JP2000235633A - Non-contact type ic card - Google Patents

Non-contact type ic card

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JP2000235633A
JP2000235633A JP3467299A JP3467299A JP2000235633A JP 2000235633 A JP2000235633 A JP 2000235633A JP 3467299 A JP3467299 A JP 3467299A JP 3467299 A JP3467299 A JP 3467299A JP 2000235633 A JP2000235633 A JP 2000235633A
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resistor
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秀治 我妻
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哲康 北村
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent an IC internal damage caused by noise intrusion from an exposed part created by the disconnection of a conductor pattern. SOLUTION: This card is provided with a non-contact type IC 200, a terminal 420 connected to the inner circuit of the IC 200 through a resistance 300 including polysilicon, a terminal 430 connected to the inner circuit through a resistance 310 including polysilicon and a conductor pattern 450 connected between the terminals 420 and 430. The resistances 300 and 310 are made easy to be melted and cut off by connecting the both terminals 420 and 430, to which the pattern 450 is connected, to a circuit part through the resistances 300 and 310 including the polysilicon, the resistances 300 and 310 are melted and cut off before the inner circuit of the IC 200 are destroyed and the part can be made open.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ICチップを内蔵
した非接触型ICカードに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a non-contact type IC card having a built-in IC chip.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、宅配便の配送システムに使用され
る電子荷札として、特開平6−115676号公報に示
されるものがある。この電子荷札は、外部に設けられた
発行機との間の非接触通信に応じて情報の書き込み及び
読み出しを行なうICチップを内蔵している。このIC
チップは、入力端子とグランド端子との間に接続された
導体パターンがパンチ穴により切断されたときに、導体
パターンの断線状態を入力端子の電圧レベルの変化に基
づいて検出して能動状態に切り替わるように構成されお
り、この切り替えによって電子荷札が起動状態とされる
ようになっている。
2. Description of the Related Art A conventional electronic tag used in a home delivery system is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. HEI 6-115676. This electronic tag has a built-in IC chip for writing and reading information in response to non-contact communication with an external issuing machine. This IC
When the conductive pattern connected between the input terminal and the ground terminal is cut by the punched hole, the chip detects a disconnection state of the conductive pattern based on a change in the voltage level of the input terminal and switches to an active state. The electronic tag is activated by this switching.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の電子荷札で
は、導体パターンがパンチ穴によって断線された場合
に、導体パターンが外部に露出した状態になってしまう
ため、その露出部分に使用者が不用意に接触すると、I
Cチップを破損させてしまうという問題がある。この問
題を解決するものとして、米国特許第5,404,04
1号明細書にICチップの入力部に配置された保護素子
を強化する技術が開示されている。
In the above-mentioned conventional electronic tag, when the conductor pattern is broken by a punch hole, the conductor pattern is exposed to the outside, so that the user is not exposed to the exposed portion. When you get ready, I
There is a problem that the C chip is damaged. In order to solve this problem, US Pat.
No. 1 discloses a technique for strengthening a protection element disposed at an input portion of an IC chip.

【0004】しかしながら、このような方法では、保護
素子の大型化を招き、近年のLSIの微細化と共に進む
IC内部の回路の小型化に反するという問題がある。ま
た、非接触型ICカードではコイル部が大地との容量カ
ップリングや誘導カップリングにより仮想接地され、露
出部分から侵入したノイズが保護素子を経由してIC内
部の弱い個所を破損させ、機能不良を発生させるという
問題がある。
However, such a method has a problem that the size of the protection element is increased, which is against the downsizing of the circuit inside the IC, which has progressed with recent miniaturization of LSI. Also, in the non-contact type IC card, the coil portion is virtually grounded by capacitive coupling or inductive coupling with the ground, and noise entering from the exposed portion breaks a weak portion inside the IC via the protection element, resulting in malfunction. There is a problem that causes.

【0005】本発明は上記問題に鑑みてなされ、導体パ
ターンの切断による露出部分からのノイズの侵入によっ
てIC内部破損することを防止することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to prevent damage to the inside of an IC due to intrusion of noise from an exposed portion due to cutting of a conductor pattern.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に、請求項1に記載の発明においては、外部との通信に
より情報の書き込み、読み出しを行なう集積回路部が備
えられたICチップ(200)と、ポリシリコンを含む
第1の抵抗(300)を介して、集積回路部に接続され
た第1の端子(420)と、ポリシリコンを含む第2の
抵抗(310)を介して、集積回路部に接続された第2
の端子(430)と、第1の端子と第2の端子との間に
接続された導体パターン(450)とを備えていること
を特徴としている。
In order to solve the above problem, according to the first aspect of the present invention, an IC chip (200) provided with an integrated circuit unit for writing and reading information by communicating with the outside is provided. ), A first terminal (420) connected to the integrated circuit section via a first resistor (300) containing polysilicon, and an integrated circuit via a second resistor (310) containing polysilicon. The second connected to the circuit section
(430) and a conductor pattern (450) connected between the first terminal and the second terminal.

