JP2000121569A - Apparatus for inspection of flaw on surface of rod - Google Patents

Apparatus for inspection of flaw on surface of rod

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JP2000121569A
JP2000121569A JP10295863A JP29586398A JP2000121569A JP 2000121569 A JP2000121569 A JP 2000121569A JP 10295863 A JP10295863 A JP 10295863A JP 29586398 A JP29586398 A JP 29586398A JP 2000121569 A JP2000121569 A JP 2000121569A
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flaw
rod
unit
difference
image
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JP10295863A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeki Danshita
茂樹 段下
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Showa Corp
Original Assignee
Showa Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an inspection apparatus by which a knocked flaw such as an indentation flaw or the like formed on the surface of a rod is detected accurately and by which the quality of the rod is judged with high accuracy on the basis of the size and the depth of the flaw. SOLUTION: This inspection apparatus is constituted of an imaging device 2 which images the surface of a rod 5 as an object to be inspected, over the whole circumferential face of the rod while the rod is being turned. In addition, it is constituted of a flaw judgment part 36 in which the difference in a shade value between adjacent pixels on the surface of the rod is detected on the basis of an output signal from the imaging device 2 or in which an unevenness value is detected on the basis of the difference in the shade value and in which a flaw is discriminated when the shade value or the unevenness value is adjacent to each other at an interval which is set in the circumferential direction or the axial direction. In addition, it is constituted of a flaw discrimination means 3 which calculates the flaw as an area or a volume and which corrects image data when the rod is jumped.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、ショックアブソ
ーバ等に用いられるシリンダ・ロッド等の円筒形物体の
表面についた傷を画像処理を利用して検出し、傷判別を
行なうとともに回転機構のロッド跳ねがあったときにも
データ処理による補正を行う事ができるロッド表面傷検
査装置に係り、詳しくは、ロッド製造中にロッドを落と
したり、打付けた時につく、ロッドの打痕傷および表面
傷を検出できるようにしたロッド表面傷検査装置に関す
るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting flaws on the surface of a cylindrical object such as a cylinder or a rod used in a shock absorber or the like by using image processing to judge the flaws and to bounce a rod of a rotating mechanism. The present invention relates to a rod surface flaw inspection device that can perform correction by data processing even when there is a problem, specifically, a rod dent flaw and a surface flaw that occur when a rod is dropped or hit during rod manufacture. The present invention relates to a rod surface flaw inspection device which can be detected.

【0002】[0002]

【従来の技術】特開昭49−129585号公報には、
緩回転するロッド上に一母線に沿ってレーザ光を走査さ
せ、その反射光を光検知器で受光することで、ロッド表
面の傷を光電的に検出する技術が記載されている。ま
た、受光にあたっては、ロッド面に対する正反射方向で
受光する明視野法(傷が暗黒部として検出される)、ま
たは、正反射方向と異なる方向で受光する暗視野法(傷
が明光部として検出される)のいずれも採用できること
が記載されている。
2. Description of the Related Art JP-A-49-129585 discloses that
A technique is described in which a laser beam is scanned along a generatrix on a slowly rotating rod, and the reflected light is received by a photodetector to photoelectrically detect a flaw on the rod surface. When receiving light, a bright-field method in which light is received in the specular reflection direction with respect to the rod surface (scratch is detected as a dark area) or a dark-field method in which light is received in a direction different from the specular reflection direction (scratch is detected as a bright light area) ) Can be adopted.

【0003】特開平5−180777号公報には、円筒
形状の被検査体を回転させ、被検査体の外周表面を軸方
向に複数分割した画像情報をテレビカメラで取込み、各
分割画像情報の輝度成分を加算し、加算された輝度成分
が所定のしきい値を越える部分に欠陥があるものと判定
するようにした円筒形物体の外観検査装置が記載されて
いる。
[0003] Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-180777 discloses that a cylindrical object to be inspected is rotated, image information obtained by dividing the outer peripheral surface of the object into a plurality of parts in the axial direction is captured by a television camera, and the luminance of each divided image information is obtained. There is described an appearance inspection apparatus for a cylindrical object in which components are added and a portion where the added luminance component exceeds a predetermined threshold value is determined to be defective.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】被検査面からの反射光
を光電変換して得た被検査面の画像情報に基づいて、被
検査面の傷を検査する技術が種々提案されている。しか
しながら、従来の技術は、被検査面の画像情報(例えば
濃度値や輝度値)が基準値(しきい値)を越えた部分を
傷として検出し、検出した傷の個数や傷の面積に基づい
て良否判定を行なうものである。
Various techniques have been proposed for inspecting a surface to be inspected for flaws based on image information of the surface to be inspected obtained by photoelectrically converting reflected light from the surface to be inspected. However, the conventional technology detects a portion where image information (for example, density value or luminance value) of a surface to be inspected exceeds a reference value (threshold value) as a flaw, and determines based on the number of detected flaws and the area of the flaw. The pass / fail judgment is made.

【0005】ショックアブソーバ等に用いられるシリン
ダ・ロッドでは、製造時にロッドの落下およびロッド同
士によるぶつかり合いによって傷がつくことがある。傷
となった部分には凹部と凸部が形成される。ショックア
ブソーバでは、シリンダ・ロッドの表面に凸部がある
と、凸部によってオイルシールに傷やクラックが発生
し、オイル漏れの原因になることがある。 このため、
ロッド表面の打痕傷を検出して良否判定を行なう必要が
あるが、従来の傷検査技術では、打痕傷を的確に検出し
て良否判定を行なうことが困難であった。
[0005] Cylinder rods used in shock absorbers and the like may be damaged by dropping of the rods and collision of the rods during manufacturing. A concave portion and a convex portion are formed in the damaged portion. In the case of the shock absorber, if the surface of the cylinder / rod has a protrusion, the protrusion may cause a scratch or a crack in the oil seal, which may cause oil leakage. For this reason,
It is necessary to detect the dent scratches on the rod surface to determine the acceptability. However, it is difficult with the conventional scratch inspection technology to accurately detect the dent scratches and determine the acceptability.

【0006】例えば、従来の検査装置で、浅い傷を検出
できるように基準値(しきい値)を低く設定すると(傷
の検出感度を高く設定すると)、打痕傷以外に浅い点状
の傷やゴミが全て検出されてしまい、浅い点状の傷の検
出結果に基づいて不良の判定を行なってしまう。そこ
で、深い点状の傷のみが検出できるように基準値(しき
い値)を高めに設定すると(傷の検出感度を低く設定す
ると)、浅い打痕傷が検出できないという課題があっ
た。また、照明の明るさのばらつきや、ロッド回転振れ
による映像のばらつき等により、傷を正確に検出するこ
とが難しいという課題があった。
For example, if the reference value (threshold) is set low (if the detection sensitivity of the flaw is set high) so that a shallow flaw can be detected in a conventional inspection apparatus, a shallow spot-shaped flaw other than a dent flaw is formed. All dust and dirt are detected, and a defect is determined based on the detection result of a shallow dot-like flaw. Therefore, if the reference value (threshold value) is set high (if the detection sensitivity of the flaw is set low) so that only deep point-like flaws can be detected, there is a problem that a shallow dent flaw cannot be detected. In addition, there is a problem that it is difficult to accurately detect a flaw due to a variation in brightness of illumination, a variation in an image due to a rod rotation shake, and the like.

【0007】この発明はこのような課題を解決するため
なされたもので、ロッド表面に付いた打痕傷を的確に検
出して傷判別を行なうことのできるロッド表面傷検査装
置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide a rod surface flaw inspection apparatus capable of accurately detecting dent flaws on a rod surface and performing flaw determination. Aim.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
この発明に係るロッド表面傷検査装置は、検査するロッ
ドの両端を固定して円周方向に回転させ、回転するロッ
ドの全周面に亘って、ロッド表面を撮像する撮像装置
と、この撮像装置からの出力信号に基づいて、シリンダ
・ロッドの表面の打痕傷を面積または容積として算出
し、ロッド跳ねがある時に画像データを補正する傷判別
手段と、傷の判定結果を表示する画像表示装置とを備
え、ロッド跳ねがあっても傷を面積または容積として検
出する事ができる。
According to the present invention, there is provided a rod surface flaw inspection apparatus according to the present invention, wherein both ends of a rod to be inspected are fixed and rotated in a circumferential direction, and the entire surface of the rotating rod is rotated. Over time, an imaging device for imaging the surface of the rod, and based on an output signal from the imaging device, calculate the dent scratch on the surface of the cylinder / rod as an area or a volume, and correct the image data when the rod bounces. It is provided with a flaw determining means and an image display device for displaying a flaw determination result, and can detect a flaw as an area or a volume even if a rod bounces.

【0009】この発明に係る傷判別手段は、撮像装置か
ら出力されるロッド表面の画像信号を画像データへ変換
するA/D変換器と、A/D変換された画像データを記
憶する画像記憶部と、画像データに基づいて近接する画
素間の濃淡値の差を設定する濃淡値設定部と、この設定
した濃淡値の差を越えた画素を傷として検出するエッジ
画素検出部と、傷として検出された画素の間隔が予め設
定した画素間隔以内であるものをグループ化し、グルー
プ化された画素群の画素数を算出する面積算出部と、こ
の面積算出部の値と予め設定した傷面積判定基準の値を
比較して傷判定を行なう傷判定部と、撮像装置と画像の
入力を制御する画像入力制御部と、起動終了の制御と表
示要求を行う操作部とを備えたので、グループ化した面
積の大きさから傷を検出する事ができる。
The flaw determining means according to the present invention comprises an A / D converter for converting an image signal of a rod surface output from an imaging device into image data, and an image storage unit for storing the A / D converted image data. A gray value setting unit that sets a gray value difference between adjacent pixels based on image data; an edge pixel detection unit that detects a pixel exceeding the set gray value difference as a flaw; An area calculation unit that groups the pixels whose intervals are within a predetermined pixel interval, and calculates the number of pixels of the grouped pixel group, and a value of the area calculation unit and a predetermined scratch area determination criterion. The image processing apparatus was provided with a flaw determining unit for performing flaw determination by comparing the values of the flaw detection unit, an image input control unit for controlling the input of the imaging device and the image, and an operating unit for controlling the start-up end and requesting the display. Scratches from the size of the area It can be detected.

【0010】この発明に係る傷判別手段は、設定された
画素間の濃淡値の差によって検出された傷の画素数が、
予め設定した基準数に達しない場合には、濃淡値の差を
小さな値へ変更する濃淡値設定部を備えたので、小さな
傷も大きな傷も検出できる。
In the flaw determining means according to the present invention, the number of flaw pixels detected based on the difference in gray level between the set pixels is determined as follows:
When a predetermined reference number is not reached, a gray value setting unit that changes the gray value difference to a small value is provided, so that a small flaw and a large flaw can be detected.

