JP2000222737A - 光ディスク評価装置、光ディスクの評価方法及び光ディスクの製造方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、光ディスク評価装置、光ディスク
の評価方法及び光ディスクの製造方法に関し、例えばコ
ンパクトディスク（ＣＤ）等の光ディスクの製造工程、
品質管理に適用して、従来に比してジッター等の測定精
度を向上することができるようにする。 【解決手段】 光ディスクの複数回のアクセスにおける
同一ピット又は同一マーク間の平均値により評価値を測
定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク評価装
置、光ディスクの評価方法及び光ディスクの製造方法に
関し、例えばコンパクトディスク（ＣＤ）等の光ディス
クの製造工程、品質管理に適用することができる。本発
明は、光ディスクの複数回のアクセスにおける同一ピッ
ト又は同一マーク間の平均値により評価値を測定するこ
とにより、従来に比してジッター等の測定精度を向上す
ることができるようにする。

【０００２】

【従来の技術】従来、コンパクトディスクの製造工場に
おいては、いわゆるジッターメータ、ＴＩＡ（Time Int
erval Analyzer）によるコンパクトディスクの評価結果
を利用して製造工程を管理するようになされている。

【０００３】ここでこれらの装置は、コンパクトディス
クのジッターを定量的に測定する測定装置であり、ＴＩ
Ａは、ピット長及びスペース長毎にジッターの測定結果
を分類して提示する装置である。これらの装置は、何れ
もコンパクトディスクより得られる再生信号について、
再生信号に基づいて基準位置からピット、エッジ、マー
クのエッジの位相方向の変位を定量的に測定することに
よりジッターを検出するようになされている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところでこのようにし
て測定されるジッターは、再生系である電気回路のノイ
ズ、レーザビームに含まれるレーザノイズ等により影響
を受ける。

【０００５】これにより従来、これらの装置による測定
結果は、測定精度が実用上未だ不十分な問題があった。
すなわち従来装置では、同一のコンパクトディスクを同
一装置で繰り返し測定する場合には、測定値が毎回異な
る場合もあり、また同一のコンパクトディスクを異なる
装置で測定すると、測定装置によって測定値が異なる場
合があった。

【０００６】このような問題を解決する１つの方法とし
て、コンパクトディスクを低速度で回転させて測定する
方法が考えられる。すなわちコンパクトディスクを低速
度で回転させれば、コンパクトディスクによるジッター
と、測定装置側で発生するノイズとの周波数帯域を分離
でき、例えばフィルタにより測定装置側で発生するノイ
ズを除去して簡易にコンパクトディスクによるジッター
を精度良く測定できると考えられる。

【０００７】ところがこのようにコンパクトディスクを
低速度で回転させる方法にあっては、コンパクトディス
クの回転速度の低下により安定にトラッキング制御する
ことが困難になり、またコンパクトディスクの回転自体
も不安定になり、実用的ではない。

【０００８】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、従来に比してジッターの測定精度を向上することが
できる光ディスク評価装置及び光ディスクの評価方法
と、この評価装置等による測定結果を利用した光ディス
クの製造方法を提案しようとするものである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め請求項１又は請求項５に係る発明においては、光ディ
スク評価装置又は光ディスクの評価方法に適用して、光
ディスクの複数回のアクセスにおける同一ピット又は同
一マーク間の平均値により評価値を測定する。

【００１０】また請求項９に係る発明においては、光デ
ィスクの製造方法に適用して、光ディスクの複数回のア
クセスにおける同一ピット又は同一マーク間の平均値に
より光ディスクを評価する評価値を測定し、この評価値
を基準にして光ディスクの作成条件を最適化する。

【００１１】請求項１又は請求項５に係る構成によれ
ば、光ディスクの複数回のアクセスにおける同一ピット
又は同一マーク間の平均値により評価値を測定すること
により、電気系で発生するノイズ、レーザ光線に含まれ
るノイズ等の影響を軽減してなる評価値を得ることがで
きる。従ってその分、従来に比して高い精度によりジッ
ター等の評価値を測定することができる。

【００１２】これにより請求項９に係る構成によれば、
このようにして得られる評価値を基準にして光ディスク
の作成条件を最適化して、高い品質の光ディスクを作成
することができ、またその分光ディスクの記録密度を向
上することができる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、適宜図面を参照しながら本
発明の実施の形態を詳述する。

【００１４】（１）第１の実施の形態 図２は、本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク評
価装置を示すブロック図である。この光ディスク評価装
置１は、コンパクトディスク２のジッターを測定して測
定結果ＭＪを出力する。

【００１５】すなわち光ディスク評価装置１において、
スピンドルモータ３は、サーボ回路４の制御によりコン
パクトディスク２を線速度一定の条件により回転駆動す
る。光ピックアップ５は、コンパクトディスク２にレー
ザービームを照射してその戻り光を受光することによ
り、図３に示すように、ピットに応じて信号レベルが変
化する再生信号ＲＦを出力する（図３（Ａ）及び
（Ｂ））。このとき光ピックアップ５は、戻り光の受光
結果に基づいたサーボ回路４の制御によりトラッキング
制御及びフォーカス制御される。

【００１６】２値化回路６は、この再生信号ＲＦを２値
識別して２値化信号を出力する。ＥＦＭ（Eight to Fou
rteen Modulation）復調回路７は、この２値化信号より
クロックを再生し、このクロックを基準にして２値化信
号を順次ラッチすることにより、ピット及びスペースに
対応する２値化データを生成する。ＥＦＭ復調回路７
は、この２値化データを所定のデータ単位で区切って処
理することにより、８ビットパラレルによる再生データ
を生成して出力する。

【００１７】ＥＣＣ（Error Correction Code ）回路８
は、この再生データに含まれる誤り訂正符号により再生
データに含まれるオーディオデータを誤り訂正処理して
出力する。ディジタルアナログ変換回路（Ｄ／Ａ）９
は、このＥＣＣ回路８より出力されるオーディオデータ
をディジタルアナログ変換処理し、これによりアナログ
信号によるオーディオ信号ＳＡを出力する。これにより
この光ディスク評価装置１では、オーディオ信号による
再生結果に基づいてコンパクトディスクの異常を簡易に
検出できるようになされ、またジッターの測定箇所をオ
ーディオ信号により確認できるようになされている。

【００１８】発振回路（ＯＳＣ：oscillator）１０は、
水晶発振回路であり、所定周波数によるサンプリングク
ロックＳＣＫを生成して出力する（図３（Ｃ））。ここ
でこのサンプリングクロックＳＣＫは、再生信号ＲＦに
対して充分に高い周波数に設定され、この実施の形態で
は光ピックアップ５のカットオフ周波数が約１．５〔Ｍ
Ｈｚ〕であるのに対し、このカットオフ周波数の２倍以
上の例えば１０〔ＭＨｚ〕又は２０〔ＭＨｚ〕に設定さ
れるようになされている。これによりこの実施の形態で
は、このサンプリングクロックＳＣＫにより再生信号Ｒ
Ｆをアナログディジタル変換処理してジッターを測定す
るにつき、測定結果における量子化ノイズの影響を軽減
するようになされている。

