JP2000222235A - マイクロコンピュータのテストパターン自動生成方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 回路内部の知識を充分に有すること無く、回
路規模を増大させないで、検査能力の高いマイクロコン
ピュータのテストパターンを短期間で作成する。 【解決手段】 複数の命令を有するマイクロコンピュー
タのテストパターン自動生成方法であって、所定の命令
を選択する命令選択工程１０１と、命令選択工程１０１
で選択された命令と前記命令に必要な変数を自動生成し
て所定の形式で命令プログラムを作成する命令パターン
生成工程１０２と、命令プログラムで故障シミュレーシ
ョンを行う故障シミュレーション工程１０３と、検出し
た故障が所定の故障に含まれる場合には前記故障シミュ
レーションを行った前記命令プログラムをテストパター
ンとし、検出故障が前記所定の故障に含まれない場合に
は命令選択工程１０１に戻るテストパターン判定工程１
０４とを設けて、テストパターンを自動生成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロコンピュ
ータのテストパターン自動生成方法に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、マイクロコンピュータ回路の故障
を検出するためのテストパターン生成は、テストパター
ン作成者がマイクロコンピュータの回路情報からテスト
内容を考え、シミュレーション等の結果からテストパタ
ーンを作成するマニュアル生成と、自動テストパターン
生成ソフトウェア（以下、ＡＴＰＧとする）を利用した
自動生成に分けられる。

【０００３】マニュアル生成においては、テストパター
ン作成者がマイクロコンピュータの回路情報から回路内
に故障を設定し、上記故障を回路外部に伝播させる機能
動作パターンを作成し、上記機能動作パターンで上記故
障が回路外部に伝播されるかどうか、すなわち、故障を
検出できるかどうかを故障シミュレーションを行い確認
し、故障が検出できれば上記機能動作パターンをテスト
パターンとして用いる。また、機能動作パターンは、回
路の入力信号から直接的に内部信号を制御したり、或い
はマイクロコンピュータが備える汎用機能を動作させる
命令セットを利用して内部信号を制御することにより作
成される。

【０００４】自動生成においては、上記マニュアル生成
で示した回路内への故障設定と、上記故障が回路外部へ
伝播するテストパターンの作成と、上記テストパターン
による故障伝播の確認をＡＴＰＧによりすべて自動で行
う。ただし、ＡＴＰＧを用いる場合、対象とする回路に
はＡＴＰＧでの処理が可能なための特別なテスト設計が
必要となる。例えば、ＡＴＰＧを用いるためにスキャン
パス設計を行った回路は、スキャンパス設計用フリップ
フロップと組合せ回路のみで構成する必要がある。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
マイクロコンピュータのテストパターン生成方法では、
マニュアル生成においては、マイクロコンピュータが備
える汎用機能を動作させる命令セットを用いて命令プロ
グラムを作成し、それをテストパターンとして利用す
る。この場合、マイクロコンピュータ回路内の全故障が
回路外部に伝播できるように、各機能動作の偏りが生じ
ないように命令プログラムを作成する必要がある。よっ
て、対象とするマイクロコンピュータ回路について熟知
した知識およびその知識を有しているテストパターン設
計者が必要となる。

【０００６】このためマニュアル生成では、テストパタ
ーン設計者のテストパターン設計能力により、テストパ
ターンの故障検査能力やテストパターン作成時間が左右
され、テストパターンの故障検査能力にばらつきが生じ
たり、或いはテストパターン作成時間が膨大になる可能
性がある。

【０００７】自動生成においては、ＡＴＰＧでの処理を
可能とするための特別な設計を必要とする。このため、
特別なテスト設計知識およびその知識を有しているテス
ト設計者が必要であり、しかもテスト設計を行った場合
は、回路設計工数が増加し、かつ回路規模も増大する。
また、元々、ＡＴＰＧは組合せ回路に対しては有効であ
るが、マイクロコンピュータのような回路に多く含まれ
る順序回路、非同期回路に対しては、その処理量が増大
する。

【０００８】上記理由により、従来のマイクロコンピュ
ータのテストパターン生成に関しては、マニュアル生
成、および自動生成ともに不利な点が生じる。例えば、
従来の組込み用途用マイクロコンピュータのテストパタ
ーン生成においては、主にマニュアル生成が多く用いら
れる。これは、組込み用途用マイクロコンピュータで
は、製造コストの高騰を防ぐため、ＬＳＩ回路規模の増
大を抑える傾向が多いからである。

