照射されてしまうことを防止できる。また、マス
ク18aの開口部分の大きさを可変可能とすることで、
マイクロフォーカスX線源11から被写体15までの距
離「R1」や被写体15から読取装置30までの距離
「R2」を可変しても、放射線の照射部分を読取装置3
0の放射線画像変換パネルやフラットパネルディテクタ
内に収めることができる。また、被写体15の読取装置
30側に放射線を遮蔽する材料で形成されたマスク18
bを設けるものとすれば、散乱された放射線の影響を防
止することもできる。Further, if a mask 18a made of a material for shielding radiation is provided on the microfocus X-ray source 11 side of the subject 15, it is possible to prevent radiation from being irradiated to an area other than the magnified imaging region. Also, by making the size of the opening portion of the mask 18a variable,
Even if the distance “R1” from the microfocus X-ray source 11 to the subject 15 and the distance “R2” from the subject 15 to the reading device 30 are changed, the irradiation part of the radiation is read by the reading device 3.
0 can be accommodated in a radiation image conversion panel or flat panel detector. Further, a mask 18 formed of a material for shielding radiation is provided on the reading device 30 side of the subject 15.
If b is provided, the effect of scattered radiation can also be prevented.
【0020】読取装置30では、輝尽性蛍光体を使用し
た放射線画像変換パネル(以下「イメージングプレー
ト」という)やシンチレータ等を使用したフラットパネ
ルディテクタが用いられる。In the reading device 30, a radiation image conversion panel (hereinafter referred to as "imaging plate") using a stimulable phosphor or a flat panel detector using a scintillator or the like is used.
【0021】図2は、塗布型のイメージングプレートを
用いた読取装置30の構成を示している。このイメージ
ングプレート31は、図3に示すように支持体311上
に輝尽性蛍光体層312を塗布して形成し、更に輝尽性
蛍光体層312上に保護層313を設けた構成とされて
いる。このイメージングプレート31は支持体311側
をマイクロフォーカスX線源11側とし、輝尽性蛍光体
層312側を放射線画像読取装置の内面側として設けら
れており、被写体15を撮影したときには、輝尽性蛍光
体層312に照射された放射線の線量に応じたエネルギ
ーが蓄積される。放射線画像を読み取る際には、このエ
ネルギーを蓄積したイメージングプレート31の輝尽性
蛍光体層312の表面をレーザ光により走査して輝尽性
蛍光体を励起し、輝尽性蛍光体から放出された輝尽発光
を光電的に検出して画像データの生成が行われる。FIG. 2 shows the configuration of a reading device 30 using a coating type imaging plate. As shown in FIG. 3, the imaging plate 31 is formed by coating a stimulable phosphor layer 312 on a support 311 and further forming a protective layer 313 on the stimulable phosphor layer 312. ing. The imaging plate 31 is provided with the support 311 side as the microfocus X-ray source 11 side and the stimulable phosphor layer 312 side as the inner surface side of the radiation image reading apparatus. Energy corresponding to the dose of the radiation applied to the luminescent phosphor layer 312 is stored. When reading a radiation image, the surface of the stimulable phosphor layer 312 of the imaging plate 31 storing the energy is scanned with a laser beam to excite the stimulable phosphor and emitted from the stimulable phosphor. The stimulated emission is photoelectrically detected to generate image data.
【0022】図2に示す光ビーム発生器(ガスレーザ、
固体レーザ、半導体レーザ等)320では、出射強度が
制御された光ビームを発生する。この光ビームは、フィ
ルタ(図示せず)によってイメージングプレート31の
輝尽性蛍光体層312から発生される輝尽発光の波長領
域に対応する波長領域の部分がカットされたのち、その
ビーム径が正碓に調整されて走査部322に入射する。
走査部322は、ガルバノミラーやポリゴンミラー等の
光偏向器やfθレンズを用いて構成されており、光偏向
器によって入射されたレーザ光を偏向すると共に、fθ
レンズによって常に均一のビーム速度で走査がなされる
ように調整される。The light beam generator (gas laser,
The solid-state laser, the semiconductor laser, and the like 320 generate a light beam whose emission intensity is controlled. This light beam is cut by a filter (not shown) in a wavelength region corresponding to the wavelength region of stimulable light emission generated from the stimulable phosphor layer 312 of the imaging plate 31, and then has a beam diameter of The light is adjusted to the right angle and enters the scanning unit 322.
The scanning unit 322 is configured by using an optical deflector such as a galvanometer mirror or a polygon mirror or an fθ lens.
The lens is adjusted so that scanning is always performed at a uniform beam speed.
【0023】走査部322から出射されたレーザ光は、
反射鏡324により反射され、イメージングプレート3
1の輝尽性蛍光体層312の表面上に入射する。The laser beam emitted from the scanning unit 322 is
Reflected by the reflecting mirror 324, the imaging plate 3
The light is incident on the surface of one stimulable phosphor layer 312.
【0024】イメージングプレート31の輝尽性蛍光体
層312は、レーザ光が照射されると、蓄積記録してい
た放射線エネルギーに比例する光量の輝尽発光が行われ
て、この輝尽発光は集光体331に入射する。集光体3
31は、その受光端部が直線状をなし、イメージングプ
レート31の輝尽性蛍光体層312の表面上の走査線に
対向するように近接して配置され、その射出端部は、フ
ィルタ332を介してフォトマルチプライアなどの光電
変換型の光検出器333の受光面に接続されている。こ
の集光体331は、例えばアクリル系合成樹脂などの透
明な熱可塑性樹脂を加工して作られており、受光端部か
ら入射した光が、その内面で、全反射を繰り返しなが
ら、射出端部を経て、光検出器333の受光面に伝達さ
れるように、その形状が定められている。したがって、
レーザ光の照射に応じて、イメージングプレート31の
輝尽性蛍光体層312から放出された輝尽発光は、集光
体331に入射し、その内部で全反射を繰り返しながら
射出端部を継て、光検出器333により受光される。When the laser light is applied to the stimulable phosphor layer 312 of the imaging plate 31, the stimulable phosphor layer 312 emits stimulable light in an amount proportional to the radiation energy stored and recorded. Light enters the light body 331. Light collector 3
The light-receiving end 31 has a linear shape, and is disposed close to the scanning line on the surface of the stimulable phosphor layer 312 of the imaging plate 31 so as to face the scanning line. It is connected to a light receiving surface of a photoelectric conversion type photodetector 333 such as a photomultiplier via the like. The light collector 331 is made by processing a transparent thermoplastic resin such as an acrylic synthetic resin, for example. The light incident from the light receiving end is repeatedly reflected on the inner surface of the light receiving end by the light emitting end. , The shape is determined so that the light is transmitted to the light receiving surface of the photodetector 333. Therefore,
The stimulated emission emitted from the stimulable phosphor layer 312 of the imaging plate 31 in response to the irradiation of the laser beam is incident on the light collector 331 and repeats the total reflection inside the light collector 331 to repeat the emission end. , Are received by the photodetector 333.
【0025】光検出器333の受光面に設けられたフィ
ルタ332は、イメージングプレート31の輝尽性蛍光
体層312から放出される輝尽発光の波長領域の光のみ
を透過し、レーザ光の波長領域の光をカットするための
ものである。The filter 332 provided on the light-receiving surface of the photodetector 333 transmits only light in the wavelength region of stimulable light emitted from the stimulable phosphor layer 312 of the imaging plate 31, and the wavelength of laser light. This is for cutting light in the area.
【0026】光検出器333では、イメージングプレー
ト31の輝尽性蛍光体層312から放出された輝尽発光
のみを光電的に検出するように構成されている。ここ
で、光検出器333によって輝尽発光を光電変換するこ
とにより得られた電流信号は、電流/電圧変換部334
に供給されて電圧信号に変換されたのち、増幅部335
で所定のレベルの電圧信号に増幅された後、A/D変換
器336に人力される。増幅された電圧信号は、A/D
変換器336において、信号変動幅に適したスケールフ
ァクタでディジタル信号に変換されて画像データDTと
して出力される。The photodetector 333 is configured to photoelectrically detect only the stimulated emission emitted from the stimulable phosphor layer 312 of the imaging plate 31. Here, a current signal obtained by photoelectrically converting the stimulated emission by the photodetector 333 is converted into a current / voltage converter 334.
, And converted into a voltage signal, and then amplified
Is amplified to a voltage signal of a predetermined level, and is manually input to the A / D converter 336. The amplified voltage signal is A / D
In the converter 336, the digital signal is converted into a digital signal with a scale factor suitable for the signal fluctuation width and output as image data DT.
【0027】また、読取装置30には読取制御部340
が設けられており、読取制御部340では、光ビーム発
生器320の光ビーム強度調整、高圧電源341の電源
電圧調整による光検出器333のゲイン調整、電流/電
圧変換部334と増幅部335のゲイン調整、及びA/
D変換器336の入力ダイナミックレンジの調整が行な
われ、少なくとも被写体15と読取装置30の間隔に応
じて読取ゲインが総合的に調整される。The reading device 30 includes a reading control unit 340.
The read controller 340 adjusts the light beam intensity of the light beam generator 320, adjusts the gain of the photodetector 333 by adjusting the power supply voltage of the high-voltage power supply 341, and adjusts the current / voltage converter 334 and the amplifier 335. Gain adjustment and A /
The input dynamic range of the D converter 336 is adjusted, and the reading gain is comprehensively adjusted at least according to the distance between the subject 15 and the reading device 30.
【0028】なお、放射線画像の読み取りでは、レーザ
光の照射位置と集光体331の位置を例えば図の矢印A
方向に移動させてイメージングプレート31の全面に対
して放射線画像の読み取りを行う。あるいは、イメージ
ングプレート31を矢印A方向に移動させてイメージン
グプレート31の全面に対して放射線画像の読み取りを
行う。In reading a radiation image, the irradiation position of the laser beam and the position of the condenser 331 are, for example, indicated by arrows A in the figure.
The radiation image is read over the entire surface of the imaging plate 31 while being moved in the direction. Alternatively, the radiation image is read over the entire surface of the imaging plate 31 by moving the imaging plate 31 in the direction of arrow A.
【0029】さらに、第2の構成としてイメージングプ
レート31を複数設けるものとし、エネルギーの蓄えら
れたイメージングプレートを新たなイメージングプレー
トに順次交換すると共に、エネルギーの蓄えられたイメ
ージングプレートを放射線の照射位置とは異なる場所に
搬送して放射線画像の読み取りを行うものとすれば、新
たなイメージングプレートを用いて放射線画像の撮影が
行われている場合であっても、既に撮影に用いられたイ
メージングプレートから放射線画像を読み取ることがで
きる。Further, as a second configuration, a plurality of imaging plates 31 are provided, and the imaging plate in which energy is stored is sequentially replaced with a new imaging plate, and the imaging plate in which energy is stored is changed with the radiation irradiation position. If the radiographic image is read by transporting it to a different location, even if a radiographic image is being captured using a new imaging plate, radiation from the imaging plate already used for Images can be read.
【0030】また、第3の構成として光ビーム発生器3
20や集光体331、光検出器333等をイメージング
プレート31とは別個に設けるものとし、エネルギーの
蓄えられたイメージングプレート31を別個に設けた放
射線画像読取装置に装着して画像の読み取りを行うもの
としても良いことは勿論である。As a third configuration, the light beam generator 3
20, the light collector 331, the photodetector 333, and the like are provided separately from the imaging plate 31, and the image is read by attaching the imaging plate 31 storing the energy to a separately provided radiation image reading apparatus. Of course, it may be good.
【0031】ここで、放射線照射位置とイメージングプ
レートの放射線画像を読み取る位置が異なる上記第2お
よび第3の構成の場合には、イメージングプレート31
は輝尽性蛍光体層312側をマイクロフォーカスX線源
11側とすることが好ましい。Here, in the case of the above-described second and third configurations in which the radiation irradiation position and the position where the radiation image of the imaging plate is read are different, the imaging plate 31
It is preferable that the stimulable phosphor layer 312 side is the microfocus X-ray source 11 side.
