JP2000138681A - Pdu廃棄atm交換装置 - Google Patents

Pdu廃棄atm交換装置

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JP2000138681A
JP2000138681A JP30962698A JP30962698A JP2000138681A JP 2000138681 A JP2000138681 A JP 2000138681A JP 30962698 A JP30962698 A JP 30962698A JP 30962698 A JP30962698 A JP 30962698A JP 2000138681 A JP2000138681 A JP 2000138681A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 トラヒック状況に応じて、バッファオーバー
フロー及びアンダーフローが生じる確率を予め規定した
値より小さくなるような閾値パラメータを算出し、パラ
メータを再設定することができるATM交換装置を提供
する。 【解決手段】 多重化バッファにおける時間幅内の通過
PDU数、廃棄PDU数及び送出セル数を観測する機
構、及び、観測データに基づきEPDの動作を決定する
ための制御用パラメータであるバッファ内待ちセル数閾
値を算出する機構を具える。更に、バッファ内待ちセル
数閾値を表示する手段及び/又は保守者に指示する手
段、又は、バッファ内待ちセル数閾値に基づいて交換装
置のEPDの制御用パラメータである待ちセル数閾値を
自動的に変更する手段を具えることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、PDU(Protocol
Data Unit)をEPD(Early Packet Discarding)方式に
より選択的に廃棄する機構を具え、バッファ内待ちセル
数閾値パラメータの算出及び設定を行う手段を具えるA
TM(Asynchronous Transfer Mode)交換装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来のEPD制御を実装したバッファの
動作を図1を用いて説明する。図1において11はセルバ
ッファである。EPD制御では、バッファ内セルがバッ
ファ内待ちセル数閾値を超えないときは動作は通常のF
IFO(First In First Out)バッファと同じ動作を行う
が、閾値を超えているときは次のように動作する。
【0003】図1において、3セルで構成されるPDU
−A、B、C、Dがバッファに到着する過程を考える。
既にAは全てのセルがバッファに入り、B及びCは2セ
ルずつバッファに入っている。バッファ容量は8セル、
バッファ内待ちセル数閾値パラメータは6に設定されて
いるとする。いま、引き続いてB、C、Dを構成するセ
ルが同時に到着したとすると、EPDでは、閾値を超え
ると新たなPDUが到着してもそのPDUを受付けずに
廃棄するので、PDU−Dは、B、Cのセルより先にバ
ッファに到着したとしても全て廃棄される。B、Cの先
頭セルは既にバッファ内にあるので受付けられるが、実
際には空きバッファが1セル分しかないので、バッファ
オーバーフローによりどちらか後に到着したセルが廃棄
される。バッファが足りずにセルが落ちた場合、そのP
DUを構成するそれ以降のセルも廃棄される。
【0004】このように、閾値が大きく設定されている
と、受付けられるべきPDUが入りきれずに廃棄される
という現象が生じる。逆に閾値が小さく設定されている
と、バッファに余裕があるにもかかわらずPDUが受付
られず、バッファアンダーフローが生じる。
【0005】従来、この閾値は、トラヒック特性を仮定
して算出した結果を基にして固定的に設定されていた。
このように閾値を固定値として算出する従来の方法とし
て知られている IEEE JSAC May 1995 "Dynamic of TCP
Traffic over ATM Networks"の方法では、バッファサイ
ズ−閾値の値をパケットサイズの3倍とするのが適切で
あるとされている。また、この方法では、設計時にPD
