JP2000231707A

JP2000231707A - Ｍｒヘッドのオフセツト補正方法および磁気ディスクサーティファイア

Info

Publication number: JP2000231707A
Application number: JP3292899A
Authority: JP
Inventors: Kyoichi Mori; 恭一森; Kazuo Honma; 一男本間; Takeshi Ishiwatari; 武石渡
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1999-02-10
Filing date: 1999-02-10
Publication date: 2000-08-22

Abstract

(57)【要約】（修正有）【課題】簡易な方法によりＭＲヘッドのオフセット補正
ができるＭＲヘッドのオフセツト補正方法およびサーテ
ィファイアを提供する。【解決手段】書込み用のヘッドにより磁気ディスクのト
ラックにテストデータを書込み、ＭＲヘッドを磁気ディ
スクのトラックを横断する方向に沿って移動させてＭＲ
ヘッドの読出し電圧を測定することで書込み用のヘッド
とＭＲヘッドとのトラックにおけるずれ量を算出するオ
フトラック測定工程と、書込み用のヘッドとＭＲヘッド
の組立てにより決定される磁気ディスクのトラック方向
に沿うヘッド間距離とずれ量とに基づいて実質的に磁気
ヘッドあるいは書込み用ヘッドの中心を回転基準とした
回転によりずれ量が解消される角度θを算出するオフセ
ット補正角算出工程と、角度θ分回転させた角度に設定
する角度設定工程とを備える。また、磁気ヘッドを角度
θ分回転させた角度に設定する角度調整機構を備えてい
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、ＭＲ（磁気抵抗
効果）ヘッドのオフセット補正方法および磁気ディスク
サーティファイアに関し、詳しくは、ＭＲヘッドにより
磁気ディスクをサーティファイする磁気ディスクサーテ
ファイにおいて、書込み用のインダクティブヘッドと読
出用のＭＲヘッドのオフセットに対する補正が簡単にで
きるようなＭＲヘッドのオフセット補正方法およびＭＲ
ヘッドを用いる磁気ディスクサーティファイア（以下サ
ーテファイア）に関する。

【０００２】

【従来の技術】ディスクドライブに組み込まれるハード
磁気ディスクは、製造された後に単体の状態でサーティ
ファイアにより磁気媒体として電気的な性能についてサ
ーティファイされ、その品質がランク別に判定される。
これにより磁気ディスクは、区分けされたランクのもの
としての保証がなされる。

【０００３】図５は、従来のサーティファイアの概略構
成を示している。また、図６は、キャリッジとヘッドと
の関係を示している。ハード磁気ディスク（以下単にデ
ィスク）１は、スピンドル２に装着されて回転する。こ
のディスクの表裏に配置される磁気ヘッド３Ａ，３Ｂ
（図６参照）は、それぞれのサスペンションスプリング
３１，３１を介して支持アーム６１，６１に支持されて
いる。そして、キャリッジ機構６にそれぞれの支持アー
ム６１が取付けられている。磁気ヘッド３Ａ，３Ｂは、
データ書込み用にインダクティブヘッドを、データ読出
用にＭＲヘッドを有している。各磁気ヘッドは、キャリ
ッジ機構６によりディスク１の半径の方向に沿って移動
して、その表裏両面の複数のトラックＴRに順次位置決
めされ、各トラックごとにディスクの電気的な性能の検
査がなされる。

【０００４】ここで、キャリッジ機構６とスピンドル２
等の駆動系は、図５に示すデータ処理装置４８により駆
動制御回路６０によりその移動や回転が制御される。な
お、磁気ヘッド３Ａ，３Ｂについてはそれぞれが表裏に
配置される点を除けば、同様な構成であり、同様な動作
をするるので、以下では、これらを区別せずに単に磁気
ヘッド３として説明する。また、磁気ヘッド３と支持ア
ーム６１との関係は、磁気ヘッド３が支持アーム６１の
移動方向の延長線上に取付けられるものと、支持アーム
６１の移動方向に対して直角方向に取付けられるものと
があるが、図では延長線上に配置されるものを示してあ
る。

