JP2000236066A - Semiconductor integrated circuit and its wiring method - Google Patents

Semiconductor integrated circuit and its wiring method

Info

Publication number
JP2000236066A
JP2000236066A JP11037024A JP3702499A JP2000236066A JP 2000236066 A JP2000236066 A JP 2000236066A JP 11037024 A JP11037024 A JP 11037024A JP 3702499 A JP3702499 A JP 3702499A JP 2000236066 A JP2000236066 A JP 2000236066A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
line
wiring
clock signal
wired
clk
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11037024A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoko Fukushima
陽子 福島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP11037024A priority Critical patent/JP2000236066A/en
Publication of JP2000236066A publication Critical patent/JP2000236066A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wiring method which can minimize increase in area and degradation of wiring property caused by shield wiring carried out for crosstalk countermeasures. SOLUTION: A VDD line 12 is subjected to wiring in the vertical directions in a Y direction in a cell line and a GND line 14 is subjected to wiring in an X direction for supplying power source to a cell 10. For a region where a CLK line is to be subjected to wiring in the X direction, a VDD line and a GND line are subjected to wiring so that the VDD line 12 or the GND line 14 faces opposite to each other. A CLK line wiring region 16 is formed between the VDD lines 14, and a CLK line wiring region 18 is formed between the VDD lines 12. CLK lines 20a, 20e are subjected to wiring in the CLK line wiring regions 16, 18.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、クロック信号から
のクロストークの影響を軽減した半導体集積回路および
その配線方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit in which the influence of crosstalk from a clock signal is reduced, and a wiring method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体集積回路には、信号線,クロック
信号(CLK)線,電源(VDD)線,グランド(GN
D)線が配線されている。この場合に、クロック信号線
から信号線へのクロストークが問題になる。
2. Description of the Related Art A semiconductor integrated circuit includes a signal line, a clock signal (CLK) line, a power supply (VDD) line, and a ground (GN).
D) The line is wired. In this case, crosstalk from the clock signal line to the signal line becomes a problem.

【0003】この問題に対処するため、従来では、図5
に示すように、クロック信号線2の両サイドに専用のシ
ールド線4でシールドすることで、クロストークの影響
を最小にしている。シールド線4は、一定の電位に保持
されるが、通常は、GND線またはVDD線に接続され
て、GND電位またはVDD電位に保持される。なお図
中、6はセルを示している。
In order to address this problem, conventionally, FIG.
As shown in (1), by shielding both sides of the clock signal line 2 with dedicated shield lines 4, the influence of crosstalk is minimized. The shield line 4 is held at a constant potential, but is normally connected to a GND line or a VDD line and held at a GND potential or a VDD potential. In the figure, reference numeral 6 denotes a cell.

【0004】あるいは、図6に示すように、電源線8ま
たは基本ゲートセル10にクロック信号線12を内蔵さ
せ、電源線のレイアウトまたは基本ゲートセルの配置と
同時にクロック信号の経路指定・結線を行うことによっ
て、クロストークの影響を抑制している。この技術は、
特開平9−8235号公報に開示されている。
Alternatively, as shown in FIG. 6, a clock signal line 12 is built in the power supply line 8 or the basic gate cell 10, and the clock signal is routed and connected simultaneously with the layout of the power supply line or the arrangement of the basic gate cell. , The effect of crosstalk is suppressed. This technology is
It is disclosed in JP-A-9-8235.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】図5の従来技術では、
クロストーク対策にクロック信号線の両サイドに専用の
シールド配線を行っているので、配線混雑度が増し、他
の信号線の配線性に大きく影響する、すなわちチップ面
積の増大につながるという問題がある。
In the prior art shown in FIG.
Since dedicated shielded wiring is provided on both sides of the clock signal line as a countermeasure against crosstalk, the degree of wiring congestion increases, which greatly affects the wiring performance of other signal lines, that is, increases the chip area. .

【0006】また図6の従来技術では、クロック信号線
を含む基本ゲートセルを使用するため、セル配置した時
点でセルのクロック信号線が自動的に結線されるので、
配置後、クロック信号線に対してCTS(clock
tree synthesis)によるバッファ挿入が
できず、従ってスキュー調整が実現できない。また基本
ゲートセルを使用して多相クロック配線を実現するに
は、セルに内蔵しているクロック信号線が同一なもの同
士を隣接して配置して結線する必要があるため、その配
置性やタイミング調整に限界がある。
In the prior art shown in FIG. 6, since a basic gate cell including a clock signal line is used, the clock signal line of the cell is automatically connected when the cell is arranged.
After the placement, the CTS (clock) is applied to the clock signal line.
A buffer cannot be inserted due to tree synthesis, and thus skew adjustment cannot be realized. Also, in order to implement multi-phase clock wiring using basic gate cells, it is necessary to arrange adjacent clock signal lines with the same clock signal line built in the cells and connect them. Adjustment is limited.

