JP2000149251A - Cleaning device for disk substrate and cleaning method - Google Patents

Cleaning device for disk substrate and cleaning method

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JP2000149251A
JP2000149251A JP10324728A JP32472898A JP2000149251A JP 2000149251 A JP2000149251 A JP 2000149251A JP 10324728 A JP10324728 A JP 10324728A JP 32472898 A JP32472898 A JP 32472898A JP 2000149251 A JP2000149251 A JP 2000149251A
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JP
Japan
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disk
cleaning
substrate
disk substrate
layer
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Application number
JP10324728A
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Japanese (ja)
Inventor
Hisashi Toda
久志 戸田
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Mitsubishi Chemical Corp
Original Assignee
Mitsubishi Chemical Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To stabilize the rotation of a substrate and to enable cleaning to be performed in a high speed rotation by providing three or more driving rollers supporting and rotating a disk substrate when cleaning is performed supporting and rotating a disk substrate. SOLUTION: The outer periphery part of a disk substrate 1 is supported by movable driving rollers 2, 3, and a fixed driving roller 4 between them, and supported in the vertical state. Rotary power is given to the disk substrate 1 by these three driving rollers and the disk 1 is rotated, and cleaning is performed with a scrubbing roll and the like. These three driving rollers 2, 3, 4 are rotated at constant speed through one driving shaft from a drive source and three belts 8, 9, 10 or a gear. The disk 1 is rotated by three rollers at the time of cleaning, at the time of loading a disk and unloading a disk after finish of cleaning, two movable driving rollers 2, 3 at the upper part are moved to the upper side by moving roller moving members 6, 7 to the upper side, and supporting the disk substrate 1 is released without moving the roller 4.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はディスク基板の洗浄
装置、更に詳しくは磁気ディスク、光記録ディスク等の
情報記録媒体の製造における基板の洗浄に適するディス
ク基板の洗浄方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a disk substrate cleaning apparatus, and more particularly to a disk substrate cleaning method suitable for cleaning a substrate in the manufacture of an information recording medium such as a magnetic disk and an optical recording disk.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、コンピュータ等の情報処理技術の
発達に伴い、その外部記憶装置として磁気記録装置や光
記録装置、それらの媒体として磁気ディスク等の磁気記
録媒体や、光磁気ディスクや相変化型光ディスク、DV
D−ROMなどの光記録媒体が広く用いられている。磁
気記録媒体としては、従来、アルミニウム合金基板にア
ルマイト処理やNi−Pメッキ等の非磁性メッキ処理を
施した非磁性基板に、CrまたはCr合金、Ni−Al
合金等の下地層を形成し、次いで、Co系合金の磁性層
を形成した上に炭素質の保護層で被覆し、潤滑剤を塗布
したものが使用されている。かかる磁気記録媒体は記録
の高密度化が進行しており、磁気ディスクと磁気ヘッド
との間隔、すなわち浮上量が小さくなっており、最近で
は0.10μm以下が要求されている。
2. Description of the Related Art In recent years, with the development of information processing technology such as computers, magnetic recording devices and optical recording devices as external storage devices, magnetic recording media such as magnetic disks, magneto-optical disks and phase change Type optical disc, DV
Optical recording media such as D-ROMs are widely used. Conventionally, as a magnetic recording medium, a non-magnetic substrate obtained by subjecting an aluminum alloy substrate to a non-magnetic plating treatment such as an alumite treatment or Ni-P plating is coated with Cr or a Cr alloy, Ni-Al.
An underlayer of an alloy or the like is formed, and then a magnetic layer of a Co-based alloy is formed, covered with a carbonaceous protective layer, and a lubricant is applied. In such a magnetic recording medium, the recording density has been increasing, and the distance between the magnetic disk and the magnetic head, that is, the flying height has been reduced, and recently, 0.10 μm or less is required.

【0003】また、光記録媒体として、プラスチック基
板に反射層、磁性層および保護層を形成した後潤滑剤を
塗布した光磁気ディスクが用いられているが、光磁気デ
ィスクにおいても浮上量が3μm以下の浮上型ヘッドあ
るいは接触型ヘッドが使用されている。記録あるいは再
生ヘッドの浮上量が小さくなると記録媒体表面の均一性
は高い精度が要求され、異物があるとヘッドクラッシュ
が生じて破損に至るおそれがあり、また、ヘッドクラッ
シュに至らないまでも、記録・再生のエラーの原因とな
る。
As an optical recording medium, a magneto-optical disk in which a reflective layer, a magnetic layer, and a protective layer are formed on a plastic substrate and then coated with a lubricant is used, but the flying height of the magneto-optical disk is 3 μm or less. Floating head or contact head. When the flying height of the recording or reproducing head is small, high uniformity of the recording medium surface is required, and if there is a foreign substance, a head crash may occur, leading to breakage.・ It may cause a playback error.