Uの平均的なサイズの値が必要とされている。他に、19
98年電子情報通信学会総合大会B-7-74では、バッファ容
量の1/3に設定するのが良いとされている。これも、
PDUサイズを仮定して算出する。
【0006】このようにPDUサイズを仮定すること
は、PDUの大きさを事前に知った上で閾値を設定する
必要があることを意味する。PDUサイズを調べること
は、到着するPDU毎にデータ量(セル数)をカウント
するセルカウンタを装備する必要があり、コストの増大
を招く。また、バッファにおいて受付けられずに廃棄さ
れるPDUについても情報を収集する必要があり、効率
の低下の原因になる。また、このように閾値を固定値と
して算出すると、仮定したトラヒックが変動した場合に
は閾値の設計時に意図した動作とは異なる振る舞いを示
し、オーバーフロー及びアンダーフローが生じるという
問題があった。
【0007】また、IEEE JSAC,Vol.15,No.5,pp.892- "O
n the Performance of Early Discard" のように、オー
バーフローとアンダーフローの両方を考慮した閾値算出
方法もあったが、これは、PDUが一定周期で到着する
固定的な到着系列を仮定したものであり、実際の確率的
な到着を考慮したものではなかった。
【0008】図2は従来のEPD制御を実装したPDU
廃棄ATM交換装置の構成を示す図である。21はPDU
廃棄ATM交換装置の管理オペレーション装置、22はP
DU廃棄ATM交換装置本体である。従来のPDU廃棄
ATM交換装置では、オペレータが予め設計した閾値パ
ラメータを管理オペレーション装置21に入力し、この入
力をパラメータ入力受付部23が受付け、パラメータ設定
送信部24から交換装置本体22に設定命令を送出する。交
換装置本体22では、パラメータ設定命令受付部25で設定
命令を受付けて解釈し、パラメータ記憶部26に設定値を
格納する。EPD処理実行部27は、パラメータ記憶部26
の記憶内容を参照し、EPDの処理アルゴリズムに基づ
いて、セルバッファメモリ28に到着したセルの受付け、
読出し及び廃棄の処理を行う。
【0009】このような従来のEPDを実装したPDU
廃棄ATM交換装置においては、パラメータは予めオペ
レータが設定した値が継続的に使用されており、トラヒ
ック状況に応じて適切な値を再設計し再設定するという
ような機能は具えられておらず、トラヒック状況に動的
に対応できないという問題があった。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上述
の問題点に鑑み、PDUをEPD方式により選択的に廃
棄する機構を具えたATM交換装置において、トラヒッ
ク状況に応じて、バッファオーバーフロー及びアンダー
フローが生じる確率を予め規定した値より小さくなるよ
うな閾値パラメータを算出し、パラメータを再設定する
ことができるATM交換装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明のPDU廃棄AT
M交換装置は、上記の目的を達成するため、PDUをE
PD方式により選択的に廃棄する機構を具えるATM交
換装置において、多重化バッファにおける時間幅内の通
過PDU数、廃棄PDU数及び送出セル数を観測する機
構、及び、観測データに基づきEPDの動作を決定する
ための制御用パラメータであるバッファ内待ちセル数閾
値を動的に算出する機構を具える。
【0012】このような本発明のPDU廃棄ATM交換
装置においては、バッファ内待ちセル数閾値を表示する
手段及び/又は保守者に指示する手段を具えるか、又
は、バッファ内待ちセル数閾値に基づいて交換装置のE
PDの制御用パラメータである待ちセル数閾値を自動的
に変更する手段を具えることができる。
【0013】このような本発明のPDU廃棄ATM交換
装置の実施例によれば、出力VP帯域幅をC、VC帯域
幅をr、バッファ通過PDU数をP、バッファ廃棄PD
U数をD、通過セル数をNc 、アクティブVC数をA、
時間をTとし、 L=C/r、 j=A−L、 λ=(P+D)/T、 h=Nc /P/r、 t2 =−h* log(( L−r* h* λ) / (L+j) /