【0007】本発明の目的は、クロストーク対策に行う
シールド配線に伴う面積の増加および配線性の悪化を最
小に抑えることのできる配線方法を提供することにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a wiring method capable of minimizing an increase in area and a deterioration in wiring performance due to shield wiring for measures against crosstalk.

【0008】本発明のさらに他の目的は、上記配線方法
により実現された配線を有する半導体集積回路を提供す
ることにある。
It is still another object of the present invention to provide a semiconductor integrated circuit having a wiring realized by the above wiring method.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の第1の態様は、
セルへ電源を供給するための電源線およびグランド線と
が配線された半導体集積回路において、電源線および/
またはグランド線を、クロック信号線に対するシールド
線として用いたことを特徴とする半導体集積回路であ
る。クロック信号線は、両サイドに電源線、グランド
線、または電源線およびグランド線が配列されて形成さ
れた配線領域に配線される。
According to a first aspect of the present invention, there is provided:
In a semiconductor integrated circuit in which a power supply line and a ground line for supplying power to cells are wired, a power supply line and / or a ground line are provided.
Alternatively, a semiconductor integrated circuit is characterized in that a ground line is used as a shield line for a clock signal line. The clock signal line is wired in a wiring region in which a power supply line, a ground line, or a power supply line and a ground line are arranged on both sides.

【0010】本発明の第2の態様は、半導体集積回路に
おいて、セルへ電源を供給するための電源線およびグラ
ンド線と、セルへクロック信号を供給するクロック信号
線とを配線する方法であって、電源線および/またはグ
ランド線を利用して、クロック信号線配線領域を形成
し、この配線領域にクロック信号線を配線することを特
徴とする配線方法である。クロック信号線配線領域は、
隣接して配線されている電源線の間、隣接して配置され
ているグランド線の間、または電源線とグランド線との
間に形成される。
A second aspect of the present invention is a method for wiring a power supply line and a ground line for supplying power to a cell and a clock signal line for supplying a clock signal to a cell in a semiconductor integrated circuit. And a power supply line and / or a ground line to form a clock signal line wiring region, and wiring the clock signal line in the wiring region. The clock signal line wiring area is
It is formed between adjacently arranged power lines, between adjacently arranged ground lines, or between a power line and a ground line.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を実施
例に基づいて具体的に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The embodiments of the present invention will be specifically described below based on examples.

【0012】[0012]

【実施例1】図1は、半導体集積回路における1相クロ
ック信号の配線のレイアウトの一例を示す。説明の便宜
上、図において横方向をX方向、横方向と直交する縦方
向をY方向と言うものとする。
Embodiment 1 FIG. 1 shows an example of a wiring layout of a one-phase clock signal in a semiconductor integrated circuit. For convenience of description, the horizontal direction is referred to as an X direction in the drawings, and the vertical direction orthogonal to the horizontal direction is referred to as a Y direction.

【0013】この半導体集積回路では、複数個のセル1
0がX方向に配列されてセル列をなし、このようなセル
列がY方向に複数列に配列されている。
In this semiconductor integrated circuit, a plurality of cells 1
0s are arranged in the X direction to form a cell row, and such cell rows are arranged in a plurality of rows in the Y direction.

【0014】セルに電源を供給するために、セル列のY
方向上下にVDD線12,GND線14がX方向に配線
されている。この場合に、X方向にCLK線を配線する
予定の領域に対しては、VDD線12同士またはGND
線14同士が対向するように、VDD線およびGND線
を配線するものとする。図では、CLK線配線領域16
がGND線14に挟まれ、CLK線配線領域18がVD
D線12に挟まれて形成されている。これらCLK線配
線領域16,18を挟むGND線14,VDD線12
は、本来的には、セルへ電源を供給するためのものであ
るが、CLK線配線領域に配線されるCLK線に対して
はシールド線としても機能する。
To supply power to the cells, the Y
A VDD line 12 and a GND line 14 are arranged in the X direction above and below the direction. In this case, in the region where the CLK line is to be wired in the X direction, the VDD lines 12 or GND
The VDD line and the GND line are to be wired so that the lines 14 face each other. In the figure, the CLK line wiring region 16
Is sandwiched between the GND lines 14, and the CLK line wiring region 18 is
It is formed between D lines 12. GND line 14 and VDD line 12 sandwiching these CLK line wiring regions 16 and 18
Is originally for supplying power to the cell, but also functions as a shield line for the CLK line wired in the CLK line wiring area.

【0015】図1の半導体集積回路では、セル10a,
10b,10c,10dへクロック信号を供給するもの
とする。CLK線配線領域16には、CLK線20aが
X方向に配線され、このCLK線20aに接続されたY
方向のCLK線20b,20cによりセル10a,10
bに接続される。
In the semiconductor integrated circuit of FIG. 1, cells 10a,
It is assumed that a clock signal is supplied to 10b, 10c, and 10d. CLK line 20a is wired in the X direction in CLK line wiring region 16, and Y line connected to CLK line 20a is connected to CLK line 20a.
Cells 10a, 10c by the CLK lines 20b, 20c in the
b.

