JP2000211004A - 成形品の検査方法とその検査装置を備えた射出成形機 - Google Patents
成形品の検査方法とその検査装置を備えた射出成形機Info
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- JP2000211004A JP2000211004A JP11012613A JP1261399A JP2000211004A JP 2000211004 A JP2000211004 A JP 2000211004A JP 11012613 A JP11012613 A JP 11012613A JP 1261399 A JP1261399 A JP 1261399A JP 2000211004 A JP2000211004 A JP 2000211004A
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- Japan
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- molded article
- residual stress
- molding machine
- injection molding
- polarizing plates
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/08—Testing mechanical properties
- G01M11/081—Testing mechanical properties by using a contact-less detection method, i.e. with a camera
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の残留応力検査装置は形状が大きく、設
置するための机等が必要になるので、狭く煩雑な成形現
場で使用するのは不便であった。また、手で偏光板と成
形品を保持して照明にかざす方法では不安定であり、光
が弱いうえ成形品全面の観測はしにくく、手の保持力や
体温の影響があった。 【解決手段】 制御装置１６の設定により表示器７を全
面高輝度の表示画面にし、該画面を光源として偏光が互
いに直交する二枚の偏光板１５，１５に挟持した成形品
１４を観測することによって、該成形品１４の残留応力
を検査するようにした。さらに前記表示器７の前面周辺
に偏光板１５もしくは偏光板１５と成形品１４を収容し
保持する案内１０，１０を設けた。
置するための机等が必要になるので、狭く煩雑な成形現
場で使用するのは不便であった。また、手で偏光板と成
形品を保持して照明にかざす方法では不安定であり、光
が弱いうえ成形品全面の観測はしにくく、手の保持力や
体温の影響があった。 【解決手段】 制御装置１６の設定により表示器７を全
面高輝度の表示画面にし、該画面を光源として偏光が互
いに直交する二枚の偏光板１５，１５に挟持した成形品
１４を観測することによって、該成形品１４の残留応力
を検査するようにした。さらに前記表示器７の前面周辺
に偏光板１５もしくは偏光板１５と成形品１４を収容し
保持する案内１０，１０を設けた。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】残留応力が問題となる成形
品、特には透明の光学成形品を成形作業中に簡易的に検
査する方法と装置に関する。
品、特には透明の光学成形品を成形作業中に簡易的に検
査する方法と装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】上記目的のため従来使用していたもの
は、箱型容器の底部に蛍光燈を設置し、その上方にガラ
ス板に偏光膜を貼った下の偏光板を設け、さらにその上
方に成形品を配置する空間を隔てて、該下の偏光板とは
その偏光が９０°異なるようにした上の偏光板を配設し
た装置である。
は、箱型容器の底部に蛍光燈を設置し、その上方にガラ
ス板に偏光膜を貼った下の偏光板を設け、さらにその上
方に成形品を配置する空間を隔てて、該下の偏光板とは
その偏光が９０°異なるようにした上の偏光板を配設し
た装置である。
【０００３】また、上記装置を用いず、二枚の偏光板の
偏光が互いに直交するようにしてそれらの間に成形品を
挟み工場の天井にある照明等にかざして検査することも
あった。
偏光が互いに直交するようにしてそれらの間に成形品を
挟み工場の天井にある照明等にかざして検査することも
あった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の装置は形状
が大きく、設置するための机等が必要になるので、狭く
煩雑な成形現場で使用するのは不便であった。また手で
偏光板と成形品を保持して照明にかざす方法では不安定
であり、光が弱いうえ成形品全面の観測はしにくく、手
の保持力や体温の影響がある等多くの課題を有する。
が大きく、設置するための机等が必要になるので、狭く
煩雑な成形現場で使用するのは不便であった。また手で
偏光板と成形品を保持して照明にかざす方法では不安定