r) 又は t2 =−h* log(( L−r* λ) / (L+j) /r) 、 Tr =h* ((L+j) * r/C−1) として、バッファ内待ちセル数閾値の下限値Uを U=−((L+j)* r * h −(h+t2)* ( C−r * λ* h)
−r * Tr * λ* h) 又は U=−((L+j)* r * h −(h+t2)* ( C−r * λ )−
r * Tr * λ) により算出する。
【0014】また、本発明のPDU廃棄ATM交換装置
の他の実施例によれば、出力VP帯域幅をC、VC帯域
幅をr、バッファ通過PDU数をP、通過セル数をNc
、アクティブVC数をA、バッファ容量をBとし、 L=C/r、 j=A−L、 h=Nc /P/r、 t1 =−h* log(C/ (L+j) /r) として、バッファ内待ちセル数閾値の上限値Hを H=B−h * ((L+j)−C) −C* t1 により算出する。
【0015】本発明のPDU廃棄ATM交換装置の実施
例によれば、上述のU及びHの値を用いて、バッファ内
待ちセル数閾値THをH>TH>Uの範囲の任意の値と
して算出する。また、TH=U又はTH=Hとすること
もできる。
【0016】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施例を詳細に説明
する。
【0017】〔第1実施例〕図3は本発明のPDU廃棄
ATM交換装置の第1実施例の構成を示す図であり、31
はPDU廃棄ATM交換装置の管理オペレーション装
置、32はPDU廃棄ATM交換装置本体である。オペレ
ータが閾値パラメータを管理オペレーション装置31に入
力すると、この入力をパラメータ入力受付部33が受付
け、パラメータ設定送信部34から交換装置本体32に設定
命令を送出する。交換装置本体32では、パラメータ設定
命令受付部35でこの設定命令を受けて解釈し、パラメー
タ記憶部36に設定値を格納する。EPD処理実行部37
は、パラメータ記憶部36の記憶内容を参照し、EPDの
処理アルゴリズムに基づいて、セルバッファメモリ38に
到着したセルの受付け、読出し及び廃棄の処理を行う。
【0018】図4はEPD処理実行部37の処理のフロー
を示す図である。EPD処理実行部37では、各出力VP
毎に、通過PDU数P、廃棄PDU数D及び送出セル数
Ncを計測する。トラヒック観測部40では、一定時間T
毎にEPD処理実行部37で計測されたP、D及びNcの
値を読出し、それらのカウンタをリセットし、トラヒッ
クデータ送出部39を介して管理オペレーション装置31に
データを渡す。
【0019】管理オペレーション装置31に渡されたトラ
ヒックデータに基づいて、EPD閾値算出部41で各出力
VP毎のEPD閾値が算出される。図5はEPD閾値算
出部41の計算処理のフローを示す図である。EPD閾値
算出部41では、先ず、出力VP帯域幅をC、VC帯域幅
をr、バッファ通過PDU数をP、バッファ廃棄PDU
数をD、通過セル数をNc 、アクティブVC数をA、時
間をTとし、 L=C/r、 j=A−L、 λ=(P+D)/T、 h=Nc /P/r、 t2 =−h* log(( L−r* h* λ) / (L+j) /
r) 又は t2 =−h* log(( L−r* λ) / (L+j) /r) 、 Tr =h* ((L+j) * r/C−1) として、アンダーフローしないためのバッファ内待ちセ
ル数閾値の下限値Uを U=−((L+j)* r * h −(h+t2)* ( C−r * λ* h)
−r * Tr * λ* h) 又は U=−((L+j)* r * h −(h+t2)* ( C−r * λ )−
r * Tr * λ) により算出する。
【0020】ここで、アクティブVC数とは、閾値を算
出する際に同時にパケットが到着しているVCの数とし
て定義することができる。又は、到着率及び保留時間か
ら同時接続数の確率分布を求め、或る値を超える確率が
予め設定された確率より小さくなるような値として定義
することもできる。その場合の確率分布は、通信トラヒ
ック理論におけるM/M/∞モデルの系内呼数の公式か
ら求めることができる。又は、観測時間Tにおける到着
セル数をNa 及びVC帯域幅をrとして、A=Na /T
