JP2000084818A - 研磨装置及び研磨方法 - Google Patents
研磨装置及び研磨方法Info
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- JP2000084818A JP2000084818A JP10256583A JP25658398A JP2000084818A JP 2000084818 A JP2000084818 A JP 2000084818A JP 10256583 A JP10256583 A JP 10256583A JP 25658398 A JP25658398 A JP 25658398A JP 2000084818 A JP2000084818 A JP 2000084818A
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- JP
- Japan
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- polishing
- optical element
- pressing
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- polished
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- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 誰が操作しても、容易に目的の面形状を高い
精度で得られるようにする。 【解決手段】 研磨工具を成す回転テーブル10に光学
素子Aを押し付ける複数の加圧部材30,30,…と、
複数の加圧部材毎にその加圧力を調節する形状制御回路
ユニット36と、を備えている。研磨量を増やしたい箇
所に対しては、その箇所に対応した加圧部材30による
加圧力を増加させ、研磨量を減らしたい箇所に対して
は、その箇所に対応した加圧部材30による加圧力を減
少させる。
精度で得られるようにする。 【解決手段】 研磨工具を成す回転テーブル10に光学
素子Aを押し付ける複数の加圧部材30,30,…と、
複数の加圧部材毎にその加圧力を調節する形状制御回路
ユニット36と、を備えている。研磨量を増やしたい箇
所に対しては、その箇所に対応した加圧部材30による
加圧力を増加させ、研磨量を減らしたい箇所に対して
は、その箇所に対応した加圧部材30による加圧力を減
少させる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レンズ、棒状ミラ
ー等の光学素子の研磨装置及び研磨方法に関する。
ー等の光学素子の研磨装置及び研磨方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、棒状ミラーやプリズム等の光学
素子の表面仕上げは、研磨用砥粒と研磨用弾性工具との
組み合わせで行われる。この研磨では、光学素子の被研
磨面と研磨用弾性工具の研磨面との間に、研磨用砥粒を
介在させ、光学素子を研磨用弾性工具に対して相対移動
させて、両者の間に介在する研磨用砥粒が主たる材料除
去を行う。このような研磨では、ラップ盤式研磨装置と
言われる研磨装置が用いられることが多い。
素子の表面仕上げは、研磨用砥粒と研磨用弾性工具との
組み合わせで行われる。この研磨では、光学素子の被研
磨面と研磨用弾性工具の研磨面との間に、研磨用砥粒を
介在させ、光学素子を研磨用弾性工具に対して相対移動
させて、両者の間に介在する研磨用砥粒が主たる材料除
去を行う。このような研磨では、ラップ盤式研磨装置と
言われる研磨装置が用いられることが多い。
【0003】このラップ盤式研磨装置は、図3及び図4
に示すように、回転テーブル(研磨用弾性工具)1と、
被研磨物である光学素子Aを保持しておく円盤状の加工
枠2と、この加工枠2が入る円筒状の加工ステーション
3と、加工ステーション3を目的の位置に位置させる位
置決め機構4と、を備えている。
に示すように、回転テーブル(研磨用弾性工具)1と、
被研磨物である光学素子Aを保持しておく円盤状の加工
枠2と、この加工枠2が入る円筒状の加工ステーション
3と、加工ステーション3を目的の位置に位置させる位
置決め機構4と、を備えている。
【0004】加工ステーション3は、位置決め機構4に
より、回転テーブル1上の所定の位置に位置決めされ
る。このように、加工ステーション3が位置決めされた
状態で、回転テーブル1が回転すると、回転テーブル1
の内周側と外周側との速度差により、加工ステーション
3がその場で回転する。この結果、加工ステーション3
内の加工枠2及び光学素子Aも回転し、回転テーブル1
に対する相対移動で、光学素子Aが研磨される。
より、回転テーブル1上の所定の位置に位置決めされ