【0011】この発明に係る傷判別手段は、撮像装置か
ら出力されるロッド表面の画像信号を画像データへ変換
し、画像データを記憶する画像記憶部と、画像データに
基づいてロッド円周方向に近接する画素間で、濃淡値の
差の連続の変化を求め、この連続する濃淡値の差の極性
が変化する画素を上り変化点または下り変化点とし、上
り変化点から下り変化点までの濃淡差を上り高低差、下
り変化点から上り変化点までの濃淡差を下り高低差とし
て、下り高低差と上り高低差のそれぞれの最大値を最大
下り高低差と最大上り高低差として求め、またそれぞれ
の区間を最大下り区間と最大上り区間として求めるプロ
ファイル検出部と、求めた最大下り区間と最大上り区間
の有効性を決める高低差設定値と、この最大下り区間と
最大上り区間が軸方向に連続しているものをグループ化
し、グループ化された傷画素群の容積を算出する容積算
出部と、この容積算出部で算出した容積を予め設定した
傷判定基準値とを比較して傷判別を行なう傷判定部とを
備えたので、容積を算出し、容積の大きさにより傷を検
出することができる。
A flaw determining means according to the present invention converts an image signal of a rod surface output from an imaging device into image data and stores an image data, and an image storage unit for storing image data in a rod circumferential direction based on the image data. A continuous change in the gray value difference is obtained between adjacent pixels, and a pixel in which the polarity of the continuous gray value difference changes is defined as an up change point or a down change point, and the gray level from the up change point to the down change point is determined. The difference is determined as the up-down difference, the shading difference from the down-change point to the up-change point is taken as the down-height difference, and the maximum value of the down-height difference and the up-down difference is obtained as the maximum down-height difference and the maximum up-height difference, respectively. A profile detection unit that determines the section of the maximum down section and the maximum up section, a height difference setting value that determines the validity of the obtained maximum down section and the maximum up section, and the maximum down section and the maximum up section are the axes. The volume calculation unit that calculates the volume of the grouped wound pixel groups, and compares the volume calculated by the volume calculation unit with a preset scratch determination reference value to determine Since the apparatus includes the flaw determining unit for performing the determination, the volume can be calculated and the flaw can be detected based on the size of the volume.

【0012】この発明に係る傷判別手段は、設定された
画素間の濃淡値の差の連続の変化によって検出された高
低差の総数が、予め設定した基準数に達しない場合に
は、高低差を小さな値へ変更する高低差設定部を備えた
ので、深い傷も浅い傷も検出できる。
[0012] The flaw determining means according to the present invention, when the total number of height differences detected by the continuous change of the set grayscale value difference between pixels does not reach the predetermined reference number, the height difference Is provided with a height difference setting unit for changing the value of the parameter to a small value, so that deep and shallow scratches can be detected.

【0013】この発明に係る傷判別手段は、撮像装置か
ら出力されるロッド表面の画像信号を画像データへ変換
し画像データを記憶する画像記憶部と、画像データに基
づいてロッド軸方向に近接する画素間で、順次円周方向
1ライン中の最大濃度差の一番明るい部分を求め、この
明るさの平均と各列の明るさのばらつきを求め、このば
らつきにより回転時のロッドはねを検出する白線検出部
と、この白線検出部からの出力により画像データを補正
する補正部とを備えたのでロッドに跳ねがあっても傷の
検出ができる。
A flaw determining means according to the present invention converts an image signal of a rod surface output from an image pickup device into image data and stores the image data, and an image storage unit which approaches the rod axis direction based on the image data. The brightest part of the maximum density difference in one line in the circumferential direction is sequentially obtained between pixels, and the average of this brightness and the variation in the brightness of each column are obtained. The rod splash during rotation is detected from the variation. A white line detecting section and a correcting section for correcting image data based on the output from the white line detecting section can detect a flaw even if the rod jumps.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下この発明の実施の形態を添付
図面に基づいて説明する。図1はこの発明に係るロッド
表面傷検査装置のブロック構成図である。この発明に係
るロッド表面傷検査装置1は、撮像装置2と、傷判別手
段3と、画像表示装置4とから構成される。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a block diagram of a rod surface flaw inspection apparatus according to the present invention. The rod surface flaw inspection device 1 according to the present invention includes an imaging device 2, a flaw discriminating means 3, and an image display device 4.

【0015】撮像装置2は、ロッドを保持し軸心まわり
に回転させる回転駆動部と、ロッドの軸方向に均一な照
明光を照射できるような照明用光源と、回転するロッド
の全周面に亘って、ロッド表面を撮像するCCDカメラ
等により構成され、撮像した信号を画像情報21aとし
て傷判別手段3に供給する。
The image pickup device 2 includes a rotation driving unit that holds the rod and rotates it around the axis, an illumination light source that can irradiate uniform illumination light in the axial direction of the rod, The signal is supplied to the flaw determining means 3 as image information 21a by a CCD camera or the like for imaging the rod surface.

【0016】傷判別手段3は、画像情報21aが撮像装
置2から供給されると、A/D変換器でA/D変換し、
画像記憶部で記憶し、傷の大きさを面積で検出する面積
算出部または、傷を深さで検出し容積を検出する容積算
出部と、ロッドが正規に設置されないで跳ねがある時に
跳ねを検出して補正する補正手段と、画像入出力の制御
を行う画像入力制御部と、表示要求等の指示を行う操作
部と、表示制御を行う表示制御部とで構成され、画像表
示装置4に表示信号40aを供給する。
When the image information 21a is supplied from the imaging device 2, the flaw determining means 3 performs A / D conversion with an A / D converter.
An area calculation unit that stores in the image storage unit and detects the size of the flaw by the area, or a volume calculation unit that detects the flaw by the depth and detects the volume, and bounces when the rod is not properly installed and there is a bounce The image display device 4 includes a correction unit that detects and corrects the image, an image input control unit that controls image input / output, an operation unit that issues an instruction such as a display request, and a display control unit that performs display control. The display signal 40a is supplied.

【0017】画像表示装置4は、CRTディスプレイ装
置や液晶表示装置等を用いて構成し、傷判別手段3から
表示信号40aを供給されると、画面上に操作メニュー
を表示したり、傷判定基準値の設定や表示画像の選択切
り替え等の各種の操作要求に応じて傷情報を、画面に表
示することができる。
The image display device 4 is constituted by using a CRT display device, a liquid crystal display device, or the like. When a display signal 40a is supplied from the flaw determining means 3, an operation menu is displayed on the screen or a flaw determination standard is displayed. Flaw information can be displayed on the screen in response to various operation requests such as setting of a value and selection switching of a display image.

【0018】図2はこの発明に係るロッド表面傷検査装
置の実施の形態要部ブロック構成図である。図2におい
てロッド表面傷検査装置6は、撮像装置2と、傷判別手
段7と、画像表示装置4とで構成される。撮像装置2
は、撮像部21と、照明用光源22と、撮像制御部23
と、回転駆動部24とを備える。撮像部21は、1次元
CCDカメラを用いて構成し、検査対象であるロッド5
の軸方向を視野にして、ロッド5に対向させて配置して
いる。
FIG. 2 is a block diagram of a main part of an embodiment of the rod surface flaw inspection apparatus according to the present invention. In FIG. 2, the rod surface flaw inspection device 6 includes the imaging device 2, the flaw determination means 7, and the image display device 4. Imaging device 2
Is an imaging unit 21, an illumination light source 22, and an imaging control unit 23.
And a rotation drive unit 24. The imaging unit 21 is configured using a one-dimensional CCD camera, and the rod 5 to be inspected is
Are arranged so as to face the rod 5 with the axial direction as a visual field.

【0019】照明用光源22は、ロッド5の軸方向に均
一な照明光を照射できるように線状光源を用いている。
回転駆動部24は、図示しないロッド装着部に装着され
たロッド5を保持するとともに、撮像制御部23から供
給される回転指令信号23aに基づいてロッド5をその
軸心まわりに回転させる。
The illumination light source 22 is a linear light source so that uniform illumination light can be emitted in the axial direction of the rod 5.
The rotation drive unit 24 holds the rod 5 mounted on a rod mounting unit (not shown), and rotates the rod 5 around its axis based on a rotation command signal 23a supplied from the imaging control unit 23.

【0020】撮像制御部23は、傷判別手段7から画像
入力指令信号37aが供給されると、撮像部21の撮像
動作と回転駆動部24の回転動作を制御して、ロッド5
の全周の表面画像を撮像する。撮像制御部23は、撮像
部制御情報23bを撮像部21へ供給することで、撮像
部21の撮像タイミングと、撮像された画像信号(1ラ
イン分の画像信号)21aの出力タイミングを制御する
とともに、画像信号(1ライン分の画像信号)の出力に
先立って出力タイミング信号23cを傷判別手段7へ供
給する。
When the image input command signal 37a is supplied from the flaw determining means 7, the image pickup control section 23 controls the image pickup operation of the image pickup section 21 and the rotation operation of the rotary drive section 24, and
The surface image of the entire circumference of is taken. The imaging control unit 23 supplies the imaging unit control information 23b to the imaging unit 21, thereby controlling the imaging timing of the imaging unit 21 and the output timing of the captured image signal (image signal for one line) 21a. The output timing signal 23c is supplied to the flaw determining means 7 before the output of the image signal (image signal for one line).

【0021】撮像制御部23は、1ライン分の撮像なら
びに画像信号21aの出力が完了すると、回転指令信号
23aを回転駆動部24へ供給してロッド5を所定角度
回転させる。撮像制御部23は、ロッド表面の撮像なら
びにロッド5を回転させることで、ロッド5の全周に亘
って表面画像を撮像する。
When the imaging of one line and the output of the image signal 21a are completed, the imaging controller 23 supplies a rotation command signal 23a to the rotation driver 24 to rotate the rod 5 by a predetermined angle. The imaging control unit 23 captures a surface image over the entire circumference of the rod 5 by imaging the rod surface and rotating the rod 5.

【0022】本実施の形態では、撮像部21に4000
画素の1次元CCDカメラを用いて、ロッド5の軸方向
全長が4000画素となる画像を得るようにしている。
また、ロッド5を0.75度ずつ回転させるようにして
ロッドの1周を480画素で取込むようにしている。
In the present embodiment, 4000
By using a one-dimensional CCD camera having pixels, an image in which the entire length of the rod 5 in the axial direction is 4000 pixels is obtained.
Further, the rod 5 is rotated by 0.75 degrees at a time, and one round of the rod is taken in at 480 pixels.

【0023】これにより、ロッド5の全周面が、400
0画素×480画素となる画像を得るようにしている。
なお、撮像画像の画素数ならびにロッド5の移動量は、
検出すべき傷の大きさや検出分解能に応じて適宜設定す
ることができる。また、本実施の形態では、撮像部21
に撮像レンズ系を有するCCDカメラを用いる構成を示
したが、密着型のイメージセンサをロッド表面の近傍に
配置して、ロッド表面の画像を得るようにしてもよい。
As a result, the entire peripheral surface of the rod 5 becomes 400
An image having 0 pixels × 480 pixels is obtained.
The number of pixels of the captured image and the moving amount of the rod 5 are as follows.
It can be set appropriately according to the size of the flaw to be detected and the detection resolution. In the present embodiment, the imaging unit 21
Although a configuration using a CCD camera having an imaging lens system is described above, a contact type image sensor may be arranged near the rod surface to obtain an image of the rod surface.

【0024】さらに、本実施の形態ではロッド5を回転
させる構成を示したが、撮像部21をロッド表面から所
定の距離を保って回転移動させることで、全周面の画像
を得るようにしてもよい。ロッド5と、撮像部21とを
互いに逆方向へ回転させるようにしてもよい。なお、撮
像部21を回転させる場合は、撮像部21と照明用光源
22との位置関係を一定の関係に保ったまま回転させ
る。
Further, in this embodiment, the configuration in which the rod 5 is rotated has been described. However, by rotating the imaging unit 21 while maintaining a predetermined distance from the rod surface, an image of the entire peripheral surface is obtained. Is also good. The rod 5 and the imaging unit 21 may be rotated in opposite directions. When the imaging unit 21 is rotated, the imaging unit 21 is rotated while the positional relationship between the imaging unit 21 and the illumination light source 22 is kept constant.