【０００５】サーティファイは、図５に示すように、前
記したデータ処理装置４８等のほかに、書込／読出アン
プ４３と、欠陥検査回路４、スライスレベル設定回路４
５、そして欠陥検出回路４６などから構成される。欠陥
検査回路４は、テスト信号発生回路４１と書込制御回路
４２とを有し、スライスレベル設定回路４５は、１トラ
ックの平均値を作成するトラック平均値作成回路（ＴAA
作成回路）４５１とスライスレベル作成回路４５２とに
より構成される。欠陥検出回路４６は、波形比較回路４
６１とエラー検出回路４６２、そしてエラーメモリ４６
３とにより構成される。また、データ処理装置４８は、
ＭＰＵ４７とメモリ５０とを有していて、バス４９を介
してエラーメモリ４６３と接続されている。なお、図中
Ｐは、データ処理装置４８から出力されるスライスレベ
ルの設定信号である。これらの回路の動作の詳細につい
ては、この出願人により出願であり、この発明の先行技
術である特開平１０−２７５４３４号に記載され、公知
となっているので割愛する。

【０００６】図７は、磁気ヘッド３を正面からみた構成
の説明図である。磁気ヘッド３は、書込み用のインダク
ティブヘッド３ａと読出用のＭＲヘッド３ｂとからな
る。両ヘッド３ａ,３ｂの両者の中心にはそれぞれギャ
ップｇa,ｇbがあって、理想的には、これらのギャップ
の中心Ｃは一致した状態であるが、実際には、アクセス
するトラックとの関係などにより、図示するように、イ
ンダクティブヘッド３ａのギャップｇaの中心線ＣaとＭ
Ｒヘッド３ｂのギャップｇbの中心線Ｃbとがずれていて
両中心線Ｃa，Ｃbの間隔Δｘのオフセットがこれらの間
にある。そのため、インダクティブヘッド３ａにより書
込まれたテストデータをＭＲヘッド３ｂがそのギャップ
ｇbにより読出すとき、ＭＲヘッド３ｂのギャップがイ
ンダクティブヘッド３ａのトラック幅の内側に十分に入
っていないと読出レベルが低下する問題がある。このよ
うなことを解決するために、出願人は、前記の特開平１
０−２７５４３４号において、ピエゾ素子を用いてＭＲ
ヘッド３ｂの位置を微少移動させてインダクティブヘッ
ド３ａのトラック幅の適正な位置になるようにするオフ
セット補正をする補正方法とそのサーティファイアとを
提案している。

【０００７】ここで、読出状態において磁気ヘッド３が
左側から右方向に移動するとする。そのＭＲヘッド３ｂ
も同時に左側から右方向に移動する。図８のの位置で
は、ＭＲヘッド３ｂの感度幅ｗbの右端がテストデータ
の幅ｗaの左端に対応している。このときからＭＲヘッ
ド３ｂのギャップｇb（Ｃbはその中心線）がインダクテ
ィブヘッド３ａにより書込まれたテストデータ（その左
端）を読出せる状態なる。ただし、このときには読出電
圧はいまだ０（ゼロ）である。ここでは、簡単に説明す
るために、ＭＲヘッド３ｂの読出電圧は、［ｍＶ］単位
ではなく、これの最大読出電圧を１として、数値“０”
から“１”の範囲の比として説明する。なお、それぞれ
ヘッドの感度幅ｗa，ｗbは、それぞれのギャップｇa，
ｇbの幅により決定される。ＭＲヘッドの感度幅ｗbは、
現在のところは数μｍ程度である。

