JP2000235056A - 直列に接続された電気モジュールのシステム用の測定回路 - Google Patents

直列に接続された電気モジュールのシステム用の測定回路

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JP2000235056A
JP2000235056A JP2000000892A JP2000000892A JP2000235056A JP 2000235056 A JP2000235056 A JP 2000235056A JP 2000000892 A JP2000000892 A JP 2000000892A JP 2000000892 A JP2000000892 A JP 2000000892A JP 2000235056 A JP2000235056 A JP 2000235056A
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Jean-Luc Carton
ジヤン−リユツク・キヤルトン
Morin Christophe
クリストフ・モラン
Michel Perelle
ミシエル・ペレル
Regis Equoy
レジス・エクワ
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Alcatel Lucent SAS
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/396Acquisition or processing of data for testing or for monitoring individual cells or groups of cells within a battery

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  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 逆電圧からの保護装置をもつ測定回路を提供
する。 【解決手段】 個々の測定インターフェース4と1つの
測定信号トランスデューサ5とが連結された直列接続電
気モジュール2のシステム用の測定回路であって、これ
らのインターフェースがこのトランスデューサに、1つ
の共通のロジックユニット6から第2リンクLを介して
インターフェースからインターフェースへとシリアル的
に伝送されるインターフェース選択パルスに応答して第
1シリアルリンクMを介して測定信号を連続的に提供す
る。各測定信号は、この信号を発生させるインターフェ
ースのインターフェースシーケンス中のポジションに応
じて、トランスデューサに最も近いインターフェースか
ら直接に、またはこの信号が横断する、選択されていな
い1つまたは複数のインターフェースを介してトランス
デューサに伝送される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、直列に接続された
電気モジュールのモジュラシステム用の測定回路、特に
1つまたは複数の電気エネルギの発生、蓄積または変換
要素で各々構成されているモジュールシステム用の測定
回路に関する。より詳細には、本発明は高電圧で作動す
る複数モジュールのシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】知られているように、直列に接続された
電気モジュールで構成されたシステムの運転は、とりわ
けモジュールの数が比較的多い場合、各モジュールの作
動を正確に監視することが可能であるならば、したがっ
てモジュールごとに測定を行うことが可能であるなら
ば、大幅に最適化され得る。
【0003】文献EP−A−0678 753は、この
ようなモジュールシステム用の測定回路について記載し
ている。この文献は正確な測定を提供するとともに、測
定信号を伝送するのに必要な電気接続の数を低減してい
る。第1シリアルリンクは、モジュールに個々に割付け
られた測定インターフェースを接続しており、インター
フェースに位置する電流発生器を介して得られた測定信
号を共通のトランスデューサによって連続的に処理する
ことを可能にしている。第2シリアルリンクは個々の選
択パルスを共通のロジックユニットからインターフェー
スに伝送することを可能にしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、いくつかの
ケースでは、たとえば電気自動車のモータを駆動する場
合、モジュールシステムの端子において高電圧が得られ
る方が有利である。このことは、この種のモジュールシ
ステム用の測定回路のインターフェースの点において影
響を及ぼさないわけにはいかない。つまり、インターフ
ェース構成要素は高電圧に、ことによるとシステムの端