【0016】さらに、CLK線20aに接続されたCL
K線20dがY方向に配線され、セル10dに接続され
る。このCLK線20dの両サイドにはシールド線22
が配線されるが、図1の例では、このシールド線はGN
D線14に接続され、GND電位に保持されている。
Further, CL connected to the CLK line 20a
The K line 20d is wired in the Y direction and connected to the cell 10d. A shield line 22 is provided on both sides of the CLK line 20d.
In the example of FIG. 1, this shield line is connected to GN.
It is connected to the D line 14 and is held at the GND potential.

【0017】CLK線配線領域18には、Y方向のCL
K線20dに接続されたCLK線20eがX方向に配線
されている。このCLK線20eに接続されたY方向の
CLK線20fによりセル10cに接続されている。
The CLK line wiring area 18 has a CL
A CLK line 20e connected to the K line 20d is wired in the X direction. The cell 10c is connected by a Y-direction CLK line 20f connected to the CLK line 20e.

【0018】なお、以上のCLK線の配線において、X
方向配線はすべて2層配線であり、Y方向配線はすべて
1層配線である。
In the above-mentioned wiring of the CLK line, X
All directional wirings are two-layer wirings, and all Y-directional wirings are one-layer wirings.

【0019】本実施例によれば、CLK線配線領域1
6,18に配線されているX方向のCLK線は、両サイ
ドのGND線およびVDD線がシールド線として働くの
でCLK線から信号線へのクロストークは軽減される。
また、Y方向のCLK線20dは両側にGND電位のシ
ールド線が設けられているので、クロストークは軽減さ
れる。
According to this embodiment, the CLK line wiring region 1
As for the X-direction CLK lines wired to 6, 18, the crosstalk from the CLK line to the signal line is reduced because the GND line and the VDD line on both sides function as shield lines.
Further, since the GND line shield line is provided on both sides of the CLK line 20d in the Y direction, crosstalk is reduced.

【0020】本実施例のCLK線の配線によれば、X方
向のCLK線20aおよび20eのシールド線として
は、既存のGND線およびVDD線が利用され、専用の
シールド線を設ける必要がないので、その分、面積を縮
小することができる。
According to the wiring of the CLK line of this embodiment, the existing GND line and VDD line are used as the shield lines of the CLK lines 20a and 20e in the X direction, and it is not necessary to provide a dedicated shield line. The area can be reduced accordingly.

【0021】[0021]

【実施例2】図2は、半導体集積回路における2相クロ
ック信号の配線のレイアウトの一例を示す。
Embodiment 2 FIG. 2 shows an example of a wiring layout of a two-phase clock signal in a semiconductor integrated circuit.

【0022】この実施例では、GND線14で挟まれた
CLK線配線領域30,32が、VDD線16で挟まれ
たCLK線配線領域34が形成されている。
In this embodiment, CLK line wiring regions 30 and 32 sandwiched between GND lines 14 and CLK line wiring regions 34 sandwiched between VDD lines 16 are formed.

【0023】図2の半導体集積回路では、セル10a,
10e,10fに第1のCLK信号(CLK1)を、セ
ル10c,10dに第2のCLK信号(CLK2)を供
給するものとする。
In the semiconductor integrated circuit of FIG. 2, cells 10a,
The first CLK signal (CLK1) is supplied to 10e and 10f, and the second CLK signal (CLK2) is supplied to the cells 10c and 10d.

【0024】CLK線配線領域30には、CLK1線3
6aおよびCLK2線38aがX方向に配線されてい
る。CLK1線36aに接続されたY方向のCLK1線
36bによりセル10aの入力に接続される。CLK2
線38aに接続されたY方向のCLK2線38bにより
セル10bの入力に接続される。
In the CLK line wiring area 30, the CLK1 line 3
The 6a and CLK2 lines 38a are wired in the X direction. It is connected to the input of the cell 10a by a Y-direction CLK1 line 36b connected to the CLK1 line 36a. CLK2
It is connected to the input of cell 10b by a Y-direction CLK2 line 38b connected to line 38a.

【0025】セル10aの出力からは、CLK1線36
cがY方向に引き出され、Y方向に配線されて、CLK
線配線領域34内をX方向に配線されたCLK1線36
dに接続される。CLK1線36cの両サイドにはシー
ルド線40が配線されるが、図2の例では、このシール
ド線はVDD線12に接続され、VDD電位に保持され
ている。
From the output of cell 10a, the CLK1 line 36
c is pulled out in the Y direction, wired in the Y direction, and
CLK1 line 36 wired in the X direction in the line wiring area 34
d. Shield lines 40 are provided on both sides of the CLK1 line 36c. In the example of FIG. 2, this shield line is connected to the VDD line 12 and is held at the VDD potential.