【０００９】また、テストパターンに用いる命令プログ
ラムは、マイクロコンピュータの命令セット（アーキテ
クチャ）が変更されない限り、同じものを使うことが可
能である。ただし、回路構成の変更が生じる場合は、上
記命令プログラムを用いて生成されるテストパターンに
よる故障検査能力が異なるため、新に命令プログラムを
用いてテストパターンを生成する必要がある。

【００１０】本発明は、上記従来の問題点を解決するも
ので、マイクロコンピュータの知識を十分有すること無
く、かつ特別なテスト設計を施すことなく、故障検査能
力のばらつきの少ない高い故障検査能力を備えたテスト
パターンを、短期間で作成可能なテストパターン生成方
法を提供することを目的としている。

【００１１】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明のマイクロコンピュータのテストパターン自
動生成方法は、従来の前記マニュアル生成方法を基と
し、その処理の自動化と効率化を図っている。

【００１２】このマイクロコンピュータのテストパター
ン自動生成方法は、マイクロコンピュータの複数命令か
ら所定の命令を選択する命令選択工程と、前記選択した
命令に必要なレジスタやアドレス等の変数を自動生成し
て所定の順序および形態で命令を並べて命令プログラム
を作成する命令パターン生成工程と、前記命令プログラ
ムを用いてマイクロコンピュータの論理回路の故障が検
出されるか否かを故障シミュレーションを行うことによ
り調べる故障シミュレーション工程と、前記故障シミュ
レーションを行った結果から所定の故障が検出された場
合には前記命令プログラムをテストパターンとし、所定
の故障が検出されなかった場合には前記命令選択工程に
戻るテストパターン判定工程とを備えている。

【００１３】上記構成によって、命令パターン生成工程
がマイクロコンピュータの命令プログラムを自動生成さ
せるため、高速に命令プログラムを生成できる。また、
命令選択工程とテストパターン判定工程で、各機能動作
の偏りが生じないように命令プログラムを選択し、テス
トパターンを生成する。従って、マイクロコンピュータ
回路の詳細な情報をもとにテストパターンを作成するた
めの工数が短縮され、かつ故障検査能力のばらつきの少
ない高い故障検査能力を備えたマイクロコンピュータの
テストパターンを作成することが可能である。

【００１４】

【発明の実施の形態】請求項１記載のマイクロコンピュ
ータのテストパターン自動生成方法は、複数の命令を有
するマイクロコンピュータのテストパターン自動生成方
法であって、前記複数の命令よりなる命令群から所定の
命令を選択する命令選択工程と、前記命令選択工程で選
択された命令と前記命令に必要な変数を自動生成して所
定の形式で命令プログラムを作成する命令パターン生成
工程と、前記命令パターン生成工程で生成された前記命
令プログラムを用いてマイクロコンピュータの回路の故
障が検出されるか否かを故障シミュレーションを行うこ
とにより調べる故障シミュレーション工程と、前記故障
シミュレーション工程で検出した検出故障が所定の故障
に含まれる場合には前記故障シミュレーションを行った
前記命令プログラムをテストパターンとし、前記検出故
障が前記所定の故障に含まれない場合には前記命令選択
工程に戻るテストパターン判定工程とを備えたことを特
徴とする。

【００１５】請求項２記載のマイクロコンピュータのテ
ストパターン自動生成方法は、請求項１において、前記
テストパターン判定工程で、未検出の故障を故障記憶情
報としてもち、前記故障シミュレーションで検出した前
記検出故障が前記故障記憶情報に少なくとも所定故障数
以上含まれる場合には、前記故障シミュレーションを行
った前記命令プログラムをテストパターンとし、かつ前
記故障記憶情報から前記検出故障を削除した後に前記命
令選択工程に戻り、前記検出故障が前記故障記憶情報に
前記所定故障数以上含まれない場合には前記命令選択工
程に戻ることを特徴とする。

