JP2000049199A - Parallelism adjusting device - Google Patents
Parallelism adjusting deviceInfo
- Publication number
- JP2000049199A JP2000049199A JP10215800A JP21580098A JP2000049199A JP 2000049199 A JP2000049199 A JP 2000049199A JP 10215800 A JP10215800 A JP 10215800A JP 21580098 A JP21580098 A JP 21580098A JP 2000049199 A JP2000049199 A JP 2000049199A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- parallelism
- rod
- tool
- bonding tool
- tip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は平行度調整装置に関
し、例えばウェハから分割されたパッケージ前のIC
(Integrated Circuit)チップ(以下、これをベアチッ
プと呼ぶ)をプリント基板の所定位置に実装するフリッ
プチップボンダに適用して好適なものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a parallelism adjusting device, for example, an IC before package divided from a wafer.
The present invention is suitably applied to a flip chip bonder in which an (Integrated Circuit) chip (hereinafter, referred to as a bare chip) is mounted at a predetermined position on a printed circuit board.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、このフリップチップボンダは、ベ
アチップをプリント基板に形成されている導体パターン
の所定位置に実装及び熱圧着することにより、当該ベア
チップの電極を導体パターンの所定位置に電気的に接続
するようになされている。このフリップチップボンダ
は、ベアチップを吸着する部位(以下、これをボンディ
ングツールと呼ぶ)と、ボンディングツールのプリント
基板に対する平行度を調整するあおり機構部と、ボンデ
ィングツールの動作を制御するツール制御機構部とを有
している。2. Description of the Related Art Conventionally, a flip chip bonder has a bare chip mounted on a predetermined position of a conductor pattern formed on a printed circuit board and thermocompression-bonded to electrically connect a bare chip electrode to a predetermined position of the conductor pattern. It is made to connect. This flip chip bonder has a portion for adsorbing a bare chip (hereinafter referred to as a bonding tool), a tilting mechanism for adjusting the parallelism of the bonding tool to the printed circuit board, and a tool control mechanism for controlling the operation of the bonding tool. And
【0003】このフリップチップボンダでは、ベアチッ
プをプリント基板に実装する際には、ユーザがあおり機
構部を操作することにより、ボンディングツールのプリ
ント基板に対する平行度を予め調整しておく。そしてフ
リップチップボンダは、ボンディングツールにベアチッ
プを吸着した後、ツール制御機構部の加圧動作によって
あおり機構部及びボンディングツールを介してベアチッ
プをプリント基板の所定位置に圧着する。この状態にお
いて、フリップチップボンダは、ボンディングツールに
組み込まれている加熱用ヒータによってベアチップを加
熱することにより、ベアチップをプリント基板にボンデ
ィングするようになされている。In this flip chip bonder, when mounting a bare chip on a printed circuit board, the user operates a tilt mechanism to adjust the parallelism of the bonding tool to the printed circuit board in advance. After the bare chip is attracted to the bonding tool, the flip chip bonder presses the bare chip to a predetermined position on the printed circuit board via the tilting mechanism and the bonding tool by a pressing operation of the tool control mechanism. In this state, the flip chip bonder bonds the bare chip to the printed circuit board by heating the bare chip with a heater for heating incorporated in a bonding tool.
【0004】図10は、従来のあおり機構部1の構成を
示す。このあおり機構部1の上面1Aには、ツール制御
機構部(図示せず)が設けられると共に、その下面1B
には、加熱用のヒータを収納するヒータ部2を介して、
ベアチップを吸着するボンディングツール3が設けられ
ている。FIG. 10 shows the structure of a conventional swing mechanism 1. A tool control mechanism (not shown) is provided on an upper surface 1A of the tilt mechanism 1, and a lower surface 1B thereof is provided.
Through a heater unit 2 that houses a heater for heating.
A bonding tool 3 for sucking bare chips is provided.
