JP2000244097A - プリント配線板の導通検査方法 - Google Patents
プリント配線板の導通検査方法Info
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- JP2000244097A JP2000244097A JP11041289A JP4128999A JP2000244097A JP 2000244097 A JP2000244097 A JP 2000244097A JP 11041289 A JP11041289 A JP 11041289A JP 4128999 A JP4128999 A JP 4128999A JP 2000244097 A JP2000244097 A JP 2000244097A
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- JP
- Japan
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- inspection
- land
- continuity
- wiring board
- printed wiring
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- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 プリント配線板に於けるソルダーレジスト及
び／又はシンボルマークのズレ許容値に対する良否判定
の精度向上。 【解決手段】 検査対象配線基板にズレ検査ランドを設
ける工程と、該ズレ検査ランドに、ソルダーレジスト及
び／又はシンボルマークの印刷工程の際に印刷層を形成
する工程と、該印刷層が形成されたズレ検査ランド上
に、加圧導電ゴムを介在させた状態でズレ検査用導通端
子を押圧せしめ、通電の有無によりソルダーレジスト及
び／又はシンボルマークのズレ検査を行う工程とを含む
ことを特徴とするプリント配線板の導通検査方法。
び／又はシンボルマークのズレ許容値に対する良否判定
の精度向上。 【解決手段】 検査対象配線基板にズレ検査ランドを設
ける工程と、該ズレ検査ランドに、ソルダーレジスト及
び／又はシンボルマークの印刷工程の際に印刷層を形成
する工程と、該印刷層が形成されたズレ検査ランド上
に、加圧導電ゴムを介在させた状態でズレ検査用導通端
子を押圧せしめ、通電の有無によりソルダーレジスト及
び／又はシンボルマークのズレ検査を行う工程とを含む
ことを特徴とするプリント配線板の導通検査方法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板の
導通検査方法、特に加圧導電ゴムを使用した導通検査方
法に関する。
導通検査方法、特に加圧導電ゴムを使用した導通検査方
法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、電子機器製品の小型・軽量化が進
む中、プリント配線板に於ても小型・高密度化が要求さ
れ、電子部品を実装するランドピッチも狭くなったこと
に伴ない、導通検査端子として、プローブピンでは対応
出来ない製品が増えており、このような製品に対して
は、検査対象配線基板の端子パターンと対称のパターン
を有する導通検査用基板を作製し、前記導通検査用基板
の端子を導通検査端子とし、加圧導電ゴムを介在させ
て、前記検査対象配線基板の端子と、前記導通検査用基
板の端子が合わさるように接触させ、加圧導電ゴムを前
記導通検査端子にて押圧することにより行われている。
因に、加圧導電ゴムとは、ゴム中に数１０μｍ程度の金
属微粒子を分散した導電ゴムで、通常は絶縁状態である
が、圧力を加えるとその部分の金属微粒子の密度が高く
なり、部分的に通電が可能となる特性を有するものであ
る。
む中、プリント配線板に於ても小型・高密度化が要求さ
れ、電子部品を実装するランドピッチも狭くなったこと
に伴ない、導通検査端子として、プローブピンでは対応
出来ない製品が増えており、このような製品に対して
は、検査対象配線基板の端子パターンと対称のパターン
を有する導通検査用基板を作製し、前記導通検査用基板