【0032】図4は、コントロール装置60の構成を示
している。コントロール装置60の動作を制御するため
のCPU(Central Processing Unit)61には、システ
ムバス62と画像バス63と入力インタフェース67が
接続される。このコントロール装置60の動作を制御す
るためのCPU61は、メモリ64に記憶された制御プ
ログラムに基づいて動作が制御される。またCPU61
では、予め記憶されているマイクロフォーカスX線源の
焦点径と、位置判別装置20からの距離情報や入力装置
25から入力された拡大率に基づき、読取装置30上に
生ずる半影の大きさが算出される。FIG. 4 shows the configuration of the control device 60. A system bus 62, an image bus 63, and an input interface 67 are connected to a CPU (Central Processing Unit) 61 for controlling the operation of the control device 60. The operation of the CPU 61 for controlling the operation of the control device 60 is controlled based on a control program stored in the memory 64. CPU 61
Then, based on the focal diameter of the microfocus X-ray source stored in advance, the distance information from the position discriminating device 20 and the magnification factor input from the input device 25, the size of the penumbra generated on the reading device 30 is reduced. Is calculated.
【0033】システムバス62と画像バス63には、撮
影制御部66、出力インタフェース68、フレームメモ
リ制御部69、ディスク制御部70、スケール情報生成
部71、画像処理部76等が接続されており、システム
バス62を利用しCPU61によって各部の動作が制御
されると共に、画像バス63を介して各部間での画像デ
ータの転送等が行われる。A shooting control unit 66, an output interface 68, a frame memory control unit 69, a disk control unit 70, a scale information generation unit 71, an image processing unit 76, and the like are connected to the system bus 62 and the image bus 63. The operation of each unit is controlled by the CPU 61 using the system bus 62, and image data is transferred between the units via the image bus 63.
【0034】撮影制御部66では、読取装置30の動作
や読取ゲイン等を制御するための制御信号を生成して読
取装置30に供給すると共に、読取装置30から画像デ
ータを読み出してフレームメモリ制御部69に供給す
る。また、CPU61で算出された半影の大きさに応じ
た読取画素サイズの設定を行う。The photographing control unit 66 generates a control signal for controlling the operation and the reading gain of the reading device 30 and supplies the control signal to the reading device 30, and reads out image data from the reading device 30 to read the image data from the frame memory control unit. Supply to 69. In addition, a read pixel size is set according to the size of the penumbra calculated by the CPU 61.
【0035】フレームメモリ制御部69には、フレーム
メモリ72が接続されており、読取装置30で生成され
た画像データがフレームメモリ72に記憶される。フレ
ームメモリ72に記憶された画像データは読み出されて
ディスク制御部70に供給される。また、フレームメモ
リ72には、読取装置30から供給された画像データを
画像処理部76で処理してから記憶するものとしてもよ
い。A frame memory 72 is connected to the frame memory controller 69, and image data generated by the reading device 30 is stored in the frame memory 72. The image data stored in the frame memory 72 is read and supplied to the disk control unit 70. The frame memory 72 may store the image data supplied from the reading device 30 after the image data is processed by the image processing unit 76.
【0036】フレームメモリ72からディスク制御部7
0に画像データを供給する際には、例えば連続して画像
データが読み出されてディスク制御部70内のFIFO
メモリに書き込まれ、その後順次ディスク装置73に記
録される。From the frame memory 72 to the disk controller 7
0, for example, when the image data is read out continuously and the FIFO
The data is written to the memory and then sequentially recorded on the disk device 73.
【0037】フレームメモリ72から読み出された画像
データやディスク装置73から読み出された画像データ
は、出力インタフェース68を介して画像表示装置80
に供給されて、画像表示装置80の画面上に画像データ
に基づく放射線撮影画像が表示される。The image data read from the frame memory 72 and the image data read from the disk device 73 are transmitted to the image display device 80 via the output interface 68.
And a radiographic image based on the image data is displayed on the screen of the image display device 80.
【0038】スケール情報生成部71では、位置検出装
置20から撮影制御部66を介して供給された位置情報
や、後述する入力装置25から入力インタフェース67
を介して入力された拡大率等に基づいて、放射線画像の
サイズを判別するためのスケール情報を生成する。この
生成されたスケール情報は、出力インタフェース68を
介して画像表示装置80に供給される。The scale information generation unit 71 receives the position information supplied from the position detection device 20 via the photographing control unit 66 and the input interface 67 from the input device 25 described later.
The scale information for determining the size of the radiation image is generated based on the enlargement ratio and the like input via the. The generated scale information is supplied to the image display device 80 via the output interface 68.
【0039】画像処理部76では、読取装置30から撮
影制御部66を介して供給された画像データDTの照射
野認識処理、関心領域設定、正規化処理および階調処理
などを行う。また、周波数強調処理やダイナミックレン
ジ圧縮処理等を行うものとしてもよい。さらに画像処理
部76では、半影の影響の防止するための処理や、位相
差撮影が行われたときに、被写体の輪郭を判別し易くす
る等の処理を行う。なお、画像処理部76をCPU61
が兼ねる構成として、画像処理等を行うこともできる。The image processing unit 76 performs an irradiation field recognition process, a region of interest setting, a normalization process, a gradation process, and the like of the image data DT supplied from the reading device 30 via the imaging control unit 66. Further, frequency emphasis processing, dynamic range compression processing, and the like may be performed. Further, the image processing unit 76 performs a process for preventing the influence of penumbra, and a process for making it easy to determine the contour of the subject when the phase contrast imaging is performed. Note that the image processing unit 76 is
The image processing or the like can also be performed as a configuration that also serves as a device.
【0040】入力インタフェース67にはキーボード等
の入力装置25が接続される。この入力装置25を操作
することで、撮影によって得られた画像データを識別す
るための情報や放射線画像の拡大率などの撮影に関する
情報等の管理情報の入力が行われる。また、管理情報の
入力は、キーボードを使用するだけでなく、磁気カー
ド、バーコード、HIS(病院内情報システム:ネット
ワークによる情報管理)等を利用しても行われる。The input interface 67 is connected to the input device 25 such as a keyboard. By operating the input device 25, management information such as information for identifying image data obtained by imaging and information on imaging such as a magnification ratio of a radiation image is input. The input of the management information is performed not only by using a keyboard but also by using a magnetic card, a bar code, an HIS (In-Hospital Information System: information management by network), or the like.
【0041】なお、フレームメモリ72には、読取装置
30から供給された画像データを記憶するものとした
が、供給された画像データを画像処理部76等で処理し
てから記憶するものとしてもよい。また、ディスク装置
73には、フレームメモリ72に記憶されている画像デ
ータ、すなわち読取装置30から供給された画像データ
やその画像データを画像処理部76等で処理した画像デ
ータを、管理情報などと共に保存することができる。The image data supplied from the reading device 30 is stored in the frame memory 72. However, the image data supplied may be processed by the image processing unit 76 or the like and then stored. . The disk device 73 stores image data stored in the frame memory 72, that is, image data supplied from the reading device 30 and image data obtained by processing the image data by the image processing unit 76 and the like, together with management information and the like. Can be saved.
【0042】ここで、読取装置30が塗布型のイメージ
ングプレートを用いて構成されている場合、輝尽性蛍光
体としては、放射線のエネルギーを蓄積可能であると共
に、電磁波によって励起されて蓄積している放射線のエ
ネルギーを光として放出可能なものであれば良く、特に
限定されるものではないが、可視光波長域の光によって
励起可能であることが望ましい。Here, when the reading device 30 is constituted by using a coating type imaging plate, the stimulable phosphor can not only store radiation energy but also be excited and stored by an electromagnetic wave. Any type of radiation can be used as long as it can emit the energy of the radiation as light, and is not particularly limited, but it is desirable that the radiation can be excited by light in the visible light wavelength range.
【0043】具体的には、特開平7−233369号公
報に開示された一般式 Ba1-XMII XFX:yMI,zLn (但し、MIIはSr及びCaからなる群より選ばれる少
なくとも一種のアルカリ土類金属を表し、MIはLi,
Na,K,Rb,およびCsからなる群より選ばれる少
なくとも一種のアルカリ金属を表し、XはCl,Brお
よびIからなる群より選ばれる少なくとも一種のハロゲ
ンを表し、LnはCe,Pr,Sm,Eu,Gd,T
b,TmおよびYbからなる群より選ばれる少なくとも
一種の希土類元素を表わし、x,y,zはそれぞれ0≦
x≦0.5、0≦y≦0.05、0<z≦0.2で表さ
れる範囲の数値を表す。)で表される14面体型希土類
賦活アルカリ土類金属弗化ハロゲン化物系輝尽性蛍光体
が望ましい。[0043] Specifically, JP-A 7-233369 discloses the general formula Ba 1-X M II X disclosed in FX: yM I, zLn (provided that at least M II is selected from the group consisting of Sr and Ca represents a kind of alkaline earth metal, M I is Li,
X represents at least one alkali metal selected from the group consisting of Na, K, Rb, and Cs; X represents at least one halogen selected from the group consisting of Cl, Br and I; Ln represents Ce, Pr, Sm, Eu, Gd, T
represents at least one rare earth element selected from the group consisting of b, Tm and Yb, wherein x, y and z are each 0 ≦
It represents a numerical value in a range represented by x ≦ 0.5, 0 ≦ y ≦ 0.05, and 0 <z ≦ 0.2. A tetrahedral rare earth activated alkaline earth metal fluorohalide-based stimulable phosphor represented by the formula (1) is desirable.
【0044】また、輝尽性蛍光体を支持体311上に塗
膜して輝尽性蛍光体層312を形成する場合、輝尽性蛍
光体層312の層厚は、蛍光体の種類、結合剤と蛍光体
との混合比などによって異なるが、輝尽性蛍光体層31
2内で十分な輝尽発光光量を得るために20μm以上と
すると共に、輝尽性蛍光体層312内で輝尽励起光や輝
尽発光の散乱による鮮鋭度の低下を低減するため300
μm以下とすることが好ましく、50μm以上200μ
m以下が望ましい。なお、輝尽性蛍光体層312は、必
ずしも支持体311上に塗布して形成する必要はなく、
たとえば、別に、ガラス板、金属板、プラスチックシー
トなどのシート上に塗布液を塗布し乾燥することにより
輝尽性蛍光体層312を形成したのち、これを、支持体
311上に押圧するか、あるいは接着剤を用いるなどし
て支持体311と輝尽性蛍光体層312とを接合しても
よい。When the stimulable phosphor layer 312 is formed by coating the stimulable phosphor layer on the support 311, the thickness of the stimulable phosphor layer 312 depends on the type of the phosphor, The stimulable phosphor layer 31 varies depending on the mixing ratio between the agent and the phosphor.
In order to obtain a sufficient amount of photostimulated emission within 2, the thickness is set to 20 μm or more, and within the photostimulable phosphor layer 312, the sharpness is reduced by scattering of photostimulated excitation light and photostimulated light.
μm or less, preferably 50 μm or more and 200 μm
m or less is desirable. Note that the stimulable phosphor layer 312 does not necessarily need to be formed by coating on the support 311.
For example, separately, a stimulable phosphor layer 312 is formed by applying and drying a coating liquid on a sheet such as a glass plate, a metal plate, and a plastic sheet, and then pressing this on a support 311 or Alternatively, the support 311 and the stimulable phosphor layer 312 may be joined using an adhesive or the like.
【0045】このようにして形成した輝尽性蛍光体層3
12の表面には、これを物理的にあるいは化学的に保護
するための保護層313が設けられる。保護層313
は、透明な有機高分子物質等を適当な溶媒に溶解して調
製した溶液を輝尽性蛍光体層312の上に直接塗布して
形成してもよいし、有機高分子フィルムや透明なガラス
板などの保護膜形成用シートを別に形成して輝尽性蛍光
体層312上に適当な接着剤を用いて接着して設けても
よい。また、特開昭61‐176900号公報で提案さ
れている放射線および/または熱によって硬化される樹
脂を用いてもよい。さらに、保護層313は、真空蒸着
法、スパッタリング法等により、SiC,SiO2,Si
N,Al2O3等の無機物質を積層して形成してもよい。
また、有機溶媒可溶性のフッ素系樹脂の塗布膜により形
成され、パーフルオロオレフィン樹脂粉末もしくはシリ
コーン樹脂粉末を分散、含有させた保護層313であっ
てもよい。The stimulable phosphor layer 3 thus formed
A protective layer 313 for physically or chemically protecting the surface of the substrate 12 is provided. Protective layer 313
May be formed by directly applying a solution prepared by dissolving a transparent organic polymer substance or the like in an appropriate solvent on the stimulable phosphor layer 312, or may be formed by using an organic polymer film or transparent glass. A sheet for forming a protective film such as a plate may be separately formed and bonded to the stimulable phosphor layer 312 using an appropriate adhesive. Further, a resin that is cured by radiation and / or heat as proposed in JP-A-61-176900 may be used. Further, the protective layer 313 is made of SiC, SiO 2 , Si by a vacuum evaporation method, a sputtering method, or the like.