【0005】あおり機構部1は、図中X方向の平行度を
調整する第1のあおり部5と、図中Y方向の平行度を調
整する第2のあおり部6とから構成され、その上面1A
はツール制御機構部(図示せず)によって固定されてい
る。第1のあおり部5には、貫通孔7が図中Y方向に穿
設されると共に、当該貫通孔7に連接するように所定の
幅でなるスリット8が欠切されている。さらに第1のあ
おり部5の端部には、スリット8に連接するように凹部
9がくさび10の形状に応じて欠切されている。あおり
調整ねじ11は、第1のあおり部5に穿設されているね
じ孔(図示せず)と、くさび10に穿設されているねじ
孔12とにねじ込まれるようになされている。ユーザ
は、このあおり調整ねじ11を回動させることにより、
くさび10を図中a方向又はa′方向に摺動させるよう
になされている。The tilt mechanism 1 comprises a first tilt portion 5 for adjusting the parallelism in the X direction in the drawing and a second tilt portion 6 for adjusting the parallelism in the Y direction in the drawing. 1A
Is fixed by a tool control mechanism (not shown). A through hole 7 is formed in the first tilting portion 5 in the Y direction in the figure, and a slit 8 having a predetermined width is cut off so as to be connected to the through hole 7. Further, a concave portion 9 is cut off at an end of the first tilt portion 5 so as to be connected to the slit 8 according to the shape of the wedge 10. The tilt adjusting screw 11 is screwed into a screw hole (not shown) formed in the first tilt portion 5 and a screw hole 12 formed in the wedge 10. The user rotates the tilt adjustment screw 11 to
The wedge 10 is slid in the direction a or a 'in the figure.
【0006】同様にして、第2のあおり部6には、貫通
孔15が図中X方向に穿設されると共に、当該貫通孔1
5に連接するように所定の幅でなるスリット16が欠切
されている。さらに第2のあおり部6の端部には、スリ
ット16に連接するように凹部17がくさび18の形状
に応じて欠切されている。あおり調整ねじ19は、第2
のあおり部6に穿設されているねじ孔(図示せず)と、
くさび18に穿設されているねじ孔20とにねじ込まれ
るようになされている。ユーザは、このあおり調整ねじ
19を回動させることにより、くさび20を図中b方向
又はb′方向に摺動させるようになされている。Similarly, a through hole 15 is formed in the second swing portion 6 in the X direction in FIG.
The slit 16 having a predetermined width is cut off so as to be connected to the fifth slit 5. Further, a concave portion 17 is cut off at an end of the second tilting portion 6 so as to be connected to the slit 16 according to the shape of the wedge 18. The tilt adjustment screw 19 is
A screw hole (not shown) drilled in the tilt portion 6;
The wedge 18 is screwed into a screw hole 20 formed in the wedge 18. By rotating the tilt adjustment screw 19, the user slides the wedge 20 in the direction b or b 'in the figure.
【0007】ところで図11(A)に示すように、あお
り機構部1においては、くさび10及び18が所定の基
準位置に位置する場合には、その下面1Bが上面1Aに
対して平行になっている。この状態において、ユーザ
は、あおり調整ねじ11を回動させることにより、くさ
び10を図中矢印a方向に摺動させると、スリット8の
幅が徐々に狭くなっていく。これに応じて、あおり機構
部1においては、その下面1Bの一方の端部25が固定
された状態で、他方の端部26が図中矢印c方向に押し
上げられる。As shown in FIG. 11A, when the wedges 10 and 18 are located at predetermined reference positions, the lower surface 1B is parallel to the upper surface 1A. I have. In this state, when the user rotates the tilt adjustment screw 11 to slide the wedge 10 in the direction of the arrow a in the figure, the width of the slit 8 gradually decreases. In response to this, in the tilting mechanism 1, one end 25 of the lower surface 1 </ b> B is fixed, and the other end 26 is pushed up in the direction of arrow c in the figure.
【0008】これに対して、ユーザは、あおり調整ねじ
11を回動させることにより、くさび10を図中矢印
a′方向に摺動させると、スリット8の幅が徐々に広が
っていく。これに応じて、あおり機構部1においては、
その下面1Bの一方の端部25が固定された状態で、他
方の端部26が、図中矢印c′方向に押し下げられる。
このようにしてユーザは、あおり調整ねじ11を回すこ
とにより、あおり機構部1の上面1Aを固定した状態
で、当該上面1Aに対する下面1Bの図中X方向におけ
る傾きを調整し得るようになされている。On the other hand, when the user rotates the tilt adjustment screw 11 to slide the wedge 10 in the direction of the arrow a 'in the figure, the width of the slit 8 gradually increases. Accordingly, in the tilting mechanism 1,
With one end 25 of the lower surface 1B fixed, the other end 26 is pushed down in the direction of arrow c 'in the figure.