【００１９】アナログディジタル変換回路（Ａ／Ｄ）１
２は、このサンプリングクロックＳＣＫにより再生信号
ＲＦをアナログディジタル変換処理し、８ビットによる
ディジタル再生信号ＳＲＦを生成して出力する。

【００２０】メモリ１３は、このディジタル再生信号Ｓ
ＲＦを保持し、中央処理ユニット（ＣＰＵ）１４の制御
により中央処理ユニット１４に出力する。

【００２１】中央処理ユニット１４は、事前に設定され
た所定の測定箇所を再生するように、サーボ回路４に光
ピックアップ５の制御を指示する。さらに中央処理ユニ
ット１４は、メモリ１３に保持されたディジタル再生信
号ＳＲＦを読み出して処理することにより、ジッターを
測定し、その測定結果ＭＪを出力する。

【００２２】図１は、この中央処理ユニット１４の処理
手順を示すフローチャートである。中央処理ユニット１
４は、この処理手順を実行することによりコンパクトデ
ィスク２に設定された測定箇所についてジッターを測定
して測定結果ＭＪを出力する。

【００２３】すなわち中央処理ユニット１４は、ユーザ
ーにより測定の開始が指示されると、ステップＳＰ１か
らステップＳＰ２に移り、ここで測定回数を示す変数Ｚ
を値０にセットする。続いて中央処理ユニット１４は、
ステップＳＰ３に移り、サーボ回路４の動作を制御して
光ピックアップ５をシークさせ、事前に設定された測定
箇所をアクセスすると共に、測定回数を示す変数Ｚを値
１だけインクリメントする。

【００２４】ここで中央処理ユニット１４は、事前に、
コンパクトディスク２におけるジッターの測定箇所をコ
ンパクトディスク２に記録されたタイムコードを基準に
して設定できるようになされている。これにより中央処
理ユニット１４は、例えばユーザーにより測定開始箇所
が（１０分、５秒、０フレーム）と指定されている場合
には、サーボ回路４の制御により１０分５秒０フレーム
に光ピックアップ５をシークさせ、この１０分５秒０フ
レームよりディジタル再生信号ＳＲＦをメモリ１３に記
録する。中央処理ユニット１４は、同様のユーザーの設
定による測定終了箇所になると、ディジタル再生信号Ｓ
ＲＦのメモリ１３への記録を停止し、ステップＳＰ４に
移る。

【００２５】このステップＳＰ４において、中央処理ユ
ニット１４は、メモリ１３に記録したディジタル再生信
号ＳＲＦを内部メモリに転送する。

【００２６】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ５に移り、測定回数を示す変数Ｚが事前に設定され
た繰り返し回数Ｚｍａｘ以下か否か判断し、ここで肯定
結果が得られると、ステップＳＰ３に戻る。これにより
中央処理ユニット１４は、事前に設定された繰り返し回
数Ｚｍａｘだけ、同一の測定箇所を繰り返しアクセスし
てディジタル再生信号ＳＲＦを取り込む。

【００２７】なお以下において、このようにして各測定
回毎に検出されるディジタル再生信号ＳＲＦを変数Ｚに
より特定し、また各測定回において時系列により得られ
るディジタル再生信号ＳＲＦのサンプル値を変数ｋによ
り特定し、ディジタル再生信号をＳＲＦ（ｋ，Ｚ）によ
り示す。従ってこのディジタル再生信号ＳＲＦ（ｋ，
Ｚ）における変数Ｚは、１≦Ｚ≦Ｚｍａｘであり、変数
ｋは、１≦ｋ≦ｋｓ（ｋｓは、ディジタル再生信号にお
けるサンプル数の総数であり、各測定回毎にメモリ１３
に展開されたディジタル再生信号ＳＲＦの配列の大きさ
である）である。

【００２８】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ６に移る。ここで中央処理ユニット１４は、図４に
おいて詳細に説明する位置ずれ補正処理により、各測定
回間におけるディジタル再生信号ＳＲＦ（ｋ，Ｚ）間の
サンプリング点の位置ずれ（タイミングのずれである）
を補正し、位置ずれが補正されて、かつチャンネルクロ
ックを基準にしてサンプリング数を低減してなるディジ
タル再生信号ＣＲＦ（ｎ，Ｚ）を生成する。なおここで
変数ｎは、このディジタル再生信号ＣＲＦについて、サ
ンプリング値の先頭からの順番を示すものである。

【００２９】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ７において、このようにして生成されたＺｍａｘ回
の測定によるディジタル再生信号ＣＲＦ（ｎ，Ｚ）を用
いて次式の演算処理を実行することにより、Ｚｍａｘ回
の測定によるディジタル再生信号ＣＲＦ（ｎ，Ｚ）を平
均化して平均化再生信号ＭＲＦ（ｎ）を生成する。但
し、ΣはＺ＝１〜Ｚｍａｘの範囲に関しての総和演算で
ある。

【００３０】

【数１】

【００３１】これにより中央処理ユニット１４は、測定
結果より、再生系で発生するノイズの影響を除去する。

【００３２】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ８に移り、図７及び図８において詳細に説明するメ
ディアジッターＭＪの計算処理を実行することにより、
コンパクトディスク２のジッターを検出し、必要に応じ
て外部機器に出力した後、ステップＳＰ９に移ってこの
処理手順を終了する。

【００３３】図４は、図１のステップＳＰ６について説
明した位置ずれ補正処理を詳細に示すフローチャートで
ある。中央処理ユニット１４は、この処理手順を実行す
ることにより、各測定回間におけるディジタル再生信号
ＳＲＦ（ｋ，Ｚ）間のサンプリング点のずれを補正し、
チャンネルクロックを基準にしてサンプリング数が低減
されてなるディジタル再生信号ＣＲＦ（ｎ，Ｚ）を生成
する。

【００３４】中央処理ユニット１４は、この位置ずれ補
正処理において、ステップＳＰ１０からステップＳＰ１
１に移り、測定回数を示す変数Ｚを値０に初期化する。
続いて中央処理ユニット１４は、ステップＳＰ１２に移
り、測定回数を示す変数Ｚを値１だけインクリメントす
る。さらに中央処理ユニット１４は、この変数Ｚにより
特定される測定回のディジタル再生信号ＳＲＦ（ｋ、
Ｚ）について、順次所定のしきい値と比較して比較結果
を得ることにより、ディジタル再生信号ＳＲＦ（ｋ、
Ｚ）を２値化して２値化信号ＢＲＦ（ｋ、Ｚ）を作成す
る（図３（Ｄ））。

【００３５】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ１３に移り、この２値化信号ＢＲＦ（ｋ、Ｚ）を基
準にしたＰＬＬ回路のシュミレーションによりチャンネ
ルクロックＲＣＫ（ｋ、Ｚ）を再生する（図３
（Ｅ））。なおここで中央処理ユニット１４は、ディジ
タル再生信号ＳＲＦ（ｋ、Ｚ）のサンプリング点に対応
して論理レベルを順次配列してチャンネルクロックＲＣ
Ｋ（ｋ、Ｚ）を再生する。