【００１６】請求項３記載のマイクロコンピュータのテ
ストパターン自動生成方法は、請求項１において、前記
テストパターン判定工程で、未検出の故障を故障記憶情
報としてもち、前記故障シミュレーションで検出した前
記検出故障が前記故障記憶情報に少なくとも所定故障数
以上含まれる場合には、前記故障シミュレーションを行
った前記命令プログラムと、前記検出故障でかつ前記故
障記憶情報に含まれる検出可能故障を故障検出情報とし
て記憶し、前記故障シミュレーションを所定回数以上行
っていない場合は前記命令選択工程に戻り、前記故障シ
ミュレーションを所定回数以上行った場合は前記故障検
出情報に記憶された前記検出可能故障の多い前記命令プ
ログラムをテストパターンとし、かつ前記故障記憶情報
から前記テストパターンの前記検出可能故障を削除した
後に前記命令選択工程に戻ることを特徴とする。

【００１７】請求項４記載のマイクロコンピュータのテ
ストパターン自動生成方法は、請求項１または請求項２
において、前記命令選択工程で、Ｎ個の命令より構成さ
れた命令群からの中からＭ個の命令を１組とするＮ！／
Ｍ！（Ｎ−Ｍ）！組の命令組合せセットを生成し、前記
命令組合せセットから所定数の命令組合せを選択するこ
とを特徴とする。

【００１８】請求項５記載のマイクロコンピュータのテ
ストパターン自動生成方法は、請求項１または請求項３
において、前記命令選択工程で、Ｎ個の命令より構成さ
れた命令群からの中からＭ個の命令を１組とするＮ！／
（Ｎ−Ｍ）！組の命令順列セットを生成し、前記命令順
列セットから所定数の命令順列を選択することを特徴と
する。

【００１９】請求項６記載のマイクロコンピュータのテ
ストパターン自動生成方法は、請求項１において、前記
テストパターン判定工程で、未検出の故障を故障記憶情
報としてもち、前記故障シミュレーションで検出した前
記検出故障が前記故障記憶情報に少なくとも所定故障数
以上含まれる場合には、前記故障シミュレーションを行
った前記命令プログラムをテストパターンとし、前記故
障記憶情報から前記検出故障を削除し、予め分割された
回路ブロック別に分割した前記検出故障と前記検出故障
を検出した前記命令プログラムから、前記回路ブロック
別での各命令に対して検出される故障の頻度を示す度数
分布情報を生成した後に前記命令選択工程に戻り、前記
検出故障が前記故障記憶情報に前記所定故障数以上含ま
れない場合には前記命令選択工程に戻ることを特徴とす
る。

【００２０】請求項７記載のマイクロコンピュータのテ
ストパターン自動生成方法は、請求項６において、前記
命令選択工程で、前記故障記憶情報から検出すべき対象
故障を所定故障数だけ抽出し、前記度数分布情報から前
記対象故障が属する回路ブロックを調査し、かつ前記対
象故障が属する前記回路ブロックで故障検出される頻度
の高い命令を前記命令群より所定の数だけ選択すること
を特徴とする。

【００２１】以下、本発明のテストパターン自動生成方
法を具体的な各実施の形態に基づいて説明する。

【００２２】（実施の形態１）図１は本発明の（実施の
形態１）の処理フローを示す。

【００２３】この処理フローは、検査しようとするマイ
クロコンピュータとは別の開発用コンピュータによって
実行されるもので、この開発用コンピュータによって自
動生成されたテストパターンを、検査を受けるマイクロ
コンピュータに実行させて性能チェックが実施される。

【００２４】図１において、１００は検査しようとする
マイクロコンピュータの命令セット、１０１は命令セッ
ト１００から命令選択する命令選択工程、１０２は選択
した命令から命令プログラムを作成する命令パターン生
成工程、１０３は前記命令プログラムで故障シミュレー
ションを実行する故障シミュレーション工程、１０４は
故障シミュレーションで検出された故障から前記命令プ
ログラムをテストパターンとして選択するかどうかを判
定するテストパターン判定工程、１０５はテストパター
ン、１０６はテストパターン１０５で検出できない故障
を記憶しておく故障記憶データである。

【００２５】まず、命令選択工程１０１では、マイクロ
コンピュータに予め用意されている命令セット１００か
ら所定数の命令を選択する。この際、命令セット１００
がＮ個の命令より構成される場合、その中からＭ個の命
令を１セットとするＮ！／Ｍ！（Ｎ−Ｍ）！個の命令組
合せセットを生成し、その中から１個以上でＮ！／Ｍ！
（Ｎ−Ｍ）！個以下の所定数の命令組合せセットを選択
する。

