JP2000172366A - Clock distribution circuit - Google Patents

Clock distribution circuit

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JP2000172366A
JP2000172366A JP35148298A JP35148298A JP2000172366A JP 2000172366 A JP2000172366 A JP 2000172366A JP 35148298 A JP35148298 A JP 35148298A JP 35148298 A JP35148298 A JP 35148298A JP 2000172366 A JP2000172366 A JP 2000172366A
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JP
Japan
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clock
signal
reset signal
phase
clock generation
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JP35148298A
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Japanese (ja)
Inventor
Haruki Uchida
晴樹 内田
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a clock distribution circuit where abnormality in a clock generation on a master clock generation system and a reset signal of a master side clock generation system does not affect a slave clock generation system. SOLUTION: When a count value N of a clock A1 by a counter 104 reaches a prescribed value X, a decoder 105 outputs an output clock D and a reset signal R1. When the count value of the counter 104 is X-ΔX<=N<=X+ΔX, a window generator 106 makes a window signal W on. A phase comparator 108 compares the signal W with the phase of a clock B1. A phase comparator 109 compares a reset signal r2 with the phase of the clock B1. A frequency divider 110 and a differentiator 111 generate a reset signal R3. A selection signal generator 114 switches the reset signals R1, r2 and R3 based on comparison results of the comparator 108 and 109 and switches the master/slave of the clock generation systems 100 and 200 whenever necessary.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、例えばディジタ
ル通信装置等に使用されるクロック分配回路に関するも
のであり、より詳細には、冗長構成のクロック分配回路
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clock distribution circuit used for, for example, a digital communication device, and more particularly to a clock distribution circuit having a redundant configuration.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ディジタル通信装置等に使用され
るクロック分配回路として、冗長構成のものが知られて
いる。
2. Description of the Related Art Conventionally, a redundant circuit having a redundant configuration is known as a clock distribution circuit used in a digital communication device or the like.

【0003】かかるクロック分配回路は、例えば2系統
の同一構成のクロック生成系を備えており、これらのク
ロック生成系に全く同一のクロックを生成させる。そし
て、一方のクロック生成系で生成されたクロックが選択
されて、後段の回路に供給される。また、選択されたク
ロック生成系に異常が発生した場合には、この選択を即
座に切り替え、他方のクロック生成系で生成されたクロ
ックを後段の回路に供給する。
Such a clock distribution circuit has, for example, two clock generation systems of the same configuration, and causes these clock generation systems to generate exactly the same clock. Then, a clock generated by one of the clock generation systems is selected and supplied to a subsequent circuit. When an abnormality occurs in the selected clock generation system, the selection is immediately switched, and the clock generated by the other clock generation system is supplied to a subsequent circuit.

【0004】このように、冗長構成のクロック分配回路
では、クロックを供給する系(マスタ側クロック生成
系)とクロックを供給しない系(スレーブ側クロック生
成系)との選択を適宜切り替えることにより、後段の回
路の供給されるクロックに対する信頼性の向上を図って
いる。
As described above, in the clock distribution circuit having the redundant configuration, the system for supplying the clock (master-side clock generation system) and the system for not supplying the clock (slave-side clock generation system) are appropriately switched so that the latter stage is provided. To improve the reliability of the clock supplied from the circuit.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このようなクロック分
配回路では、マスタ側クロック生成系で生成されるクロ
ックの位相と、スレーブ側クロック生成系で生成される
クロックの位相とを、一致させることが望ましい。これ
らのクロック生成系で生成されるクロックの位相が一致
しないと、系の選択を切り替えたときに、後段の回路の
供給されるクロックの位相ずれが発生してしまうからで
ある。
In such a clock distribution circuit, the phase of the clock generated by the master-side clock generation system and the phase of the clock generated by the slave-side clock generation system can be matched. desirable. If the phases of the clocks generated by these clock generation systems do not match, when the selection of the system is switched, a phase shift of the clock supplied to the subsequent circuit occurs.

【0006】かかる位相ずれを防止する方法として、例
えば、マスタ側クロック生成系がスレーブ側クロック生
成系にリセットを掛けるように、クロック分配回路を構
成することが考えられる。
As a method of preventing such a phase shift, for example, it is conceivable to configure a clock distribution circuit so that the master-side clock generation system resets the slave-side clock generation system.

【0007】しかしながら、このような構成のクロック
分配回路では、マスタ側クロック生成系において生成ク
ロックの乱れ(クロック断、位相同期はずれ等)が発生
した場合や、マスタ側クロック生成系から送信するリセ
ット信号の乱れが発生した場合に、これらの乱れがスレ
ーブ側クロック生成系に波及してスレーブ側の生成クロ
ックまで乱れてしまうという欠点が生じる。
However, in the clock distribution circuit having such a configuration, when the generated clock is disturbed (clock disconnection, loss of phase synchronization, etc.) in the master-side clock generation system, or the reset signal transmitted from the master-side clock generation system. When the disturbance occurs, there is a disadvantage that these disturbances propagate to the slave-side clock generation system and are disturbed even to the slave-side generated clock.