【００３６】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ１４に移り、図５により詳細に説明するクロック変
換点抽出処理を実行する。これにより中央処理ユニット
１４は、２値化信号ＢＲＦ（ｋ、Ｚ）より、チャンネル
クロックＲＣＫ（ｋ、Ｚ）の立ち下がりの変化点に対応
するサンプリング値を順次抽出し、チャンネルクロック
ＲＣＫ（ｋ、Ｚ）を基準にしてサンプリング数が低減し
てなる２値化信号ＢＤ（ｎ，Ｚ）を生成する。また同様
にして、ディジタル再生信号ＳＲＦ（ｋ、Ｚ）より、チ
ャンネルクロックＲＣＫ（ｋ、Ｚ）の立ち上がりの変化
点に対応するサンプリング値を順次抽出し、チャンネル
クロックＲＣＫ（ｋ、Ｚ）を基準にしてサンプリング数
が低減してなるディジタル再生信号ＴＲＦ（ｎ，Ｚ）を
生成する。

【００３７】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ１５に移り、変数Ｚが値１か否か判断することによ
り、処理対象の測定結果が第１回目のものか否か判断す
る。ここで肯定結果が得られると、中央処理ユニット１
４は、ステップＳＰ１６に移り、位置ずれ量を示す変数
Ｘを値０に設定する。

【００３８】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ１７に移り、ここで次式の演算処理によりディジタ
ル再生信号ＴＲＦ（ｎ，Ｚ）におけるサンプリングのタ
イミングを補正し、これにより位置ずれを補正してなる
ディジタル再生信号ＣＲＦ（ｎ，Ｚ）を生成する。

【００３９】

【数２】

【００４０】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ１８に移り、ここで変数Ｚが繰り返しの回数Ｚｍａ
ｘ以下か否か判断し、肯定結果が得られると、ステップ
ＳＰ１２に戻る。

【００４１】これにより中央処理ユニット１４は、第２
回目の測定結果について、順次ステップＳＰ１２−ＳＰ
１３−ＳＰ１４の処理手順を繰り返し、チャンネルクロ
ックＲＣＫ（ｋ、Ｚ）を基準にしてサンプリング数が低
減してなる２値化信号ＢＤ（ｎ，Ｚ）、チャンネルクロ
ックＲＣＫ（ｋ、Ｚ）を基準にしてサンプリング数が低
減してなるディジタル再生信号ＴＲＦ（ｎ，Ｚ）を生成
する。

【００４２】この場合中央処理ユニット１４は、続くス
テップＳＰ１５において、否定結果が得られることによ
り、この場合はステップＳＰ１５からステップＳＰ１９
に移り、図６において詳細に説明にする位置ずれ量検出
処理を実行する。これにより中央処理ユニット１４は、
チャンネルクロックを単位にして第１回目の測定結果に
対するＺ回目における測定結果のサンプリング点のずれ
量Ｘを検出した後、ステップＳＰ１７に移ってずれ量Ｘ
を補正する。

【００４３】これにより中央処理ユニット１４は、ステ
ップＳＰ１２−ＳＰ１３−ＳＰ１４−ＳＰ１５−ＳＰ１
９−ＳＰ１７−ＳＰ１８−ＳＰ１２の処理手順を繰り返
し、Ｚｍａｘ回の測定結果について、第１回目の測定結
果に対するサンプリング点の位置ずれを順次補正し、最
終回の測定結果について位置ずれを補正すると、ステッ
プＳＰ１８において否定結果が得られることにより、ス
テップＳＰ１８からステップＳＰ２０に移り、元のメイ
ンルーチンに戻る。

【００４４】図５は、図４におけるステップＳＰ１４の
クロック変化点抽出処理を詳細に示すフローチャートで
ある。中央処理ユニット１４は、この処理手順におい
て、ステップＳＰ２２からステップＳＰ２３に移り、変
数ｎ及びｋを値１に初期化する。続いて中央処理ユニッ
ト１４は、ステップＳＰ２４に移り、変数ｋを値１だけ
インクリメントする。

【００４５】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ２５に移り、変数ｋにより特定されるチャンネルク
ロックＲＣＫ（ｋ，Ｚ）が論理１で、かつこの直前の変
数ｋ−１により特定されるチャンネルクロックＲＣＫ
（ｋ−１，Ｚ）が論理０か否か判断することにより、こ
の変数ｋにより特定されるサンプリング点でチャンネル
クロックＲＣＫ（ｋ，Ｚ）の論理レベルが立ち上がって
いるか否か判断する。

【００４６】ここで肯定結果が得られると、中央処理ユ
ニット１４は、ステップＳＰ２６に移り、この変数ｋに
より特定されるサンプリング点のディジタル再生信号Ｓ
ＲＦ（ｋ，Ｚ）を選択して、チャンネルクロックＲＣＫ
（ｋ、Ｚ）を基準にしてサンプリング数が低減してなる
ディジタル再生信号ＴＲＦ（ｎ，Ｚ）に登録する。

【００４７】さらに中央処理ユニット１４は、変数ｎを
値１だけインクリメントした後、ステップＳＰ２７に移
る。これに対してステップＳＰ２５において否定結果が
得られると、中央処理ユニット１４は、ステップＳＰ２
５から直接ステップＳＰ２７に移る。

【００４８】このステップＳＰ２７において、中央処理
ユニット１４は、ステップＳＰ２５とは逆に、変数ｋに
より特定されるチャンネルクロックＲＣＫ（ｋ，Ｚ）が
論理０で、かつこの直前の変数ｋ−１により特定される
チャンネルクロックＲＣＫ（ｋ−１，Ｚ）が論理１か否
か判断することにより、この変数ｋにより特定されるサ
ンプリング点でチャンネルクロックＲＣＫ（ｋ，Ｚ）の
論理レベルが立ち下がっているか否か判断する。

【００４９】ここで肯定結果が得られると、中央処理ユ
ニット１４は、ステップＳＰ２８に移り、この変数ｋに
より特定されるサンプリング点の２値化信号ＢＲＦ
（ｋ，Ｚ）を選択して、チャンネルクロックＲＣＫ
（ｋ、Ｚ）を基準にしてサンプリング数が低減してなる
２値化信号ＢＤ（ｎ，Ｚ）に登録した後、ステップＳＰ
２９に移る。

【００５０】これに対してステップＳＰ２７において否
定結果が得られると、中央処理ユニット１４は、ステッ
プＳＰ２７から直接ステップＳＰ２９に移る。

【００５１】このステップＳＰ２９において、中央処理
ユニット２４は、変数ｋがこの変数ｋの最終値ｋｓより
小さいか否か判断し、ここで肯定結果が得られると、ス
テップＳＰ２４に戻る。