【００２６】次に、命令パターン生成工程１０２におい
て、命令選択工程１０１で選択した前記命令組合せセッ
トの命令フォーマットに必要なレジスタ番号やデータや
アドレス番地等の変数をそれぞれの仕様範囲内で自動生
成し、所定の命令フォーマットを生成して命令プログラ
ムを作成する。

【００２７】次に、故障シミュレーション工程１０３に
おいて、命令パターン生成工程１０２で自動生成した前
記命令プログラムを用い、検出可能な故障を故障シミュ
レーションの実行により確認する。

【００２８】最後に、テストパターン判定工程１０４に
おいて、故障シミュレーション工程１０３での検出故障
が、故障記憶データ１０６に含まれかつ所定数以上であ
るかを判定し、ＮＯの場合は命令選択工程１０１に戻
り、ＹＥＳの場合は前記命令プログラムをテストパター
ン１０５とし、同時に前記検出故障を故障記憶データ１
０６より削除し、命令選択工程１０１に戻る。

【００２９】故障記憶データ１０６は、工程開始時に予
め用意される。例えば、対象としている回路の全ての回
路故障が未検出な場合、故障記憶データ１０６は、回路
上に存在する全故障となり、テストパターン判定工程１
０４でＹＥＳの工程を繰り返す度に記憶する故障データ
が削除される。前記所定数は、故障記憶データ１０６に
記憶される未検出故障に対して、前記命令プログラムが
検出すべき最低限の故障数を示している。以降、前記各
工程を繰り返し行うことにより、テストパターン１０５
を追加生成する。

【００３０】また、二回目以降の繰り返し処理におい
て、命令選択工程１０１では、第一回目に選択した命令
組合せセットの所定数が、生成した全命令組合セットの
数Ｎ！／Ｍ！（Ｎ−Ｍ）！よりも小さい場合、前記全命
令組合せセットの中から選択されていない命令組合せセ
ットを選択する。以降、前記全命令組合せセットの中か
ら選択されていない命令組合せセットがなくなるまで、
前記全命令組合せセットからの選択を繰り返し、選択す
る命令組合せセットがなくなったなった時点で、Ｎ！／
Ｍ！（Ｎ−Ｍ）！個の新しい命令組合セットを生成す
る。

【００３１】以上のようにこの実施の形態によれば、命
令パターン生成工程１０２において命令プログラムの作
成を自動化することにより、従来の人手による命令プロ
グラム生成を高速化し、かつ命令選択工程１０１および
テストパターン判定工程１０４において偏りの少ない機
能動作を含む命令プログラムを選択することにより、故
障検査能力のばらつきの少ない命令プログラムの生成と
選択を効率的に行うことができる。従って、マイクロコ
ンピュータのテストパターン生成における時間短縮とテ
ストパターンの故障検査能力の向上を図ることができ
る。

【００３２】（実施の形態２）図２は本発明の（実施の
形態２）の処理フローを示す。

【００３３】図２において、２００はマイクロコンピュ
ータの命令セット、２０１は命令選択工程、２０２は命
令パターン生成工程、２０３は故障シミュレーション工
程、２０５はテストパターン、２０６は故障記憶データ
で、以上は図１の１００，１０１，１０２，１０３，１
０５，１０６の構成と同様なものである。

【００３４】図１に示した（実施の形態１）と異なるの
は、テストパターン判定工程２０４において検出した故
障を故障検出情報２０７として記憶し、故障検出情報２
０７を参照してテストパターン２０５を生成する工程を
設けた点である。

【００３５】このように構成された（実施の形態２）で
は、命令選択工程２０１で、命令セット２００がＮ個の
命令より構成される場合、その中からＭ個の命令を１セ
ットとするＮ！／Ｍ！（Ｎ−Ｍ）！個の命令組合せセッ
トを生成し、その中から所定数の命令組合せセットを選
択する。

【００３６】次に、命令パターン生成工程２０２におい
て、命令選択工程２０１で選択した前記命令組合せセッ
トの命令フォーマットに必要なレジスタ番号やデータや
アドレス番地等の変数をそれぞれの規定範囲内で自動生
成し、所定の命令フォーマットを生成して命令プログラ
ムを作成する。