子電圧と同じほどの高電圧に耐えるよう要求され得るか
らであり、またモジュールシステムの運転中に起こり得
る機能障害が異常電圧の発生、特にインターフェースの
入出力端子における逆電圧の発生を招き得るからであ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】したがって、本発明は電
気的に直列に接続され、1つまたは複数の電気エネルギ
の発生、蓄積または変換要素で各々構成されたモジュー
ルのモジュラシステム用の測定回路であって、このモジ
ュラシステムに、各モジュールごとの個々の測定インタ
ーフェースと1つの共通の測定信号トランスデューサと
が結合され、このトランスデューサに、これらのインタ
ーフェースが1つの共通のロジックユニットから第2リ
ンクを介して伝送される個々のインターフェース選択パ
ルスに応答して第1シリアルリンクを介して測定信号を
連続的に送る測定回路を提供する。
【0006】本発明の1つの特徴によれば、連続したイ
ンターフェースはシリアルタイプの第1および第2リン
クの要素によって相互に接続され、2つの連続したモジ
ュールに対応する少なくとも2つのインターフェースは
2つのリンク要素によって接続され、そのうちの1つは
第1リンクの要素であり、他の1つは第2リンクの要素
であり、各要素は直列に接続される保護ダイオードを含
み、これらのダイオードが逆電圧の場合に、特にその間
に保護ダイオードが接続されたインターフェースが対応
するモジュール間の電気的連続性が断たれた場合に動作
する。
【0007】また、本発明は電気的に直列に接続され、
1つまたは複数の電気エネルギの発生、蓄積または変換
要素で各々構成されたモジュールのモジュラシステム用
の測定回路であって、これらのモジュラシステムに、各
モジュールごとの個々の測定インターフェースと1つの
測定信号トランスデューサとが結合され、これらのイン
ターフェースがこのトランスデューサに、1つの共通の
ロジックユニットから伝送される個々のインターフェー
ス選択パルスに応答してそれぞれ発生させる電流測定信
号を第1シリアルリンクを介して連続的に伝送し、各イ
ンターフェースが選択パルス処理回路を具備し、各イン
ターフェースがこの処理回路を介して選択される測定回
路も提供する。
【0008】本発明の1つの特徴によれば、連続したイ
ンターフェースがシリアルタイプの第1リンクの要素に
よって相互に接続されるこの回路内において、各インタ
ーフェースは選択パルス処理回路によって制御されるル
ーティングユニット(aiguilleur)をアナロ
グ測定信号発生器とバイパス(translateu
r)とに結合する装置を具備し、このルーティングユニ
ットは、インターフェースが選択されたとき、第1リン
クを介してアナログ測定信号発生器と共通の測定信号ト
ランスデューサとを連絡させ、インターフェースが選択
されないとき、第1リンクを介してバイパスと測定信号
トランスデューサとを連絡させ、このときバイパスは、
アナログ測定信号がトランスデューサに対して第1リン
ク上のバイパスの上流側に位置する別のインターフェー
スから受信されるとき、トランスデューサへのインター
フェースを介したこの信号の完全なる伝送(trans
mission integrale)を確保する。
【0009】本発明の1つの特徴によれば、シリアルタ
イプの第2リンクは共通のロジックユニットによって送
信された個々のインターフェース選択パルスを伝送し、
第1および第2リンクは2つの連続したモジュールに対
応する2つのインターフェース間に各々挿入される要素
でそれぞれ構成され、2つの連続したモジュールに対応
する少なくとも2つのインターフェースは2つの要素に
よって接続され、そのうちの1つは第1リンクの要素で
あり、他の1つは第2リンクの要素であり、各要素は直
列に接続された保護ダイオードを含み、これらのダイオ
ードが逆電圧の場合に、特にその間に保護ダイオードが
接続されたインターフェースが対応するモジュール間の
電気的連続性が断たれた場合に動作する。
【0010】本発明およびその特徴ならびにその利点
は、添付の単一図を参照しながら以下の説明を読むこと
によって明確になる。
【0011】
【発明の実施の形態】図1に示されている測定回路は、
エネルギ伝達端子において直列に接続された複数のモジ
ュール2であって、「+」と「−」の記号で表される2
つの端子を一般に有しているモジュール2で構成された
電気モジュラシステム1に結合するためのものである。
各モジュールは、たとえば電気エネルギを発生、変換ま
たは蓄積する複数の要素で構成される。これらの要素に
は、電池、蓄電池およびスーパーコンデンサが含まれ
る。図示されているシステム1は、蓄電池である電気モ
ジュール2で構成されている。たとえば、システム1は
数百ボルトのDC作動電圧を提供するように直列に接続