【００５２】これにより中央処理ユニット１４は、ステ
ップＳＰ２４−ＳＰ２５−ＳＰ２６−ＳＰ２７−ＳＰ２
８−ＳＰ２９−ＳＰ２４の処理手順を、チャンネルクロ
ックＲＣＫ（ｋ、Ｚ）の各サンプリング点毎に繰り返し
てチャンネルクロックＲＣＫ（ｋ、Ｚ）の立ち上がり及
び立ち下がりを検出する。さらにチャンネルクロックＲ
ＣＫ（ｋ、Ｚ）の立ち上がりについては、対応するサン
プリング点のディジタル再生信号ＳＲＦ（ｋ，Ｚ）を選
択的に登録することにより、チャンネルクロックＲＣＫ
（ｋ、Ｚ）を基準にしてサンプリング数が低減してなる
ディジタル再生信号ＴＲＦ（ｎ，Ｚ）を生成する。また
チャンネルクロックＲＣＫ（ｋ、Ｚ）の立ち下がりにつ
いては、対応するサンプリング点の２値化信号ＢＲＦ
（ｋ，Ｚ）を選択的に登録することにより、チャンネル
クロックＲＣＫ（ｋ、Ｚ）を基準にしてサンプリング数
が低減してなる２値化信号ＢＤ（ｎ，Ｚ）を生成する。

【００５３】中央処理ユニット１４は、このようにして
全てのサンプリング点について、チャンネルクロックＲ
ＣＫ（ｋ、Ｚ）の立ち上がり及び立ち下がりを検出する
と、ステップＳＰ２９において否定結果が得られること
により、ステップＳＰ２９からステップＳＰ３０に移
る。ここで中央処理ユニット１４は、ステップＳＰ２６
において立ち上がりエッジを検出する毎にインクリメン
トした変数ｎをこの変数ｎの最終値Ｎとして登録した
後、ステップＳＰ３１に移ってこの処理手順を終了す
る。かくするにつき、この変数ｎにおいては、チャンネ
ルクロックＲＣＫ（ｎ、Ｚ）の立ち上がりに応じてイン
クリメントされていることにより、中央処理ユニット１
４は、メモリ１３に記録したディジタル再生信号ＳＲＦ
について、このディジタル再生信号ＳＲＦに含まれるチ
ャンネルクロックＲＣＫ（ｎ、Ｚ）の立ち上がり変化点
の総数を最終値Ｎとして登録することになる。

【００５４】図６は、図４のステップＳＰ１９について
上述したずれ量検出処理を詳細に示すフローチャートで
ある。中央処理ユニット１４は、この処理手順により初
回の測定を基準にして各測定回におけるディジタル再生
信号ＴＲＦのサンプリング点のずれ量Ｘを検出する。

【００５５】中央処理ユニット１４は、この処理手順に
おいて、ステップＳＰ３０からステップＳＰ３１に移
り、位置ずれ量を表す変数ｍを初期値である値−１０に
セットする。ここでこの初期値は、繰り返し同一の測定
箇所をアクセスした場合に発生するサンプリング点のず
れの最大値より大きな値をチャンネルクロックＲＣＫ
（ｋ、Ｚ）の数により表したものである。

【００５６】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ３２に移り、この変数ｍを値１だけインクリメント
する。さらに測定結果の順序を示す変数ｎを値１に初期
化し、またカウンタのカウント値ｃｏｕｎｔを値０に初
期化する。

【００５７】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ３３に移り、ここで第１回目の測定結果であるディ
ジタル再生信号ＳＲＦ（ｋ，０）より検出したサンプリ
ング数が低減されてなる２値化信号ＢＤ（ｎ，０）と、
Ｚ回目の測定結果であるディジタル再生信号ＳＲＦ
（ｋ，Ｚ）より検出したサンプリング数が低減されてな
る２値化信号ＢＤ（ｎ，Ｚ）とについて、変数ｎにより
特定される２値化信号ＢＤ（ｎ，０）のサンプル値と、
変数ｎ＋ｍにより特定される２値化信号ＢＤ（ｎ＋ｍ，
Ｚ）のサンプル値とが一致するか否か判断する。

【００５８】ここで否定結果が得られると、この場合、
位置ずれ量ｍの分だけＺ回目の２値化信号ＢＤ（ｎ，
Ｚ）のタイミングを変化させて、第１回目の２値化信号
ＢＤ（ｎ，０）と重ね合せても、変数ｎにより特定され
るタイミングにおいては、論理レベルが一致していない
ことにより、中央処理ユニット１４は、ステップＳＰ３
３からステップＳＰ３４に移り、カウント値ｃｏｕｎｔ
を値１だけインクリメントした後、ステップＳＰ３５に
移り、変数ｎを値１だけインクリメントする。

【００５９】これに対してステップＳＰ３３において肯
定結果が得られると、中央処理ユニット１４は、ステッ
プＳＰ３３から直接ステップＳＰ３５に移って変数ｎを
値１だけインクリメントする。

【００６０】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ３６において、ステップＳＰ３０（図５）で登録し
た最終値Ｎであるディジタル再生信号ＳＲＦに含まれる
チャンネルクロックＲＣＫ（ｎ、Ｚ）の数より変数ｎが
少ないか否か判断し、ここで肯定結果が得られると、ス
テップＳＰ３３に戻る。

【００６１】これにより中央処理ユニット１４は、チャ
ンネルクロックによるクロック数ｍ（この場合は値−９
である）だけＺ回目の２値化信号ＢＤ（ｎ＋ｍ，Ｚ）の
タイミングをシフトさせた状態で、順次変数ｎを歩進し
てステップＳＰ３３−ＳＰ３４−ＳＰ３５−ＳＰ３６−
ＳＰ３３又はステップＳＰ３３−ＳＰ３５−ＳＰ３６−
ＳＰ３３の処理手順を繰り返し、１回目の２値化信号Ｂ
Ｄ（ｎ，０）との間で異なる論理レベルのクロック数を
カウントする。

【００６２】このようにして得られるカウント値ｃｏｕ
ｎｔは、サンプリング点のずれ量と変数ｍとが一致して
いる場合、ほぼ値０となる。これにより中央処理ユニッ
ト１４は、最終値ＮまでステップＳＰ３３−ＳＰ３４−
ＳＰ３５−ＳＰ３６−ＳＰ３３又はステップＳＰ３３−
ＳＰ３５−ＳＰ３６−ＳＰ３３の処理手順を繰り返す
と、ステップＳＰ３６において否定結果が得られること
により、ステップＳＰ３７に移り、事前に設定した基準
値Ｃｔに比してカウント値ｃｏｕｎｔが小さいか否か判
断する。

【００６３】ここで否定結果が得られると、中央処理ユ
ニット１４は、ステップＳＰ３８に移り、変数ｍが値１
０以下か否か判断し、ここで肯定結果が得られると、ス
テップＳＰ３２に戻る。これにより中央処理ユニット１
４は、変数ｍをインクリメントして同様の処理手順を繰
り返す。

【００６４】このようにして変数ｍを順次インクリメン
トして論理レベルを比較するにつき、サンプリング点の
ずれ量と変数ｍとが一致すると、カウント値ｃｏｕｎｔ
がほぼ値０となることにより、中央処理ユニット１４
は、ステップＳＰ３７において肯定結果が得られ、ステ
ップＳＰ３７からステップＳＰ３９に移る。ここで中央
処理ユニット１４は、このようにステップＳＰ３７で肯
定結果の得られた変数値ｍをずれ量Ｘに設定した後、ス
テップＳＰ４０に移ってこの処理手順を終了する。