【0004】また、磁気ディスク等は、ディスク起動時
にヘッドがディスク面に固着したまま浮上しないという
付着現象が生じたり、動作中にヘッドとディスクとが接
触して摩擦抵抗のため正常な回転が阻害される問題があ
る。磁気ディスクにおいては特に、上述の高密度化(低
浮上量化)と並行して小型化も進められており、スピン
ドル回転用のモーターもますます小さくなっている。そ
の結果、モーターのトルクが不足し、起動時に磁気ヘッ
ドが磁気ディスク面に固着したまま浮上しないという付
着現象が生ずるおそれがある。また動作中に磁気ヘッド
と磁気ディスクとが接触して、摩擦抵抗のため正常な回
転が阻害されるおそれもある。
In addition, a magnetic disk or the like causes an adhesion phenomenon that the head is fixed to the disk surface and does not fly when the disk is started, or the head and the disk come into contact during operation and normal rotation is hindered due to frictional resistance. There are problems. In particular, the size of the magnetic disk is also being reduced in parallel with the above-mentioned high density (low flying height), and the motor for rotating the spindle is becoming smaller. As a result, the torque of the motor is insufficient, and there is a possibility that an adhesion phenomenon in which the magnetic head does not float while being fixed to the magnetic disk surface at the time of startup may occur. In addition, the magnetic head may come into contact with the magnetic disk during operation, and normal rotation may be hindered due to frictional resistance.

【0005】これらの現象の発生を防止する手段とし
て、磁気ディスクの場合は、基板表面に微細な凹凸を形
成するテキスチャ加工と称する表面処理が行われてい
る。かかるテキスチャ加工あるいは研磨の後には、バリ
状物あるいは塵埃の除去のために極めて高度な洗浄を必
要とする。図2に従来用いられているディスク基板洗浄
装置のディスク支持回転部の模式図を示す。ディスク基
板1は、その端部を、駆動ローラー12、駆動ローラー
13及び駆動部を持たないサポートローラー14の3つ
のローラーにより支持されている。ディスク基板1は駆
動ローラー12及び駆動ローラー13により回転力を与
えられて回転し、図示しないスクラブロール等により洗
浄が行われる。洗浄終了後は、駆動ローラー12は図の
上方に移動し、駆動ローラー13及びサポートローラー
14は図の下方に移動し、ディスク基板1の支持を解除
する。
As means for preventing the occurrence of these phenomena, in the case of a magnetic disk, surface treatment called texture processing for forming fine irregularities on the substrate surface is performed. After such texturing or polishing, very sophisticated cleaning is required to remove burrs or dust. FIG. 2 is a schematic view of a disk support rotating unit of a conventional disk substrate cleaning apparatus. The disk substrate 1 has its ends supported by three rollers: a driving roller 12, a driving roller 13, and a support roller 14 having no driving unit. The disk substrate 1 is rotated by being given a rotational force by the driving rollers 12 and 13, and is cleaned by a scrub roll (not shown) or the like. After the cleaning is completed, the drive roller 12 moves upward in the figure, the drive roller 13 and the support roller 14 move downward in the figure, and releases the support of the disk substrate 1.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、洗浄
力の向上及び洗浄時間の短縮等の要求が高まり、洗浄時
のディスク基板の回転数が急激に高まり、従来は200
〜300rpm程度であったのが最近は1000rpm
に達しつつある。しかして、従来の洗浄装置は、ディス
ク基板を高速で回転させようとするとサポートローラー
14がスリップしてしまいこれがディスク基板の回転ム
ラの原因となり、ディスク基板の一部で十分な洗浄が行
われないといった問題があった。本発明は、上記問題点
に鑑み、ディスク基板洗浄時の基板の回転を安定させ、
さらに高速回転での洗浄を可能とし、洗浄力の向上及び
洗浄時間の短縮を測ることを目的とする。
By the way, in recent years, there has been an increasing demand for an improvement in cleaning power and a reduction in cleaning time, and the number of revolutions of a disk substrate during cleaning has rapidly increased.
~ 300 rpm, but recently 1000 rpm
Is reaching. However, in the conventional cleaning apparatus, when the disk substrate is rotated at a high speed, the support roller 14 slips, which causes uneven rotation of the disk substrate, and a part of the disk substrate is not sufficiently cleaned. There was such a problem. The present invention has been made in view of the above problems, and stabilizes the rotation of a substrate during disk substrate cleaning.
It is another object of the present invention to enable cleaning at a high rotation speed and to improve the cleaning power and reduce the cleaning time.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、かかる課題を
解決するために鋭意検討を行った結果なされたもので、
その要旨はディスク基板を支持し回転させながら洗浄を
行うディスク基板の洗浄装置であって、該ディスク基板
を支持し回転させる3以上の駆動ローラーを有すること
を特徴とするディスク基板の洗浄装置に存する。また、
本発明の別の要旨は、ディスク基板を支持し回転させな
がら洗浄を行うディスク基板の洗浄方法であって、該デ
ィスク基板を3以上の駆動ローラーで支持し回転させな
がら洗浄を行うことを特徴とするディスク基板の洗浄方
法に存する。
Means for Solving the Problems The present invention has been made as a result of intensive studies in order to solve such problems.
The gist of the present invention resides in an apparatus for cleaning a disk substrate that supports and rotates the disk substrate and performs cleaning while rotating the disk substrate, the apparatus including three or more drive rollers that support and rotate the disk substrate. . Also,
Another aspect of the present invention is a method of cleaning a disk substrate that supports and rotates a disk substrate and performs cleaning while rotating the disk substrate while supporting and rotating the disk substrate with three or more drive rollers. The present invention resides in a method of cleaning a disk substrate.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本発明は、磁気記録媒体、光磁気
ディスク、相変化型光ディスク、DVD−ROM等の光
記録媒体等の情報記録媒体用のディスク基板の洗浄に適
用される。情報記録媒体用のディスク基板の洗浄は、デ
ィスク基板の研磨、テキスチャ加工、ポリッシュ加工の
後等に行われる。なお、本発明においてディスク基板と
は、記録媒体の基盤を形成する機材から機能層が積層さ
れて製品に至るまでの各段階におけるものを含むものと
する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention is applied to cleaning of a disk substrate for an information recording medium such as a magnetic recording medium, a magneto-optical disk, a phase change optical disk, and an optical recording medium such as a DVD-ROM. Cleaning of the disc substrate for the information recording medium is performed after polishing, texturing, polishing, etc. of the disc substrate. In the present invention, the disk substrate includes those at each stage from a device forming a base of a recording medium to a product in which functional layers are laminated to a product.