【００３７】次に、故障シミュレーション工程２０３に
おいて、命令パターン生成工程２０２で自動生成した前
記命令プログラムを用い、検出可能な故障を故障シミュ
レーションの実行により確認する。

【００３８】最後に、テストパターン判定工程２０４に
おいて、故障シミュレーション工程２０３での検出故障
が故障記憶データ２０６に含まれる場合は、前記検出故
障でかつ故障記憶データ２０６に含まれる故障検出デー
タと前記命令プログラムを組に故障検出情報２０７とし
て記憶し、故障シミュレーション工程２０３を所定回数
以上繰り返したかを判定し、ＮＯの場合は命令選択工程
２０１に戻り、ＹＥＳの場合は故障検出情報２０７から
前記故障検出データの故障記憶データ２０６に対する割
合である故障検出率が高い組を選択し、その組の前記命
令プログラムをテストパターン２０５とし、同時にその
組の前記故障検出データを故障記憶データ２０６より削
除し、命令選択工程２０１に戻る。以降、前記各工程を
繰り返し行うことにより、テストパターン２０５を追加
生成する。

【００３９】このように本発明の（実施の形態２）によ
れば、テストパターン判定工程２０４において、複数の
命令プログラムと前記命令プログラムによる故障検出デ
ータを故障検出情報２０７に記憶させ、その中から故障
検査能力の高い命令プログラムを選択してテストパター
ン２０５としたことにより、（実施の形態１）に比べて
テストパターン判定の時間が増加するが、高い故障検査
能力を備えた命令プログラムのみを優先してテストパタ
ーンにする。

【００４０】このため、例えば、検出すべき故障数をあ
る一定数Ｓ以上と定めた場合、テストパターン２０５と
して選択される前記命令プログラム数が（実施の形態
１）に比べて少ない数で前記一定数Ｓに到達するため、
テストパターン長の短縮を図ることができる。

【００４１】また、従来の人手による命令プログラム生
成に比べても充分に時間短縮が可能となり、（実施の形
態１）と同様に故障検査能力のばらつきの少ない命令プ
ログラムの生成と選択を効率的に行うことができ、マイ
クロコンピュータのテストパターンの故障検査能力向上
とテストパターン長の短縮を図ることができる。

【００４２】（実施の形態３）図３は本発明の（実施の
形態３）の処理フローを示す。

【００４３】図３において、３００はマイクロコンピュ
ータの命令セット、３０２は命令パターン生成工程、３
０３は故障シミュレーション工程、３０５はテストパタ
ーン、３０６は故障記憶データである。以上は図１に示
した１００，１０１，１０２，１０３，１０５，１０６
の構成と同様なものである。

【００４４】図１に示した（実施の形態１）と異なるの
は、故障記憶データ３０６と検出命令分布情報３０７か
ら検出すべき対象故障を抽出し、前記対象故障を検出す
るための命令を選択する命令選択工程３０１と、故障シ
ミュレーション工程３０３での検出故障と故障記憶デー
タ３０６から命令プログラムをテストパターン３０５と
するかを判定し、マイクロコンピュータの回路ブロック
別の故障に対して検出できた命令の度数分布データを検
出命令分布情報３０７として生成するテストパターン判
定工程３０４を設けた点である。

【００４５】このように構成された本発明の（実施の形
態３）では、まず、命令選択工程３０１で、未検出な故
障からなる故障記憶データ３０６から検出すべき対象故
障を抽出し、検出命令分布情報３０７から前記対象故障
がマイクロコンピュータの予め分割されたどの回路ブロ
ックに属するかを調査し、かつ前記対象故障が属する回
路ブロックに対して高い故障検出率を有した命令を調査
し、故障検出率の高い順番に命令セット３００から所定
数の命令を選択する。

【００４６】次に、命令パターン生成工程３０２におい
て、命令選択工程３０１で選択した前記命令の命令フォ
ーマットに必要なレジスタ番号やデータやアドレス番地
等の変数をそれぞれの規定範囲内で自動生成し、所定の
命令フォーマットを生成して命令プログラムを作成す
る。

【００４７】次に、故障シミュレーション工程３０３に
おいて、命令パターン生成工程３０２で自動生成した前
記命令プログラムを用い、検出可能な故障を故障シミュ
レーションの実行により確認する。