【0026】CLK1線36cに接続されたCLK1線
36dは、CLK線配線領域34内にY方向に配線され
ている。CLK1線36dに接続されたY方向のCLK
1線36e,36fによりセル10e,10fに接続さ
れる。
The CLK1 line 36d connected to the CLK1 line 36c is wired in the CLK line wiring area 34 in the Y direction. CLK in Y direction connected to CLK1 line 36d
The cells are connected to the cells 10e and 10f by one line 36e and 36f.

【0027】また入力にCLK2線38bが接続された
セル10bの出力からは、CLK2線38cがY方向に
引き出され、Y方向に配線されて、CLK線配線領域3
2内をX方向に配線されたCLK2線38dに接続され
る。CLK2線38cの両サイドにはシールド線42が
配線されるが、図2の例では、このシールド線はGND
線14に接続されGND電位に保持されている。CLK
2線38dに接続されたY方向のCLK2線38e,3
8fによりセル10c,10dに接続される。
From the output of the cell 10b whose input is connected to the CLK2 line 38b, the CLK2 line 38c is drawn out in the Y direction, wired in the Y direction, and
2 is connected to a CLK2 line 38d wired in the X direction. Shield lines 42 are wired on both sides of the CLK2 line 38c. In the example of FIG. 2, this shield line is GND.
Connected to line 14 and held at GND potential. CLK
CLK2 lines 38e, 3 in the Y direction connected to two lines 38d
8f connects the cells 10c and 10d.

【0028】なお、以上のCLK線の配線において、X
方向配線はすべて2層配線であり、Y方向配線はすべて
1層配線である。
In the above wiring of the CLK line, X
All directional wirings are two-layer wirings, and all Y-directional wirings are one-layer wirings.

【0029】本実施例のCLK1線およびCLK2線の
配線によれば、X方向のCLK1線36aおよび36
d、X方向のCLK2線38aおよび38dのシールド
線としては、既存のGND線およびVDD線が利用さ
れ、専用のシールド線を設ける必要がないので、その
分、面積を縮小することができる。
According to the wiring of the CLK1 line and the CLK2 line of this embodiment, the CLK1 lines 36a and 36a in the X direction are provided.
As the shield lines for the CLK2 lines 38a and 38d in the d and X directions, existing GND lines and VDD lines are used, and there is no need to provide a dedicated shield line, so that the area can be reduced accordingly.

【0030】また、CLK1配線にセル10aが、CL
K2配線にセル10bが挿入されるので、これらセルに
バッファを設けて、従来技術で問題となっているスキュ
ー調整を容易に行うことができる。
The cell 10a is connected to the CLK1 wiring by CL
Since the cells 10b are inserted into the K2 wiring, a buffer can be provided in these cells to easily perform the skew adjustment which is a problem in the related art.

【0031】[0031]

【実施例3】図3は、実施例2と同様に、半導体集積回
路における2相クロック信号の配線のレイアウトの一例
を示す。
Third Embodiment FIG. 3 shows an example of a layout of a two-phase clock signal wiring in a semiconductor integrated circuit, as in the second embodiment.

【0032】この実施例では、Y方向に配線されている
VDD線12とGND線14との間にCLK線配線領域
50を形成し、この配線領域50にも、CLK線を配線
するようにしたものである。
In this embodiment, a CLK line wiring region 50 is formed between the VDD line 12 and the GND line 14 wired in the Y direction, and the CLK line is also wired in this wiring region 50. Things.

【0033】この実施例では、さらに、X方向に配線さ
れているGND線14で挟まれたCLK線配線領域5
2,54が、X方向に配線されているVDD線16で挟
まれたCLK線配線領域56が形成されている。
In this embodiment, the CLK line wiring region 5 sandwiched between the GND lines 14 wired in the X direction is further provided.
A CLK line wiring area 56 is formed between the VDD lines 16, which are arranged in the X direction.

【0034】図3の半導体集積回路では、セル10a,
10b,10e,10gにCLK1を、セル10c,1
0d,10fに第2のCLK信号(CLK2)を供給す
るものとする。
In the semiconductor integrated circuit of FIG. 3, cells 10a,
CLK1 is applied to 10b, 10e, 10g, and cells 10c, 1
It is assumed that the second CLK signal (CLK2) is supplied to 0d and 10f.