【００６５】これに対して一定範囲以上（この場合は１
回目の測定結果に対して２０チャンネルクロック分）タ
イミングを変化させても、カウント値ｃｏｕｎｔが基準
値Ｃｔより小さな値にならない場合、この場合、中央処
理ユニット１４は、ステップＳＰ３８において否定結果
が得られることにより、何らかの異常が発生したと判断
してステップＳＰ３８からステップＳＰ４１に移り、こ
こでエラー表示をした後、ステップＳＰ４２に移って全
体の処理を終了する。

【００６６】図７及び図８は、図１のステップＳＰ８に
おいて上述したメディアジッター計算処理を詳細に示す
フローチャートである。中央処理ユニット１４は、この
処理手順において、ステップＳＰ５０からステップＳＰ
５１に移り、標準再生信号レベルＶｒ（p0,s0,p1,s1,p
2）及びＶｆ（p0,s0,p1,s1,p2）、これら標準再生信号
レベルＶｒ（p0,s0,p1,s1,p2）及びＶｆ（p0,s0,p1,s1,
p2）の計算に使用するカウント値Ｎｒ（p0,s0,p1,s1,p
2）及びＮｆ（p0,s0,p1,s1,p2）のテーブルを値０にセ
ットしてクリアする。

【００６７】ここで標準再生信号レベルＶｒ（p0,s0,p
1,s1,p2）は、再生信号ＲＦの立ち上がりエッジ部分
（前端部）から得られる標準の再生信号レベルであり、
標準再生信号レベルＶｆ（p0,s0,p1,s1,p2）は、再生信
号ＲＦの立ち下がりエッジ部分（後端部）から得られる
標準の再生信号レベルである。

【００６８】ここでこの実施の形態では、ピット及びス
ペースの組み合わせ毎にジッターを集計し、これら標準
再生信号レベルＶｒ（p0,s0,p1,s1,p2）、Ｖｆ（p0,s0,
p1,s1,p2）、カウント値Ｎｒ（p0,s0,p1,s1,p2）、Ｎｆ
（p0,s0,p1,s1,p2）を各組み合わせ毎に測定する。

【００６９】ここでこの分類は、測定対象であるピット
を中心にして前後のスペース、ピットについて、これら
ピット長、スペース長の組み合わせにより設定される。
このためこの実施の形態においては、このように分類さ
れる各測定値を、レーザービームが走査する順番で順次
この組み合わせに係るピット及びスペースの長さを括弧
書きにより示す。

【００７０】従って図３（Ａ）において符号Ｐ１により
示す基本周期Ｔの４倍の長さであるピットを測定対象と
した場合、前後のスペースＳ０、Ｓ１の長さがそれぞれ
基本周期Ｔに対して４倍、６倍であり、前後のピットＰ
０、Ｐ２の長さがそれぞれ基本周期Ｔに対して４倍、４
倍の場合、標準再生信号レベルＶｒ（p0,s0,p1,s1,p
2）、Ｖｆ（p0,s0,p1,s1,p2）、カウント値Ｎｒ（p0,s
0,p1,s1,p2）、Ｎｆ（p0,s0,p1,s1,p2）を、それぞれＶ
ｒ（５，４，４，６，４）、Ｖｆ（５，４，４，６，
４）、Ｎｒ（５，４，４，６，４）、Ｎｆ（５，４，
４，６，４）により示す。

【００７１】中央処理ユニット１４は、このステップＳ
Ｐ５１において、併せてポインターｐを値０にセットす
る。ここでポインターｐは、図６の処理手順について上
述した変数ｎと同様に各クロック周期を特定する変数で
あり、この処理手順においては、処理対象の特定に使用
される。

【００７２】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ５１からステップＳＰ５２に移り、ポインターｐを
値１だけインクリメントする。続いて中央処理ユニット
１４は、ステップＳＰ５３に移り、ポインターｐにより
特定される平均化再生信号ＭＲＦ（ｐ）がピットのエッ
ジか否か判断する。

【００７３】ここで中央処理ユニット１４は、ポインタ
ーｐで指定される平均化再生信号ＭＲＦ（ｐ）が、ＭＲ
Ｆ（ｐ−１）＜Ｖｔであり、かつＭＲＦ（ｐ＋１）＞Ｖ
ｔの場合、立ち上がりエッジと判定する。なおここでＶ
ｔは、再生信号ＲＦを２値化する際のスライスレベルで
ある。

【００７４】またこれとは逆に、ポインターｐで指定さ
れる平均化再生信号ＭＲＦ（ｐ）が、ＭＲＦ（ｐ−１）
＞Ｖｔであり、かつＭＲＦ（ｐ＋１）＜Ｖｔの場合、中
央処理ユニット１４は、立ち下がりエッジと判定する。

【００７５】このステップＳＰ５３において、立ち上が
りエッジと判定すると、中央処理ユニット１４は、ステ
ップＳＰ５３からステップＳＰ５４に移り、分類に供す
るパターンを検出する。すなわち中央処理ユニット１４
は、クロック周期でポインターｐにより指定されるタイ
ミングを中心にして、前後所定範囲で２値化信号ＢＤ
（ｎ，０）の論理レベルを判定し、これによりポインタ
ーｐにより立ち上がりエッジと判定されてなるピットの
ピット長、前後のスペース及びピットついて、ピット
長、スペース長を検出し、これにより上述した分類を検
出する。

【００７６】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ５５に移り、次式の演算処理を実行することによ
り、立ち上がりエッジに対応する標準再生信号レベルＶ
ｒ（p0,s0,p1,s1,p2）のテーブルに、このポインターｐ
により特定される平均化再生信号ＭＲＦ（ｐ）の信号レ
ベルを加算し、また対応するカウンターＮｒ（p0,s0,p
1,s1,p2）を値１だけインクリメントした後、ステップ
ＳＰ５６に移る。

【００７７】

【数３】

【００７８】これに対してステップＳＰ５３において、
立ち下がりエッジと判定した場合、中央処理ユニット１
４は、ステップＳＰ５７に移る。ここで中央処理ユニッ
ト１４は、ステップＳＰ５４と同様に、分類に供するパ
ターンを検出する。すなわち中央処理ユニット１４は、
クロック周期でポインターｐにより指定されるタイミン
グを中心にして、前後所定範囲で２値化信号ＢＤ（ｎ，
０）の論理レベルを判定し、これによりポインターｐに
より立ち下がりエッジと判定されてなるピットのピット
長、前後のスペース及びピットついて、ピット長、スペ
ース長を検出し、これにより上述した分類を検出する。

【００７９】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ５８に移り、次式の演算処理を実行することによ
り、立ち下がりエッジに対応する標準再生信号レベルＶ
ｆ（p0,s0,p1,s1,p2）のテーブルに、このポインターｐ
により特定される平均化再生信号ＭＲＦ（ｐ）の信号レ
ベルを加算し、また対応するカウンターＮｆ（p0,s0,p
1,s1,p2）を値１だけインクリメントした後、ステップ
ＳＰ５６に移る。

