JP2000206164A - Method and device for analyzing electromagnetic field - Google Patents

Method and device for analyzing electromagnetic field

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JP2000206164A
JP2000206164A JP11003055A JP305599A JP2000206164A JP 2000206164 A JP2000206164 A JP 2000206164A JP 11003055 A JP11003055 A JP 11003055A JP 305599 A JP305599 A JP 305599A JP 2000206164 A JP2000206164 A JP 2000206164A
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JP
Japan
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electromagnetic field
forced current
conductor
forced
current density
Prior art date
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Pending
Application number
JP11003055A
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Japanese (ja)
Inventor
Koji Maki
牧  晃司
Kenji Miyata
健治 宮田
Eiji Fukumoto
英士 福本
Akiyoshi Komura
昭義 小村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the time and labor necessary for preparing input data by analyzing the electromagnetic field of whole object region of analysis through the use of the distribution of forced current density vectors obtained for element groups constituting conductors. SOLUTION: The distribution of forced current density vectors is obtained for element groups constituting conductors. The electromagnetic field of whole object region of analysis is analyzed through the use of the vector distribution. The distribution of forced current density vectors is data for specifying the directions of flow of forced current through conductors, and directional vectors in which an angle θ formed with any of the direction of flow of forced current, the direction of a magnetic field generated by the forced current, or the direction of the forced current from its inflow surface to outflow surface on the surfaces of the conductors is an acute angle (0 deg.<=θ<=90 deg.) are used. By this constitution, as a small number of pieces of input data on the forced current flowing through the conductors is sufficient, it is possible to perform efficient analysis on a magnetic field which occurs in apparatus with a complicated conductor structure using electromagnetic phenomena.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、トランス、リアク
トル、モータ、発電機等の電磁気現象を利用した電気・
電子機器を設計するために有用な電磁場解析方法及びそ
の装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electric / electric device utilizing electromagnetic phenomena such as a transformer, a reactor, a motor and a generator.
The present invention relates to an electromagnetic field analysis method and apparatus useful for designing electronic equipment.

【0002】[0002]

【従来の技術】強制電流が流れる導線を含む領域の電磁
場解析を行うとき、導線中の強制電流密度ベクトルは、
解析の初期条件として直接入力するか、解析の初期段階
で計算して求めておかなくてはならない量である。任意
形状の導線を構成する各要素における強制電流密度ベク
トルを、すべて初期条件として直接入力するのは非常に
困難である。
2. Description of the Related Art When an electromagnetic field analysis is performed on a region including a conductor through which a forced current flows, a forced current density vector in the conductor is expressed by:
This is the amount that must be entered directly as an initial condition for the analysis or calculated and calculated at the initial stage of the analysis. It is very difficult to directly input all of the forced current density vectors of the elements constituting the conductor of an arbitrary shape as initial conditions.

【0003】そこで従来は、電流ベクトルポテンシャル
(例えば河瀬順洋・伊藤昭吉 共著「最新三次元有限要
素法による電気・電子機器の実用解析」 森北出版 199
7)や電位(特開平6−123752号公報)を未知変数として
連立方程式を解き、それを用いて強制電流密度ベクトル
分布を求めることが行われてきた。
[0003] Conventionally, therefore, the current vector potential (for example, “Practical analysis of electric and electronic equipment by the latest three-dimensional finite element method”, written by Junyo Kawase and Shokichi Ito) Morikita Publishing 199
7) and simultaneous potential equations (JP-A-6-123752) are used as unknown variables to solve simultaneous equations, and the resulting equations are used to obtain a forced current density vector distribution.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の技
術では、強制電流密度ベクトル分布を計算で求める際の
初期条件として、所定の導線表面(強制電流の流入面や
流出面、あるいはそれ以外の側面など)を、位置座標や
節点番号・面番号などの要素データで指定しなければな
らない。上記の工程は、導線を構成する要素数が多い場
合、あるいは導線の形状が複雑な場合には、非常に手間
のかかる作業となる。
However, in the prior art, a predetermined conductor surface (an inflow surface or an outflow surface of a forced current or another side surface) is determined as an initial condition for calculating a forced current density vector distribution. ) Must be specified by element data such as position coordinates, node numbers and surface numbers. The above process is a very laborious operation when the number of elements constituting the conductor is large or when the shape of the conductor is complicated.

【0005】このように従来の技術では、強制電流が流
れる導線を含む解析対象領域の電磁場解析を行う際に必
要な入力データの作成が非常に煩雑であり、それが大規
模な電磁場解析を行う上での障害のひとつになってい
た。
As described above, according to the conventional technique, it is very complicated to create input data necessary for performing an electromagnetic field analysis of an analysis target area including a conducting wire through which a forced current flows, and it performs a large-scale electromagnetic field analysis. Was one of the obstacles above.

【0006】そこで本発明の目的は、任意形状の導線を
含む解析対象領域の電磁場解析において、比較的容易に
与えることのできる少数のデータを入力するだけで、解
析に必要な強制電流密度ベクトル分布を得られるような
電磁場解析方法、およびその方法を実施する電磁場解析
装置を提供することである。
Accordingly, an object of the present invention is to provide an electromagnetic field analysis of an analysis target area including a conductor having an arbitrary shape, by inputting a small number of data which can be given relatively easily, and forcing a forced current density vector distribution necessary for the analysis. To provide an electromagnetic field analysis method and an electromagnetic field analysis apparatus for performing the method.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、計算機を用いた強制電流が流れる導線を含
む解析対象領域の電磁場を解析する方法および装置にお
いて、前記導線を構成する要素群での強制電流密度ベク
トル分布を求める手段と、前記求められた強制電流密度
ベクトル分布を用いて前記解析対象領域全体の電磁場を
解析する手段とを備え、前記強制電流密度ベクトル分布
を、前記強制電流が前記導線中を流れる向きを特定する
ためのデータの入力を受け付け、該受け付けたデータに
よって特定された前記強制電流の流れの向きを用いて算
出する。
According to the present invention, there is provided a method and apparatus for analyzing an electromagnetic field in a region to be analyzed including a conductor through which a forced current flows using a computer. Means for obtaining a forced current density vector distribution in the group, and means for analyzing the electromagnetic field of the entire analysis target area using the obtained forced current density vector distribution, wherein the forced current density vector distribution is An input of data for specifying a direction in which a current flows through the conductor is received, and calculation is performed using a direction of the flow of the forced current specified by the received data.