【0008】このため、従来のクロック分配回路では、
後段の回路の供給されるクロックに対する信頼性の確保
が不十分であった。
Therefore, in the conventional clock distribution circuit,
The reliability of the clock supplied from the subsequent circuit is not sufficiently ensured.

【0009】このような理由から、マスタ側クロック生
成系の生成クロックやリセット信号に発生した異常がス
レーブ側クロック生成系に波及しないクロック分配回路
が嘱望されていた。
For these reasons, there has been a demand for a clock distribution circuit in which an abnormality generated in a clock generated by the master clock generation system or a reset signal does not propagate to the slave clock generation system.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】この発明は、マスタ側ク
ロック生成手段またはスレーブ側クロック生成手段のそ
れぞれで出力クロックを生成するクロック分配回路に関
するものである。
The present invention relates to a clock distribution circuit that generates an output clock by each of a master-side clock generation unit and a slave-side clock generation unit.

【0011】そして、それぞれのクロック生成手段が、
第1の入力クロックのパルス数を計数するカウンタと、
カウンタの計数値が所定値に達したときに第1のリセッ
ト信号および出力クロックを生成する信号生成部と、第
2の入力クロックと第1のリセット信号との位相差が正
常範囲内であるか否かを検出する第1の位相検出部と、
他方のクロック生成手段から供給された第2のリセット
信号と第2の入力クロックとの位相差が正常範囲内であ
るか否かを検出する第2の位相検出部と、第1の位相検
出部および第2の位相検出部の検出結果に基づいて第1
のリセット信号または第2のリセット信号を選択して、
カウンタに供給するとともに、他方のクロック生成手段
に第2のクロック信号として供給する信号選択部とを備
える。
Then, each clock generating means is
A counter for counting the number of pulses of the first input clock;
A signal generation unit that generates a first reset signal and an output clock when the count value of the counter reaches a predetermined value, and whether a phase difference between the second input clock and the first reset signal is within a normal range. A first phase detector for detecting whether or not
A second phase detector for detecting whether a phase difference between the second reset signal supplied from the other clock generator and the second input clock is within a normal range, and a first phase detector. And the first based on the detection result of the second phase detector.
Select the reset signal or the second reset signal of
A signal selection unit that supplies the clock signal to the counter and supplies the other clock generation unit as a second clock signal.

【0012】このような構成によれば、第2の入力クロ
ックを用いて、第1のリセット信号(すなわち内部で生
成したリセット信号)および第2のリセット信号(他方
のクロック生成手段で生成したリセット信号)の位相ず
れが正常範囲内であるか否かを検出することができる。
そして、この検出結果に基づいて、カウンタのリセット
に使用するリセット信号を選択することができる。
According to such a configuration, the first reset signal (that is, the internally generated reset signal) and the second reset signal (the reset generated by the other clock generating means) are generated by using the second input clock. Signal) is within the normal range.
Then, a reset signal used for resetting the counter can be selected based on the detection result.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて、図面を用いて説明する。なお、図中、各構成成分
の大きさ、形状および配置関係は、この発明が理解でき
る程度に概略的に示してあるにすぎず、また、以下に説
明する数値的条件は単なる例示にすぎないことを理解さ
れたい。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the drawings, the size, shape, and arrangement of each component are only schematically shown to an extent that the present invention can be understood, and numerical conditions described below are merely examples. Please understand that.

【0014】図1は、この実施の形態にかかるクロック
分配回路の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a clock distribution circuit according to this embodiment.

【0015】同図に示したように、このクロック分配回
路は、2系統のクロック生成系100,200を備えて
いる。これらのクロック生成系100,200の構成は
全く同一である。
As shown in FIG. 1, the clock distribution circuit includes two clock generation systems 100 and 200. The configurations of these clock generation systems 100 and 200 are exactly the same.

【0016】クロック生成系100,200において、
PLL(Phase Locked Loop) 101は、前段の回路から
入力クロックA0(例えば64kHz)を取り込んで位
相のロックを行い、入力クロックA1として出力する。
なお、この入力クロックA1は、出力クロックCとして
そのまま出力される。
In the clock generation systems 100 and 200,
A PLL (Phase Locked Loop) 101 fetches an input clock A0 (for example, 64 kHz) from a preceding circuit, locks the phase, and outputs the input clock A1.
This input clock A1 is output as it is as the output clock C.

【0017】フリップフロップ102は、入力クロック
B0(例えば8kHz)を信号入力端子から取り込み、
且つ、入力クロックA1をクロック入力端子から入力す
る。そして、入力クロックB0を入力クロックA1に同
期させた信号を、入力クロックB1として出力する。
The flip-flop 102 receives an input clock B0 (for example, 8 kHz) from a signal input terminal,
In addition, the input clock A1 is input from a clock input terminal. Then, a signal in which the input clock B0 is synchronized with the input clock A1 is output as the input clock B1.