されたいくつかの12Vバッテリで構成された電気自動
車モータ用電力供給システムである。安全上の理由によ
り、またこの種のシステムでは大きな電流が発生し得る
ので、システムの少なくとも2つのモジュール間に、た
とえば直列接続モジュールによって形成された列の中央
に位置する2つのモジュール間に保護ヒューズおよび/
または遮断器等の少なくとも1つの装置3がある。
【0012】本発明による測定回路は、システム1のモ
ジュール2の作動に関する情報を収集し、たとえば各モ
ジュールの端子におけるDC電圧の値を決定することを
可能にするためのものである。この回路は、それが結合
されたシステムの各モジュールごとに個々の測定インタ
ーフェース4を含む。これらのインターフェース4で得
られた測定信号は、連続した要素で構成されたシリアル
タイプのリンクMを介して、共通のアナログまたはデジ
タル測定信号トランスデューサ5に連続的に伝送され
る。なお、インターフェース4はリンクMの連続した要
素間にそれぞれ挿入される。これらの信号の伝送は、や
はり間にインターフェースがそれぞれ挿入された連続す
る要素で構成されたシリアルタイプのリンクL上におい
て個々のインターフェース選択パルスの列を送信するロ
ジックユニット6によって制御される。
【0013】ここに示されている実施形態では、ロジッ
クユニット6からの選択パルスはリンクLを形成する要
素を介してインターフェースからインターフェースへと
連続的に送信される。各インターフェースは選択パルス
処理回路7を内蔵する。この処理回路はそれがロジック
ユニット6から受信する列の最初の選択パルスを考慮す
る。インターフェースの処理回路7によって受信された
パルス列中の他の選択パルスは、この回路によってリン
クLを介して次のインターフェースの処理回路へと伝送
される。
【0014】インターフェースの処理回路7は、専門家
によく知られているので、これ以上詳細に説明しない。
なお、一例は先に挙げた文献EP−A−0678753
に掲載されている。
【0015】インターフェース4の選択パルス処理回路
7は、個々の選択パルスを受信したときに、インターフ
ェースによって発生された測定信号を測定信号トランス
デューサ5に提供するのを制御するためのものである。
この信号は以下の説明においてはアナログ信号であると
仮定されるが、場合によっては、モジュールに割付けら
れたインターフェースを介してこのモジュールにおいて
行われる測定から測定トランスデューサに提供されるデ
ジタル信号とすることもできる。この場合には、測定ト
ランスデューサもデジタルタイプである。ロジックユニ
ット6は、得られた測定信号を考慮するために、場合に
よっては(図示しない)従来の方法で測定信号トランス
デューサに接続される。なお、ロジックユニットは、た
とえば、特に関連メモリとクロックとを備えたプロセッ
サをベースにして従来の方法で構成されたプログラムロ
ジックが使用される。
【0016】示されている実施形態では、選択パルス処
理回路7はデバイス8のMOSルーティングユニット9
に作用し、このルーティングユニットは測定信号発生器
10とMOSバイパス11とに結合される。
【0017】モジュールインターフェースのルーティン
グユニット9は、たとえば2つのMOSトランジスタで
構成される。これらのトランジスタは、当該モジュール
のインターフェースが選択されるとき、測定信号発生器
10がリンクMを介して回路の測定信号トランスデュー
サ5に連絡するように、またこのインターフェースが選
択されないとき、バイパス11が同じリンクMを介して
測定信号トランスデューサ5に連絡するように制御され
る。
【0018】バイパス11は、インターフェースが選択
されず、かつ受信された信号がトランスデューサに対し
て第1リンク上のバイパスの上流側に位置する別のイン
ターフェースからのものであるときに、測定信号トラン
スデューサ5へのインターフェースを介した測定信号の
完全なる伝送を可能にする。このとき、インターフェー
スのルーティングユニット9は、間にインターフェース
が挿入されているリンクMの2つの要素を接続する。
【0019】ここに示されている実施形態では、各デバ
イス8はアナログ電流発生器の形をした測定信号発生器
10を含む。この発生器は、リンクMを介して測定信号
トランスデューサ5へ流れる電流強度を変えることを可
能にする。この電流強度は、このとき選択されているイ
ンターフェース4の測定信号発生器10によって、この
インターフェースにおいて行われた測定に応じて、たと
えば、選択されているインターフェースが割付けられて
いるモジュールの端子電圧の関数として変化する。
【0020】示されている実施形態では、行われた測定
に応じてインターフェースの測定信号発生器10によっ
て発生される電流は、インターフェースがパルスによっ
