JP2000194139A - Coating/developing method and coating/developing device - Google Patents

Coating/developing method and coating/developing device

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JP2000194139A
JP2000194139A JP20957699A JP20957699A JP2000194139A JP 2000194139 A JP2000194139 A JP 2000194139A JP 20957699 A JP20957699 A JP 20957699A JP 20957699 A JP20957699 A JP 20957699A JP 2000194139 A JP2000194139 A JP 2000194139A
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JP
Japan
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resist
substrate
coating
developing
color
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JP20957699A
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Japanese (ja)
Inventor
Shinichiro Araki
真一郎 荒木
Masamitsu Matsumoto
真光 松本
Noriyuki Anai
徳行 穴井
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a coating/developing method and a coating/developing device which contrive miniturization, installation space-saving of a facility and reduction of manufacturing cost in the coating/developing of a color filter, etc. SOLUTION: The coating/developing device for applying a plurality of color resists on a substrate and developing them after exposed is provided with cleaning units 21a, 21b for cleaning the substrate, a resist coating unit 22, which has plural resist-discharging nozzles for discharging the plurality of colored resists to the cleaned substrate respectively, and developing units 24a, 24b, 24c for developing this substrate coated with the colored resist after exposure.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、カラー液晶ディス
プレイ(LCD)のカラーフィルター等を製造するため
の基板の表面にレジストを供給してレジストを供給して
レジスト塗布処理を行い、露光処理を施し、その後現像
液を供給して現像する塗布・現像処理装置および塗布・
現像処理方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for applying a resist to a surface of a substrate for manufacturing a color filter of a color liquid crystal display (LCD), supplying the resist, performing a resist coating process, and performing an exposure process. And a coating / developing treatment apparatus and a coating
The present invention relates to a developing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】カラー液晶ディスプレイ(LCD)のカ
ラーフィルターの製造においては、ガラス製の矩形の基
板に、4色(レッド、グリーン、ブルー、およびブラッ
ク)の色彩レジストを塗布し、これを露光し、これを現
像処理するという、いわゆるフォトリソグラフィー技術
によりカラーフィルターを形成している。
2. Description of the Related Art In the production of a color filter for a color liquid crystal display (LCD), a color resist of four colors (red, green, blue, and black) is applied to a rectangular substrate made of glass, and this is exposed. A color filter is formed by a so-called photolithography technique of developing the color filter.

【0003】このようなカラーフィルターのフォトリソ
グラフィ工程においては、各色彩レジスト毎に塗布処理
および露光・現像処理を行っている。すなわち、例え
ば、まず、基板洗浄後、レッドの色彩レジストを塗布し
て、このレッドのレジストを露光し、引き続き現像処理
し、次いで、基板洗浄後、グリーンの色彩レジストを塗
布して、このグリーンのレジストを露光し、引き続き現
像処理し、その後、ブルー、ブラックに関しても同様に
行っている。
In the photolithography process of such a color filter, a coating process and an exposure / development process are performed for each color resist. That is, for example, first, after washing the substrate, a red color resist is applied, the red resist is exposed, and subsequently developed, and then, after the substrate is washed, a green color resist is applied, and the green color resist is applied. The resist is exposed and subsequently developed, and thereafter, the same applies to blue and black.

【0004】したがって、各色彩の処理ごとに、洗浄、
塗布、露光、および現像の処理ユニットが必要とされ、
各色彩の洗浄、塗布、露光、および現像の処理ユニット
が連続的に配置され、上流から下流に向かって連続的に
処理されている。
Therefore, cleaning,
Coating, exposure and development processing units are required,
Processing units for washing, coating, exposing, and developing each color are continuously arranged, and are continuously processed from upstream to downstream.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような塗布・現像処理システムにより、一つのカラー
フィルターに複数の色彩レジストを塗布する際には、各
色彩ごとに、洗浄、塗布、露光、および現像の処理ユニ
ットを設け、色彩の数に対応した複数組の洗浄、塗布、
露光、および現像の処理ユニットを設ける必要があるた
め、設備構成が巨大化し、クリーンルームでのスペース
が増大するとともに、製造コストも高騰してしまうとい
う問題があった。
However, when a plurality of color resists are applied to one color filter by the above-described application / development processing system, cleaning, application, exposure, and exposure are performed for each color. A processing unit for development is provided, and multiple sets of washing, coating,
Since it is necessary to provide a processing unit for exposure and development, there has been a problem that the equipment configuration is enlarged, the space in a clean room is increased, and the manufacturing cost is also increased.

【0006】本発明はかる事情に鑑みてなされたもので
あり、カラーフィルター等の塗布・現像に際し、設備の
小型化、省スペース化を図ることができ、製造コストの
低減を図ることができる塗布・現像処理方法および塗布
・現像処理装置を提供することを目的とする。また、製
品の歩留まりの向上を図ることができる塗布・現像処理
方法および塗布・現像処理装置を提供することを目的と
する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is possible to reduce the size and space of equipment when coating and developing a color filter and the like, and to reduce the manufacturing cost. An object of the present invention is to provide a developing method and a coating / developing apparatus. It is another object of the present invention to provide a coating / developing method and a coating / developing apparatus capable of improving product yield.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の第1の観点によれば、複数種の色彩レジス
トの内、選択された所定の色彩レジストを基板に塗布す
る工程と、この所定の色彩レジストが塗布された基板を
露光装置に対して搬送する工程と、前記露光装置から露
光処理された基板を受けとって現像処理する工程と、前
記工程を順次繰り返した後、前記基板を複数枚収納自在
に構成されたカセットに収納する工程とを具備すること
を特徴とする塗布・現像処理方法が提供される。
According to a first aspect of the present invention, a predetermined color resist selected from a plurality of types of color resists is applied to a substrate. Transporting the substrate coated with the predetermined color resist to the exposure apparatus, receiving the exposed substrate from the exposure apparatus and developing the same, and sequentially repeating the steps, And a step of accommodating a plurality of sheets in a cassette capable of accommodating a plurality of sheets.

【0008】本発明の第2の観点によれば、複数の色彩
レジストを基板に塗布し、露光後に現像するための塗布
・現像処理装置であって、複数の色彩レジストをそれぞ
れ基板に吐出する複数のレジスト吐出ノズルを有するレ
ジスト塗布処理ユニットと、この色彩レジストが塗布さ
れた基板を露光後に現像するための現像処理ユニットと
を具備することを特徴とする塗布・現像処理装置が提供
される。
According to a second aspect of the present invention, there is provided an application / development processing apparatus for applying a plurality of color resists to a substrate and developing the resist after exposure, wherein the plurality of color resists are respectively discharged onto the substrate. And a developing unit for developing the substrate coated with the color resist after exposure after exposure.

【0009】本発明の第3の観点によれば、複数種の色
彩レジストの内、選択された所定の色彩レジストを基板
に塗布するレジスト塗布処理ユニットと、この所定の色
彩レジストが塗布された基板を露光装置に対して搬送
し、露光装置から露光処理された基板を受けとって現像
処理する現像処理ユニットと、これらユニットおよび現
像装置間で基板を搬送する搬送機構とを備え、前記レジ
スト塗布処理ユニットが前記複数種の色彩レジストを吐
出する少なくとも一つのノズルと、そのノズル内部を洗
浄する洗浄機構とを具備することを特徴とする塗布・現
像処理装置が提供される。
According to a third aspect of the present invention, a resist coating unit for coating a substrate with a predetermined color resist selected from a plurality of types of color resists, and a substrate coated with the predetermined color resist A resist processing unit that transports the substrate to the exposure apparatus, receives the exposed substrate from the exposure apparatus, and develops the substrate, and a transport mechanism that transports the substrate between these units and the development apparatus. Is provided with at least one nozzle for discharging the plurality of types of color resists, and a cleaning mechanism for cleaning the inside of the nozzle.

【0010】本発明によれば、レジスト塗布処理ユニッ
ト、および現像処理ユニットを備えた一つの塗布・現像
処理装置により、複数の色彩レジストの塗布処理および
露光後の現像処理を行うことができる。したがって、設
備の小型化および省スペース化を達成することができ、
製造コストの低減を図ることができる。
According to the present invention, a single coating / developing apparatus including a resist coating unit and a developing unit can perform a coating process of a plurality of color resists and a development process after exposure. Therefore, miniaturization and space saving of the equipment can be achieved,
Manufacturing costs can be reduced.

【0011】特に、レジスト塗布処理ユニットで一つの
色彩レジストが塗布された基板を露光装置、現像処理ユ
ニットに順次搬送し、該基板を前記レジスト塗布処理ユ
ニットに搬送し、この前記レジスト塗布処理ユニットで
他の色彩レジストが塗布された基板を露光装置、前記現
像処理ユニットに順次搬送するように搬送手段を制御す
ることにより極めて効率的な処理を実現することができ
る。
In particular, the substrate coated with one color resist in the resist coating unit is sequentially transported to an exposure device and a developing unit, and the substrate is transported to the resist coating unit. Extremely efficient processing can be realized by controlling the transporting means so as to sequentially transport the substrate coated with another color resist to the exposure apparatus and the development processing unit.

【0012】また、レジスト塗布処理ユニットおいて
は、複数の色彩レジストに対応して、それぞれのレジス
トを吐出する一つのレジスト吐出ノズルを用いることに
より、極めて効率的に複数の色彩レジストを塗布するこ
とができる。
In the resist coating unit, a plurality of color resists can be coated very efficiently by using one resist discharge nozzle for discharging each of the plurality of color resists. Can be.

【0013】さらに、レジスト液の塗布直後に、基板を
実質的に非加熱状態で乾燥することにより、レジスト液
中の溶剤が徐々に放出され、レジストに悪影響を与える
ことなくことなくレジストの乾燥を促進させることがで
きる。
Further, immediately after the application of the resist solution, by drying the substrate in a substantially non-heated state, the solvent in the resist solution is gradually released, so that the resist can be dried without adversely affecting the resist. Can be promoted.

【0014】さらにまた、色彩レジスト吐出ノズル内部
を洗浄する洗浄機構を具備することにより、ノズル内部
で色彩レジストが固化せず、固化した色彩レジストが基
板G上に吐出されることを防止することができ、製品の
歩留まりを向上させることができる。
Further, by providing a cleaning mechanism for cleaning the inside of the color resist discharge nozzle, it is possible to prevent the color resist from being solidified inside the nozzle and prevent the solidified color resist from being discharged onto the substrate G. As a result, the yield of products can be improved.

【0015】さらにまた、色彩レジストを各々収納する
容器内部を各々独立にまたは複数同時に洗浄する洗浄機
構を具備することにより、レジスト補給後に補給前のレ
ジストが混入することがなく、基板上に補給前のレジス
トが塗布されないので製品の歩留まりを向上させること
ができる。
Further, by providing a washing mechanism for washing the inside of the container for accommodating the color resists independently or simultaneously at plural times, the resist before the replenishment is not mixed after the replenishment of the resist, and the resist is not replenished on the substrate. Since the resist is not applied, the product yield can be improved.

【0016】上記本発明の第1の観点において、前記複
数種の色彩レジストに対して前記現像処理する現像液の
種類は前記色彩レジストの種類の数より少ないことが好
ましく、さらに前記現像液の種類は一種類であることが
好ましい。
In the first aspect of the present invention, it is preferable that the type of the developing solution for developing the plurality of types of color resists is smaller than the number of the types of the color resists. Is preferably one type.