【0025】図3は照明用光源と撮像部との位置関係の
一例を示す説明図である。本実施の形態では、ロッド5
の表面の法線方向に対して所定の入射角度θ1で照明光
源22からの照明光を照射し、正反射方向(入射角θ1
と出射角θ2とが等しくなる方向)とは異なる方向(例
えばロッド5の表面の法線方向)に撮像部21を配置し
てロッド表面を撮像するようにしている。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing an example of the positional relationship between the illumination light source and the image pickup section. In the present embodiment, the rod 5
The illumination light from the illumination light source 22 is irradiated at a predetermined incident angle θ1 with respect to the normal direction of the surface of
The imaging unit 21 is arranged in a direction (for example, a direction normal to the surface of the rod 5) different from the direction in which the angle θ2 and the emission angle θ2 are equal to each other to image the rod surface.

【0026】なお、正反射方向に撮像部21を配置する
ようにしてもよい。ロッド表面に傷があると反射光の反
射角度が変化するので(傷による乱反射が生ずるの
で)、撮像部21の受光量が変化する。これにより、撮
像画像に濃淡変化(輝度変化)が生ずるので、撮像画像
の濃淡変化(輝度変化)に基づいて傷の検出を行なうこ
とができる。
The imaging section 21 may be arranged in the regular reflection direction. If there is a scratch on the rod surface, the reflection angle of the reflected light changes (due to the irregular reflection caused by the scratch), so that the amount of light received by the imaging unit 21 changes. As a result, a change in shading (change in brightness) occurs in the captured image, so that it is possible to detect a flaw based on the change in shading (change in brightness) in the captured image.

【0027】図2に示すように、傷判別手段7は、A/
D変換器31と、画像記憶部(メモリ)32と、濃淡値
設定部33と、エッジ画素検出部34と、面積算出部3
5と、傷判定部36と、画像入力制御部37と、操作部
39と、表示制御部40とを備える。なお、傷判別手段
7は、画像入力ボード等を備えたパーソナルコンピュー
タと画像処理プログラムとで構成することができる。
As shown in FIG. 2, the flaw discriminating means 7 comprises an A /
D converter 31, image storage unit (memory) 32, gray value setting unit 33, edge pixel detection unit 34, area calculation unit 3
5, a flaw determining unit 36, an image input control unit 37, an operation unit 39, and a display control unit 40. The flaw determining means 7 can be constituted by a personal computer having an image input board and the like and an image processing program.

【0028】A/D変換器31は、撮像部21から出力
される画像信号21aを各画素毎にA/D変換して、ロ
ッド表面の画像信号を画像データ31aへ変換する。本
実施の形態では、撮像部21に白黒用のCCDカメラを
用いるとともに、A/D変換器31に分解能8ビットの
ものを用いて、256階調の濃淡画像データ(輝度デー
タ)31aを得るようにしている。
The A / D converter 31 A / D converts the image signal 21a output from the imaging unit 21 for each pixel, and converts the image signal on the rod surface into image data 31a. In this embodiment, a monochrome CCD camera is used for the imaging unit 21 and a gray-scale image data (luminance data) 31a of 256 gradations is obtained by using an A / D converter 31 having a resolution of 8 bits. I have to.

【0029】本実施の形態では、撮像部21から出力さ
れる画像信号21aをA/D変換器31へ直接入力する
構成を示したが、A/D変換器31の前段にアナログ信
号処理部を設け、このアナログ信号処理部によって画像
信号21aを増幅するとともに直流レベル(平均出力レ
ベル)を補正して、画像信号21aのダイナミックレン
ジ(画像信号の電圧の最小値と最大値)がA/D変換器
31の入力電圧範囲になるようにした画像信号を生成
し、生成した画像信号をA/D変換器31へ入力するよ
うにしてもよい。
In this embodiment, the configuration has been described in which the image signal 21a output from the imaging unit 21 is directly input to the A / D converter 31, but an analog signal processing unit is provided before the A / D converter 31. The analog signal processor amplifies the image signal 21a and corrects the DC level (average output level) so that the dynamic range of the image signal 21a (minimum value and maximum value of the voltage of the image signal) is A / D converted. It is also possible to generate an image signal within the input voltage range of the converter 31 and to input the generated image signal to the A / D converter 31.

【0030】このような構成をとることにより、傷等に
よる反射光量の微少な変化を検出することができ、検出
分解能を向上させることができる(傷の検出能力を高め
ることができる)。画像データ31aは画像記憶部32
に供給されて、画像記憶部32に一時記憶される。
By adopting such a configuration, a minute change in the amount of reflected light due to a flaw or the like can be detected, and the detection resolution can be improved (the flaw detection capability can be improved). The image data 31a is stored in the image storage unit 32
And is temporarily stored in the image storage unit 32.

【0031】画像入力制御部37は、操作部39から検
査開始要求39aが供給されると、画像入力指令信号3
7aを撮像制御部23へ供給して、ロッド表面の撮像を
開始させる。画像入力制御部37は、撮像制御部23か
ら供給される出力タイミング信号23cに基づいて画像
の取込みタイミングを制御する。
When an inspection start request 39a is supplied from the operation unit 39, the image input control unit 37 outputs the image input command signal 3
7a is supplied to the imaging control unit 23 to start imaging the rod surface. The image input control unit 37 controls the image capture timing based on the output timing signal 23c supplied from the imaging control unit 23.

【0032】画像入力制御部37は、A/D変換タイミ
ングクロック信号37bをA/D変換器31へ供給する
ことで、画像信号21aを各画素毎に対応してA/D変
換させるとともに、書き込みアドレス情報37cを画像
記憶部32へ順次供給することで、各画素毎に対応した
画像データ31aが所定のアドレスに書き込まれるよう
にする。これにより、画像記憶部32に、ロッド5の軸
方向を主走査方向とし、ロッドの円周方向を副走査方向
とする濃淡画像データ(輝度データ)からなる多値(2
56階調)画像が格納される。
The image input control unit 37 supplies the A / D conversion timing clock signal 37b to the A / D converter 31 to A / D convert the image signal 21a for each pixel and write the image signal 21a. By sequentially supplying the address information 37c to the image storage unit 32, the image data 31a corresponding to each pixel is written at a predetermined address. Thus, the image storage unit 32 stores in the image storage unit 32 a multi-valued (2 luminance) image data (brightness data) in which the axial direction of the rod 5 is the main scanning direction and the circumferential direction of the rod is the sub-scanning direction.
(56 gradations) image is stored.

【0033】図4は画像メモリに格納されたロッド表面
画像の説明図である。図4に示すように、ロッド5の全
周の表面画像は、軸方向(X方向)が例えば4000画
素、ロッドの周方向(Y方向)が例えば480画素(4
80ライン)で、各画素が256階調の濃度データ(輝
度データ)からなる画像情報として、画像記憶部32に
一時記憶される。
FIG. 4 is an explanatory diagram of the rod surface image stored in the image memory. As shown in FIG. 4, the surface image of the entire circumference of the rod 5 has, for example, 4000 pixels in the axial direction (X direction) and 480 pixels in the circumferential direction (Y direction) of the rod.
(80 lines), each pixel is temporarily stored in the image storage unit 32 as image information including density data (luminance data) of 256 gradations.

【0034】図2に示す濃淡値設定部33は、ROM等
のメモリで構成し、傷検出用濃度差値33aの初期値と
して比較的大きな値(例えば20レベル)をエッジ画素
検出部34へ供給する。エッジ画素検出部34は、ライ
ンメモリ、比較器、カウンタ等で構成し、画像記憶部3
2から円周方向1ライン分(図3のY方向480画素
分)の濃度データを読み出して、読み出した濃度データ
をエッジ画素検出部34内の濃度データ記憶部に一時記
憶させるとともに、ロッド円周方向に近接する画素間で
濃淡値差が、予め設定した濃淡値設定部33で設定した
濃淡値差を越えた画素を、傷として検出する。なお、こ
こでエッジ画素とは、設定した濃淡値差を越えて傷とし
て検出された画素のことである。
The gray value setting section 33 shown in FIG. 2 is constituted by a memory such as a ROM, and supplies a relatively large value (for example, 20 levels) to the edge pixel detecting section 34 as an initial value of the density difference value 33a for flaw detection. I do. The edge pixel detection unit 34 includes a line memory, a comparator, a counter, and the like.
The density data for one line in the circumferential direction (480 pixels in the Y direction in FIG. 3) is read from 2 and the read density data is temporarily stored in the density data storage unit in the edge pixel detection unit 34, and the rod circumference is read. A pixel whose gray value difference between pixels adjacent in the direction exceeds the gray value difference set by the predetermined gray value setting unit 33 is detected as a flaw. Here, the edge pixel is a pixel that has been detected as a flaw exceeding a set density difference.

【0035】また、エッジ画素検出部34内に1ライン
分の濃度データを一時記憶する濃度データ記憶部を設け
ずに、エッジ画素検出部34は、画像記憶部32から濃
度データを逐次読み出しながら、傷画素を検出するよう
にしてもよい。
Further, without providing a density data storage unit for temporarily storing density data for one line in the edge pixel detection unit 34, the edge pixel detection unit 34 reads out the density data from the image storage unit 32 sequentially, A damaged pixel may be detected.

【0036】図5はエッジ画素検出部における傷検出処
理の説明図である。図5(a)、(b)は濃淡値(輝度
値)の変化をわかりやすくするためにグラフとして示し
たものである。図5(a)、(b)は円周方向1ライン
分の濃度データ(濃淡値)の一部を示している。なお、
図5(a)は、弱い打痕傷で、図5(b)は、強い打痕
傷である。また両図とも円周方向1ライン分の一部分の
11画素を表示している。
FIG. 5 is an explanatory diagram of the flaw detection processing in the edge pixel detection section. FIGS. 5 (a) and 5 (b) are shown as graphs in order to make the change in the gray value (luminance value) easy to understand. FIGS. 5A and 5B show a part of the density data (shading values) for one line in the circumferential direction. In addition,
FIG. 5A shows a weak dent, and FIG. 5B shows a strong dent. In both figures, 11 pixels of a part for one line in the circumferential direction are displayed.

【0037】図5(a)において、縦軸は濃淡値(輝度
値)、横軸は画素番号(周方向の位置に相当)である。
図5において、濃淡値設定部33で設定した濃淡値が傷
検出用濃度差値33a(例えば20レベル)で設定され
ている時は、着目画素とその1つ前の画素との濃淡値差
の絶対値を傷検出用濃度差値33aと比較して、20レ
ベル以上かどうかを検出する。図5(a)は、傷検出用
濃度差値33aが20レベル未満なので、傷として検出
されない。
In FIG. 5A, the vertical axis represents the gray level (luminance value), and the horizontal axis represents the pixel number (corresponding to the position in the circumferential direction).
In FIG. 5, when the gray value set by the gray value setting unit 33 is set as the density difference value 33a (for example, 20 levels) for flaw detection, the gray value difference between the target pixel and the immediately preceding pixel is determined. The absolute value is compared with the flaw detection density difference value 33a to detect whether the level is equal to or higher than 20 levels. In FIG. 5A, since the density difference value for scratch detection 33a is less than 20 levels, it is not detected as a scratch.

【0038】図5(b)は、Y3とY4、Y8とY9で
着目画素(Y4またはY9)とその1つ前の画素(Y3
またはY8)との濃淡値差の絶対値が設定した傷検出用
濃度差値33a(例えば20レベル)以上なので傷とし
て検出できる。また、図5(b)の中でY0−Y3、Y
4−Y8、Y9−Y10の画素は傷として検出されな
い。
FIG. 5B shows the target pixel (Y4 or Y9) and the immediately preceding pixel (Y3 and Y9) in Y3 and Y4 and Y8 and Y9.
Alternatively, since the absolute value of the density difference from Y8) is equal to or greater than the set density difference value 33a for scratch detection (for example, 20 levels), it can be detected as a scratch. Further, in FIG. 5B, Y0-Y3, Y
Pixels 4-Y8 and Y9-Y10 are not detected as flaws.