【0008】ここで、前記強制電流が前記導線中を流れ
る向きを特定するためのデータは、例えば、前記強制電
流が流れ得る複数の向きのうちの1つを選択するための
データである。
Here, the data for specifying the direction in which the forced current flows in the conductor is, for example, data for selecting one of a plurality of directions in which the forced current can flow.

【0009】また、前記強制電流が前記導線中を流れる
向きを特定するためのデータとしては、前記強制電流が
流れる向き、前記強制電流が発生させる磁場の向き、お
よび前記導線表面上にある前記強制電流の流入面から流
出面へ向かう向きのうちのいずれかとのなす角θが鋭角
(0°≦θ<90°)である方向ベクトルを用いる構成と
してもよい。
The data for specifying the direction in which the forcible current flows through the conductive wire include the direction in which the forcible current flows, the direction of the magnetic field generated by the forcible current, and the force on the surface of the conductive wire. It is also possible to use a direction vector in which the angle θ between the current inflow surface and the outflow surface is an acute angle (0 ° ≦ θ <90 °).

【0010】また、前記強制電流の絶対値を、前記導線
中における前記強制電流の流れる向きを指定するための
方向ベクトルのノルムとして入力してもよい。
[0010] The absolute value of the forced current may be input as a norm of a direction vector for designating a direction in which the forced current flows in the conductor.

【0011】また、前記強制電流が前記導線中を流れる
向きを特定するためのデータとしては、前記強制電流が
発生させる磁場の向きを指定するための方向ベクトルを
入力する場合には、前記導線の略重心位置に発生する磁
場の向きに対応する方向ベクトルを入力することが好ま
しい。
In the case where a direction vector for designating a direction of a magnetic field generated by the forced current is input as data for specifying a direction in which the forcible current flows through the conductor, It is preferable to input a direction vector corresponding to the direction of the magnetic field generated substantially at the position of the center of gravity.

【0012】また、上記発明において、解析対象領域全
体の電磁場解析を開始する前に、強制電流密度ベクトル
分布を表示装置に表示させる構成としてもよい。また、
表示された強制電流密度ベクトル分布に対し、任意の導
線を指定し、指定した導線においてのみベクトルの向き
を反転させ、それを用いて解析対象領域全体の電磁場解
析を行う構成としてもよい。さらにまた、強制電流密度
ベクトル分布を求める前に強制電流の流れる向きを指定
しなかった場合、その流れの向きを予め設定した手順に
従って仮定した上で強制電流密度ベクトル分布を求め、
表示装置に表示させる構成としてもよい。
Further, in the above invention, a configuration may be adopted in which a forced current density vector distribution is displayed on a display device before starting the electromagnetic field analysis of the entire analysis target area. Also,
An arbitrary conductor may be designated for the displayed forced current density vector distribution, the direction of the vector is inverted only in the designated conductor, and the electromagnetic field analysis of the entire analysis target area may be performed using the designated conductor. Furthermore, if the direction of the forced current flow is not specified before obtaining the forced current density vector distribution, the forced current density vector distribution is obtained by assuming the direction of the flow according to a preset procedure,
It may be configured to display on a display device.

【0013】また、上記目的を達成するために本発明
は、計算機を用いた強制電流が流れる導線を含む解析対
象領域の電磁場を解析する方法および装置において、前
記導線を構成する要素群での強制電流密度ベクトル分布
を求める手段と、前記求められた強制電流密度ベクトル
分布を用いて前記解析対象領域全体の電磁場を解析する
手段とを備え、前記強制電流密度ベクトル分布を求める
手段では、前記強制電流の向きおよび前記強制電流密度
ベクトルの向きのうち一方について、予め初期値を設定
しておき、該予め設定した初期値を表示装置に表示さ
せ、前記初期値を変更すべき部分に対応する部分を特定
するための選択命令を受け付け、前記選択された部分に
ついて設定されている初期値が示す向きを、該部分を流
れる強制電流が取り得る他の向きに変更し、前記変更さ
れた強制電流の流れる向きを用いて、前記強制電流密度
ベクトルを再計算する。
According to another aspect of the present invention, there is provided a method and apparatus for analyzing an electromagnetic field in a region to be analyzed including a conductor through which a forced current flows using a computer. Means for determining a current density vector distribution, and means for analyzing the electromagnetic field of the entire analysis target area using the determined forced current density vector distribution, wherein the means for determining the forced current density vector distribution comprises: , And one of the directions of the forced current density vector, an initial value is set in advance, the preset initial value is displayed on a display device, and a portion corresponding to the portion where the initial value is to be changed is set. A selection command for specifying is received, and the direction indicated by the initial value set for the selected part can be determined by the forced current flowing through the part. Change in other orientations, with the direction of flow of the modified forced current, recalculating the forced current density vector.

【0014】また、上述した本発明による電磁場解析方
法において、前記導線を永久磁石とみなし、前記強制電
流密度ベクトルを磁化ベクトルとみなすことで、該永久
磁石内の磁化ベクトル分布を求める構成としてもよい。
In the above-described electromagnetic field analysis method according to the present invention, the conductive wire may be regarded as a permanent magnet, and the forcible current density vector may be regarded as a magnetization vector, thereby obtaining a magnetization vector distribution in the permanent magnet. .

【0015】また、上記目的を達成するために本発明に
よる記憶媒体では、上述した本発明による電磁場解析方
法を計算機で実行させるためのプログラムを記憶する。
In order to achieve the above object, a storage medium according to the present invention stores a program for causing a computer to execute the above-described electromagnetic field analysis method according to the present invention.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態につい
て図面を参照して説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0017】本発明による電磁場解析の一実施形態で
は、図1に示すような特徴的手順を少なくとも含む処理
を実施する。
In one embodiment of the electromagnetic field analysis according to the present invention, a process including at least a characteristic procedure as shown in FIG. 1 is performed.