【0017】また、前記色彩レジストを基板に塗布する
工程において、前記複数種の色彩レジストは、少なくと
も一つのノズルから吐出され、前記所定の色彩レジスト
が吐出された後、そのノズル内部を洗浄する工程を有す
ることが好ましい。
In the step of applying the color resist to a substrate, the plurality of types of color resists are discharged from at least one nozzle, and after the predetermined color resist is discharged, the inside of the nozzle is cleaned. It is preferable to have

【0018】さらにまた、前記色彩レジストを基板に塗
布する工程において、前記複数種の色彩レジストは、一
つのノズルから吐出され、前記所定の色彩レジストが吐
出された後、次の所定の色彩レジストと異なる色彩レジ
ストが吐出されるまでの間に複数種の色彩レジストを溶
解可能な1種類の洗浄液でそのノズル内部を洗浄する工
程を有していることが好ましい。
Further, in the step of applying the color resist to a substrate, the plurality of types of color resists are discharged from one nozzle, and after the predetermined color resist is discharged, a next predetermined color resist is formed. It is preferable to include a step of cleaning the inside of the nozzle with one type of cleaning liquid capable of dissolving a plurality of types of color resists until the different color resists are discharged.

【0019】さらにまた、前記ノズル内部を洗浄する洗
浄液と同種の液にて前記複数種の色彩レジストを各々収
納する容器内部を各々独立にまたは複数同時に洗浄する
工程を有していることが好ましい。
Further, it is preferable that the method further comprises a step of independently or simultaneously cleaning a plurality of the insides of the containers each containing the plurality of types of color resists with a liquid of the same type as the cleaning liquid for cleaning the inside of the nozzle.

【0020】上記本発明の第2の観点において、基板を
洗浄する洗浄処理ユニットをさらに具備することが好ま
しい。また、前記レジスト塗布処理ユニットと前記現像
処理ユニットとに基板を搬送する搬送手段と、前記レジ
スト塗布処理ユニットで一つの色彩レジストが塗布され
た基板を露光装置、前記現像処理ユニットに順次搬送
し、該基板を前記レジスト塗布処理ユニットに搬送し、
この前記レジスト塗布処理ユニットで他の色彩レジスト
が塗布された基板を露光装置、前記現像処理ユニットに
順次搬送するように前記搬送手段を制御する制御手段と
を具備することが好ましい。
In the second aspect of the present invention, it is preferable that the apparatus further comprises a cleaning unit for cleaning the substrate. Further, a transport means for transporting the substrate to the resist coating processing unit and the development processing unit, and sequentially transports the substrate coated with one color resist in the resist coating processing unit to the exposure apparatus, the development processing unit, Transporting the substrate to the resist coating unit,
It is preferable that the apparatus further includes a control unit that controls the transport unit so as to sequentially transport the substrate on which another color resist is applied by the resist coating unit to the exposure apparatus and the developing unit.

【0021】さらに、レジスト塗布処理ユニットは、一
つのレジスト吐出ノズルにより、一つの色彩レジストを
基板に塗布し、その後、露光・現像を終えた基板に他の
レジスト吐出ノズルにより他の色彩レジストを順次塗布
するようにすることができる。
Further, the resist coating processing unit applies one color resist to the substrate by one resist discharge nozzle, and then sequentially applies another color resist to the substrate after exposure and development by another resist discharge nozzle. It can be applied.

【0022】さらにまた、前記複数のレジスト吐出ノズ
ルは、前記レジスト塗布処理ユニットに回動自在に設け
られた一つのノズルアームの先端に配置することができ
る。
Furthermore, the plurality of resist discharge nozzles can be arranged at the tip of one nozzle arm rotatably provided in the resist coating unit.

【0023】さらにまた、色彩レジストが塗布された基
板を実質的に非加熱で乾燥処理する乾燥処理ユニットを
さらに具備することができる。このような乾燥処理ユニ
ットとしては、レジスト液が塗布された基板を減圧状態
で乾燥するものが例示される。
Further, the apparatus may further include a drying unit for drying the substrate coated with the color resist substantially without heating. Examples of such a drying unit include a unit for drying a substrate coated with a resist solution under reduced pressure.

【0024】さらにまた、前記非加熱での乾燥処理の
後、基板の端面に付着したレジストを除去する端面処理
ユニットをさらに具備することができる。
Further, after the drying process without heating, an end face processing unit for removing the resist adhered to the end face of the substrate may be further provided.

【0025】上記本発明の第3の観点において、前記洗
浄機構は、前記ノズルから前記所定の色彩レジストが吐
出された後、次に所定の色彩レジストと異なる色彩レジ
ストが吐出するまでの間に複数種の色彩レジストを溶解
可能な1種類の洗浄液で前記ノズル内部を洗浄するよう
にすることが好ましい。
[0025] In the third aspect of the present invention, the cleaning mechanism may be configured to perform a plurality of cleaning operations after the predetermined color resist is discharged from the nozzle and before the next color resist different from the predetermined color resist is discharged. It is preferable that the inside of the nozzle is washed with one kind of washing liquid capable of dissolving various kinds of color resists.

【0026】また、前記洗浄機構は、前記ノズル内部を
洗浄する洗浄液と同種の液にて前記複数種の色彩レジス
トを各々収納する容器内部を各々独立にまたは複数同時
に洗浄することが好ましい。
It is preferable that the cleaning mechanism cleans the inside of each of the plurality of types of color resists independently or simultaneously using a liquid of the same kind as the cleaning liquid for cleaning the inside of the nozzle.

【0027】[0027]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発明が適用
されるLCDのカラーフィルターの塗布・現像処理シス
テムを示す平面図である。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a plan view showing a system for applying and developing a color filter of an LCD to which the present invention is applied.

【0028】この塗布・現像処理システムは、複数の基
板Gを収容するカセットCを載置するカセットステーシ
ョン1と、基板Gにレジスト塗布および現像を含む一連
の処理を施すための複数の処理ユニットを備えた処理部
2と、露光装置(図示せず)との間で基板Gの受け渡し
を行うためのインターフェイス部3とを備えており、処
理部2の両端にそれぞれカセットステーション1および
インターフェイス部3が配置されている。
This coating / developing processing system includes a cassette station 1 on which a cassette C accommodating a plurality of substrates G is placed, and a plurality of processing units for performing a series of processes including resist coating and developing on the substrates G. A processing unit 2 is provided, and an interface unit 3 for transferring a substrate G between the processing unit 2 and an exposure apparatus (not shown). A cassette station 1 and an interface unit 3 are provided at both ends of the processing unit 2, respectively. Are located.

【0029】カセットステーション1は、カセットCと
処理部2との間で基板Gの搬送を行うための搬送機構1
0を備えている。そして、カセットステーション1にお
いてカセットCの搬入出が行われる。また、搬送機構1
0はカセットの配列方向に沿って設けられた搬送路10
a上を移動可能な搬送アーム11を備え、この搬送アー
ム11によりカセットCと処理部2との間で基板Gの搬
送が行われる。
The cassette station 1 has a transport mechanism 1 for transporting the substrate G between the cassette C and the processing section 2.
0 is provided. Then, the cassette C is loaded and unloaded at the cassette station 1. Also, the transport mechanism 1
0 is a transport path 10 provided along the cassette arrangement direction.
A transfer arm 11 is provided which is movable on the substrate a. The transfer arm 11 transfers the substrate G between the cassette C and the processing unit 2.

【0030】処理部2は、前段部2aと中段部2bと後
段部2cとに分かれており、それぞれ中央に搬送路1
2、13、14を有し、これら搬送路の両側に各処理ユ
ニットが配設されている。そして、これらの間には、基
板Gを前段部2aと中段部2bとの間、または中段部2
bと後段部2cとの間で受け渡すための中継部15、1
6が設けられている。
The processing section 2 is divided into a front section 2a, a middle section 2b, and a rear section 2c.
2, 13 and 14, and each processing unit is disposed on both sides of these transport paths. And, between these, the substrate G is placed between the front part 2a and the middle part 2b or the middle part 2b.
b, relay units 15 and 1 for delivery between the subsequent stage unit 2c
6 are provided.

【0031】前段部2aは、搬送路12に沿って移動可
能な基板を搬送する搬送手段例えば主搬送装置17を備
えており、搬送路12の一方側には、基板Gを回転させ
て処理する回転処理ユニットである2つの洗浄ユニット
(SCR)21a、21bが配置されており、搬送路1
2の他方側には、基板Gに対して熱的処理を施す熱系処
理ユニットとして、冷却ユニット(COL)25、上下
2段に積層されてなる加熱処理ユニット(HP)26お
よび冷却ユニット(COL)27が配置されている。
The front section 2a is provided with a transport means for transporting a substrate movable along the transport path 12, for example, a main transport apparatus 17. On one side of the transport path 12, the substrate G is processed by rotating the substrate G. Two cleaning units (SCRs) 21a and 21b, which are rotation processing units, are arranged, and the transport path 1
2, a cooling unit (COL) 25, a heating processing unit (HP) 26, which is stacked in two upper and lower stages, and a cooling unit (COL) as thermal processing units for performing thermal processing on the substrate G. ) 27 are arranged.

【0032】また、中段部2bは、搬送路13に沿って
移動可能な、基板搬送手段である主搬送装置18を備え
ており、搬送路13の一方側には、色彩レジストを塗布
するためのレジスト塗布処理ユニット(CT)22、お
よび基板Gの周縁部の色彩レジストを除去する端面処理
ユニットであるエッジリムーバー(ER)23が設けら
れており、搬送路13の他方側には、基板Gに対して熱
的処理を施す熱系処理ユニットとして、二段積層されて
なる加熱処理ユニット(HP)28、加熱処理ユニット
と冷却処理ユニットが上下に積層されてなる加熱処理・
冷却ユニット(HP/COL)29、および冷却ユニッ
ト(COL)30が配置されている。
The middle section 2b is provided with a main transfer device 18 which is a substrate transfer means which is movable along the transfer path 13. One side of the transfer path 13 is for applying a color resist. A resist coating processing unit (CT) 22 and an edge remover (ER) 23 which is an end processing unit for removing a color resist on a peripheral portion of the substrate G are provided. On the other hand, as a thermal processing unit for performing thermal processing, a heating processing unit (HP) 28 having a two-tiered structure, and a heat processing unit having a heating processing unit and a cooling processing unit which are vertically stacked.
A cooling unit (HP / COL) 29 and a cooling unit (COL) 30 are arranged.

【0033】さらに、本実施の形態では、レジスト塗布
処理ユニット(CT)22と、エッジリムーバー(E
R)23との間に、乾燥処理ユニット(VD)40が設
けられている。これにより、色彩レジストが塗布された
基板Gが乾燥処理ユニット(VD)40に搬送されて乾
燥処理され、その後、エッジリムーバー(ER)23に
より端面処理されるようになっている。この乾燥処理ユ
ニット(VD)40については、後述する。
Further, in the present embodiment, the resist coating unit (CT) 22 and the edge remover (E)
R) 23, a drying processing unit (VD) 40 is provided. Thus, the substrate G on which the color resist is applied is transported to the drying processing unit (VD) 40 to be dried, and thereafter, the edge is removed by the edge remover (ER) 23. The drying unit (VD) 40 will be described later.