【0035】CLK線配線領域52には、CLK1線5
4aがX方向に配線されている。CLK1線54aに接
続されたY方向のCLK1線54b,54cにより、セ
ル10a,10bに接続される。さらに、CLK1線5
4aに接続されたCLK1線54dは、Y方向に配線さ
れて、CLK線配線領域56内をX方向に配線されたC
LK1線54eに接続される。また、CLK1線54d
は、途中でセル10eに接続されている。CLK1線5
4dの両サイドにはシールド線56が配線されるが、図
2の例では、このシールド線はVDD線12に接続され
VDD電位に保持されている。
In the CLK line wiring area 52, the CLK1 line 5
4a is wired in the X direction. The cells are connected to the cells 10a and 10b by CLK1 lines 54b and 54c in the Y direction connected to the CLK1 line 54a. Further, the CLK1 line 5
The CLK1 line 54d connected to the line 4a is wired in the Y direction, and the C1 line 54d is wired in the X direction in the CLK line wiring region 56.
Connected to LK1 line 54e. Also, the CLK1 line 54d
Is connected to the cell 10e on the way. CLK1 line 5
Shield lines 56 are wired on both sides of 4d. In the example of FIG. 2, this shield line is connected to the VDD line 12 and is held at the VDD potential.

【0036】CLK1線54eに接続されたY方向のC
LK1線54fによりセル10gに接続される。さら
に、CLK1線54eに接続されたY方向のCLK1線
54gは、Y方向の配線領域50内に配線されている。
C in the Y direction connected to the CLK1 line 54e
LK1 line 54f connects to cell 10g. Further, the CLK1 line 54g in the Y direction connected to the CLK1 line 54e is wired in the wiring region 50 in the Y direction.

【0037】CLK線配線領域50には、CLK2線5
8aがY方向に配線され、このCLK2線58aに接続
されたCLK2線58bは、CLK線配線領域54内を
X方向に配線されている。
In the CLK line wiring area 50, the CLK2 line 5
8a is wired in the Y direction, and the CLK2 line 58b connected to this CLK2 line 58a is wired in the CLK line wiring area 54 in the X direction.

【0038】CLK2線58bに接続されたY方向のC
LK2線58c,58d,58eにより、セル10c,
10d,10fに接続される。
C in the Y direction connected to the CLK2 line 58b
According to the LK2 lines 58c, 58d, and 58e, the cells 10c,
10d and 10f.

【0039】なお、以上のCLK線の配線において、X
方向配線はすべて2層配線であり、Y方向配線はすべて
1層配線である。
In the wiring of the above CLK line, X
All directional wirings are two-layer wirings, and all Y-directional wirings are one-layer wirings.

【0040】本実施例のCLK1線およびCLK2線の
配線によれば、X方向のCLK1線54aおよび54
e、Y方向のCLK1線54g、X方向のCLK2線5
8b、Y方向のCLK2線58aに対するシールド線と
しては、既存のGND線およびVDD線が利用され、専
用のシールド線を設ける必要がないので、その分、面積
を縮小することができる。
According to the wiring of the CLK1 line and the CLK2 line of this embodiment, the CLK1 lines 54a and 54a in the X direction are provided.
e, CLK1 line 54g in Y direction, CLK2 line 5 in X direction
8b, the existing GND line and VDD line are used as shield lines for the CLK2 line 58a in the Y direction, and there is no need to provide a dedicated shield line, so that the area can be reduced accordingly.

【0041】[0041]

【実施例4】図4は、半導体集積回路における多相(こ
の例では3相)クロック信号の配線のレイアウトの一例
を示す。
Fourth Embodiment FIG. 4 shows an example of a wiring layout of a multi-phase (three-phase in this example) clock signal in a semiconductor integrated circuit.

【0042】この実施例は、実施例3と同様に、Y方向
に配線されているVDD線12とGND線14との間に
Y方向のCLK線配線領域を形成している。このY方向
のCLK線配線領域には、2つの相のクロック信号線
(CLK2およびCLK3)が配線されるが、相毎にシ
ールドを施すため、上記CLK線配線領域をY方向に2
分するためY方向のVDD線12とGND線14との中
間にY方向にシールド線81を設ける。このシールド線
80は、VDD電位またはGND電位に保持される。こ
のように2分されたCLK線配線領域の一方を70a、
他方を70bとする。
In this embodiment, similarly to the third embodiment, a CLK line wiring region in the Y direction is formed between the VDD line 12 and the GND line 14 wired in the Y direction. Two phases of clock signal lines (CLK2 and CLK3) are wired in this Y-direction CLK line wiring region.
For separation, a shield line 81 is provided in the Y direction between the VDD line 12 and the GND line 14 in the Y direction. This shield line 80 is held at the VDD potential or the GND potential. One of the two divided lines of the CLK line is 70a,
Let the other be 70b.

【0043】この実施例では、さらに、X方向に配線さ
れているGND線14で挟まれたCLK線配線領域7
2,74が、X方向に配線されているVDD線16で挟
まれたCLK線配線領域76,78が形成されている。
In this embodiment, the CLK line wiring region 7 sandwiched between the GND lines 14 wired in the X direction is further provided.
2, CLK line wiring regions 76 and 78 are formed between the VDD lines 16 wired in the X direction.

【0044】図4の半導体集積回路では、セル10a,
10b,10e,10gにCLK1を、セル10c,1
0fにCLK2を、セル10dにCLK3を供給するも
のとする。
In the semiconductor integrated circuit of FIG. 4, cells 10a,
CLK1 is applied to 10b, 10e, 10g, and cells 10c, 1
It is assumed that CLK2 is supplied to 0f and CLK3 is supplied to the cell 10d.