It may be formed by laminating inorganic substances such as N and Al 2 O 3 .
Further, the protective layer 313 may be formed of a coating film of a fluorine-based resin soluble in an organic solvent and in which perfluoroolefin resin powder or silicone resin powder is dispersed and contained.
【0046】また、透光性に優れると共にシート状に成
形できるものを輝尽性蛍光体層312上に密着させて、
あるいは距離をおいて配設して保護層313とすること
もできる。なお、保護層313を輝尽性蛍光体層312
に対して距離をおいて配設する場合には、支持体311
と保護層313との間に、輝尽性蛍光体層312を取り
囲んでスぺーサを設けるのがよく、そのようなスペーサ
としては、輝尽性蛍光体層312を外部雰囲気から遮断
した状態で保持することができるものであれば特に制限
されず、ガラス、セラミックス、金属、プラスチック等
を用いることができ、厚さは輝尽性蛍光体層312の厚
さ以上であることが好ましい。Further, a material which is excellent in translucency and can be formed into a sheet is brought into close contact with the stimulable phosphor layer 312,
Alternatively, the protective layer 313 can be provided at a distance. The protective layer 313 is formed as a stimulable phosphor layer 312.
When the support 311 is disposed at a distance from the support 311,
It is preferable to provide a spacer surrounding the stimulable phosphor layer 312 between the stimulable phosphor layer 312 and the protective layer 313. Such a spacer may be used in a state where the stimulable phosphor layer 312 is shielded from an external atmosphere. There is no particular limitation as long as it can hold, and glass, ceramics, metal, plastic, or the like can be used, and the thickness is preferably equal to or more than the thickness of the stimulable phosphor layer 312.
【0047】保護層313は、輝尽励起光および輝尽発
光を効率よく透過するために、広い波長範囲で高い光透
過率を示すことが望ましく、光透過率は80%以上が好
ましい。さらに、保護層313の表面に、MgF2等の反
射防止層を設けると、輝尽励起光および輝尽発光を効率
よく透過すると共に、鮮鋭度の低下を小さくする効果も
あるので好ましい。また、保護層313の厚さは、保護
層313の強度を得るために1μm以上とすると共に、
保護層313内での光の散乱によって鮮鋭度が低下して
しまうことを防止するため20μm以下が望ましい。The protective layer 313 desirably has a high light transmittance over a wide wavelength range in order to efficiently transmit stimulated excitation light and stimulated emission, and the light transmittance is preferably 80% or more. Further, it is preferable to provide an anti-reflection layer such as MgF 2 on the surface of the protective layer 313, since it has the effect of efficiently transmitting stimulated excitation light and stimulated emission and reducing the decrease in sharpness. Further, the thickness of the protective layer 313 is set to 1 μm or more in order to obtain the strength of the protective layer 313.
The thickness is preferably 20 μm or less in order to prevent sharpness from being reduced due to scattering of light in the protective layer 313.
【0048】このようにして生成されたイメージングプ
レート31では、得られる画像の鮮鋭度を向上させるこ
とを目的として、イメージングプレート31を構成する
上記各層(輝尽性蛍光体層、保護層)の少なくとも一つ
の層を着色するものとしてもよい。また、支持体311
と輝尽性蛍光体層312間や輝尽性蛍光体層312と保
護層313間に接着剤層が設けられる場合には、この接
着剤層を着色するものとしてもよい。In the imaging plate 31 thus produced, at least one of the above-mentioned layers (stimulable phosphor layer and protective layer) constituting the imaging plate 31 is used for the purpose of improving the sharpness of the obtained image. One layer may be colored. Also, the support 311
When an adhesive layer is provided between the stimulable phosphor layer 312 and between the stimulable phosphor layer 312 and the protective layer 313, the adhesive layer may be colored.
【0049】ここで、着色を行う際には、輝尽性蛍光体
を輝尽発光させるための輝尽励起光の少なくとも一部を
吸収する着色剤が用いられる。また、着色を行う際に
は、輝尽性蛍光体を輝尽発光させるための輝尽励起光の
波長領域における平均反射率が輝尽発光の波長領域にお
ける平均反射率よりも小さくなるように着色して画像の
鮮鋭度を向上させることもできる。Here, at the time of coloring, a coloring agent that absorbs at least a part of the stimulating excitation light for causing the stimulable phosphor to emit stimulating light is used. When coloring, the color is so colored that the average reflectance in the wavelength region of the stimulating light for stimulating the stimulable phosphor is smaller than the average reflectance in the wavelength region of the stimulating light. Thus, the sharpness of the image can be improved.
【0050】さらに、支持体311として輝尽励起光・
輝尽発光を吸収するものを使用したり、そのような光吸
収層を支持体311の輝尽性蛍光体層312側に設ける
ものとしてもよい。例えば、カーボンブラックなどの光
吸収性物質からなる光吸収層などを設けることが知られ
ている。このようにして、輝尽励起光・輝尽発光の反射
を防止することにより、鮮鋭度の低下を防止することが
できる。Further, as the support 311, the stimulated excitation light
A material that absorbs stimulable light may be used, or such a light absorbing layer may be provided on the support 311 on the stimulable phosphor layer 312 side. For example, it is known to provide a light absorbing layer made of a light absorbing material such as carbon black. Thus, by preventing the reflection of the stimulating excitation light and the stimulating light emission, it is possible to prevent a decrease in sharpness.
【0051】次に、気相法で輝尽性蛍光体層を形成した
イメージングプレートについて説明する。なお、気相法
を用いたイメージングプレートを使用する場合の放射線
画像読取装置の構成は、第1の実施の形態と同じである
ことから詳細な説明は省略する。Next, an imaging plate having a stimulable phosphor layer formed by a gas phase method will be described. Note that the configuration of the radiation image reading apparatus in the case of using the imaging plate using the gas phase method is the same as that of the first embodiment, and thus the detailed description is omitted.
【0052】図5は気相法で輝尽性蛍光体層を形成した
イメージングプレートの構成を示しており、支持体31
5上に気相法で輝尽性蛍光体層316が形成される。輝
尽性蛍光体層316の周囲にはスペーサ317が設けら
れており、このスペーサ317上に保護層318が設け
られる。このとき、輝尽性蛍光体層316と保護層31
8との間には、保護層318と後述するように柱状結晶
構造とされている輝尽性蛍光体層316が接触して、輝
尽性蛍光体層316が損傷を受けてしまう事を防止する
ため空隙が設けられている。FIG. 5 shows the structure of an imaging plate on which a stimulable phosphor layer is formed by a gas phase method.
A stimulable phosphor layer 316 is formed on 5 by a gas phase method. A spacer 317 is provided around the stimulable phosphor layer 316, and a protective layer 318 is provided on the spacer 317. At this time, the stimulable phosphor layer 316 and the protective layer 31
8 prevents the stimulable phosphor layer 316 from being damaged by the contact between the protective layer 318 and the stimulable phosphor layer 316 having a columnar crystal structure as described later. An air gap is provided for this purpose.
【0053】気相法では、輝尽性蛍光体として例えば特
開昭61−72088号公報に記載の一般式のMAX・
aMBX’2・bMCX'' 3:cAで示したアルカリハライ
ド蛍光体を用いることにより、容易に輝尽性蛍光体層3
16を形成できるので好ましい。[0053] In the vapor phase method, M A X · the general formulas described in, for example, JP-61-72088 discloses a stimulable phosphor
aM B X ′ 2 .bM C X ″ 3 : The stimulable phosphor layer 3 can be easily formed by using the alkali halide phosphor represented by cA.
16 is preferable.
【0054】ここで、気相法により形成した輝尽性蛍光
体層316は、基板に対して垂直方向に伸びる微細な柱
状結晶の集合体からなり、十分な光ガイド効果を示すこ
とが好ましい(すなわち、柱状結晶の上面から入射した
光が柱状結晶の側面から外に放射されてしまうことを少
ないものとする)く、輝尽励起光や輝尽発光の散乱を防
止するため、柱状径は10μm以下、好ましくは5μm
以下とされる。Here, the stimulable phosphor layer 316 formed by the vapor phase method is preferably composed of an aggregate of fine columnar crystals extending in the direction perpendicular to the substrate, and exhibits a sufficient light guiding effect ( That is, light incident from the upper surface of the columnar crystal is less likely to be radiated to the outside from the side surface of the columnar crystal.) The columnar diameter is 10 μm in order to prevent scattering of stimulating excitation light or stimulating light emission. Below, preferably 5 μm
It is as follows.
【0055】また、輝尽性蛍光体層316の膜厚は、輝
尽性蛍光体層316で十分な輝尽発光光量を得られるよ
うに20μm以上とすると共に、輝尽性蛍光体層316
内での輝尽励起光・輝尽発光の散乱による鮮鋭度の低下
を低減させるために150μm以下とすることが好まし
い。The thickness of the stimulable phosphor layer 316 is not less than 20 μm so that the stimulable phosphor layer 316 can obtain a sufficient amount of stimulable light emission.
The thickness is preferably 150 μm or less in order to reduce a decrease in sharpness due to scattering of stimulating excitation light and stimulating light emission in the inside.
【0056】このようにして作られた塗布あるいは気相
法によるイメージングプレート31を用いた場合、マイ
クロフォーカスX線源の焦点径は0.5μm以上80μ
m以下であることが好ましい。さらに人体等のように動
きのある被写体では、短時間に放射線を照射しなければ
ならないので高出力である必要があり、焦点径は10μ
m以上50μm以下であることが望ましい。また検体
(例えば人体の組織など)のような動きのない被写体で
は、低出力でもより高鮮鋭な画像を得るために、焦点径
は0.5μm以上5μm以下とすることが望ましい。When using the imaging plate 31 formed by the coating or vapor phase method, the focal diameter of the microfocus X-ray source is 0.5 μm to 80 μm.
m or less. Further, a moving subject such as a human body needs to be irradiated with radiation in a short time, so it is necessary to have a high output, and the focal diameter is 10 μm.
It is desirable that the thickness be not less than m and not more than 50 μm. In addition, in the case of a non-moving subject such as a specimen (for example, a tissue of a human body), the focal diameter is desirably 0.5 μm or more and 5 μm or less in order to obtain a sharper image even at a low output.
【0057】また、輝尽励起光が常にイメージングプレ
ート31に垂直に入射するようにプレートに曲率を持た
せるものとすれは、輝尽励起光が輝尽性蛍光体層に斜め
に入射して鮮鋭度が低下してしまうことを防止できる。
ここで、プレートに曲率を持たせる場合には、予め曲げ
られたイメージングプレート31を用いて放射線の照射
や画像の読み取りを行うものとしたり、画像の読み取り
時にイメージングプレート31を曲げるものとしてもよ
い。If the plate has a curvature so that the stimulating excitation light always enters the imaging plate 31 vertically, the stimulating excitation light is obliquely incident on the stimulable phosphor layer and sharpened. The degree can be prevented from lowering.
Here, in the case where the plate has a curvature, irradiation of radiation or reading of an image may be performed using the imaging plate 31 that has been bent in advance, or the imaging plate 31 may be bent at the time of reading an image.
【0058】次に、フラットパネルディテクタを用いる
場合について説明する。図6において、フラットパネル
ディテクタ41は所定の剛性を得られるだけの厚みを有
する基板を有している。基板上には、シンチレータによ
リ変換された可視光を検出し、この可視光を被写体の放
射線画像を担持する画像信号に光電変換する光電変換素
子412-(1,1)〜412-(m,n)が2次元配置されてい
る。光電変換素子412間には走査線421-1〜421
-mと信号線422-1〜422-nが例えば直交するように
配設される。光電変換素子412-(1,1)には、1つのト
ランジスタ423-(1,1)が接続されている。このトラン
ジスタ423-(1,1)は、例えば電界効果トランジスタが
用いられており、ドレイン電極あるいはソース電極が光
電変換素子412-(1,1)に接続されると共に、ゲート電
極は走査線421-1と接続される。ドレイン電極が光電
変換素子412-(1,1)に接続されるときにはソース電極
が信号線422-1と接続され、ソース電極が光電変換素
子412-(1,1)に接続されるときにはドレイン電極が信
号線422-1と接続される。このようにして1つの画素
が形成される。他の光電変換素子412にも同様にトラ
ンジスタ423が接続されており、トランジスタ423
のゲート電極には走査線421が接続されると共に、ソ
ース電極あるいはドレイン電極には信号線422が接続
される。Next, a case where a flat panel detector is used will be described. In FIG. 6, a flat panel detector 41 has a substrate having a thickness enough to obtain a predetermined rigidity. On the substrate, photoelectric conversion elements 412- (1,1) to 412- (m) which detect visible light converted by a scintillator and photoelectrically convert the visible light into an image signal carrying a radiation image of a subject. , n) are two-dimensionally arranged. The scanning lines 421-1 to 421 are provided between the photoelectric conversion elements 412.
