JP2000206003A - テ―プ形光ファイバのスキュ―計測方法 - Google Patents
テ―プ形光ファイバのスキュ―計測方法Info
- Publication number
- JP2000206003A JP2000206003A JP271899A JP271899A JP2000206003A JP 2000206003 A JP2000206003 A JP 2000206003A JP 271899 A JP271899 A JP 271899A JP 271899 A JP271899 A JP 271899A JP 2000206003 A JP2000206003 A JP 2000206003A
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- tape
- measured
- phase
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 テープ形光ファイバのスキューを、高い精度
で計測する方法を提供する。 【解決手段】 テープ形光ファイバの各光ファイバに正
弦波変調光を通過させ、各光ファイバを伝搬した正弦波
変調光の位相を測定し、測定された位相からテープ形光
ファイバの各光ファイバの光伝搬時間を計算してテープ
形光ファイバのスキューを計測する方法において、前記
位相の測定を複数の正弦波周波数について行い、測定さ
れた複数の正弦波周波数に対する位相から周波数と位相
との比例関係を求め、その比例定数からテープ形光ファ
イバの各光ファイバの光伝搬時間を計算してテープ形光
ファイバのスキューを計測する。
で計測する方法を提供する。 【解決手段】 テープ形光ファイバの各光ファイバに正
弦波変調光を通過させ、各光ファイバを伝搬した正弦波
変調光の位相を測定し、測定された位相からテープ形光
ファイバの各光ファイバの光伝搬時間を計算してテープ
形光ファイバのスキューを計測する方法において、前記
位相の測定を複数の正弦波周波数について行い、測定さ
れた複数の正弦波周波数に対する位相から周波数と位相
との比例関係を求め、その比例定数からテープ形光ファ
イバの各光ファイバの光伝搬時間を計算してテープ形光
ファイバのスキューを計測する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、並列光伝送におい
て伝送媒体として使用されるテープ形光ファイバの各光
ファイバの光伝搬時間のばらつき、即ちスキューを、高
精度に計測する方法に関する。
て伝送媒体として使用されるテープ形光ファイバの各光
ファイバの光伝搬時間のばらつき、即ちスキューを、高
精度に計測する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】通信系装置等の大容量データ伝送の伝送
媒体には、細径で且つＥＭＣ適合性のある光ファイバが
適している。多チャンネルの並列伝送を行う場合には、
複数本の光ファイバをテープ状に一体化したテープ形光
ファイバが使用される。
媒体には、細径で且つＥＭＣ適合性のある光ファイバが
適している。多チャンネルの並列伝送を行う場合には、
複数本の光ファイバをテープ状に一体化したテープ形光
ファイバが使用される。
【０００３】このような並列伝送においては伝送遅延の
チャンネル間のばらつき、即ちスキューが問題になる。
テープ形光ファイバのスキューは通常「ps/m」を単位と
して定量化されるように、線路の長さに比例して増加す
る性質があるため、単位長さ当たりのスキューを低減す
ることが必須となる。また、テープ形光ファイバのスキ
ューは、さまざまな条件からの影響を受け易いため、テ
ープ形光ファイバのスキューが低くなるに従って、その
計測方法の精度の向上が求められるようになってきた。
チャンネル間のばらつき、即ちスキューが問題になる。
テープ形光ファイバのスキューは通常「ps/m」を単位と
して定量化されるように、線路の長さに比例して増加す
る性質があるため、単位長さ当たりのスキューを低減す
ることが必須となる。また、テープ形光ファイバのスキ
ューは、さまざまな条件からの影響を受け易いため、テ
ープ形光ファイバのスキューが低くなるに従って、その
計測方法の精度の向上が求められるようになってきた。
【０００４】テープ形光ファイバのスキューは、テープ
形光ファイバの各心の光ファイバの相対的な光伝搬時間
差を測定することによって計測される。光ファイバの光
伝搬時間の測定方法には主なものに二つの方法がある。
一つはパルス光を用いるパルス法（又は伝搬法）と呼ば
れる方法であり、他の一つは正弦波変調光を用いる位相
法と呼ばれる方法である。
形光ファイバの各心の光ファイバの相対的な光伝搬時間