【0007】このように、導体パターンが接続される両
端子がポリシリコンを含む第1、第2の抵抗を介して集
積回路部に接続されるようにすることにより、第1、第
2の抵抗が溶断しやすくなるようにでき、ICチップ内
部が破壊されるよりも前に第1、第2の抵抗が溶断され
て、その部分がオープン状態となるようにできる。たと
えば、請求項3に示すように、第1、第2の端子を通じ
てノイズが侵入した際に、保護素子よりも先に溶断され
るように設定されていればよい。
As described above, by connecting both terminals to which the conductor pattern is connected to the integrated circuit portion via the first and second resistors including polysilicon, the first and second resistors are connected. Can be easily blown, and the first and second resistors can be blown before the inside of the IC chip is destroyed, and the portion can be opened. For example, as set forth in claim 3, when noise enters through the first and second terminals, it may be set to be blown before the protection element.

【0008】具体的には、請求項4に示すように、所定
電圧レベルの電源(120)と接地端子(130)との
間に接続された整流器(220)と、該整流器に並列接
続されたキャリア抽出回路(230)及び制御回路(2
40)と、電源と接地端子との間に接続された第1、第
2の保護素子(250、260)と、第1の保護素子に
一端側が接続された第1の抵抗(300)と、第1の抵
抗の他端側に接続された第1の端子(420)と、第2
の保護素子に一端側が接続された第2の抵抗(310)
と、第2の抵抗の他端側に接続された第2の端子(43
0)と、を含むICチップ(200)と、第1の端子と
第2の端子との間に接続された導体パターン(450)
とを備えた非接触型ICカードにおいて、第1、第2の
抵抗を、ポリシリコンを含んだもので構成し、第1、第
2の端子を通じてノイズが侵入した際に、保護素子より
も先に溶断されるように設定されるようにできる。
More specifically, a rectifier (220) connected between a power supply (120) having a predetermined voltage level and a ground terminal (130), and a rectifier connected in parallel to the rectifier. Carrier extraction circuit (230) and control circuit (2
40) a first and second protection element (250, 260) connected between the power supply and the ground terminal; a first resistor (300) having one end connected to the first protection element; A first terminal (420) connected to the other end of the first resistor;
Resistance (310) having one end connected to the protection element of (310)
And a second terminal (43) connected to the other end of the second resistor.
0), and a conductor pattern (450) connected between the first terminal and the second terminal.
In the non-contact type IC card having the first and second resistors, the first and second resistors are configured to include polysilicon, and when noise enters through the first and second terminals, the first and second resistors are located before the protection element. Can be set to be blown.

【0009】請求項5に記載の発明においては、第1、
第2の保護素子の取り回し配線を、キャリア抽出回路及
び制御回路の取り回し配線から分離して構成することを
特徴としている。このような構成とすることにより、第
1、第2の端子を通じて侵入したノイズがキャリア抽出
回路及び制御回路とは異なる部分に抜けるようにでき
る。これにより、より内部回路が破壊されることを防止
することができる。
[0009] In the invention according to claim 5, the first,
It is characterized in that the wiring for the second protection element is separated from the wiring for the carrier extraction circuit and the control circuit. With such a configuration, noise that has entered through the first and second terminals can pass through a portion different from the carrier extraction circuit and the control circuit. As a result, it is possible to further prevent the internal circuit from being destroyed.

【0010】なお、請求項6に示すように、第1、第2
の保護素子は共に、PMOSトランジスタ(250a、
260a)とNMOSトランジスタ(250b、260
b)が直列接続された構成とし、該2つのMOSトラン
ジスタの間に第1、第2の抵抗が接続されるような構成
とできる。
[0010] As described in claim 6, the first and the second
Are both PMOS transistors (250a,
260a) and NMOS transistors (250b, 260
b) may be configured to be connected in series, and the first and second resistors may be connected between the two MOS transistors.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、図に基づいて本発明の実施
形態について説明する。図1に本発明の1実施形態を適
用した非接触型ICカード100の回路構成を示す。以
下、図1に基づいて非接触型ICカード100の回路構
成について説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a circuit configuration of a non-contact type IC card 100 to which one embodiment of the present invention is applied. Hereinafter, the circuit configuration of the non-contact type IC card 100 will be described with reference to FIG.