-m and the signal lines 422-1 to 422-n are arranged to be orthogonal, for example. One transistor 423- (1,1) is connected to the photoelectric conversion element 412- (1,1). As the transistor 423- (1,1), for example, a field effect transistor is used. The drain electrode or the source electrode is connected to the photoelectric conversion element 412- (1,1), and the gate electrode is connected to the scanning line 421- (1,1). Connected to 1. When the drain electrode is connected to the photoelectric conversion element 412- (1,1), the source electrode is connected to the signal line 422-1. When the source electrode is connected to the photoelectric conversion element 412- (1,1), the drain electrode is connected. Are connected to the signal line 422-1. Thus, one pixel is formed. The transistor 423 is connected to the other photoelectric conversion elements 412 in the same manner.
The scanning line 421 is connected to the gate electrode, and the signal line 422 is connected to the source or drain electrode.
【0059】図7は、フラットパネルディテクタ41の
一部断面図を示している。光電変換素子412は、基板
411の上にパターン成形した導電膜からなる信号線4
13とアモルファスシリコン層414と透明電極415
とからなるフォトダイオードで構成されている。ここ
で、信号線413は、基板411上に形成された薄膜ト
ランジスタ423のドレイン電極423d(あるいはソ
ース電極423s)と接続される。また薄膜トランジス
タ423のゲート電極423gは走査線が接続され、ソ
ース電極423s(あるいはドレイン電極423d)は
信号線422と接続される。なお、ソース電極423s
およびドレイン電極423dとゲート電極423g間に
はゲート絶縁膜424と半導体層425が設けられてい
る。FIG. 7 is a partial sectional view of the flat panel detector 41. The photoelectric conversion element 412 is a signal line 4 made of a conductive film patterned on a substrate 411.
13, an amorphous silicon layer 414 and a transparent electrode 415
And a photodiode comprising: Here, the signal line 413 is connected to the drain electrode 423d (or the source electrode 423s) of the thin film transistor 423 formed over the substrate 411. A scanning line is connected to a gate electrode 423g of the thin film transistor 423, and a source electrode 423s (or a drain electrode 423d) is connected to a signal line 422. Note that the source electrode 423s
A gate insulating film 424 and a semiconductor layer 425 are provided between the drain electrode 423d and the gate electrode 423g.
【0060】光電変換素子412上には、蛍光体層(シ
ンチレータ層)430が形成された支持体431が貼り
付けられる。なお、蛍光体層430の表面には後述する
ように保護層432が設けられており、蛍光体層430
が光電変換素子412上に貼り付けられたときには、光
電変換素子412と蛍光体層430間に保護層432が
介在される。On the photoelectric conversion element 412, a support 431 on which a phosphor layer (scintillator layer) 430 is formed is attached. Note that a protective layer 432 is provided on the surface of the phosphor layer 430 as described later.
Is attached on the photoelectric conversion element 412, the protective layer 432 is interposed between the photoelectric conversion element 412 and the phosphor layer 430.
【0061】フラットパネルディテクタ41の走査線4
21-1〜421-mは、図6に示すように走査駆動回路4
4と接続されていると共に、信号線422-1〜422-n
は電荷検出器425-1〜425-nと接続されている。こ
こで、走査駆動回路44から走査線421-1〜421-m
のうちの1つ走査線421-p(pは1〜mのいずれかの
値)に電荷読出信号RSが供給されると、この走査線4
21-pに接続されたトランジスタ423-(p,1)〜425
-(p,n)がオン状態とされて、光電変換素子412-(p,1)
〜412-(p,n)で発生された信号電荷が信号線422-1
〜422-nを介して電荷検出器425-1〜425-nに供
給される。電荷検出器425-1〜425-nでは信号線4
22-1〜422-nを介して供給された電荷量に比例する
電圧信号SV-1〜SV-nが生成される。この電荷検出器
425-1〜425-nから出力された電圧信号SV-1〜S
V-nが信号選択回路45に供給される。Scanning line 4 of flat panel detector 41
21-1 to 421-m are scanning drive circuits 4 as shown in FIG.
4 and signal lines 422-1 to 422-n
Are connected to the charge detectors 425-1 to 425-n. Here, the scanning lines 421-1 to 421-m are output from the scanning driving circuit 44.
When the charge readout signal RS is supplied to one of the scan lines 421-p (p is any value from 1 to m), the scan line 4
Transistors 423- (p, 1) to 425 connected to 21-p
-(p, n) is turned on and the photoelectric conversion element 412- (p, 1)
412- (p, n) is generated by the signal line 422-1.
Are supplied to the charge detectors 425-1 to 425-n via .about.422-n. The signal lines 4 in the charge detectors 425-1 to 425-n
Voltage signals SV-1 to SV-n are generated which are proportional to the amount of electric charge supplied via 22-1 to 422-n. The voltage signals SV-1 to SV output from the charge detectors 425-1 to 425-n
V-n is supplied to the signal selection circuit 45.
【0062】信号選択回路45は、レジスタ45aとA
/D変換器45bを用いて構成されており、レジスタ4
5aには電荷検出器425-1〜425-nから電圧信号が
供給される。レジスタ45aでは、供給された電圧信号
が順次選択されて、A/D変換器45bでディジタルの
データとされる。このデータは読取制御回路48に供給
される。The signal selection circuit 45 includes registers 45a and A
/ D converter 45b.
A voltage signal is supplied to 5a from the charge detectors 425-1 to 425-n. In the register 45a, the supplied voltage signals are sequentially selected and converted into digital data by the A / D converter 45b. This data is supplied to the read control circuit 48.
【0063】読取制御回路48はコントロール装置60
と接続されており、コントロール装置60から供給され
た制御信号CTDに基づいて走査制御信号RCや出力制
御信号SCが生成される。この走査制御信号RCが走査
駆動回路44に供給されて、走査制御信号RCに基づき
走査線421-1〜421-mに対しての電荷読出信号RS
の供給が行われる。また、出力制御信号SCが信号選択
回路45に供給されて、レジスタ45aに蓄えられてい
る電荷検出器425-1〜425-nからの電圧信号の選択
動作が制御されると共に選択された電圧信号がデータ信
号に変換されて、画像データDTとして信号選択回路4
5から読取制御回路48に供給される。読取制御回路4
8では、この画像データDTをコントロール装置60に
送出する処理も行われる。なお、放射線画像読取装置で
得られた画像データDTをコントロール装置60に供給
する際に画像データの対数変換処理を行うものとすれ
ば、コントロール装置60における画像データの処理を
簡単とすることができる。また、上記の対数変換を読み
出された電荷量を電荷検出器425で電圧信号SVに変
換するときに同時に行っても良い。こうして対数変換後
にA/D変換器45bでディジタルデータとすることに
より、電圧信号SVが小さい領域での放射線情報の分解
能を高くすることができる。The reading control circuit 48 includes a control device 60
The scan control signal RC and the output control signal SC are generated based on the control signal CTD supplied from the control device 60. The scan control signal RC is supplied to the scan drive circuit 44, and the charge readout signal RS for the scan lines 421-1 to 421-m is supplied based on the scan control signal RC.
Is supplied. Further, the output control signal SC is supplied to the signal selection circuit 45 to control the selection operation of the voltage signals from the charge detectors 425-1 to 425-n stored in the register 45a and to select the selected voltage signal. Is converted into a data signal, and is converted to a signal selection circuit 4 as image data DT.
5 to the read control circuit 48. Read control circuit 4
In step 8, a process of transmitting the image data DT to the control device 60 is also performed. If the image data DT obtained by the radiation image reading device is supplied to the control device 60 and a logarithmic conversion process of the image data is performed, the processing of the image data in the control device 60 can be simplified. . In addition, the above-described logarithmic conversion may be performed at the same time that the charge detector 425 converts the read charge amount into the voltage signal SV. By converting the data into digital data by the A / D converter 45b after the logarithmic conversion, the resolution of the radiation information in a region where the voltage signal SV is small can be increased.
【0064】ここで、フラットパネルディテクタ41の
蛍光体層は、蛍光体と結合剤とからなる蛍光体塗料を支
持体に塗布して蛍光体層を形成する方法が用いられる。
なお、蛍光体塗料を仮支持体に塗布してから乾燥させて
剥離することによりシート状の蛍光体層を形成したり、
蛍光体塗料を吹き付けて蛍光体層を形成するものとして
もよい。Here, for the phosphor layer of the flat panel detector 41, a method of forming a phosphor layer by applying a phosphor paint comprising a phosphor and a binder to a support is used.
The phosphor coating is applied to the temporary support and then dried and peeled to form a sheet-shaped phosphor layer,
The phosphor layer may be formed by spraying a phosphor paint.
【0065】蛍光体としては、放射線の照射により可視
領域の発光を示し、この発光波長に光電変換素子が感度
をもつものであれば良く、例えばGd2O2S:Tb、C
sI:Tlが望ましい。The phosphor may emit light in the visible region upon irradiation with radiation, and may be any as long as the photoelectric conversion element has sensitivity to this emission wavelength. For example, Gd 2 O 2 S: Tb, C
sI: Tl is desirable.
【0066】蛍光体の平均粒子径は蛍光体層内の蛍光体
の充填率を高くして、高精細な発光が可能であると共
に、蛍光体層内での蛍光体の発光の散乱を低減できるよ
うに0.5μm以上10μm以下、好ましくは1μm以
上5μm以下とする。The average particle size of the phosphor can be increased by increasing the filling rate of the phosphor in the phosphor layer, thereby enabling high-definition light emission and reducing the scattering of the light emission of the phosphor in the phosphor layer. As described above, the thickness is 0.5 μm or more and 10 μm or less, preferably 1 μm or more and 5 μm or less.
【0067】また、蛍光体層には、支持体に接する側と
反対側表面を物理的、化学的に保護するための保護層が
設けられる。The phosphor layer is provided with a protective layer for physically and chemically protecting the surface opposite to the side in contact with the support.
【0068】この保護層は、厚さ0.5μm以上10μ
m以下、好ましくは1μm以上3μm以下であることが
好ましい。このような薄い保護層を用いることにより、
蛍光体層と光電変換素子との間隔が小さいものとされる
ことから、蛍光体層で発光された光が保護層で散乱され
ることなく直ちに光電変換素子に入射されるので、得ら
れる放射線画像の鮮鋭度の向上に寄与することになる。
また、蛍光体層の膜厚は、十分な輝尽発光光量を得ると
共に、蛍光体層内での光の散乱を少ないものとするた
め、20〜150μmであることが好ましく、20〜1
00μmであることが望ましい。This protective layer has a thickness of 0.5 μm or more and 10 μm or more.
m, preferably 1 μm or more and 3 μm or less. By using such a thin protective layer,
Since the distance between the phosphor layer and the photoelectric conversion element is small, the light emitted from the phosphor layer is immediately incident on the photoelectric conversion element without being scattered by the protective layer. This contributes to an improvement in the sharpness of the image.
The thickness of the phosphor layer is preferably from 20 to 150 μm, preferably from 20 to 150 μm, in order to obtain a sufficient amount of stimulated emission and to reduce scattering of light in the phosphor layer.
Desirably, it is 00 μm.