【００４８】最後に、テストパターン判定工程３０４に
おいて、故障シミュレーション工程３０３での検出故障
が、故障記憶データ３０６に含まれかつ所定数以上であ
るかを判定し、ＮＯの場合は命令選択工程３０１に戻
り、ＹＥＳの場合は前記命令プログラムをテストパター
ン３０５とし、同時に前記検出故障を故障記憶データ３
０６より削除し、前記検出故障がマイクロコンピュータ
の予め分割されたどの回路ブロックの故障かを調べ、か
つ各回路ブロック毎の検出故障に対する命令の度数分布
データを検出命令分布情報３０７に記憶し、命令選択工
程３０１に戻る。以降、前記各工程を繰り返し行うこと
により、テストパターン３０５を追加生成する。

【００４９】このように本発明の（実施の形態３）によ
れば、テストパターン判定工程３０４において、各回路
ブロックでの検出故障に対する命令度数分布データを検
出命令分布情報３０７に記憶させ、命令選択工程３０１
において、故障記憶データ３０６から検出すべき対象故
障を抽出し、かつ検出命令分布情報３０７から前記対象
故障に対して検出するのに有効な命令を選択することに
より、前記対象故障に相当するような特定の故障に対し
て高い故障検査能力を有するテストパターンを効率的に
生成できる。

【００５０】（実施の形態１）（実施の形態２）では回
路全体に分布する故障を対象とし、その故障に対して機
能動作の偏りの無い命令プログラムを生成することによ
り、故障検査能力のばらつきの少ない命令プログラムを
生成したが、これに比べて（実施の形態３）では対象と
する故障を特定の回路に分布する故障のみに絞り、かつ
対象とする故障に有効な命令プログラムを優先して生成
することにより、（実施の形態１）（実施の形態２）に
比べて、その対象とする故障に対しては、より故障検査
能力のばらつきの少ないかつパターン長の短いマイクロ
コンピュータのテストパターンを生成できる。

【００５１】上記の各実施の形態における工程１０１，
２０１，３０１、１０４，２０４，３０４における所定
数は、複数または単数の何れでも実現可能である。

【００５２】なお、（実施の形態１）の命令選択工程１
０１および（実施の形態２）の命令選択工程２０１は、
命令セットがＮ個の命令より構成される場合、その中か
らＭ個の命令を１セットとするＮ！／Ｍ！（Ｎ−Ｍ）！
個の命令組合せセットを生成し、その中から所定数の命
令組合せセットを選択するとしたが、命令選択工程１０
１，２０１は、命令セットがＮ個の命令より構成される
場合、その中からＭ個の命令を１セットとするＮ！／
（Ｎ−Ｍ）！個の命令順列セットを生成し、その中から
所定数の命令順列セットを選択するとしてもよい。

【００５３】本来、命令セットがＮ個の命令より構成さ
れる場合、その中からＭ個の命令を１セットとして命令
組合せセットを生成すると、その数はＭのＮ乗個とな
る。この場合、生成される命令の組合せは多大な数とな
り、かつ特定命令のみの選択による機能動作の偏りが発
生する。

【００５４】例えば、１０個の命令より構成される命令
セットより５個の命令を選択した時、その組合せは５の
１０乗数の命令組合せセットが必要となり、その命令の
種類をＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊとした
場合、組合せとして（Ａ，Ａ，Ａ，Ａ，Ａ）や（Ｉ，
Ｉ，Ｉ，Ｉ，Ｉ）等の特定命令のみが選択されることに
よる機能動作の偏りが生じてしまう。

【００５５】これに対して、前記のＮ！／Ｍ！（Ｎ−
Ｍ）！個の命令組合せセットおよびＮ！／（Ｎ−Ｍ）！
個の命令順列セットを生成することにより、生成する命
令セットの数を少なくし、かつ特定命令のみの選択を防
ぐことが可能となる。

【００５６】前記例の場合、１０！／５！（１０−５）
！＝２５２個の命令組合せセットおよび１０！／（１０
−５）！＝３０，２４０個の命令順列セットとなる。命
令順列セットは、命令組合せセットに比べて命令プログ
ラム数では大きくなるが、命令選択において命令間の順
番に起因する機能動作を起す命令プログラムを生成させ
る場合に有効となる。