【0012】図1に示すように、非接触型ICカード1
00は、カード100内に非接触型IC(集積回路部)
200を内蔵している。非接触型IC200には、外部
に接続される2つのの端子400、410、420、4
30が備えられており、その一方は、非接触型IC20
0とは別構成として非接触型ICカード100に内蔵さ
れたコイル110に接続され、他方はパンチ穴形成用の
導体パターン(配線)450が形成されている。
As shown in FIG. 1, a non-contact type IC card 1
00 is a non-contact type IC (integrated circuit unit) in the card 100
200 built-in. The non-contact IC 200 has two terminals 400, 410, 420, 4
30, one of which is a non-contact IC 20.
As a configuration different from that of the non-contact type IC card 100, it is connected to the coil 110 built in the non-contact type IC card 100, and the other side is formed with a conductor pattern (wiring) 450 for forming punched holes.

【0013】そして、非接触型IC200には、コイル
110に並列接続された容量210が備えられており、
この容量210の両端には、整流器220が接続されて
いる。この整流器220は、内部電源120に接続され
ており、この整流器220によって整流された電圧に
て、非接触型IC200の内部動作が行えるようになっ
ている。
The non-contact type IC 200 has a capacitor 210 connected in parallel to the coil 110.
A rectifier 220 is connected to both ends of the capacitor 210. The rectifier 220 is connected to the internal power supply 120, and the internal operation of the non-contact type IC 200 can be performed by the voltage rectified by the rectifier 220.

【0014】また、キャリア信号の抽出を行なうキャリ
ア抽出回路と、非接触型IC200の全体の制御を行な
う制御回路が内部電源120接続されている。さらに、
2つの保護素子250、260が内部電源120に接続
されている。具体的には、内部電源120に、保護素子
として機能するPMOSトランジスタ250a、250
b及びNMOSトランジスタ250b、260bが接続
されており、それぞれのPMOSトランジスタ250
a、260aのソース及びゲートが内部電源120に接
続され、NMOSトランジスタ250b、260bのソ
ース、ゲートが接地端子130に接続されている。さら
に、一方の保護素子250のPMOSトランジスタ25
0aのソース及びゲートとドレインとの間を接続するよ
うに、抵抗270が備えられている。また、他方の保護
素子260のドレインとGND端子130との間を接続
するように、抵抗280が備えられている。そして、保
護素子260のPMOSトランジスタ260aとNMO
Sトランジスタ260bとの間の電位が制御回路240
に入力されるようになっている。
A carrier extraction circuit for extracting a carrier signal and a control circuit for controlling the entire non-contact type IC 200 are connected to an internal power supply 120. further,
The two protection elements 250 and 260 are connected to the internal power supply 120. Specifically, the PMOS transistors 250a and 250 functioning as protection elements are provided to the internal power supply 120.
b and the NMOS transistors 250b and 260b are connected to each other.
Sources and gates of a and 260a are connected to the internal power supply 120, and sources and gates of the NMOS transistors 250b and 260b are connected to the ground terminal. Further, the PMOS transistor 25 of one protection element 250
A resistor 270 is provided so as to connect between the source and the gate of Oa and the drain. Further, a resistor 280 is provided so as to connect between the drain of the other protection element 260 and the GND terminal 130. Then, the PMOS transistor 260a of the protection element 260 and the NMO
The potential between the S transistor 260b and the control circuit 240
To be entered.

【0015】また、2つの保護素子250、260のP
MOSトランジスタ250a、260aとNMOSトラ
ンジスタ250b、260bとの間には、それぞれ抵抗
300、310の一端が接続されており、これら抵抗3
00、310の他端が導体パターン450に接続される
端子に接続されている。これら抵抗300、310は、
ポリシリコンを挿入したPoly−Si抵抗であり、溶
断され易い構成とされている。
The P of the two protection elements 250 and 260
One ends of resistors 300 and 310 are connected between the MOS transistors 250a and 260a and the NMOS transistors 250b and 260b, respectively.
The other ends of 00 and 310 are connected to terminals connected to the conductor pattern 450. These resistors 300 and 310
It is a Poly-Si resistor into which polysilicon is inserted, and is configured to be easily blown.