【0069】ここで、蛍光体層および保護層の少なくと
も一方を着色することで、蛍光体層内での蛍光体の発光
の散乱による鮮鋭度の低下を低減できる。蛍光体の発光
の少なくとも一部を吸収する着色剤を使用する方法とし
て、上述のイメージングプレートと同様な着色方法で着
色できる。また、緑色領域に発光を示す蛍光体を使用す
る場合には、420ないし540nmの波長域に吸収ス
ペクトルの主ピークを有する着色剤を用いて着色するも
のとしてもよい。さらに、蛍光体の発光のピーク波長よ
りも長波長の発光領域における平均吸収率がピーク波長
よりも短波長の発光領域における平均吸収率よりも高い
着色剤を用いて着色するものとしてもよい。Here, by coloring at least one of the phosphor layer and the protective layer, a decrease in sharpness due to scattering of light emission of the phosphor in the phosphor layer can be reduced. As a method of using a coloring agent that absorbs at least a part of the emission of the phosphor, coloring can be performed by a coloring method similar to the above-described imaging plate. When a phosphor that emits light in the green region is used, the phosphor may be colored using a coloring agent having a main peak of an absorption spectrum in a wavelength range of 420 to 540 nm. Further, the phosphor may be colored using a coloring agent having an average absorptance higher in an emission region having a wavelength longer than the peak wavelength of light emission than in the emission region having a wavelength shorter than the peak wavelength.
【0070】ところで、蛍光体層の形成では、蛍光体塗
料を支持体に均一に塗布することによリ形成するものと
したが、蒸着等の気相法で、柱状結晶として形成すれ
ば、光ガイド効果により蛍光体の発光の蛍光体層中にお
ける散乱を抑制することができる。In the meantime, in the formation of the phosphor layer, the phosphor coating is formed by uniformly applying the phosphor coating on the support. The scattering of the emission of the phosphor in the phosphor layer can be suppressed by the guide effect.
【0071】次に、光導電層を設けたフラットパネルデ
ィテクタを用いる場合について説明する。図8はフラッ
トパネルディテクタ51の構成を示しており、フラット
パネルディテクタ51は所定の剛性を得られるだけの厚
みを有する基板を有している。この基板は例えばガラス
を用いて構成される。基板上には金属の薄膜を用いた複
数のマイクロプレート512-(1,1)〜512-(m,n)が2
次元配置されている。マイクロプレート512間には走
査線521-1〜521-mと信号線522-1〜522-nが
例えば直交するように配設される。マイクロプレート5
12-(1,1)には、1つのトランジスタ515-(1,1)が接
続されている。このトランジスタ515-(1,1)は、例え
ば電界効果トランジスタが用いられており、ドレイン電
極あるいはソース電極がマイクロプレート512-(1,1)
に接続されると共に、ゲート電極は走査線521-1と接
続される。ドレイン電極がマイクロプレート512-(1,
1)に接続されるときにはソース電極が信号線522-1と
接続され、ソース電極がマイクロプレート512-(1,1)
に接続されるときにはドレイン電極が信号線522-1と
接続される。またマイクロプレート512-(1,1)は電荷
蓄積コンデンサ530-1の一方の電極とされる。このよ
うにして1つの画素が形成される。他のマイクロプレー
ト512にも同様にトランジスタ515が接続されてお
り、トランジスタ515のゲート電極には走査線521
が接続されると共に、ソース電極あるいはドレイン電極
には信号線522が接続される。Next, a case where a flat panel detector provided with a photoconductive layer is used will be described. FIG. 8 shows a configuration of the flat panel detector 51. The flat panel detector 51 has a substrate having a thickness enough to obtain a predetermined rigidity. This substrate is made of, for example, glass. A plurality of microplates 512- (1,1) to 512- (m, n) using a metal thin film are provided on the substrate.
Dimensionally arranged. The scanning lines 521-1 to 521-m and the signal lines 522-1 to 522-n are arranged between the microplates 512, for example, so as to be orthogonal to each other. Microplate 5
One transistor 515- (1,1) is connected to 12- (1,1). As the transistor 515- (1,1), for example, a field effect transistor is used, and the drain electrode or the source electrode is a microplate 512- (1,1).
And the gate electrode is connected to the scanning line 521-1. The drain electrode is a microplate 512- (1,
When connected to (1), the source electrode is connected to the signal line 522-1, and the source electrode is connected to the microplate 512- (1,1).
Is connected to the signal line 522-1. The microplate 512- (1,1) is used as one electrode of the charge storage capacitor 530-1. Thus, one pixel is formed. The transistor 515 is similarly connected to the other microplates 512, and the scanning line 521 is connected to the gate electrode of the transistor 515.
Are connected, and a signal line 522 is connected to the source electrode or the drain electrode.
【0072】図9は、フラットパネルディテクタ51の
一部断面図を示しており、基板5111上には走査線5
21と接続されるゲート電極515gが形成される。こ
のゲート電極515g上にゲート絶縁膜515pが形成
されると共に、ゲート絶縁膜515p上にはアモルファ
スシリコン等を用いた半導体層515cが形成される。
この半導体層515cにソース電極515sとドレイン
電極515dが形成されて電界効果トランジスタが構成
される。このソース電極515sあるいはドレイン電極
515dの一方が信号線522と接続されると共に他方
の電極がマイクロプレート512に接続される。FIG. 9 is a partial cross-sectional view of the flat panel detector 51.
A gate electrode 515 g connected to the gate electrode 21 is formed. A gate insulating film 515p is formed on the gate electrode 515g, and a semiconductor layer 515c using amorphous silicon or the like is formed on the gate insulating film 515p.
A source electrode 515s and a drain electrode 515d are formed on the semiconductor layer 515c to form a field effect transistor. One of the source electrode 515s and the drain electrode 515d is connected to the signal line 522, and the other electrode is connected to the microplate 512.
【0073】また、基板511上には外部側のマイクロ
プレートとしての電極530aが形成されると共に、こ
の電極上に二酸化シリコンあるいは窒化シリコン等の誘
電体530bが形成される。さらに誘電体530b上に
マイクロプレート512が電極として形成されて、マイ
クロプレート512と電極530aと誘電体530bで
電荷蓄積コンデンサ530が形成される。電荷蓄積コン
デンサ530の誘電体530b上に形成されたマイクロ
プレート512は、トランジスタ515と接続されると
共に、基板511上に形成された電極530aは接地さ
れる。On the substrate 511, an electrode 530a as an external microplate is formed, and a dielectric 530b such as silicon dioxide or silicon nitride is formed on the electrode. Further, the microplate 512 is formed as an electrode on the dielectric 530b, and the charge storage capacitor 530 is formed by the microplate 512, the electrode 530a, and the dielectric 530b. The microplate 512 formed on the dielectric 530b of the charge storage capacitor 530 is connected to the transistor 515, and the electrode 530a formed on the substrate 511 is grounded.
【0074】トランジスタ515はパッシベーション層
518で被覆されると共に、電荷蓄積コンデンサ530
の電極上およびマイクロプレート512(図示せず)上
には電荷阻止層532が形成される。The transistor 515 is covered with a passivation layer 518 and has a charge storage capacitor 530.
A charge blocking layer 532 is formed on the electrodes and on the microplate 512 (not shown).
【0075】さらに、パッシベーション層518や電荷
阻止層532、走査線521(図示せず)および信号線
522(図示せず)上には、放射線が照射されることに
より電子−正孔対が生成されて抵抗値が変化する光導電
層534が形成される。この光導電層534としては暗
抵抗値が高いものが望ましく、特にアモルファスセレン
が好ましい。光導電層534上には誘電層536が形成
されることが好ましく、誘電層536上にはバイアス電
極538が形成される。Further, the passivation layer 518, the charge blocking layer 532, the scanning lines 521 (not shown), and the signal lines 522 (not shown) are irradiated with radiation to generate electron-hole pairs. Thus, a photoconductive layer 534 having a variable resistance value is formed. The photoconductive layer 534 desirably has a high dark resistance value, and is particularly preferably amorphous selenium. Preferably, a dielectric layer 536 is formed on the photoconductive layer 534, and a bias electrode 538 is formed on the dielectric layer 536.
【0076】ここで、バイアス電極538に高電圧(例
えば数kV)が印加された状態で放射線が光導電層53
4に入射されると、放射線の強度に応じた量の電子−正
孔対が生成されると共に、バイアス電極538に高電圧
が印加されていることから、生成された電荷は誘電層5
36側に移動されると共に、前記とは逆極性の電荷は電
荷阻止層532側に移動される。また、誘電層536に
よってバイアス電極538から光導電層534への電荷
の注入が阻止されると共に、電荷阻止層532によって
電荷蓄積コンデンサ530の電極であるマイクロプレー
ト512から光導電層534への電荷の注入が阻止され
る。このため、光導電層534を介して漏洩電流が流れ
ることを阻止することができ、放射線の強度に応じた量
の電荷を電荷蓄積コンデンサ530に蓄えることができ
る。Here, when a high voltage (for example, several kV) is applied to the bias electrode 538, the radiation is applied to the photoconductive layer 53.
4, an electron-hole pair is generated in an amount corresponding to the intensity of the radiation, and a high voltage is applied to the bias electrode 538.
At the same time as the charges are moved to the 36 side, the charges of the opposite polarity are moved to the charge blocking layer 532 side. The dielectric layer 536 prevents charge injection from the bias electrode 538 into the photoconductive layer 534, and the charge blocking layer 532 transfers charge from the microplate 512, which is the electrode of the charge storage capacitor 530, to the photoconductive layer 534. The injection is blocked. For this reason, it is possible to prevent the leakage current from flowing through the photoconductive layer 534, and it is possible to store an amount of charge corresponding to the intensity of the radiation in the charge storage capacitor 530.
【0077】このようにして、図8に示す各マイクロプ
レート512-(1,1)〜512-(m,n)を一方の電極とする
電荷蓄積コンデンサ530-(1,1)〜530-(m,n)に放射
線像を示す電荷を蓄積することができると共に、電荷蓄
積コンデンサ530-(1,1)〜530-(m,n)に蓄積された
電荷量を判別して画像データを生成することができる。In this manner, the charge storage capacitors 530- (1,1) to 530-(-) having each of the microplates 512- (1,1) to 512- (m, n) shown in FIG. (m, n) can be stored, and the amount of charge stored in the charge storage capacitors 530- (1,1) to 530- (m, n) can be determined to generate image data. can do.
【0078】またフラットパネルディテクタ51では、
信号線522-1〜522-nに、例えばドレイン電極が接
続されたリセット動作用のトランジスタ540-1〜54
0-nが設けられている。このトランジスタ540-1〜5
40-nのソース電極は接地されている。また、ゲート電
極はリセット線541と接続される。In the flat panel detector 51,
For example, transistors 540-1 to 540 for resetting operation, which have drain electrodes connected to the signal lines 522-1 to 522-n, respectively.
0-n are provided. These transistors 540-1 to 540-5
The 40-n source electrode is grounded. The gate electrode is connected to the reset line 541.
【0079】フラットパネルディテクタ51の走査線5
21-1〜521-mとリセット線541は、走査駆動回路
55と接続されている。走査駆動回路55から走査線5
21-1〜521-mのうちの1つ走査線521-p(pは1〜
mのいずれかの値)に電荷読出信号RSが供給される
と、この走査線521-pに接続されたトランジスタ51
5-(p,1)〜515-(p,n)がオン状態とされて、電荷蓄積
コンデンサ530-(p,1)〜530-(p,n)に蓄積された電
荷が信号線522-1〜522-nにそれぞれ読み出され
る。信号線522-1〜522-nは、電荷検出器542-1
〜542-nに接続されており、電荷検出器542-1〜5
42-nでは信号線522-1〜522-n上に読み出された
電荷量に比例する電圧信号SU-1〜SU-nが生成され
る。この電荷検出器542-1〜542-nから出力された
電圧信号SU-1〜SU-nが信号選択回路56に供給され
る。Scanning line 5 of flat panel detector 51
21-1 to 521-m and the reset line 541 are connected to the scan drive circuit 55. From the scanning drive circuit 55 to the scanning line 5
One of the scan lines 521-p (p is 1 to 21-1 to 521-m)
When the charge read signal RS is supplied to any one of the values of m, the transistor 51 connected to the scanning line 521-p
5- (p, 1) to 515- (p, n) are turned on, and the charges stored in the charge storage capacitors 530- (p, 1) to 530- (p, n) are transferred to the signal line 522-. 1 to 522-n. The signal lines 522-1 to 522-n are connected to the charge detector 542-1.