【0018】フリップフロップ103は、他方のクロッ
ク生成系で生成されたリセット信号R2を信号入力端子
から取り込み、且つ、入力クロックA1をクロック入力
端子から取り込む。そして、リセット信号R2をクロッ
クA1に同期させた信号を、リセット信号r2として出
力する。
The flip-flop 103 receives a reset signal R2 generated by the other clock generation system from a signal input terminal, and receives an input clock A1 from a clock input terminal. Then, a signal obtained by synchronizing the reset signal R2 with the clock A1 is output as a reset signal r2.

【0019】カウンタ104は、入力クロックA1のパ
ルス数を計数する。
The counter 104 counts the number of pulses of the input clock A1.

【0020】デコーダ105は、カウンタ104の計数
値Nを入力する。そして、この計数値Nが所定値Xに達
したときに、リセット信号R1およびクロックDを生成
・出力する。デコーダ105は、この発明の「信号生成
部」に相当し、クロックDは、この発明の「出力クロッ
ク」に相当する。
The decoder 105 inputs the count value N of the counter 104. Then, when the count value N reaches a predetermined value X, a reset signal R1 and a clock D are generated and output. The decoder 105 corresponds to the “signal generator” of the present invention, and the clock D corresponds to the “output clock” of the present invention.

【0021】ウインド生成器106は、カウンタ104
の計数値Nおよび所定値Xを、デコーダ105から取り
込む。そして、X−ΔX≦N≦X+ΔXのときに、ウイ
ンド信号Wをオンレベル(ここではハイレベルとする)
にする。ΔXは、リセット信号R1の位相の乱れを検出
するときの検出精度を決める値であり(後述)、任意に
設定することができる。
The window generator 106 includes a counter 104
From the decoder 105. When X−ΔX ≦ N ≦ X + ΔX, the window signal W is set to the on level (here, the high level).
To ΔX is a value that determines the detection accuracy when detecting the disturbance of the phase of the reset signal R1 (described later), and can be set arbitrarily.

【0022】微分器107は、フリップフロップ102
から入力されたクロックB1を微分し、微分信号Iとし
て出力する。
The differentiator 107 includes a flip-flop 102
Is differentiated and output as a differentiated signal I.

【0023】位相比較器108は、微分信号Iの位相と
ウインド信号Wの位相とを比較し、この比較の結果をO
k/NG信号P1として出力する。
The phase comparator 108 compares the phase of the differential signal I with the phase of the window signal W, and compares the result of this comparison with the signal O.
Output as k / NG signal P1.

【0024】図2(A)は、位相比較器108の内部構
成例を示すブロック図である。同図において、SRラッ
チ108aは、ウインド信号Wをセット入力端子Sから
入力し、微分信号Iをリセット入力端子Rから入力す
る。反転ゲート108bは、ウインド信号Wを入力し
て、反転信号を出力する。また、フリップフロップ10
8cは、この反転信号のタイミングで、RSラッチ10
8aの出力信号を取り込み、Ok/NG信号P1として
出力する。
FIG. 2A is a block diagram showing an example of the internal configuration of the phase comparator 108. In the figure, an SR latch 108a inputs a window signal W from a set input terminal S and inputs a differential signal I from a reset input terminal R. The inversion gate 108b receives the window signal W and outputs an inversion signal. The flip-flop 10
8c is the timing of the inverted signal,
8a is fetched and output as an Ok / NG signal P1.

【0025】この位相比較器108は、ウインド生成器
106および微分器107とともに、この発明の第1の
位相比較部を構成する。
The phase comparator 108, together with the window generator 106 and the differentiator 107, constitutes a first phase comparator of the present invention.

【0026】図1において、位相比較器109は、フリ
ップフロップ103から入力されたリセット信号r2
を、フリップフロップ102から入力されたクロックB
1と比較し、この比較の結果をOk/NG信号P2とし
て出力する。
In FIG. 1, a phase comparator 109 is provided with a reset signal r2 input from the flip-flop 103.
Is the clock B input from the flip-flop 102
1 and outputs the result of this comparison as an Ok / NG signal P2.