【0034】さらに、後段部2cは、搬送路14に沿っ
て移動可能な、基板搬送手段である主搬送装置19を備
えており、搬送路14の一方側には、基板Gに処理液等
を供給して処理する液系処理ユニットである3つの現像
処理ユニット(DEV)24a、24b、24cが配置
されており、搬送路14の他方側には基板Gに対して熱
的処理を施す熱系処理ユニットとして、上下2段に積層
されてなる加熱処理ユニット(HP)31、および加熱
処理ユニットと冷却処理ユニットが上下に積層されてな
る2つの加熱処理・冷却ユニット(HP/COL)3
2、33が配置されている。
Further, the rear stage 2 c is provided with a main transfer device 19, which is a substrate transfer means, which is movable along the transfer path 14, and on one side of the transfer path 14, a processing liquid or the like is applied to the substrate G. Three development processing units (DEVs) 24a, 24b, and 24c, which are liquid processing units that supply and process, are disposed. A thermal system that performs thermal processing on the substrate G is provided on the other side of the transport path 14. As a processing unit, a heat processing unit (HP) 31 formed by stacking two upper and lower stages, and two heat processing / cooling units (HP / COL) 3 formed by stacking a heat processing unit and a cooling unit vertically.
2, 33 are arranged.

【0035】なお、処理部2は、搬送路を挟んで一方の
側に洗浄処理ユニット21a、レジスト処理ユニット2
2、現像処理ユニット24aのようなスピナー系ユニッ
トのみを配置しており、他方の側に加熱処理ユニットや
冷却処理ユニット等の熱系処理ユニットのみを配置する
構造となっている。
The processing section 2 includes a cleaning processing unit 21a and a resist processing unit 2 on one side of the transport path.
2. Only a spinner unit such as the development processing unit 24a is arranged, and only a heat processing unit such as a heating processing unit or a cooling processing unit is arranged on the other side.

【0036】また、中継部15、16のスピナー系ユニ
ット配置側の部分には、薬液供給ユニット34が配置さ
れており、さらにメンテナンスのためのスペース35が
設けられている。
A chemical solution supply unit 34 is disposed at a portion of the relay units 15 and 16 on the side where the spinner system unit is disposed, and a space 35 for maintenance is provided.

【0037】上記主搬送装置17は、搬送機構10のア
ーム11との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、前
段部2aの各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬
出、さらには中継部15との間で基板Gの受け渡しを行
う機能を有している。また、主搬送装置18は中継部1
5との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、中段部2
bの各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、さら
には中継部16との間の基板Gの受け渡しを行う機能を
有している。さらに、主搬送装置19は中継部16との
間で基板Gの受け渡しを行うとともに、後段部2cの各
処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、さらにはイ
ンターフェイス部3との間の基板Gの受け渡しを行う機
能を有している。なお、中継部15、16は基板Gの温
度を調節可能とした温調手段としての冷却プレートとし
ても機能する。
The main transfer device 17 transfers the substrate G to and from the arm 11 of the transfer mechanism 10, and loads and unloads the substrate G to and from the processing units in the front section 2 a. It has a function of transferring the substrate G between the two. Further, the main transfer device 18 is connected to the relay unit 1.
5 and transfer the substrate G to the middle section 2
b has a function of loading / unloading the substrate G to / from each processing unit and transferring the substrate G to / from the relay unit 16. Further, the main transfer device 19 transfers the substrate G to and from the relay unit 16, and loads and unloads the substrate G to and from each of the processing units in the subsequent unit 2 c, and further transfers the substrate G to and from the interface unit 3. Has the function of performing Note that the relay portions 15 and 16 also function as cooling plates as temperature control means that can adjust the temperature of the substrate G.

【0038】インターフェイス部3は、処理部2との間
で基板を受け渡しする際に一時的に基板を保持するエク
ステンション36と、さらにその両側に設けられた、バ
ッファーカセットを配置する2つのバッファーステージ
37と、これらと接続される外部装置である露光装置
(図示せず)との間の基板Gの搬入出を行う基板搬送手
段としての搬送機構38とを備えている。搬送機構38
はエクステンション36およびバッファステージ37の
配列方向に沿って設けられた搬送路38a上を移動可能
な搬送アーム39を備え、この搬送アーム39により処
理部2と露光装置との間で基板Gの搬送が行われる。こ
のように各処理ユニットを集約して一体化することによ
り、省スペース化および処理の効率化を図ることができ
る。
The interface section 3 includes an extension 36 for temporarily holding the substrate when transferring the substrate to and from the processing section 2, and two buffer stages 37 provided on both sides thereof for disposing a buffer cassette. And a transfer mechanism 38 as a substrate transfer means for transferring the substrate G in and out of an exposure device (not shown) which is an external device connected thereto. Transport mechanism 38
Is provided with a transfer arm 39 movable along a transfer path 38a provided along the direction in which the extension 36 and the buffer stage 37 are arranged. The transfer arm 39 allows the transfer of the substrate G between the processing unit 2 and the exposure apparatus. Done. By consolidating and integrating the processing units in this manner, space saving and processing efficiency can be achieved.

【0039】また、上記構成の塗布・現像処理装置は、
図2に示すようにカセットステーション1、処理部2
a、処理部2b、処理部2c、インターフェイス部3毎
に、ユニット制御部、すなわちカセットステーション1
の制御部112、処理部2aの制御部113、処理部2
bの制御部114、処理部2cの制御部115、インタ
ーフェイス部3の制御部116によって個々に動作が制
御されるようになっており、これら各処理部の制御部は
主制御部111によって集中制御される。カセットステ
ーション1、処理部2a、処理部2b、処理部2c、イ
ンターフェイス部3におけるそれぞれの処理機構での処
理は、レシピが主制御部111からカセットステーショ
ン1の制御部112、処理部2aの制御部113、処理
部2bの制御部114、処理部2c115、インターフ
ェイス部3の制御部116に送られることにより、各処
理機構、例えばレジスト塗布処理ユニット22において
一つの色彩レジストが塗布された基板を露光装置、現像
処理ユニット24a〜24cに順次搬送し、基板Gをさ
らにレジスト塗布処理装置ユニット22に搬送し、この
レジスト塗布処理ユニット22で他の色彩レジストが塗
布された基板Gを露光装置、現像処理ユニット24a〜
24cに順次搬送するように制御可能とされている。
Further, the coating / developing apparatus having the above configuration is
As shown in FIG. 2, the cassette station 1 and the processing unit 2
a, a processing unit 2b, a processing unit 2c, and an interface unit 3.
Control section 112, processing section 2a control section 113, processing section 2
The operations are individually controlled by the control unit 114 of FIG. 1B, the control unit 115 of the processing unit 2c, and the control unit 116 of the interface unit 3. The control unit of each processing unit is controlled centrally by the main control unit 111. Is done. The processing in each processing mechanism in the cassette station 1, the processing unit 2a, the processing unit 2b, the processing unit 2c, and the interface unit 3 is performed by the main control unit 111 to the control unit 112 of the cassette station 1, the control unit of the processing unit 2a 113, the control unit 114 of the processing unit 2b, the processing unit 2c 115, and the control unit 116 of the interface unit 3 send the substrate on which one color resist is applied in each processing mechanism, for example, the resist coating unit 22 to an exposure apparatus. The substrate G is sequentially transported to the development processing units 24a to 24c, and the substrate G is further transported to the resist coating processing unit 22. The substrate G coated with another color resist by the resist coating processing unit 22 is exposed to an exposure device, a development processing unit. 24a ~
It can be controlled so that the paper is sequentially conveyed to 24c.

【0040】このように構成される塗布・現像処理シス
テムにおいては、カセットC内の基板Gが、処理部2に
搬送され、処理部2では、まず、前段部2aの洗浄ユニ
ット(SCR)21a,21bでスクラバー洗浄が施さ
れ、加熱処理ユニット(HP)26の一つで加熱乾燥さ
れた後、冷却ユニット(COL)27の一つで冷却され
る。
In the coating / developing processing system configured as described above, the substrate G in the cassette C is transported to the processing section 2, where the cleaning unit (SCR) 21a, The scrubber is washed at 21 b, and is heated and dried at one of the heat treatment units (HP) 26, and then cooled at one of the cooling units (COL) 27.

【0041】その後、基板Gは中段部2bに搬送され、
レジスト塗布ユニット(CT)22で所定の色彩レジス
トが塗布され(色彩レジストを基板に塗布する工程)、
乾燥処理ユニット(VD)40により乾燥処理されて、
エッジリムーバー(ER)23で基板Gの周縁の余分な
色彩レジストが除去される。その後、基板Gは、中段部
2bの中の加熱処理ユニット(HP)の一つでプリベー
ク処理され、ユニット30または29の下段の冷却ユニ
ット(COL)で冷却される。
Thereafter, the substrate G is transported to the middle section 2b,
A predetermined color resist is applied by a resist coating unit (CT) 22 (a step of applying a color resist to a substrate),
It is dried by the drying processing unit (VD) 40,
An extra color resist on the periphery of the substrate G is removed by the edge remover (ER) 23. Thereafter, the substrate G is pre-baked in one of the heat processing units (HP) in the middle section 2b, and is cooled in the lower cooling unit (COL) of the unit 30 or 29.

【0042】その後、基板Gは中継部16から主搬送装
置19にてインターフェイス部3を介して露光装置に搬
送されてそこで所定のパターンが露光される(所定の色
彩レジストが塗布された基板を露光装置に対して搬送す
る工程)。そして、基板Gは再びインターフェイス部3
を介して搬入され、現像処理ユニット(DEV)24
a,24b,24cのいずれかで現像処理される(露光
装置から露光処理された基板を受け取って現像処理する
工程)。現像処理された基板Gは、後段部2cのいずれ
かの加熱処理ユニット(HP)にてポストベーク処理が
施された後、冷却ユニット(COL)にて冷却される。
Thereafter, the substrate G is transferred from the relay unit 16 to the exposure device via the interface unit 3 by the main transfer unit 19, where a predetermined pattern is exposed (the substrate coated with the predetermined color resist is exposed). Transporting the device). Then, the substrate G is returned to the interface unit 3 again.
And the developing unit (DEV) 24
a), 24b, and 24c (a process of receiving the exposed substrate from the exposure device and developing the substrate). The substrate G that has been subjected to the development processing is subjected to post-bake processing in any one of the heat treatment units (HP) in the subsequent section 2c, and then cooled in the cooling unit (COL).

【0043】このような各色彩毎の一連の処理が予め設
定されたレシピに従って実行される。例えば、レッドの
塗布・露光・現像処理が終了した基板Gは、順次グリー
ン、ブルー、ブラックの塗布・露光・現像処理が施され
るが、後述するように、塗布ユニット(CT)22にお
いて異なる色彩のノズルを用いる他は、各色彩ともほぼ
同様に処理される。完成したカラーフィルターの基板
は、主搬送装置19,18,17および搬送機構10に
よってカセットステーション1上の所定のカセットに収
容される。
Such a series of processes for each color is executed according to a preset recipe. For example, the substrate G that has been subjected to the red coating, exposure, and development processing is sequentially subjected to green, blue, and black coating, exposure, and development processing. As described later, different colors are applied to the coating unit (CT) 22. Each color is processed in substantially the same manner, except that the nozzle is used. The completed substrate of the color filter is stored in a predetermined cassette on the cassette station 1 by the main transfer devices 19, 18, and 17 and the transfer mechanism 10.

【0044】次に、本実施の形態に係るカラーフィルタ
ーの塗布・現像処理システムに装着されるレジスト塗布
処理ユニット(CT)22、乾燥処理ユニット(VD)
40、およびエッジリムーバー(ER)23について説
明する。図3および図4は、レジスト塗布処理ユニット
(CT)、乾燥処理ユニット(VD)、およびエッジリ
ムーバー(ER)を示す概略平面図および概略側面図で
ある。
Next, the resist coating unit (CT) 22 and the drying unit (VD) which are installed in the color filter coating / developing system according to the present embodiment.
40 and the edge remover (ER) 23 will be described. 3 and 4 are a schematic plan view and a schematic side view showing a resist coating unit (CT), a drying unit (VD), and an edge remover (ER).