る。このように、加工ステーション3が位置決めされた
状態で、回転テーブル1が回転すると、回転テーブル1
の内周側と外周側との速度差により、加工ステーション
3がその場で回転する。この結果、加工ステーション3
内の加工枠2及び光学素子Aも回転し、回転テーブル1
に対する相対移動で、光学素子Aが研磨される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】以上のラップ式研磨装
置を用いての研磨では、所望の面精度を得るために、加
工ステーション3の前後(回転テーブルの半径方向)の
出入量や、回転テーブル1の回転数等のパラメータの微
妙な調節が必要とされる。例えば、棒状ミラーを研磨す
る場合に、研磨過程で両端部側が中心部に比べて凸にな
ってきたとき、加工ステーション3の前後の出入量や回
転テーブル1の回転数をどの程度変えれば良いかを数値
化することが非常に難しく、熟練者の長年の経験と勘に
よって、これらのパラメータを変えている。また、被研
磨物Aの大きさや形状が変わった場合も、同様に、熟練
者の長年の経験と勘によってパラメータを定めている。
置を用いての研磨では、所望の面精度を得るために、加
工ステーション3の前後(回転テーブルの半径方向)の
出入量や、回転テーブル1の回転数等のパラメータの微
妙な調節が必要とされる。例えば、棒状ミラーを研磨す
る場合に、研磨過程で両端部側が中心部に比べて凸にな
ってきたとき、加工ステーション3の前後の出入量や回
転テーブル1の回転数をどの程度変えれば良いかを数値
化することが非常に難しく、熟練者の長年の経験と勘に
よって、これらのパラメータを変えている。また、被研
磨物Aの大きさや形状が変わった場合も、同様に、熟練
者の長年の経験と勘によってパラメータを定めている。
【0006】このように、従来技術では、多くの経験を
重ねている熟練者でなければ、高い面精度を安定して得
ることができないという問題点がある。
重ねている熟練者でなければ、高い面精度を安定して得
ることができないという問題点がある。
【0007】本発明は、このような従来の問題点に着目
し、加工者の経験に左右されずに、高い面精度を安定し
て得ることができる研磨装置及び研磨方法を提供するこ
とを目的とする。
し、加工者の経験に左右されずに、高い面精度を安定し
て得ることができる研磨装置及び研磨方法を提供するこ
とを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の第一の研磨装置は、
の第一の研磨装置は、
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る研磨装置の一
実施形態について、図1及び図2を用いて説明する。
実施形態について、図1及び図2を用いて説明する。
【0010】この実施形態における研磨装置は、図1及
び図2に示すように、回転テーブル10と、被研磨物で
ある光学素子Aを保持しておく円盤状の加工枠12と、
この加工枠12が入る円筒状の加工ステーション15
と、加工ステーション15を目的の位置に位置させる位
置決め機構20と、光学素子Aを回転テーブル10に押
し付ける複数の加圧部材30,30,…と、複数の加圧
部材30,30,…を支持する支持板33と、支持板3
3と加工ステーション15と連結する連結ピン37と、
各加圧部材30,30,…の加圧力を制御する形状制御
回路ユニット36と、この形状制御回路ユニット36や
回転テーブル10を制御する制御装置39と、を備えて
いる。
び図2に示すように、回転テーブル10と、被研磨物で
ある光学素子Aを保持しておく円盤状の加工枠12と、
この加工枠12が入る円筒状の加工ステーション15
と、加工ステーション15を目的の位置に位置させる位
置決め機構20と、光学素子Aを回転テーブル10に押
し付ける複数の加圧部材30,30,…と、複数の加圧
部材30,30,…を支持する支持板33と、支持板3
3と加工ステーション15と連結する連結ピン37と、
各加圧部材30,30,…の加圧力を制御する形状制御
回路ユニット36と、この形状制御回路ユニット36や
回転テーブル10を制御する制御装置39と、を備えて
いる。
【0011】回転テーブル10は、図2に示すように、
その上面に研磨脂又はポリウレタンパッド11が施され
ている。円筒状の加工ステーション15の下部外周側に
は、外周側に突出した鍔部16が形成されている。この
円筒状の加工ステーション15内には、前述したよう
に、円盤状の加工枠12が収められる。加工枠12に
は、光学素子Aの外形に合った貫通孔13が形成され、
この貫通孔13に光学素子Aが収められる。
その上面に研磨脂又はポリウレタンパッド11が施され
ている。円筒状の加工ステーション15の下部外周側に
は、外周側に突出した鍔部16が形成されている。この