【0018】すなわち、最初、導線を構成する要素群を
指定するのに加えて、各導線中を流れる強制電流の絶対
値、及び各導線中における強制電流の流れる向きを指定
するための方向ベクトルを入力データとして与える(ス
テップS101)。ここで、前記強制電流の絶対値は、前
記方向ベクトルのノルムとして与えてもよい。
That is, first, in addition to designating an element group constituting a conductor, an absolute value of a forced current flowing in each conductor and a direction vector for designating a direction of the forced current flowing in each conductor are defined. It is given as input data (step S101). Here, the absolute value of the forced current may be given as a norm of the direction vector.

【0019】これらを入力した後は、従来と同様に電流
ベクトルポテンシャルや電位などを未知変数とした連立
方程式を解き(ステップS102)、それを用いて導線を
構成する各要素における強制電流密度ベクトルを求める
(ステップS103)。そして得られた強制電流密度ベク
トルを用いて解析対象領域全体の電磁場解析を行う(ス
テップS104)。
After inputting these, as in the conventional case, a simultaneous equation using the current vector potential and the potential as unknown variables is solved (step S102), and the forced current density vector in each element constituting the conductor is calculated using the equation. It is determined (step S103). Then, an electromagnetic field analysis of the entire analysis target area is performed using the obtained forced current density vector (step S104).

【0020】このように本実施形態の解析処理では、所
定の導線表面(強制電流の流入面や流出面、あるいはそ
れ以外の側面など)を入力データで指定する必要がない
ので、従来と比べ入力データ作成に要する時間・労力を
大幅に削減できる。
As described above, in the analysis processing of the present embodiment, it is not necessary to designate a predetermined conductor surface (inflow surface or outflow surface of the forced current or other side surface) by input data. The time and effort required for data creation can be greatly reduced.

【0021】なお本実施形態の解析処理は、導線中の強
制電流密度ベクトル分布を求める場合だけでなく、永久
磁石内の磁化ベクトル分布を求める場合にも同様に適用
が可能である。
The analysis processing of the present embodiment can be applied not only to the case of obtaining the forced current density vector distribution in the conductor, but also to the case of obtaining the magnetization vector distribution in the permanent magnet.

【0022】図2に、本発明による解析装置の構成例を
示す。本例では計算機を利用して解析装置を実現する場
合について説明する。20は、電磁場解析に必要なデータ
を入力する、キーボードなどの入力装置である。入力デ
ータは、図示しない入出力ポートを介してコンピュータ
21に供給される。コンピュータ21は、以下に説明する電
磁場解析方法を実行するための演算プログラムが格納さ
れたROM、そのプログラムにしたがって演算を行うCPU、
演算結果を記憶するRAMを内蔵しており、RAMに格納され
た演算結果を表示手段のCRT22に供給して表示する構成
である。
FIG. 2 shows an example of the configuration of an analyzer according to the present invention. In this example, a case will be described in which an analysis device is realized using a computer. Reference numeral 20 denotes an input device such as a keyboard for inputting data required for electromagnetic field analysis. Input data is sent to a computer via an input / output port (not shown).
Supplied to 21. The computer 21 has a ROM in which an arithmetic program for executing the electromagnetic field analysis method described below is stored, a CPU that performs arithmetic in accordance with the program,
In this configuration, a RAM for storing the calculation results is provided, and the calculation results stored in the RAM are supplied to the CRT 22 of the display means and displayed.

【0023】なお、記憶媒体に予め上記演算プログラム
を記録しておき、電磁場解析処理を実行する際には、演
算プログラムを記憶媒体から読み出してCPUに実行さ
せる構成としてもよい。
The above-mentioned arithmetic program may be recorded in a storage medium in advance, and when performing the electromagnetic field analysis processing, the arithmetic program may be read from the storage medium and executed by the CPU.

【0024】次に、上記図2に示した構成の解析装置に
よる電磁場解析処理の一例を図3を参照して説明する。
Next, an example of an electromagnetic field analysis process performed by the analyzer having the configuration shown in FIG. 2 will be described with reference to FIG.

【0025】まず、ステップS1で初期化を行った後、ス
テップS2で各種データを入力する。ここで入力するデー
タは、解析対象領域を分割した要素の節点座標データ、
各部の透磁率や導電率といった物性データ、解析対象領
域の境界条件データなどである。さらにここでは、本発
明の対象である、導線に流れる強制電流密度ベクトルを
計算するのに必要なデータとして、制御電流の向きを設
定するために必要なデータを入力する。具体的な入力方
法については、図4〜図9を参照して後述する。
First, after initialization is performed in step S1, various data are input in step S2. The data entered here is the nodal coordinate data of the elements obtained by dividing the analysis target area,
The data includes physical property data such as magnetic permeability and electrical conductivity of each part, and boundary condition data of an analysis target area. Further, here, data necessary for setting the direction of the control current is input as data required for calculating the forced current density vector flowing through the conductor, which is the subject of the present invention. A specific input method will be described later with reference to FIGS.

【0026】次に、辺要素有限要素法を用いた電磁場の
計算のために、ステップS3において、解析対象領域の各
要素の辺上に未知変数を設定する。本例では、磁気ベク
トルポテンシャルを未知変数に選ぶ。
Next, in order to calculate the electromagnetic field using the edge element finite element method, in step S3, unknown variables are set on the sides of each element in the analysis target area. In this example, the magnetic vector potential is selected as an unknown variable.

【0027】次にステップS4において、導線に流れる強
制電流密度ベクトルを求めるために、導線部分の各辺に
未知変数として電流ベクトルポテンシャルを設定する。
Next, in step S4, a current vector potential is set as an unknown variable on each side of the conductor portion in order to obtain a forced current density vector flowing through the conductor.

【0028】次にステップS5において、電流ベクトルポ
テンシャルが満たすべき方程式から、導線部分の要素毎
に連立方程式を構成する。
Next, in step S5, a simultaneous equation is formed for each element of the conductor portion from the equation to be satisfied by the current vector potential.

【0029】次にステップS6において、これらの連立方
程式を導線部分の全要素について足し合わせ、解くべき
全体連立方程式を構成する。
Next, in step S6, these simultaneous equations are added for all elements of the conductor portion to form an overall simultaneous equation to be solved.