【００８０】

【数４】

【００８１】また中央処理ユニット１４は、ステップＳ
Ｐ５３において、立ち上がりエッジの判定条件、立ち下
がりエッジの判定条件の何れをも満足しない場合、直接
ステップＳＰ５６に移る。

【００８２】中央処理ユニット１４は、このステップＳ
Ｐ５６において、ポインターｐが最終値Ｎか否か判断
し、ここで否定結果が得られると、ステップＳＰ５２に
戻る。

【００８３】これにより中央処理ユニット１４は、順次
ポインターｐによりチャンネルクロック周期で順次立ち
上がりエッジ、立ち下がりエッジを判定し、立ち上がり
エッジ、立ち下がりエッジについては、各パターン毎
に、平均化再生信号ＭＲＦ（ｐ）の信号レベルを累積す
る。

【００８４】中央処理ユニット１４は、このようにして
平均化再生信号ＭＲＦ（ｐ）の全てについてエッジを判
定すると、ステップＳＰ５６において肯定結果が得られ
ることにより、ステップＳＰ５９に移る。

【００８５】ここで中央処理ユニット１４は、次式の演
算処理を実行することにより、テーブルに記録した各平
均化再生信号ＭＲＦ（ｐ）の信号レベルの累積値をそれ
ぞれ平均値化する。

【００８６】

【数５】

【００８７】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ６０（図８）に移り、計算に使用する各変数Ｓｒ、
Ｓｆ、Ｍｒ、Ｍｆ、ポインターｐを値０にセットしてク
リアする。なおここで変数Ｓｒ、Ｓｆは、それぞれ立ち
上がりエッジ及び立ち下がりエッジのメディアジッター
を計算するための中間変数であり、Ｍｒ、Ｍｆは、それ
ぞれ中間変数Ｓｒ、Ｓｆの計算回数を示すカウント値で
ある。

【００８８】中央処理ユニット１４は、続いてステップ
ＳＰ６１に移り、ポインターｐを値１だけインクリメン
トする。続いて中央処理ユニット１４は、ステップＳＰ
６２に移り、ステップＳＰ５３について上述したと同様
にして、ポインターｐにより特定される平均化再生信号
ＭＲＦ（ｐ）がピットのエッジか否か判断する。

【００８９】このステップＳＰ６２において、立ち上が
りエッジと判定すると、中央処理ユニット１４は、ステ
ップＳＰ６２からステップＳＰ６３に移り、ステップＳ
Ｐ５４について上述したと同様にして、分類に供するパ
ターンを検出する。

【００９０】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ６４に移り、次式の演算処理を実行することによ
り、立ち上がりエッジに対応する中間変数Ｓｒ（p0,s0,
p1,s1,p2）のテーブルに、平均化再生信号ＭＲＦ（ｐ）
の信号レベルと、ステップＳＰ５７で計算した対応する
標準再生信号レベルＶｒ（p0,s0,p1,s1,p2）との差の二
乗値を加算し、また対応するカウント値Ｍｒ（p0,s0,p
1,s1,p2）を値１だけインクリメントした後、ステップ
ＳＰ６５に移る。

【００９１】

【数６】

【００９２】これに対してステップＳＰ６２において、
立ち下がりエッジと判定した場合、中央処理ユニット１
４は、ステップＳＰ６６に移り、ここでステップＳＰ５
７について上述したと同様にして分類に供するパターン
を検出する。

【００９３】続いて中央処理ユニット１４は、ステップ
ＳＰ６７に移り、次式の演算処理を実行することによ
り、立ち下がりエッジに対応する中間変数Ｓｆ（p0,s0,
p1,s1,p2）のテーブルに、平均化再生信号ＭＲＦ（ｐ）
の信号レベルと、ステップＳＰ５７で計算した対応する
標準再生信号レベルＶｆ（p0,s0,p1,s1,p2）との差の二
乗値を加算し、また対応するカウント値Ｍｆ（p0,s0,p
1,s1,p2）を値１だけインクリメントした後、ステップ
ＳＰ６５に移る。

【００９４】

【数７】

【００９５】また中央処理ユニット１４は、このステッ
プＳＰ６２において、立ち上がりエッジの判定条件、立
ち下がりエッジの判定条件の何れをも満足しない場合、
直接ステップＳＰ６５に移る。

【００９６】中央処理ユニット１４は、このステップＳ
Ｐ６５において、ポインターｐが最終値Ｎか否か判断
し、ここで否定結果が得られると、ステップＳＰ６１に
戻る。

【００９７】これにより中央処理ユニット１４は、順次
ポインターｐによりチャンネルクロック周期で順次立ち
上がりエッジ、立ち下がりエッジを判定し、立ち上がり
エッジ、立ち下がりエッジについては、各パターン毎
に、中間変数Ｓｆ（p0,s0,p1,s1,p2）、Ｓｒ（p0,s0,p
1,s1,p2）を更新し、また対応するカウント値Ｍｆ（p0,
s0,p1,s1,p2）、Ｍｒ（p0,s0,p1,s1,p2）を更新する。

【００９８】中央処理ユニット１４は、このようにして
平均化再生信号ＭＲＦ（ｐ）の全てについてエッジを判
定すると、ステップＳＰ６５において肯定結果が得られ
ることにより、ステップＳＰ６８に移る。

【００９９】ここで中央処理ユニット１４は、次式の演
算処理を実行することにより、各分類毎に分散Ｑｒ（p
0,s0,p1,s1,p2）及びＱｆ（p0,s0,p1,s1,p2）を計算す
る。なおここでｓｑｒｔは平方根演算を表す。

【０１００】

【数７】

【０１０１】続いて中央処理ユニット１５は、ステップ
ＳＰ６９に移り、ここで次式の演算処理を実行する。

【０１０２】

【数９】

【０１０３】ここでα及びβは、図９に示すように、そ
れぞれ立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジに対する
補正値α＝Δｔ／ΔＶｒ、β＝Δｔ／ΔＶｆであり、Δ
Ｖｒ、ΔＶｆは、微小時間Δｔ経過したときに観察され
るアナログディジタル変換回路１２における出力値の変
化であり、それぞれ立ち上がりエッジ及び立ち下がりエ
ッジに対応する出力値である。

【０１０４】これにより中央処理ユニット１４は、各分
散Ｑｒ（p0,s0,p1,s1,p2）及びＱｆ（p0,s0,p1,s1,p2）
を正規化してメディアジッターＭｊｒ（p0,s0,p1,s1,p
2）及びＭｊｆ（p0,s0,p1,s1,p2）を算出し、アナログ
ディジタル変換回路１２の特性による測定精度の劣化を
防止した後、ステップＳＰ７０に移ってこの処理手順を
終了する。