【0045】図3および図4に示すように、これらレジ
スト塗布処理ユニット(CT)22、乾燥処理ユニット
(VD)40、およびエッジリムーバー(ER)23
は、同一のステージに一体的に並設されている。レジス
ト塗布処理ユニット(CT)22で所定の色彩レジスト
が塗布された基板Gは、一対の搬送アーム41によりガ
イドレール43に沿って乾燥処理ユニット(VD)40
に搬送され、この乾燥処理ユニット(VD)40で乾燥
処理された基板Gは、一対の搬送アーム42によりガイ
ドレール43に沿ってエッジリムーバー(ER)23に
搬送されるようになっている。
As shown in FIGS. 3 and 4, the resist coating unit (CT) 22, the drying unit (VD) 40, and the edge remover (ER) 23
Are integrally arranged on the same stage. The substrate G on which a predetermined color resist is applied by the resist coating unit (CT) 22 is dried by a pair of transport arms 41 along a guide rail 43 along with a drying unit (VD) 40.
The substrate G is transported to the edge remover (ER) 23 along a guide rail 43 by a pair of transport arms 42.

【0046】このレジスト塗布処理ユニット(CT)2
2は、基板Gを吸着保持する水平回転可能なスピンチャ
ック51、このスピンチャック51の上端部を囲みかつ
このスピンチャック51に吸着保持された基板Gを包囲
して上端部が開口する有底開口円筒形状の回転カップ5
2、回転カップ52の上端開口にかぶせられる蓋体(図
示略)、回転カップ52の外周を取り囲むように固定配
置されるコーターカップ53を有している。そして、後
述する色彩レジストの滴下時には、蓋体が開かれた状態
で基板Gがスピンチャック51により回転され、色彩レ
ジストの拡散時には、基板Gがスピンチャック51によ
り回転されると同時に、蓋体が閉じられた状態の回転カ
ップ52が回転されるようになっている。なお、コータ
ーカップ53の外周には、アウターカバー54が設けら
れている。
This resist coating unit (CT) 2
Numeral 2 denotes a horizontally rotatable spin chuck 51 for sucking and holding the substrate G, and a bottomed opening surrounding the upper end of the spin chuck 51 and surrounding the substrate G sucked and held by the spin chuck 51 and opening at the upper end. Cylindrical rotating cup 5
2. It has a lid (not shown) that covers the upper end opening of the rotating cup 52, and a coater cup 53 that is fixedly arranged so as to surround the outer periphery of the rotating cup 52. When the color resist is dropped, the substrate G is rotated by the spin chuck 51 in a state where the lid is opened, and when the color resist is diffused, the substrate G is rotated by the spin chuck 51 and the lid is simultaneously opened. The closed rotating cup 52 is rotated. Note that an outer cover 54 is provided on the outer periphery of the coater cup 53.

【0047】また、レジスト塗布処理ユニット(CT)
22は、ガラス製の矩形の基板Gに、4色(レッド、グ
リーン、ブルー、およびブラック)の色彩レジストを吐
出するためのレジスト吐出ノズルアーム55を有してお
り、このレジスト吐出ノズルアーム55は回動自在であ
る。
Further, a resist coating unit (CT)
22 has a resist discharge nozzle arm 55 for discharging color resists of four colors (red, green, blue, and black) on a rectangular substrate G made of glass. It is rotatable.

【0048】レジスト吐出ノズルアーム55は、待機位
置で待機しており、色彩レジストの滴下時には、このレ
ジスト吐出ノズルアーム55が基板Gの中心まで回動さ
れるようになっている。レジスト吐出ノズルアーム55
の先端には、レッドの色彩レジストのノズル56a、グ
リーンの色彩レジストのノズル56b、ブルーの色彩レ
ジストのノズル56c、ブラックの色彩レジストのノズ
ル56d、およびシンナーノズル56eを備えている。
また、待機位置でのノズル56a〜56dの下方には上
部が開放された図示しないドレンパンが固定されてい
る。
The resist discharge nozzle arm 55 is waiting at a standby position, and when the color resist is dropped, the resist discharge nozzle arm 55 is rotated to the center of the substrate G. Resist discharge nozzle arm 55
Are provided with a red color resist nozzle 56a, a green color resist nozzle 56b, a blue color resist nozzle 56c, a black color resist nozzle 56d, and a thinner nozzle 56e.
A drain pan (not shown) having an open top is fixed below the nozzles 56a to 56d at the standby position.

【0049】また、図5に示すように、各ノズル56a
〜56dは、レジスト供給管101a〜101dを介し
て色彩レジストを各々収納する容器例えばレジスト供給
タンク102a〜102dに接続され、途中にポンプ1
03a〜103dが設けられている。また、ノズル56
a〜56dと、ポンプ103a〜103dの間にエアオ
ペバルブ106a〜106dが設けられている。また、
ノズル56a〜56d内部を洗浄するノズル洗浄機構1
17がノズル56a〜56d毎に設けられている。ノズ
ル洗浄機構117として、ノズル56a〜56dとポン
プ103a〜103dの間には、それぞれエアオペ三方
弁104a〜104dが設けられ、洗浄供給タンク11
0からの配管105a〜105dがそれぞれ接続されて
いる。洗浄液供給タンク110には、複数種の色彩レジ
ストが溶解可能な一種類の洗浄液が貯留されている。洗
浄液供給タンク110はNで加圧することにより洗浄
液を配管105a〜105dへ圧送可能である。エアオ
ペバルブ106a〜106dは、制御部107の指示に
より開閉可能であり、エアオペ三方弁104a〜104
dは、制御部107の指示により切り替え可能な構成と
なっている。
As shown in FIG. 5, each nozzle 56a
To 56d are connected to containers for storing color resists, for example, resist supply tanks 102a to 102d via resist supply pipes 101a to 101d, respectively.
03a to 103d are provided. In addition, the nozzle 56
Air operated valves 106a to 106d are provided between a to 56d and pumps 103a to 103d. Also,
Nozzle cleaning mechanism 1 for cleaning the inside of nozzles 56a to 56d
17 is provided for each of the nozzles 56a to 56d. As the nozzle cleaning mechanism 117, air-operated three-way valves 104a to 104d are provided between the nozzles 56a to 56d and the pumps 103a to 103d, respectively.
Pipes 105a to 105d from 0 are respectively connected. The cleaning liquid supply tank 110 stores one type of cleaning liquid in which a plurality of types of color resists can be dissolved. Cleaning liquid supply tank 110 is capable of pumping a cleaning liquid into the pipe 105a~105d by pressurizing with N 2. The air operated valves 106a to 106d can be opened and closed according to an instruction from the control unit 107, and the air operated three-way valves 104a to 104d
d is configured to be switchable according to an instruction from the control unit 107.

【0050】例えばレッドの色彩レジストを吐出する場
合には、レジストが配管101aからノズル56aに流
れるようにエアオペ三方弁104aを切り替えておき、
ポンプ103aを駆動し、エアオペバルブ106aを開
くことによりレジストを吐出可能である。
For example, when discharging a red color resist, the air-operated three-way valve 104a is switched so that the resist flows from the pipe 101a to the nozzle 56a.
The resist can be discharged by driving the pump 103a and opening the air operation valve 106a.

【0051】このように構成されているため、色彩ノズ
ル56a〜56dの一つにより、一つの色彩レジストを
基板Gに塗布した後、他の色彩ノズルによって塗布処理
を行うことが容易である。例えば、次の基板に塗布する
レジストの色彩が異なっていても、ノズルを変えるだけ
で容易に対応することができる。
With this configuration, it is easy to apply one color resist to the substrate G by one of the color nozzles 56a to 56d and then perform the coating process by another color nozzle. For example, even if the color of the resist applied to the next substrate is different, it can be easily handled only by changing the nozzle.

【0052】また、例えばレッドの色彩レジストが吐出
された後、配管105aからノズル56aに洗浄液が流
れるように、エアオペ三方弁104aを切替えることに
より、ノズル56a内部を洗浄可能である。なお、洗浄
後の洗浄液はノズル56aから、図示しないドレンパン
に向けて吐出される。
Also, after the red color resist is discharged, for example, the inside of the nozzle 56a can be cleaned by switching the air-operated three-way valve 104a so that the cleaning liquid flows from the pipe 105a to the nozzle 56a. The cleaning liquid after the cleaning is discharged from the nozzle 56a toward a drain pan (not shown).

【0053】また、同様にノズル56b〜56dも色彩
レジストの吐出およびノズル内洗浄が可能である。
Similarly, the nozzles 56b to 56d can discharge the color resist and clean the inside of the nozzles.

【0054】乾燥処理ユニット40には、ローチャンバ
61と、これを被覆して内部の処理室を気密に維持する
アッパーチャンバ62とが設けられている。このローチ
ャンバ61には、基板Gを載置するためのステージ63
が設けられ、ローチャンバ61の各コーナー部には、4
個の排気口64が設けられ、この排気口64に連通され
た排気管65(図4)がターボ分子排気ポンプ等の排気
ポンプ(図示略)に接続され、これにより、ローチャン
バ61とアッパーチャンバ62との間の処理室内のガス
が排気され、所定の真空度に減圧されるように構成され
ており、基板Gを減圧状態で、実質的に非加熱で乾燥処
理を行う。
The drying processing unit 40 is provided with a low chamber 61 and an upper chamber 62 which covers the low chamber 61 and keeps the internal processing chamber airtight. The low chamber 61 has a stage 63 for mounting the substrate G thereon.
Are provided at each corner of the low chamber 61.
Exhaust ports 64 are provided, and an exhaust pipe 65 (FIG. 4) connected to the exhaust ports 64 is connected to an exhaust pump (not shown) such as a turbo-molecular exhaust pump, whereby the low chamber 61 and the upper chamber are formed. The gas in the processing chamber between 62 and 62 is evacuated and reduced in pressure to a predetermined degree of vacuum, and the drying process is performed on the substrate G under reduced pressure and substantially without heating.

【0055】エッジリムーバー(ER)23(端面処
理)には、基板Gを載置するためのステージ71が設け
られ、このステージ71上の2つのコーナー部には、基
板Gを位置決めするための2つのアライメント手段72
が設けられている。
A stage 71 for mounting the substrate G is provided on the edge remover (ER) 23 (end surface processing). Two stages for positioning the substrate G are provided at two corners on the stage 71. Alignment means 72
Is provided.

【0056】この基板Gの四辺には、それぞれ、基板G
の四辺のエッジから余分な色彩レジストを除去するため
の四個のリムーバーヘッド73が設けられている。各リ
ムーバーヘッド73は、内部からシンナーを吐出するよ
うに断面略U字状を有し、基板Gの四辺に沿って移動機
構(図示略)によって移動されるようになっている。し
たがって、各リムーバーヘッド73は、基板Gの各辺に
沿って移動してシンナーを吐出しながら、基板Gの四辺
のエッジに付着した余分な色彩レジストを取り除くこと
ができる。
On the four sides of the substrate G,
There are provided four remover heads 73 for removing extra color resist from the four edges. Each of the remover heads 73 has a substantially U-shaped cross section so as to discharge the thinner from the inside, and is moved by a moving mechanism (not shown) along four sides of the substrate G. Accordingly, each of the remover heads 73 can remove the extra color resist adhering to the four edges of the substrate G while moving along each side of the substrate G and discharging the thinner.

【0057】次に、このように一体的に構成されたレジ
スト塗布処理ユニット(CT)22、乾燥処理ユニット
(VD)40、およびエッジリムーバー(ER)23に
おける、基板Gの処理について説明する。
Next, processing of the substrate G in the resist coating processing unit (CT) 22, the drying processing unit (VD) 40, and the edge remover (ER) 23, which are integrated as described above, will be described.