【0027】図2(B)は、位相比較器109の内部構
成例を示すブロック図である。同図において、ANDゲ
ート109aは、リセット信号r2を一方の入力端子か
ら入力し、クロックB1を他方の入力端子から入力す
る。反転ゲート109bは、クロックB1を入力して、
反転クロックを出力する。カウンタ109cは、この反
転クロックをクロック入力端子から入力し、ANDゲー
ト109aの出力をリセット入力端子から入力する。上
限比較器109dは、カウンタ109cの出力値nを所
定値xと比較し、n≦xのときにローレベルを、n>x
のときにハイレベルを、上限比較信号Sdとして出力す
る。下限比較器109eは、カウンタ109cの出力値
nを上述の所定値xと比較し、n<xのときにハイレベ
ルを、n≧xのときにローレベルを、下限比較信号Se
として出力する。フリップフロップ109fは、AND
ゲート109aの出力信号のタイミングで信号Seを取
り込み、信号Sfとして出力する。ORゲート109g
は、信号Sd,Sfの論理和を、Ok/NG信号P2と
して出力する。
FIG. 2B is a block diagram showing an example of the internal configuration of the phase comparator 109. In the figure, an AND gate 109a inputs a reset signal r2 from one input terminal, and inputs a clock B1 from the other input terminal. The inverting gate 109b receives the clock B1 and
Output inverted clock. The counter 109c inputs the inverted clock from the clock input terminal, and inputs the output of the AND gate 109a from the reset input terminal. The upper limit comparator 109d compares the output value n of the counter 109c with a predetermined value x, and when n ≦ x, sets the low level to n> x
In this case, the high level is output as the upper limit comparison signal Sd. The lower limit comparator 109e compares the output value n of the counter 109c with the above-described predetermined value x, and when n <x, the high level, when n ≧ x, the low level, and the lower limit comparison signal Se
Output as The flip-flop 109f is AND
The signal Se is taken in at the timing of the output signal of the gate 109a and output as a signal Sf. OR gate 109g
Outputs the logical sum of the signals Sd and Sf as an Ok / NG signal P2.

【0028】この位相比較器109は、この発明の第2
の位相比較部を構成する。
This phase comparator 109 is the second comparator of the present invention.
Are constituted.

【0029】図1において、分周器110は、入力クロ
ックB1を1/nに分周して、出力する。この分周器1
10は、セレクタ112(後述)が選択したリセット信
号r2またはR1によって、リセットされる。また、微
分器111は、分周器110の出力を微分し、リセット
信号R3として出力する。分周器110および微分器1
11が、この発明の分周リセット信号生成部を構成す
る。
In FIG. 1, a frequency divider 110 divides an input clock B1 by 1 / n and outputs the result. This divider 1
10 is reset by a reset signal r2 or R1 selected by a selector 112 (described later). The differentiator 111 differentiates the output of the frequency divider 110 and outputs the result as a reset signal R3. Divider 110 and differentiator 1
11 constitutes the frequency-divided reset signal generating section of the present invention.

【0030】セレクタ112は、選択信号生成器114
(後述)の制御により、リセット信号R1またはリセッ
ト信号r2の一方を選択する。また、セレクタ113
は、選択信号生成器114の制御により、セレクタ11
2が出力したリセット信号または微分器111が出力し
たリセット信号R3の一方を選択する。選択信号生成器
114は、位相比較器108,109の比較結果を示す
信号P1,P2およびマスタ/スレーブ信号MS1,M
S2に基づいて、セレクタ112,113を制御する
(後述)。ここで、マスタ/スレーブ信号MS1はクロ
ック生成系100がマスタかスレーブかの区別を示す信
号であり、マスタ/スレーブ信号MS2はクロック生成
系200がマスタかスレーブかの区別を示す信号であ
る。これらの信号MS1,MS2は、それぞれ、例えば
外部の制御装置(図示せず)との間で送受信される。セ
レクタ112,113および選択信号生成器114が、
この発明の信号選択部を構成する。
The selector 112 includes a selection signal generator 114
Under the control described later, one of the reset signal R1 and the reset signal r2 is selected. Also, the selector 113
Is controlled by the selection signal generator 114,
2 is selected or the reset signal R3 output by the differentiator 111 is selected. The selection signal generator 114 includes signals P1 and P2 indicating the comparison results of the phase comparators 108 and 109 and master / slave signals MS1 and M
The selectors 112 and 113 are controlled based on S2 (described later). Here, the master / slave signal MS1 is a signal indicating whether the clock generation system 100 is a master or a slave, and the master / slave signal MS2 is a signal indicating whether the clock generation system 200 is a master or a slave. These signals MS1 and MS2 are respectively transmitted and received between, for example, an external control device (not shown). The selectors 112 and 113 and the selection signal generator 114
The signal selector of the present invention is configured.

【0031】次に、この実施の形態にかかるクロック分
配回路の動作について、詳細に説明する。
Next, the operation of the clock distribution circuit according to this embodiment will be described in detail.

【0032】まず、位相比較器108(図2(A)参
照)の動作について、図3を用いて説明する。
First, the operation of the phase comparator 108 (see FIG. 2A) will be described with reference to FIG.