【0039】また、周方向の最初の画素(Y0)につい
ては処理を行なわず、2番目の画素(Y1)については
その前の画素(Y0)との比較を行ない、最後の画素
(Yn)は最初の画素(Y0)との比較を行う。この傷
の検出をエッジ画素検出部34で行い、エッジ画素検出
部34は、画素の明るさには着目しないで、着目画素と
その1つ前の画素との濃淡値差の絶対値を比較して、濃
淡値設定部33で設定した濃淡値が傷検出用濃度差値3
3a(例えば20レベル)以上増加している場合は、着
目画素をエッジ画素と判定するとともに、内蔵のカウン
ターでエッジ画素のカウント数を1つプラスする。
The first pixel (Y0) in the circumferential direction is not processed, the second pixel (Y1) is compared with the previous pixel (Y0), and the last pixel (Yn) is determined. The comparison with the first pixel (Y0) is performed. This flaw detection is performed by the edge pixel detection unit 34. The edge pixel detection unit 34 compares the absolute value of the gray value difference between the target pixel and the immediately preceding pixel without paying attention to the brightness of the pixel. The gray value set by the gray value setting unit 33 is the density difference value 3 for flaw detection.
If it has increased by 3a (for example, 20 levels) or more, the pixel of interest is determined to be an edge pixel, and the built-in counter increments the count of edge pixels by one.

【0040】この処理を円周方向について行い、さらに
軸方向全てについて行う。ロッドの全周について行った
後検出したカウンターのエッジ画素の総数が少ない場合
には、傷検出用濃度差値33a(例えば20レベル)を
減少させて(例えば15レベル)再度、周方向軸方向に
ついて行う。
This processing is performed in the circumferential direction and further in all the axial directions. If the total number of edge pixels of the counter detected after performing the entire circumference of the rod is small, the density difference value 33a (for example, 20 levels) for flaw detection is reduced (for example, 15 levels), and then again in the circumferential axial direction. Do.

【0041】この処理により入力した濃淡画像の検出分
解能まで傷検出能力を引き上げる事ができ、浅い傷も検
出する事が可能になった。本実施の形態では濃淡値(輝
度)が増加する変化にのみ着目して傷の検出を行なうよ
うにしている。なお、濃淡値(輝度)が増加変化ではな
く、濃淡値(輝度)の減少変化に基づいて傷を検出する
ようにしてもよい。
By this processing, the flaw detection capability can be raised to the detection resolution of the input gray-scale image, and it becomes possible to detect shallow flaws. In the present embodiment, flaw detection is performed by paying attention only to a change in which the gray value (luminance) increases. It should be noted that the flaw may be detected based on a decreasing change in the gray value (luminance) instead of an increasing change in the gray value (luminance).

【0042】また、濃淡値変化(輝度変化)の増加およ
び減少の両方を検出するようにしてもよい。次に検出し
たエッジ画素について円周方向、軸方向と連続している
かどうかを判定して、連続している場合又は検出された
エッジ画素の5画素以内にある他のエッジ画素は同じグ
ループ番号を与える。検出した同じグループ番号をもつ
エッジ画素からグループ毎の総エッジ画素数を求める。
このエッジ画素数が規定値より大きいグループを傷と判
定する。
Further, both an increase and a decrease in a change in gray value (change in luminance) may be detected. Next, it is determined whether or not the detected edge pixels are continuous in the circumferential direction and the axial direction. If the detected edge pixels are continuous or within 5 pixels of the detected edge pixels, the other edge pixels have the same group number. give. The total number of edge pixels for each group is determined from the detected edge pixels having the same group number.
A group in which the number of edge pixels is larger than a specified value is determined as a flaw.

【0043】図2に示すエッジ画素検出部34は、カウ
ントしたエッジ画素数をエッジ数信号34aとして、濃
淡値設定部33に供給する。濃淡値設定部33は、検出
されたエッジ数信号34aの総和が1000以下である
場合は、傷検出用濃度差値33aが高すぎてロッド表面
の傷を的確に検出できていないものと判断し、傷検出用
濃度差値33aを初期値よりも低い値に変更して、エッ
ジ画素検出部34に再度傷検出処理を行なわせる。濃淡
値設定部33は、エッジ数信号34aの総和が1000
を越えている場合には、グループ化開始情報33bを面
積算出部35へ供給して、傷画素グループ化を開始させ
る。
The edge pixel detecting section 34 shown in FIG. 2 supplies the counted edge pixel number to the gray value setting section 33 as an edge number signal 34a. If the total sum of the detected edge number signals 34a is 1000 or less, the gray value setting unit 33 determines that the flaw detection density difference value 33a is too high and the flaw on the rod surface cannot be accurately detected. Then, the flaw detection density difference value 33a is changed to a value lower than the initial value, and the edge pixel detection unit 34 performs the flaw detection processing again. The gray value setting unit 33 determines that the sum of the edge number signals 34a is 1000
If the number exceeds the threshold value, the grouping start information 33b is supplied to the area calculation unit 35 to start flaw pixel grouping.

【0044】濃淡値設定部33は、エッジ数信号34a
の総和が100を越え1000以下である場合には、傷
検出用濃度差値33aを2レベル低下させる。すなわ
ち、傷検出用濃度差値33aを初期値の20レベルから
18レベルへ変更する。濃淡値設定部33は、エッジ数
信号34aの総和が10を越え100以下である場合に
は、傷検出用濃度差値33aを3レベル低下させる。
The gray value setting section 33 outputs an edge number signal 34a.
Is greater than 100 and less than or equal to 1000, the flaw detection density difference value 33a is reduced by two levels. That is, the density difference value 33a for flaw detection is changed from the initial 20 level to the 18 level. When the sum of the edge number signals 34a is more than 10 and not more than 100, the gray value setting unit 33 lowers the density difference value 33a for flaw detection by three levels.

【0045】すなわち、傷検出用濃度差値33aを初期
値の20レベルから17レベルへ変更する。濃淡値設定
部33は、エッジ数信号34aの総和が10以下である
場合には、傷検出用濃度差値33aを10レベル低下さ
せる。すなわち、傷検出用濃度差値33aを初期値の2
0レベルから10レベルへ変更する。
That is, the density difference value 33a for flaw detection is changed from the initial value of 20 levels to 17 levels. When the sum of the edge number signals 34a is 10 or less, the gray value setting unit 33 lowers the flaw detection density difference value 33a by 10 levels. That is, the flaw detection density difference value 33a is set to the initial value of 2
Change from level 0 to level 10.

【0046】そして、濃淡値設定部33は、先の傷画素
検出処理によって検出された傷画素のエッジ数信号34
aの総和に基づいて新たに設定した傷検出用濃度差値3
3aをエッジ画素検出部34へ供給して、エッジ画素検
出部34に新たに設定した傷検出用濃度差値33aに基
づく傷画素検出処理を行なわせる。
Then, the gray value setting section 33 outputs an edge number signal 34 of a flaw pixel detected by the flaw pixel detection processing.
a density difference value 3 for flaw detection newly set based on the sum of “a”
3a is supplied to the edge pixel detection unit 34, and the edge pixel detection unit 34 performs a flaw pixel detection process based on the newly set flaw detection density difference value 33a.

【0047】濃淡値設定部33は、新たに設定した傷検
出用濃度差値33aに基づく傷画素検出処理がなされた
結果、エッジ数信号34aの総和が1000を越えた場
合には、グループ化開始情報33bを面積算出部35へ
供給して、傷画素グループ化を開始させる。濃淡値設定
部33は、新たに設定した傷検出用濃度差値33aに基
づく傷画素検出処理がなされた結果、エッジ数信号34
aの総和が1000以下である場合には、傷検出用濃度
差値の変更をエッジ数信号34aの総和が1000を越
えるまで繰り返す。
If the sum of the edge number signals 34a exceeds 1000 as a result of performing the flaw pixel detection processing based on the newly set flaw detection density difference value 33a, the shading value setting section 33 starts grouping. The information 33b is supplied to the area calculation unit 35 to start flaw pixel grouping. As a result of the flaw pixel detection processing based on the newly set flaw detection density difference value 33a, the gray value setting unit 33 outputs an edge number signal 34.
If the sum of a is less than 1000, the change of the density difference value for flaw detection is repeated until the sum of the edge number signals 34a exceeds 1000.

【0048】面積算出部35は、加減算等の演算回路、
比較器で構成し、濃淡値設定部33からグループ化開始
情報33bが供給されると、エッジ画素検出部34内の
傷検出結果記憶部に格納されている傷画素の座標データ
(Xn,Yn)34bを全て読み込んで、傷画素のグル
ープ化を行なう。
The area calculation unit 35 includes an arithmetic circuit such as addition and subtraction,
When a grouping start information 33b is supplied from the gray value setting unit 33, the coordinate data (Xn, Yn) of the flaw pixel stored in the flaw detection result storage unit in the edge pixel detection unit 34. 34b is read in, and defective pixels are grouped.

【0049】図6は面積算出部におけるグループ化処理
の説明図である。面積算出部35は、まず周方向(Y方
向)についてグループ化を行なった後に、軸方向(X方
向)についてグループ化を行なう。図6は周、軸方向に
おけるグループ範囲を示している。周方向(Y方向)に
ついては、傷画素(傷として検出された画素)から周方
向(Y方向)に±5画素以内にある他の傷画素をグルー
プ化する。
FIG. 6 is an explanatory diagram of the grouping process in the area calculation unit. The area calculation unit 35 first performs grouping in the circumferential direction (Y direction), and then performs grouping in the axial direction (X direction). FIG. 6 shows the group range in the circumferential and axial directions. In the circumferential direction (Y direction), other flaw pixels that are within ± 5 pixels in the circumferential direction (Y direction) from the flaw pixel (pixel detected as flaw) are grouped.

【0050】全周方向(全ての周方向)について、傷画
素のグループ化が完了した後に、軸方向(X方向)へ±
3ライン(画素)の範囲内に他の傷画素または他の傷画
素グループが存在する場合には、同一の傷グループとし
てグループ化する。この軸方向のグループ化を全軸方向
に亘って行なう。
In all circumferential directions (all circumferential directions), after the grouping of flawed pixels is completed, ± in the axial direction (X direction)
If another flaw pixel or another flaw pixel group exists within the range of three lines (pixels), they are grouped as the same flaw group. This grouping in the axial direction is performed over the entire axial direction.

【0051】面積算出部35は、図6に示したグループ
化処理を繰り返すことで、所定範囲内にある傷画素を順
次グループ化していく。面積算出部35は、新たにグル
ープ化した傷画素の周辺にグループ化対象となる傷画素
がなくなると、一連のグループ化によって得られた傷画
素グループにラベル名を付与するとともに、グループ化
された傷画素のすべての位置座標をラベル名との対応を
付けて、面積算出部35内の傷画素グループ記憶部に格
納する。
The area calculating section 35 sequentially groups the flawed pixels within a predetermined range by repeating the grouping process shown in FIG. When there are no more flawed pixels to be grouped around the newly grouped flawed pixels, the area calculation unit 35 assigns a label name to the flawed pixel group obtained by a series of grouping and performs grouping. All the position coordinates of the damaged pixel are associated with the label name and stored in the damaged pixel group storage unit in the area calculation unit 35.

【0052】ロッド表面の全範囲に亘ってグループ化処
理が完了すると、面積算出部35は、傷グループ毎に、
傷の面積を求める。
When the grouping process is completed over the entire range of the rod surface, the area calculation unit 35 sets
Determine the area of the wound.