【０００８】さて、の位置にではＭＲヘッド３ｂの感
度幅ｗbがｗb／２だけ書込幅ｗa側に入り込んでいる。
このときには右側の感度幅ｗbのうちのｗb／２分が幅ｗ
a上にある。このときの読出電圧は、一様にテストデー
タが書込まれているとすれば０．５となる。さらに右側
へとＭＲヘッド３ｂが移動しての位置では、幅ｗbの
全体が幅ｗa上にある。そこで、このときの読出電圧は
最大の１．０となる。そして、ｗa＞ｗbのときは、幅
（ｗa−ｗb)の範囲では電圧が１．０のままとなって平
坦になる。したがって、ＭＲヘッド３ｂがの位置での
読出電圧は１．０である。その結果、全体としては下側
に実線で示すような読出電圧特性になる。図９は、オフ
セット量Δｘ（μｍ）に対する、ＭＲヘッド３ｂの読出
電圧の実測値の一例を示している。例えば、Δｘ＝±
０．５μｍの読出電圧は、最大値０．２ｍＶに対して約
０．１８ｍＶ（約９０％）に低下している。このような
読出電圧の低下があるとサーティファイの信頼性も低下
する。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】特開平１０−２７５４
３４号におけるオフセット補正方法は、ピエゾ素子を用
いるものであり、ピエゾ素子はヒステリシス特性を有す
るために、これの伸張、収縮特性を再現するための制御
を行わなければならない。そのためにサーボ機構が複雑
となる。また、キャリッジにピエゾ素子を内蔵しなけれ
ばならない問題がある。さらに、各検査トラックごとに
オフセット補正が必要になることから検査処理のスルー
プットが低下する欠点がある。この発明の目的は、前記
のような従来技術の問題点を解決するものであって、簡
易な方法によりＭＲヘッドのオフセット補正ができるＭ
Ｒヘッドのオフセツト補正方法を提供することにある。
この発明の他の目的は、簡単にＭＲヘッドのオフセット
補正をすることができ、効率よく、精度の高いサーティ
ファイができるサーティファイアを提供することにあ
る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この発明のＭＲヘッドの
オフセツト補正方法の特徴は、書込み用のヘッドにより
磁気ディスクのトラックにテストデータを書込み、ＭＲ
ヘッドを磁気ディスクのトラックを横断する方向に沿っ
て移動させてＭＲヘッドの読出し電圧を測定することで
書込み用のヘッドとＭＲヘッドとのトラックにおけるず
れ量を算出するオフトラック測定工程と、書込み用のヘ
ッドとＭＲヘッドの組立てにより決定される磁気ディス
クのトラック方向に沿うヘッド間距離とずれ量とに基づ
いて実質的に磁気ヘッドの中心あるいは実質的に書込み
用ヘッドの中心を回転基準とした回転によりずれ量が解
消される角度θを算出するオフセット補正角算出工程
と、実質的に磁気ヘッドの中心あるいは実質的に書込み
用ヘッドの中心を回転基準として磁気ヘッドを角度θ分
回転させた角度に設定する角度設定工程とを備えるもの
である。また、この発明のサーティファイアの特徴は、
実質的に磁気ヘッドの中心あるいは実質的に書込み用ヘ
ッドの中心を回転基準として磁気ヘッドを角度θ分回転
させた角度に設定する角度調整機構を備えていて、角度
θが書込み用のヘッドとＭＲヘッドとのオフセットを解
消する角度にあるというものである。

【００１１】

【発明の実施の形態】このように、この発明では、実質
的に磁気ヘッドの中心あるいは実質的に書込み用ヘッド
の中心を回転基準として磁気ヘッドを角度調整により角
度θ分回転させて書込み用のヘッドとＭＲヘッドとのオ
フセットを解消するようにしているので、キャリッジあ
るいはヘッドカートリッジにピエゾ素子等のアクチュエ
ータを内蔵しなくても済み、各検査トラックごとにオフ
セット補正をする必要がなくなる。その結果、オフセッ
ト制御も不要になり、サーボ機構が簡単になり、かつ、
キャリッジの内部構造も簡単にでき、検査処理のスルー
プットを向上させることができる。

【００１２】

【実施例】図１は、この発明のオフセット補正方法を適
用した一実施例のオフセット補正方法の手順の説明図、
図２は、磁気ヘッドを回転中心としたヘッド回転とオフ
セット補正の関係の説明図、図３は、そのオフセット補
正角設定工程における磁気ヘッドの角度設定機構の説明
図、そして図４は、図２の磁気ヘッドの角度設定機構を
装着したヘッドキャリッジの説明図である。さて、この
発明のオフセット補正方法は、図１に示すように、ま
ず、オフトラック測定工程Ａにおいて、トラックにける
ＭＲヘッドのオフセット値Δｘの測定をする。これは、
インダクティブヘッド３ａにより所定の検査トラックに
テストデータを書込み、読出用のＭＲヘッド３ｂを検査
トラックを横断する方向（ディスクの半径方向）に０．
数μｍ程度でステップ送り、図２（ａ）に示すようにＭ
Ｒヘッド３ｂの読出し電圧を測定し、これの最大ピーク
値を得た点までの移動量をΔｘとして測定する。図２
（ａ）は、半径方向移動量対読出電圧特性のグラフであ
って、この例では、オフセット値Δｘは、Δｘ＝０．７
３μｍである。