【0030】次にステップS7において、この全体連立方
程式を、反復法の一つであるPCG(Preconditioned Conj
ugate Gradient)法を用いて解き、導線部分の各辺にお
ける電流ベクトルポテンシャルを求める。そしてそれを
メモリに記憶させておく。なお上述した全体連立方程式
を他の手法によって解いてもよい。
Next, in step S7, this system of simultaneous equations is converted into a PCG (Preconditioned Conj
ugate Gradient) to find the current vector potential on each side of the conductor. Then, it is stored in the memory. The above simultaneous equations may be solved by another method.

【0031】次に、辺要素有限要素法を用いて解析対象
領域全体における電磁場の計算を行う。
Next, the electromagnetic field in the entire analysis target area is calculated using the edge element finite element method.

【0032】まずステップS8において、先にメモリに記
憶させておいた導線部分の各辺における電流ベクトルポ
テンシャルを用いて、導線部分の各要素における積分点
での強制電流密度ベクトルの値を求める。
First, in step S8, the value of the forced current density vector at the integration point in each element of the conductive wire portion is determined using the current vector potential on each side of the conductive wire portion previously stored in the memory.

【0033】次にステップS9において、上記ステップS8
で求めた導線部分の各要素における積分点での強制電流
密度ベクトルの値を用いて、先に設定した未知変数(こ
こでは磁気ベクトルポテンシャル)に関する各要素での
連立方程式を構成する。
Next, in step S9, the above-mentioned step S8
Using the value of the forced current density vector at the integration point in each element of the conductor portion obtained in the above, a simultaneous equation is formed for each element relating to the previously set unknown variable (here, magnetic vector potential).

【0034】次にステップS10において、これらの連立
方程式を解析対象領域の全要素について足し合わせ、解
くべき全体連立方程式を構成する。
Next, in step S10, these simultaneous equations are added for all elements in the analysis target area to form an overall simultaneous equation to be solved.

【0035】次にステップS11において、この全体連立
方程式を、反復法の一つであるICCG(Incomplete Chole
sky Conjugate Gradient)法を用いて解き、解析対象領
域の各辺における未知変数の値を求める。なお上述した
全体連立方程式を他の手法によって解いてもよい。
Next, in step S11, this system of simultaneous equations is converted into an ICCG (Incomplete Chole) which is one of the iterative methods.
Solve using the Sky Conjugate Gradient) method to find the value of the unknown variable on each side of the analysis target area. The above simultaneous equations may be solved by another method.

【0036】次にステップS12において、上記ステップS
11で求められた未知変数の値から、所望の電磁気量、例
えば磁束密度の値を求める。
Next, in step S12, the above step S
A desired electromagnetic quantity, for example, a value of a magnetic flux density is obtained from the value of the unknown variable obtained in 11.

【0037】次にステップS13において、求めた電磁気
量の分布データを出力し、処理を終了する。
Next, in step S13, the obtained distribution data of the electromagnetic quantity is output, and the processing is terminated.

【0038】なお、導線中の強制電流密度ベクトル分布
を求める際の未知変数として、電流ベクトルポテンシャ
ルの代わりに電位を用いてもよい。また、以上に説明し
た処理は線形静磁場解析の場合であるが、本発明は非線
形静磁場解析や渦電流解析の場合でも適用できる。
It should be noted that a potential may be used instead of the current vector potential as an unknown variable when obtaining the forced current density vector distribution in the conductor. Further, the processing described above is for the case of linear static magnetic field analysis, but the present invention can also be applied to the case of nonlinear static magnetic field analysis or eddy current analysis.

【0039】次に、上記解析処理により実際に計算を行
った場合の具体例を説明する。
Next, a specific example in the case where the calculation is actually performed by the above analysis processing will be described.

【0040】(第1の例)本例で用いる強制電流データ
入力方法の概念図を図4に示す。図4(a)は解析対象領
域内で閉じている環状導線の場合、図4(b)は強制電流
の流入面と流出面のみが解析対象領域境界面上に現れて
いて、かつそれらが互いに分離しているような線状導線
の場合である。
(First Example) FIG. 4 shows a conceptual diagram of a forced current data input method used in this example. Fig. 4 (a) shows the case of an annular conductor closed in the analysis area, and Fig. 4 (b) shows only the inflow and outflow faces of the forced current appearing on the boundary of the analysis area, and they are mutually separated. This is the case of linear conductors that are separated.

【0041】本例の方法では、入力データとして、導線
10を構成する要素群を指定するのに加えて、導線10に流
れる強制電流11の絶対値、及び強制電流11が所定部位12
に発生させる磁場の向き13を特定するための方向ベクト
ル(不図示)を与える。ここで、方向ベクトルは、特定
しようとする磁場の向き13の概略方向を示すことができ
れば良く、例えば磁場の向き13とのなす角θが鋭角(0
°≦θ<90°)となるようなベクトルを与える。所定部
位12としては、導線のほぼ重心位置を取る。
In the method of the present embodiment, a lead wire is used as input data.
In addition to designating the element group that constitutes 10, the absolute value of the forced current 11 flowing through the conductor 10 and the forced current 11
A direction vector (not shown) for specifying the direction 13 of the magnetic field to be generated is given. Here, the direction vector only needs to indicate the general direction of the direction 13 of the magnetic field to be specified. For example, the angle θ formed with the direction 13 of the magnetic field is an acute angle (0
(° ≦ θ <90 °). As the predetermined portion 12, the position of the center of gravity of the conducting wire is substantially taken.

【0042】図5に本例で用いた要素分割図を示す。そ
して上記方法に従い、導線10に流れる強制電流11の絶対
値(例えば1A)、及びこの強制電流11が導線のほぼ重心
位置(環の中心)12に発生させる磁場の向き13と鋭角を
なす方向ベクトル(例えばn=(1,0,0))を入力データと
して与える。
FIG. 5 shows an element division diagram used in this embodiment. According to the above method, the absolute value (for example, 1 A) of the forced current 11 flowing through the conductor 10 and the direction vector which forms an acute angle with the direction 13 of the magnetic field generated at the center of gravity (center of the ring) 12 of the conductor by this forced current 11 (For example, n = (1,0,0)) is given as input data.

【0043】そしてそれらに基づいて電流ベクトルポテ
ンシャルを未知変数とした連立方程式を解き、それを用
いて導線の各要素における強制電流密度ベクトルを求め
る。図6にこうして得られた強制電流密度ベクトル分布
を示す。
Then, based on them, a simultaneous equation using the current vector potential as an unknown variable is solved, and the forced current density vector in each element of the conducting wire is obtained using the solution. FIG. 6 shows the forced current density vector distribution thus obtained.