【0058】先ず、レジスト塗布処理ユニット(CT)
22において、スピンチャック51により基板Gが回転
され、レジスト吐出ノズルアーム55が基板Gの中心ま
で回動され、シンナーノズル56eが基板Gの中心に到
達されると、回転する基板Gの表面にシンナーが供給さ
れ、遠心力によって基板Gの中心からその周囲全域にむ
らなく広げられる。
First, a resist coating unit (CT)
At 22, the substrate G is rotated by the spin chuck 51, the resist discharge nozzle arm 55 is rotated to the center of the substrate G, and the thinner nozzle 56e reaches the center of the substrate G. Is spread from the center of the substrate G to the entire periphery thereof by the centrifugal force.

【0059】続いて、所定の色彩レジスト、例えばレッ
ドの色彩レジストのノズル56aがスピンチャック51
の中心(基板Gの中心)に到達され、エアオペ三方弁1
04aとエアオペバルブ106aを制御し、回転する基
板Gの中心にレッドの色彩レジストが滴下されて基板G
に塗布され、遠心力によって基板Gの中心からその周囲
全域にむらなく広げられる。
Subsequently, a nozzle 56a of a predetermined color resist, for example, a red color resist is moved to the spin chuck 51.
(The center of the substrate G), the air-operated three-way valve 1
04a and the air-operated valve 106a are controlled, and a red color resist is dropped at the center of the rotating substrate G so that the substrate G
And is evenly spread from the center of the substrate G to the entire area around the center by the centrifugal force.

【0060】レッドの色彩レジストが吐出された後、レ
ジスト吐出ノズルアーム55は、待機位置まで回動さ
れ、次の異なる色彩レジストが吐出するまでの間に洗浄
液でノズル56a内部を洗浄する工程を行う。この時、
配管105aからノズル56aに洗浄液が流れるよう
に、エアオペ三方弁104aを切替え、洗浄液をノズル
56aから吐出し、ノズル56a内部を洗浄する。ノズ
ル56a内部を洗浄することにより、ノズル内部で色彩
レジストが固化せず、固化した色彩レジストが基板G上
に吐出されることを防止することが可能であり、製品の
歩留まりが向上する。
After the red color resist is discharged, the resist discharge nozzle arm 55 is rotated to the standby position, and performs a process of cleaning the inside of the nozzle 56a with the cleaning liquid until the next different color resist is discharged. . At this time,
The air-operated three-way valve 104a is switched so that the cleaning liquid flows from the pipe 105a to the nozzle 56a, and the cleaning liquid is discharged from the nozzle 56a to clean the inside of the nozzle 56a. By cleaning the inside of the nozzle 56a, the color resist is not solidified inside the nozzle, and it is possible to prevent the solidified color resist from being discharged onto the substrate G, thereby improving the product yield.

【0061】このレッドの色彩レジストが塗布された基
板Gは、搬送アーム41により乾燥処理ユニット40に
搬送され、ローチャンバ61とアッパーチャンバ62と
の間の処理室内のガスが排気され、所定の真空度に減圧
されることにより、色彩レジスト中のシンナー等の溶剤
がある程度蒸発され、レジスト中の溶剤が徐々に放出さ
れ、レジストに悪影響を与えることなくことなくレジス
トの乾燥を促進させることができ、また、実質的に非加
熱で乾燥処理を行うので基板G上に転写が生じることを
有効に防止することができる。
The substrate G coated with the red color resist is transported to the drying processing unit 40 by the transport arm 41, and the gas in the processing chamber between the low chamber 61 and the upper chamber 62 is evacuated to a predetermined vacuum. By reducing the pressure, the solvent such as thinner in the color resist is evaporated to some extent, the solvent in the resist is gradually released, and the drying of the resist can be promoted without adversely affecting the resist, Further, since the drying process is performed substantially without heating, it is possible to effectively prevent transfer from occurring on the substrate G.

【0062】この乾燥された基板Gは、搬送アーム42
によりエッジリムーバー(ER)に搬送され、4個のリ
ムーバーヘッド73が基板Gの各辺に沿って移動され、
吐出されたシンナーにより基板Gの四辺のエッジに付着
した余分な色彩レジストが除去される。基板Gのエッジ
に付着した色彩レジストが除去されるので、主搬送装置
17〜19や搬送機構38で基板Gを搬送する際に色彩
レジストが主搬送装置17〜19や搬送機構38に付着
してパーティクルの原因となる可能性を低減することが
できる。
The dried substrate G is transferred to the transfer arm 42
, The four remover heads 73 are moved along each side of the substrate G,
Excess color resist adhering to the four edges of the substrate G is removed by the discharged thinner. Since the color resist adhered to the edge of the substrate G is removed, the color resist adheres to the main transport devices 17 to 19 and the transport mechanism 38 when the substrate G is transported by the main transport devices 17 to 19 and the transport mechanism 38. The possibility of causing particles can be reduced.

【0063】この後、レジスト塗布処理ユニット(C
T)22には、他の基板Gが搬入され、ノズル内部を洗
浄する工程を終了し、レジスト吐出ノズルアーム55を
回動させ、同じレッド、または他の色彩のレジストが塗
布される。同じ色彩の場合には同一の動作を繰り返して
行えばよく、異なる色彩の場合にも異なる色彩ノズルか
ら他の色彩のレジストを滴下するのみで他は同じ処理で
よいから、極めて容易に対応することができる。
Thereafter, a resist coating unit (C
T) 22, another substrate G is carried in, the step of cleaning the inside of the nozzle is completed, the resist discharge nozzle arm 55 is rotated, and the same red or another color resist is applied. In the case of the same color, the same operation may be repeated, and in the case of a different color, the same processing can be performed simply by dropping a resist of another color from a different color nozzle, so that it is extremely easy to respond. Can be.

【0064】一方、上述のレッドのレジストが塗布され
た基板Gは、露光・現像処理されて、再度、洗浄処理の
後、レジスト塗布処理ユニット(CT)22に搬入さ
れ、二回目の色彩レジスト、例えばグリーンの色彩レジ
ストのノズル56からグリーンの色彩レジストが基板に
塗布されて、上述した処理工程が同様に繰り替えされ
る。同様にして、三回目の色彩レジスト、例えばブルー
が塗布され、四回目の色彩レジスト、例えばブラックが
塗布される。
On the other hand, the substrate G on which the above-mentioned red resist is applied is subjected to exposure and development processing, washed again, and then carried into the resist coating unit (CT) 22, where the second color resist, For example, a green color resist is applied to the substrate from the nozzle 56 of the green color resist, and the above-described processing steps are similarly repeated. Similarly, a third color resist, for example, blue, is applied, and a fourth color resist, for example, black, is applied.

【0065】このように、洗浄処理ユニット(SC
R)、レジスト塗布処理ユニット(CT)、および現像
処理ユニット(DEV)を備えた一つの塗布・現像処理
システムにより、複数の色彩レジストを順次塗布し、か
つ露光後の現像処理を行うことができる。したがって、
設備の小型化および省スペース化を達成することがで
き、製造コストの低減を図ることができる。
As described above, the cleaning unit (SC
R), a plurality of color resists can be sequentially applied by one coating / developing system including a resist coating unit (CT) and a developing unit (DEV), and a developing process after exposure can be performed. . Therefore,
Equipment can be reduced in size and space can be saved, and manufacturing costs can be reduced.

【0066】また、レジスト塗布処理ユニット(CT)
22においては、複数の色彩レジストに対応して、それ
ぞれのレジストを吐出するレジスト吐出ノズル56a〜
56dを用いているため、極めて効率的に複数の色彩レ
ジストを塗布することができる。
A resist coating unit (CT)
At 22, a plurality of resist discharge nozzles 56a to discharge the respective resists corresponding to the plurality of color resists.
Since 56d is used, a plurality of color resists can be applied very efficiently.

【0067】次に、本実施の形態に係る現像処理ユニッ
ト(DEV)24a、24b、24cについて説明す
る。図6は上記現像装置24a、24b、24cの断面
図、図7はその平面図である。図6および図7に示すよ
うに、現像装置24a、24b、24cの中心部には、
駆動モータ31によって回転可能でかつ上下動可能に構
成されたスピンチャック74が設けられている。このス
ピンチャック74の上面は、真空吸着等によってガラス
基板Gを水平状態に吸着保持するように構成されてい
る。
Next, the developing units (DEV) 24a, 24b, 24c according to the present embodiment will be described. FIG. 6 is a sectional view of the developing devices 24a, 24b and 24c, and FIG. 7 is a plan view thereof. As shown in FIGS. 6 and 7, at the center of the developing devices 24a, 24b, and 24c,
A spin chuck 74 configured to be rotatable and vertically movable by the drive motor 31 is provided. The upper surface of the spin chuck 74 is configured to suction-hold the glass substrate G in a horizontal state by vacuum suction or the like.

【0068】このスピンチャック74の下方には下容器
75が配置されている。また、スピンチャック74の外
周を囲うように外カップ76が配置され、下容器75と
外カップ76の間には内カップ77が配置されている。
A lower container 75 is arranged below the spin chuck 74. An outer cup 76 is arranged so as to surround the outer periphery of the spin chuck 74, and an inner cup 77 is arranged between the lower container 75 and the outer cup 76.

【0069】外カップ76と内カップ77とは連結部材
78により連結され、これら外カップ76および内カッ
プ77は昇降シリンダ88により昇降されるようになっ
ている。外カップ76および内カップ77の上部はそれ
ぞれ上に行くに従って狭くなるように内側に傾斜して設
けられており、外カップ76の上端開口部の直径は内カ
ップ77のそれよりも大きく、かつ、これらの上端開口
部の直径はガラス基板Gを水平状態にしたままでカップ
内に下降させて収容できる大きさに形成されている。
The outer cup 76 and the inner cup 77 are connected by a connecting member 78, and the outer cup 76 and the inner cup 77 are raised and lowered by a lifting cylinder 88. The upper portions of the outer cup 76 and the inner cup 77 are inclined inward so as to become narrower as going upward, and the diameter of the upper end opening of the outer cup 76 is larger than that of the inner cup 77, and The diameters of these upper openings are formed to be large enough to be lowered into the cup while the glass substrate G is kept horizontal.

【0070】下容器75は、中心部から外に向かって下
方向に傾斜する傾斜部79と、その外周に配置された受
け皿部80とを備える。傾斜部79には、ガラス基板G
の裏面を保持するための支持ピン81が複数、例えば4
本配置されている。支持ピン81の先端の高さは、スピ
ンチャック74に保持されたガラス基板Gが最も低い位
置に下降されたときに、支持ピン81の先端がガラス基
板Gの裏面に当接する位置とされている。また、受け皿
部80の底面には筒状の起立壁82が設けられており、
起立壁82は外カップ76と内カップ77との間に介在
される。また、内カップ77の傾斜部は起立壁82を超
えて起立壁82の外周に延在している。これにより、内
カップ77の傾斜部を流れる流体は受け皿部80の起立
壁82で仕切られた外側室83に流れ込むようになって
いる。
The lower container 75 has an inclined portion 79 which is inclined downward from the center to the outside, and a tray portion 80 arranged on the outer periphery thereof. The glass substrate G
Support pins 81 for holding the rear surface of
Book is arranged. The height of the tip of the support pin 81 is set to a position where the tip of the support pin 81 contacts the back surface of the glass substrate G when the glass substrate G held by the spin chuck 74 is lowered to the lowest position. . Further, a cylindrical upright wall 82 is provided on the bottom surface of the tray portion 80,
The upright wall 82 is interposed between the outer cup 76 and the inner cup 77. The inclined portion of the inner cup 77 extends to the outer periphery of the upright wall 82 beyond the upright wall 82. Thus, the fluid flowing through the inclined portion of the inner cup 77 flows into the outer chamber 83 partitioned by the upright wall 82 of the tray 80.