【0016】このように構成された非接触型ICカード
100の作動について説明する。非接触型ICカード1
00の導体パターン450にパンチ穴500が空けられ
る前には、抵抗270、280、300、310によっ
て分圧された電源電圧、つまりハイレベル信号が制御回
路240に入力される。このため、非接触型IC200
は待機状態を持続する。そして、導体パターン450に
パンチ穴500が空けられると、抵抗280の一端がG
ND端子130に接続されていることから、制御回路2
40の入力電圧が零、つまり制御回路240にローレベ
ル信号が入力され、非接触型IC200は起動状態とな
る。
The operation of the non-contact type IC card 100 thus configured will be described. Non-contact IC card 1
Before the punched hole 500 is formed in the conductor pattern 450 of 00, a power supply voltage divided by the resistors 270, 280, 300, 310, that is, a high-level signal is input to the control circuit 240. Therefore, the non-contact IC 200
Keeps waiting. When the punched hole 500 is formed in the conductor pattern 450, one end of the resistor 280 is connected to G
Because it is connected to the ND terminal 130, the control circuit 2
The input voltage of 40 is zero, that is, a low level signal is input to the control circuit 240, and the non-contact type IC 200 is activated.

【0017】このように導体パターン450にパンチ穴
500が空けられると、パンチ穴500から導体パター
ン450が露出するため、この露出部分からノイズが侵
入する可能性がある。このような場合、上述したよう
に、ノイズが内部電源120も若しくはGND端子13
0へ侵入し、大地とのカップリングにより、コイル11
0が仮想接地となり、内部電源120やGND端子13
0に接続されているキャリア抽出回路230や制御回路
240など回路的に弱い個所から破壊されてしまう可能
性がある。しかしながら、本実施形態では、抵抗30
0、310をPoly−Si抵抗で構成しているため、
ノイズ侵入時には抵抗300、310がキャリア抽出回
路230や制御回路240が破壊されるよりも先に溶断
され、この部分をオープン状態にできる。このため、導
体パターン450の露出部分からノイズが侵入しても、
キャリア抽出回路230や制御回路240が破壊されな
いようにできる。
When the punched holes 500 are formed in the conductive pattern 450 in this manner, the conductive pattern 450 is exposed from the punched holes 500, so that noise may enter from the exposed portions. In such a case, as described above, the noise is generated by the internal power supply 120 or the GND terminal 13.
0, and by coupling with the ground, the coil 11
0 is a virtual ground, and the internal power supply 120 and the GND terminal 13
There is a possibility that the carrier extraction circuit 230 or the control circuit 240, which is connected to 0, may be broken from a weak point in the circuit. However, in the present embodiment, the resistance 30
Since 0 and 310 are composed of Poly-Si resistors,
When noise enters, the resistors 300 and 310 are blown before the carrier extraction circuit 230 and the control circuit 240 are destroyed, and this part can be opened. Therefore, even if noise enters from the exposed portion of the conductor pattern 450,
The carrier extraction circuit 230 and the control circuit 240 can be prevented from being destroyed.

【0018】なお、このような場合、抵抗300、31
0が溶断されるまでの間、キャリア抽出回路230や制
御回路240がノイズに耐えられればいいため、キャリ
ア抽出回路230や制御回路240を大型化して、耐久
性を向上させる必要もない。 (第2実施形態)図2に、本発明の第2実施形態におけ
る非接触型ICカード100の回路構成を示す。以下、
図2に基づいて非接触型ICカード100の回路構成に
ついて説明するが、第1実施形態とほぼ同様の構成であ
るため、異なる構成についてのみ説明を行なう。
In such a case, the resistors 300, 31
Until the 0 is blown, the carrier extraction circuit 230 and the control circuit 240 need only be able to withstand noise. Therefore, it is not necessary to increase the size of the carrier extraction circuit 230 and the control circuit 240 to improve the durability. (Second Embodiment) FIG. 2 shows a circuit configuration of a non-contact type IC card 100 according to a second embodiment of the present invention. Less than,
The circuit configuration of the non-contact type IC card 100 will be described with reference to FIG. 2. However, since the configuration is almost the same as that of the first embodiment, only different configurations will be described.