円筒状の加工ステーション15内には、前述したよう
に、円盤状の加工枠12が収められる。加工枠12に
は、光学素子Aの外形に合った貫通孔13が形成され、
この貫通孔13に光学素子Aが収められる。
【0012】位置決め機構20は、加工ステーション1
5の外形状に合った円弧部分が形成されている本体21
と、この本体21を回転テーブル10の半径方向(以
下、前後方向とする)に移動させるハンドル22と、本
体が前後移動しないように止めておくクランプ23と、
本体21の円弧部分の両端に設けられている球形状のロ
ーラ24,24と、を有している。この位置決め機構2
0は、本体21が回転テーブル10上に位置して、この
本体21に設けられているローラ24,24で加工ステ
ーション15を受け、加工ステーション15の前後方向
の位置を定めると共に、この加工ステーション15が回
転テーブル10の回転に伴って移動しないようにするも
のである。本体21に設けられているローラ24,24
は、加工ステーション15の外周面及び鍔16に接触す
る。
5の外形状に合った円弧部分が形成されている本体21
と、この本体21を回転テーブル10の半径方向(以
下、前後方向とする)に移動させるハンドル22と、本
体が前後移動しないように止めておくクランプ23と、
本体21の円弧部分の両端に設けられている球形状のロ
ーラ24,24と、を有している。この位置決め機構2
0は、本体21が回転テーブル10上に位置して、この
本体21に設けられているローラ24,24で加工ステ
ーション15を受け、加工ステーション15の前後方向
の位置を定めると共に、この加工ステーション15が回
転テーブル10の回転に伴って移動しないようにするも
のである。本体21に設けられているローラ24,24
は、加工ステーション15の外周面及び鍔16に接触す
る。
【0013】加圧部材30は、被研磨物である光学素子
Aに接触するパッド31と、パッド31を支えるシリン
ダ32とを有している。このシリンダ32の中に、圧電
素子の一種であるピエゾ素子が埋め込まれている。複数
の加圧部材30,30,…は、加工枠12に収められた
光学素子A上に位置するよう、各加圧部材30,30,
…の上端部が支持板33に固定されている。この支持板
33は、連結ピン37,37,…で加工ステーション1
5に連結される。
Aに接触するパッド31と、パッド31を支えるシリン
ダ32とを有している。このシリンダ32の中に、圧電
素子の一種であるピエゾ素子が埋め込まれている。複数
の加圧部材30,30,…は、加工枠12に収められた
光学素子A上に位置するよう、各加圧部材30,30,
…の上端部が支持板33に固定されている。この支持板
33は、連結ピン37,37,…で加工ステーション1
5に連結される。
【0014】形状制御回路ユニット36は、位置決め機
構20の本体21上に設けられている。この形状制御回
路ユニット36は、複数の加圧部材30,30,…のピ
エゾ素子とケーブル35で接続されている。なお、加工
ステーション15及び支持板33は、後述するように、
その場で回転するので、支持板33の中心には、ロータ
リコネクタ34が設けられ、このロータリコネクタ34
に形状制御回路ユニット36からのケーブル35が接続
されている。この形状制御回路ユニット36は、加工者
による制御装置39の操作に応じて、複数の加圧部材3
0,30,…のピエゾ素子毎に、ピエゾ素子に対する印
加電圧を調節することができる。
構20の本体21上に設けられている。この形状制御回
路ユニット36は、複数の加圧部材30,30,…のピ
エゾ素子とケーブル35で接続されている。なお、加工
ステーション15及び支持板33は、後述するように、
その場で回転するので、支持板33の中心には、ロータ
リコネクタ34が設けられ、このロータリコネクタ34
に形状制御回路ユニット36からのケーブル35が接続
されている。この形状制御回路ユニット36は、加工者
による制御装置39の操作に応じて、複数の加圧部材3
0,30,…のピエゾ素子毎に、ピエゾ素子に対する印
加電圧を調節することができる。
【0015】次に、以上で説明した研磨装置を用いての
研磨方法について説明する。
研磨方法について説明する。
【0016】まず、被研磨物である光学素子Aにあっ
た、加工枠12及び加圧部材付きの支持板33を準備す
る。
た、加工枠12及び加圧部材付きの支持板33を準備す
る。
【0017】次に、位置決め機構20のハンドル22を
回して、本体21を前後動させて、加工ステーション1
5の位置を定める。この位置決めされた加工ステーショ
ン15の中に加工枠12を入れ、この加工枠12の貫通
孔13に光学素子Aを入れる。
回して、本体21を前後動させて、加工ステーション1
5の位置を定める。この位置決めされた加工ステーショ
ン15の中に加工枠12を入れ、この加工枠12の貫通
孔13に光学素子Aを入れる。