【００１３】次に、オフセット補正角算出工程Ｂにおい
て、測定されたオフセット値Δｘから磁気ヘッドを回転
中心としたヘッド回転のオフセット補正角θを求める。
これは、図２（ｂ）に示すように、インダクティブヘッ
ド３ａのギャップの中心線Ｃａに対してインダクティブ
ヘッド３ａのギャップの中心位置を実質的な回転中心Ｏ
として磁気ヘッド３をθ回転させて傾け、図２（ｃ）に
示すように状態に設定するものである。ここで、図２
（ｂ）に示すように、インダクティブヘッド３ａとＭＲ
ヘッド３ｂとのディスク１のトラック方向（円周方向）
に沿う間隔をＫ、ディスク１のトラックを横断する方向
（半径方向）に沿った設計上のオフセット量（オフセッ
ト設計値）をＪとする。Ｋは、磁気ヘッド３の構造上既
知の値であり、通常、２μｍ〜３μｍ程度の値である。
また、設計上のオフセット量Ｊは、ロータリ式のキャリ
ッジをもってヘッドがディスクのトラックを内周から外
周までアクセスする場合に、各トラックのスキュー量が
少なくなる値として設計上で決定された値であって、こ
の値Ｊでインダクティブヘッド３ａとＭＲヘッド３ｂと
がオフセットするように設計されるので、同様に既知と
なっている。このＪは、０．２μｍ〜０．４μｍ程度の
もので、Ｋに対して１／１０程度の値である。実際のオ
フセット値Δｘを測定しているのでこのＪは無視しても
よいのだが、磁気ヘッド３がスライダに取付けられたと
き、あるいはこのスライダがジンバルに取付けらて、サ
スペンションスプリング３１、支持アーム６１を介して
キャリッジ機構６に保持されたときに、磁気ディスク上
のトラックに対して角度ずれ（角度スキー）をもって取
付けられている可能性がある。そのためここでは、この
角度スキューも考慮し、この値Ｊを採用して、できるだ
け正確にオフセット補正角度θを算出する。

【００１４】まず、Ｒ²＝Ｋ²＋Ｊ²によりインダクティ
ブヘッド３ａとＭＲヘッド３ｂのコア中心間の距離Ｒを
算出する。次に、θ＝sin^-1（Δｘ／Ｒ）により回転角
θを算出する。具体的な例として、Ｊ＝０．３５μｍ，
Ｋ＝２．２μｍ，Δｘ＝０．３２μｍ，Ｒ＝２．２３μ
ｍの場合には、θ＝８．２５となる。最後に、オフセッ
ト補正角設定工程Ｃにおいて磁気ヘッド３をこれ自体の
中心を回転中心として両ヘッドのオフセットを解消する
方向にθ回転させてオフセット補正角θの設定を行い、
ＭＲヘッドのオフセットを解消する。ところで、オフセ
ットの角度θの算出方法としては、前記の設計上のオフ
セット設計値Ｊを用いない場合には、Ｊに換えてΔｘを
用いてＭＲヘッド３ｂのコア中心間の距離Ｒを算出して
もよい。また、Ｊの値がＫに対して１／１０程度の値で
あることから、ＫそのものをＲに換えて使用し、Δｘと
の関係で角度θをθ＝sin^-1（Δｘ／Ｋ）により算出し
てもよい。