であり、光が弱いうえ成形品全面の観測はしにくく、手
の保持力や体温の影響がある等多くの課題を有する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】そこで、射出成形機の制
御装置の設定により表示器を全面高輝度の表示画面に
し、該画面を光源として偏光が互いに直交する二枚の偏
光板に挟持した成形品を観測することによって、該成形
品の残留応力を検査するようにし、さらに好ましくは、
前記表示器の前面周辺に偏光板もしくは偏光板と成形品
を収容し保持する案内を設けたのである。
御装置の設定により表示器を全面高輝度の表示画面に
し、該画面を光源として偏光が互いに直交する二枚の偏
光板に挟持した成形品を観測することによって、該成形
品の残留応力を検査するようにし、さらに好ましくは、
前記表示器の前面周辺に偏光板もしくは偏光板と成形品
を収容し保持する案内を設けたのである。
【０００６】
【発明の実施の形態】図面に基づいて本発明の実施の形
態を詳細に説明する。図１は横形射出成形機の要部の正
面図である。図２は図１における射出成形機の型締装置
１を射出装置１１方向から見た断面図である。図３は射
出成形機の制御装置１６のブロック図である。
態を詳細に説明する。図１は横形射出成形機の要部の正
面図である。図２は図１における射出成形機の型締装置
１を射出装置１１方向から見た断面図である。図３は射
出成形機の制御装置１６のブロック図である。
【０００７】射出成形機は架台１３に型締装置１と射出
装置１１を載置し、架台１３等に制御装置１６を収納し
てなる。型締装置１は金型４を取付けた固定盤５と可動
盤３および可動盤３が固定盤５に近接移動するとき金型
４への接近を阻止する安全扉２からなる。射出装置１１
は加熱筒１２等からなり、加熱筒１２に回転・往復動可
能に嵌挿したスクリュと協働して原料樹脂を可塑化し溶
融樹脂とし、それを金型４で形成されるキャビティに射
出充填する。制御装置１６の一部である操作盤６は本実
施例では固定盤５の側面に配設して示したが、操作性や
射出成形機の形状・サイズに応じて、例えば、架台側面
や内部、射出装置側面、あるいは架台と分離した独立の
筐体に配設する等の様々な設置形態がある。操作盤６に
は表示部２０の一部である表示器７、設定部１９の一部
である設定器８、操作部１８の一部である操作器９を収
納し、マンマシーンインターフェイスとしている。
装置１１を載置し、架台１３等に制御装置１６を収納し
てなる。型締装置１は金型４を取付けた固定盤５と可動
盤３および可動盤３が固定盤５に近接移動するとき金型
４への接近を阻止する安全扉２からなる。射出装置１１
は加熱筒１２等からなり、加熱筒１２に回転・往復動可
能に嵌挿したスクリュと協働して原料樹脂を可塑化し溶
融樹脂とし、それを金型４で形成されるキャビティに射
出充填する。制御装置１６の一部である操作盤６は本実
施例では固定盤５の側面に配設して示したが、操作性や
射出成形機の形状・サイズに応じて、例えば、架台側面
や内部、射出装置側面、あるいは架台と分離した独立の
筐体に配設する等の様々な設置形態がある。操作盤６に
は表示部２０の一部である表示器７、設定部１９の一部
である設定器８、操作部１８の一部である操作器９を収
納し、マンマシーンインターフェイスとしている。
【０００８】制御装置１６はマイクロプロセッサからな
り、図３のブロック図で簡略に示す。１７はシーケンス
制御、プロセス制御、画面制御、温度制御等を記憶部２
１に格納したプログラムに従って演算処理するCPUであ
る。操作部１８は射出成形機の運転制御のために作業者
が直に操作する切換スイッチや押しボタンスイッチ等を
接続する。設定部１９は射出速度、射出圧力、計量位
置、金型位置等の成形条件を設定し、表示部２０との対
話形式によって最良の成形条件を生成する。表示部２０
はCRTや液晶パネル等の表示器７、図示しないランプ、
発光ダイオード等からなり、設定値、実測値、メッセー
ジ等を表示する。入力部２２は各アクチュエータの位
置、圧力、速度等の検出器の信号を入力する。出力部２
３は油圧制御弁あるいは、サーボモータ等への制御電流
を出力する。
り、図３のブロック図で簡略に示す。１７はシーケンス
制御、プロセス制御、画面制御、温度制御等を記憶部２
１に格納したプログラムに従って演算処理するCPUであ
る。操作部１８は射出成形機の運転制御のために作業者
が直に操作する切換スイッチや押しボタンスイッチ等を
接続する。設定部１９は射出速度、射出圧力、計量位
置、金型位置等の成形条件を設定し、表示部２０との対
話形式によって最良の成形条件を生成する。表示部２０
はCRTや液晶パネル等の表示器７、図示しないランプ、
発光ダイオード等からなり、設定値、実測値、メッセー
ジ等を表示する。入力部２２は各アクチュエータの位
置、圧力、速度等の検出器の信号を入力する。出力部２
３は油圧制御弁あるいは、サーボモータ等への制御電流
を出力する。
【０００９】残留応力が問題となる透明の光学成形品、
特にはCD、DVD等のディスク基板を成形する場合、設定
器８で成形条件を修正して成形した成形品１４は、直ち
に検査してその結果を確認する必要がある。本発明で