【0071】下容器75の傾斜部79の裏面側には、カ
ップ内を排気するための排気口84が設けられており、
排気口84には排気ポンプ(図示を省略)が接続されて
いる。受け皿部80の起立壁82で仕切られた内側室8
5の下部には排液口86が形成されており、外側室83
の下部にドレイン口87が形成されている。そして、排
液口86は図示しない回収タンクに接続されている。ド
レイン口87は図示しない回収タンクに接続されてい
る。
An exhaust port 84 for exhausting the inside of the cup is provided on the back side of the inclined portion 79 of the lower container 75.
An exhaust pump (not shown) is connected to the exhaust port 84. Inner chamber 8 partitioned by upright wall 82 of saucer section 80
A drain port 86 is formed in the lower part of the outer chamber 83.
A drain port 87 is formed in the lower part of FIG. The drain 86 is connected to a not-shown recovery tank. The drain port 87 is connected to a collection tank (not shown).

【0072】カップの上部一側方にはガラス基板G表面
に対し現像液を吐出するための現像液吐出機構89が配
置され、他側方にはガラス基板G表面に対して洗浄液を
高圧で噴出するための高圧洗浄機構90およびガラス基
板G表面に対しリンス液を供給するためのリンス液供給
機構91が配置されている。また、カップの上部の手前
および背後には搬送用レール92、93が設けられてい
る。現像液吐出機構89および高圧洗浄機構90にはそ
れぞれ搬送用モータ58、59が取り付けられており、
制御部94による制御に基づいて搬送モータ58、59
の駆動により現像液吐出機構89および高圧洗浄機構9
0が搬送用レール92、93に沿ってカップ内上部に搬
送されるようになっている。
A developing solution discharge mechanism 89 for discharging the developing solution to the surface of the glass substrate G is disposed on one side of the upper portion of the cup, and a cleaning solution is jetted at a high pressure on the surface of the glass substrate G on the other side. A rinsing liquid supply mechanism 91 for supplying a rinsing liquid to the surface of the glass substrate G is disposed. Further, transport rails 92 and 93 are provided in front of and behind the upper portion of the cup. Transport motors 58 and 59 are attached to the developer discharge mechanism 89 and the high-pressure cleaning mechanism 90, respectively.
The transport motors 58 and 59 are controlled based on the control by the control unit 94.
Drive mechanism 89 and high-pressure cleaning mechanism 9
0 is conveyed to the upper part in the cup along the conveying rails 92 and 93.

【0073】現像液吐出機構89には、制御部94の制
御の基、ポンプ95を介して現像液収容タンク52より
現像液が供給される。なお、現像液の種類は一種類であ
り、色彩レジストの種類の数より少ない。現像液吐出機
構89とポンプ95との間には、現像液を加温する加温
装置96が介挿されている。加温装置96は、例えば雰
囲気温度が、例えば23(℃)である場合には現像液を
雰囲気温度より高い温度、例えば25〜27(℃)に加
温して設定する。これにより、現像速度を向上させるこ
とができる。また、高圧洗浄機構90には、制御部94
によって制御されるポンプ97を介して洗浄液タンク9
8より洗浄液が供給される。同様に、リンス液供給機構
91にも、制御部94によって制御されるポンプ99を
介してリンス液タンク100よりリンス液が供給され
る。
The developing solution is supplied from the developing solution storage tank 52 to the developing solution discharging mechanism 89 via the pump 95 under the control of the control unit 94. The type of the developing solution is one type, which is smaller than the number of types of the color resist. A heating device 96 for heating the developer is interposed between the developer discharge mechanism 89 and the pump 95. For example, when the ambient temperature is, for example, 23 (° C.), the heating device 96 is set by heating the developer to a temperature higher than the ambient temperature, for example, 25 to 27 (° C.). Thereby, the developing speed can be improved. The high-pressure cleaning mechanism 90 includes a control unit 94.
Liquid tank 9 via pump 97 controlled by
A cleaning liquid is supplied from 8. Similarly, the rinsing liquid supply mechanism 91 is supplied with the rinsing liquid from the rinsing liquid tank 100 via the pump 99 controlled by the control unit 94.

【0074】次に動作について説明する。現像装置24
a、24b、24c内に搬入され、スピンチャック74
によって保持されたガラス基板Gは支持ピン81と当接
しない位置まで下降され、外カップ76および内カップ
77は最も高い位置まで上昇され、現像液吐出機構89
はガラス基板Gのほぼ中央まで搬送されて静止する。そ
して、スピンチャック74により保持されたガラス基板
Gが回転され、現像液吐出機構89よりガラス基板Gに
対して現像液が吐出される。なお、ガラス基板Gの外周
より飛散する現像液は内カップ77の内側に当たり排液
口86より回収され、その少なくとも一部は再利用され
る。
Next, the operation will be described. Developing device 24
a, 24b, and 24c, and the spin chuck 74
The glass substrate G held by this is lowered to a position where it does not come into contact with the support pins 81, the outer cup 76 and the inner cup 77 are raised to the highest position, and the developer discharging mechanism 89
Is conveyed to almost the center of the glass substrate G and stands still. Then, the glass substrate G held by the spin chuck 74 is rotated, and the developing solution is discharged from the developing solution discharging mechanism 89 onto the glass substrate G. The developer scattered from the outer periphery of the glass substrate G hits the inside of the inner cup 77, is collected from the drainage port 86, and at least a part thereof is reused.

【0075】次に、スピンチャック74によって保持さ
れたガラス基板Gは支持ピン81と当接する位置まで下
降され、外カップ76および内カップ77は所定の位
置、例えば最も低い位置まで下降される。そして、スピ
ンチャック74により保持されたガラス基板Gが静止状
態とされ、高圧洗浄機構90がガラス基板Gの長手方向
に走査され、高圧洗浄機構90によりガラス基板Gに対
して洗浄液が吐出される。なお、ガラス基板Gの外周よ
り飛び散る洗浄液は内カップ77と外カップ76との間
を通ってドレイン口87より排出される。また、高圧洗
浄の際に、支持ピン81によってガラス基板Gを裏面よ
り支持しているので、ガラス基板Gが変形するようなこ
とはないようにしている。
Next, the glass substrate G held by the spin chuck 74 is lowered to a position where it comes into contact with the support pins 81, and the outer cup 76 and the inner cup 77 are lowered to a predetermined position, for example, the lowest position. Then, the glass substrate G held by the spin chuck 74 is brought into a stationary state, the high-pressure cleaning mechanism 90 is scanned in the longitudinal direction of the glass substrate G, and the cleaning liquid is discharged to the glass substrate G by the high-pressure cleaning mechanism 90. Note that the cleaning liquid scattered from the outer periphery of the glass substrate G is discharged from the drain port 87 through the space between the inner cup 77 and the outer cup 76. Further, at the time of high-pressure cleaning, since the glass substrate G is supported from the back surface by the support pins 81, the glass substrate G is prevented from being deformed.

【0076】次に、スピンチャック74によって保持さ
れたガラス基板Gは支持ピン81と当接しない位置まで
上昇され、外カップ76および内カップ77は最も低い
位置まで下降している状態とされ、リンス液供給機構9
1がガラス基板Gのほぼセンターに搬送される。そし
て、スピンチャック74により保持されたガラス基板G
が回転され、リンス液供給機構91よりガラス基板Gに
対してリンス液が供給される。なお、ガラス基板Gの外
周より飛び散るリンス液は内カップ77と外カップ76
との間を通ってドレイン口87より排出される。
Next, the glass substrate G held by the spin chuck 74 is raised to a position where it does not contact the support pins 81, and the outer cup 76 and the inner cup 77 are lowered to the lowest position. Liquid supply mechanism 9
1 is transported to almost the center of the glass substrate G. Then, the glass substrate G held by the spin chuck 74
Is rotated, and the rinse liquid is supplied to the glass substrate G from the rinse liquid supply mechanism 91. The rinsing liquid scattered from the outer periphery of the glass substrate G is applied to the inner cup 77 and the outer cup 76.
And is discharged from the drain port 87.

【0077】最後に、リンス液供給機構91がカップ外
へ搬送され、スピンチャック74によって保持されたガ
ラス基板Gが高速回転されて振り切り乾燥が行われる。
Finally, the rinsing liquid supply mechanism 91 is conveyed out of the cup, and the glass substrate G held by the spin chuck 74 is rotated at high speed to perform shaking-off drying.

【0078】以上のように、洗浄処理ユニット(SC
R)、レジスト塗布処理ユニット(CT)、および現像
処理ユニット(DEV)を備えた一つの塗布・現像処理
システムにより、複数の色彩レジストを順次塗布し、か
つ露光後の現像処理を行うことができる。したがって、
設備の小型化および省スペース化を達成することがで
き、製造コストの低減を図ることができる。
As described above, the cleaning unit (SC
R), a plurality of color resists can be sequentially applied by one coating / developing system including a resist coating unit (CT) and a developing unit (DEV), and a developing process after exposure can be performed. . Therefore,
Equipment can be reduced in size and space can be saved, and manufacturing costs can be reduced.

【0079】なお、本発明は上記実施形態に限定され
ず、本発明の思想を逸脱しない範囲内で種々の変形が可
能である。例えば、上記例では、一つの基板について複
数の色彩のレジストを順次塗布し、全ての色彩の塗布が
完了した後カセットに戻す例について説明したが、これ
に限らず、全ての基板について一色の色彩のレジストの
塗布が終了した時点でカセットに戻し、同様の手順で次
の色彩を塗布する等、種々の手順にて色彩レジストを塗
布することができる。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, in the above-described example, an example was described in which resists of a plurality of colors were sequentially applied to one substrate, and then returned to the cassette after the application of all colors was completed. However, the present invention is not limited to this. When the application of the resist is completed, the color resist can be applied by various procedures such as returning to the cassette and applying the next color in the same procedure.

【0080】また、図8に示すように、空になったレジ
スト供給タンク102a〜102d内を洗浄可能なタン
ク洗浄機構118をさらに設け、レジスト供給タンク1
02a〜102d内部を各々独立にまたは複数同時に洗
浄する工程を行ってもよいのはいうまでもない。タンク
洗浄機構118としてポンプ103a〜103dとレジ
スト供給タンク102a〜102dとの間にエアオペ三
方弁108a〜108dに設け、また、洗浄液供給タン
ク110からエアオペ三方弁108a〜108dに洗浄
液を供給する配管109a〜109dを設ける。ここで
はレジスト供給タンク102a内を洗浄する場合を例に
説明する。レジスト供給タンク102a内の色彩レジス
トが空になった場合、配管109aからレジスト供給タ
ンク102aに洗浄液が流れるようにエアオペ三方弁1
08aを切り替え、レジスト供給タンク102a内に洗
浄液を貯留し、レジスト供給タンク102a内を洗浄す
る。レジスト供給タンク102aに新しいレジストを補
給するまえにレジスト供給タンク102a内を洗浄する
ことにより、レジスト補給後に補給前のレジストが混入
することがなく、基板G上に補給前のレジストが塗布さ
れないので製品の歩留まりを向上させることできる。な
お、エアオペ三方弁108a〜108dの切り替えによ
り、複数同時に洗浄することも可能である。
As shown in FIG. 8, a tank cleaning mechanism 118 capable of cleaning the emptied resist supply tanks 102a to 102d is further provided.
Needless to say, a step of washing the insides 02a to 102d independently or a plurality of times may be performed. The tank cleaning mechanism 118 is provided between the pumps 103a to 103d and the resist supply tanks 102a to 102d in the air-operated three-way valves 108a to 108d. 109d is provided. Here, a case where the inside of the resist supply tank 102a is cleaned will be described as an example. When the color resist in the resist supply tank 102a becomes empty, the air-operated three-way valve 1 is used so that the cleaning liquid flows from the pipe 109a to the resist supply tank 102a.
08a is switched, the cleaning liquid is stored in the resist supply tank 102a, and the inside of the resist supply tank 102a is cleaned. By cleaning the inside of the resist supply tank 102a before supplying new resist to the resist supply tank 102a, the resist before supply is not mixed after the supply of resist, and the resist before supply is not applied onto the substrate G, so that the product Yield can be improved. Note that a plurality of cleanings can be performed at the same time by switching the three-way valves 108a to 108d.