542-n, and the charge detectors 542-1 to 542-1-5
At 42-n, voltage signals SU-1 to SU-n proportional to the amount of charge read on the signal lines 522-1 to 522-n are generated. The voltage signals SU-1 to SU-n output from the charge detectors 542-1 to 542-n are supplied to the signal selection circuit 56.
【0080】信号選択回路56は、レジスタ56aとA
/D変換器56bを用いて構成されており、レジスタ5
6aには電荷検出器542-1〜542-nから電圧信号が
供給される。レジスタ56aでは、供給された電圧信号
が順次選択されて、A/D変換器56bで(例えば、1
2ビットないし14ビットの)ディジタルのデータとさ
れる。このデータは読取制御回路58に供給される。な
お、バイアス電極538に高電圧を印加した状態で、走
査駆動回路55からリセット信号RTをリセット線54
1に供給してトランジスタ540-1〜540-nをオン状
態とすると共に、走査線521-1〜521-mに電荷読出
信号RSを供給してトランジスタ515-(1,1)〜515
-(m,n)がオン状態とすると、電荷蓄積コンデンサ530
-(1,1)〜530-(m,n)に蓄えられた電荷がトランジスタ
540-1〜540-nを介して放出して、フラットパネル
ディテクタ51の初期化、すなわち残留電荷の除去を行
うことができる。The signal selection circuit 56 includes registers 56a and A
/ D converter 56b.
6a is supplied with a voltage signal from the charge detectors 542-1 to 542-n. In the register 56a, the supplied voltage signals are sequentially selected, and the A / D converter 56b (for example, 1
It is digital data (of 2 bits to 14 bits). This data is supplied to the read control circuit 58. In a state where a high voltage is applied to the bias electrode 538, the reset signal RT is sent from the scan driving circuit 55 to the reset line 54.
1 to turn on the transistors 540-1 to 540-n, and supply the charge readout signal RS to the scan lines 521-1 to 521-m to supply the transistors 515- (1, 1) to 515.
When-(m, n) is turned on, the charge storage capacitor 530
The electric charges stored in-(1,1) to 530- (m, n) are released through the transistors 540-1 to 540-n to initialize the flat panel detector 51, that is, to remove the residual electric charge. be able to.
【0081】読取制御回路58はコントロール装置60
と接続されており、コントロール装置60から供給され
た制御信号CTDに基づいて走査制御信号RCや出力制
御信号SCが生成される。この走査制御信号RCが走査
駆動回路55に供給されて、走査制御信号RCに基づき
走査線521-1〜521-mに対しての電荷読出信号RS
の供給やリセット線541に対してのリセット信号RT
の供給が行われる。また、出力制御信号SCが信号選択
回路56に供給されて、レジスタ56aに蓄えられてい
る電荷検出器542-1〜542-nからの電圧信号の選択
動作が制御される。この読取制御回路58からの走査制
御信号RCや出力制御信号SCによって、例えばフラッ
トパネルディテクタ51が上述のように(m×n)個の
マイクロプレートで構成されている場合には、電荷蓄積
コンデンサ530-(1,1)〜530-(m,n)に蓄積された電
荷に基づくデータをデータDP(1,1)〜DP(m,n)とする
と、データDP(1,1)、DP(1,2)、……DP(1,n)、D
P(2,1)、……、DP(m,n)の順とし、画像データDTが
生成されて信号選択回路56から読取制御回路58に供
給される。また読取制御回路58では、この画像データ
DTをコントロール装置60に送出する処理も行われ
る。The reading control circuit 58 includes a control device 60
The scan control signal RC and the output control signal SC are generated based on the control signal CTD supplied from the control device 60. The scan control signal RC is supplied to the scan drive circuit 55, and the charge read signal RS for the scan lines 521-1 to 521-m is supplied based on the scan control signal RC.
Supply and reset signal RT to the reset line 541
Is supplied. Further, the output control signal SC is supplied to the signal selection circuit 56, and the selection operation of the voltage signals from the charge detectors 542-1 to 542-n stored in the register 56a is controlled. For example, when the flat panel detector 51 is composed of (m × n) microplates as described above by the scanning control signal RC and the output control signal SC from the reading control circuit 58, the charge storage capacitor 530 -(1,1) to 530- (m, n), data DP (1,1) to DP (m, n), and data DP (1,1), DP ( 1,2), DP (1, n), D
Image data DT is generated in the order of P (2,1),..., DP (m, n) and supplied from the signal selection circuit 56 to the reading control circuit 58. The reading control circuit 58 also performs processing for sending the image data DT to the control device 60.
【0082】読取装置30で得られた画像データDT
は、読取制御回路58を介して図4に示すコントロール
装置60に供給される。なお、放射線画像読取装置で得
られた画像データをコントロール装置60に供給する際
に画像データの対数変換処理を行うものとすれば、コン
トロール装置60における画像データの処理を簡単とす
ることができる。また、上記の対数変換を読み出された
電荷量を電荷検出器542で電圧信号SUに変換すると
きに同時に行っても良い。こうして対数変換後にA/D
変換器56bでディジタルデータとすることにより、電
圧信号SUが小さい領域での放射線情報の分解能を高く
することができる。Image data DT obtained by the reading device 30
Is supplied to the control device 60 shown in FIG. If the image data obtained by the radiation image reading device is supplied to the control device 60 by performing a logarithmic conversion process on the image data, the processing of the image data in the control device 60 can be simplified. In addition, the above-described logarithmic conversion may be performed simultaneously when the read charge amount is converted into the voltage signal SU by the charge detector 542. Thus, A / D after logarithmic conversion
By converting the data into digital data by the converter 56b, the resolution of radiation information in a region where the voltage signal SU is small can be increased.
【0083】ここで、フラットパネルディテクタでは、
読取画素サイズ(光電変換素子やマイクロプレートの間
隔)が10μm以上100μm以下、好ましくは10μ
m以上50μm以下、更に好ましくは10μm以上20
μm以下とすると共に、マイクロフォーカスX線源の焦
点径を第1および第2の実施の形態と同様に、0.5μ
m以上80μm以下、望ましくは動きのある被写体では
10μm以上50μm以下、動きのない被写体では0.
5μm以上5μm以下とすることで、高精細な放射線画
像を得ることができる。Here, in the flat panel detector,
Read pixel size (interval between photoelectric conversion elements and microplates) is 10 μm or more and 100 μm or less, preferably 10 μm
m to 50 μm, more preferably 10 μm to 20
μm or less, and the focal diameter of the microfocus X-ray source is set to 0.5 μm as in the first and second embodiments.
m to 80 μm, preferably 10 μm to 50 μm for a moving subject, and 0.1 μm for a non-moving subject.
When the thickness is 5 μm or more and 5 μm or less, a high-definition radiation image can be obtained.
【0084】次に、放射線画像の撮影について説明す
る。まず、被写体を撮影する際には、拡大撮影を行う部
位の特定が行われる。ここで、拡大撮影を行う部位が被
写体の表面から判別できるときには、例えば拡大撮影を
行う位置を光を用いてマーク表示するものとし、このマ
ーク表示を所望の撮影部位に合わせることで、拡大撮影
を行う部位の特定を行うことができる。また、拡大撮影
を行う部位が被写体の表面から判別できないときには、
例えば放射線の照射線量を小さいものとしてイメージイ
ンテンシファイア等を用いて被写体をリアルタイムで撮
影し、得られた撮影画像に基づいて拡大撮影を行う部位
を特定することができる。Next, radiographing will be described. First, when photographing a subject, a part to be magnified is specified. Here, when the part to be enlarged can be determined from the surface of the subject, for example, the position to be enlarged is marked by using light, and the mark display is adjusted to a desired part to perform enlarged imaging. The part to be performed can be specified. Also, when the part to be enlarged cannot be determined from the surface of the subject,
For example, it is possible to photograph a subject in real time by using an image intensifier or the like with a small radiation irradiation dose, and to specify a part to be enlarged and photographed based on the obtained photographed image.
【0085】次に、X線源コントローラ12でマイクロ
フォーカスX線源11の照射線量を設定すると共に、所
望の拡大率の放射線画像を得ることができるように、マ
イクロフォーカスX線源11と被写体15と読取装置3
0の位置を設定する。ここで、図12Bに示すように、
マイクロフォーカスX線源11から被写体15までの距
離を「R1」、被写体15から読取装置30までの距離
を「R2」とすると、拡大率Mは式(2)で示すものと
なる。 M=((R1+R2)/R1)×100% ・・・(2)Next, the irradiation dose of the micro-focus X-ray source 11 is set by the X-ray source controller 12, and the micro-focus X-ray source 11 and the subject 15 are set so that a radiation image with a desired magnification can be obtained. And reader 3
Set the position of 0. Here, as shown in FIG.
Assuming that the distance from the microfocus X-ray source 11 to the subject 15 is “R1” and the distance from the subject 15 to the reading device 30 is “R2”, the enlargement factor M is represented by Expression (2). M = ((R1 + R2) / R1) × 100% (2)
【0086】この拡大率Mの値は、入力装置25を操作
して入力しても良く、また位置判別装置20で距離「R
1」,「R2」を測定して位置情報をコントロール装置
60に供給し、コントロール装置60で自動的に拡大率
Mを算出するものとしてもよい。The value of the enlargement ratio M may be input by operating the input device 25.
The position information may be supplied to the control device 60 by measuring “1” and “R2”, and the control device 60 may automatically calculate the enlargement factor M.
【0087】また、拡大撮影で高精細な放射線画像を得
ることができるように、被写体15が被写体ホルダ16
に固定されると共に、マスク18aの開口部分の大きさ
を可変させて放射線の照射部分が放射線パネル内に収ま
るように調整される。The subject 15 is placed on the subject holder 16 so that a high-definition radiographic image can be obtained by magnifying radiography.
And the size of the opening of the mask 18a is changed so that the irradiated portion of the radiation fits into the radiation panel.
【0088】ここで、被写体15が人体のように大きな
ものである場合には、被写体の15の位置を基準とし
て、マイクロフォーカスX線装置11や読取装置30の
位置を移動させることにより拡大撮影を容易に行うこと
ができる。さらに、図示せずも、マイクロフォーカスX
線装置11や被写体15および読取装置30の位置を移
動させる駆動装置を設けるものとすれば、入力装置25
を操作して拡大率を入力するだけで、マイクロフォーカ
スX線装置11や被写体15あるいは読取装置30の位
置を、入力された拡大率に応じた位置に自動的に設定す
ることができる。すなわち、位置判別装置20で距離
「R1」,「R2」を測定し、得られた距離「R1」,
「R2」から算出された拡大率が入力された拡大率とな
るように、駆動装置でマイクロフォーカスX線装置11
や被写体15あるいは読取装置30の位置を調整するこ
とにより、拡大率を入力するだけで簡単に位置を設定を
行える。Here, when the subject 15 is large, such as a human body, enlargement photography is performed by moving the positions of the microfocus X-ray apparatus 11 and the reading device 30 based on the position of the subject 15. It can be done easily. Further, although not shown, the micro focus X
If a driving device for moving the position of the line device 11, the object 15, and the reading device 30 is provided, the input device 25
By simply operating and inputting the magnification, the position of the microfocus X-ray apparatus 11, the subject 15, or the reading device 30 can be automatically set to a position corresponding to the inputted magnification. That is, the distances “R1” and “R2” are measured by the position determination device 20, and the obtained distances “R1” and “R1” are measured.
The microfocus X-ray apparatus 11 is driven by the driving device so that the enlargement ratio calculated from “R2” becomes the inputted enlargement ratio.
By adjusting the position of the subject 15 or the reading device 30, the position can be easily set only by inputting the magnification.
【0089】このようにして、所望の拡大率に応じた位
置の設定が完了したときには、マイクロフォーカスX線
源11から放射線が照射されて、読取装置30の撮像パ
ネルには、被写体を透過した放射線の線量に応じたエネ
ルギーや電荷が蓄えられて、あるいは発光が行われる。
また、放射線画像の読み取りが行われたときには、蓄え
られたエネルギーや電荷、あるいは発光に基づいて放射
線画像の画像データが生成される。When the setting of the position corresponding to the desired magnification is completed in this way, radiation is irradiated from the microfocus X-ray source 11 and the radiation transmitted through the subject is displayed on the imaging panel of the reading device 30. Energy or electric charge corresponding to the dose is stored, or light is emitted.
When a radiation image is read, image data of the radiation image is generated based on the stored energy, electric charge, or light emission.