差を測定することによって計測される。光ファイバの光
伝搬時間の測定方法には主なものに二つの方法がある。
一つはパルス光を用いるパルス法（又は伝搬法）と呼ば
れる方法であり、他の一つは正弦波変調光を用いる位相
法と呼ばれる方法である。
【０００５】パルス法による測定においては、パルス光
を光ファイバカプラー等により二つに分岐し、一方を基
準となる光ファイバに、他方を被測定光ファイバに入射
し、それぞれの他端からの反射光を合成し、それらの光
伝搬時間差をオシロスコープの画面から読取って測定す
る。この方法による測定では、オシロスコープは図３に
示すような画面になる。画面横軸９は時間軸であり、縦
軸10は光強度である。このような画面から、基準光ファ
イバからの反射光のパルス波形７と被測定光ファイバか
らの反射光のパルス波形８との時間差を読取る。
を光ファイバカプラー等により二つに分岐し、一方を基
準となる光ファイバに、他方を被測定光ファイバに入射
し、それぞれの他端からの反射光を合成し、それらの光
伝搬時間差をオシロスコープの画面から読取って測定す
る。この方法による測定では、オシロスコープは図３に
示すような画面になる。画面横軸９は時間軸であり、縦
軸10は光強度である。このような画面から、基準光ファ
イバからの反射光のパルス波形７と被測定光ファイバか
らの反射光のパルス波形８との時間差を読取る。
【０００６】位相法による測定においては、光ファイバ
を伝搬させた正弦波変調光の位相を測定し、その位相と
変調周波数とから光伝搬時間を計算する。この方法によ
る測定は、例えば、ネットワークアナライザに電気／光
変換及び光／電気変換のインターフェースを組合せた光
コンポーネントアナライザと呼ばれる測定装置を用いて
行うことができる。その場合、測定装置には図４に示す
ような画面が表示される。画面横軸１に沿って周波数が
掃引されており、画面縦軸２に位相を選択すると、周波
数掃引された測定結果３が表示されるので、適当な変調
周波数を選んで投入すれば、データ収録点４がカーソル
として現れるとともに位相値が表示される。測定された
位相をθ（°）、変調周波数をｆ（Hz）とすると、光伝
搬時間Ｔ（秒）は、 Ｔ＝θ／３６０／ｆ と計算される。
を伝搬させた正弦波変調光の位相を測定し、その位相と
変調周波数とから光伝搬時間を計算する。この方法によ
る測定は、例えば、ネットワークアナライザに電気／光
変換及び光／電気変換のインターフェースを組合せた光
コンポーネントアナライザと呼ばれる測定装置を用いて
行うことができる。その場合、測定装置には図４に示す
ような画面が表示される。画面横軸１に沿って周波数が
掃引されており、画面縦軸２に位相を選択すると、周波
数掃引された測定結果３が表示されるので、適当な変調
周波数を選んで投入すれば、データ収録点４がカーソル
として現れるとともに位相値が表示される。測定された
位相をθ（°）、変調周波数をｆ（Hz）とすると、光伝
搬時間Ｔ（秒）は、 Ｔ＝θ／３６０／ｆ と計算される。
【０００７】このような光伝搬時間の測定をテープ形光
ファイバの各光ファイバについて行い、それらの測定値
のうちの最大値と最小値との差をもってそのテープ形光
ファイバのスキューとするのが通常である。しかしなが
ら、上記のようなテープ形光ファイバのスキューの計測
方法には以下のような問題がある。
ファイバの各光ファイバについて行い、それらの測定値
のうちの最大値と最小値との差をもってそのテープ形光
ファイバのスキューとするのが通常である。しかしなが
ら、上記のようなテープ形光ファイバのスキューの計測
方法には以下のような問題がある。
【０００８】パルス法による光伝搬時間差の測定では、
或る程度の時間的な幅を持つパルス波形から時間上の一
点の値を測定データとして定めるため、作業者によって
読取り値に差が生じ易く、更に測定機器のジッタの影響
もあるため、測定結果が安定し難い。また、市販されて
いるパルス光源の繰り返し周期が測定する時間スケール
に比べて極めて長いため、オシロスコープの時間軸を切
替えて時間分解能を上げていく際、時間分解能が上がっ
た画面内にパルス光の波形を捕捉するための制御が難し
く、作業者の熟練が必要である上、自動化にも適さな
い。
或る程度の時間的な幅を持つパルス波形から時間上の一
点の値を測定データとして定めるため、作業者によって
読取り値に差が生じ易く、更に測定機器のジッタの影響
もあるため、測定結果が安定し難い。また、市販されて
いるパルス光源の繰り返し周期が測定する時間スケール
に比べて極めて長いため、オシロスコープの時間軸を切
替えて時間分解能を上げていく際、時間分解能が上がっ
た画面内にパルス光の波形を捕捉するための制御が難し
く、作業者の熟練が必要である上、自動化にも適さな
い。