【0033】かかる位相比較器108において、SRラ
ッチ108aは、ウインド信号Wの立ち上がりタイミン
グでセットされ、微分信号Iの立ち上がりタイミングで
リセットされる。また、フリップフロップ108cは、
ウインド信号Wのタイミングで、信号を取り込む。した
がって、図3(A)に示したように、ウインド信号Wが
ハイレベルのときに微分信号Iが入力された場合には、
フリップフロップ108cの信号取り込み時にRSラッ
チ108aはリセットされており、このため、Ok/N
G信号P1はローレベルになる。図3(C)からわかる
ように、これは、リセット信号R1の位相ずれが、クロ
ックB1を基準として±ΔX(ΔXはウインド生成器1
06の設定値)内であったこと、すなわち許容範囲内で
あったことを示している。一方、図3(B)に示したよ
うに、ウインド信号Wがハイレベルのときに微分信号I
が入力されなかった場合には、フリップフロップ108
cの信号取り込み時にRSラッチ108aはセットされ
ており、このため、位相比較器108の出力信号P1は
ハイレベルになる。これは、リセット信号R1の位相ず
れが許容範囲外であったことを示している。
In the phase comparator 108, the SR latch 108a is set at the rising timing of the window signal W and reset at the rising timing of the differential signal I. The flip-flop 108c is
At the timing of the window signal W, a signal is fetched. Therefore, as shown in FIG. 3A, when the differential signal I is input when the window signal W is at the high level,
The RS latch 108a is reset when the signal is taken in by the flip-flop 108c.
The G signal P1 becomes low level. As can be seen from FIG. 3C, this is because the phase shift of the reset signal R1 is ± ΔX (ΔX is the window generator 1) with respect to the clock B1.
06 (set value of 06), that is, within the allowable range. On the other hand, as shown in FIG. 3B, when the window signal W is at a high level, the differential signal I
Is not input, the flip-flop 108
When the signal c is received, the RS latch 108a is set, so that the output signal P1 of the phase comparator 108 goes high. This indicates that the phase shift of the reset signal R1 was out of the allowable range.

【0034】続いて、位相比較器109(図2(B)参
照)の動作について、図4を用いて説明する。
Next, the operation of the phase comparator 109 (see FIG. 2B) will be described with reference to FIG.

【0035】かかる位相比較器109においては、カウ
ンタ109cが、初期設定でリセットされた後(図4
(A)のT1参照)、クロックB1のタイミングで計数
値を増加させる。このとき、上限比較信号Sdはローレ
ベル、下限比較信号Seはハイレベルである。その後、
このカウンタ109cの計数値nが増加してx(ここで
は説明を簡単にするためのx=8とする)に達すると、
下限比較信号Seがローレベルとなる(同図のT2参
照)。さらに、かかる8個目のクロックB1のパルス幅
内にクロック信号r2が入力されると、フリップフロッ
プ109fに、ローレベルがラッチされるとともに、カ
ウンタ109cがリセットされる。これにより、信号S
d,Seは共にローレベルに維持されるので、Ok/N
G信号P2はローレベル(正常状態)になる。一方、8
個目のクロックB1よりも遅れてクロック信号r2が入
力されると(図4(B)のT3参照)、カウンタ109
cがリセットされずに次のクロックB1が入力されるの
で、上限比較信号Sdがハイレベルとなり、したがっ
て、Ok/NG信号P2はハイレベル(異常状態)にな
る。また、8個目のクロックB1よりも前にクロック信
号r2が入力されると(図3(D)のT4参照)、フリ
ップフロップ109fにはハイレベルがラッチされるの
で、Ok/NG信号P2はハイレベル(異常状態)にな
る。
In the phase comparator 109, after the counter 109c is reset by the initial setting (FIG. 4)
(See T1 in (A)), the count value is increased at the timing of clock B1. At this time, the upper limit comparison signal Sd is at a low level, and the lower limit comparison signal Se is at a high level. afterwards,
When the count value n of the counter 109c increases and reaches x (here, x = 8 for simplicity of explanation),
The lower limit comparison signal Se becomes a low level (see T2 in the figure). Further, when the clock signal r2 is input within the pulse width of the eighth clock B1, the low level is latched by the flip-flop 109f and the counter 109c is reset. Thereby, the signal S
Since both d and Se are maintained at the low level, Ok / N
The G signal P2 becomes low level (normal state). On the other hand, 8
When the clock signal r2 is input later than the first clock B1 (see T3 in FIG. 4B), the counter 109
Since the next clock B1 is input without resetting c, the upper limit comparison signal Sd goes high, and the Ok / NG signal P2 goes high (abnormal state). When the clock signal r2 is input before the eighth clock B1 (see T4 in FIG. 3D), the high level is latched in the flip-flop 109f, so that the Ok / NG signal P2 is High level (abnormal state).

【0036】次に、選択信号生成器114の動作につい
て、図5を用いて説明する。
Next, the operation of the selection signal generator 114 will be described with reference to FIG.