【0009】磁気記録媒体としては、一般に基板上に下
地層、磁性層および保護層が順次形成される。本発明に
使用される磁気記録媒体の非磁性基板としては、一般に
アルミニウムまたはアルミニウム合金からなるアルミニ
ウム系金属を使用し、これを所定の厚さのディスク状基
板形状に加工した後、その表面が鏡面加工される。この
基板に非磁性金属、例えば、Ni−P合金、または、N
i−Cu−P合金等を無電解メッキ処理等により積層
し、更にこれにテキスチャ加工した後、下地層、磁性
層、保護層等が積層されて磁気ディスクが形成される。
As a magnetic recording medium, an underlayer, a magnetic layer and a protective layer are generally formed on a substrate in this order. As the non-magnetic substrate of the magnetic recording medium used in the present invention, an aluminum-based metal generally made of aluminum or an aluminum alloy is used, and after processing this into a disk-shaped substrate having a predetermined thickness, the surface is mirror-finished. Processed. A non-magnetic metal such as a Ni-P alloy or N
After laminating an i-Cu-P alloy or the like by electroless plating or the like, and further performing a texturing process, an underlayer, a magnetic layer, a protective layer, and the like are laminated to form a magnetic disk.

【0010】テキスチャ加工工程に至る前の基板の処理
工程としては、帯状のアルミニウム系金属薄板を基板形
状に裁断した後、角部を研削するチャンファリング工程
を得て、平滑研削するグラインディング工程、Ni−P
等のメッキ工程、表面を平滑化するポリッシュ工程が行
なわれ、その間に、前工程で発生した応力歪みを除去す
るための焼成(熱処理)工程が行なわれる。
As a substrate processing step before the texturing step, a strip-shaped aluminum-based thin metal plate is cut into a substrate shape, and then a chamfering step of grinding a corner portion is performed, and a grinding step of smooth grinding is performed. Ni-P
And the like, and a polishing step for smoothing the surface are performed. During that time, a firing (heat treatment) step for removing the stress distortion generated in the previous step is performed.

【0011】ポリッシュ加工は例えば、表面に遊離砥粒
を付着してしみ込ませたポリッシュパッドの間に基板を
はさみこみ、界面活性剤水溶液等の研磨液を補給しなが
らポリッシュ加工を行ない、通常2〜5μm程度ポリッ
シュしてその表面を平均表面粗さRaが50オングスト
ローム以下、望ましくは30オングストローム以下に鏡
面仕上げする。
In the polishing process, for example, a substrate is sandwiched between polishing pads having free abrasive grains adhered to the surface and impregnated, and polishing is performed while replenishing a polishing solution such as an aqueous solution of a surfactant. After polishing, the surface is mirror-finished to have an average surface roughness Ra of 50 Å or less, preferably 30 Å or less.

【0012】また、テキスチャ加工としては例えば、2
500〜6000#程度のアルミナ砥粒を担持した研磨
テープを用いるテープ研削または、遊離砥粒を用いるス
ラリー研削により、上記ポリッシュ加工を施した基板面
に、平均表面粗さRaが20オングストローム以上、好
ましくは30〜300オングストローム、さらに好まし
くは50〜150オングストロームに形成された条痕の
交差する角度が好ましくは10〜40°、更に好ましく
は10〜30°の範囲の微細な溝もしくは凹凸を精度よ
く形成するものであり、基板表面にクロスパターンの条
痕を形成することは、吸着特性が改善されるという点で
好ましい。
As the texture processing, for example, 2
By means of tape grinding using a polishing tape carrying alumina abrasive grains of about 500 to 6000 #, or slurry grinding using loose abrasive grains, the polished substrate surface has an average surface roughness Ra of 20 Å or more, preferably Is formed with a precision of 30 to 300 angstroms, more preferably 50 to 150 angstroms, in which the crossing angle of the streaks is preferably 10 to 40 °, more preferably 10 to 30 °. It is preferable to form a cross-pattern streak on the substrate surface in that the adsorption characteristics are improved.

【0013】テキスチャ加工された基板は、下地層が形
成される。基板上に形成する下地層は、従来公知の非磁
性下地層でよく、例えば、Cr、Ti、Ni等で形成す
ることができる。なお、下地層のCrまたはTiは、通
常、これらの結晶性を損なわない範囲において、例え
ば、数原子%の範囲でSi、V、Cu等を含有する合金
であっても良い。本発明においては、特に、Cr系の下
地層が好適である。下地層の膜厚は、通常50〜200
0オングストロームの範囲である。
An underlayer is formed on the textured substrate. The underlayer formed on the substrate may be a conventionally known nonmagnetic underlayer, and may be formed of, for example, Cr, Ti, Ni, or the like. In addition, Cr or Ti of the underlayer may be an alloy containing Si, V, Cu, or the like in a range that does not impair the crystallinity thereof, for example, in a range of several atomic%. In the present invention, a Cr-based underlayer is particularly preferable. The thickness of the underlayer is usually 50 to 200.
0 angstrom range.