【0019】図2に示すように、本実施形態では、内部
電源120及びGND端子130との間に配置される2
つの保護素子250、260の引き回し経路を他の内部
回路(キャリア抽出回路230や制御回路240)から
分離して構成している。このような構成では、侵入した
ノイズが、キャリア抽出回路230や制御回路240を
通過することなく、整流器220を介してコイル110
側に抜けるようにできるため、ノイズによるキャリア抽
出回路230や制御回路240の影響をさらに少なくす
ることができる。
As shown in FIG. 2, according to the present embodiment, the second power supply 120 is disposed between the internal power supply 120 and the GND terminal 130.
The routing paths of the two protection elements 250 and 260 are separated from other internal circuits (the carrier extraction circuit 230 and the control circuit 240). In such a configuration, the intruded noise does not pass through the carrier extraction circuit 230 or the control circuit 240, and passes through the coil 110 via the rectifier 220.
The influence of the noise on the carrier extraction circuit 230 and the control circuit 240 can be further reduced.

【0020】(第3実施形態)図3に本発明の第3実施
形態における非接触型ICカード100の回路構成を示
す。本実施形態における非接触型ICカード100は、
第2実施形態における非接触型ICカード100の抵抗
270、280をMOSトランジスタ270a、280
aで構成したものである。
(Third Embodiment) FIG. 3 shows a circuit configuration of a non-contact type IC card 100 according to a third embodiment of the present invention. The contactless IC card 100 according to the present embodiment
The resistors 270 and 280 of the non-contact type IC card 100 according to the second embodiment are replaced by MOS transistors 270a and 280.
a.

【0021】このように、抵抗270、280をMOS
トランジスタ270a、280aで構成した場合、制御
回路240にて各MOSトランジスタ270a、280
aのゲート印加電圧を制御することで、MOSトランジ
スタ270a、280aをオン、オフできるため、内部
電源120とGND端子130との間に常時電流が流れ
ない構成を実現できる。
As described above, the resistors 270 and 280 are
In the case where the MOS transistors 270a and 280a are configured by the transistors 270a and 280a,
Since the MOS transistors 270a and 280a can be turned on and off by controlling the gate applied voltage of a, a configuration in which no current always flows between the internal power supply 120 and the GND terminal 130 can be realized.

【0022】(他の実施形態)なお、上記各実施形態に
おいて、抵抗300、310を溶断させやすくするため
に、抵抗300、310をレイアウト上曲げて引き回
し、コーナー部に電界集中が起こるようにしたり、抵抗
300、310の配線幅を局所的に狭くしたりすること
も可能である。
(Other Embodiments) In each of the above embodiments, in order to easily blow the resistors 300 and 310, the resistors 300 and 310 are bent and routed on a layout so that electric field concentration occurs at a corner portion. , The wiring width of the resistors 300 and 310 can be locally reduced.