【0090】ここで、放射線画像の読み取りを行う場
合、画像の読取画素サイズは、マイクロフォーカスX線
源11の焦点径DFと、マイクロフォーカス線源11か
ら被写体15までの距離「R1」と、被写体15から読
取装置30までの距離「R2」に基づいて上述の式
(1)から求めることができる半影DHSの大きさに対
して0.8倍以上、好ましくは0.9倍以上であって、
所望の鮮鋭度となるように設定される。このため、放射
線画像に対して不必要に高い解像度で画像を読み込んで
画像データが増加してしまうことを防止できる。When reading a radiation image, the read pixel size of the image includes the focal diameter DF of the microfocus X-ray source 11, the distance "R1" from the microfocus source 11 to the subject 15, the subject "R1", The size of the penumbra DHS, which can be obtained from the above equation (1) based on the distance “R2” from the distance 15 to the reading device 30, is 0.8 times or more, preferably 0.9 times or more. ,
The sharpness is set to a desired value. For this reason, it is possible to prevent an increase in image data by reading an image at an unnecessarily high resolution with respect to a radiation image.
【0091】また、フラットパネルディテクタのよう
に、読取画素サイズが固定されている場合、例えば所望
の拡大率の放射線画像を得るために距離「R1」,「R
2」を調整して半影DHSの大きさが可変されたとき、
読取画素サイズが半影DHSの大きさに対して0.8倍
以上、好ましくは0.9倍以上でなくなったときには警
告表示を行うことにより、不必要に高い解像度で画像の
読み込みが行われるか否かを簡単に判別することができ
ると共に、例えば放射線画像のボケが半影DHSの影響
によるものか否かを判別して正しく診断等を行うことが
できる。When the read pixel size is fixed like a flat panel detector, for example, the distances “R1” and “R
When “2” is adjusted to change the size of penumbra DHS,
When the read pixel size is no more than 0.8 times the size of the penumbra DHS, and preferably no more than 0.9 times, a warning is displayed to read the image at an unnecessarily high resolution. It is possible to easily determine whether or not the blur is caused by the influence of the penumbra DHS, for example, and to make a correct diagnosis or the like.
【0092】このようにして、放射線画像の画像データ
が得られると、この画像データを用いてコントロール装
置60の画像処理部76で画像処理を行う。画像処理で
は、画像データに基づく画像を拡大して画像表示装置8
0に表示するための処理や、半影の影響を防止する処理
を行う。When the image data of the radiation image is obtained in this manner, the image processing section 76 of the control device 60 performs image processing using the image data. In the image processing, an image based on the image data is enlarged and displayed on the image display device 8.
Processing for displaying the image at 0 and processing for preventing the influence of penumbra are performed.
【0093】この半影の影響を防止する処理としては、
例えばデコンボルーションを用いた処理が行われる。す
なわち、焦点径を無限小としたときの画像(元画像)を
g(x,y)、半影の影響により劣化した画像をg’
(x,y)、半影による点像分布関数をh(x,y)と
すると式(3)の関係が成り立つ。 g’(x,y)=g(x,y)*h(x,y) ・・・(3) なお、式(3)において「*」はコンボルーション演算
(たたみこみ積分)を表す。The processing for preventing the influence of this penumbra includes:
For example, a process using deconvolution is performed. That is, the image (original image) when the focal diameter is infinitely small is g (x, y), and the image deteriorated by the influence of the penumbra is g ′.
Assuming that the point spread function by (x, y) and the penumbra is h (x, y), the relationship of Expression (3) holds. g ′ (x, y) = g (x, y) * h (x, y) (3) In Expression (3), “*” represents a convolution operation (convolution convolution).
【0094】この式(3)をフーリエ変換して各関数の
フーリエ変換を大文字で表すと式(4)となり、コンボ
ルーション演算は周波数領域では積となる。 G’(u,v)=G(u,v)H(u,v) ・・・(4)When this equation (3) is Fourier-transformed and the Fourier transform of each function is represented in capital letters, equation (4) is obtained, and the convolution operation becomes a product in the frequency domain. G ′ (u, v) = G (u, v) H (u, v) (4)
【0095】この式(4)の両辺に「1/H(u,
v)」を掛けると式(5)を得ることができ、この式
(5)を逆フーリエ変換すると式(6)を得ることがで
きる。 G’(u,v)/H(u,v)=G(u,v) ・・・(5) g(x,y)=F-1{G’(u,v)/H(u,v)}・・・(6) なお、式(6)において「F-1」は逆フーリエ変換を表
している。ここで、周波数領域での演算は、「1/H
(u,v)」に変えてウィナーフィルタと呼ばれる関数
を掛けるものとすれば、ノイズの影響を抑えることがで
きる。The expression “1 / H (u, u,
v) ”, equation (5) can be obtained, and equation (6) can be obtained by inverse Fourier transform of equation (5). G ′ (u, v) / H (u, v) = G (u, v) (5) g (x, y) = F −1 {G ′ (u, v) / H (u, u) v)} (6) Note that “F −1 ” in Expression (6) represents an inverse Fourier transform. Here, the calculation in the frequency domain is “1 / H
If a function called a Wiener filter is applied instead of (u, v), the influence of noise can be suppressed.
【0096】このようにして、半影の大きさや形状が判
っていれば、半影の影響を除去した元画像g(x,y)
を得ることができる。すなわち、半影の影響を防止する
処理を行うことができる。なお、半影の影響を防止する
処理は、デコンボルーションを用いた処理に限られるも
のでなく、他の方法を用いるものとしてもよい。In this manner, if the size and shape of the penumbra are known, the original image g (x, y) from which the influence of the penumbra has been removed
Can be obtained. That is, processing for preventing the influence of penumbra can be performed. Note that the processing for preventing the influence of penumbra is not limited to processing using deconvolution, and may use other methods.
【0097】さらに画像処理では、位相差撮影、すなわ
ちマイクロフォーカスX線源からの放射線が被写体を透
過する場合のわずかな回折あるいは屈折に基づいて生じ
た干渉効果を利用して鮮明な放射線画像を得ることがで
きる撮影が行われた場合、図10に示すように干渉効果
によって被写体の各部の境界部分で信号レベルが大きく
なることから、この信号レベルが大きくなる位置を強調
する輪郭強調処理を行う。また、位相差撮影では、回折
あるいは屈折に基づいて生じた干渉効果を利用するもの
であることから、検出された境界EPbは正しい境界位
置EPaとは僅かに異なる場合がある。このため、検出
された境界を正しい境界位置に補正する処理も行う。こ
のように、輪郭強調処理を行うことにより診断が容易と
なり、特にマンモ撮影の際の石灰化検出に有効である。
また、輪郭が強調されることから得られた放射線画像を
コンピュータ診断支援(CAD)に活かすこともでき
る。さらに画像処理では、同じ被写体を異なる時間で撮
影し、時間をおいて撮影された複数の放射線画像の経時
差分を求めて、この経時差分に基づいた補正も行われ
る。Further, in the image processing, a clear radiation image is obtained by utilizing the phase difference imaging, that is, the interference effect generated based on slight diffraction or refraction when the radiation from the microfocus X-ray source passes through the subject. When the photographing is performed, the signal level is increased at the boundary between the respective parts of the subject due to the interference effect as shown in FIG. 10, and therefore, a contour emphasizing process for emphasizing the position where the signal level is increased is performed. Further, in the phase contrast imaging, since the interference effect generated based on diffraction or refraction is used, the detected boundary EPb may be slightly different from the correct boundary position EPa. Therefore, processing for correcting the detected boundary to a correct boundary position is also performed. As described above, by performing the contour emphasis processing, diagnosis is facilitated, and it is particularly effective for detecting calcification in mammography.
In addition, a radiation image obtained from enhancement of a contour can be utilized for computer diagnostic assistance (CAD). Furthermore, in the image processing, the same subject is photographed at different times, a temporal difference between a plurality of radiographic images photographed at a later time is obtained, and correction based on the temporal difference is also performed.
【0098】このようにして、種々の画像処理が行われ
て、診断等に適した放射線画像の画像データが生成され
ると、例えば画像処理後の画像データが画像表示装置に
供給されて放射線画像が画像表示装置80に表示され
る。ここで、コントロール装置60のスケール情報生成
部70では、画像の画像読取サイズや拡大率が判ってい
ることから、画像データで示される画像の大きさを判別
するためのスケール情報を生成することができる。この
ため、放射線画像を画像表示装置80に表示する際に、
スケール情報に基づく表示を図11に示すように放射線
画像と合わせて表示すれば、診断等に適した高精細な拡
大放射線画像を表示できるだけでなく、スケール情報に
基づく表示を参照して画面上に表示された被写体のサイ
ズを容易に正しく判別することができる。As described above, when various image processing is performed to generate image data of a radiation image suitable for diagnosis or the like, for example, the image data after the image processing is supplied to the image display device and Is displayed on the image display device 80. Here, the scale information generation unit 70 of the control device 60 can generate the scale information for determining the size of the image represented by the image data because the image reading size and the enlargement ratio of the image are known. it can. For this reason, when displaying the radiation image on the image display device 80,
If the display based on the scale information is displayed together with the radiographic image as shown in FIG. 11, not only can a high-resolution enlarged radiographic image suitable for diagnosis or the like be displayed, but also on the screen by referring to the display based on the scale information. The size of the displayed subject can be easily and correctly determined.
【0099】[0099]
【発明の効果】この発明によれば、被写体を透過したマ
イクロフォーカス放射線源からの放射線に基づく放射線
画像が読取手段で読み取られると共に、少なくとも被写
体と読取手段の間隔が可変可能とされて、この間隔に応
じて制御手段によって放射線画像の読取ゲインが設定さ
れる。このため、被写体と読取手段の間隔を可変させる
ことで、所望のサイズに拡大された被写体の高精細な放
射線画像を得ることができる。According to the present invention, the radiation image based on the radiation from the microfocus radiation source transmitted through the subject is read by the reading means, and at least the distance between the subject and the reading means can be changed. The reading gain of the radiation image is set by the control means in accordance with. Therefore, by changing the distance between the subject and the reading unit, a high-definition radiation image of the subject enlarged to a desired size can be obtained.
【0100】また、マイクロフォーカス放射線源と被写
体と読取手段の位置を判別してそれぞれの間隔が位置検
出手段によって検出できることから、自動的に所望のサ
イズに拡大された放射線画像を得ることができる。さら
に、放射線画像の拡大率を算出して放射線画像のサイズ
を判別するためのスケール情報がスケール情報生成手段
で生成されて、放射線画像を表示する際にスケール情報
に基づき、表示された放射線画像の大きさを判別可能と
する表示が行われる。このため、放射線画像が拡大され
ていても被写体の大きさを正しく判別できる。Further, since the positions of the microfocus radiation source, the object, and the reading means can be determined and the respective intervals can be detected by the position detecting means, a radiation image enlarged to a desired size can be obtained automatically. Further, scale information for calculating the magnification of the radiographic image and determining the size of the radiographic image is generated by the scale information generating means, and when the radiographic image is displayed, the scale information of the displayed radiographic image is generated based on the scale information. A display is made so that the size can be determined. Therefore, the size of the subject can be correctly determined even if the radiation image is enlarged.
【0101】また、読取手段での読取画素サイズは、半
影判別手段によって算出された半影の大きさの0.8倍
以上、好ましくは0.9倍以上の大きさであって、読み
取った放射線画像が所望の鮮鋭度となるように設定され
るので、高精細な放射線画像を得ることができる。The pixel size read by the reading means is at least 0.8 times, preferably at least 0.9 times the size of the penumbra calculated by the penumbra discriminating means. Since the radiation image is set to have a desired sharpness, a high-definition radiation image can be obtained.
【0102】さらに、画像処理手段によって、撮影して
得られた画像データに基づき拡大画像の画像データを生
成する処理、半影によって生ずる影響を防止する処理、
位相差撮影時の輪郭強調処理、位相差撮影時に検出され
た境界位置を正しい位置に補正する位置補正処理等が行
われるので、診断等に適した放射線画像を得ることがで
きる。Further, a process for generating image data of an enlarged image based on image data obtained by photographing by the image processing means, a process for preventing an effect caused by penumbra,
Since a contour enhancement process at the time of phase difference imaging, a position correction process of correcting a boundary position detected at the time of phase difference imaging to a correct position, and the like are performed, a radiation image suitable for diagnosis or the like can be obtained.