【0014】上記基板の下地層上に形成される磁性層
は、一般に、Co−Cr、Co−Ni、Co−Cr−
X、Co−Ni−X、Co−W−X等で表わされるコバ
ルト系合金薄膜層である。ここでXとしては、Li、S
i、P、Ca、Ti、V、Cr、Ni、As、Y、Z
r、Nb、Mo、Ru、Rh、Ag、Sb、Hf、T
a、W、Re、Os、Ir、Pt、Au、La、Ce、
Pr、Nd、Pm、Sm、EuおよびBよりなる群より
選ばれた1種または2種以上の元素が用いられる。磁性
層は、通常、スパッタリング等の手段によって、基板の
下地層上に被着形成される。この磁性層の膜厚は、通常
100〜1000オングストロームの範囲が好ましい。
The magnetic layer formed on the underlayer of the substrate is generally made of Co-Cr, Co-Ni, Co-Cr-.
It is a cobalt-based alloy thin film layer represented by X, Co-Ni-X, Co-WX or the like. Here, X is Li, S
i, P, Ca, Ti, V, Cr, Ni, As, Y, Z
r, Nb, Mo, Ru, Rh, Ag, Sb, Hf, T
a, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, La, Ce,
One or more elements selected from the group consisting of Pr, Nd, Pm, Sm, Eu and B are used. The magnetic layer is usually formed on the base layer of the substrate by means such as sputtering. The thickness of the magnetic layer is usually preferably in the range of 100 to 1000 Å.

【0015】保護層は、炭素膜、水素化カーボン膜、窒
素化カーボン膜、TiC、SiC等の炭化膜、SiN、
TiN等の窒化膜、SiO、Al23、ZrO等の酸化
物膜等によって構成され、通常、スパッタ法により形成
される。保護層としては、炭素膜、水素化カーボン膜お
よび窒素化カーボン膜が特に好ましい。保護層が形成さ
れた後ポリッシュ加工が施され洗浄された後潤滑剤が塗
布される。潤滑層の厚さは約15〜50オングストロー
ムの範囲が好ましい。また、潤滑層形成後に加熱処理を
施してもよい。加熱温度は50℃以上であるが、潤滑剤
の分解温度よりも低い温度で適宜選択すればよい。
The protective layer includes a carbon film, a hydrogenated carbon film, a nitrogenated carbon film, a carbonized film such as TiC and SiC, SiN,
It is composed of a nitride film such as TiN, an oxide film such as SiO, Al 2 O 3 , ZrO and the like, and is usually formed by a sputtering method. As the protective layer, a carbon film, a hydrogenated carbon film, and a nitrogenated carbon film are particularly preferable. After the protective layer is formed, polishing is performed, and after cleaning, a lubricant is applied. Preferably, the thickness of the lubricating layer ranges from about 15 to 50 Angstroms. Further, a heat treatment may be performed after the formation of the lubricating layer. The heating temperature is 50 ° C. or higher, but may be appropriately selected at a temperature lower than the decomposition temperature of the lubricant.

【0016】潤滑剤としてはフッ素系液体潤滑剤が好ま
しい。特には、末端または側鎖に水酸基を有し、分子骨
格中にフルオロカーボン骨格を有する化合物、例えば、
パーフルオロカルボン酸エステル、パーフルオロチオー
ルカルボン酸エステル、パーフルオロジカルボン酸エス
テル、パーフルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエ
ステル、パーフルオロ安息香酸エステル、カルボン酸パ
ーフルオロアルキルエステル、ジカルボン酸パーフルオ
ロアルキルエステル、カルボン酸パーフルオロアルコキ
シアルキルエステル、パーフルオロカルボン酸アミド、
パーフルオロポリエーテル、パーフルオロポリエーテル
カルボン酸、パーフルオロポリエーテルアルコール、パ
ーフルオロポリエーテルエステル等を用いることができ
る。
As the lubricant, a fluorinated liquid lubricant is preferable. Particularly, a compound having a hydroxyl group at a terminal or a side chain and having a fluorocarbon skeleton in a molecular skeleton, for example,
Perfluorocarboxylic acid ester, perfluorothiolcarboxylic acid ester, perfluorodicarboxylic acid ester, perfluorocarboxylic acid perfluoroalkyl ester, perfluorobenzoic acid ester, carboxylic acid perfluoroalkyl ester, dicarboxylic acid perfluoroalkyl ester, carboxylic acid Perfluoroalkoxyalkyl ester, perfluorocarboxylic acid amide,
Perfluoropolyether, perfluoropolyether carboxylic acid, perfluoropolyether alcohol, perfluoropolyether ester, and the like can be used.