【0018】次に、光学素子A上に加圧部材30,3
0,…が位置するように、加圧部材付き支持板33を置
く。そして、連結ピン37,37,…を用いて、支持板
33と加工ステーション15とを連結する。
0,…が位置するように、加圧部材付き支持板33を置
く。そして、連結ピン37,37,…を用いて、支持板
33と加工ステーション15とを連結する。
【0019】以上のように、光学素子Aや加圧部材付き
支持板33のセットが終了すると、制御装置39を操作
して、回転テーブル10を回転させる。回転テーブル1
0が回転すると、回転テーブル10の内周側と外周側と
の速度差で、回転テーブル10上に置かれている加工ス
テーション15は、その場で回転する。この加工ステー
ション15の自転で、加工ステーション15内の加工枠
12及び光学素子Aも、加工ステーション15の自転に
伴って回転する。
支持板33のセットが終了すると、制御装置39を操作
して、回転テーブル10を回転させる。回転テーブル1
0が回転すると、回転テーブル10の内周側と外周側と
の速度差で、回転テーブル10上に置かれている加工ス
テーション15は、その場で回転する。この加工ステー
ション15の自転で、加工ステーション15内の加工枠
12及び光学素子Aも、加工ステーション15の自転に
伴って回転する。
【0020】このように、研磨工具である回転テーブル
10の回転、及び被研磨物である光学素子Aの回転によ
る、研磨工具10と被研磨物Aとの相対移動により、光
学素子Aは、研磨される。
10の回転、及び被研磨物である光学素子Aの回転によ
る、研磨工具10と被研磨物Aとの相対移動により、光
学素子Aは、研磨される。
【0021】例えば、棒状ミラーを研磨している過程
で、その両端部側が中心部に比べて凸になってた場合に
は、制御装置39を操作して、棒状ミラーの両端部側に
位置している加圧部材30による加圧力を高める。する
と、棒状ミラーの両端部側の研磨量が増えて、棒状ミラ
ーの被研磨面が平坦になる。なお、この実施形態では、
加工ステーション15に鍔16を設けたが、これは、加
圧部材30の加圧力を増加させると、この反力で支持板
33及び加工ステーション15が上昇しようとするの
で、位置決め機構20のローラ24で加工ステーション
15の鍔16を押さえて、支持板33及び加工ステーシ
ョン15を上昇させないためである。
で、その両端部側が中心部に比べて凸になってた場合に
は、制御装置39を操作して、棒状ミラーの両端部側に
位置している加圧部材30による加圧力を高める。する
と、棒状ミラーの両端部側の研磨量が増えて、棒状ミラ
ーの被研磨面が平坦になる。なお、この実施形態では、
加工ステーション15に鍔16を設けたが、これは、加
圧部材30の加圧力を増加させると、この反力で支持板
33及び加工ステーション15が上昇しようとするの
で、位置決め機構20のローラ24で加工ステーション
15の鍔16を押さえて、支持板33及び加工ステーシ
ョン15を上昇させないためである。
【0022】以上のように、本実施形態では、研磨量を
増やしたい箇所に対しては、その箇所に対応した加圧部
材30による加圧力を増加させ、研磨量を減らしたい箇
所に対しては、その箇所に対応した加圧部材30による
加圧力を減少させれば良いので、高い精度で目的の面精
度を容易に得ることができる。しかも、加圧力と研磨量
との関係は、数値化し易いので、これを標準化しておけ
ば、誰でも、容易に目的の面精度に光学素子を研磨する
ことができる。
増やしたい箇所に対しては、その箇所に対応した加圧部
材30による加圧力を増加させ、研磨量を減らしたい箇
所に対しては、その箇所に対応した加圧部材30による
加圧力を減少させれば良いので、高い精度で目的の面精
度を容易に得ることができる。しかも、加圧力と研磨量
との関係は、数値化し易いので、これを標準化しておけ
ば、誰でも、容易に目的の面精度に光学素子を研磨する
ことができる。
【0023】なお、以上の例では、研磨過程で加圧力を
調節したが、同一の被研磨物を複数研磨して、その研磨
傾向がある程度把握できた場合には、研磨開始前に加圧
力を調節するようにしてもよい。
調節したが、同一の被研磨物を複数研磨して、その研磨
傾向がある程度把握できた場合には、研磨開始前に加圧
力を調節するようにしてもよい。
【0024】また、この実施形態では、加圧部材付き支
持板33を加工ステーション15に連結したが、加工ス
テーション15と共に回転する加工枠12に支持板33
を連結してもよい。また、この実施形態の加圧部材30
は、ピエゾ素子を有するものであるが、この換わりに、
例えば、空気圧シリンダを有するものであってもよい。
持板33を加工ステーション15に連結したが、加工ス
テーション15と共に回転する加工枠12に支持板33
を連結してもよい。また、この実施形態の加圧部材30