【0053】図2に示した面積算出部35は、面積の各
データ35aをラベル名との対応を付けて傷判定部36
へ供給する。傷判定部36は、比較器で構成し、面積算
出部35によって抽出された傷の面積を予め設定されて
いる傷の面積と比較することで傷判別を行なう。
The area calculating section 35 shown in FIG. 2 associates each area data 35a with a label name and assigns the
Supply to The flaw determination unit 36 is configured by a comparator, and performs flaw determination by comparing the flaw area extracted by the area calculation unit 35 with a preset flaw area.

【0054】傷判定結果36aは表示制御部40へ供給
される。表示制御部40は、傷判定結果36aを画像表
示装置4へ表示させる。画像表示装置4は、CRTディ
スプレイ装置や液晶表示装置等を用いて構成している。
The flaw determination result 36a is supplied to the display controller 40. The display control unit 40 causes the image display device 4 to display the flaw determination result 36a. The image display device 4 is configured using a CRT display device, a liquid crystal display device, or the like.

【0055】表示制御部40は、画像表示装置4の画面
上に操作メニューを表示させることで、画像取込の開始
要求を入力させたり、傷判定基準値の設定や表示画像の
選択切り替え等の各種の操作要求を入力できるようにし
ている。
The display control unit 40 displays an operation menu on the screen of the image display device 4 so as to input a request to start image capture, to set a flaw determination reference value, and to switch selection of a display image. Various operation requests can be input.

【0056】表示制御部40は、傷判定基準値の設定モ
ードが指定されると傷判定基準値を入力するためのメニ
ュー画面を表示させて、傷判定基準値の入力を促す。操
作部39から入力された傷判定基準値39bは傷判定部
36に格納されるとともに、入力された傷判定基準値3
9bが画像表示装置4の画面に表示される。傷判定部3
6は、不揮発性メモリまたは電池等で電源がバックアッ
プされたメモリを用いて構成しており、入力された傷判
定基準値39bを保持する。
When the setting mode of the flaw judgment reference value is designated, the display control section 40 displays a menu screen for inputting the flaw judgment reference value, and prompts the input of the flaw judgment reference value. The flaw determination reference value 39b input from the operation section 39 is stored in the flaw determination section 36, and the input flaw determination reference value 3b
9b is displayed on the screen of the image display device 4. Scratch determination unit 3
Reference numeral 6 denotes a non-volatile memory or a memory whose power supply is backed up by a battery or the like, and holds the input scratch determination reference value 39b.

【0057】また、表示を行う表示制御部40は、操作
部39からロッド表面画像の表示要求39cが供給され
ると、画像メモリ32に格納されている画像データ32
aに基づいて、ロッド表面の濃淡画像を生成して、画像
表示装置4の画面に表示させる。表示制御部40は、操
作部39から表示要求39cに基づいてロッド表面の濃
淡画像をスクロール表示させる。表示制御部40は、濃
淡画像の代りに擬似カラー画像表示を行なうようにして
もよい。
When a display request 39c for the rod surface image is supplied from the operation unit 39, the display control unit 40 for displaying the image data 32 stored in the image memory 32.
Based on “a”, a grayscale image of the rod surface is generated and displayed on the screen of the image display device 4. The display control unit 40 scrolls and displays the grayscale image of the rod surface based on the display request 39c from the operation unit 39. The display control unit 40 may display a pseudo color image instead of the grayscale image.

【0058】表示制御部40は、操作部39から傷画素
検出結果の表示要求39cが供給されると、エッジ画素
検出部34内の傷検出結果記憶部に格納されている傷画
素の座標データ(Xn,Yn)および濃淡値数34cに
基づいて傷画素位置ならびに濃淡値数の擬似カラー表示
画像を生成し、画像表示装置4の画面上に傷画素の検出
結果を擬似カラー表示させる。
When the display control unit 40 is supplied with the display request 39c of the defect pixel detection result from the operation unit 39, the coordinate data of the defect pixel stored in the defect detection result storage unit in the edge pixel detection unit 34 ( Xn, Yn) and a pseudo color display image of the position of the flaw pixel and the number of gray values based on the gray value number 34c, and the detection result of the flaw pixel is displayed on the screen of the image display device 4 in pseudo color.

【0059】表示制御部40は、操作部39から傷画素
グループ化処理結果の表示要求39cが供給されると、
面積算出部35内の傷画素グループ記憶部に格納されて
いる情報35bに基づいて、傷画素のグループ化画像を
生成し、画像表示装置4の画面上に表示させる。なお、
表示制御部40は、傷判定部36から不良の判定結果と
ともに不良と判定された傷画素グループのラベル名の供
給を受け、不良と判定された傷画素のグループ化画像と
位置情報、面積等の情報を不良の判定結果とともに画像
表示装置4の画面上に表示させるようにしてもよい。
When the display control section 40 is supplied with the display request 39c of the result of the processing for grouping the defective pixels from the operation section 39,
Based on the information 35b stored in the flaw pixel group storage unit in the area calculation unit 35, a flaw pixel grouped image is generated and displayed on the screen of the image display device 4. In addition,
The display control unit 40 receives the defect determination result from the defect determination unit 36 and the label name of the defective pixel group determined to be defective, and provides a grouped image of the defective pixel determined to be defective, position information, area information, and the like. The information may be displayed on the screen of the image display device 4 together with the defect determination result.

【0060】また図7に別のロッド表面傷検査装置ブロ
ック構成図を示す。図7においてロッド表面傷検査装置
8は、撮像装置2と、傷判別手段9と画像表示装置4と
で構成する。撮像装置2は、撮像したロッドの画像信号
21aを傷判別手段9に供給する。
FIG. 7 is a block diagram of another rod surface flaw inspection apparatus. In FIG. 7, the rod surface flaw inspection device 8 includes the imaging device 2, the flaw determination means 9, and the image display device 4. The imaging device 2 supplies the image signal 21 a of the imaged rod to the flaw determining means 9.

【0061】傷判別手段9の構成は、A/D変換器3
1、画像記憶部32、傷判定部36、画像入力制御部3
7、操作部39、表示制御部40、高低差設定部43、
プロファイル検出部44、容積算出部45、とで構成さ
れる。傷判別手段9の構成のなかで、A/D変換器3
1、画像記憶部32、画像入力制御部37、操作部3
9、表示制御部40、とは図2の傷判別手段7と同一な
ので説明は省略する。
The structure of the flaw determining means 9 is the same as that of the A / D converter 3.
1, image storage unit 32, flaw determination unit 36, image input control unit 3
7, operation unit 39, display control unit 40, height difference setting unit 43,
It comprises a profile detection unit 44 and a volume calculation unit 45. In the configuration of the flaw determining means 9, the A / D converter 3
1, image storage unit 32, image input control unit 37, operation unit 3
9 and the display control unit 40 are the same as the flaw determining means 7 of FIG.

【0062】図7の傷判別手段9と図2の傷判別手段7
との構成の異なる部分について説明を行う。高低差設定
部43は、ROM等のメモリで構成し、傷の深さを検出
するための高低差値を設定し、この高低差値43aの初
期値として比較的大きな値(例えば50レベル)をプロ
ファイル検出部44へ供給する。
The flaw determining means 9 of FIG. 7 and the flaw determining means 7 of FIG.
A description will be given of different parts from the above. The height difference setting unit 43 is configured by a memory such as a ROM, and sets a height difference value for detecting the depth of a flaw, and sets a relatively large value (for example, 50 levels) as an initial value of the height difference value 43a. This is supplied to the profile detection unit 44.

【0063】プロファイル検出部44は、演算回路、記
憶回路で構成し、画像記憶部32から円周方向1ライン
分(図4のY方向480画素分)の濃度データを読み出
して、読み出した濃度データをプロファイル検出部44
内の濃度データ記憶部に一時記憶させるとともに、ロッ
ド円周方向に近接する画素間で濃度差に基づいて算出す
る高低差が、予め高低差設定部43で設定した高低差値
43aを越えた画素をプロファイル傷として検出する。
なお、プロファイル検出部44内に1ライン分の濃度デ
ータを一時記憶する濃度データ記憶部を設けずに、プロ
ファイル検出部44は、画像記憶部32から濃度データ
を逐次読み出しながら、プロファイル傷画素を検出する
ようにしてもよい。
The profile detecting section 44 is composed of an arithmetic circuit and a storage circuit, reads density data of one line in the circumferential direction (480 pixels in the Y direction in FIG. 4) from the image storage section 32, and reads the read density data. To the profile detection unit 44
And a pixel whose height difference calculated based on the density difference between the pixels adjacent in the rod circumferential direction exceeds the height difference value 43a set in advance by the height difference setting unit 43 while being temporarily stored in the density data storage unit. Is detected as a profile flaw.
Note that the profile detection unit 44 does not provide a density data storage unit for temporarily storing density data for one line in the profile detection unit 44, and the profile detection unit 44 detects the profile flaw pixels while sequentially reading the density data from the image storage unit 32. You may make it.

【0064】図8はプロファイル検出部におけるプロフ
ァイル傷検出処理の説明図である。図8(a)は濃淡値
(輝度値)の変化をわかりやすくするためにグラフとし
て示したものと円周方向1ライン分の濃度データ(濃度
値)の一部を示している。図8(b)は検出したプロフ
ァイル傷画素の分布例を示している。
FIG. 8 is an explanatory diagram of the profile flaw detection processing in the profile detection section. FIG. 8A shows a graph for easy understanding of a change in gray value (luminance value) and a part of density data (density value) for one line in the circumferential direction. FIG. 8B shows an example of distribution of detected profile flaw pixels.

【0065】図8(a)において、縦軸は濃淡値(輝度
値)、横軸は画素番号(周方向の位置に相当)である。
周方向でプロファイル傷画素を検出する時は、プロファ
イル検出部44は、画素の明るさには着目しないで、着
目画素の濃淡値とその1つ前の画素との濃淡値との大き
さを比較して増加か減少かを判定する。
In FIG. 8A, the vertical axis represents the gray scale value (luminance value), and the horizontal axis represents the pixel number (corresponding to the position in the circumferential direction).
When detecting a profile flaw pixel in the circumferential direction, the profile detection unit 44 compares the gray level of the pixel of interest with the gray level of the immediately preceding pixel without paying attention to the brightness of the pixel. To determine whether it is increasing or decreasing.

【0066】すなわち、着目画素の濃淡値がその1つ前
の画素の濃淡値より大きい時は上りであり、それ以外の
時は下りである。この図8(a)では、Y2−Y6、Y
10−Y12、Y13−Y16が下りであり、Y6−Y
10、Y12−Y13が上りである。着目画素が上り
で、一つ前が下りだった時は、一つ前は谷底である。図
8(a)のY6、Y12が谷底である。同様に着目画素
が下りで、一つ前が上りだった時は、一つ前は山頂であ
る。図8(a)のY10、Y13が山頂である。
That is, when the gray value of the pixel of interest is larger than the gray value of the immediately preceding pixel, it is up, and otherwise, it is down. In FIG. 8A, Y2-Y6, Y
10-Y12, Y13-Y16 are descending, and Y6-Y
10, Y12-Y13 are upstream. When the pixel of interest is up and the previous one is down, the previous one is a valley bottom. Y6 and Y12 in FIG. 8A are valley bottoms. Similarly, when the target pixel is down and the previous one is up, the previous one is a peak. Y10 and Y13 in FIG. 8A are the peaks.