【0017】一方、光記録媒体にはピットやグルーブを
設けた樹脂基板が用いられる。樹脂としては、アクリル
系樹脂、ノルボルネン系樹脂、ポリオレフィン樹脂、液
晶ポリマー、ポリカーボネート等が挙げられ、例として
ポリメチルメタクリレート(PMMA)、ARTON
(日本合成ゴム社 ノルボルネン系エステル置換環状オ
レフィン開環重合体水添物)、ZEONEX(日本ゼオ
ン社 ノルボルネン系環状オレフィン開環重合体水添
物)、芳香族ポリエステル系液晶ポリマー、ポリカーボ
ネートなどが挙げられる。
On the other hand, a resin substrate provided with pits and grooves is used for an optical recording medium. Examples of the resin include an acrylic resin, a norbornene resin, a polyolefin resin, a liquid crystal polymer, and a polycarbonate. Examples of the resin include polymethyl methacrylate (PMMA) and ARTON.
(Nippon Synthetic Rubber Co., Ltd. Norbornene-based ester-substituted cyclic olefin ring-opening polymer hydrogenated product), ZEONEX (Nippon Zeon Co., Ltd., norbornene-based cyclic olefin ring-opening polymer hydrogenated product), aromatic polyester-based liquid crystal polymer, polycarbonate and the like. .

【0018】ピットおよびグルーブを設けたスタンパー
をもとに、これら樹脂を用いて射出成形、射出圧縮成
形、放射線硬化などによりピット/グルーブを転写形成
して樹脂基板とする。ガラス、金属、セラミック等と異
なり、樹脂を用いることで、幅または長さが2μm以
下、深さが100nm以下の微細なピットやグルーブが
精密かつ安価に形成できる。基板の厚みは0.4〜2m
m程度が一般的である。あまり薄すぎると、基板が自重
によりたわんで平面性が出にくくなるが、2mmを超え
ると強度面では大差がなくなる。
Based on a stamper provided with pits and grooves, pits / grooves are transferred and formed by injection molding, injection compression molding, radiation curing or the like using these resins to form a resin substrate. Unlike glass, metal, ceramic, and the like, by using a resin, fine pits or grooves having a width or length of 2 μm or less and a depth of 100 nm or less can be formed accurately and at low cost. Substrate thickness is 0.4-2m
m is common. If the thickness is too thin, the substrate is bent by its own weight and it is difficult to obtain flatness, but if it exceeds 2 mm, there is no great difference in strength.

【0019】基板上に形成する光記録層としては、各種
のものを用いることができ、例えば光磁気記録層や相変
化型記録層、色素型記録層が用いられる。また、層構成
としても特に制限はなく、各種の層構成を採用すること
ができる。光磁気記録層としては、例えばTbFe、T
bFeCo、TbCo、GdFeCo、DyTbFeC
o等の希土類と遷移金属との非晶質磁性層、MnBi、
MnCuBi等の多結晶垂直磁化層、Pt/Co多層膜
等が用いられる。光磁気記録層は単層であっても良い
し、オーバーライトやMSRを可能とするためにGdT
bFe/TbFeのように2層以上の磁性層を重ねて用
いても良い。
As the optical recording layer formed on the substrate, various types can be used, for example, a magneto-optical recording layer, a phase change recording layer, and a dye recording layer. The layer configuration is not particularly limited, and various layer configurations can be adopted. As the magneto-optical recording layer, for example, TbFe, Tb
bFeCo, TbCo, GdFeCo, DyTbFeC
an amorphous magnetic layer of a rare earth such as o and a transition metal, MnBi,
A polycrystalline perpendicular magnetization layer such as MnCuBi, a Pt / Co multilayer film or the like is used. The magneto-optical recording layer may be a single layer, or GdT to enable overwriting and MSR.
Two or more magnetic layers such as bFe / TbFe may be stacked and used.

【0020】相変化型記録層としては、例えばGeSb
TeやInSbTe、AgSbTe、AgInSbTe
といった化合物が使用できる。好ましくは、{(Sb2
Te31-x(GeTe)x1-ySby(0.2<x<
0.9、0≦y<0.1)合金、および該3元合金に1
0原子%程度までのIn、Ga、Zn、Sn、Si、C
u、Au、Ag、Pd、Pt、Pb、Cr、Co、O、
S、Se、Ta、Nb、Vのうち少なくとも1種を含む
合金薄膜が挙げられる。あるいは、高速でのオーバーラ
イトが可能な材料として、Sb70Te30共晶点近傍のS
bTe合金を主成分とする、MSbTe(M=In、G
a、Zn、Ge、Sn、Si、Cu、Au、Ag、P
d、Pt、Pb、Cr、Co、O、S、Se、Ta、N
b、Vのうち少なくとも1種)合金薄膜が好ましい。
As the phase change type recording layer, for example, GeSb
Te, InSbTe, AgSbTe, AgInSbTe
Can be used. Preferably, {(Sb 2
Te 3) 1-x (GeTe ) x} 1-y Sb y (0.2 <x <
0.9, 0 ≦ y <0.1) alloy, and 1 for the ternary alloy
In, Ga, Zn, Sn, Si, C up to about 0 atomic%
u, Au, Ag, Pd, Pt, Pb, Cr, Co, O,
An alloy thin film containing at least one of S, Se, Ta, Nb, and V is exemplified. Alternatively, as a material that can be overwritten at a high speed, Sb 70 Te 30 near the eutectic point
MSbTe (M = In, G
a, Zn, Ge, Sn, Si, Cu, Au, Ag, P
d, Pt, Pb, Cr, Co, O, S, Se, Ta, N
(At least one of b and V) alloy thin film is preferable.