は、ピエゾ素子を有するものであるが、この換わりに、
例えば、空気圧シリンダを有するものであってもよい。
【0025】
【発明の効果】本発明によれば、研磨量を増やしたい箇
所に対しては、その箇所に対応した加圧部材による加圧
力を増加させ、研磨量を減らしたい箇所に対しては、そ
の箇所に対応した加圧部材による加圧力を減少させれば
良いので、高い精度で目的の面精度を容易に得ることが
できる。しかも、加圧力と研磨量との関係は、数値化し
易いので、これを標準化しておけば、誰でも、容易に目
的の面精度に光学素子を研磨することができる。
所に対しては、その箇所に対応した加圧部材による加圧
力を増加させ、研磨量を減らしたい箇所に対しては、そ
の箇所に対応した加圧部材による加圧力を減少させれば
良いので、高い精度で目的の面精度を容易に得ることが
できる。しかも、加圧力と研磨量との関係は、数値化し
易いので、これを標準化しておけば、誰でも、容易に目
的の面精度に光学素子を研磨することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る一実施形態における研磨装置の平
面図である。
面図である。
【図2】図1におけるII−II線断面図である。
【図3】従来の研磨装置の平面図である。
【図4】図3におけるIV−IV線断面図である。
10…回転テーブル、15…加工ステーション、20…
位置決め機構、30…加圧部材、33…支持板、36…
形状制御回路ユニット、37…連結ピン、39…制御装
置。
位置決め機構、30…加圧部材、33…支持板、36…
形状制御回路ユニット、37…連結ピン、39…制御装
置。
Claims (4)
- 【請求項1】光学素子の被研磨面を研磨工具に接触さ
せ、該光学素子を該研磨工具に対して相対移動させて、
該光学素子の該被研磨面を研磨する研磨装置において、 前記光学素子を前記研磨工具に押し付ける加圧力を調節
できる複数の加圧部材と、 複数の前記加圧部材毎に、前記加圧力を調節する加圧力
制御手段と、 を備えていることを特徴とする研磨装置。 - 【請求項2】請求項1に記載の研磨装置において、 前記加圧部材は、圧電素子を有している、 ことを特徴とする研磨装置。
- 【請求項3】請求項1に記載の研磨装置において、 前記加圧部材は、流体圧シリンダを有している、 ことを特徴とする研磨装置。
- 【請求項4】光学素子の被研磨面を研磨工具に接触さ
せ、該光学素子を該研磨工具に対して相対移動させて、
該光学素子の該被研磨面を研磨する研磨方法において、 複数箇所で前記光学素子を前記研磨工具に押し付け、各
箇所毎に、該光学素子を押し付ける加圧力を調節して、
該光学素子を研磨する、 ことを特徴とする研磨方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10256583A JP2000084818A (ja) | 1998-09-10 | 1998-09-10 | 研磨装置及び研磨方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10256583A JP2000084818A (ja) | 1998-09-10 | 1998-09-10 | 研磨装置及び研磨方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000084818A true JP2000084818A (ja) | 2000-03-28 |
Family
ID=17294655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10256583A Pending JP2000084818A (ja) | 1998-09-10 | 1998-09-10 | 研磨装置及び研磨方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000084818A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7534159B2 (en) | 2003-03-31 | 2009-05-19 | Fujitsu Limited | Processing method and apparatus |
-
1998
- 1998-09-10 JP JP10256583A patent/JP2000084818A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7534159B2 (en) | 2003-03-31 | 2009-05-19 | Fujitsu Limited | Processing method and apparatus |
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