【００１５】図３（ａ）は、その角度設定機構の説明図
である。なお、オフセット補正角度θの角度設定回転中
心は、必ずしも、インダクティブヘッド３ａのギャップ
の中心に正しく一致していなくてもよい。その理由につ
いて以下説明する。一致していない場合には、回転によ
り、インダクティブヘッド３ａのトラック横断方向、ト
ラック方向の位置がそれぞれ変化する。トラック横断方
向の位置の変化は図２（ｂ）から（ｃ）の状態を対比し
て分かるように、両ヘッドについての相対的なオフセッ
トであることから問題とはならないことが理解されよ
う。トラック方向の位置が変化する場合、図２（ｃ）に
おいて、ディスクに書込まれたライト信号Ｃaは、実際
には円周の一部であるために角度と曲率を持つことにな
るが、ヘッド間隔Ｋが２μｍ〜３μｍ程度と小さいの
で、インダクティブヘッド３ａのトラック幅を考慮すれ
ば、回転中心が多少ずれてもトラック幅の範囲に位置設
定されることから理解できることである。オフセット補
正角設定機構１０は、断面Ｌ型の部材のＬ型を反時計方
向に９０゜回転して横に寝かせた形状の固定ブロック１
１を有していて、その頭部先端側に軸ピン１２により磁
気ヘッドに平行な水平面内で回動可能に先端側が軸支さ
れたＩ型のヘッド支持ブロック１３が設けられている。
このヘッド支持ブロック１３は、中央部が膨らみ、ここ
にヘッド固定部１３ｂが設けられ、さらに後端部の正面
手前側が切りかかれて細くなった後端部１３ｃを有して
いる。このヘッド支持ブロック１３には、先端側１３ａ
の軸ピン１２を中心として回動し、途中の膨らんだ部分
にヘッド固定部１３ｂに着脱可能に磁気ヘッド３がその
サスペンションスプリング３１を介して固定されてい
る。なお、磁気ヘッド３の固定は、側面の爪固定機構１
３ｄによりサスペンションスプリング３１の基部を係止
することによる。この取付けにより磁気ヘッド３の中心
は、軸ピン１２の中心と一致し、ヘッド支持ブロック１
３の回動とともに同じ角度で磁気ヘッド３自体がそれ自
体の中心を回転中心として回動する。すなわち、ヘッド
固定部１３ｂから軸ピン１２との距離が磁気ヘッド３と
サスペンションスプリング３１を含む磁気ヘッドアッセ
ンブリの長さに対応していて、磁気ヘッド３の中心位置
が軸ピン１２の中心位置に一致するような位置にヘッド
固定部１３ｂが先端部１３ａとの関係で設けられてい
る。

【００１６】ヘッド固定部１３ｂの後ろには、ヘッド支
持ブロック１３に形成されたバカ穴１３ｅを通して固定
ブロック１１に螺合する固定ねじ１３ｆが装着されてい
て、このねじ１３ｆを締めることで、ヘッド支持ブロッ
ク１３は、設定された角度で固定ブロック１１に固定さ
れる。ヘッド支持ブロック１３の固定ねじ１３ｆの後ろ
の一部切りかかれた後端部１３ｃは、Ｌ型の固定ブロッ
ク１１の起立したＬ型足部１１ａの内側側面付近まで延
びている。Ｌ型の固定ブロック１１の起立したＬ型足部
１１ａには、その上面に＋５゜…０゜…−５゜の範囲で
角度を示す刻みが設けられ、その手前端部がヘッド支持
ブロック１３の後端部１３ｃの側面１３ｇに対向するよ
うに直角に延びて、同様に起立している。これによりブ
ラケット部１１ｂが形成されている。このブラケット部
１１ｂには、ヘッド支持ブロック１３の角度を設定する
ために、突当て調整ねじ１１ｃが装着されていて、その
先端が側面１３ｇに突き当たり、この突当て調整ねじ１
１ｃのブラケット部１１ｂからの突出長さにより角度θ
が設定される。そのために軸ピン１２にはコイルばね１
２ａが装着され、固定ブロック１１に対してヘッド支持
ブロック１３を突き当て方向（図では時計方向）に回動
するように付勢している。