In this way, the user can adjust the inclination of the lower surface 1B in the X direction with respect to the upper surface 1A in a state where the upper surface 1A of the tilt mechanism unit 1 is fixed by turning the tilt adjustment screw 11. I have.
【0009】同様に図11(B)に示すように、あおり
機構部1においては、くさび10及び18が所定の基準
位置に位置する場合には、その下面1Bが上面1Aに対
して平行になっている。この状態において、ユーザは、
あおり調整ねじ19を回動させることにより、くさび1
8を図中矢印b方向に摺動させると、スリット16の幅
が徐々に狭くなっていく。これに応じて、あおり機構部
1においては、その下面1Bの一方の端部30が固定さ
れた状態で、他方の端部31が図中矢印d方向に押し上
げられる。Similarly, as shown in FIG. 11B, in the tilting mechanism 1, when the wedges 10 and 18 are located at predetermined reference positions, the lower surface 1B is parallel to the upper surface 1A. ing. In this state, the user
By rotating the tilt adjustment screw 19, the wedge 1
When the slider 8 is slid in the direction of arrow b in the figure, the width of the slit 16 gradually decreases. In response to this, in the tilting mechanism 1, one end 30 of the lower surface 1B is fixed and the other end 31 is pushed up in the direction of arrow d in the figure.
【0010】これに対して、ユーザは、あおり調整ねじ
19を回動させることにより、くさび18を図中矢印
b′方向に摺動させると、スリット16の幅が徐々に広
がっていく。これに応じて、あおり機構部1において
は、その下面1Bの一方の端部30が固定された状態
で、他方の端部31が、図中矢印d′方向に押し下げら
れる。このようにしてユーザは、あおり調整ねじ19を
回すことにより、あおり機構部1の上面1Aを固定した
状態で、当該上面1Aに対する下面1Bの図中Y方向に
おける傾きを調整し得るようになされている。[0010] On the other hand, when the user rotates the tilt adjusting screw 19 to slide the wedge 18 in the direction of the arrow b 'in the figure, the width of the slit 16 gradually increases. In response to this, in the tilting mechanism 1, one end 30 of the lower surface 1 </ b> B is fixed, and the other end 31 is pushed down in the direction of the arrow d ′ in the figure. In this manner, the user can adjust the tilt of the lower surface 1B with respect to the upper surface 1A in the Y direction in the drawing while the upper surface 1A of the tilt mechanism mechanism 1 is fixed by turning the tilt adjustment screw 19. I have.
【0011】[0011]
【発明が解決しようとする課題】ところでかかる構成の
あおり機構部1においては、その構造及び形状が複雑化
することを避け得ず、さらに大きさが大型化、重さが重
量化することを避け得ない問題があった。However, in the tilting mechanism 1 having such a configuration, it is unavoidable that the structure and the shape are complicated, and it is also necessary to avoid the increase in size and weight. There was a problem that could not be obtained.
【0012】また、あおり機構部1は、中心軸35に対
して非対称な形状でなることから、ヒータ部2によって
ベアチップの加熱が行われると、当該ヒータ2の熱が当
該あおり機構部1に伝えられることによってその形状が
変形してしまい、予め調整されていたボンディングツー
ルとプリント基板の平行度がずれて精度が劣化する問題
があった。Further, since the tilt mechanism 1 has an asymmetric shape with respect to the center axis 35, when the bare chip is heated by the heater 2, the heat of the heater 2 is transmitted to the tilt mechanism 1. As a result, the shape is deformed, and the parallelism between the previously adjusted bonding tool and the printed board is deviated, resulting in a problem that accuracy is deteriorated.