【0081】さらに、レジスト供給タンク102a内に
洗浄液を貯留した後、レジスト供給タンク102aから
ポンプ103aに洗浄液が流れるようにエアオペ三方弁
108aを切り替え、レジスト供給タンク102a内の
洗浄液をノズル56aから吐出させるように、洗浄液が
配管101aからノズル56aに流れるようにエアオペ
三方弁104aを切り替え、エアオペバルブ106aを
開き、ポンプ103aを駆動し、洗浄液をノズル56a
から吐出させ、レジスト供給タンク102aからノズル
56aまでの経路も洗浄する。その後、レジスト供給タ
ンク102aにレジストを供給するか、レジスト供給タ
ンク102aを新しいものと交換する。レジスト供給タ
ンク102aが空になったらレジスト供給タンク102
aからノズル56aまでの経路も洗浄可能なので、レジ
ストをレジスト供給タンク102aに補給中に経路内で
レジストが固化することもなく、製品の歩留まりを向上
させることが可能である。
After the cleaning liquid is stored in the resist supply tank 102a, the air-operated three-way valve 108a is switched so that the cleaning liquid flows from the resist supply tank 102a to the pump 103a, and the cleaning liquid in the resist supply tank 102a is discharged from the nozzle 56a. Thus, the air-operated three-way valve 104a is switched so that the cleaning liquid flows from the pipe 101a to the nozzle 56a, the air-operated valve 106a is opened, the pump 103a is driven, and the cleaning liquid is supplied to the nozzle 56a.
And the path from the resist supply tank 102a to the nozzle 56a is also cleaned. Thereafter, the resist is supplied to the resist supply tank 102a, or the resist supply tank 102a is replaced with a new one. When the resist supply tank 102a becomes empty, the resist supply tank 102
Since the path from a to the nozzle 56a can be cleaned, the resist is not solidified in the path while the resist is being supplied to the resist supply tank 102a, and the yield of the product can be improved.

【0082】さらにまた、洗浄液は、レジストを除去で
きる液体であれば種類に問わず、レジストの溶媒でもよ
いのはいうまでもない。レジストの溶媒例えばシンナー
でノズル洗浄を行えば、レジスト内に異物が混ざること
もなく、製品の歩留まりを向上させることができる。ま
た、シンナーは容易に入手可能である。
Further, it goes without saying that the cleaning liquid may be a solvent for the resist irrespective of the type as long as the liquid can remove the resist. If nozzle cleaning is performed with a solvent for the resist, for example, a thinner, foreign matters are not mixed in the resist, and the product yield can be improved. Also, thinners are readily available.

【0083】さらにまた、ノズル洗浄機構117として
洗浄液供給タンク110とエアオペ三方弁104a〜1
04dを設けたが、図9に示すように洗浄液供給タンク
110とエアオペ三方弁104a〜104dを設けず
に、ノズル洗浄を行う時にレジスト供給タンク102a
〜102dを洗浄液供給タンク110とそれぞれ交換
し、ポンプ103a〜103dを駆動させ、ノズル56
a〜56d内を洗浄してもよいのはいうまでもない。こ
の場合、装置構造が簡略化可能であり、装置の小型化が
可能である。また、装置構造が簡略化可能なので故障の
可能性が低下し、装置の信頼性が向上する。
Further, as the nozzle cleaning mechanism 117, the cleaning liquid supply tank 110 and the air operated three-way valves 104a to 104a
04d, but without the cleaning liquid supply tank 110 and the air operated three-way valves 104a to 104d as shown in FIG. 9, the resist supply tank 102a when performing nozzle cleaning.
And 102d are replaced with the cleaning liquid supply tank 110, respectively, and the pumps 103a to 103d are driven.
Needless to say, the inside of a to 56d may be cleaned. In this case, the device structure can be simplified, and the device can be downsized. Further, since the device structure can be simplified, the possibility of failure is reduced, and the reliability of the device is improved.

【0084】さらにまた、色彩レジストを吐出するノズ
ルを複数設けたが、色彩レジストを吐出するノズルの数
は一つでもよいのはいうまでもない。所定の色彩レジス
トを吐出し、その後ノズル内の洗浄を行うので、ノズル
洗浄後には色彩レジストがノズル内に残っておらず、ノ
ズル洗浄後に同じノズルから他の色彩レジストを吐出し
ても前に吐出した色彩レジストが混入することはない。
したがって、さらに装置を小型化することが可能であ
る。
Further, although a plurality of nozzles for discharging the color resist are provided, it goes without saying that the number of nozzles for discharging the color resist may be one. The specified color resist is discharged, and then the inside of the nozzle is cleaned.Therefore, no color resist remains in the nozzle after the nozzle cleaning, and even if another color resist is discharged from the same nozzle after the nozzle cleaning, it is discharged before The mixed color resist does not mix.
Therefore, it is possible to further reduce the size of the device.

【0085】また、ノズル56a〜56d内を色彩レジ
ストを吐出する度に洗浄したが、吐出する度に洗浄する
のではなく、間隔を決めて定期的に行ってもよいのはい
うまでもない。洗浄を行うタイミングは、基板Gへの色
彩レジストの吐出回数が所定の回数を超えた時や、基板
Gのロット終了時や、最後に色彩レジストを吐出してか
ら所定時間経過した時などの中から選択可能になってい
る。この場合、ノズル洗浄回数を低減することができ、
スループットを向上させることが可能である。
Although the inside of the nozzles 56a to 56d is cleaned each time the color resist is discharged, it is needless to say that the cleaning is not performed every time the color resist is discharged, but is periodically determined at intervals. The cleaning is performed when the number of discharges of the color resist on the substrate G exceeds a predetermined number, at the end of the lot of the substrate G, or when a predetermined time has elapsed since the last discharge of the color resist. You can choose from. In this case, the number of times of nozzle cleaning can be reduced,
Throughput can be improved.

【0086】また、塗布・現像システムにおけるユニッ
トの配置および数は特に限定されるものではない。
The arrangement and number of units in the coating / developing system are not particularly limited.

【0087】[0087]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
洗浄処理ユニット、レジスト塗布処理ユニット、および
現像処理ユニットを備えた一つの塗布・現像処理装置に
より、複数の色彩レジストの塗布処理および露光後の現
像処理を行うことができる。したがって、設備の小型化
および省スペース化を達成することができ、製造コスト
の低減を図ることができる。
As described above, according to the present invention,
A single coating / developing apparatus including a cleaning unit, a resist coating unit, and a developing unit can perform a coating process of a plurality of color resists and a development process after exposure. Therefore, downsizing of equipment and space saving can be achieved, and manufacturing cost can be reduced.

【0088】特に、レジスト塗布処理ユニットで一つの
色彩レジストが塗布された基板を露光装置、現像処理ユ
ニットに順次搬送し、該基板を前記レジスト塗布処理ユ
ニットに搬送し、この前記レジスト塗布処理ユニットで
他の色彩レジストが塗布された基板を露光装置、前記現
像処理ユニットに順次搬送するように搬送手段を制御す
ることにより極めて効率的な処理を実現することができ
る。
In particular, the substrate coated with one color resist in the resist coating unit is sequentially transferred to an exposure device and a developing unit, and the substrate is transferred to the resist coating unit. Extremely efficient processing can be realized by controlling the transporting means so as to sequentially transport the substrate coated with another color resist to the exposure apparatus and the development processing unit.

【0089】また、レジスト塗布処理ユニットおいて
は、複数の色彩レジストに対応して、それぞれのレジス
トを吐出する一つのレジスト吐出ノズルを用いることに
より、極めて効率的に複数の色彩レジストを塗布するこ
とができる。
In the resist coating unit, a plurality of color resists can be coated very efficiently by using one resist discharge nozzle for discharging each resist in correspondence with the plurality of color resists. Can be.

【0090】さらに、レジスト液の塗布直後に、基板を
実質的に非加熱状態で乾燥することにより、レジスト液
中の溶剤が徐々に放出され、レジストに悪影響を与える
ことなくことなくレジストの乾燥を促進させることがで
きる。
Further, immediately after the application of the resist solution, the solvent in the resist solution is gradually released by drying the substrate in a substantially non-heated state, so that the resist can be dried without adversely affecting the resist. Can be promoted.

【0091】さらにまた、色彩レジスト吐出ノズル内部
を洗浄する洗浄機構を具備することにより、ノズル内部
で色彩レジストが固化せず、固化した色彩レジストが基
板G上に吐出されることを防止することができ、製品の
歩留まりを向上させることができる。
Further, by providing a cleaning mechanism for cleaning the inside of the color resist discharge nozzle, it is possible to prevent the color resist from solidifying inside the nozzle and prevent the solidified color resist from being discharged onto the substrate G. As a result, the yield of products can be improved.

【0092】さらにまた、色彩レジストを各々収納する
容器内部を各々独立にまたは複数同時に洗浄する洗浄機
構を具備することにより、レジスト補給後に補給前のレ
ジストが混入することがなく、基板上に補給前のレジス
トが塗布されないので製品の歩留まりを向上させること
ができる。
Further, by providing a washing mechanism for washing the insides of the containers for storing the color resists individually or simultaneously, a resist before the replenishment does not mix after the replenishment of the resist, and the pre-replenishment on the substrate is prevented. Since the resist is not applied, the product yield can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明が適用されるLCDのカラーフィルター
の塗布・現像処理システムを示す平面図。
FIG. 1 is a plan view showing a system for applying and developing a color filter of an LCD to which the present invention is applied.

【図2】LCDのカラーフィルターの塗布・現像処理シ
ステムの制御系を説明する制御部説明図。
FIG. 2 is a control unit explanatory diagram for explaining a control system of a coating / developing processing system for a color filter of an LCD.

【図3】レジスト塗布処理ユニット(CT)、乾燥処理
ユニット(VD)、およびエッジリムーバー(ER)を
示す概略平面図。
FIG. 3 is a schematic plan view showing a resist coating unit (CT), a drying unit (VD), and an edge remover (ER).

【図4】レジスト塗布処理ユニット(CT)、乾燥処理
ユニット(VD)、およびエッジリムーバー(ER)を
示す概略側面図。
FIG. 4 is a schematic side view showing a resist coating unit (CT), a drying unit (VD), and an edge remover (ER).

【図5】レジスト供給機構の説明図。FIG. 5 is an explanatory diagram of a resist supply mechanism.

【図6】現像処理ユニット(DEV)を示す断面図。FIG. 6 is a sectional view showing a development processing unit (DEV).

