JP2000241282A - 偏心計測用支持装置 - Google Patents

偏心計測用支持装置

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JP2000241282A
JP2000241282A JP11043431A JP4343199A JP2000241282A JP 2000241282 A JP2000241282 A JP 2000241282A JP 11043431 A JP11043431 A JP 11043431A JP 4343199 A JP4343199 A JP 4343199A JP 2000241282 A JP2000241282 A JP 2000241282A
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JP
Japan
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block
rotor
molecular weight
steel
resin
Prior art date
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Pending
Application number
JP11043431A
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English (en)
Inventor
Kesaharu Nishi
袈裟春 西
Hiroshi Hayashi
寛 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nihon Kensetsu Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Nihon Kensetsu Kogyo Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】回転機械の回転子等の偏心計測において使用す
る、軽量で取り扱いやすく、設定および調整が容易にで
き、回転子等を容易に回転でき、かつ、回転子等を直置
きしてもその軸受面を傷付けない回転子等の支持装置を
提供する。 【解決手段】平均分子量350万から400万(光散乱
法)の超高分子量低圧法ポリエチレンで製作したVブロ
ック。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、回転子等の偏心計
測に用いる、高精度計測が可能で、かつ、取り扱い容易
な支持装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】蒸気タービン、水車、ポンプ等の回転機
械にあっては、回転子を定期的に取り外し、その回転
子、あるいは、回転子の主軸(以下「回転子等」という)
の偏心計測をして、その後の運転において予期せぬ振動
によるトラブルが発生しないように備える。偏心計測
は、一般に、図2に示すように、取り外した回転子等の
軸受け部分を定盤上に設定した支持装置で支え、その状
態で回転子等を少しづつ回転させながら、回転子等の長
手方向に数点定められた測定点の偏心量を計測すること
により行われる。
【0003】大型回転機械にあっては、回転子等も重
く、それを支えて回転させる支持装置もその荷重に耐え
るべく高い強度が要求される一方、0.01mmの計測
精度を要求される計測目的から高い寸法精度が要求され
る。一般には、鋼材から削り出したブロックにV字型の
切込みを付けたVブロックが使用される。大型回転機械
用では鋼製のVブロックはそれ自体が重量物である。
【0004】偏心計測を行なう前に、定盤上で鋼製Vブ
ロックを回転子等の軸受の間隔にあわせた位置に置き、
Vブロック相互のセンターが一致するようにVブロック
の位置を微調整して設定する。その上に回転子等を載せ
るが、大型回転機械の回転子等にあっては、軸受間隔、
従って、Vブロック間の間隔が大きく、事前に慎重にV
ブロックの位置を設定しても、回転子等のセンターに一
回でぴったりと合わず、Vブロック位置の設定のやり直
しとなることが多い。鋼製の重いVブロックを微小な距
離だけ移動したり、微小な角度だけ回転するのは難し
く、設定およびその調整の作業は困難で時間もかかる。
【0005】偏心計測では、上述の通りVブロック上に
置いた回転子等をゆっくりと、通常90°づつ回転させ
て、回転子等の長手方向にあらかじめ数点定められた測
定点の偏心量を計測する。鋼製のVブロックでは摩擦係
数が大きいため、大型回転機械の重い回転子等では回転
に当たり生ずる摩擦力も大きく、回転させるのが容易で
はない。しかも、鋼製Vブロック上に回転子等を直置き
して回転させると回転子等の軸受面に傷が付くことがあ
り、傷付いた軸受面の手直しという余分な作業が必要と
なることもまれではない。軸受面に傷を付けないよう
に、Vブロックの上に油紙を敷いて回転子等を載せる方
法が良く取られるが、偏心計測は0.01mmの測定精
度を必要とするので、油紙が回転子等とVブロックの間