て選択され、このインターフェースの要素8が電流によ
って構成される測定信号を、トランスデューサ5を形成
している抵抗にルーティングするときに、測定信号トラ
ンスデューサ5を構成している抵抗に印加される。この
測定信号はリンクMのいくつかの要素を通過するととも
に、このとき選択されているインターフェースと測定ト
ランスデューサ5との間に位置するいくつかのインター
フェースのルーティングユニット9とバイパス11を通
過する。
【0021】このとき、これらの選択されていないイン
ターフェースのバイパス11は、これらのインターフェ
ースにおいてそれらのバイパスにそれぞれ連結されてい
るルーティングユニットによって1つの連続したライン
を形成するように図られる。これらのバイパスは、それ
らが組み込まれているインターフェースを通過するアナ
ログ測定信号の完全なる伝送を確保する。想定される実
施形態では、測定トランスデューサ5を形成している抵
抗は、アナログ測定信号がすぐ上流側に位置しているイ
ンターフェースによって提供されるケースでは、システ
ム1の正電位Vより少し高い電位V’に接続される。
【0022】本発明によれば、システム1のモジュール
2間の電気的連続性が断たれた場合に高い逆電圧がリン
クを介してインターフェースに印加されることを防ぐた
めにリンクMの少なくとも1つの要素上に保護ダイオー
ド12が挿入される。実際のところ、システム1は、そ
の運転中、負荷14に連結される。この負荷は、いくつ
かのアプリケーションにおいて、特に負荷がモータであ
る場合において低い内部抵抗を有する。したがって、モ
ジュール2間の連続性が意図的に断たれた場合あるいは
事故によって断たれた場合に現れる電圧は逆電圧であ
り、保護ダイオードがないならば、インターフェースが
耐えるにはあまりにも高すぎうる。このような逆電圧は
場合によってはシステム1の公称電圧に相当しうる。す
なわち場合によっては数百ボルトでありうる。
【0023】同様の理由から、保護ダイオード12’
は、保護ダイオード12を含んでいるリンク要素Mと同
じインターフェースを接続しているリンク要素L上にも
設けられている。
【0024】単一図に示されている例では、2つのイン
ターフェースを相互に接続しているすべてのリンク要素
LとM上に保護ダイオード12および12’が設けられ
ている。当然のことながら、ダイオードは、これらのリ
ンク要素が連結されるインターフェースに交互に設ける
こともできるであろう。また変形形態として、保護ダイ
オード12および12’は、発生しうる逆電圧上許され
るならば、インターフェースグループ用としてリンク
L、Mにつき最低限1個のダイオードを設けることもで
きるであろう。このような極端なケースは、システム1
の直列接続モジュール2がたとえば1つの蓄電池バンク
に各々対応する2つのサブシステムに分割され、かつヒ
ューズおよび/または場合によっては遮断器を含む装置
3が2つのサブシステム間に設けられる場合に特に想定
可能である。この場合、保護ダイオード12および1
2’は、間に装置11が位置する、異なるサブシステム
に各々属するモジュール2に割付けられる2つのインタ
ーフェース4間に挿入される。もちろん、他の変形形態
も想定可能である。
【0025】ここで説明したインターフェース4は、文
献EP−A−0657745およびEP−A−0678
753に記載されている類のものである。各インターフ
ェースの測定信号発生器10は、たとえばインターフェ
ースが割付けられるモジュールの端子電圧を測定するた
めの回路に基づいている。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による測定回路が結合される、蓄電池で
ある電気モジュールのモジュラシステムの理論上の回路
図である。
【符号の説明】
1 電気モジュラシステム 2 モジュール 3 保護ヒューズおよび/または遮断器等の装置 4 個々の測定インターフェース 5 共通のアナログまたはデジタル測定信号トランスデ
ューサ 6 ロジックユニット 7 選択パルス処理回路 8 デバイス 9 ルーティングユニット 10 測定信号発生器 11 バイパス 12、12’ 保護ダイオード M、L シリアルリンク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ミシエル・ペレル フランス国、37210・パルケ−メスレ、リ ユ・ドウ・ラ・シヤントウリー、18 (72)発明者 レジス・エクワ フランス国、33160・サン・メダール・ア ン・ジヤル、アンパス・ロベスピエール・ 13・ベー

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電気的に直列に接続され、1つまたは複
    数の電気エネルギの発生、蓄積または変換要素で各々構