【0044】このように本例の解析処理によれば、導体
表面を指定する位置座標や節点番号・面番号などを何ら
与えることなく、解析に必要な強制電流密度ベクトル分
布を得ることができ、効率的に電磁場解析を行うことが
可能となる。
As described above, according to the analysis processing of the present embodiment, the forced current density vector distribution required for the analysis can be obtained without giving any position coordinates, node numbers, and surface numbers for designating the conductor surface. Electromagnetic field analysis can be performed efficiently.

【0045】特に本例で用いたデータ入力方法は、解析
対象領域内で閉じている環状導線にも適用できるという
効果がある。
In particular, the data input method used in the present embodiment has an effect that it can be applied to an annular conductor closed in the analysis target area.

【0046】(第2の例)本例で用いる強制電流データ
入力方法の概念図を図7に示す。本方法では、入力デー
タとして、導線10を構成する要素群を指定するのに加え
て、導線10に流れる強制電流11の絶対値、及び強制電流
11の流入面14から流出面15へ向かう向き16を特定するた
めの方向ベクトル(不図示)を与える。例えば、特定す
べき向き16となす角ψが鋭角(0°≦ψ<90°)である
ような方向ベクトルを入力する。
(Second Example) FIG. 7 shows a conceptual diagram of a forced current data input method used in this example. In this method, as input data, in addition to designating the elements constituting the conductor 10, the absolute value of the forced current 11 flowing through the conductor 10 and the forced current
A direction vector (not shown) for specifying the direction 16 from the inflow surface 14 to the outflow surface 15 of 11 is given. For example, a direction vector is input such that the angle ψ that forms the direction 16 to be specified is an acute angle (0 ° ≦ ψ <90 °).

【0047】図8に本実施例で用いた要素分割図を示
す。そして上記方法に従い、導線10に流れる強制電流11
の絶対値(例えば1A)、及びこの強制電流の流入面14か
ら流出面15へ向かう向き16と鋭角をなす方向ベクトル
(例えばn=(0,−1,0))を入力データとして与える。こ
の場合、入力された方向ベクトルと向き16とは一致す
る。
FIG. 8 shows an element division diagram used in this embodiment. Then, in accordance with the above method, the forced current 11 flowing through the conductor 10 is
(For example, 1 A) and a direction vector (for example, n = (0, −1,0)) that forms an acute angle with the direction 16 from the inflow surface 14 to the outflow surface 15 of this forced current. In this case, the input direction vector and the direction 16 match.

【0048】そしてそれらに基づいて電流ベクトルポテ
ンシャルを未知変数とした連立方程式を解き、それを用
いて導線の各要素における強制電流密度ベクトルを求め
る。図9にこうして得られた強制電流密度ベクトル分布
を示す。
Then, based on them, a simultaneous equation using the current vector potential as an unknown variable is solved, and the forced current density vector in each element of the conductor is obtained using the solution. FIG. 9 shows the forced current density vector distribution thus obtained.

【0049】このように、導体表面を指定する位置座標
や節点番号・面番号などを何ら与えることなく解析に必
要な強制電流密度ベクトル分布を得ることができ、効率
的に電磁場解析を行うことが可能となる。
As described above, the forced current density vector distribution required for the analysis can be obtained without giving any position coordinates, node numbers, and surface numbers for designating the conductor surface, and the electromagnetic field analysis can be performed efficiently. It becomes possible.

【0050】特に本実施例で用いた入力方法は、環状導
線に対しては適用できないものの、電流の流入面及び流
出面が互いに分離している任意形状の線状導線に対して
適用できる。そのため、先の第1の例で用いた入力方法
と本例で用いた入力方法とを導線形状に応じて使い分け
ることで、より汎用性の高い電磁場解析ツールを構築で
きる。
In particular, although the input method used in the present embodiment cannot be applied to an annular conductor, it can be applied to a linear conductor of an arbitrary shape in which a current inflow surface and a current outflow surface are separated from each other. Therefore, a more versatile electromagnetic field analysis tool can be constructed by selectively using the input method used in the first example and the input method used in the present example according to the shape of the conductor.

【0051】なお図8に示した形状の導線に対しては、
先の第1の例で用いた入力方法も適用可能である。
For the conductor having the shape shown in FIG.
The input method used in the first example is also applicable.

【0052】次に、本発明による電磁場解析装置におい
て実行される電磁場解析処理の他の例を図10〜12を
参照して説明する。
Next, another example of the electromagnetic field analysis processing executed by the electromagnetic field analysis apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS.

【0053】上述した図3の解析処理および第1及び第2
の例によるデータ入力方法では、強制電流の流れる方向
に対応する概略方向、あるいは強制電流により発生され
る磁場の概略方向を示す方向ベクトルを設定したが、本
発明で強制電流の向きを特定するためのデータはこれら
に限定されるものではない。
The analysis processing of FIG. 3 and the first and second
In the data input method according to the example, a general direction corresponding to the direction in which the forced current flows, or a direction vector indicating the general direction of the magnetic field generated by the forced current is set, but the present invention specifies the direction of the forced current. Are not limited to these.

【0054】通常、導線に流れ得る強制電流の向きは、
例えば図4、図8に示すような向きか、あるいはその反
対方向の2方向だけである。したがって、本発明では、
そのいずれかの方向を特定できる入力データであれば良
く、その具体的なデータの形態は限定されるものではな
い。
Usually, the direction of the forced current that can flow through the conductor is
For example, there are only two directions, that is, the directions shown in FIGS. 4 and 8 or the opposite directions. Therefore, in the present invention,
Any input data that can specify one of the directions may be used, and the specific data form is not limited.

【0055】例えば、予め各導線毎に取り得る強制電流
の向きを複数求めておき、これらのうちの一つを選択す
るためのデータを入力データとする構成としてもよい。
また、各導線毎に強制電流の向きをデフォルトモードで
予め設定しておき、必要に応じて導線毎に向きを修正さ
せる構成としてもよい。
For example, a configuration may be used in which a plurality of directions of the forced current that can be taken for each conductor are determined in advance, and data for selecting one of them is used as input data.
Further, the direction of the forced current may be set in advance in the default mode for each conductor, and the direction may be corrected for each conductor as needed.