の端子を導通検査端子とし、加圧導電ゴムを介在させ
て、前記検査対象配線基板の端子と、前記導通検査用基
板の端子が合わさるように接触させ、加圧導電ゴムを前
記導通検査端子にて押圧することにより行われている。
因に、加圧導電ゴムとは、ゴム中に数１０μｍ程度の金
属微粒子を分散した導電ゴムで、通常は絶縁状態である
が、圧力を加えるとその部分の金属微粒子の密度が高く
なり、部分的に通電が可能となる特性を有するものであ
る。
【０００３】而して、斯かる加圧導電ゴムは、その柔軟
性から最小０．２５mmの狭ピッチまで、面接触による導
通検査が可能ではあるものの、加圧導電ゴムの性質上、
図７に示したように、実装ランド１５上にソルダーレジ
スト１４の被り１６等のズレが発生した場合に於ても、
僅かでも実装ランド１５が露出していれば、加圧導電ゴ
ム１２を介して導通検査端子１７が導通検出する結果、
本来表面実装部品が搭載できず不良品であるにも拘ら
ず、良品判定してしまうという不具合を有していた。
性から最小０．２５mmの狭ピッチまで、面接触による導
通検査が可能ではあるものの、加圧導電ゴムの性質上、
図７に示したように、実装ランド１５上にソルダーレジ
スト１４の被り１６等のズレが発生した場合に於ても、
僅かでも実装ランド１５が露出していれば、加圧導電ゴ
ム１２を介して導通検査端子１７が導通検出する結果、
本来表面実装部品が搭載できず不良品であるにも拘ら
ず、良品判定してしまうという不具合を有していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、加圧導電ゴ
ムを使用した従来の導通検査に於て発生する上記不具合
を解決し、ソルダーレジスト及び／又はシンボルマーク
の、ズレ許容値に対する良否判定が可能なプリント配線
板の導通検査方法を提供することを目的とする。
ムを使用した従来の導通検査に於て発生する上記不具合
を解決し、ソルダーレジスト及び／又はシンボルマーク
の、ズレ許容値に対する良否判定が可能なプリント配線
板の導通検査方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決すべく、鋭意検討した結果なされたもので、検査対象
配線基板にズレ検査ランドを設ける工程と、該ズレ検査
ランドに、ソルダーレジスト及び／又はシンボルマーク
の印刷工程の際に印刷層を形成する工程と、該印刷層が
形成されたズレ検査ランド上に、加圧導電ゴムを介在さ
せた状態でズレ検査用導通端子を押圧せしめ、通電の有
無によりソルダーレジスト及び／又はシンボルマークの
ズレ検査を行う工程とを含むことを特徴とするプリント
配線板の導通検査方法により上記目的を達成したもので
ある。
決すべく、鋭意検討した結果なされたもので、検査対象
配線基板にズレ検査ランドを設ける工程と、該ズレ検査
ランドに、ソルダーレジスト及び／又はシンボルマーク
の印刷工程の際に印刷層を形成する工程と、該印刷層が
形成されたズレ検査ランド上に、加圧導電ゴムを介在さ
せた状態でズレ検査用導通端子を押圧せしめ、通電の有
無によりソルダーレジスト及び／又はシンボルマークの
ズレ検査を行う工程とを含むことを特徴とするプリント
配線板の導通検査方法により上記目的を達成したもので
ある。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を図面と
共に説明する。
共に説明する。
【０００７】図１は検査対象プリント配線基板の平面説
明図で、当該基板はその製品部４の外側部分５に、ソル
ダーレジスト及び／又はシンボルマークの印刷工程の
際、それと同時に印刷層を形成して使用するためのズレ
検査ランド１が設けられている。
明図で、当該基板はその製品部４の外側部分５に、ソル
ダーレジスト及び／又はシンボルマークの印刷工程の
際、それと同時に印刷層を形成して使用するためのズレ
検査ランド１が設けられている。
【０００８】ズレ検査ランド１の具体的形設部位は、製
品の取り数によっては製品部４内であっても良いが、製
品部４外に設けるのが好ましく、この場合、基板の製品
部４内には、複数個の製品が面付けされているため、基
板の製品外部分たる外周４辺部のうち少なくとも対向す
る２辺部にそれぞれ設けるのが、上下、左右、対角等の