/rによって求めることもできる。
【0021】EPD閾値算出部41では、次に、出力VP
帯域幅をC、VC帯域幅をr、バッファ通過PDU数を
P、通過セル数をNc 、アクティブVC数をA、バッフ
ァ容量をBとし、 L=C/r、 j=A−L、 h=Nc /P/r、 t1 =−h* log(C/ (L+j) /r) として、オーバーフローしないためのバッファ内待ちセ
ル数閾値の上限値Hを H=B−h * ((L+j)−C) −C* t1 により算出する。
【0022】次に、EPD閾値算出部41では、算出した
U及びHの値に基づいてオペレータに指示するTHの値
を算出し、これらの値を算出閾値表示部42に渡す。算出
閾値表示部42は、これらの値をオペレータに指示する。
オペレータはそれらのデータに基づいて閾値THをH≧
TH≧Uの範囲で具体的に決定する。一般にバッファを
充分に利用しながらオーバーフローしない閾値が望まし
いので、TH=Hとして算出することが望ましい。しか
しながら、オーバーフローによる廃棄が少ないより安全
な値にしたい場合は、Hより小さい値に設定することが
できる。この場合の下限値はUである。算出したUとH
との関係がU>Hとなった場合は、バッファ資源が不足
している可能性があるので、これを調べることが望まし
い。
【0023】オペレータは決定した閾値を管理オペレー
ション装置31に入力し、管理オペレーション装置31で
は、これをパラメータ入力受付部33が受付け、パラメー
タ設定送信部34から交換装置本体32に設定命令を送出す
る。交換装置本体32では、これをパラメータ設定命令受
付部35で受付けて解釈し、パラメータ記憶部36にその値
を格納する。その後、EPD処理実行部37はパラメータ
記憶部36に格納された値に基づいて動作する。
【0024】〔第2実施例〕図6は本発明のPDU廃棄
ATM交換装置の第2実施例の構成を示す図であり、第
1実施例を示す図3との相違点は図3の算出閾値表示部
42が除かれており、EPD閾値算出部41の出力が直接パ
ラメータ入力受付部33に入力される点である。これによ
り、この実施例においては、EPDの閾値パラメータを
自動的に変更することができる。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明はPDUを
EPD方式により選択的に廃棄する機構を具えるATM
交換装置において、多重化バッファにおける時間幅内の
通過PDU数、廃棄PDU数及び送出セル数を観測する
機構を具え、この観測データを利用してEPDの動作を
決定するための制御用パラメータであるバッファ内待ち
セル数閾値を算出する機構を具えることにより、仮定し
たトラヒックが変動しても、現在の観測に基づいて閾値
を算出し、オペレータに指示するか又は自動的に且つ動
的に再設定することが可能になる。また、設定すべき閾
値の算出においては、PDUサイズの値を観測する必要
がないため、PDU毎にデータ量を計測するセルカウン
タを不要にすることができる。また、閾値算出手段にお
いては、バッファオーバーフロー及びアンダーフローの
確率を規定値以下に抑えるための条件を持っているた
め、その両者を考慮して閾値を算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のEPD制御を実装したバッファの動作を
説明する図である。
【図2】従来のPDU廃棄ATM交換装置の構成を示す
図である。
【図3】本発明のPDU廃棄ATM交換装置の第1実施
例の構成を示す図である。
【図4】EPD処理実行部の処理のフローを示す図であ
る。
【図5】EPD閾値算出部の計算処理のフローを示す図
である。
【図6】本発明のPDU廃棄ATM交換装置の第2実施
例の構成を示す図である。
【符号の説明】
11 セルバッファ 21、31 管理オペレーション装置 22、32 PDU廃棄ATM交換装置本体 23、33 パラメータ入力受付部 24、34 パラメータ設定送信部 25、35 パラメータ設定命令受付部 26、36 パラメータ記憶部 27、37 EPD処理実行部 28、38 セルバッファメモリ 39 トラヒックデータ送出部 40 トラヒック観測部 41 EPD閾値算出部 42 算出閾値表示部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森岡 康 東京都新宿区西新宿3丁目19番2号 日本 電信電話株式会社内 Fターム(参考) 5K030 GA08 GA14 HA10 HB14 KA03 LA03 LC09 LC11 LC18 MB09