【0045】CLK線配線領域72には、CLK1線8
0aがX方向に配線されている。CLK1線80aに接
続されたY方向のCLK1線80b,80cにより、セ
ル10a,10bに接続される。さらに、CLK1線8
0aに接続されたCLK1線80dは、Y方向に配線さ
れて、CLK線配線領域78内にX方向に配線されたC
LK1線80eに接続される。また、CLK1線80d
は、途中でセル10eに接続されている。CLK1線8
0dの両サイドにはシールド線82が配線されるが、図
4の例では、このシールド線はVDD線12に接続され
VDD電位に保持されている。
In the CLK line wiring area 72, the CLK1 line 8
0a is wired in the X direction. The cells are connected to the cells 10a and 10b by Y-direction CLK1 lines 80b and 80c connected to the CLK1 line 80a. Further, the CLK1 line 8
The CLK1 line 80d connected to the line 0a is wired in the Y direction, and the C1 line 80d wired in the X direction in the CLK line wiring region 78.
Connected to LK1 line 80e. Also, the CLK1 line 80d
Is connected to the cell 10e on the way. CLK1 line 8
Shield lines 82 are wired on both sides of 0d. In the example of FIG. 4, this shield line is connected to the VDD line 12 and held at the VDD potential.

【0046】CLK1線80eに接続されたY方向のC
LK1線80fにより、セル10gに接続される。さら
に、CLK1線80eに接続されたY方向のCLK1線
80gは、Y方向の配線領域70b内に配線されてい
る。
C in the Y direction connected to CLK1 line 80e
LK1 line 80f connects to cell 10g. Further, the CLK1 line 80g in the Y direction connected to the CLK1 line 80e is wired in the wiring region 70b in the Y direction.

【0047】CLK線配線領域70bには、さらに、C
LK2線84aがY方向に配線され、このCLK2線8
4aに接続されたCLK2線84bは、CLK線配線領
域76内をX方向に配線される。
The CLK line wiring region 70b further includes C
The LK2 line 84a is wired in the Y direction, and the CLK2 line 8a
The CLK2 line 84b connected to 4a is wired in the CLK line wiring area 76 in the X direction.

【0048】CLK2線84bに接続されたY方向のC
LK2線84cにより、セル10cに接続される。さら
に、CLK2線84bには、Y方向のCLK2線84d
が接続され、CLK2線84dの一端はセル10fに接
続され、他端はCLK線配線領域72内をX方向に配線
されたCLK2線84eに接続されている。CLK2線
84dの両サイドにはシールド線86が配線されるが、
図4の例では、このシールド線はGND線14に接続さ
れGND電位に保持されている。
C in the Y direction connected to CLK2 line 84b
LK2 line 84c connects to cell 10c. Further, the CLK2 line 84b in the Y direction is
Is connected to the cell 10f, and the other end is connected to the CLK2 line 84e wired in the X direction in the CLK line wiring region 72. Shield lines 86 are wired on both sides of the CLK2 line 84d,
In the example of FIG. 4, this shield line is connected to the GND line 14 and is kept at the GND potential.

【0049】CLK線配線領域70aには、CLK3線
88aがY方向に配線され、このCLK3線88aに接
続されたCLK3線88bは、CLK線配線領域74内
をX方向に配線される。
In CLK line wiring region 70a, CLK3 line 88a is wired in the Y direction, and CLK3 line 88b connected to CLK3 line 88a is wired in CLK line wiring region 74 in the X direction.

【0050】CLK3線88bに接続されたY方向のC
LK3線88cにより、セル10dに接続される。さら
に、CLK3線88bに接続されたLK3線88dは、
Y方向に配線され、CLK線配線領域78内にX方向に
配線されたCLK3線88eに接続される。CLK3線
88dの両サイドには、シールド線82とシールド線9
0とが配線されている。シールド線82は、前述したよ
うにVDD電位に保持されている。シールド線90も同
様にVDD電位に保持される。
C in the Y direction connected to CLK3 line 88b
The LK3 line 88c connects to the cell 10d. Further, the LK3 line 88d connected to the CLK3 line 88b is
It is wired in the Y direction and is connected to the CLK3 line 88e wired in the X direction in the CLK line wiring region 78. A shield line 82 and a shield line 9 are provided on both sides of the CLK3 line 88d.
0 is wired. The shield line 82 is maintained at the VDD potential as described above. The shield line 90 is similarly held at the VDD potential.

【0051】CLK3線88dに接続されたCLK3線
88eが、CLK線配線領域78内をY方向に配線され
ている。
The CLK3 line 88e connected to the CLK3 line 88d is wired in the CLK line wiring area 78 in the Y direction.