【００１７】ここでは、前記の角度調整は、固定ねじ１
３ｆが緩められて突当て調整ねじ１１ｃにより角度調整
が行われ、オフセット補正角θの設定後に固定ねじ１３
ｆが締められて固定ブロック１１に対してヘッド支持ブ
ロック１３を固定することで角度設定がなされる。この
ときの角度調整は、比較的精度の高い微少な角度調整で
ある。それを実現するために、突当て調整ねじ１１ｃと
ブラケット部１１ｂとの関係が図３（ｂ）の一部拡大平
面図で示すような関係になっている。突当て調整ねじ１
１ｃは、ブラケット部１１ｂに対してプリテンションナ
ット１４と圧縮されたプリテンションコイルスプリング
１５を介して取付けられている。プリテンションコイル
スプリング１５の両端１５ａ、１５ｂは、それぞれプリ
テンションナット１４とブラケット部１１ｂとに固定さ
れている。これにより、プリテンションコイルスプリン
グ１５とブラケット部１１ｂとの距離が一定に保持さ
れ、かつ、圧縮状態のプリテンションコイルスプリング
１５が突当て調整ねじ１１ｃを後退方向（外側へ戻す方
向）へと押しつけ、これにより調整した位置にずれが生
じないような一定な力で付勢する。その結果、ねじのバ
ックラッシュによるガタを防止でき、かつ、調整ねじ１
１ｃの突出長さが変化してもずれが生じないような一定
な力で付勢される。これにより調整した位置と調整ねじ
１１ｃとの関係が一定の力関係に保持され、精度の高い
位置設定が可能になる。もしプリテンションナット１４
とプリテンションコイルスプリング１５とが固定されて
いないとすれば、調整ねじ１１ｃの押し込みに応じてプ
リテンションコイルスプリング１５の調整ねじ１１ｃに
対する戻し方向の付勢力が変化してします。そのためバ
ックラッシュに対する関係が変化し、ばねの圧縮が強い
状態では戻りが発生して調整位置がずれる可能性があ
る。

【００１８】図４は、オフセット補正角設定機構１０を
装着したキャリッジ７の説明図であって、カートリッジ
ブロック８に装着されてキャリッジ７の移動台７０の表
面に設けられた複数の孔を介してねじ等により固定され
る。ディスク１に対して表面側の磁気ヘッド３Ａは、支
持アーム６１ａの先端に前記の固定ブロック１１を介し
て取付けられ、裏面側の磁気ヘッド３Ｂは、支持アーム
６１ｂの先端に固定ブロック１１を介して取付けられて
いる。支持アーム６１ａ，６１ｂは、カートリッジブロ
ック８の内部に設けられ、支持アーム６１ａ，６１ｂに
先端部が結合されたスライド軸（図示せず）を後部に有
している。このスライド軸がそれぞれスライドベアリン
グに支承されることで支持アーム６１ａ，６１ｂはカー
トリッジブロック８においてスライド可能に支承されて
いる。さらに、スライド軸の後端部はさらに調整ねじ６
２ａ，６２ｂの先端に結合されていて、調整ねじ６２
ａ，６２ｂにより支持アーム６１ａ，６１ｂの前後の位
置調整がそれぞれにできるようになっている。

【００１９】以上説明してきたが、実施例では、図３の
磁気ヘッドの角度設定機構１０は、オフセット補正角算
出工程Ｂにおいて算出された角度θによるが、これによ
ることなく、単に、テストデータか書込まれた所定の検
査トラックに位置決めしておいて角度調整しながらサー
ティファイアにおいて角度設定機構１０により調整しな
がらＲＭヘッド３ｂの読出電圧を検出し、最大読出電圧
になる角度を選択して設定するようにしてもよい。な
お、この場合の所定の検査トラックとは、ディスク中央
付近のトラックが好ましいが、最内周のトラックと最外
周のトラックとの両者の調整角度をそれぞれに検出し
て、その２つの角度を得て、これらの中間値の角度に設
定するものであってもよい。

【００２０】

【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明にあって
は、実質的に磁気ヘッドの中心あるいは実質的に書込み
用ヘッドの中心を回転基準として磁気ヘッドを角度調整
により角度θ分回転させて書込み用のヘッドとＭＲヘッ
ドとのオフセットを解消するようにしているので、キャ
リッジあるいはヘッドカートリッジにピエゾ素子等のア
クチュエータを内蔵しなくても済み、各検査トラックご
とにオフセット補正をする必要がなくなる。その結果、
オフセット制御も不要になり、サーボ機構が簡単にな
り、かつ、キャリッジの内部構造も簡単にでき、検査処
理のスループットを向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は、この発明のオフセット補正方法を適用
した一実施例のオフセット補正方法の手順の説明図であ
る。

【図２】図２は、磁気ヘッドを回転中心としたヘッド回
転とオフセット補正の関係の説明図であって、（ａ）
は、ＭＲヘッドの半径方向移動量対読出電圧特性のグラ
フ図、（ｂ）は、回転前のインダクティブヘッドとＭＲ
ヘッドとの関係の説明図、（ｃ）は、磁気ヘッドをθ回
転させて傾けた後のインダクティブヘッドとＭＲヘッド
との関係の説明図である。