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 PDUをEPD方式により選択的に廃棄
    する機構を具えるATM交換装置において、多重化バッ
    ファにおける時間幅内の通過PDU数、廃棄PDU数及
    び送出セル数を観測する機構、及び、観測データに基づ
    きEPDの動作を決定するための制御用パラメータであ
    るバッファ内待ちセル数閾値を算出する機構を具えるこ
    とを特徴とするPDU廃棄ATM交換装置。
  2. 【請求項2】 バッファ内待ちセル数閾値を表示する手
    段及び/又は保守者に指示する手段を具えることを特徴
    とする請求項1に記載のPDU廃棄ATM交換装置。
  3. 【請求項3】 バッファ内待ちセル数閾値に基づいて交
    換装置のEPDの制御用パラメータである待ちセル数閾
    値を自動的に変更する手段を具えることを特徴とする請
    求項1に記載のPDU廃棄ATM交換装置。
  4. 【請求項4】 出力VP帯域幅をC、VC帯域幅をr、
    バッファ通過PDU数をP、バッファ廃棄PDU数を
    D、通過セル数をNc 、アクティブVC数をA、時間を
    Tとし、 L=C/r、 j=A−L、 λ=(P+D)/T、 h=Nc /P/r、 t2 =−h* log(( L−r* h* λ) / (L+j) /
    r) 、 Tr =h* ((L+j) * r/C−1) として、 バッファ内待ちセル数閾値の下限値Uを U=−((L+j)* r * h −(h+t2)* ( C−r * λ* h)
    −r * Tr * λ* h) により算出することを特徴とする請求項1に記載のPD
    U廃棄ATM交換装置。
  5. 【請求項5】 出力VP帯域幅をC、VC帯域幅をr、
    バッファ通過PDU数をP、バッファ廃棄PDU数を
    D、通過セル数をNc 、アクティブVC数をA、時間を
    Tとし、 L=C/r、 j=A−L、 λ=(P+D)/T、 h=Nc /P/r、 t2 =−h* log(( L−r* λ) / (L+j) /r) 、 Tr =h* ((L+j) * r/C−1) として、 バッファ内待ちセル数閾値の下限値Uを U=−((L+j)* r * h −(h+t2)* ( C−r * λ )−
    r * Tr * λ)により算出することを特徴とする請求項
    1に記載のPDU廃棄ATM交換装置。
  6. 【請求項6】 出力VP帯域幅をC、VC帯域幅をr、
    バッファ通過PDU数をP、通過セル数をNc 、アクテ
    ィブVC数をA、バッファ容量をBとし、 L=C/r、 j=A−L、 h=Nc /P/r、 t1 =−h* log(C/ (L+j) /r) として、 バッファ内待ちセル数閾値の上限値Hを H=B−h * ((L+j)−C) −C* t1 により算出することを特徴とする請求項1に記載のPD
    U廃棄ATM交換装置。
  7. 【請求項7】 出力VP帯域幅をC、VC帯域幅をr、
    バッファ通過PDU数をP、通過セル数をNc 、アクテ
    ィブVC数をA、バッファ容量をBとし、 L=C/r、 j=A−L、 h=Nc /P/r、 t1 =−h* log(C/ (L+j) /r) として、 バッファ容量Bとバッファ内待ちセル数閾値THとの差
    B−THの下限値を B−TH=h * ((L+j)−C) −C* t1 に設定することを特徴とする請求項1に記載のPDU廃
    棄ATM交換装置。
  8. 【請求項8】 出力VP帯域幅をC、VC帯域幅をr、
    バッファ通過PDU数をP、バッファ廃棄PDU数を
    D、通過セル数をNc 、アクティブVC数をA、時間を