【0037】クロック生成系100は、電源投入時に
は、マスタ側クロック生成系に設定される。クロック生
成系100の選択信号生成器114は、マスタ側に設定
されていると判断すると、続いて、位相比較器108か
らOk/NG信号P1を取り込んで、リセット信号R1
の位相ずれが許容範囲内か否かをチェックする。そし
て、リセット信号R1の位相ずれが許容範囲内の場合に
は、リセット信号r2の位相ずれの検出結果にかかわら
ず、リセット信号R1が選択されるようにセレクタ11
2,113を制御する。また、この場合には、クロック
生成系100,200ともに、マスタ/スレーブの変更
は行わない。このようにクロック分配回路が正常に動作
している場合の、各クロックA0,B0,C,Dのパタ
ーン例を、図5(A)に、クロックB0,Dを拡大した
ものを図5(B)に示す。
When the power is turned on, the clock generation system 100 is set to the master-side clock generation system. When determining that the selection signal generator 114 of the clock generation system 100 is set to the master side, the selection signal generator 114 subsequently fetches the Ok / NG signal P1 from the phase comparator 108 and outputs the reset signal R1
It is checked whether the phase shift is within the allowable range. When the phase shift of the reset signal R1 is within the allowable range, the selector 11 selects the reset signal R1 regardless of the detection result of the phase shift of the reset signal r2.
2 and 113 are controlled. In this case, neither the clock generation systems 100, 200 change the master / slave. FIG. 5A shows a pattern example of each of the clocks A0, B0, C, and D when the clock distribution circuit is operating normally as shown in FIG. 5A, and FIG. ).

【0038】一方、クロック生成系100の選択信号生
成器114は、リセット信号R1の位相ずれが許容範囲
外の場合には、リセット信号r2の位相ずれの検出結果
にかかわらず、リセット信号R3が選択されるようにセ
レクタ113を制御する。そして、クロック生成系10
0の選択信号生成器114は、マスタ/スレーブの区別
をスレーブに変更するとともに、この変更を信号MS1
により例えば外部の制御装置(図示せず)に送信する。
外部の制御装置等は、信号MS2により、クロック生成
系200をマスタに変更する。
On the other hand, when the phase shift of the reset signal R1 is out of the allowable range, the selection signal generator 114 of the clock generation system 100 selects the reset signal R3 regardless of the detection result of the phase shift of the reset signal r2. The selector 113 is controlled so that the Then, the clock generation system 10
0 selection signal generator 114 changes the master / slave discrimination to slave and changes this change to signal MS1.
, For example, to an external control device (not shown).
The external control device or the like changes the clock generation system 200 to the master according to the signal MS2.

【0039】クロック生成系200は、電源投入時に
は、スレーブ側クロック生成系に設定される。クロック
生成系200の選択信号生成器114は、スレーブ側に
設定されていると判断すると、続いて、位相比較器10
9からOk/NG信号P2を取り込んで、リセット信号
r2の位相ずれが許容範囲内か否かをチェックする。そ
して、リセット信号r2の位相ずれが許容範囲内の場合
には、リセット信号R1の位相ずれの検出結果にかかわ
らず、リセット信号r2が選択されるようにセレクタ1
12,113を制御する。この場合には、クロック生成
系100,200ともに、マスタ/スレーブの変更は行
わない。
When the power is turned on, the clock generation system 200 is set to the slave clock generation system. When the selection signal generator 114 of the clock generation system 200 determines that it is set to the slave side,
9 and fetches the Ok / NG signal P2, and checks whether or not the phase shift of the reset signal r2 is within an allowable range. When the phase shift of the reset signal r2 is within the allowable range, the selector 1 selects the reset signal r2 regardless of the detection result of the phase shift of the reset signal R1.
12 and 113 are controlled. In this case, the clock generation systems 100 and 200 do not change the master / slave.