に介在し、回転子等の回転操作の際に油紙そのものの厚
さがわずかに変化することにより、測定精度に悪影響を
与えるので好ましい方法ではない。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】軽量で取り扱いやす
く、設定、および、その調整が容易にでき、偏心計測に
おいて回転子等を容易に回転でき、かつ、回転子等を直
置きしてもその軸受面を傷付けない、鋼製Vブロックに
替わる支持装置を提供することが課題である。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、Vブロックの
素材を鋼から超高分子量樹脂、特に、平均分子量350
万から400万(光散乱法)の超高分子量低圧法ポリエチ
レンに変えることを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】一般に、中圧法や低圧法で生成さ
れたポリエチレンは、硬さ、強さ、耐熱性等で優れた性
能を有することが知られているが、平均分子量350万
から400万(光散乱法)の超高分子量低圧法ポリエチレ
ンは特に、強度、耐磨耗性、耐衝撃性、滑性(低摩擦係
数)、潤滑性、科学的安定性、耐水性、撥水性等に優れ
た素材である。一般に、板材、丸棒、シート、あるい
は、テープ状にして市販されており、各種産業におい
て、耐磨耗部材や、耐腐食部材として活用されている。
【0009】この平均分子量350万から400万(光
散乱法)の超高分子量低圧法ポリエチレン(以下「本材
料」という)を用いて、図1に示すようなVブロックを
製作する。
【0010】
【発明の効果】本材料は、回転子等を静的に支えるには
十分な強度や高い衝撃吸収性を持っているので、従来鋼
製で製作していたのと同様の形状・大きさでVブロック
を製作すれば良いが、規格化されている鋼製Vブロック
の大きさにこだわらず、被機械加工性に優れている利点
を活用して、市販されている板状材から用途に応じた適
切な大きさのVブロックを切り出せばよい。本材料の比
重は0.94と、鋼の7.8に比べて8分の1以下であ
り、鋼製であれば20kgのVブロックが、本材料で製
作すれば同じ形状・同じ寸法で2.4kgとなる。用途
に応じた最小の大きさのVブロックにすれば、さらに軽
量化が期待できる。これだけ軽量化すれば、人の手で容
易に動かすことができるので、微小な距離の移動や微小
な角度の回転も容易で、定盤の上での設定とその調整作
業はきわめて容易になる。
【0011】本材料と回転子等の素材である鋼材との摩
擦係数は0.06から0.08であり、鋼材と鋼材の摩
擦係数0.44に比べ、数分の1である。摩擦抵抗が少
ないため、偏心計測においてスムースに回転子等の回転
ができる。スムースな回転は、作業性を高め作業時間が
短縮できるばかりでなく、作業の安全面でも大きなメリ
ットとなる。
【0012】本材料は、上述の低い摩擦係数に加え、高
い自己潤滑性と適度な硬度を持っているので、回転子等
を直置きして回転させてもその軸受面に傷を付けること
がない。従って、軸受面の手直しという余分の作業は生
じない。また、Vブロックの上に傷付け防止の油紙を敷
く必要がないので、油紙を敷いたりはずしたりする手間
が不要になり、油紙が介在することによる測定精度への
悪影響が避けられる。
【0013】以上のように、本材料で製作したVブロッ
クを採用することにより、軽量で取り扱いやすく、設
定、および、その調整が容易にでき、偏心計測において
回転子等を容易に回転でき、かつ、回転子等を直置きし
てもその軸受面を傷付けない支持装置を提供でき、回転
機械の回転子等の偏心計測における問題点を解決でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の支持装置を示した全体図である。
【図2】本発明の支持装置を使用した回転子等の偏心計
測の実施方法を示した説明図である。
【符号の説明】
1 Vブロック 2 回転子等 3 回転子等の軸受部 4a、4b、4c 回転子等の長手方向にあらかじめ
定められた測定点 5 偏心量の測定器 6 定盤

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 平均分子量350万から400万(光散
    乱法)の超高分子量低圧法ポリエチレン製のVブロック
JP11043431A 1999-02-22 1999-02-22 偏心計測用支持装置 Pending JP2000241282A (ja)

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Cited By (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7742881B2 (en) 2007-08-02 2010-06-22 General Electric Company System and method for detection of rotor eccentricity baseline shift

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