【０１０５】（２）第１の実施の形態の動作 以上の構成において、コンパクトディスク２は、光ディ
スク評価装置１において（図２）、タイムコードを基準
にしたアクセスにより同一箇所が繰り返しアクセスされ
（図１）、その結果、同一の測定箇所より繰り返し再生
信号ＲＦが得られる。光ディスク評価装置１では、この
再生信号ＲＦが２値化回路６で２値化された後、ＥＦＭ
復調回路７でオーディオデータが復調され、さらに続く
ＥＣＣ回路８により誤り訂正処理された後、アナログ信
号に変換されて出力される。これによりコンパクトディ
スク２においては、再生されたオーディオ信号ＳＡをモ
ニタして顕著な異常が検出され、またジッターの測定箇
所がオーディオ信号ＳＡにより確認される。

【０１０６】このようなオーディオ処理系とは別に、光
ディスク評価装置１では、再生信号ＲＦが高速度により
アナログディジタル変換処理されてディジタル再生信号
ＳＲＦが生成され、このディジタル再生信号ＳＲＦがメ
モリ１３に保存される。光ディスク評価装置１では、こ
のメモリ１３に保存されたディジタル再生信号ＳＲＦに
よりジッターが測定される。これによりこの光ディスク
評価装置１においては、必要に応じてこのメモリ１３に
記録されたディジタル再生信号ＳＲＦをパーソナルコン
ピュータ等にダウンロードして別途ジッターを評価する
こともでき、各種機器との間でジッター測定値を比較検
討して信頼性を向上することができる。

【０１０７】かくするにつきこのようにしてメモリ１３
に保存されたディジタル再生信号ＳＲＦは、各測定回の
ディジタル再生信号ＳＲＦ毎に、所定のしきい値により
２値化されて２値化信号ＢＲＦ（ｋ，Ｚ）が生成され
（図４及び図５）、さらにこの２値化信号ＢＲＦ（ｋ，
Ｚ）を基準にしてチャンネルクロックＲＣＫ（ｋ，Ｚ）
が生成される。さらにこのチャンネルククロックＲＣＫ
（ｋ，Ｚ）について、変化点が検出され、この変化点に
対応するディジタル再生信号ＳＲＦのサンプリング値が
選択されて、チャンネルククロックＲＣＫ（ｋ，Ｚ）を
基準にしてサンプリング数が低減されてなるディジタル
再生信号ＴＲＦ（ｎ，Ｚ）が生成される。また同様にし
てサンプリング数が低減されてなる２値化信号ＢＤ
（ｎ，Ｚ）が生成される。

【０１０８】これにより光ディスク評価装置１では、ア
ナログディジタル変換回路１２におけるサンプリング周
波数を高速度化すると共に、その結果増大するサンプリ
ング数を低減してジッターを測定することにより、演算
処理に要する時間を短縮してジッターの測定精度を向上
するようになされている。

【０１０９】このようにしてサンプリング数が低減され
てなる各測定回毎のディジタル再生信号ＴＲＦ（ｎ，
Ｚ）は（図６）、チャンネルクロック周期で対応する２
値化信号ＢＤ（ｎ，Ｚ）のタイミングを順次変化させ
て、第１回目の測定による２値化信号ＢＤとの間で比較
され、これによりチャンネルクロックを基準にして１回
目のディジタル再生信号ＴＲＦ（ｎ，０）に対するサン
プリング点のずれ、すなわちタイミングのずれ量Ｘが検
出される。

【０１１０】サンプリング数が低減されてなる各測定回
毎のディジタル再生信号ＴＲＦ（ｎ，Ｚ）は（図４）、
このずれ量Ｘにより１回目のディジタル再生信号ＴＲＦ
（ｎ，０）とタイミングが一致するように補正された
後、平均化される。これによりこの実施の形態では、電
気回路、レーザービームのノイズ成分が低減される。

【０１１１】かくするにつき実験した結果によれば、１
０回程度の測定によるディジタル再生信号ＴＲＦ（ｎ，
Ｚ）を平均値化すれば、測定結果に与えるこれらノイズ
の影響を約１／３以下に低減することができ、その分測
定精度を向上できることが判った。

【０１１２】かくしてこのようにして生成された平均化
再生信号ＭＲＦ（ｎ）は（図７）、立ち上がりエッジ及
び立ち下がりエッジのタイミングが検出され、このタイ
ミングのサンプリング値が対応するピット長、前後のピ
ット長及びスペース長により分類されて平均値化され
る。

【０１１３】さらにこの平均値ＭＲＦを基準にして同様
に、各分類毎に、分散Ｑｒ、Ｑｆが計算され（図８）、
これによりピット及びスペースのパターン毎に、ジッタ
ー量が計測される。このときこの実施の形態では、パタ
ーン毎にジッター量を計測することにより、単なるピッ
トエッジの変位によるジッターと、符号間干渉によるジ
ッターとを分離して判別することができ、これによりこ
の種の測定結果を精度良く判断することが可能となる。

【０１１４】かくして光ディスク評価装置１では、この
ようにして得られた分散Ｑｒ、Ｑｆがアナログディジタ
ル変換回路１２の特性により補正され（図９）、ジッタ
ーの測定結果Ｍｊｒ、Ｍｊｆが検出される。

【０１１５】（３）第１の実施の形態の効果 以上の構成によれば、光ディスクの複数回のアクセスに
より得られるディジタル再生信号のタイミングを補正し
て平均値化し、その結果得られる平均再生信号によりジ
ッター量を測定することにより、同一ピット間の平均値
により評価値を測定することができる。従ってその分、
電気回路、レーザービームにおけるノイズの影響を低減
して、従来に比してジッターの測定精度を向上すること
ができる。

【０１１６】またこのとき光ディスクの複数回のアクセ
スにより得られるディジタル再生信号を平均値化して同
一ピット間の平均値により評価値であるジッター量を測
定することにより、簡易な処理によりジッター量を測定
することができる。

【０１１７】（４）第２の実施の形態 図１０は、本発明の第２の実施の形態に係る光ディスク
の製造工程の説明に供するブロック図である。この実施
の形態においては、上述した光ディスク評価装置１によ
り量産ディスクであるコンパクトディスクを評価して製
造条件を最適化する。

【０１１８】すなわちこの製造工程においては、ディジ
タルオーディオテープレコーダ２０より出力されるオー
ディオ信号ＳＡを変調回路２１により変調してカッティ
ングマシーン２２に供給し、このカッティングマシーン
２２によりディスク原盤を露光する。製造工程では、現
像装置２３によりこのディスク原盤２３を現像した後、
メッキ装置２４によりメッキ処理してマザーディスクを
作成する。さらにこのマザーディスクよりスタンパーを
作成し、このスタンパーより射出成形装置である転写装
置２５によりディスク基板が作成される。この製造工程
では、スパッタリング装置２６等によりこのディスク基
板に反射膜、保護膜が作成されて量産ディスク２７が作
成される。