【0052】本実施例の3相のCLK線の配線は、相毎
にシールドされており、この場合に、Y方向のCLK線
84a,88a、およびX方向のCLK線80a,80
e,84b,88b,88eに対するシールド線として
は、既存のGND線およびVDD線が利用され、専用の
シールド線を設ける必要がないので、その分、面積を縮
小することができる。
The wiring of the three-phase CLK lines of this embodiment is shielded for each phase. In this case, the CLK lines 84a and 88a in the Y direction and the CLK lines 80a and 80 in the X direction are provided.
As the shield lines for e, 84b, 88b, and 88e, existing GND lines and VDD lines are used, and there is no need to provide a dedicated shield line, so that the area can be reduced accordingly.

【0053】[0053]

【発明の効果】本発明によれば、クロック信号線のシー
ルドとしてVDD/GND配線を新たに行うことなく、
既存のVDD/GND配線を使用しているので、クロス
トーク対策に行うシールド配線に伴う面積の増加および
配線性の悪化を最小に抑えることが可能となる。
According to the present invention, a VDD / GND wiring is not newly provided as a shield for a clock signal line,
Since the existing VDD / GND wiring is used, it is possible to minimize the increase in the area and the deterioration of the wiring property due to the shield wiring for preventing the crosstalk.

【0054】また本発明によれば、セルにバッファを挿
入してスキュー調整を容易に行うことができる。
According to the present invention, skew adjustment can be easily performed by inserting a buffer into a cell.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】半導体集積回路における1相クロック信号の配
線のレイアウトの第1の実施例を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of a layout of a wiring of a one-phase clock signal in a semiconductor integrated circuit.

【図2】半導体集積回路における2相クロック信号の配
線のレイアウトの第2の実施例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a second embodiment of the layout of the wiring of the two-phase clock signal in the semiconductor integrated circuit.

【図3】半導体集積回路における2相クロック信号の配
線のレイアウトの第3の実施例を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a third embodiment of the layout of the wiring of the two-phase clock signal in the semiconductor integrated circuit.

【図4】半導体集積回路における多相クロック信号の配
線のレイアウトの第4の実施例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a fourth embodiment of a wiring layout of a multi-phase clock signal in a semiconductor integrated circuit.

【図5】従来技術の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an example of a conventional technique.

【図6】従来技術の他の例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing another example of the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 セル 12 VDD線 14 GND線 16,18,30,32,34 CLK線配線領域 20,36,38,50,52,54,58 CLK線 40,42,56,81,82,86,90 シールド
10 cell 12 VDD line 14 GND line 16, 18, 30, 32, 34 CLK line wiring area 20, 36, 38, 50, 52, 54, 58 CLK line 40, 42, 56, 81, 82, 86, 90 Shield line