【0013】また、あおり機構部1は、中心軸35に対
して非対称な形状であって、かつ圧力が伝えられる部位
と平行度を調整する部位とが一体化されていることか
ら、ツール制御機構部によってベアチップをプリント基
板に繰り返して圧着すると、当該ツール制御機構部から
伝えられた荷重によって、ボンディングツールとプリン
ト基板の平行度がずれて精度が劣化する問題があった。The tilting mechanism 1 has an asymmetrical shape with respect to the central axis 35, and a part for transmitting pressure and a part for adjusting parallelism are integrated with each other. When the bare chip is repeatedly pressed on the printed circuit board by the unit, the parallelism between the bonding tool and the printed circuit board is deviated due to the load transmitted from the tool control mechanism, and accuracy is deteriorated.
【0014】さらに、あおり機構部1は、ツール制御機
構部から圧力が伝えられる経路に、平行度を調整する機
能が設けられていることから、ツール制御機構部から伝
えられた荷重によって平行度の微調整を行うことが困難
であり、またユーザによる作業性が劣化する問題があっ
た。Further, since the tilting mechanism 1 is provided with a function of adjusting the parallelism in the path to which the pressure is transmitted from the tool control mechanism, the parallelism is adjusted by the load transmitted from the tool control mechanism. There is a problem that it is difficult to make fine adjustments and that the workability of the user is deteriorated.
【0015】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、従来に比して一段とチップ部品の位置決めを高精度
に行い得ると共に、チップ部品を基板に接続し得る際の
信頼性を向上し得る平行度調整装置を提案しようとする
ものである。The present invention has been made in view of the above points, and can more accurately position a chip component than before, and improve the reliability when the chip component can be connected to a substrate. It is intended to propose a parallelism adjusting device that can be used.
【0016】[0016]
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、チップ部品を基板の所定位置に実
装及び熱圧着するボンディング装置に設けられ、当該チ
ップ部品を吸着する吸着部の基板に対する平行度を調整
する平行度調整装置において、吸着部が先端部に設けら
れ、当該吸着部の中心を通りかつ吸着部の移動方向に沿
う中心軸に対して対称に応力が生じるように形成された
棒状の軸部材と、軸部材の先端部から所定の距離だけ離
れた位置を支点として揺動自在に支持すると共に、所定
の駆動手段によってチップ部品の圧着方向に移動するよ
うに設けられ、中心軸に対して対称に応力が生じるよう
に形成された支持手段と、支持手段から先端部及び支持
手段間の距離に比して長い距離だけ先端部の反対方向に
離れた位置に、軸部材の傾きを変化させて吸着部の基板
に対する平行度を調整する調整手段とを設けるようにし
た。According to the present invention, there is provided a bonding apparatus for mounting a chip component at a predetermined position on a substrate and thermocompression-bonding the chip component. In the parallelism adjusting device for adjusting the parallelism, the suction unit is provided at the tip end, and is formed so that stress is generated symmetrically with respect to a central axis passing through the center of the suction unit and along the moving direction of the suction unit. A rod-shaped shaft member, which is pivotally supported at a position separated by a predetermined distance from the distal end of the shaft member as a fulcrum, and is provided so as to move in the direction of crimping the chip component by predetermined driving means; A supporting means formed so that stress is generated symmetrically with respect to the shaft, and a shaft which is away from the supporting means by a distance longer than a distance between the tip and the supporting means in a direction opposite to the tip. It was provided and adjustment means for adjusting the parallelism of the substrate adsorption unit by changing the inclination of the timber.
【0017】吸着部の中心を通りかつ当該吸着部の移動
方向に沿う中心軸に対して対称に応力が生じるように形
成された棒状の軸部材の先端部に吸着部を設け、当該中
心軸に対して対称に応力が生じるように形成された支持
手段によって軸部材の先端部から所定の距離だけ離れた
位置を支点として揺動自在に支持し、さらに支持手段か
ら先端部及び支持手段間の距離に比して長い距離だけ先
端部の反対方向に離れた位置に、軸部材の傾きを変化さ
せて吸着部の基板に対する平行度を調整する調整手段と
を設けたことにより、吸着部の基板に対する平行度を微
調整することができると共に、チップ部品をボンディン
グすることによって平行度が変化することを回避するこ
とができる。A suction portion is provided at the tip of a rod-shaped shaft member which is formed so that stress is generated symmetrically with respect to a center axis passing through the center of the suction portion and along the moving direction of the suction portion. The support means is formed so that a stress is generated symmetrically with respect to the shaft member. The support means is pivotally supported at a position distant from the distal end of the shaft member by a predetermined distance as a fulcrum. An adjusting means for changing the inclination of the shaft member to adjust the parallelism of the suction portion to the substrate at a position away from the tip portion by a long distance as compared with the The parallelism can be finely adjusted, and the parallelism can be prevented from being changed by bonding the chip components.