【0056】本発明による電磁場解析処理手順の他の例
を、図10、図12を参照して示す。
Another example of the electromagnetic field analysis processing procedure according to the present invention will be described with reference to FIGS.

【0057】本例による解析処理例では、ステップS1a
において、当該装置の初期化と共に、予め設定されてい
る導線毎の強制電流の流れを初期値として設定する。そ
の後のステップS2〜S7は上記図3の同一符号のステップ
と同じ処理であり、その説明は省略する。
In the example of the analysis processing according to this example, step S1a
At the same time, at the same time as the initialization of the device, a preset flow of the forced current for each conductor is set as an initial value. Subsequent steps S2 to S7 are the same processing as the steps of the same reference numerals in FIG. 3 described above, and description thereof will be omitted.

【0058】次に、ステップS8aにおいて、以上の処理
で算出した導線部分の各辺の電流ベクトルポテンシャル
から電流密度ベクトル分布を算出し、表示装置22に表示
させる。具体的には、例えば図12(A)に示すように、
解析対象となる導体10a、10b、10cのそれぞれにおける
強制電流密度ベクトル分布を、表示装置22の表示画面22
aに表示させる。
Next, in step S8a, a current density vector distribution is calculated from the current vector potential of each side of the conductive wire portion calculated by the above processing, and is displayed on the display device 22. Specifically, for example, as shown in FIG.
The forced current density vector distribution in each of the conductors 10a, 10b, and 10c to be analyzed is displayed on the display screen 22 of the display device 22.
Display on a.

【0059】次に、ステップS8bにおいて、強制電流の
流れの向きを修正すべき導線の選択に関する指示をユー
ザから受け付け、該選択された導線においてのみ強制電
流密度ベクトル分布を反転させる。
Next, in step S8b, an instruction relating to selection of a conductor whose flow direction of the forced current is to be corrected is received from the user, and the forced current density vector distribution is inverted only in the selected conductor.

【0060】具体的には、例えば図12(B)に示すよう
に、キーボード20を介して受け付けたユーザの選択指示
をポインター121で表示画面22aに表示すると共に、該選
択された導線(本例では導線10b)を枠120で囲む等し
て、他の導線と識別可能であるような表示形態で表示す
る。さらに、前記選択された導線中の強制電流密度ベク
トル分布を反転させ、その反転後の状態を表示する。以
下の処理では、反転後の強制電流密度ベクトル分布を用
いる。
More specifically, as shown in FIG. 12B, for example, a user's selection instruction received via the keyboard 20 is displayed on the display screen 22a by the pointer 121, and the selected conductor (this example) is displayed. In this example, the conductor 10b) is displayed in a display form that can be distinguished from other conductors, for example, by surrounding it with a frame 120. Further, the forced current density vector distribution in the selected conductor is inverted, and the state after the inversion is displayed. In the following processing, the forced current density vector distribution after inversion is used.

【0061】その後の処理となるステップS9〜S13につ
いては、上記図3の処理と同じ処理を行い、解析対象領
域全体の電磁場解析を行う。
In steps S9 to S13 which are the subsequent processes, the same processes as those in FIG. 3 are performed, and the electromagnetic field analysis of the entire analysis target area is performed.

【0062】本例の電磁場解析処理によれば、ユーザは
強制電流によって生じる強制電流密度ベクトル分布を再
度確認し、必要であれば対象となる導線を選択すること
により、強制電流密度ベクトル分布を容易に修正するこ
とが可能となる。
According to the electromagnetic field analysis processing of the present example, the user can confirm the forced current density vector distribution generated by the forced current again, and if necessary, select the target conductor, thereby facilitating the forced current density vector distribution. It becomes possible to correct it.

【0063】図10に示したような電磁場解析処理は、
各導線を流れる強制電流の向きが逆になった場合に、そ
れに対応する強制電流密度ベクトル分布の向きも単純に
反転する導線からなる解析対象について、特に有効であ
る。
The electromagnetic field analysis processing as shown in FIG.
When the direction of the forced current flowing through each conductor is reversed, it is particularly effective for an analysis target composed of conductors in which the direction of the corresponding forced current density vector distribution simply reverses.

【0064】本発明による解析処理手順のさらに他の例
を、図11を参照して説明する。
Another example of the analysis processing procedure according to the present invention will be described with reference to FIG.

【0065】本例による解析処理のステップS1a〜S8a、
S9〜S13は、上記図10の解析処理において同一符号が
付されている各ステップと同じものであり、ステップS8
c、S8dの処理だけが上記図10の処理手順と異なる。以
下では、異なるステップについてだけ説明する。
Steps S1a to S8a of the analysis processing according to this example,
Steps S9 to S13 are the same as the steps denoted by the same reference numerals in the analysis processing of FIG.
Only the processing of c and S8d is different from the processing procedure of FIG. In the following, only the different steps will be described.

【0066】本解析処理のステップS8cでは、算出され
た強制電流密度ベクトル分布を表示した後、強制電流の
流れの向きを修正すべき導線の選択とその修正後の流れ
の向きについてのユーザからの指示が入力されたかどう
かを調べる。
In step S8c of the present analysis process, after the calculated forced current density vector distribution is displayed, the user selects the conductor whose flow direction of the forced current is to be corrected, and gives the user the information on the flow direction after the correction. Check if instructions have been entered.

【0067】入力があった場合(ステップS8cでYes)に
はステップS8dへ進み、該入力に基づいて選択された導
線の強制電流の流れの向きを修正し、ステップS5〜S7を
繰り返して、新たな強制電流密度ベクトル分布を求め
る。
If there is an input (Yes in step S8c), the flow advances to step S8d to correct the flow direction of the forced current of the conductor selected based on the input, and repeat steps S5 to S7 to newly enter A simple forced current density vector distribution.

【0068】図11に示したような電磁場解析処理は、
修正が行われるたびに、それに対応する強制電流密度ベ
クトル分布が再計算されるため、各導線を流れる強制電
流の向きが2方向しか存在しない場合だけでなく、3方向
以上あるような特殊な場合についても有効である。
The electromagnetic field analysis processing as shown in FIG.
Each time a correction is made, the corresponding forced current density vector distribution is recalculated, so not only when there are only two directions of the forced current flowing through each conductor, but also in special cases where there are three or more directions. Is also effective.