【0067】一つ前が谷底で、すでに山頂が検出されて
いる時は、山頂の濃淡値と谷底の濃淡値との差を算出
し、下り高低差とする。これが今までの最大下り高低差
より大きい時は、この値を最大下り高低差とする。ま
た、山頂から谷底までを、最大下り区間とする。一つ前
が山頂で、すでに谷底が検出されている時は、山頂の濃
淡値と谷底の濃淡値との差を算出し、上り高低差とす
る。これが今までの最大上り高低差より大きい時は、こ
の値を最大上り高低差とする。また、谷底から山頂まで
を、最大上り区間とする。この処理を周方向1ライン分
について行う。図8(a)では、Y2−Y6が最大下り
区間であり、最大下り高低差は、110−65=45で
ある。また、Y6−Y10が最大上り区間であり、最大
上り高低差は115−65=50である。
When the valley bottom is located immediately before and the peak has already been detected, the difference between the gray value of the peak and the gray value of the valley bottom is calculated, and the difference is determined as the descending height difference. If this is greater than the maximum down-difference, the value is taken as the maximum down-difference. Also, the section from the peak to the bottom of the valley is the maximum descending section. If the valley bottom has already been detected before the peak, the difference between the gray value at the peak and the gray value at the valley is calculated, and the difference is calculated as the ascending elevation difference. If this is greater than the maximum up-to-date difference, this value is used as the maximum up-down difference. Also, the section from the bottom of the valley to the top of the mountain is defined as a maximum ascending section. This process is performed for one line in the circumferential direction. In FIG. 8A, Y2-Y6 is the maximum descending section, and the maximum descending height difference is 110-65 = 45. Further, Y6-Y10 is the maximum ascending section, and the maximum ascending height difference is 115-65 = 50.

【0068】次に、検出した最大上り区間と最大下り区
間の有効と無効を決める。すなわち、ある基準値(例え
ば25レベル)に達しない最大下り高低差を持つ最大下
り区間は、無効とし、最大下り区間なしとする。同様に
基準値(例えば25レベル)に達しない最大上り高低差
を持つ最大下り区間は、無効とし、最大上り区間なしと
する。この処理を軸方向全てについて行う。
Next, the validity and invalidity of the detected maximum up section and maximum down section are determined. That is, a maximum down section having a maximum down height difference that does not reach a certain reference value (for example, 25 levels) is invalidated and there is no maximum down section. Similarly, a maximum down section having a maximum up / down difference that does not reach a reference value (for example, 25 levels) is invalid, and there is no maximum up section. This processing is performed for all the axial directions.

【0069】ここで、あるX位置に対して、有効な最大
下り区間と有効な最大上り区間、または有効な下り区間
のみ、または有効な上り区間のみから形成されるY方向
の線分をプロファイル傷画素とする。このプロファイル
傷画素が隣の列のプロファイル傷画素と連続している場
合、または5画素以内にある他のプロファイル傷画素
は、同じグループ番号を与える。
Here, with respect to a certain X position, a line segment in the Y direction formed from a valid maximum down section and a valid maximum up section, only a valid down section, or only a valid up section is defined as a profile flaw. Pixels. If this profile flaw pixel is continuous with the adjacent row of profile flaw pixels, or other profile flaw pixels within 5 pixels, give the same group number.

【0070】容積算出部45は、加減算等の演算回路、
比較器で構成し、高低差設定部43からグループ化開始
情報43bが供給されると、プロファイル検出部44内
の傷検出結果記憶部に格納されているプロファイル傷画
素の座標データ(Xn,Yn)44bを全て読み込ん
で、プロファイル傷画素のグループ化を行なう。
The volume calculation unit 45 includes an arithmetic circuit for addition and subtraction,
When the grouping start information 43b is supplied from the height difference setting unit 43, the coordinate data (Xn, Yn) of the profile flaw pixel stored in the flaw detection result storage unit in the profile detection unit 44. 44b is read in, and profile flaw pixels are grouped.

【0071】容積算出部45は、新たにグループ化した
プロファイル傷画素の周辺にグループ化対象となる傷画
素がなくなると、一連のグループ化によって得られた傷
画素グループにラベル名を付与するとともに、グループ
化された傷画素のすべての位置座標をラベル名との対応
を付けて、容積算出部45内の傷画素グループ記憶部に
格納する。
When there is no flaw pixel to be grouped around the newly grouped profile flaw pixels, the volume calculation unit 45 assigns a label name to the flaw pixel group obtained by a series of grouping, and All the position coordinates of the grouped flaw pixels are associated with the label name and stored in the flaw pixel group storage unit in the volume calculation unit 45.

【0072】ロッド表面の全範囲にわたってグループ処
理が完了すると、容積算出部45は、傷グループ毎に傷
の容積を求める。容積は、各プロファイル傷画素につい
て、山頂から高低差を加え合わせ、同一グループのプロ
ファイル傷画素の全てについて同じ処理を行うことで求
める。図8(a)では、プロファイル傷画素は、最大下
り区間と最大上り区間とから成り立っているので、最大
下り区間については、山頂がY=2、濃淡値=110、
谷底がY=6、濃淡値=65であり、山頂からの高低差
の総和は、(110−105)+(110+98)+
(110−68)+(110−65)=104となる。
最大上り区間については、山頂がY=10、濃淡値=1
15、谷底がY=6、濃淡値=65であり、山頂からの
高低差の総和は、(115−65)+(115−67)
+(115−85)+(115−100)=143とな
る。これを図8(b)に示すように同じグループについ
て順次行うことで、グループの傷の容積を求める。
When the group processing is completed over the entire range of the rod surface, the volume calculation section 45 calculates the volume of the wound for each wound group. The volume is obtained by adding the height difference from the peak for each profile flaw pixel and performing the same processing for all the profile flaw pixels in the same group. In FIG. 8A, since the profile flaw pixel is composed of a maximum descending section and a maximum ascending section, for the maximum descending section, the summit is Y = 2, the gray level = 110,
The valley bottom is Y = 6, the gray value = 65, and the sum of the height difference from the peak is (110−105) + (110 + 98) +
(110-68) + (110-65) = 104.
For the maximum uphill section, the summit is Y = 10 and the gray value = 1.
15, the bottom of the valley is Y = 6, the gray level = 65, and the sum of the height differences from the peak is (115-65) + (115-67).
+ (115−85) + (115−100) = 143. This is sequentially performed for the same group as shown in FIG. 8B, thereby obtaining the volume of the flaw of the group.

【0073】この処理により映像が鮮明(一つ前との高
低差が大きい)でも、また、多少ぼやけていても(一つ
前との高低差が小さい)上り又は下りが続く限りそれを
検出するので検出能力が向上する。また、この処理によ
り入力した濃淡画像の検出分解能まで傷検出能力を引き
上げる事ができ、浅い傷も検出する事が可能になった。
By this processing, even if the image is clear (the difference in height from the previous one is large) or slightly blurred (the difference in height from the previous one is small), it is detected as long as the up or down continues. Therefore, the detection ability is improved. Further, the flaw detection capability can be increased to the detection resolution of the input gray-scale image by this processing, and a shallow flaw can be detected.

【0074】図7に示した容積算出部45は、容積の各
データ45aをラベル名との対応を付けて傷判定部36
へ供給する。傷判定部36は、比較器で構成し、容積算
出部45によって抽出された傷の容積を予め設定されて
いる傷の容積と比較することで傷判別を行なう。なお、
傷判定部36は、図2と図7で同じものを使用したが比
較するのは、面積か容積の数値だけなので共通に使用で
きる。
The volume calculation unit 45 shown in FIG. 7 associates each volume data 45a with a label name and assigns the
Supply to The flaw determination unit 36 is configured by a comparator, and performs flaw determination by comparing the flaw volume extracted by the volume calculation unit 45 with a preset flaw volume. In addition,
Although the same scratch determination unit 36 is used in FIGS. 2 and 7, only the numerical value of the area or volume is used for comparison, so that it can be used in common.

【0075】また、ロッドを回転させる機構でローラ又
はロッドのどちらかにゴミなどが付着していると、その
部分にローラとロッドが巡り合ったときロッドが若干跳
ねることがある。このときカメラがとらえる映像は軸方
向に同じ位置に白線が映る。
Further, if dust or the like is attached to either the roller or the rod by the mechanism for rotating the rod, the rod may jump slightly when the roller and the rod come around the portion. At this time, the image captured by the camera has a white line at the same position in the axial direction.

【0076】図9にこの発明に係るロッド跳ね検出をす
るロッド表面傷検査装置の実施の形態要部ブロック構成
図を示す。図9においてロッド表面傷検査装置10は、
撮像装置2と、傷判別手段11と画像表示装置4とで構
成する。撮像装置2は、撮像したロッドの画像信号21
aを傷判別手段11に供給する。
FIG. 9 is a block diagram showing a main part of an embodiment of a rod surface flaw inspection apparatus for detecting rod bounce according to the present invention. In FIG. 9, the rod surface flaw inspection device 10
It comprises an imaging device 2, a flaw determining means 11 and an image display device 4. The imaging device 2 generates an image signal 21 of the imaged rod.
a is supplied to the flaw determining means 11.

【0077】傷判別手段11の構成は、A/D変換器3
1、画像記憶部32、傷判定部36、画像入力制御部3
7、操作部39、表示制御部40、高低差設定部43、
プロファイル検出部44、容積算出部45、白線検出部
53と、補正部54とで構成される。傷判別手段11の
構成のなかで、A/D変換器31、画像記憶部32、画
像入力制御部37、操作部39、表示制御部40、高低
差設定部43、プロファイル検出部44、容積算出部4
5、とは図7の傷判別手段9と同一なので説明は省略す
る。
The structure of the flaw determining means 11 is the same as that of the A / D converter 3.
1, image storage unit 32, flaw determination unit 36, image input control unit 3
7, operation unit 39, display control unit 40, height difference setting unit 43,
It comprises a profile detection unit 44, a volume calculation unit 45, a white line detection unit 53, and a correction unit 54. A / D converter 31, image storage unit 32, image input control unit 37, operation unit 39, display control unit 40, height difference setting unit 43, profile detection unit 44, volume calculation Part 4
5 is the same as the flaw determining means 9 in FIG.

【0078】図9の傷判別手段11と図7の傷判別手段
9との構成の異なる部分について説明を行う。図9の傷
判別手段11は、ロッドの跳ねの検出と画像の補正とを
おこない、傷の容積の検出をするブロック構成図であ
る。
The different parts of the configuration of the flaw determining means 11 of FIG. 9 and the flaw determining means 9 of FIG. 7 will be described. FIG. 9 is a block diagram showing the configuration of the flaw discriminating means 11 which detects the bounce of the rod and corrects the image to detect the volume of the flaw.

【0079】図9に示す白線検出部53と、補正部54
が図2または、図7に追加される。白線検出部53は、
メモリ、演算部で構成し、画像記憶部32から円周方向
1ライン分(図4のY方向480画素分)の濃度データ
を読み出して、読み出した濃度データを白線検出部53
内の濃度データ記憶部に一時記憶し、さらに濃度データ
を全部加算し総数で除算する平均化を行い、ノイズを除
去する。
The white line detecting section 53 shown in FIG.
Is added to FIG. 2 or FIG. The white line detection unit 53
It is composed of a memory and a calculation unit, reads out density data for one line in the circumferential direction (480 pixels in the Y direction in FIG. 4) from the image storage unit 32, and reads the read density data for the white line detection unit 53.
In this case, the density data is temporarily stored in the density data storage unit, and further, the density data is added, and averaging is performed to divide the total data, thereby removing noise.