２点で印刷ズレが確認でき、片側のみのズレが発生しな
い、と云う点でより望ましい。
品の取り数によっては製品部４内であっても良いが、製
品部４外に設けるのが好ましく、この場合、基板の製品
部４内には、複数個の製品が面付けされているため、基
板の製品外部分たる外周４辺部のうち少なくとも対向す
る２辺部にそれぞれ設けるのが、上下、左右、対角等の
２点で印刷ズレが確認でき、片側のみのズレが発生しな
い、と云う点でより望ましい。
【０００９】また、ズレ検査ランド１は、その具体的形
状や形設個数の如何も問わないが、例えば直径２．０mm
の円形状銅ランドを１．５mm間隔で片側３個ずつ配置し
て形成し、両サイドに位置するランドをソルダーレジス
ト用ランド２ａ、２ｂ、中央に位置するランドをシンボ
ルマーク用ランド３とするのが好ましい。
状や形設個数の如何も問わないが、例えば直径２．０mm
の円形状銅ランドを１．５mm間隔で片側３個ずつ配置し
て形成し、両サイドに位置するランドをソルダーレジス
ト用ランド２ａ、２ｂ、中央に位置するランドをシンボ
ルマーク用ランド３とするのが好ましい。
【００１０】すなわち、ソルダーレジスト用ランド２
ａ、２ｂを２個設ければ、設定するズレ許容値を、例え
ば一方のランド２ａを１００μｍ、他方のランド２ｂを
５０μｍと適宜変えることにより、目的に応じその何れ
かの用時選択が可能となる。因に、精度の厳しいズレ検
査を行う場合には、そのまま両方のランド２ａ、２ｂを
使用して検査を行い、精度の緩いズレ検査を行う場合に
はランド２ｂのみを使用し、ランド２ａは機能しないよ
うにして検査する。これは、精度の厳しいズレ検査機
能、すなわちランド２ａを残しておくと、誤った不良判
定が多く発生する可能性があるためで、例えばポリイミ
ドテープ等の絶縁テープを当該ランド２ａに対応するズ
レ検査用導通端子に貼って、絶縁除去することにより行
われる。
ａ、２ｂを２個設ければ、設定するズレ許容値を、例え
ば一方のランド２ａを１００μｍ、他方のランド２ｂを
５０μｍと適宜変えることにより、目的に応じその何れ
かの用時選択が可能となる。因に、精度の厳しいズレ検
査を行う場合には、そのまま両方のランド２ａ、２ｂを
使用して検査を行い、精度の緩いズレ検査を行う場合に
はランド２ｂのみを使用し、ランド２ａは機能しないよ
うにして検査する。これは、精度の厳しいズレ検査機
能、すなわちランド２ａを残しておくと、誤った不良判
定が多く発生する可能性があるためで、例えばポリイミ
ドテープ等の絶縁テープを当該ランド２ａに対応するズ
レ検査用導通端子に貼って、絶縁除去することにより行
われる。
【００１１】尚、ソルダーレジスト用ランド２ａ、２ｂ
及びシンボルマーク用ランド３のズレ許容値は目的に応
じて適宜設定される。
及びシンボルマーク用ランド３のズレ許容値は目的に応
じて適宜設定される。
【００１２】図２は本発明で用いるズレ検査用導通端子
の正面説明図（ａ）及び底面説明図（ｂ）で、当該ズレ
検査用導通端子６は、ズレ検査ランド１の外周部押圧用
外周端子８を複数本備えている。
の正面説明図（ａ）及び底面説明図（ｂ）で、当該ズレ
検査用導通端子６は、ズレ検査ランド１の外周部押圧用
外周端子８を複数本備えている。
【００１３】この外周端子８は、仮想円上に等間隔で少
なくとも４本以上配設するのが、ズレ検査ランド１の外
周部を少なくとも４点以上でチェックできるので、ズレ
判定の精度向上を図る上で有利である。
なくとも４本以上配設するのが、ズレ検査ランド１の外
周部を少なくとも４点以上でチェックできるので、ズレ
判定の精度向上を図る上で有利である。
【００１４】ズレ検査用導通端子６は、上記外周端子８
のみで構成しても良いが、更にズレ検査ランド１の中央
部押圧用中央端子７を、当該外周端子８のセンターに１
本設けるのが、ズレ判定の精度向上の点で有利である。
のみで構成しても良いが、更にズレ検査ランド１の中央
部押圧用中央端子７を、当該外周端子８のセンターに１
本設けるのが、ズレ判定の精度向上の点で有利である。
【００１５】図３は、印刷層が形成されたズレ検査ラン
ド１の平面説明図（ａ）及び断面説明図（ｂ）で、当該
印刷層９は、ソルダーレジスト及び／又はシンボルマー