【００５７】例えば、前記例で示したように、（Ａ，
Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ）の命令より成る命令組合せセットに対
して、命令順列セットは、（Ｂ，Ａ，Ｃ，Ｄ，Ｅ）、
（Ａ，Ｂ，Ｄ，Ｃ，Ｅ）等の命令の順序を考慮した命令
プログラムが生成できる。従って、このような命令間の
順番に起因して動作する機能が存在する場合、この機能
動作に関連する故障の検出が可能となり、故障検査能力
の向上が図れる。

【００５８】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、複数の命
令よりなる命令群から所定の命令を選択する命令選択工
程と、前記命令選択工程で選択された命令と前記命令に
必要な変数を自動生成して所定の形式で命令プログラム
を作成する命令パターン生成工程と、前記命令パターン
生成工程で生成された前記命令プログラムを用いてマイ
クロコンピュータの回路の故障が検出されるか否かを故
障シミュレーションを行うことにより調べる故障シミュ
レーション工程と、前記故障シミュレーション工程で検
出した検出故障が所定の故障に含まれる場合には前記故
障シミュレーションを行った前記命令プログラムをテス
トパターンとし、前記検出故障が前記所定の故障に含ま
れない場合には前記命令選択工程に戻るテストパターン
判定工程とを備えたため、従来の人手によるテストパタ
ーン生成に比べて、短期間で検査能力の高いテストパタ
ーンを生成することができる。特に、同一のアーキテク
チャを有する、異なった回路構成を持ったマイクロコン
ピュータのテストパターン生成に対して、各々の命令プ
ログラムを新規に生成する工数を大きく削減できる。

【００５９】さらに、前記テストパターン判定工程で、
未検出の故障を故障記憶情報としてもち、前記故障シミ
ュレーションで検出した前記検出故障が前記故障記憶情
報に少なくとも所定故障数以上含まれる場合には、前記
故障シミュレーションを行った前記命令プログラムをテ
ストパターンとし、前記故障記憶情報から前記検出故障
を削除し、予め分割された回路ブロック別に分割した前
記検出故障と前記検出故障を検出した前記命令プログラ
ムから、前記回路ブロック別での各命令に対して検出さ
れる故障の頻度を示す度数分布情報を生成した後に前記
命令選択工程に戻り、前記検出故障が前記故障記憶情報
に前記所定故障数以上含まれない場合には前記命令選択
工程に戻ることによって、特定の故障に対して高い故障
検査能力を有するテストパターンを効率的に生成できる
ものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の（実施の形態１）におけるテストパタ
ーン自動生成方法の処理フロー図

【図２】本発明の（実施の形態２）におけるテストパタ
ーン自動生成方法の処理フロー図

【図３】本発明の（実施の形態３）におけるテストパタ
ーン自動生成方法の処理フロー図

【符号の説明】

１００ 命令セット １０１ 命令選択工程 １０２ 命令パターン生成工程 １０３ 故障シミュレーション工程 １０４ テストパターン判定工程 １０５ テストパターン １０６ 故障記憶データ ２００ 命令セット ２０１ 命令選択工程 ２０２ 命令パターン生成工程 ２０３ 故障シミュレーション工程 ２０４ テストパターン判定工程 ２０５ テストパターン ２０６ 故障記憶データ ２０７ 故障検出情報 ３００ 命令セット ３０１ 命令選択工程 ３０２ 命令パターン生成工程 ３０３ 故障シミュレーション工程 ３０４ テストパターン判定工程 ３０５ テストパターン ３０６ 故障記憶データ ３０７ 検出命令分布情報

フロントページの続き (72)発明者 平瀬 潤一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 2G032 AA03 AC08 AC10 AE10 AE12 AG02 AG10 AK16 AL14 5B046 AA08 BA02 BA09 JA04 5B048 AA11 DD03 DD05 DD16