【図1】この発明に係る放射線画像撮像装置の全体の構
成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a radiation image capturing apparatus according to the present invention.
【図2】イメージングプレートを用いた読取装置の構成
を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a reading device using an imaging plate.
【図3】塗布型のイメージングプレートの構成を示す図
である。FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a coating type imaging plate.
【図4】コントロール装置の構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a control device.
【図5】気相法によるイメージングプレートの構成を示
す図である。FIG. 5 is a diagram showing a configuration of an imaging plate by a gas phase method.
【図6】フラットパネルディテクタ41の構成を示す図
である。FIG. 6 is a diagram showing a configuration of a flat panel detector 41.
【図7】フラットパネルディテクタ41の一部断面図で
ある。FIG. 7 is a partial cross-sectional view of the flat panel detector 41.
【図8】フラットパネルディテクタ51の構成を示す図
である。FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a flat panel detector 51.
【図9】フラットパネルディテクタ51の一部断面図で
ある。FIG. 9 is a partial cross-sectional view of the flat panel detector 51.
【図10】位相差撮影を説明するための図である。FIG. 10 is a diagram for explaining phase difference photographing.
【図11】表示画像を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a display image.
【図12】焦点径と半影の関係を示す図である。FIG. 12 is a diagram illustrating a relationship between a focal diameter and a penumbra.
11 マイクロフォーカスX線源 12 X線源コントローラ 15 被写体 30 読取装置 31 イメージングプレート 41,51 フラットパネルディテクタ 44,55 走査駆動回路 45,56 信号選択回路 48,58 読取制御回路 60 コントロール装置 80 画像出力装置 311,315 支持体 312,316 輝尽性蛍光体層 313,318,432 保護層 320 光ビーム発生器 322 走査部 324 反射鏡 331 集光体 332 フィルタ 333 光検出器 334 電流/電圧変換部 335 増幅部 336 変換器 340 読取制御部 411,511 基板 412 光電変換素子 421,521 走査線 422,522 信号線 425,542 電荷検出器 430 蛍光体層 512 マイクロプレート 515 トランジスタ 530 電荷蓄積コンデンサ 541 リセット線 DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Micro focus X-ray source 12 X-ray source controller 15 Subject 30 Reading device 31 Imaging plate 41, 51 Flat panel detector 44, 55 Scan driving circuit 45, 56 Signal selection circuit 48, 58 Reading control circuit 60 Control device 80 Image output device 311,315 Support 312,316 Stimulable phosphor layer 313,318,432 Protective layer 320 Light beam generator 322 Scanning unit 324 Reflecting mirror 331 Condenser 332 Filter 333 Photodetector 334 Current / voltage conversion unit 335 Amplification Unit 336 converter 340 read control unit 411, 511 substrate 412 photoelectric conversion element 421, 521 scan line 422, 522 signal line 425, 542 charge detector 430 phosphor layer 512 microplate 515 transistor 530 charge accumulation Capacitor 541 reset line
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G06T 1/00 G21K 4/00 L G21K 4/00 G06F 15/62 390A Fターム(参考) 2G083 AA03 BB04 CC10 DD16 DD20 EE02 2H013 AC03 4C093 AA14 AA28 AA30 CA02 CA08 EA02 EA14 EB02 EB05 EB12 EB17 EB20 EC32 ED11 EE01 FA11 FA18 FA33 FA43 FA60 FC01 FC02 FC03 FD01 FD02 FD03 FD20 FF01 FF07 FF08 FF13 FF16 FF28 FG12 FH04 FH06 5B057 AA08 BA03 BA12 BA17 CE03──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G06T 1/00 G21K 4/00 L G21K 4/00 G06F 15/62 390A F-term (Reference) 2G083 AA03 BB04 CC10 DD16 DD20 EE02 2H013 AC03 4C093 AA14 AA28 AA30 CA02 CA08 EA02 EA14 EB02 EB05 EB12 EB17 EB20 EC32 ED11 EE01 FA11 FA18 FA33 FA43 FA60 FC01 FC02 FC03 FD01 FD02 FD03 FD20 FF01 AFF13 FF07 FF07 FF08 FF08
Claims (11)
ーカス放射線源と、 前記被写体を透過した放射線に基づく放射線画像を読み
取って画像データを生成する読取手段と、 前記読取手段での前記放射線画像を読み取りを制御する
制御手段を有し、 少なくとも前記被写体と前記読取手段の間隔を可変可能
とし、 前記制御手段では、前記間隔に応じて前記放射線画像の
読取ゲインを設定することを特徴とする放射線画像撮像
装置。1. A microfocus radiation source for irradiating a subject with radiation, reading means for reading a radiation image based on radiation transmitted through the subject to generate image data, and reading the radiation image by the reading means. A radiographic image capturing apparatus, comprising: a control unit for controlling, wherein at least an interval between the subject and the reading unit is variable, and the control unit sets a reading gain of the radiographic image according to the interval. .
被写体と前記読取手段の位置を判別してそれぞれの間隔
を検出する位置検出手段を有することを特徴とする請求
項1記載の放射線画像撮像装置。2. The radiation image capturing apparatus according to claim 1, further comprising a position detecting unit that determines the positions of the microfocus radiation source, the subject, and the reading unit and detects the respective intervals.
被写体と前記読取手段のそれぞれの間隔から、前記放射
線画像の拡大率を算出して前記放射線画像のサイズを判
別するためのスケール情報を生成するスケール情報生成
手段を有することを特徴とする請求項1あるいは請求項
2記載の放射線画像撮像装置。3. Scale information for calculating a scale factor of the radiation image by calculating an enlargement ratio of the radiation image from a distance between the microfocus radiation source, the subject, and the reading unit. 3. The radiation image capturing apparatus according to claim 1, further comprising a generation unit.
タに基づく放射線画像を表示する際には、前記スケール
情報生成手段で生成されたスケール情報に基づき、表示
された放射線画像の大きさを判別可能とする表示を行う
ことを特徴とする請求項3記載の放射線画像撮像装置。4. An image display device, wherein when displaying a radiation image based on the image data generated by the reading device by the image display device, based on the scale information generated by the scale information generating device. 4. The radiographic image capturing apparatus according to claim 3, wherein a display is provided so that the size of the displayed radiographic image can be determined.
の大きさと前記マイクロフォーカス放射線源と前記被写
体と前記読取手段のそれぞれの間隔から、前記マイクロ
フォーカス放射線源の焦点の半影の大きさを算出する半
影判別手段を有することを特徴とする請求項1あるいは
請求項2記載の放射線画像撮像装置。5. A half for calculating a size of a penumbra of a focus of the microfocus radiation source from a size of a focus of the microfocus radiation source and a distance between the microfocus radiation source, the subject, and the reading unit. 3. The radiation image capturing apparatus according to claim 1, further comprising a shadow determining unit.
記半影判別手段で判別された半影の大きさの0.8倍以
上、好ましくは0.9倍以上の大きさであって、前記読
み取った放射線画像が所望の鮮鋭度となるように設定す
ることを特徴とする請求項5記載の放射線画像撮像装
置。6. The pixel size read by the reading means is at least 0.8 times, preferably at least 0.9 times the size of the penumbra determined by the penumbra determining means, The radiation image capturing apparatus according to claim 5, wherein the read radiation image is set to have a desired sharpness.
ーカス放射線源と、 前記被写体を透過した放射線に基づく放射線画像を読み
取って画像データを生成する読取手段と、 前記読取手段で生成された画像データを処理する画像処
理手段を有し、 前記画像処理手段では、前記画像データに基づき拡大画
像の画像データを生成することを特徴とする放射線画像
撮像装置。7. A microfocus radiation source for irradiating a subject with radiation, reading means for reading a radiation image based on radiation transmitted through the subject to generate image data, and processing image data generated by the reading means. A radiation image capturing apparatus, comprising: an image processing unit configured to generate image data of an enlarged image based on the image data.
ーカス放射線源と、前記被写体を透過した放射線に基づ
く放射線画像を読み取って画像データを生成する読取手
段と、 前記読取手段で生成された画像データを処理する画像処
理手段を有し、 前記画像処理手段では、前記マイクロフォーカス放射線
源の焦点径の半影に基づき、前記半影によって生ずる影
響を防止する処理を行うことを特徴とする放射線画像撮
像装置。8. A microfocus radiation source for irradiating a subject with radiation, reading means for reading a radiation image based on radiation transmitted through the subject to generate image data, and processing image data generated by the reading means. A radiographic imaging apparatus, comprising: an image processing unit that performs processing for preventing an effect caused by the penumbra based on a penumbra of a focal diameter of the microfocus radiation source.
ョンを用いて前記半影によって生ずる影響を防止する処
理を行うことを特徴とする請求項8記載の放射線画像撮
像装置。9. The radiation image capturing apparatus according to claim 8, wherein the image processing means performs a process for preventing an effect caused by the penumbra by using deconvolution.
ォーカス放射線源と、 前記被写体を透過した放射線に基づく放射線画像を読み
取って画像データを生成する読取手段と、 前記読取手段で生成された画像データを処理する画像処
理手段を有し、 前記画像処理手段では、位相差撮影時に輪郭強調処理を
行うことを特徴とする放射線画像撮像装置。10. A microfocus radiation source for irradiating a subject with radiation, reading means for reading a radiation image based on radiation transmitted through the subject to generate image data, and processing image data generated by the reading means. A radiation image capturing apparatus comprising: an image processing unit that performs edge enhancement processing during phase difference imaging.
ォーカス放射線源と、 前記被写体を透過した放射線に基づく放射線画像を読み
取って画像データを生成する読取手段と、 前記読取手段で生成された画像データを処理する画像処
理手段を有し、 前記画像処理手段では、位相差撮影時に検出された境界
位置を正しい位置に補正する位置補正処理を行うことを
特徴とする放射線画像撮像装置。11. A microfocus radiation source for irradiating a subject with radiation, reading means for reading a radiation image based on radiation transmitted through the subject to generate image data, and processing image data generated by the reading means. A radiation image pickup apparatus comprising: an image processing unit that performs a position correction process that corrects a boundary position detected during phase difference imaging to a correct position.
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WO2002078546A1 (en) * | 2001-03-29 | 2002-10-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray diagnosing apparatus |
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JP2007255951A (en) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Ratoc System Engineering Co Ltd | X-ray inspection device |
US7346204B2 (en) | 2001-05-16 | 2008-03-18 | Fujifilm Corporation | Method of and apparatus for generating phase contrast image |
WO2008038491A1 (en) * | 2006-09-28 | 2008-04-03 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Radiographic device |
WO2017034075A1 (en) * | 2015-08-26 | 2017-03-02 | 주식회사 디알텍 | Radiation image processing method and radiographic system |
-
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Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7116752B2 (en) | 2001-03-29 | 2006-10-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Diagnostic X-ray system |
WO2002078546A1 (en) * | 2001-03-29 | 2002-10-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray diagnosing apparatus |
US7346204B2 (en) | 2001-05-16 | 2008-03-18 | Fujifilm Corporation | Method of and apparatus for generating phase contrast image |
US6792070B2 (en) | 2001-10-16 | 2004-09-14 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Radiation image recording method and apparatus |
US7212610B2 (en) | 2002-04-05 | 2007-05-01 | Hamamatsu Photonics K.K. | X-ray tube adjustment apparatus, x-ray tube adjustment system, and x-ray tube adjustment method |
WO2003086027A1 (en) * | 2002-04-05 | 2003-10-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | X-ray tube adjustment apparatus, x-ray tube adjustment system, and x-ray tube adjustment method |
JP2004173891A (en) * | 2002-11-27 | 2004-06-24 | Konica Minolta Holdings Inc | Breast image photographing apparatus |
JP2005352049A (en) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | Radiation image reading system |
JP2007255951A (en) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Ratoc System Engineering Co Ltd | X-ray inspection device |
JP4601571B2 (en) * | 2006-03-20 | 2010-12-22 | ラトックシステムエンジニアリング株式会社 | X-ray inspection equipment |
WO2008038491A1 (en) * | 2006-09-28 | 2008-04-03 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Radiographic device |
WO2017034075A1 (en) * | 2015-08-26 | 2017-03-02 | 주식회사 디알텍 | Radiation image processing method and radiographic system |
US9916656B2 (en) | 2015-08-26 | 2018-03-13 | Drtech Corp | Method for processing radiographic image and radiography system |
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