    Tとし、 L=C/r、 j=A−L、 λ=(P+D)/T、 h=Nc /P/r、 t2 =−h* log(( L−r* h* λ) / (L+j) /
    r) 、 Tr =h* ((L+j) * r/C−1) とし、 バッファ内待ちセル数閾値の下限値Uを U=−((L+j)* r * h −(h+t2)* ( C−r * λ* h)
    −r * Tr * λ* h) とし、 バッファ内待ちセル数閾値の上限値Hを H=B−h * ((L+j)−C) −C* t1 として、 バッファ内待ちセル数閾値THをH>TH>Uの範囲の
    任意の値として算出することを特徴とする請求項1に記
    載のPDU廃棄ATM交換装置。
  9. 【請求項9】 出力VP帯域幅をC、VC帯域幅をr、
    バッファ通過PDU数をP、バッファ廃棄PDU数を
    D、通過セル数をNc 、アクティブVC数をA、時間を
    Tとし、 L=C/r、 j=A−L、 λ=(P+D)/T、 h=Nc /P/r、 t2 =−h* log(( L−r* λ) / (L+j) /r) 、 Tr =h* ((L+j) * r/C−1) として、 バッファ内待ちセル数閾値の下限値Uを U=−((L+j)* r * h −(h+t2)* ( C−r * λ )−
    r * Tr * λ) とし、 バッファ内待ちセル数閾値の上限値Hを H=B−h * ((L+j)−C) −C* t1 として、 バッファ内待ちセル数閾値THをH>TH>Uの範囲の
    任意の値として算出することを特徴とする請求項1に記
    載のPDU廃棄ATM交換装置。
  10. 【請求項10】 出力VP帯域幅をC、VC帯域幅を
    r、バッファ通過PDU数をP、バッファ廃棄PDU数
    をD、通過セル数をNc 、アクティブVC数をA、時間
    をTとし、 L=C/r、 j=A−L、 λ=(P+D)/T、 h=Nc /P/r、 t2 =−h* log(( L−r* h* λ) / (L+j) /
    r) 、 Tr =h* ((L+j) * r/C−1) として、 バッファ内待ちセル数閾値THを TH=−((L+j)* r * h −(h+t2)*(C−r * λ* h)
    −r * Tr * λ* h) により算出することを特徴とする請求項1に記載のPD
    U廃棄ATM交換装置。
  11. 【請求項11】 出力VP帯域幅をC、VC帯域幅を
    r、バッファ通過PDU数をP、バッファ廃棄PDU数
    をD、通過セル数をNc 、アクティブVC数をA、時間
    をTとし、 L=C/r、 j=A−L、 λ=(P+D)/T、 h=Nc /P/r、 t2 =−h* log(( L−r* λ) / (L+j) /r) 、 Tr =h* ((L+j) * r/C−1) として、 バッファ内待ちセル数閾値THを TH=−((L+j)* r * h −(h+t2)* ( C−r * λ )
    −r * Tr * λ) により算出することを特徴とする請求項1に記載のPD
    U廃棄ATM交換装置。
  12. 【請求項12】 出力VP帯域幅をC、VC帯域幅を
    r、バッファ通過PDU数をP、通過セル数をNc 、ア
    クティブVC数をA、バッファ容量をBとし、 L=C/r、 j=A−L、 h=Nc /P/r、 t1 =−h* log(C/ (L+j) /r) として、 バッファ内待ちセル数閾値THを TH=B−h * ((L+j)−C) −C* t1 により算出することを特徴とする請求項1に記載のPD
    U廃棄ATM交換装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100378987B1 (ko) * 2000-08-19 2003-04-07 엘지전자 주식회사 래디오 링크 콘트롤 (rlc)에서 서비스 데이터유닛(sdu)의 디스카드 처리 방법
JP2006515975A (ja) * 2003-01-10 2006-06-08 リアルネットワークス・インコーポレイテッド 確率的適応コンテンツ・ストリーミング

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