は、一成形工程が終了して金型４が開放した後、図示し
ない取出し装置かまたは図示のごとく安全扉２を開けて
手によって成形品１４を取出し、二枚の偏光板の偏光が
互いに直交するようにしてそれらの間に成形品を挟み表
示器７にかざして成形品１４の残留応力を検査する。
特にはCD、DVD等のディスク基板を成形する場合、設定
器８で成形条件を修正して成形した成形品１４は、直ち
に検査してその結果を確認する必要がある。本発明で
は、一成形工程が終了して金型４が開放した後、図示し
ない取出し装置かまたは図示のごとく安全扉２を開けて
手によって成形品１４を取出し、二枚の偏光板の偏光が
互いに直交するようにしてそれらの間に成形品を挟み表
示器７にかざして成形品１４の残留応力を検査する。
【００１０】このとき、表示器７の表示画面は全面が高
輝度であることが好ましいので、出来る限り表示文字や
図形が少なく、背景が白色である画面を設定器８で選択
する。あるいは、設定器８に専用の押しボタンスイッチ
を設けて、背景が白色高輝度の無表示画面が出るように
記憶部２１にデータを格納しておく。
輝度であることが好ましいので、出来る限り表示文字や
図形が少なく、背景が白色である画面を設定器８で選択
する。あるいは、設定器８に専用の押しボタンスイッチ
を設けて、背景が白色高輝度の無表示画面が出るように
記憶部２１にデータを格納しておく。
【００１１】１０は表示器７の前面周辺に位置するよう
に操作盤６に設けた案内であり、表示器７の上下に設け
たが左右と下に設けてもよい。案内１０は断面L字状の
合成樹脂製部材が好適に用いられる。案内１０の開放部
から、偏光が互いに直交する偏光板１５、１５およびそ
れらの間にスプルを分離した成形品１４を挿入する。成
形品１４が案内１０の偏光板１５の間に収納できないと
きは、偏光板１５の一枚のみを案内１０に収め、成形品
１４と他の偏光板１５は手で保持して観測することにな
る。偏光板１５は、偏光膜を透明樹脂板かガラス板に貼
付したものである。案内１０の高さは成形品１４がディ
スク基板であれば、１０ｍｍ程度である。
に操作盤６に設けた案内であり、表示器７の上下に設け
たが左右と下に設けてもよい。案内１０は断面L字状の
合成樹脂製部材が好適に用いられる。案内１０の開放部
から、偏光が互いに直交する偏光板１５、１５およびそ
れらの間にスプルを分離した成形品１４を挿入する。成
形品１４が案内１０の偏光板１５の間に収納できないと
きは、偏光板１５の一枚のみを案内１０に収め、成形品
１４と他の偏光板１５は手で保持して観測することにな
る。偏光板１５は、偏光膜を透明樹脂板かガラス板に貼
付したものである。案内１０の高さは成形品１４がディ
スク基板であれば、１０ｍｍ程度である。
【００１２】ここで本発明の偏光板による残留応力の観
測方式を説明する。一方の偏光板で偏光された光を成形
品に透過させ、透過した光を一方の偏光板とは偏光が９
０°異なる他方の偏光板に入射させる。このとき成形品
に残留応力（複屈折）が皆無であれば偏光は他方の偏光
板を透過しないので、成形品は全面が暗く見える。しか
し、残留応力があると、その部分は光学的に異方性を呈
し他方の偏光板を一部の光が透過するようになる。この
光量は、残留応力が高い程すなわち異方性が多い程多く
なるので、観測する成形品の残留応力に応じてその部分
が明るく見えるのである。
測方式を説明する。一方の偏光板で偏光された光を成形
品に透過させ、透過した光を一方の偏光板とは偏光が９
０°異なる他方の偏光板に入射させる。このとき成形品
に残留応力（複屈折）が皆無であれば偏光は他方の偏光
板を透過しないので、成形品は全面が暗く見える。しか
し、残留応力があると、その部分は光学的に異方性を呈
し他方の偏光板を一部の光が透過するようになる。この
光量は、残留応力が高い程すなわち異方性が多い程多く
なるので、観測する成形品の残留応力に応じてその部分
が明るく見えるのである。
【００１３】
【発明の効果】上記のように構成したので、残留応力が
問題となる透明の光学成形品の成形作業時に、残留応力
の検査が極めて容易に実施でき、成形条件の確立や確認
に要する時間と労力を節減することが出来る。
問題となる透明の光学成形品の成形作業時に、残留応力
の検査が極めて容易に実施でき、成形条件の確立や確認
に要する時間と労力を節減することが出来る。
【図１】横形射出成形機の要部の正面図である。
【図２】図１における射出成形機の型締装置１を射出装
置１１方向から見た断面図である。
置１１方向から見た断面図である。
【図３】射出成形機の制御装置１６のブロック図であ
る。
る。
１ ……… 型締装置 ２ ……… 安全扉 ３ ……… 可動盤 ４ ……… 金型 ５ ……… 固定盤 ６ ……… 操作盤 ７ ……… 表示器 ８ ……… 設定器 ９ ……… 操作器 １０ …… 案内 １１ …… 射出装置 １２ …… 加熱筒 １３ …… 架台 １４ …… 成形品 １５ …… 偏光板 １６ …… 制御装置
Claims (3)
- 【請求項１】 制御装置の設定により表示器を全面高輝
度の表示画面にし、該画面を光源として偏光が互いに直
交する二枚の偏光板に挟持した成形品を観測することに