【0018】[0018]
【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施の形態を詳述する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
【0019】図1において、50は全体としてフリップ
チップボンダの構成を示す。このフリップチップボンダ
50は、フリップチップボンダ本体51と、当該フリッ
プチップボンダ本体51を制御する制御部52と、操作
手段としての操作部53と、所定の画像を表示するモニ
タ54とから構成されている。In FIG. 1, reference numeral 50 denotes the configuration of a flip chip bonder as a whole. The flip chip bonder 50 includes a flip chip bonder main body 51, a control section 52 for controlling the flip chip bonder main body 51, an operation section 53 as operation means, and a monitor 54 for displaying a predetermined image. I have.
【0020】以下、フリップチップボンダ本体51の構
成を図2及び図3を参照しながら説明する。フリップチ
ップボンダ本体51では、装置全体を構成する架台55
上にベース56を介してYテーブル57が載置されてい
る。さらにこのYテーブル57には、チップトレイ59
が当該Yテーブル57のガイド(図示せず)によって所
定位置に載置され、モータ58の駆動に応じて図中Y軸
方向に移動し得るようになされている。このチップトレ
イ59には、複数のベアチップ60がそれぞれ所定位置
に置かれており、当該複数のベアチップ60を順次供給
し得るようになされている。Hereinafter, the structure of the flip chip bonder main body 51 will be described with reference to FIGS. In the flip chip bonder main body 51, a frame 55 constituting the entire apparatus is provided.
A Y table 57 is mounted on a base 56 via a base 56. The Y table 57 further has a chip tray 59
Is mounted at a predetermined position by a guide (not shown) of the Y table 57, and can move in the Y-axis direction in the figure according to the driving of the motor 58. A plurality of bare chips 60 are placed at predetermined positions on the chip tray 59, and the plurality of bare chips 60 can be sequentially supplied.
【0021】またベース56上には、Xテーブル65が
載置されている。このXテーブル65には、さらにチッ
プ反転シリンダ66が載置されている。チップ反転シリ
ンダ66の先端部分にはチップ反転アーム67が取り付
けられており、モータ68の駆動に応じて図中X軸方向
に移動し得ると共に、図中矢印h方向に180度回動し
得るようになされている。このチップ反転アーム67の
先端部分には、チップ吸着ノズル(図示せず)が取り付
けられており、チップトレイ59に置かれている複数の
ベアチップ60のうち所望のものを吸着し得るようにな
されている。An X table 65 is placed on the base 56. A chip reversing cylinder 66 is further mounted on the X table 65. A tip reversing arm 67 is attached to a tip portion of the tip reversing cylinder 66 so that the tip reversing arm 67 can move in the X-axis direction in the figure in response to driving of the motor 68 and can rotate 180 degrees in the arrow h direction in the figure. Has been made. A tip suction nozzle (not shown) is attached to a tip portion of the chip reversing arm 67 so that a desired one of the plurality of bare chips 60 placed on the chip tray 59 can be suctioned. I have.
【0022】またベース56上にはサブフレーム70が
植設されると共に、当該サブフレーム70にはリニアガ
イド71を介してツール制御機構部72が取り付けら
れ、図中Z軸方向に移動自在に保持されている。ツール
制御機構部72には、図中Z軸方向にツール回転軸73
及びあおり機構部74を順次介してボンディングツール
75が取り付けられている。A sub-frame 70 is implanted on the base 56, and a tool control mechanism 72 is attached to the sub-frame 70 via a linear guide 71, and is held movably in the Z-axis direction in the drawing. Have been. The tool control mechanism 72 includes a tool rotation shaft 73 in the Z-axis direction in the drawing.