クの印刷工程の際、それと同時に形成されたものであ
り、ズレ検査ランド１の上面中央部に形成された小円形
のランド露出部１０を除き、該ズレ検査ランド１の径よ
りズレ許容値１１相当分大径の円状印刷層９にて当該ラ
ンド１の上面を被覆していることを示している。
ド１の平面説明図（ａ）及び断面説明図（ｂ）で、当該
印刷層９は、ソルダーレジスト及び／又はシンボルマー
クの印刷工程の際、それと同時に形成されたものであ
り、ズレ検査ランド１の上面中央部に形成された小円形
のランド露出部１０を除き、該ズレ検査ランド１の径よ
りズレ許容値１１相当分大径の円状印刷層９にて当該ラ
ンド１の上面を被覆していることを示している。
【００１６】図４は、良品判定の場合の導通検査状態の
断面説明図で、図３に示されたズレ検査ランド１上に、
加圧導電ゴム１２を介在させた状態で図２で示したズレ
検査用導通端子６を押圧せしめた状態を示している。す
なわち、当該ズレ検査用導通端子６の中央端子７は、加
圧導電ゴム１２を介してランド露出部１０に於て露出し
ているズレ検査ランド１に接触しているが、外周端子８
は、印刷層９によりズレ検査ランド１の外周部が被覆さ
れているため、ズレ検査ランド１に接触しない状態とな
っている。而して、この場合は、中央端子７と外周端子
８は何れの端子部間に於ても導通せず、ズレ検査ランド
１上に形成された印刷層９はズレ許容値１１以内で形成
されていることになり、良品判定される。
断面説明図で、図３に示されたズレ検査ランド１上に、
加圧導電ゴム１２を介在させた状態で図２で示したズレ
検査用導通端子６を押圧せしめた状態を示している。す
なわち、当該ズレ検査用導通端子６の中央端子７は、加
圧導電ゴム１２を介してランド露出部１０に於て露出し
ているズレ検査ランド１に接触しているが、外周端子８
は、印刷層９によりズレ検査ランド１の外周部が被覆さ
れているため、ズレ検査ランド１に接触しない状態とな
っている。而して、この場合は、中央端子７と外周端子
８は何れの端子部間に於ても導通せず、ズレ検査ランド
１上に形成された印刷層９はズレ許容値１１以内で形成
されていることになり、良品判定される。
【００１７】図５は他の印刷層が形成されたズレ検査ラ
ンド１の平面説明図（ａ）及び断面説明図で、当該印刷
層９は、ソルダーレジスト及び／又はシンボルマークの
印刷工程の際、それと同時に形成されたものであり、ズ
レ検査ランド１の上面中央部に形成された小円形のラン
ド露出部１０のみならず、該ズレ検査ランド１の外縁部
に於ても一部印刷層９が存在せず、外縁露出部１３が形
成されていることを示している。
ンド１の平面説明図（ａ）及び断面説明図で、当該印刷
層９は、ソルダーレジスト及び／又はシンボルマークの
印刷工程の際、それと同時に形成されたものであり、ズ
レ検査ランド１の上面中央部に形成された小円形のラン
ド露出部１０のみならず、該ズレ検査ランド１の外縁部
に於ても一部印刷層９が存在せず、外縁露出部１３が形
成されていることを示している。
【００１８】図６は不良判定の場合の導通検査状態の断
面説明図で、図５に示されたズレ検査ランド１上に、加
圧導電ゴム１２を介在させた状態で図２で示したズレ検
査用導通端子６を押圧せしめた状態を示している。すな
わち、当該ズレ検査用導通端子６の中央端子７が、加圧
導電ゴム１２を介してランド露出部１０に於て露出して
いるズレ検査ランド１に接触しているのみならず、外周
端子８の中、１本が加圧導電ゴム１２を介して当該ラン
ド１の外縁露出部１３に接触している状態となってい
る。而して、この場合は、中央端子７と外周端子８の中
の１本との間で導通検出され、ズレ検査ランド１上に形
成された印刷層９はズレ許容値外で形成されていること
になり、不良判定される。
面説明図で、図５に示されたズレ検査ランド１上に、加
圧導電ゴム１２を介在させた状態で図２で示したズレ検
査用導通端子６を押圧せしめた状態を示している。すな
わち、当該ズレ検査用導通端子６の中央端子７が、加圧
導電ゴム１２を介してランド露出部１０に於て露出して
いるズレ検査ランド１に接触しているのみならず、外周
端子８の中、１本が加圧導電ゴム１２を介して当該ラン
ド１の外縁露出部１３に接触している状態となってい
る。而して、この場合は、中央端子７と外周端子８の中