【0069】本例の電磁場解析処理によれば、任意の導
線を選択し、該導線を流れる強制電流の流れの向きを任
意の方向へ修正することが可能となる。
According to the electromagnetic field analysis processing of this example, it is possible to select an arbitrary conductor and correct the direction of the flow of the forced current flowing through the conductor to an arbitrary direction.

【0070】なお、上記図10、11の解析処理におい
て、ステップS8aにおいて強制電流密度ベクトル分布を
表示させる代わりに、ステップS1aで設定された導線毎
の強制電流の流れを示すデータを表示装置に表示させる
構成としてもよい。
In the analysis processing of FIGS. 10 and 11, instead of displaying the forced current density vector distribution in step S8a, data indicating the flow of the forced current for each conductor set in step S1a is displayed on the display device. It is good also as a structure to make it.

【0071】さらにまた、上記図10、11の解析処理
において、導線毎に強制電流の向きを初期設定する代わ
りに、予め全ての導線に対して共通の向きを設定してお
き、この設定された強制電流の向きあるいは該強制電流
から求めた強制電流密度ベクトル分布を表示装置に表示
し、必要な導線だけを選択して強制電流の向きを修正す
る構成としてもよい。
Further, in the analysis processing of FIGS. 10 and 11, instead of initially setting the direction of the forced current for each conductor, a common direction is set in advance for all conductors, and the set direction is set. The direction of the forced current or the forced current density vector distribution obtained from the forced current may be displayed on a display device, and only the necessary conductor may be selected to correct the direction of the forced current.

【0072】このような構成によれば、ユーザは予め導
線毎に設定されている強制電流の向きのうち、必要なも
のだけを選択すればよいため、入力データ処理をより一
層簡略化することができる。
According to such a configuration, the user can select only the necessary direction from among the directions of the forcible current set in advance for each conductor, so that the input data processing can be further simplified. it can.

【0073】[0073]

【発明の効果】本発明の電磁場解析方法および装置によ
れば、導線を流れる強制電流に関する入力データが少数
で済み、その作成が容易になるので、トランス、リアク
トル、モータ、発電機等の電磁気現象を利用した電気・
電子機器、特に、複雑な導線構造を有する機器に生じる
電磁場の解析を効率的に行うことができる。
According to the method and apparatus for analyzing an electromagnetic field of the present invention, the input data relating to the forced current flowing through the conductor is small and the creation thereof is easy, so that the electromagnetic phenomena of the transformer, reactor, motor, generator, etc. Electricity using
Analysis of an electromagnetic field generated in an electronic device, particularly, a device having a complicated wire structure can be efficiently performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の電磁場解析方法の概略処理手順の一例
を示したフローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart illustrating an example of a schematic processing procedure of an electromagnetic field analysis method according to the present invention.

【図2】本発明の電磁場解析装置を計算機で実現する場
合の構成を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration in a case where the electromagnetic field analyzer of the present invention is implemented by a computer.

【図3】本発明の電磁場解析装置における計算手順例を
示すフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart illustrating an example of a calculation procedure in the electromagnetic field analyzer according to the present invention.

【図4】図4(a):本発明の第1の例で用いた強制電流デ
ータ入力方法を環状導線に適用した場合を示す説明図で
ある。 図4(b):本発明の第1の例で用いた強制電流データ入力
方法を線状導線に適用した場合を示す説明図である。
FIG. 4 (a) is an explanatory diagram showing a case where the forced current data input method used in the first example of the present invention is applied to an annular conductor. FIG. 4B is an explanatory diagram showing a case where the forced current data input method used in the first example of the present invention is applied to a linear conductor.

【図5】本発明の第1の例における要素分割の状態を示
す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a state of element division in the first example of the present invention.

【図6】本発明の第1の例において得られた強制電流密
度ベクトル分布を示す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a forced current density vector distribution obtained in the first example of the present invention.

【図7】本発明の第2の例で用いた強制電流データ入力
方法を示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a forced current data input method used in the second example of the present invention.

【図8】本発明の第2の例における要素分割図の状態を
示す説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing a state of an element division diagram in a second example of the present invention.

【図9】本発明の第2の例において得られた強制電流密
度ベクトル分布を示す説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing a forced current density vector distribution obtained in a second example of the present invention.

【図10】本発明の電磁場解析装置における計算手順の
他の例を示すフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart showing another example of the calculation procedure in the electromagnetic field analyzer of the present invention.

【図11】本発明の電磁場解析装置における計算手順の
他の例を示すフローチャートである。
FIG. 11 is a flowchart showing another example of the calculation procedure in the electromagnetic field analysis device of the present invention.

【図12】図12(A):本発明の電磁場解析装置におけ
る入力方法を説明するための説明図である。 図12(B):本発明の電磁場解析装置における入力方法
を説明するための説明図である。
FIG. 12A is an explanatory diagram for explaining an input method in the electromagnetic field analysis device of the present invention. FIG. 12B is an explanatory diagram for describing an input method in the electromagnetic field analysis device of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 …… 導線、 11 …… 強制電流の流れる向き、12
…… 所定部位、 13 …… 所定部位における磁場の向
き、14 …… 強制電流の流入面、 15 …… 強制電流の
流出面、16 …… 強制電流の流入面から流出面へ向かう
向き、20 …… キーボード、 21 …… コンピュータ、
22 …… CRT。
10 ...... Conductor, 11 ...... Direction of forced current flow, 12
…… Predetermined part, 13… Direction of magnetic field at a predetermined part, 14… Forced current inflow surface, 15… Forced current outflow surface, 16 …… Direction from forced current inflow surface to outflow surface, 20… … Keyboard, 21… computer,
22 …… CRT.