【図３】図３は、そのオフセット補正角設定工程におけ
る磁気ヘッドの角度設定機構の説明図であって、（ａ）
は、角度設定機構の斜視図、（ｂ）は、その一部拡大平
面図である。

【図４】図４は、図２の磁気ヘッドの角度設定機構を装
着したヘッドキャリッジの説明図である。

【図５】図５は、従来のサーティファイアのブロック図
である。

【図６】図６は、従来のサーティファイアのキャリッジ
の説明図である。

【図７】図７は、インダクティブヘッドに対するＭＲヘ
ッドのオフセットについての説明図である。

【図８】図８は、オフセットに対するＭＲヘッドの読出
電圧（比）の変化とその特性の説明図である。

【図９】図９は、読出電圧の実測データの一例を示す特
性曲線の図である。

【符号の説明】

１…磁気ディスク、テストディスク、被検査ディスク、
２…スピンドル、３…磁気ヘッド、３ａ…インダクティ
ブヘッド、３ｂ…ＭＲヘッド、４…キャリッジ機構、５
…データ処理部、１０…オフセット補正角設定機構、１
１…固定ブロック、１２…軸ピン、１３…ヘッド支持ブ
ロック、１３ｃ…固定ねじ、１３ｃ…後端部、１１ｂ…
ブラケット部、１１ｃ…突当て調整ねじ、１２ａ…コイ
ルばね、１４…プリテンションナット、１５…プリテン
ションコイルスプリング、３１…サスペンションスプリ
ング。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者石渡武東京都渋谷区東３丁目16番３号日立電子エンジニアリング株式会社内Ｆターム(参考） 5D034 BA02 BB12 DA07 5D059 AA01 BA01 CA16 DA15 DA35

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】書込み用のヘッドと読出用のＭＲヘッドを
有する磁気ヘッドを使用して磁気ディスクのサーティフ
ァイを行う際のＭＲヘッドのオフセツト補正方法におい
て、前記書込み用のヘッドにより前記磁気ディスクのト
ラックにテストデータを書込み、前記ＭＲヘッドを前記
磁気ディスクの前記トラックを横断する方向に沿って移
動させて前記ＭＲヘッドの読出し電圧を測定することで
前記書込み用のヘッドと前記ＭＲヘッドとのトラックに
おけるずれ量を算出するオフトラック測定工程と、前記
書込み用のヘッドと前記ＭＲヘッドの組立てにより決定
される前記磁気ディスクの前記トラック方向に沿うヘッ
ド間距離と前記ずれ量とに基づいて実質的に前記磁気ヘ
ッドの中心あるいは実質的に前記書込み用ヘッドの中心
を回転基準とした回転により前記ずれ量が解消される角
度θを算出するオフセット補正角算出工程と、実質的に
前記磁気ヘッドの中心あるいは実質的に前記書込み用ヘ
ッドの中心を回転基準として前記磁気ヘッドを前記角度
θ分回転させた角度に設定する角度設定工程とを備える
ことを特徴とするＭＲヘッドのオフセツト補正方法。
【請求項２】書込み用のヘッドと読出用のＭＲヘッドを
有する磁気ヘッドを使用して磁気ディスクのサーティフ
ァイを行う磁気ディスクサーティファイアにおいて、実
質的に前記磁気ヘッドの中心あるいは実質的に前記書込
み用ヘッドの中心を回転基準として前記磁気ヘッドを角
度θ分回転させた角度に設定する角度調整機構を備え、
前記角度θが前記書込み用のヘッドと前記ＭＲヘッドと
のオフセットを解消する角度であることを特徴とする磁
気ディスクサーティファイア。
【請求項３】前記角度θは、前記書込み用のヘッドによ
り前記磁気ディスクのトラックにテストデータを書込
み、前記ＭＲヘッドを前記磁気ディスクの前記トラック
を横断する方向に沿って移動させて前記ＭＲヘッドの読
出し電圧を測定することで算出された前記書込み用のヘ
ッドと前記ＭＲヘッドとのトラックにおけるずれ量と前
記書込み用のヘッドと前記ＭＲヘッドの組立てにより決
定される前記磁気ディスクの前記トラック方向に沿うヘ
ッド間距離とに基づいて算出されたものである請求項２
記載の磁気ディスクサーティファイア。