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】セルへ電源を供給するための電源線および
グランド線とが配線された半導体集積回路において、 前記電源線および/または前記グランド線を、クロック
信号線に対するシールド線として用いたことを特徴とす
る半導体集積回路。
1. A semiconductor integrated circuit in which a power supply line and a ground line for supplying power to a cell are wired, wherein the power supply line and / or the ground line is used as a shield line for a clock signal line. Characteristic semiconductor integrated circuit.
【請求項2】前記電源線が両サイドに配列されてクロッ
ク信号線配線領域が形成され、この配線領域にクロック
信号線が配線されていることを特徴とする請求項1記載
の半導体集積回路。
2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the power supply lines are arranged on both sides to form a clock signal line wiring region, and the clock signal line is wired in the wiring region.
【請求項3】前記グランド線が両サイドに配列されてク
ロック信号線配線領域が形成され、この配線領域にクロ
ック信号線が配線されていることを特徴とする請求項1
記載の半導体集積回路。
3. The clock signal line wiring region is formed by arranging the ground lines on both sides, and a clock signal line is wired in this wiring region.
A semiconductor integrated circuit as described in the above.
【請求項4】前記電源線および前記グランド線が両サイ
ドに配列されてクロック信号線配線領域が形成され、こ
の配線領域にクロック信号線が形成されていることを特
徴とする請求項1記載の半導体集積回路。
4. The clock signal line according to claim 1, wherein the power supply line and the ground line are arranged on both sides to form a clock signal line wiring region, and the clock signal line is formed in the wiring region. Semiconductor integrated circuit.
【請求項5】隣接して配線されている前記電源線とグラ
ンド線との間にシールド線を配線し、前記電源線と前記
シールド線との間を第1のクロック信号線配線領域と
し、前記グランド線と前記シールド線との間を第2のク
ロック信号線配線領域とし、前記第1および第2の配線
領域にクロック信号線が配線されていることを特徴とす
る請求項1記載の半導体集積回路。
5. A first clock signal line wiring area between a power supply line and a ground line, wherein a shield line is wired between the power supply line and the ground line which are wired adjacently. 2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein a second clock signal line wiring region is provided between a ground line and the shield line, and a clock signal line is wired in the first and second wiring regions. 3. circuit.
【請求項6】半導体集積回路において、セルへ電源を供
給するための電源線およびグランド線と、前記セルへク
ロック信号を供給するクロック信号線とを配線する方法
であって、 前記電源線および/または前記グランド線を利用して、
クロック信号線配線領域を形成し、この配線領域にクロ
ック信号線を配線することを特徴とする配線方法。
6. A method for wiring a power supply line and a ground line for supplying power to a cell and a clock signal line for supplying a clock signal to the cell in the semiconductor integrated circuit, the method comprising: Or, using the ground line,
A wiring method, comprising: forming a clock signal line wiring region; and wiring a clock signal line in the wiring region.
【請求項7】前記クロック信号線配線領域は、隣接して
配線されている電源線の間に形成することを特徴とする
請求項6記載の配線方法。
7. The wiring method according to claim 6, wherein the clock signal line wiring region is formed between power supply lines that are wired adjacently.
【請求項8】前記クロック信号線配線領域は、隣接して
配線されているグランド線の間に形成することを特徴と
する請求項6記載の配線方法。
8. The wiring method according to claim 6, wherein said clock signal line wiring area is formed between adjacently wired ground lines.
【請求項9】前記クロック信号線配線領域は、隣接して
配線されている電源線とグランド線との間に形成するこ
とを特徴とする請求項6記載の配線方法。
9. The wiring method according to claim 6, wherein said clock signal line wiring region is formed between a power line and a ground line which are wired adjacently.
【請求項10】前記クロック信号線配線領域は、隣接し
て配線されている前記電源線とグランド線との間にシー
ルド線を配線し、前記電源線と前記シールド線との間、
および前記グランド線と前記シールド線との間に形成す
ることを特徴とする請求項6記載の配線方法。
10. The clock signal line wiring region, wherein a shield line is wired between the power line and the ground line which are wired adjacently, and a clock signal line wiring region is provided between the power line and the shield line.
7. The wiring method according to claim 6, wherein the wiring is formed between the ground line and the shield line.
JP11037024A 1999-02-16 1999-02-16 Semiconductor integrated circuit and its wiring method Pending JP2000236066A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11037024A JP2000236066A (en) 1999-02-16 1999-02-16 Semiconductor integrated circuit and its wiring method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11037024A JP2000236066A (en) 1999-02-16 1999-02-16 Semiconductor integrated circuit and its wiring method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000236066A true JP2000236066A (en) 2000-08-29

Family

ID=12486094

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11037024A Pending JP2000236066A (en) 1999-02-16 1999-02-16 Semiconductor integrated circuit and its wiring method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000236066A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9118314B2 (en) 2011-07-06 2015-08-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Adaptive body bias circuit and semiconductor integrated circuit including the same
US10331602B2 (en) 2016-04-12 2019-06-25 Mei Fujitsu Semiconductor Limited Semiconductor integrated circuit having different operation modes and design method thereof

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9118314B2 (en) 2011-07-06 2015-08-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Adaptive body bias circuit and semiconductor integrated circuit including the same
US10331602B2 (en) 2016-04-12 2019-06-25 Mei Fujitsu Semiconductor Limited Semiconductor integrated circuit having different operation modes and design method thereof

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6084820A (en) Dual port memory device with vertical shielding
US5444276A (en) Semiconductor integrated circuit macro cells with wide lines
KR100732923B1 (en) Fundamental cell, semiconductor integrated circuit device, wiring method and wiring apparatus
JPH03171662A (en) Signal line system
WO2023093630A1 (en) Shift register, gate drive circuit, and display panel
JP5216287B2 (en) Semiconductor device
KR100414758B1 (en) Integrated circuit for supplying a clock signal and method for constructing the same
US20060190902A1 (en) Method, apparatus and program for automatically routing semiconductor integrated circuit
JP4327699B2 (en) Multichip package and IC chip
JP2000236066A (en) Semiconductor integrated circuit and its wiring method
JPH0677403A (en) Semiconductor integrated circuit device and designing method therefor
JP3028949B1 (en) Semiconductor storage device, method of forming the same, and recording medium recording the method
JPH0974172A (en) Semiconductor device
US7187573B2 (en) Memory circuit and method of generating the same
JPH113945A (en) Clock tree design method of semiconductor integrated circuit and semiconductor integrated circuit by the same
JP2006202923A (en) Method and program of designing semiconductor device
JP2642377B2 (en) Semiconductor integrated circuit device and method of manufacturing the same
US6421266B1 (en) Memory circuit having improved sense-amplifier block and method for forming same
JP2019079950A (en) Semiconductor device
JP2002289785A (en) Semiconductor device
JP2776551B2 (en) Bus line type semiconductor memory device
JP2737620B2 (en) Semiconductor integrated circuit wiring method
JPH0758205A (en) Logic integrated circuit
JPH0496251A (en) Semiconductor integrated circuit
JPH08274271A (en) Semiconductor memory device