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数の命令を有するマイクロコンピュータ
   のテストパターン自動生成方法であって、 前記複数の命令よりなる命令群から所定の命令を選択す
   る命令選択工程と、 前記命令選択工程で選択された命令と前記命令に必要な
   変数を自動生成して所定の形式で命令プログラムを作成
   する命令パターン生成工程と、 前記命令パターン生成工程で生成された前記命令プログ
   ラムを用いてマイクロコンピュータの回路の故障が検出
   されるか否かを故障シミュレーションを行うことにより
   調べる故障シミュレーション工程と、 前記故障シミュレーション工程で検出した検出故障が所
   定の故障に含まれる場合には前記故障シミュレーション
   を行った前記命令プログラムをテストパターンとし、前
   記検出故障が前記所定の故障に含まれない場合には前記
   命令選択工程に戻るテストパターン判定工程とを備えた
   マイクロコンピュータのテストパターン自動生成方法。
2. 【請求項２】前記テストパターン判定工程で、未検出の
   故障を故障記憶情報としてもち、前記故障シミュレーシ
   ョンで検出した前記検出故障が前記故障記憶情報に少な
   くとも所定故障数以上含まれる場合には、前記故障シミ
   ュレーションを行った前記命令プログラムをテストパタ
   ーンとし、かつ前記故障記憶情報から前記検出故障を削
   除した後に前記命令選択工程に戻り、前記検出故障が前
   記故障記憶情報に前記所定故障数以上含まれない場合に
   は前記命令選択工程に戻る請求項１記載のマイクロコン
   ピュータのテストパターン自動生成方法。
3. 【請求項３】前記テストパターン判定工程で、未検出の
   故障を故障記憶情報としてもち、前記故障シミュレーシ
   ョンで検出した前記検出故障が前記故障記憶情報に少な
   くとも所定故障数以上含まれる場合には、前記故障シミ
   ュレーションを行った前記命令プログラムと、前記検出
   故障でかつ前記故障記憶情報に含まれる検出可能故障を
   故障検出情報として記憶し、前記故障シミュレーション
   を所定回数以上行っていない場合は前記命令選択工程に
   戻り、前記故障シミュレーションを所定回数以上行った
   場合は前記故障検出情報に記憶された前記検出可能故障
   の多い前記命令プログラムをテストパターンとし、かつ
   前記故障記憶情報から前記テストパターンの前記検出可
   能故障を削除した後に前記命令選択工程に戻る請求項１
   記載のマイクロコンピュータのテストパターン自動生成
   方法。
4. 【請求項４】前記命令選択工程で、Ｎ個の命令より構成
   された命令群からの中からＭ個の命令を１組とするＮ！
   ／Ｍ！（Ｎ−Ｍ）！組の命令組合せセットを生成し、前
   記命令組合せセットから所定数の命令組合せを選択する
   請求項２または請求項３記載のマイクロコンピュータの
   テストパターン自動生成方法。
5. 【請求項５】前記命令選択工程で、Ｎ個の命令より構成
   された命令群からの中からＭ個の命令を１組とするＮ！
   ／（Ｎ−Ｍ）！組の命令順列セットを生成し、前記命令
   順列セットから所定数の命令順列を選択する請求項２ま
   たは請求項３記載のマイクロコンピュータのテストパタ
   ーン自動生成方法。
6. 【請求項６】前記テストパターン判定工程で、未検出の
   故障を故障記憶情報としてもち、前記故障シミュレーシ
   ョンで検出した前記検出故障が前記故障記憶情報に少な
   くとも所定故障数以上含まれる場合には、前記故障シミ
   ュレーションを行った前記命令プログラムをテストパタ
   ーンとし、前記故障記憶情報から前記検出故障を削除
   し、予め分割された回路ブロック別に分割した前記検出
   故障と前記検出故障を検出した前記命令プログラムか
   ら、前記回路ブロック別での各命令に対して検出される
   故障の頻度を示す度数分布情報を生成した後に前記命令
   選択工程に戻り、前記検出故障が前記故障記憶情報に前
   記所定故障数以上含まれない場合には前記命令選択工程
   に戻る請求項１記載のマイクロコンピュータのテストパ
   ターン自動生成方法。
7. 【請求項７】前記命令選択工程で、前記故障記憶情報か
   ら検出すべき対象故障を所定故障数だけ抽出し、前記度
   数分布情報から前記対象故障が属する回路ブロックを調
   査し、かつ前記対象故障が属する前記回路ブロックで故
   障検出される頻度の高い命令を前記命令群より所定の数
   だけ選択する請求項６記載のマイクロコンピュータのテ
   ストパターン自動生成方法。