【０００９】また、位相法による光伝搬時間差の測定で
は、周波数掃引された測定結果は測定の原理上は直線で
あるにもかかわらず、実際の測定ではノイズによる凹凸
があり、局所的には直線から外れている場合もある。選
択した周波数での位相がこのようなノイズを含んでいる
場合、スキューの計測結果に誤差が生じる。
は、周波数掃引された測定結果は測定の原理上は直線で
あるにもかかわらず、実際の測定ではノイズによる凹凸
があり、局所的には直線から外れている場合もある。選
択した周波数での位相がこのようなノイズを含んでいる
場合、スキューの計測結果に誤差が生じる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、以上
の問題点に鑑み、高い精度でテープ形光ファイバのスキ
ューを計測する方法を提供することにある。
の問題点に鑑み、高い精度でテープ形光ファイバのスキ
ューを計測する方法を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明のテープ形光ファ
イバのスキュー計測方法は、上記の目的を達成するた
め、テープ形光ファイバの各光ファイバに正弦波変調光
を通過させ、各光ファイバを伝搬した正弦波変調光の位
相を測定し、測定された位相からテープ形光ファイバの
各光ファイバの光伝搬時間を計算してテープ形光ファイ
バのスキューを計測する方法において、前記位相の測定
を複数の正弦波周波数について行い、測定された複数の
正弦波周波数に対する位相から周波数と位相との比例関
係を求め、その比例定数からテープ形光ファイバの各光
ファイバの光伝搬時間を計算してテープ形光ファイバの
スキューを計測する。
イバのスキュー計測方法は、上記の目的を達成するた
め、テープ形光ファイバの各光ファイバに正弦波変調光
を通過させ、各光ファイバを伝搬した正弦波変調光の位
相を測定し、測定された位相からテープ形光ファイバの
各光ファイバの光伝搬時間を計算してテープ形光ファイ
バのスキューを計測する方法において、前記位相の測定
を複数の正弦波周波数について行い、測定された複数の
正弦波周波数に対する位相から周波数と位相との比例関
係を求め、その比例定数からテープ形光ファイバの各光
ファイバの光伝搬時間を計算してテープ形光ファイバの
スキューを計測する。
【００１２】このような本発明のテープ形光ファイバの
スキュー計測方法においては、位相法による光ファイバ
の光伝搬時間の測定において、周波数軸上の複数の点の
データから直線を再現することによりノイズの影響を取
除くことができ、スキューの誤差の発生を抑止すること
ができる。
スキュー計測方法においては、位相法による光ファイバ
の光伝搬時間の測定において、周波数軸上の複数の点の
データから直線を再現することによりノイズの影響を取
除くことができ、スキューの誤差の発生を抑止すること
ができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】次に本発明のテープ形光ファイバ
のスキュー計測方法の実施例を図面を用いて説明する。
図１に示すような画面で表される光伝搬時間の測定にお
いて、画面横軸１に沿って周波数が掃引され、画面縦軸
２に位相を選択し、周波数掃引された測定結果３が表示
されたとき、適当に選択した複数の変調周波数における
データ収録点４の複数の測定データ５（図２）から、最
小自乗法等により、図６に示すように、周波数掃引され
た測定結果３を周波数と位相との比例直線６として再現
する。
のスキュー計測方法の実施例を図面を用いて説明する。
図１に示すような画面で表される光伝搬時間の測定にお
いて、画面横軸１に沿って周波数が掃引され、画面縦軸
２に位相を選択し、周波数掃引された測定結果３が表示
されたとき、適当に選択した複数の変調周波数における
データ収録点４の複数の測定データ５（図２）から、最
小自乗法等により、図６に示すように、周波数掃引され
た測定結果３を周波数と位相との比例直線６として再現
する。
【００１４】光伝搬時間がＴ（秒）の時、変調周波数ｆ
（Hz）に対する位相θ（°）は、 θ＝（３６０×Ｔ）×ｆ で表されるので、これから光伝搬時間Ｔ（秒）が得られ
る。このようにして光伝搬時間を求めることにより、測
定結果からノイズの影響を取除き、スキュー計測の誤差
を除去することができる。
（Hz）に対する位相θ（°）は、 θ＝（３６０×Ｔ）×ｆ で表されるので、これから光伝搬時間Ｔ（秒）が得られ
る。このようにして光伝搬時間を求めることにより、測
定結果からノイズの影響を取除き、スキュー計測の誤差
を除去することができる。
【００１５】更に、上記のようなスキュー計測の手順を
プログラム化し、コンピュータを用いて自動的にスキュ
ー計測を行う装置を得ることができる。