    成されたモジュール(2)のモジュラシステム用の測定
    回路であって、前記モジュラシステムに、各モジュール
    ごとの個々の測定インターフェース(4)と1つの測定
    信号トランスデューサ(5)とが結合され、前記インタ
    ーフェースが前記トランスデューサに、1つの共通のロ
    ジックユニット(6)から第2リンク(L)を介して伝
    送される個々のインターフェース選択パルスに応答して
    第1シリアルリンク(M)を介して測定信号を連続的に
    提供する測定回路であり、前記連続したインターフェー
    スがシリアルタイプの前記第1および第2リンクの要素
    によって相互に接続され、2つの連続したモジュールに
    対応する少なくとも2つのインターフェースが2つのリ
    ンク要素によって接続され、そのうちの1つが第1リン
    クの要素であり、他の1つが第2リンクの要素であり、
    各要素が直列に接続される保護ダイオード(12、1
    2’)を含み、前記ダイオードが逆電圧の場合に、特に
    その間に保護ダイオードが接続されたインターフェース
    が対応するモジュール間の電気的連続性が断たれた場合
    に動作することを特徴とする測定回路。
  2. 【請求項2】 電気的に直列に接続され、1つまたは複
    数の電気エネルギの発生、蓄積または変換要素で各々構
    成されたモジュールのモジュラシステム(1)用の測定
    回路であって、これらのモジュラシステムに、各モジュ
    ールごとの個々の測定インターフェース(4)と1つの
    測定信号トランスデューサ(5)とが結合され、このト
    ランスデューサに、これらのインターフェースが1つの
    共通のロジックユニット(6)から伝送される個々のイ
    ンターフェース選択パルスに応答してそれぞれ発生させ
    る電流測定信号を第1シリアルリンク(M)を介して連
    続的に伝送し、各インターフェースが選択パルス処理回
    路(7)を具備し、各インターフェースがこの処理回路
    を介して選択される測定回路であり、連続したインター
    フェースがシリアルタイプの前記第1リンクの要素によ
    って相互に接続されるこの回路内において、各インター
    フェースが前記選択パルス処理回路(7)によって制御
    されるルーティングユニット(9)をアナログ測定信号
    発生器(10)とバイパス(11)とに結合する装置
    (8)を具備し、前記ルーティングユニットが、前記イ
    ンターフェースが選択されるとき、前記第1リンクを介
    して前記アナログ測定信号発生器と前記共通の測定信号
    トランスデューサとを連絡させ、前記インターフェース
    が選択されないとき、前記第1リンクを介して前記バイ
    パスと前記測定信号トランスデューサとを連絡させ、こ
    のとき前記バイパスが、アナログ測定信号が前記トラン
    スデューサに対して前記第1リンク上の前記バイパスの
    上流側に位置する別のインターフェースから受信される
    とき、前記トランスデューサへの前記インターフェース
    を介した前記信号の完全なる伝送を確保することを特徴
    とする測定回路。
  3. 【請求項3】 シリアルタイプの第2リンクが上記共通
    のロジックユニットによって送信された個々のインター
    フェース選択パルスを伝送し、前記第1および第2リン
    クが2つの連続したモジュールに対応する2つのインタ
    ーフェース間に各々挿入される要素でそれぞれ構成さ
    れ、2つの連続したモジュールに対応する少なくとも2
    つのインターフェースが2つの要素によって接続され、
    そのうちの1つが第1リンクの要素であり、他の1つが
    第2リンクの要素であり、各要素が直列に接続された保
    護ダイオード(12、12’)を含み、前記ダイオード
    が逆電圧の場合に、特にその間に保護ダイオードが接続
    された前記インターフェースが対応する前記モジュール
    間の電気的連続性が断たれた場合に動作する請求項2に
    記載の測定回路。
JP2000000892A 1999-01-07 2000-01-06 直列に接続された電気モジュールのシステム用の測定回路 Pending JP2000235056A (ja)

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FR9900089 1999-01-07

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EP (1) EP1018652A1 (ja)
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