【０１１９】この製造工程においては、このようにして
得られる量産ディスク２７を光ディスク評価装置１によ
り評価してジッター量が測定される。さらにこのジッタ
ー量が低減するように、現像装置２３における現像時
間、カッティングマシーン２２におけるレーザービーム
光量、転写装置２５における射出成形の条件等が最適化
される。すなわちコンパクトディスクの内外周でジッタ
ー量が異なる場合には、射出成形における樹脂の流れが
適切でないと考えられることにより、成形圧、成形サイ
クル、金型の温度等の制御により成形条件を最適化す
る。またディスク原盤に塗布するレジスタの種類、膜
厚、さらには現像装置における現像時間、現像液温度等
を種々に変化させてジッター量を測定し、その測定結果
より最適な条件を選択して製造の条件を最適化する。

【０１２０】図１０に示す構成によれば、第１の実施の
形態に係る光ディスク評価装置より得られるジッター量
により製造条件を最適化することにより、精度の高いコ
ンパクトディスクを作成することができる。従ってその
分、記録密度の高い光ディスクについても、簡易かつ確
実に量産することができる。

【０１２１】（５）他の実施の形態 なお上述の実施の形態においては、複数回のアクセスに
より得られるディジタル再生信号のタイミングを補正し
て平均値化し、その結果得られる平均再生信号によりジ
ッター量を測定することにより、同一ピット間の平均値
により評価値を測定する場合について述べたが、本発明
はこれに限らず、各ディジタル再生信号よりそれぞれピ
ット毎にジッター量を検出し、このジッター量を対応す
るピット毎に平均値化してもよい。なおこの場合、上述
の実施の形態と同様の形式によりジッターを評価するた
めには、このようにして平均値化したジッター量をさら
に各パターン毎に集計することが必要となる。

【０１２２】また上述の実施の形態においては、ピット
の立ち上がり部分と立ち下がり部分とでそれぞれ独立に
ジッター量を測定する場合について述べたが、本発明は
これに限らず、例えば立ち上がりと立ち下がりとを区別
することなく、ディスクの品質を表す一つの値として評
価値を求めるようにしてもよい。因みに、ピットの立ち
上がりと立ち下がりで特にジッターに差が無い場合に
は、立ち上がりと立ち下がりとを区別することなくジッ
ター量を測定する方が、ディスクの品質を比較する場合
に便利であると考えられる。

【０１２３】なおこの場合にも、記録されたピットのパ
ターン毎にジッター量を求めることにより、ジッター量
がパターン毎に違っていた場合等に、パターン間での品
質の差が明確になり、ディスクの品質向上の為に有用で
あると考えられる。

【０１２４】また上述の実施例においては充分に周波数
の高いサンプリングクロックＳＣＫにより再生信号をア
ナログディジタル変換処理してジッター量を測定する場
合について述べたが、本発明はこれに限らず、周波数の
低いクロックによりアナログディジタル変換処理した
後、例えば補間処理等の信号処理によりサンプリング間
隔を等価的に短い時間間隔に設定してもよい。

【０１２５】また上述の実施の形態においては、本発明
をコンパクトディスクの評価装置に適用することにより
ＥＦＭ信号による再生信号を処理する場合について述べ
たが、本発明はこれに限らず、１−７変調、８−１６変
調、２−７変調等による変調により所望のデータを記録
した光ディスクについて、この光ディスクを評価する評
価値を測定する場合、さらには光磁気ディスクに適用し
てマーク及びスペースによるジッターを測定する場合に
広く適用することができる。

【０１２６】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、光ディス
クの複数回のアクセスにおける同一ピット又は同一マー
ク間の平均値により評価値を測定することにより、ノイ
ズの影響をその分低減して従来に比してジッター等の測
定精度を向上することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク評
価装置の処理手順を示すフローチャートである。

【図２】本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク評
価装置を示すブロック図である。

【図３】図２の光ディスク評価装置の動作の説明に供す
る信号波形図である。

【図４】図１の位置ずれ補正処理を示すフローチャート
である。

【図５】図４のクロック変化点抽出処理を示すフローチ
ャートである。

【図６】図４のずれ量検出処理を示すフローチャートで
ある。

【図７】図１のメディアジッター計算処理を示すフロー
チャートである。

【図８】図７の続きを示すフローチャートである。

【図９】傾きの補正値の説明に供する信号波形図であ
る。

【図１０】第２の実施の形態に係る光ディスク製造工程
を示すブロック図である。

【符号の説明】

１……光ディスク評価装置、２……コンパクトディス
ク、５……光ピックアップ、１２……アナログディジタ
ル変換回路、１３……中央処理ユニット

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光ディスクにレーザービームを照射して得
   られる戻り光を受光して前記光ディスクに形成されたピ
   ット又はマークに応じて信号レベルが変化する再生信号
   を出力する再生信号検出手段と、 前記再生信号をアナログディジタル変換処理してディジ
   タル再生信号を出力するアナログディジタル変換手段
   と、 前記ディジタル再生信号を処理して前記光ディスクを評
   価する評価値を測定する評価値測定手段とを備え、 前記評価値測定手段は、 前記光ディスクの複数回のアクセスにおける同一ピット
   又は同一マーク間の平均値により前記評価値を測定する
   ことを特徴とする光ディスク評価装置。
2. 【請求項２】前記評価値測定手段は、 前記複数回のアクセスによる複数系統のディジタル再生
   信号のタイミングを補正して平均値化し、平均再生信号
   を出力する平均化手段と、 前記平均再生信号に基づいて前記評価値を測定する測定
   手段とを備えることを特徴とする請求項１に記載の光デ
   ィスク評価装置。
3. 【請求項３】前記評価値測定手段は、 前記ピット又はマークによるパターン毎に前記評価値を
   集計することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク
   評価装置。
4. 【請求項４】前記評価値がジッターを示す値であること
   を特徴とする請求項１に記載の光ディスク評価装置。
5. 【請求項５】光ディスクにレーザービームを照射して前
   記光ディスクに形成されたピット又はマークに応じて信
   号レベルが変化する再生信号を処理することにより前記
   光ディスクを評価する評価値を測定する光ディスクの評
   価方法であって、 前記光ディスクの複数回のアクセスにおける同一ピット
   又は同一マーク間の平均値により前記評価値を測定する
   ことを特徴とする光ディスクの評価方法。
6. 【請求項６】前記複数回のアクセスによる複数系統の再
   生信号のタイミングを補正して平均値化し、 該平均化により得られる平均再生信号に基づいて前記評
   価値を測定することを特徴とする請求項５に記載の光デ
   ィスクの評価方法。
7. 【請求項７】前記ピット又はマークによるパターン毎に
   前記評価値を集計することを特徴とする請求項５に記載
   の光ディスクの評価方法。
8. 【請求項８】前記評価値がジッターを示す値であること
   を特徴とする請求項５に記載の光ディスクの評価方法。
9. 【請求項９】ディスク状記録媒体にレーザービームを照
   射し、ピット列又はマーク列により所望のデータを記録
   した光ディスクを作成する光ディスクの製造方法におい
   て、 前記光ディスクの複数回のアクセスにおける同一ピット
   又は同一マーク間の平均値により前記光ディスクを評価
   する評価値を測定し、 前記評価値を基準にして前記光ディスクの作成条件を最
   適化することを特徴とする光ディスクの製造方法。