プログラム化し、コンピュータを用いて自動的にスキュ
ー計測を行う装置を得ることができる。
【００１６】なお、上記においては、本発明が限られた
例に基づいて説明されているが、本発明はこのような例
に限定されるものではないことは勿論である。例えば、
周波数軸上の測定点の数は、複数であればいくつでもよ
い。
例に基づいて説明されているが、本発明はこのような例
に限定されるものではないことは勿論である。例えば、
周波数軸上の測定点の数は、複数であればいくつでもよ
い。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
テープ形光ファイバのスキュー計測において、周波数掃
引での位相測定からノイズの影響を排除し、光伝搬時間
の測定の精度を向上させ、スキュー計測の誤差をなくす
ことができる。
テープ形光ファイバのスキュー計測において、周波数掃
引での位相測定からノイズの影響を排除し、光伝搬時間
の測定の精度を向上させ、スキュー計測の誤差をなくす
ことができる。
【図１】 掃引周波数と位相との関係から複数の掃引周
波数に対するデータを選択する方法を説明する図であ
る。
波数に対するデータを選択する方法を説明する図であ
る。
【図２】 本発明により、複数の掃引周波数による複数
のデータから直線を得る方法を説明する図である。
のデータから直線を得る方法を説明する図である。
【図３】 パルス法による従来のテープ形光ファイバの
スキュー計測方法を説明する図である。
スキュー計測方法を説明する図である。
【図４】 位相法による従来のテープ形光ファイバのス
キュー計測方法を説明する図である。
キュー計測方法を説明する図である。
１ 周波数 ２ 位相 ３ 周波数で掃引された測定結果 ４ データ収録点 ５ 測定データ ６ 周波数と位相との比例直線 ７ 基準光ファイバからの反射光のパルス波形 ８ 被測定光ファイバからの反射光のパルス波形 ９ 時間 １０ 光強度
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 桂 浩輔 東京都新宿区西新宿３丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内 (72)発明者 安東 泰博 東京都新宿区西新宿３丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内 Ｆターム(参考） 2G086 BB01 BB04 DD05 KK01 KK07
Claims (1)
- 【請求項１】 テープ形光ファイバの各光ファイバに正
弦波変調光を通過させ、各光ファイバを伝搬した正弦波
変調光の位相を測定し、測定された位相からテープ形光
ファイバの各光ファイバの光伝搬時間を計算してテープ
形光ファイバのスキューを計測する方法において、前記
位相の測定を複数の正弦波周波数について行い、測定さ
れた複数の正弦波周波数に対する位相から周波数と位相
との比例関係を求め、その比例定数からテープ形光ファ
イバの各光ファイバの光伝搬時間を計算してテープ形光
ファイバのスキューを計測することを特徴とするテープ
形光ファイバのスキュー計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP271899A JP2000206003A (ja) | 1999-01-08 | 1999-01-08 | テ―プ形光ファイバのスキュ―計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP271899A JP2000206003A (ja) | 1999-01-08 | 1999-01-08 | テ―プ形光ファイバのスキュ―計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000206003A true JP2000206003A (ja) | 2000-07-28 |
Family
ID=11537099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP271899A Pending JP2000206003A (ja) | 1999-01-08 | 1999-01-08 | テ―プ形光ファイバのスキュ―計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000206003A (ja) |
-
1999
- 1999-01-08 JP JP271899A patent/JP2000206003A/ja active Pending
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