フロントページの続き (72)発明者 福本 英士 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 小村 昭義 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 Fターム(参考) 5B046 AA07 JA10 5B056 AA01 BB02 FF05 HH00 9A001 GG01 JJ50 KK37 LL08 Continued on the front page (72) Inventor Eiji Fukumoto 7-1-1, Omika-cho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture Inside the Hitachi Research Laboratory, Hitachi, Ltd. (72) Inventor Akiyoshi Komura 7-1-1, Omika-cho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture F term in Hitachi Research Laboratory, Hitachi, Ltd. (Reference) 5B046 AA07 JA10 5B056 AA01 BB02 FF05 HH00 9A001 GG01 JJ50 KK37 LL08

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】計算機を用い、強制電流が流れる導線を含
む解析対象領域の電磁場を解析する方法において、 前記導線を構成する要素群での強制電流密度ベクトル分
布を求める処理と、 前記求められた強制電流密度ベクトル分布を用いて前記
解析対象領域全体の電磁場を解析する処理とを含み、 前記強制電流密度ベクトル分布は、前記強制電流が前記
導線中を流れる向きを特定するためのデータの入力を受
け付け、該受け付けたデータによって特定された前記強
制電流の流れの向きを用いて算出されたものであること
を特徴とする電磁場解析方法。
1. A method for analyzing an electromagnetic field in a region to be analyzed including a conductor through which a forced current flows by using a computer, comprising: a process of obtaining a forced current density vector distribution in an element group constituting the conductor; Analyzing the electromagnetic field of the entire analysis target region using a forced current density vector distribution, wherein the forced current density vector distribution is an input of data for specifying a direction in which the forced current flows through the conductor. An electromagnetic field analysis method which is received and calculated using the direction of the flow of the forced current specified by the received data.
【請求項2】請求項1に記載の電磁場解析方法におい
て、 前記強制電流が前記導線中を流れる向きを特定するため
のデータは、前記強制電流が流れ得る複数の向きのうち
の1つを選択するためのデータであることを特徴とする
電磁場解析方法。
2. The electromagnetic field analysis method according to claim 1, wherein the data for specifying the direction in which the forcible current flows through the conductor selects one of a plurality of directions in which the forcible current can flow. An electromagnetic field analysis method characterized in that the data is data for performing an electromagnetic field analysis.
【請求項3】請求項1に記載の電磁場解析方法におい
て、 前記強制電流が前記導線中を流れる向きを特定するため
のデータとしては、前記強制電流が流れる向き、前記強
制電流が発生させる磁場の向き、および前記導線表面上
にある前記強制電流の流入面から流出面へ向かう向きの
うちのいずれかとのなす角θが鋭角(0°≦θ<90°)
である方向ベクトルを用いることを特徴とする電磁場解
析方法。
3. The electromagnetic field analysis method according to claim 1, wherein the data for specifying the direction in which the forcible current flows in the conductive wire includes a direction in which the forcible current flows and a magnetic field generated by the forcible current. An acute angle (0 ° ≦ θ <90 °) between the direction and the direction from the inflow surface to the outflow surface of the forced current on the conductor surface.
An electromagnetic field analysis method characterized by using a direction vector of
【請求項4】請求項3に記載の電磁場解析方法におい
て、 前記強制電流の絶対値を、前記導線中における前記強制
電流の流れる向きを指定するための方向ベクトルのノル
ムとして入力することを特徴とする電磁場解析方法。
4. The electromagnetic field analysis method according to claim 3, wherein the absolute value of the forced current is input as a norm of a direction vector for designating a direction in which the forced current flows in the conductor. Electromagnetic field analysis method.
【請求項5】計算機を用い、強制電流が流れる導線を含
む解析対象領域の電磁場を解析する方法において、 前記導線を構成する要素群での強制電流密度ベクトル分
布を求める処理と、 前記求められた強制電流密度ベクトル分布を用いて前記
解析対象領域全体の電磁場を解析する処理とを含み、 前記強制電流密度ベクトル分布を求める処理では、前記
強制電流の向きおよび前記強制電流密度ベクトルの向き
のうち一方について、 予め初期値を設定しておき、該予め設定した初期値を表
示装置に表示させ、 前記初期値を変更すべき部分に対応する部分を特定する
ための選択命令を受け付け、 前記選択された部分について設定されている初期値が示
す向きを、該部分を流れる強制電流が取り得る他の向き
に変更し、 前記変更された強制電流の流れる向きを用いて、前記強
制電流密度ベクトルを再計算することを特徴とする電磁
場解析方法。
5. A method for using a computer to analyze an electromagnetic field in an analysis target area including a conductor through which a forced current flows, comprising: a process of obtaining a forced current density vector distribution in an element group forming the conductor; Analyzing the electromagnetic field of the entire analysis target area using a forced current density vector distribution, wherein the process of obtaining the forced current density vector distribution includes one of the direction of the forced current and the direction of the forced current density vector. With respect to, an initial value is set in advance, the preset initial value is displayed on a display device, and a selection instruction for specifying a portion corresponding to a portion where the initial value is to be changed is received, and the selected command is received. The direction indicated by the initial value set for the portion is changed to another direction that the forced current flowing through the portion can take, and the flow of the changed forced current is changed. An electromagnetic field analysis method, wherein the forcible current density vector is recalculated using the direction of the electromagnetic field.
【請求項6】請求項1乃至5のいずれかに記載の電磁場
解析方法において、 前記導線を永久磁石とみなし、前記強制電流密度ベクト
ルを磁化ベクトルとみなすことで、該永久磁石内の磁化
ベクトル分布を求めることを特徴とする電磁場解析方
法。
6. The electromagnetic field analysis method according to claim 1, wherein the conductive wire is regarded as a permanent magnet, and the forcible current density vector is regarded as a magnetization vector. An electromagnetic field analysis method characterized by determining
【請求項7】計算機を用いて請求項1乃至6のいずれか
に記載の電磁場解析方法を実施することで、解析対象領
域の電磁場解析を行うことを特徴とする電磁場解析装
置。
7. An electromagnetic field analysis apparatus for performing an electromagnetic field analysis of a region to be analyzed by performing the electromagnetic field analysis method according to claim 1 using a computer.
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JP2010160131A (en) * 2008-12-09 2010-07-22 Sumitomo Heavy Ind Ltd Magnetic field analyzer and magnetic field analyzing method

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JP2010160131A (en) * 2008-12-09 2010-07-22 Sumitomo Heavy Ind Ltd Magnetic field analyzer and magnetic field analyzing method

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