【0023】また、上記各実施形態では、パンチ穴50
0によって導体パターン450を切断するものを例にあ
げて説明を行なったが、他の方法、例えばミシン目の網
目を付加し、そのミシン目の部分を切断することによっ
て導体パターン450を断線させるようにしてもよい。
また、上記実施形態では、導体パターン450を切断し
て稼動状態を検出する非接触型ICカードについて説明
したが、端子420、430を検出用の端子に用いる非
接触型ICカードに本発明を適用しても良い。さらに、
端子420、430を用いて信号入力を行なう非接触型
ICカードに本発明を適用しても良い。
In each of the above embodiments, the punched hole 50
Although the description has been given of an example in which the conductor pattern 450 is cut by 0, other methods, such as adding a perforated mesh and cutting the perforated portion, to disconnect the conductor pattern 450. It may be.
In the above embodiment, the non-contact type IC card which detects the operating state by cutting the conductor pattern 450 has been described. However, the present invention is applied to the non-contact type IC card which uses the terminals 420 and 430 as detection terminals. You may. further,
The present invention may be applied to a non-contact type IC card that inputs signals using the terminals 420 and 430.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態における非接触型ICカ
ード100の回路構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a circuit configuration of a non-contact type IC card 100 according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2実施形態における非接触型ICカ
ード100の回路構成を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a circuit configuration of a non-contact type IC card 100 according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3実施形態における非接触型ICカ
ード100の回路構成を示す図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a circuit configuration of a non-contact type IC card 100 according to a third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100…非接触型ICカード、110…コイル、200
…非接触型IC、210…容量、220…整流器、23
0…キャリア抽出回路、240…制御回路、250、2
60…保護素子、270、280…抵抗、300、31
0…Poly−Siを含んだ抵抗、420、430…端
子、450…導体パターン、500…パンチ穴。
100: non-contact type IC card, 110: coil, 200
... non-contact type IC, 210 ... capacity, 220 ... rectifier, 23
0: carrier extraction circuit, 240: control circuit, 250, 2
60 ... protection element, 270, 280 ... resistance, 300, 31
0: resistance including Poly-Si, 420, 430: terminal, 450: conductor pattern, 500: punch hole.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 外部との通信により情報の書き込み、読
み出しを行なう集積回路部が備えられたICチップ(2
00)と、 ポリシリコンを含む第1の抵抗(300)を介して、前
記集積回路部に接続された第1の端子(420)と、 ポリシリコンを含む第2の抵抗(310)を介して、前
記集積回路部に接続された第2の端子(430)と、 前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された導
体パターン(450)とを備えていることを特徴とする
非接触型ICカード。
An IC chip (2) provided with an integrated circuit unit for writing and reading information by communication with the outside.
00), via a first resistor (300) containing polysilicon, a first terminal (420) connected to the integrated circuit section, and via a second resistor (310) containing polysilicon. , A second terminal (430) connected to the integrated circuit portion, and a conductor pattern (450) connected between the first terminal and the second terminal. Contactless IC card.
【請求項2】 前記第1、第2のいずれかの端子におけ
る電位レベルの変化に基づいて、前記導体パターンの断
線検出を行ない、前記断線検出に基づいて能動状態に切
り替わることを特徴とする非接触型ICカード。
2. The method according to claim 1, wherein a disconnection of the conductor pattern is detected based on a change in a potential level at one of the first and second terminals, and the conductor pattern is switched to an active state based on the detection of the disconnection. Contact type IC card.
【請求項3】 前記第1、第2の抵抗は、それぞれ第
1、第2の保護素子(250、260)に接続されてお
り、前記第1、第2の端子を通じてノイズが侵入した際
に、前記保護素子よりも先に溶断されるように設定され
ていることを特徴とする請求項1又は2に記載の非接触
型ICカード。
3. The first and second resistors are connected to first and second protection elements (250, 260), respectively, when noise enters through the first and second terminals. 3. The non-contact type IC card according to claim 1, wherein the non-contact type IC card is set to be blown before the protection element.
【請求項4】 所定電圧レベルの電源(120)と接地
端子(130)との間に接続された整流器(220)
と、該整流器に並列接続されたキャリア抽出回路(23
0)及び制御回路(240)と、前記電源と前記接地端
子との間に接続された第1、第2の保護素子(250、
260)と、前記第1の保護素子に一端側が接続された
第1の抵抗(300)と、前記第1の抵抗の他端側に接
続された第1の端子(420)と、前記第2の保護素子
に一端側が接続された第2の抵抗(310)と、前記第
2の抵抗の他端側に接続された第2の端子(430)
と、を含むICチップ(200)と、 前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された導
体パターン(450)と、を備え、 前記第1、第2の抵抗は、ポリシリコンを含んで構成さ
れており、前記第1、第2の端子を通じてノイズが侵入
した際に、前記保護素子よりも先に溶断されるように設
定されていることを特徴とする非接触型ICカード。
4. A rectifier (220) connected between a power supply (120) at a predetermined voltage level and a ground terminal (130).
And a carrier extraction circuit (23) connected in parallel with the rectifier.
0) and a control circuit (240), and first and second protection elements (250, 250) connected between the power supply and the ground terminal.
260); a first resistor (300) having one end connected to the first protection element; a first terminal (420) connected to the other end of the first resistor; And a second terminal (430) connected to the other end of the second resistor.
And a conductor pattern (450) connected between the first terminal and the second terminal. The first and second resistors are poly A non-contact type IC comprising silicon and being set to be blown earlier than the protection element when noise enters through the first and second terminals. card.
【請求項5】 前記第1、第2の保護素子の取り回し配
線は、前記キャリア抽出回路及び前記制御回路の取り回
し配線から分離されていることを特徴とする請求項4に
記載の非接触型ICカード。
5. The non-contact type IC according to claim 4, wherein the wiring for the first and second protection elements is separated from the wiring for the carrier extraction circuit and the control circuit. card.
【請求項6】 前記第1、第2の保護素子は共に、PM
OSトランジスタ(250a、260a)とNMOSト
ランジスタ(250b、260b)が直列接続された構
成となっており、該2つのMOSトランジスタの間に前
記第1、第2の抵抗が接続されていることを特徴とする
請求項3乃至5のいずれか1つに記載の非接触型ICカ
ード。
6. The first and second protection elements are both PM
An OS transistor (250a, 260a) and an NMOS transistor (250b, 260b) are connected in series, and the first and second resistors are connected between the two MOS transistors. The non-contact type IC card according to any one of claims 3 to 5, wherein
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