【0021】光記録層上には耐候性、高硬度、高滑性な
どの性質を備えた透明中間層を設ける。中間層の材質は
これら性質を考慮の上選ばれる。中間層として誘電体が
好ましく金属酸化物、窒化物、カルコゲン化物、炭化
物、フッ化物、およびその混合物などが用いられる。金
属酸化物としてはAl23、Ta25、SiO2、Si
O、TiO2等の金属酸化物単独またはこれらの混合
物、或いはAl−Ta−Oの複合酸化物等が挙げられ
る。金属窒化物としては、窒化ケイ素、窒化アルミニウ
ム等が挙げられる。
On the optical recording layer, a transparent intermediate layer having properties such as weather resistance, high hardness and high lubricity is provided. The material of the intermediate layer is selected in consideration of these properties. As the intermediate layer, a dielectric is preferable, and metal oxides, nitrides, chalcogenides, carbides, fluorides, and mixtures thereof are used. Al 2 O 3 , Ta 2 O 5 , SiO 2 , Si
Metal oxides such as O and TiO 2 alone or a mixture thereof, or a composite oxide of Al—Ta—O may be used. Examples of the metal nitride include silicon nitride and aluminum nitride.

【0022】カルコゲン化物としては、ZnS、ZnS
e等のカルコゲン化亜鉛、CdS、CdSe等のII−V
族化合物、La23、Ce23等の希土類硫化物、Ta
2、MgS、CaS等が挙げられる。カルコゲン化亜
鉛は化学的にも安定で、その中でも特にZnSは毒性も
低く最も好ましい。これら誘電体層の形成方法として
は、蒸着やスパッタリングが挙げられるが、スパッタリ
ングがより好ましい。滑性に優れた材質としては炭素
膜、水素化カーボン膜、窒素化カーボン膜、TiC、S
iC等の炭化膜、SiN、TiN等の窒化膜、SiO、
Al23、ZrO等の酸化物膜等によって構成され、通
常、スパッタ法等により形成される。より好ましくは、
炭素膜、水素化カーボン膜および窒素化カーボン膜であ
る。
As chalcogenides, ZnS, ZnS
II-V such as chalcogenide zinc such as e, CdS and CdSe
Group compounds, rare earth sulfides such as La 2 S 3 and Ce 2 S 3 , Ta
S 2 , MgS, CaS and the like can be mentioned. Zinc chalcogenide is chemically stable, and among them, ZnS is particularly preferable because of its low toxicity. Examples of a method for forming these dielectric layers include vapor deposition and sputtering, and sputtering is more preferred. Materials with excellent lubricity include carbon film, hydrogenated carbon film, nitrogenated carbon film, TiC, S
carbide film such as iC, nitride film such as SiN and TiN, SiO,
It is composed of an oxide film such as Al 2 O 3 or ZrO, and is usually formed by a sputtering method or the like. More preferably,
A carbon film, a hydrogenated carbon film, and a nitrogenated carbon film.

【0023】中間層は保護層および滑性層としての役割
を有するが、これを複数層としてもよい。例えば記録層
に接する側に耐候性に優れ硬度の高い保護層を、潤滑層
に接する側に滑性に優れた滑性層を設けると、全体とし
て両方に優れた性質を得ることができ、好ましい。光磁
気記録層に接する層としては、窒化シリコン、Si
2、Ta25などが好適に用いられる。相変化型記録
層に接する層としては、ZnSと金属酸化物の混合物が
好適に用いられる。
The intermediate layer has a role as a protective layer and a lubricating layer, but may have a plurality of layers. For example, when a protective layer having high weather resistance and high hardness is provided on the side in contact with the recording layer, and a lubricating layer having excellent lubricity is provided on the side in contact with the lubricating layer, both excellent properties can be obtained as a whole, which is preferable. . As the layer in contact with the magneto-optical recording layer, silicon nitride, Si
O 2 and Ta 2 O 5 are preferably used. As a layer in contact with the phase-change recording layer, a mixture of ZnS and a metal oxide is preferably used.

【0024】好ましくは、基板と記録層との間に反射層
を設ける。反射層としては高反射率の金属または合金が
用いられ、例えばAl、Ag、Au、Cuやこれを主成
分とする合金である。さらに、基板あるいは反射層と、
記録層との間に、光を干渉させ増幅させる目的や記録層
保護の目的等で透明中間層を設けても良い。材質として
は、上述した誘電体等が好ましく用いられる。これ等光
記録媒体の最外層には潤滑剤層を形成することができ
る。
Preferably, a reflective layer is provided between the substrate and the recording layer. As the reflective layer, a metal or an alloy having a high reflectance is used, for example, Al, Ag, Au, Cu, or an alloy containing these as a main component. Further, a substrate or a reflective layer,
A transparent intermediate layer may be provided between the recording layer and the recording layer for the purpose of interfering and amplifying light or protecting the recording layer. As the material, the above-described dielectric or the like is preferably used. A lubricant layer can be formed on the outermost layer of these optical recording media.