【0080】次に、周方向の最大濃淡差の上りの頂上Y
TOPを求め、この上りの頂上の算出を軸方向について行
う。この軸方向の上りの頂上を全部加算し総数で除算す
る平均化を行い、軸方向の上りの頂上の平均値YAVを求
める。周方向の頂上のばらつきVは(YAV−YTOP)2
総和を求め、この総和を軸方向の画素数で除算すると得
られる。
Next, the top Y of the maximum gray level difference in the circumferential direction
TOP is calculated, and the calculation of the top of this climb is performed in the axial direction. Averaging is performed by adding all the peaks in the axial direction and dividing by the total number to obtain an average value YAV of the peaks in the axial direction. The variation V at the top in the circumferential direction is obtained by calculating the sum of (YAV-YTOP) 2 and dividing the sum by the number of pixels in the axial direction.

【0081】周方向の頂上のばらつきVを基準値と比較
して、基準値より小さい時はロッド跳ねによる白線があ
ると判定する。つまり、周方向の最大濃淡差の上りの頂
上が軸方向に直線状に分布していることを示す。
The variation V in the top in the circumferential direction is compared with a reference value, and if it is smaller than the reference value, it is determined that there is a white line due to rod bouncing. In other words, it indicates that the peaks of the maximum gray level difference in the circumferential direction are linearly distributed in the axial direction.

【0082】図10(a)は白線検出部における白線検
出の説明図である。周方向の最大濃淡差の上り頂上YTP
Oが軸方向に直線状に分布している。図10(b)は濃
淡値(輝度値)の変化をわかりやすくするためにグラフ
として示したものである。図10(b)の平均値よりも
大きく飛出している部分が白線である。
FIG. 10A is an explanatory diagram of white line detection in the white line detection section. YTP at the top of the maximum density difference in the circumferential direction
O is distributed linearly in the axial direction. FIG. 10 (b) is shown as a graph for easy understanding of the change in the gray value (luminance value). The portion projecting more than the average value in FIG. 10B is a white line.

【0083】この白線を検出したときは、白線検出部5
3内の濃度データ記憶部に一時記憶させた画像データを
補正部54で補正し、図2のエッジ画素検出部34、ま
たは図7のプロファイル検出部44に出力する。
When the white line is detected, the white line detection unit 5
The image data temporarily stored in the density data storage unit 3 is corrected by the correction unit 54 and output to the edge pixel detection unit 34 in FIG. 2 or the profile detection unit 44 in FIG.

【0084】補正部54は、演算回路、メモリ等で構成
し、周方向の濃淡値の平均を求めさらに軸方向の濃淡値
の平均を求める。軸方向の濃淡の平均値Ynavは、軸
方向の濃淡値の総和を全ライン数4000で除算する平
均値で求められる。周軸方向の濃淡の平均値Anav
は、軸方向の濃淡の平均値Ynavを周方向全てについ
て行いYnavの総和を周方向の全ライン数480で除
算すれば求められる。
The correction section 54 is composed of an arithmetic circuit, a memory, and the like, calculates the average of the gray values in the circumferential direction, and further calculates the average of the gray values in the axial direction. The average value Ynav of the density in the axial direction is obtained by an average value obtained by dividing the sum of the density values in the axial direction by the total number of lines 4000. Average value Anav of shading in the circumferential axis direction
Is obtained by performing the average value Ynav of the shading in the axial direction for all circumferential directions and dividing the total sum of Ynav by the total number of lines 480 in the circumferential direction.

【0085】画像の補正データZaは、数1で求められ
る。
The correction data Za of the image is obtained by Expression 1.

【0086】[0086]

【数1】Za=Zb+(Anav−Ynav)## EQU1 ## Za = Zb + (Anav-Ynav)

【0087】但し、Zaは補正後の画像データ、Zbは
元の画像データ、Anavは周軸方向の濃淡の平均値、
Ynavは周方向の濃淡の平均値である。
Here, Za is the corrected image data, Zb is the original image data, Anav is the average value of the density in the circumferential direction,
Ynav is an average value of shading in the circumferential direction.

【0088】白線検出部53で白線を検出すると、補正
部54でこの補正がおこなわれる。また、白線検出部5
3で白線が検出されないときは、そのまま画像データ
は、エッジ画素検出部またはプロファイル検出部に供給
される。
When a white line is detected by the white line detection unit 53, this correction is performed by the correction unit 54. Also, the white line detection unit 5
If no white line is detected in step 3, the image data is supplied to the edge pixel detection unit or the profile detection unit as it is.

【0089】この白線検出を行うことにより、ロッドの
跳ねがある時にも画像データを補正し、正確に傷の面積
または容積を検出することができる。
By performing the white line detection, the image data can be corrected even when the rod bounces, and the area or volume of the flaw can be accurately detected.

【0090】また、この実施例では図7の傷判別手段9
に白線検出部53、補正部54の機能を追加して傷判別
手段11としたが、図2の傷判別手段7に白線検出部5
3、補正部54の機能を追加して、最初にロッド跳ねを
補正して面積の傷を検出するようにしてもよい。
In this embodiment, the flaw determining means 9 shown in FIG.
The functions of the white line detection unit 53 and the correction unit 54 are added to the flaw determination unit 11, but the flaw determination unit 7 of FIG.
3. The function of the correction unit 54 may be added so that the rod bounce is corrected first to detect an area scratch.

【0091】[0091]

【発明の効果】以上説明したようにこの発明に係るロッ
ド傷検査装置は、検査するロッドの両端を固定して円周
方向に回転させ、回転するロッドの全周面に亘って、ロ
ッド表面を撮像する撮像装置と、この撮像装置からの出
力信号に基づいて、シリンダ・ロッドの表面の打痕傷お
よび表面傷を面積または容積として算出し、ロッド跳ね
がある時に画像データを補正する傷判別手段と、傷の判
定結果を表示する画像表示装置とを備え、ロッド跳ねが
あっても傷を面積または容積として検出する事ができ、
正確な位置の傷検出ができる。
As described above, in the rod damage inspection apparatus according to the present invention, the both ends of the rod to be inspected are fixed and rotated in the circumferential direction, and the surface of the rod is rotated over the entire peripheral surface of the rotating rod. An image pickup device for picking up an image, and a flaw discriminating means for calculating a dent flaw and a surface flaw on the surface of the cylinder rod as an area or a volume based on an output signal from the image pickup apparatus and correcting the image data when the rod bounces. And, with an image display device that displays the determination result of the flaw, even if there is a rod bounce, the flaw can be detected as an area or a volume,
Accurate scratch detection can be performed.

【0092】また、この発明に係るロッド表面傷検査装
置は、撮像装置から出力されるロッド表面の画像信号を
画像データへ変換するA/D変換器と、A/D変換され
た画像データを記憶する画像記憶部と、画像データに基
づいて近接する画素間の濃淡値の差を設定する濃淡値設
定部と、この設定した濃淡値の差を越えた画素を傷とし
て検出するエッジ画素検出部と、傷として検出された画
素の間隔が予め設定した画素間隔以内であるものをグル
ープ化し、グループ化された画素群の画素数を算出する
面積算出部と、この面積算出部の値と予め設定した傷面
積判定基準の値を比較して傷判定を行なう傷判定部と、
撮像装置と画像の入力を制御する画像入力制御部と、起
動終了の制御と表示要求を行う操作部とを備えたので、
グループ化した面積の大きさから傷を検出する事がで
き、ロッド表面に付いた打痕状の傷を的確に検出して精
度の高い良否判定を行なうことができる。
The rod surface flaw inspection apparatus according to the present invention stores an A / D converter for converting an image signal of the rod surface output from the imaging device into image data, and stores the A / D converted image data. An image storage unit, a gray value setting unit that sets a gray value difference between adjacent pixels based on image data, and an edge pixel detection unit that detects a pixel that exceeds the set gray value difference as a flaw. An area calculating unit that calculates the number of pixels of the grouped pixel group by grouping pixels in which the interval between pixels detected as flaws is within a predetermined pixel interval, and setting the value of the area calculating unit and a preset value A scratch determination unit that performs a scratch determination by comparing the values of the wound area determination criteria;
Since the image input device and the image input control unit that controls the input of the image, and the operation unit that performs control of the end of startup and a display request is provided,
Flaws can be detected from the size of the grouped area, and dent-like flaws on the rod surface can be accurately detected to make a high-quality judgment.

【0093】この発明に係る傷判別手段は、設定された
画素間の濃淡値の差によって検出された傷の画素数が、
予め設定した基準数に達しない場合には、濃淡値の差を
小さな値へ変更する濃淡値設定部を備えたので小さな傷
も大きな傷も検出できる。
The flaw determining means according to the present invention is arranged such that the number of flaw pixels detected based on the difference in gray level between the set pixels is:
When the number of reference values does not reach the preset reference number, a small and large flaw can be detected because of the provision of the gray value setting section for changing the difference between the gray values to a small value.

【0094】また、この発明に係るロッド表面傷検査装
置は、撮像装置から出力されるロッド表面の画像信号を
画像データへ変換し、画像データを記憶する画像記憶部
と、画像データに基づいてロッド円周方向に近接する画
素間で、濃淡値の差の連続の変化を求め、この連続する
濃淡値の差の極性が変化する画素を上り変化点または下
り変化点とし、上り変化点から下り変化点までの濃淡差
を上り高低差、下り変化点から上り変化点までの濃淡差
を下り高低差として、下り高低差と上り高低差のそれぞ
れの最大値を最大下り高低差と最大上り高低差として求
め、またそれぞれの区間を最大下り区間と最大上り区間
として求めるプロファイル検出部と、求めた最大下り区
間と最大上り区間の有効性を決める高低差設定値と、こ
の最大下り区間と最大上り区間が軸方向に連続している
ものをグループ化し、グループ化された傷画素群の容積
を算出する容積算出部と、この容積算出部で算出した容
積を予め設定した傷判定基準値とを比較して傷判別を行
なう傷判定部とを備えたので、容積を算出し、容積の大
きさにより傷を検出することができ、ロッド表面に浅い
点状の傷がある場合でも、点状傷と打痕傷とを区別する
ことができ、正確に打痕傷の検出ができる。
A rod surface flaw inspection apparatus according to the present invention converts an image signal of a rod surface output from an imaging device into image data, and stores an image storage section for storing image data. A continuous change in the gray value difference is obtained between pixels adjacent in the circumferential direction, and a pixel in which the polarity of the continuous gray value difference changes is defined as an up change point or a down change point, and a down change from the up change point is performed. The shade difference between the points is the up-and-down difference, the shade difference from the down-change point to the up-change point is the down-height difference, and the maximum value of the down-height difference and the up-height difference is the maximum down-height difference and the maximum up-height difference. A profile detection unit that calculates and determines each section as a maximum down section and a maximum up section, a height difference setting value that determines the validity of the obtained maximum down section and the maximum up section, A volume calculation unit that calculates the volume of the group of flawed pixels, and a volume determination unit that calculates the volume of the grouped flaw pixel groups, and a flaw determination reference value that sets the volume calculated by the volume calculation unit in advance. And a flaw determining unit that performs flaw determination by comparing the flaws, so that the volume can be calculated and the flaw can be detected based on the size of the volume. Scratches and dents can be distinguished, and dents can be detected accurately.

【0095】この発明に係る傷判別手段は、設定された
画素間の濃淡値の差の連続の変化によって検出された高
低差の総数が、予め設定した基準数に達しない場合に
は、高低差を小さな値へ変更する高低差設定部を備えた
ので、深い傷も浅い傷も検出できる。
The flaw determining means according to the present invention, when the total number of height differences detected by the continuous change of the gray level difference between the set pixels does not reach the preset reference number, sets the height difference. Is provided with a height difference setting unit for changing the value of the parameter to a small value, so that deep and shallow scratches can be detected.