の１本との間で導通検出され、ズレ検査ランド１上に形
成された印刷層９はズレ許容値外で形成されていること
になり、不良判定される。
【００１９】尚、シンボルマークに関しては、通常、例
えばズレ許容値を１５０μｍ等と設定して使用し得る
が、ズレ許容値が非常にラフな場合には、前述した通
り、ポリイミドテープにてズレ検査用導通端子６の中央
端子７を絶縁除去し、当該外周端子８の少なくとも２個
の間に於ける導通検出により不良判定とすることもでき
る。
えばズレ許容値を１５０μｍ等と設定して使用し得る
が、ズレ許容値が非常にラフな場合には、前述した通
り、ポリイミドテープにてズレ検査用導通端子６の中央
端子７を絶縁除去し、当該外周端子８の少なくとも２個
の間に於ける導通検出により不良判定とすることもでき
る。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、加
圧導電ゴムを使用した従来の導通検査工程で問題となっ
ていた、ソルダーレジスト及びシンボルマークの品質上
のズレ許容値をオーバーした、本来不良品となるべきプ
リント配線板の良品判定を防止することが可能となり、
不良品流出を大幅に削減することが可能となる。
圧導電ゴムを使用した従来の導通検査工程で問題となっ
ていた、ソルダーレジスト及びシンボルマークの品質上
のズレ許容値をオーバーした、本来不良品となるべきプ
リント配線板の良品判定を防止することが可能となり、
不良品流出を大幅に削減することが可能となる。
【図１】本発明プリント配線基板例を示す平面説明図。
【図２】本発明ズレ検査用導通端子例を示すもので、
（ａ）はその正面説明図、（ｂ）はその底面説明図。
（ａ）はその正面説明図、（ｂ）はその底面説明図。
【図３】印刷層が形成されたズレ検査ランド例を示すも
ので（ａ）はその平面説明図、（ｂ）はその断面説明
図。
ので（ａ）はその平面説明図、（ｂ）はその断面説明
図。
【図４】本発明導通検査方法による導通検査例（良品判
定）を示す断面説明図。
定）を示す断面説明図。
【図５】他の印刷層が形成されたズレ検査ランド例を示
すもので、（ａ）はその平面説明図、（ｂ）はその断面
説明図。
すもので、（ａ）はその平面説明図、（ｂ）はその断面
説明図。
【図６】本発明導通検査方法による導通検査例（不良判
定）を示す断面説明図。
定）を示す断面説明図。
【図７】従来法による導通検査例を示す断面説明図。
１・・・ズレ検査ランド ２ａ、２ｂ・・・ソルダーレジスト用ランド ３・・・シンボルマーク用ランド ４・・・基板の製品部 ５・・・基板の製品外側部分 ６・・・ズレ検査用導通端子 ７・・・中央端子 ８・・・外周端子 ９・・・印刷層 １０・・・ランドの中央露出部 １１・・・ズレ許容値 １２・・・加圧導電ゴム １３・・・ランドの外縁露出部 １４・・・ソルダーレジスト １５・・・実装ランド １６・・・ソルダーレジスト被り部 １７・・・導通検査端子 １８・・・導通検査用基板
【手続補正書】
【提出日】平成１１年２月２６日（１９９９．２．２
６）
６）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１０】すなわち、ソルダーレジスト用ランド２
ａ、２ｂを２個設ければ、設定するズレ許容値を、例え
ば一方のランド２ａを１００μｍ、他方のランド２ｂを
５０μｍと適宜変えることにより、目的に応じその何れ
かの用時選択が可能となる。因に、精度の厳しいズレ検
査を行う場合には、そのまま両方のランド２ａ、２ｂを
使用して検査を行い、精度の緩いズレ検査を行う場合に
はランド２ａのみを使用し、ランド２ｂは機能しないよ
うにして検査する。これは、精度の厳しいズレ検査機
能、すなわちランド２ｂを残しておくと、誤った不良判
定が多く発生する可能性があるためで、例えばポリイミ
ドテープ等の絶縁テープを当該ランド２ｂに対応するズ
レ検査用導通端子に貼って、絶縁除去することにより行
われる。
ａ、２ｂを２個設ければ、設定するズレ許容値を、例え
ば一方のランド２ａを１００μｍ、他方のランド２ｂを
５０μｍと適宜変えることにより、目的に応じその何れ
かの用時選択が可能となる。因に、精度の厳しいズレ検
査を行う場合には、そのまま両方のランド２ａ、２ｂを