【0040】一方、クロック生成系200の選択信号生
成器114は、リセット信号r2の位相ずれが許容範囲
外の場合には、続いて、位相比較器108から信号P1
を取り込んで、リセット信号R1の位相ずれが許容範囲
内か否かをチェックする。そして、リセット信号R1の
位相ずれが許容範囲内であれば、リセット信号R1が選
択されるようにセレクタ112,113を制御するとと
もに、マスタ/スレーブの区別をマスタに変更する。こ
の変更は、信号MS2により外部の制御装置等に送信さ
れる。この場合、外部の制御装置等は、信号MS1によ
りクロック生成系100をスレーブに変更してもよい
し、マスタに維持してもよい。クロック生成系100を
マスタに維持した場合には、位相ずれが修正された後
で、外部の制御装置等がクロック生成系100,200
に対するマスタ/スレーブの再設定を行う。また、リセ
ット信号r2の位相ずれが許容範囲外で、且つ、リセッ
ト信号R1の位相ずれも許容範囲外の場合には、クロッ
ク生成系200の選択信号生成器114は、リセット信
号R3が選択されるようにセレクタ113を制御し、そ
して、マスタ/スレーブの区別をマスタに変更するとと
もに、この変更を信号MS2により例えば外部の制御装
置等に送信する。この場合も、外部の制御装置等は、ク
ロック生成系100をスレーブに変更してもマスタに維
持してもよく、マスタに維持した場合には位相ずれが修
正された後でクロック生成系100,200に対するマ
スタ/スレーブの再設定を行う。
On the other hand, when the phase shift of the reset signal r2 is out of the allowable range, the selection signal generator 114 of the clock generation system 200 subsequently outputs the signal P1 from the phase comparator 108.
And checks whether the phase shift of the reset signal R1 is within an allowable range. If the phase shift of the reset signal R1 is within the allowable range, the selectors 112 and 113 are controlled so that the reset signal R1 is selected, and the master / slave distinction is changed to master. This change is transmitted to an external control device or the like by a signal MS2. In this case, an external control device or the like may change the clock generation system 100 to a slave or maintain the clock generation system 100 as a master according to the signal MS1. When the clock generation system 100 is maintained as a master, after the phase shift is corrected, an external control device or the like operates the clock generation systems 100 and 200.
Reset master / slave for If the phase shift of the reset signal r2 is out of the allowable range and the phase shift of the reset signal R1 is out of the allowable range, the selection signal generator 114 of the clock generation system 200 selects the reset signal R3. The selector 113 is controlled as described above, and the master / slave distinction is changed to master, and this change is transmitted to, for example, an external control device or the like by the signal MS2. In this case as well, the external control device or the like may change the clock generation system 100 to a slave or maintain it as a master. If the clock generation system 100 is maintained as a master, the clock generation system 100, The master / slave for 200 is reset.

【0041】このように、この実施の形態にかかるクロ
ック分配回路では、入力クロックB1を用いて、リセッ
ト信号R1およびリセット信号r2(実質的にはリセッ
ト信号R2)の位相ずれが正常範囲内であるか否かを検
出することとし、そして、この検出結果に基づいて、カ
ウンタ104に使用するリセット信号をR1,R2,R
3の中から選択するとともに、必要に応じてマスタ/ス
レーブの区別を切り替えることとした。したがって、リ
セット信号R2(したがって信号r2)に異常が発生し
た場合(例えば、マスタ側クロック生成系で生成クロッ
クCが乱れてリセット信号に影響を及ぼす場合や、マス
タ側クロック生成系とスレーブ側クロック生成系との間
の信号線上でリセット信号R2が乱れた場合等が考えら
れる)であっても、スレーブ側の生成クロックに影響を
与えることがない。
As described above, in the clock distribution circuit according to this embodiment, the phase shift between the reset signal R1 and the reset signal r2 (substantially, the reset signal R2) is within the normal range using the input clock B1. Or not, and based on the detection result, reset signals used for the counter 104 are set to R1, R2, R
3 and switching the master / slave discrimination as necessary. Therefore, when an abnormality occurs in the reset signal R2 (and therefore, the signal r2) (for example, when the generated clock C is disturbed in the master-side clock generation system and affects the reset signal, or when the master-side clock generation system and the slave-side clock generation Even if the reset signal R2 is disturbed on the signal line between the slave and the system, the generated clock on the slave side is not affected.

【0042】すなわち、この実施の形態によれば、一方
のクロック生成系の生成クロックやリセット信号に発生
した異常が他方のクロック生成系に波及しないクロック
分配回路を提供することができる。
That is, according to this embodiment, it is possible to provide a clock distribution circuit in which an abnormality generated in a generated clock or a reset signal of one clock generation system does not propagate to the other clock generation system.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、この発明に
係るクロック分配回路によれば、後段回路の供給するク
ロックの信頼性を向上させることができる。
As described above in detail, according to the clock distribution circuit of the present invention, the reliability of the clock supplied from the subsequent circuit can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施の形態にかかるクロック分配回路の構成を
示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a clock distribution circuit according to an embodiment;

【図2】(A)、(B)ともに、実施の形態にかかる位
相比較器の内部構成例を示すブロック図である。
FIGS. 2A and 2B are block diagrams each showing an internal configuration example of a phase comparator according to the embodiment; FIG.

【図3】実施の形態にかかる位相比較器の動作を説明す
るためのタイミングチャートである。
FIG. 3 is a timing chart for explaining an operation of the phase comparator according to the embodiment;

【図4】実施の形態にかかる位相比較器の動作を説明す
るためのタイミングチャートである。
FIG. 4 is a timing chart for explaining an operation of the phase comparator according to the embodiment;

【図5】信号選択部の動作を説明するためのタイミング
チャートである。
FIG. 5 is a timing chart for explaining the operation of the signal selection unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100,200 クロック生成系 101 PLL 102,103 フリップフロップ 104 カウンタ 105 デコーダ 106 ウインド生成器 107 微分器 108,109 位相比較器 110 分周器 111 微分器 112,113 セレクタ 114 選択信号生成器 100, 200 clock generation system 101 PLL 102, 103 flip-flop 104 counter 105 decoder 106 window generator 107 differentiator 108, 109 phase comparator 110 frequency divider 111 differentiator 112, 113 selector 114 selection signal generator