【図7】現像処理ユニット(DEV)を示す平面図。FIG. 7 is a plan view showing a development processing unit (DEV).

【図8】色彩レジストを吐出するノズル内部と色彩レジ
ストを収納する容器を洗浄する洗浄機構の説明図。
FIG. 8 is an explanatory view of a cleaning mechanism for cleaning the inside of a nozzle for discharging a color resist and a container storing the color resist.

【図9】色彩レジストを吐出するノズル内部を洗浄する
洗浄機構の他の実施の形態の説明図。
FIG. 9 is an explanatory view of another embodiment of a cleaning mechanism for cleaning the inside of a nozzle for discharging a color resist.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

22;レジスト塗布処理ユニット 23;エッジリムーバー 24a,24b,24c;現像処理ユニット 40;乾燥処理ユニット 55;レジスト吐出ノズルアーム(ノズルアーム) 56a〜56e;色彩レジスト吐出ノズル G;カラーフィルター用基板 22; resist coating processing unit 23; edge remover 24a, 24b, 24c; developing processing unit 40; drying processing unit 55; resist discharge nozzle arm (nozzle arm) 56a to 56e; color resist discharge nozzle G;

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02F 1/1335 505 G02F 1/1335 505 G03F 7/30 502 G03F 7/30 502 H01L 21/027 H01L 21/30 564C 569D (72)発明者 穴井 徳行 熊本県菊池郡大津町大字高尾野字平成272 番地の4 東京エレクトロン九州株式会社 大津事業所内──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G02F 1/1335 505 G02F 1/1335 505 G03F 7/30 502 G03F 7/30 502 H01L 21/027 H01L 21 / 30 564C 569D (72) Inventor Noriyuki Anai No. 272, Heisei, Takao, Otsu-cho, Kikuchi-gun, Kumamoto Prefecture 4 Tokyo Electron Kyushu Co., Ltd. Otsu Office

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数種の色彩レジストの内、選択された
所定の色彩レジストを基板に塗布する工程と、 この所定の色彩レジストが塗布された基板を露光装置に
対して搬送する工程と、 前記露光装置から露光処理された基板を受けとって現像
処理する工程と、前記工程を順次繰り返した後、前記基
板を複数枚収納自在に構成されたカセットに収納する工
程とを有することを特徴とする塗布・現像処理方法。
A step of applying a predetermined color resist selected from a plurality of kinds of color resists to a substrate; a step of transporting the substrate coated with the predetermined color resist to an exposure apparatus; A coating process comprising: receiving the exposed substrate from the exposure device and developing the substrate; and sequentially repeating the process, and storing the plurality of substrates in a cassette configured to be capable of being stored.・ Development processing method.
【請求項2】 前記複数種の色彩レジストに対して前記
現像処理する現像液の種類は前記複数種の種類の数より
少ないことを特徴とする請求項1に記載の塗布・現像処
理方法。
2. The coating / developing method according to claim 1, wherein the type of the developing solution for developing the plurality of color resists is smaller than the number of the plurality of types.
【請求項3】 前記現像液の種類は一種類であることを
特徴とする請求項2に記載の塗布・現像処理方法。
3. The coating / developing method according to claim 2, wherein the kind of said developer is one kind.
【請求項4】 前記色彩レジストを基板に塗布する工程
において、前記複数種の色彩レジストは、少なくとも一
つのノズルから吐出され、 前記所定の色彩レジストが吐出された後に、そのノズル
内部を洗浄する工程をさらに有することを特徴とする請
求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の塗布・現
像処理方法。
4. The step of applying the color resist to a substrate, wherein the plurality of types of color resists are discharged from at least one nozzle, and after the predetermined color resist is discharged, the inside of the nozzle is cleaned. The coating / developing method according to claim 1, further comprising:
【請求項5】 前記色彩レジストを基板に塗布する工程
において、前記複数種の色彩レジストは、一つのノズル
から吐出され、 前記所定の色彩レジストが吐出された後、次の所定の色
彩レジストと異なる色彩レジストが吐出されるまでの間
に複数種の色彩レジストを溶解可能な1種類の洗浄液で
そのノズル内部を洗浄する工程をさらに有することを特
徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載
の塗布・現像処理方法。
5. In the step of applying the color resist to a substrate, the plurality of types of color resists are discharged from one nozzle, and after the predetermined color resist is discharged, different from the next predetermined color resist. 5. The method according to claim 1, further comprising a step of cleaning the inside of the nozzle with one type of cleaning liquid capable of dissolving a plurality of types of color resists until the color resist is discharged. The coating / developing treatment method described in the above section.
【請求項6】 前記ノズル内部を洗浄する洗浄液と同種
の液にて前記複数種の色彩レジストを各々収納する容器
内部を各々独立にまたは複数同時に洗浄する工程をさら
に有することを特徴とする請求項1ないし請求項5のい
ずれか1項に記載の塗布・現像処理方法。
6. The method according to claim 1, further comprising the step of independently or simultaneously cleaning a plurality of insides of the containers storing the plurality of types of color resists with a cleaning liquid of the same kind as the cleaning liquid for cleaning the inside of the nozzle. The coating and developing method according to any one of claims 1 to 5.
【請求項7】 複数の色彩レジストを基板に塗布し、か
つ露光後に現像するための塗布・現像処理装置であっ
て、 複数の色彩レジストをそれぞれ基板に吐出する複数のレ
ジスト吐出ノズルを有するレジスト塗布処理ユニット
と、 この色彩レジストが塗布された基板を露光後に現像する
ための現像処理ユニットとを具備することを特徴とする
塗布・現像処理装置。
7. An application / development processing apparatus for applying a plurality of color resists to a substrate and developing the resist after exposure, the resist coating having a plurality of resist discharge nozzles for discharging the plurality of color resists to the substrate, respectively. A coating / developing apparatus comprising: a processing unit; and a developing unit for developing the substrate coated with the color resist after exposure.
【請求項8】 さらに、基板を洗浄する洗浄ユニットを
有することを特徴とする請求項7に記載の塗布・現像処
理装置。
8. The coating / developing apparatus according to claim 7, further comprising a cleaning unit for cleaning the substrate.
【請求項9】 前記レジスト塗布処理ユニットは、一つ
のレジスト吐出ノズルにより、一つの色彩レジストを基
板に塗布し、その後、露光・現像を終えた基板に他のレ
ジスト吐出ノズルにより他の色彩レジストを順次塗布す
ることを特徴とする請求項7または請求項8に記載の塗
布・現像処理装置。
9. The resist coating unit applies one color resist to the substrate by one resist discharge nozzle, and then applies another color resist to the substrate after exposure and development by another resist discharge nozzle. 9. The coating and developing apparatus according to claim 7, wherein the coating and developing are performed sequentially.
【請求項10】 前記レジスト塗布処理ユニットと前記
現像処理ユニットとに基板を搬送する搬送手段と、前記
レジスト塗布処理ユニットで一つの色彩レジストが塗布
された基板を露光装置、前記現像処理ユニットに順次搬
送し、該基板を前記レジスト塗布処理ユニットに搬送
し、この前記レジスト塗布処理ユニットで他の色彩レジ
ストが塗布された基板を露光装置、前記現像処理ユニッ
トに順次搬送するように前記搬送手段を制御する制御手
段とを具備することを特徴とする請求項7ないし請求項
9のいずれか1項に記載の塗布・現像処理装置。
10. A transport means for transporting a substrate to the resist coating processing unit and the developing processing unit, and a substrate coated with one color resist in the resist coating processing unit is sequentially exposed to an exposure apparatus and the developing processing unit. Transport, transport the substrate to the resist coating unit, and control the transport unit so that the substrate coated with another color resist in the resist coating unit is sequentially transported to the exposure apparatus and the development processing unit. The coating / developing apparatus according to any one of claims 7 to 9, further comprising a control unit that performs the control.
【請求項11】 前記複数のレジスト吐出ノズルは、前
記レジスト塗布処理ユニットに回動自在に設けられた一
つのノズルアームの先端に配置されていることを特徴と
する請求項7ないし請求項10のいずれか1項に記載の
塗布・現像処理装置。
11. The method according to claim 7, wherein the plurality of resist discharge nozzles are arranged at the tip of one nozzle arm rotatably provided in the resist coating unit. The coating / developing apparatus according to any one of the preceding claims.
【請求項12】 色彩レジストが塗布された基板を実質
的に非加熱で乾燥処理する乾燥処理ユニットをさらに具
備することを特徴とする請求項7ないし請求項11のい
ずれか1項に記載の塗布・現像処理装置。
12. The coating according to claim 7, further comprising a drying processing unit for drying the substrate coated with the color resist substantially without heating.・ Development processing equipment.
【請求項13】 前記乾燥処理ユニットは、レジスト液
が塗布された基板を減圧状態で乾燥することを特徴とす
る請求項12に記載の塗布・現像処理装置。
13. The coating and developing apparatus according to claim 12, wherein the drying unit dries the substrate coated with the resist solution under reduced pressure.
【請求項14】 前記非加熱での乾燥処理の後、基板の
端面に付着したレジストを除去する端面処理ユニットを
さらに具備することを特徴とする請求項7ないし請求項
13のいずれか1項に記載の塗布・現像処理装置。
14. The apparatus according to claim 7, further comprising an end face processing unit for removing a resist attached to an end face of the substrate after the non-heating drying processing. The coating / developing apparatus described in the above.
【請求項15】 複数種の色彩レジストの内、選択され
た所定の色彩レジストを基板に塗布するレジスト塗布処
理ユニットと、 この所定の色彩レジストが塗布された基板を露光装置に
対して搬送し、露光装置から露光処理された基板を受け
とって現像処理する現像処理ユニットと、 これらユニットおよび現像装置間で基板を搬送する搬送
機構と、 前記レジスト塗布処理ユニットが前記複数種の色彩レジ
ストを吐出する少なくとも一つのノズルと、 そのノズル内部を洗浄する洗浄機構とを具備することを
特徴とする塗布・現像処理装置。
15. A resist coating unit for coating a substrate with a predetermined color resist selected from a plurality of types of color resists, and transporting the substrate coated with the predetermined color resist to an exposure apparatus, A development processing unit that receives the exposed substrate from the exposure device and develops the substrate, a transport mechanism that transports the substrate between these units and the development device, and at least the resist coating unit that discharges the plurality of types of color resists. A coating / developing apparatus comprising one nozzle and a cleaning mechanism for cleaning the inside of the nozzle.
【請求項16】 前記洗浄機構は、前記ノズルから前記
所定の色彩レジストが吐出された後、次に所定の色彩レ
ジストと異なる色彩レジストが吐出するまでの間に複数
種の色彩レジストを溶解可能な1種類の洗浄液で前記ノ
ズル内部を洗浄することを特徴とする請求項15に記載
の塗布・現像処理装置。
16. The cleaning mechanism is capable of dissolving a plurality of types of color resists after the predetermined color resist is discharged from the nozzle and before the next color resist different from the predetermined color resist is discharged. The coating / developing apparatus according to claim 15, wherein the inside of the nozzle is cleaned with one type of cleaning liquid.
【請求項17】 前記洗浄機構は、前記ノズル内部を洗
浄する洗浄液と同種の液にて前記複数種の色彩レジスト
を各々収納する容器内部を各々独立にまたは複数同時に
洗浄することを特徴とする請求項15に記載の塗布・現
像処理装置。
17. The cleaning mechanism according to claim 1, wherein the inside of the container accommodating each of the plurality of types of color resists is independently or simultaneously washed with a liquid of the same type as the cleaning liquid for cleaning the inside of the nozzle. Item 16. The coating and developing apparatus according to Item 15.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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