【0096】また、この発明に係るロッド表面傷検査装
置は、撮像装置から出力されるロッド表面の画像信号を
画像データへ変換し画像データを記憶する画像記憶部
と、画像データに基づいてロッド軸方向に近接する画素
間で、順次円周方向1ライン中の最大濃度差の一番明る
い部分を求め、この明るさの平均と各列の明るさのばら
つきを求め、このばらつきにより回転時のロッドはねを
検出する白線検出部と、この白線検出部からの出力によ
り画像データを補正するぶれ補正部とを備えたのでロッ
ドに跳ねがあっても補正を行い的確に傷の検出ができ
る。
Further, the rod surface flaw inspection apparatus according to the present invention comprises: an image storage unit for converting an image signal of the rod surface output from the imaging device into image data and storing the image data; and a rod shaft based on the image data. Between the pixels adjacent to each other in the direction, the brightest part of the maximum density difference in one line in the circumferential direction is sequentially obtained, and the average of this brightness and the variation in the brightness of each column are obtained. Since a white line detecting unit for detecting a splash and a blur correcting unit for correcting image data based on an output from the white line detecting unit are provided, even if the rod has jumped, the rod can be corrected and a flaw can be accurately detected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明に係るロッド表面傷検査装置のブロッ
ク構成図
FIG. 1 is a block diagram of a rod surface flaw inspection apparatus according to the present invention.

【図2】この発明に係るロッド表面傷検査装置の実施の
形態要部ブロック構成図
FIG. 2 is a block diagram of a main part of a rod surface flaw inspection apparatus according to an embodiment of the present invention;

【図3】照明用光源と撮像部との位置関係の一例を示す
説明図
FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating an example of a positional relationship between a light source for illumination and an imaging unit.

【図4】画像メモリに格納されたロッド表面画像の説明
FIG. 4 is an explanatory diagram of a rod surface image stored in an image memory.

【図5】エッジ画素検出部における傷検出処理の説明図FIG. 5 is an explanatory diagram of a flaw detection process in the edge pixel detection unit.

【図6】面積算出部におけるグループ化処理の説明図FIG. 6 is an explanatory diagram of a grouping process in an area calculation unit.

【図7】この発明に係る別のロッド表面傷検査装置の実
施の形態要部ブロック構成図
FIG. 7 is a block diagram of a main part of an embodiment of another rod surface flaw inspection apparatus according to the present invention.

【図8】プロファイル検出部におけるプロファイル傷検
出処理の説明図
FIG. 8 is an explanatory diagram of a profile flaw detection process in the profile detection unit.

【図9】この発明に係るロッド跳ね検出をするロッド表
面傷検査装置の実施の形態要部ブロック構成図
FIG. 9 is a block diagram of a main part of an embodiment of a rod surface flaw inspection apparatus for detecting rod bouncing according to the present invention.

【図10】白線検出部における白線検出の説明図FIG. 10 is an explanatory diagram of white line detection in a white line detection unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,6,8,10…ロッド表面傷検査装置、2…撮像装
置、3,7,9,11…傷判別手段、4…画像表示装
置、5…ロッド(検査対象物)、21…撮像部(1次元
CCDカメラ)、22…照明用光源、24…回動機構
部、31…A/D変換器、32…画像記憶部、33…濃
淡値設定部、34…エッジ画素検出部、35…面積算出
部、36…傷判定部、37…画像入力制御部、39…操
作部、40…表示制御部、43…高低差検出部、44…
プロファイル検出部、45…容積算出部、53…白線検
出部、54…補正部。
1,6,8,10 ... Rod surface flaw inspection device, 2 ... Imaging device, 3,7,9,11 ... Flaw determination means, 4 ... Image display device, 5 ... Rod (test object), 21 ... Imaging unit (One-dimensional CCD camera), 22: illumination light source, 24: rotating mechanism unit, 31: A / D converter, 32: image storage unit, 33: gray value setting unit, 34: edge pixel detection unit, 35 ... Area calculation unit, 36: flaw determination unit, 37: image input control unit, 39: operation unit, 40: display control unit, 43: height difference detection unit, 44 ...
Profile detection unit, 45: volume calculation unit, 53: white line detection unit, 54: correction unit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA25 AA49 AA59 BB06 FF01 FF04 GG16 HH12 JJ02 JJ08 JJ09 JJ25 QQ03 QQ24 QQ31 RR06 2G051 AA90 AB02 CA03 CD07 DA08 EA08 EA11 EA14 EA16 EB01 EB02 EC02 EC03 ED01 ED07 ED09 FA01  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2F065 AA25 AA49 AA59 BB06 FF01 FF04 GG16 HH12 JJ02 JJ08 JJ09 JJ25 QQ03 QQ24 QQ31 RR06 2G051 AA90 AB02 CA03 CD07 DA08 EA08 EA11 EA14 EA01 EA01 EA01 EB01

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 自動車のショックアブソーバに用いられ
るシリンダ・ロッドの表面の打痕傷および表面傷を検査
するロッド表面傷検査装置において、 検査するロッドの両端を固定して円周方向に回転させ、
回転するロッドの全周面に亘って、ロッド表面を撮像す
る撮像装置と、この撮像装置からの出力信号に基づい
て、シリンダ・ロッドの表面の打痕傷および表面傷を面
積または容積として算出し、ロッド跳ねがある時に画像
データを補正する傷判別手段と、傷の判定結果を表示す
る画像表示装置とを備えたことを特徴とするロッド表面
傷検査装置。
1. A rod surface damage inspection device for inspecting dent scratches and surface scratches on the surface of a cylinder rod used for a shock absorber of an automobile, wherein both ends of the rod to be inspected are fixed and rotated in the circumferential direction.
An imaging device for imaging the surface of the rod over the entire peripheral surface of the rotating rod, and based on an output signal from the imaging device, dent scratches and surface scratches on the surface of the cylinder / rod are calculated as an area or a volume. A flaw discriminating means for correcting image data when a rod bounces, and an image display device for displaying a flaw judgment result.
【請求項2】 前記傷判別手段は、前記撮像装置から出
力されるロッド表面の画像信号を画像データへ変換する
A/D変換器と、A/D変換された画像データを記憶す
る画像記憶部と、前記画像データに基づいて近接する画
素間の濃淡値の差を設定する濃淡値設定部と、この設定
した濃淡値の差を越えた画素を傷として検出するエッジ
画素検出部と、傷として検出された画素の間隔が予め設
定した画素間隔以内であるものをグループ化し、グルー
プ化された画素群の画素数を算出する面積算出部と、こ
の面積算出部の値と予め設定した傷面積判定基準の値を
比較して傷判定を行なう傷判定部と、撮像装置と画像の
入力を制御する画像入力制御部と、起動終了の制御と表
示要求を行う操作部と、を備えロッド打痕傷を面積で算
出したことを特徴とする請求項1記載のロッド表面傷検
査装置。
2. An A / D converter for converting an image signal of a rod surface output from the imaging device into image data, and an image storage unit for storing the A / D converted image data. And a gray value setting unit that sets a gray value difference between adjacent pixels based on the image data, an edge pixel detection unit that detects a pixel exceeding the set gray value difference as a flaw, An area calculation unit for grouping pixels whose detected pixel intervals are within a predetermined pixel interval and calculating the number of pixels of the grouped pixel group, and a value of the area calculation unit and a predetermined scratch area determination A rod dent scar which includes a scratch determining unit for comparing the reference values and performing a scratch determination, an image input control unit for controlling an imaging device and image input, and an operating unit for controlling start-up and requesting display. Is calculated by the area The rod surface flaw inspection device according to claim 1.
【請求項3】 設定された画素間の濃淡値の差によって
検出された傷の画素数が、予め設定した基準数に達しな
い場合には、濃淡値の差を小さな値へ変更する前記濃淡
値設定部を備えたことを特徴とする請求項1、および請
求項2記載のロッド表面傷検査装置。
3. When the number of pixels of a flaw detected due to a set difference in gray level between pixels does not reach a preset reference number, the gray level difference is changed to a small value. The rod surface flaw inspection apparatus according to claim 1, further comprising a setting unit.
【請求項4】 前記傷判別手段は、前記撮像装置から出
力されるロッド表面の画像信号を画像データへ変換し、
画像データを記憶する前記画像記憶部と、画像データに
基づいてロッド円周方向に近接する画素間で、濃淡値の
差の連続の変化を求め、この連続する濃淡値の差の極性
が変化する画素を上り変化点または下り変化点とし、上
り変化点から下り変化点までの濃淡差を上り高低差、下
り変化点から上り変化点までの濃淡差を下り高低差とし
て、下り高低差と上り高低差のそれぞれの最大値を最大
下り高低差と最大上り高低差として求め、またそれぞれ
の区間を最大下り区間と最大上り区間として求めるプロ
ファイル検出部と、求めた最大下り区間と最大上り区間
の有効性を決める高低差設定値と、この最大下り区間と
最大上り区間が軸方向に連続しているものをグループ化
し、グループ化された傷画素群の容積を算出する容積算
出部と、この容積算出部で算出した容積を予め設定した
傷判定基準値とを比較して傷判別を行なう傷判定部と、
を備えロッド打痕傷を容積で算出したことを特徴とする
請求項1記載のロッド表面傷検査装置。
4. The flaw determining means converts an image signal of the rod surface output from the imaging device into image data,
The image storage unit for storing image data, and the continuous change of the gray value difference between pixels adjacent in the rod circumferential direction based on the image data, and the polarity of the continuous gray value difference changes. A pixel is defined as an up-change point or a down-change point, and a shade difference from an up-change point to a down-change point is defined as an up-height difference, and a shade difference from a down-change point to an up-change point is a down-height difference. A profile detector for calculating the maximum value of each difference as a maximum down-difference and a maximum ascending-difference, and determining the respective sections as a maximum descent section and a maximum ascending section, and the validity of the determined maximum descent section and the maximum ascending section. A height difference setting value, and a volume calculation unit for grouping those in which the maximum descending section and the maximum ascending section are continuous in the axial direction, and calculating the volume of the grouped wound pixel group; and A wound determination unit which compares with a previously wound determination reference value set and the calculated in output unit volume performs flaw determination,
The rod surface flaw inspection device according to claim 1, wherein the rod dent flaw is calculated by volume.
【請求項5】 設定された画素間の濃淡値の差の連続の
変化によって検出された高低差の総数が、予め設定した
基準数に達しない場合には、高低差を小さな値へ変更す
る高低差設定部を備えたことを、特徴とする請求項1、
および請求項4記載のロッド表面傷検査装置。
5. The method of changing the height difference to a small value when the total number of height differences detected by the continuous change of the gray value difference between the set pixels does not reach a preset reference number. 2. The apparatus according to claim 1, further comprising a difference setting unit.
5. The rod surface flaw inspection device according to claim 4.
【請求項6】 前記傷判別手段は、前記撮像装置から出
力されるロッド表面の画像信号を画像データへ変換し、
画像データを記憶する画像記憶部と、画像データに基づ
いてロッド軸方向に近接する画素間で、順次円周方向1
ライン中の最大濃度差の一番明るい部分を求め、この明
るさの平均と各列の明るさのばらつきを求め、このばら
つきにより回転時のロッドはねを検出する白線検出部
と、この白線検出部からの出力により画像データを補正
する補正部と、を備えたことを特徴とする請求項1記載
のロッド表面傷検査装置。
6. The flaw determining means converts an image signal of the rod surface output from the imaging device into image data,
An image storage unit for storing image data and a pixel in the circumferential direction sequentially between pixels adjacent in the rod axis direction based on the image data.
Find the brightest part of the maximum density difference in the line, find the average of this brightness and the variation in the brightness of each column, and use this variation to detect the rod splash during rotation, and this white line detection The rod surface flaw inspection apparatus according to claim 1, further comprising: a correction unit configured to correct image data based on an output from the unit.
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