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 マスタ側クロック生成手段またはスレー
ブ側クロック生成手段のそれぞれで出力クロックを生成
するクロック分配回路において、 それぞれの前記クロック生成手段が、 第1の入力クロックのパルス数を計数するカウンタと、 このカウンタの計数値が所定値に達したときに第1のリ
セット信号および前記出力クロックを生成する信号生成
部と、 第2の入力クロックと前記第1のリセット信号との位相
差が正常範囲内であるか否かを検出する第1の位相検出
部と、 他方の前記クロック生成手段から供給された第2のリセ
ット信号と前記第2の入力クロックとの位相差が正常範
囲内であるか否かを検出する第2の位相検出部と、 前記第1の位相検出部および前記第2の位相検出部の検
出結果に基づいて前記第1のリセット信号または前記第
2のリセット信号を選択して、前記カウンタに供給する
とともに、他方の前記クロック生成手段に前記第2のク
ロック信号として供給する信号選択部と、 を備えたことを特徴とするクロック分配回路。
1. A clock distribution circuit that generates an output clock by each of a master-side clock generation unit and a slave-side clock generation unit, wherein each of the clock generation units includes a counter that counts the number of pulses of a first input clock. A signal generation unit that generates a first reset signal and the output clock when a count value of the counter reaches a predetermined value; and a phase difference between a second input clock and the first reset signal is within a normal range. A first phase detector for detecting whether or not the phase difference is within the range, and a phase difference between a second reset signal supplied from the other clock generation means and the second input clock is within a normal range. A second phase detector for detecting whether or not the first reset signal or the first reset signal based on detection results of the first phase detector and the second phase detector. And a signal selecting unit that selects the second reset signal, supplies the selected signal to the counter, and supplies the second reset signal to the other clock generating unit as the second clock signal. circuit.
【請求項2】 前記第2の入力クロックを分周して第3
のリセット信号を生成する分周リセット信号生成部をさ
らに備え、 前記信号選択部が、前記第1の位相検出部および前記第
2の位相検出部の検出結果に基づいて前記第1のリセッ
ト信号乃至前記第3のリセット信号のいずれかを選択し
て、前記カウンタに供給するとともに他方の前記クロッ
ク生成手段に前記第2のクロック信号として供給する、 ことを特徴とする請求項1に記載のクロック分配回路。
2. The method according to claim 1, wherein the second input clock is divided to generate a third
And a frequency-divided reset signal generation unit that generates a reset signal of the first and second reset signals based on detection results of the first phase detection unit and the second phase detection unit. The clock distribution according to claim 1, wherein one of the third reset signals is selected, supplied to the counter, and supplied to the other clock generation unit as the second clock signal. circuit.
【請求項3】 前記マスタ側クロック生成手段の前記信
号選択部が、 前記第1の位相検出部の検出した位相差が正常範囲内で
ある場合には、前記第1のリセット信号を選択し、 前記第1の位相検出部の検出した位相差が正常範囲内で
無い場合には、このクロック生成手段をスレーブ側に変
更するとともに、前記第3のリセット信号を選択する、 ことを特徴とする請求項2に記載のクロック分配回路。
3. The signal selecting section of the master-side clock generating means selects the first reset signal when a phase difference detected by the first phase detecting section is within a normal range. When the phase difference detected by the first phase detection unit is not within the normal range, the clock generation unit is changed to a slave side and the third reset signal is selected. Item 3. The clock distribution circuit according to Item 2.
【請求項4】 前記スレーブ側クロック生成手段の前記
信号選択部が、 前記第2の位相検出部の検出した位相差が正常範囲内で
ある場合には、前記第2のリセット信号を選択し、 前記第2の位相検出部の検出した位相差が正常範囲内で
無い場合には、このクロック生成手段をマスタ側に変更
するとともに、前記第1の位相検出部の検出した位相差
が正常範囲内であれば前記第1のリセット信号を選択し
且つ前記第1の位相検出部の検出した位相差が正常範囲
内で無ければ前記第3のリセット信号を選択する、 ことを特徴とする請求項2または3のいずれかに記載の
クロック分配回路。
4. The signal selecting section of the slave-side clock generating means selects the second reset signal when the phase difference detected by the second phase detecting section is within a normal range, If the phase difference detected by the second phase detector is not within the normal range, the clock generator is changed to the master side, and the phase difference detected by the first phase detector is within the normal range. If so, the first reset signal is selected, and if the phase difference detected by the first phase detector is not within a normal range, the third reset signal is selected. Or the clock distribution circuit according to any one of 3.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007026033A (en) * 2005-07-15 2007-02-01 Fujitsu Ltd Semiconductor device and automatic decision method for operation mode of semiconductor device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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