使用して検査を行い、精度の緩いズレ検査を行う場合に
はランド２ａのみを使用し、ランド２ｂは機能しないよ
うにして検査する。これは、精度の厳しいズレ検査機
能、すなわちランド２ｂを残しておくと、誤った不良判
定が多く発生する可能性があるためで、例えばポリイミ
ドテープ等の絶縁テープを当該ランド２ｂに対応するズ
レ検査用導通端子に貼って、絶縁除去することにより行
われる。
Claims (10)
- 【請求項１】 検査対象配線基板にズレ検査ランドを設
ける工程と、該ズレ検査ランドに、ソルダーレジスト及
び／又はシンボルマークの印刷工程の際に印刷層を形成
する工程と、該印刷層が形成されたズレ検査ランド上
に、加圧導電ゴムを介在させた状態でズレ検査用導通端
子を押圧せしめ、通電の有無によりソルダーレジスト及
び／又はシンボルマークのズレ検査を行う工程とを含む
ことを特徴とするプリント配線板の導通検査方法。 - 【請求項２】 ズレ検査ランドを、基板の製品外部分に
設けることを特徴とする請求項１記載のプリント配線板
の導通検査方法。 - 【請求項３】 ズレ検査ランドを、基板の製品外部分た
る外周４辺部のうち少なくとも対向する２辺部にそれぞ
れ設けることを特徴とする請求項１又は２記載のプリン
ト配線板の導通検査方法。 - 【請求項４】 ズレ検査ランドが、同径の複数円ランド
である請求項１〜３の何れか１項記載のプリント配線板
の導通検査方法。 - 【請求項５】 ズレ検査ランドに、該ランド径よりもズ
レ許容値相当分大きい径の、かつ該ランド中央部にラン
ド露出部を有する印刷層を形成することを特徴とする請
求項１〜４のいずれか１項記載のプリント配線板の導通
検査方法。 - 【請求項６】 ズレ検査ランドの外周部押圧用外周端子
を複数本備えているズレ検査用導通端子を用いることを
特徴とする請求項１〜５の何れか１項記載のプリント配
線板の導通検査方法。 - 【請求項７】 ズレ検査用導通端子の外周端子が、仮想
円上に等間隔で少なくとも４本以上配設されていること
を特徴とする請求項６記載のプリント配線板の導通検査
方法。 - 【請求項８】 ズレ検査用導通端子が、更にズレ検査ラ
ンドの中央部押圧用中央端子を１本備えていることを特
徴とする請求項６又は７記載のプリント配線板の導通検
査方法。 - 【請求項９】 外周端子の少なくとも２個の間に於ける
導通検出により不良判定とすることを特徴とする請求項
６〜８の何れか１項記載のプリント配線板の導通検査方
法。 - 【請求項１０】 中央端子と外周端子の少なくとも１個
との間に於ける導通検出により不良判定とすることを特
徴とする請求項８記載のプリント配線板の導通検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11041289A JP2000244097A (ja) | 1999-02-19 | 1999-02-19 | プリント配線板の導通検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11041289A JP2000244097A (ja) | 1999-02-19 | 1999-02-19 | プリント配線板の導通検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000244097A true JP2000244097A (ja) | 2000-09-08 |
Family
ID=12604302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11041289A Pending JP2000244097A (ja) | 1999-02-19 | 1999-02-19 | プリント配線板の導通検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000244097A (ja) |
-
1999
- 1999-02-19 JP JP11041289A patent/JP2000244097A/ja active Pending
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