よって、該成形品の残留応力を検査する方法。 - 【請求項２】 制御装置の設定により全面高輝度の表示
画面を生成する表示器と、偏光が互いに直交する二枚の
偏光板によって構成してなり、該二枚の偏光板に挟持し
た成形品の残留応力を検査する検査装置を備えた射出成
形機。 - 【請求項３】 前記表示器の前面周辺に偏光板もしくは
偏光板と成形品を収容し保持する案内を設けたことを特
徴とする請求項２に記載の検査装置を備えた射出成形
機。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11012613A JP2000211004A (ja) | 1999-01-21 | 1999-01-21 | 成形品の検査方法とその検査装置を備えた射出成形機 |
| TW088119534A TW440515B (en) | 1999-01-21 | 1999-11-09 | Method for inspecting molded article and injection molding machine provided with inspection device thereof |
| US09/487,346 US6404496B1 (en) | 1999-01-21 | 2000-01-19 | Inspection of molded discs with polarizers and display screen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11012613A JP2000211004A (ja) | 1999-01-21 | 1999-01-21 | 成形品の検査方法とその検査装置を備えた射出成形機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000211004A true JP2000211004A (ja) | 2000-08-02 |
Family
ID=11810236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11012613A Pending JP2000211004A (ja) | 1999-01-21 | 1999-01-21 | 成形品の検査方法とその検査装置を備えた射出成形機 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6404496B1 (ja) |
| JP (1) | JP2000211004A (ja) |
| TW (1) | TW440515B (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1605241A1 (fr) * | 2004-06-09 | 2005-12-14 | Automation & Robotics | Appareil pour le controle des pièces transparentes ou réflechissantes |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3963348A (en) * | 1972-07-14 | 1976-06-15 | Yamamura Glass Kabushiki Kaisha | Device for detecting strain and foreign matters in glass container by a non-storage type pickup tube |
| US4332474A (en) * | 1980-06-11 | 1982-06-01 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Method and apparatus for testing the orientation of crystal plates |
| JP2002513463A (ja) * | 1996-06-04 | 2002-05-08 | イネックス・インコーポレイテッド・ドゥーイング・ビジネス・アズ・イネックス・ビジョン・システムズ・インコーポレイテッド | 成形容器内の応力検出システムおよび方法 |
-
1999
- 1999-01-21 JP JP11012613A patent/JP2000211004A/ja active Pending
- 1999-11-09 TW TW088119534A patent/TW440515B/zh not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-01-19 US US09/487,346 patent/US6404496B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW440515B (en) | 2001-06-16 |
| US6404496B1 (en) | 2002-06-11 |
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