【0025】潤滑剤としては磁気ディスクに用いるもの
と同じでよいが、エステル結合を有するパーフルオロポ
リエーテル、ジアルキルアミドカルボン酸、パークロロ
ポリエーテル、ステアリン酸、ステアリン酸ナトリウ
ム、リン酸エステル等が好ましい。エステル結合は分子
内のどこにあってもよいが、末端にエステル結合の官能
基を有すると分子中の可動部が長くなり潤滑性が得られ
易いためより好ましい。特に主鎖に−Ca2aO−単位
(但し、aは1〜4の整数)を有し、末端にエステル結
合の官能基を有するパーフルオロポリエーテルが好まし
い。
The lubricant may be the same as that used for the magnetic disk, but is preferably a perfluoropolyether having an ester bond, dialkylamidocarboxylic acid, perchloropolyether, stearic acid, sodium stearate, phosphate ester, or the like. . The ester bond may be located anywhere in the molecule, but it is more preferable to have an ester bond functional group at the end, since the movable portion in the molecule becomes longer and lubricity is easily obtained. Particularly -C a F 2a O- units (wherein, a is an integer of 1 to 4) in the main chain has a perfluoropolyether having a functional group of the terminal ester bond.

【0026】潤滑剤の分子量は100〜10000の範
囲内が好ましい。分子量が低いと一般的に蒸気圧が高
く、塗布した後にわずかづつ揮散し、時間と共に所望の
膜厚から外れてしまう。逆に分子量が高い場合は、一般
的に粘性が高く、所望の潤滑性が得られない時がある。
また、これらを溶解させる溶媒としては例えばフロン
系、アルコール系、炭化水素系、ケトン系、エーテル
系、フッ素系、芳香族系等が用いられる。潤滑剤の塗布
膜厚としては、1〜20nmの範囲であることが好まし
い。この範囲外すなわち薄い場合は、所望の潤滑性が得
られないが、あまり厚くしても一定以上の潤滑性は得ら
れず余分な潤滑剤がディスクの回転に伴って外周側へ移
動し、内外周での膜厚分布が発生しやすくなる。
The molecular weight of the lubricant is preferably in the range of 100 to 10,000. If the molecular weight is low, the vapor pressure is generally high, and it evaporates little by little after coating, and deviates from a desired film thickness with time. Conversely, when the molecular weight is high, the viscosity is generally high, and the desired lubricity may not be obtained.
As a solvent for dissolving these, for example, a fluorocarbon type, alcohol type, hydrocarbon type, ketone type, ether type, fluorine type, aromatic type, etc. are used. The coating thickness of the lubricant is preferably in the range of 1 to 20 nm. If the thickness is out of this range, that is, if the thickness is too small, the desired lubricity cannot be obtained. The film thickness distribution in the periphery is likely to occur.

【0027】このような情報記録媒体の製造において、
基板表面の清浄化あるいは研磨、グラインディング、ポ
リッシュ、テキスチャ加工等の処理を行った後のスクラ
ブロール洗浄やジェット洗浄等に適用される。以下、図
1を用いて本発明のディスク基板洗浄装置及び洗浄方法
について説明する。図1は本発明に係るディスク基板洗
浄装置のディスク支持回転部の模式図である。
In manufacturing such an information recording medium,
The present invention is applied to scrub roll cleaning, jet cleaning, and the like after performing processing such as cleaning, polishing, grinding, polishing, and texture processing of a substrate surface. Hereinafter, a disk substrate cleaning apparatus and a cleaning method of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a schematic view of a disk support rotating unit of a disk substrate cleaning apparatus according to the present invention.

【0028】本発明洗浄装置の外部構造は従来装置と同
じ構造であってよく、図1に示すように、ディスク基板
1の外周縁部を可動駆動ローラー2、可動駆動ローラー
3及び固定駆動ローラー4の3つのローラーにより挟持
されて、ディスク基板1を直立した状態に保持されてい
る。ディスク基板1は該3つの駆動ローラーにより回転
力を与えられて回転し、図示しないスクラブロール等に
より洗浄が行われる。
The external structure of the cleaning apparatus of the present invention may be the same as that of the conventional apparatus. As shown in FIG. 1, the outer peripheral edge of the disk substrate 1 is moved by the movable drive roller 2, the movable drive roller 3, and the fixed drive roller 4. And the disk substrate 1 is held upright. The disk substrate 1 is rotated by being given a rotational force by the three driving rollers, and is cleaned by a scrub roll (not shown) or the like.

【0029】これら3つの駆動ローラー2、3、4は、
例えば図示しない駆動源から1つの駆動軸5と3本のベ
ルト8、9、10もしくは歯車を通じて一定速度で回転
させる構造となっている。洗浄時は、3ローラーで回転
させ、ディスクの受け入れ時、洗浄終了後の排出時はロ
ーラー移動部材6、7を図の上方に動かすことにより図
の上部の2つの可動ローラー2、3が図の上方に移動
し、ローラー4を移動させることなくディスク基板1の
支持を解除する。
These three drive rollers 2, 3, 4
For example, it is configured to rotate at a constant speed from a drive source (not shown) through one drive shaft 5 and three belts 8, 9, 10 or gears. At the time of washing, the roller is rotated by three rollers. At the time of receiving the disc and at the time of discharging after the end of washing, the two movable rollers 2 and 3 at the top of the figure are moved by moving the roller moving members 6 and 7 upward in the figure. It moves upward and releases the support of the disk substrate 1 without moving the roller 4.

【0030】下部ローラーは常時固定されている。勿
論、1の固定ローラーを上部に配置し、2の可動ローラ
ーを下部に配置しても良い。ディスク基板を3以上の駆
動ローラーで回転させるため、ディスク回転ムラの原因
となるスリップが非常に起こりにくくなる。特に、スリ
ップを起こしやすい500rpm以上の高速回転で洗浄
を行う場合に効果が大きい。
The lower roller is always fixed. Of course, one fixed roller may be arranged at the upper part, and two movable rollers may be arranged at the lower part. Since the disk substrate is rotated by three or more drive rollers, slip which causes disk rotation unevenness is very unlikely to occur. In particular, the effect is large when cleaning is performed at a high speed of 500 rpm or more, at which slipping easily occurs.

【0031】これにより、ディスク基板の回転ムラに起
因する、基板の洗浄不良発生を抑えることができる。好
ましくは上記ローラーのうち少なくとも1を固定駆動ロ
ーラーとする。また、これらローラーはディスクの流れ
に対してディスクの前後ではなくディスク両側面に配置
することが好ましい。つまり、ディスク基板を直立した
状態に支持し回転させながら洗浄を行う場合はディスク
の上下に配置する。
As a result, it is possible to suppress the occurrence of defective cleaning of the substrate due to uneven rotation of the disk substrate. Preferably, at least one of the rollers is a fixed drive roller. Further, it is preferable that these rollers are arranged on both sides of the disk, not before and after the disk with respect to the flow of the disk. In other words, when cleaning is performed while rotating and supporting the disk substrate in an upright state, the disk substrate is disposed above and below the disk.

【0032】これによって、ローラーがディスクの流れ
を妨げることがなく、ディスク受け入れ、回転洗浄、デ
ィスク排出の一連の工程でも2の可動ローラーをディス
ク側面から外すだけでよく、移動ラインが切断されるこ
とがない。それゆえ、簡単なラインでディスク基板の洗
浄を行うことができ、洗浄設備全体のコンパクト化が可
能となる。
With this arrangement, the rollers do not obstruct the flow of the disk, and only the two movable rollers need to be removed from the side of the disk in a series of steps of disk receiving, rotating cleaning, and disk discharging, so that the moving line is cut. There is no. Therefore, the disk substrate can be cleaned with a simple line, and the entire cleaning equipment can be made compact.

【0033】駆動ローラーは少なくとも3以上であれば
よく、他にサポートローラーや駆動ローラーを配置して
もよい。ディスク基板を洗浄するためのスクラブロール
は、多孔性のスクラブ材を周面に有し、例えばスクラブ
材としては通水性で弾力性のある材料が使用され、発泡
ウレタン等の連続気泡性樹脂、ポリプロピレン、ナイロ
ン等の合成繊維の織布、不織布等を用いることができ
る。
The number of drive rollers is at least three, and a support roller and a drive roller may be additionally provided. The scrub roll for cleaning the disc substrate has a porous scrub material on the peripheral surface, for example, a water-permeable and elastic material is used as the scrub material, open-cell resin such as urethane foam, polypropylene A woven or non-woven fabric of synthetic fibers such as nylon and the like can be used.

【0034】[0034]

【発明の効果】本発明によれば、ディスク基板洗浄時の
基板の回転を安定させ、さらに高速回転での洗浄を可能
とし、洗浄力の向上及び洗浄時間の短縮を測ることがで
きる。
According to the present invention, it is possible to stabilize the rotation of the substrate at the time of cleaning the disk substrate, to perform cleaning at a high speed, to improve the cleaning power and to reduce the cleaning time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の洗浄装置のディスク支持回転部の模式
FIG. 1 is a schematic view of a rotating unit for supporting a disk of a cleaning apparatus according to the present invention.

【図2】従来の洗浄装置のディスク支持回転部の模式図FIG. 2 is a schematic view of a disk supporting rotary unit of a conventional cleaning device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ディスク基板 2、3 可動駆動ローラー 4 固定駆動ローラー 5 ローラー駆動軸 6、7 ローラー移動部材 8、9、10 ベルト 12、13 駆動ローラー 14 サポートローラー DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Disc substrate 2, 3 Movable drive roller 4 Fixed drive roller 5 Roller drive shaft 6, 7 Roller moving member 8, 9, 10 Belt 12, 13 Drive roller 14 Support roller

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ディスク基板を支持し回転させながら洗
浄を行うディスク基板の洗浄装置であって、該ディスク
基板を支持し回転させる3以上の駆動ローラーを有する
ことを特徴とするディスク基板の洗浄装置。
An apparatus for cleaning a disk substrate that supports and rotates the disk substrate while cleaning the disk substrate, the apparatus comprising three or more drive rollers for supporting and rotating the disk substrate. .
【請求項2】 上記3以上の駆動ローラーは1以上の固
定ローラーと1以上の可動ローラーとからなる請求項1
に記載の洗浄装置。
2. The method according to claim 1, wherein the at least three drive rollers include at least one fixed roller and at least one movable roller.
The cleaning device according to item 1.
【請求項3】 ディスク基板を支持し回転させながら洗
浄を行うディスク基板の洗浄方法であって、該ディスク
基板を3以上の駆動ローラーで支持し回転させながら洗
浄を行うことを特徴とするディスク基板の洗浄方法。
3. A method for cleaning a disk substrate, wherein the disk substrate is cleaned while being supported and rotated, wherein the disk substrate is supported by three or more drive rollers and cleaned while being rotated. Cleaning method.
JP10324728A 1998-11-16 1998-11-16 Cleaning device for disk substrate and cleaning method Pending JP2000149251A (en)

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