The bonding tool 75 is attached via the swing mechanism 74 in sequence.
【0023】ボンディングツール75は、ベアチップ6
0を吸着するものであり、チップ反転アーム67のチッ
プ吸着ノズルに吸着されているベアチップ60が受け渡
されるようになされている。またボンディングツール7
5は、ツール制御機構部72の制御に基づいて、ツール
回転軸73の駆動に応じて回動し得ると共に、モータ7
6の駆動に応じて図中「−Z」軸方向に移動しながら、
ベアチップ60の加圧動作を行うようになされている。
さらにボンディングツール75は、加熱用ヒータが組み
込まれており、ベアチップ60の加熱動作を行い得るよ
うになされている。The bonding tool 75 includes the bare chip 6
0, and the bare chip 60 sucked by the chip suction nozzle of the chip reversing arm 67 is delivered. Also bonding tool 7
5 can rotate in accordance with the driving of the tool rotation shaft 73 based on the control of the tool control mechanism 72, and can rotate the motor 7.
While moving in the "-Z" axis direction in the figure according to the drive of No. 6,
The pressurizing operation of the bare chip 60 is performed.
Further, the bonding tool 75 has a built-in heater for heating the bare chip 60.
【0024】ところで、あおり機構部74は、ユーザの
操作に応じてボンディングツール75に吸着されている
ベアチップ60の平行度を調整するようになされてい
る。またツール制御機構部72にはカメラ77が取り付
けられ、ボンディングツール75に吸着されているベア
チップ60のボンディング先を撮像するようになされて
いる。The tilt mechanism 74 adjusts the parallelism of the bare chip 60 sucked by the bonding tool 75 in accordance with a user operation. Further, a camera 77 is attached to the tool control mechanism 72 so as to capture an image of the bonding destination of the bare chip 60 sucked by the bonding tool 75.
【0025】さらにベース56上にはXYテーブル80
が載置されている。このXYテーブル80上には、プリ
ント基板81が当該XYテーブル80のガイド(図示せ
ず)によって所定位置に載置され、モータ82及び83
の駆動に応じて図中XY方向に移動し得るようになされ
ている。これによりボンディングツール75に吸着され
ているベアチップ60は、プリント基板81の所定の位
置に搭載される。またXYテーブル80には、カメラ8
4が取り付けられており、ボンディングツール75に吸
着されているベアチップ60を撮像するようになされて
いる。Further, an XY table 80 is provided on the base 56.
Is placed. On the XY table 80, a printed circuit board 81 is placed at a predetermined position by a guide (not shown) of the XY table 80, and motors 82 and 83 are provided.
Can be moved in the XY directions in FIG. As a result, the bare chip 60 sucked by the bonding tool 75 is mounted at a predetermined position on the printed circuit board 81. The XY table 80 has a camera 8
4 is attached, and an image of the bare chip 60 sucked by the bonding tool 75 is taken.
【0026】ここであおり機構部74の具体的な構成を
図4及び図5を用いて説明する。あおり機構部74で
は、円筒状に形成されたツールケース100の一方の端
部に、下面部材100Aが接合されており、当該下面部
材100Aに、球状の球面軸受101を介して棒状のロ
ッド102がツールケース100の中心軸上に沿って揺
動自在に支持されている。Here, the specific structure of the tilt mechanism 74 will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG. In the swing mechanism 74, a lower surface member 100A is joined to one end of a cylindrical tool case 100, and a rod-like rod 102 is attached to the lower surface member 100A via a spherical spherical bearing 101. It is swingably supported along the center axis of the tool case 100.
【0027】これに対して、ツールケース100の他方
の端部付近には、上述の中心軸に対してラジアル方向
に、屋根型形状に形成されたブロック103及び104
が、ロッド102に当接しながら、当該ロッド102を
中心とした対称位置に配置されている。さらに各ブロッ
ク103及び104にはマイクロメータ105及び10
6がそれぞれ取り付けられている。On the other hand, in the vicinity of the other end of the tool case 100, blocks 103 and 104 formed in a roof shape in a radial direction with respect to the above-mentioned central axis.
Are arranged at symmetrical positions around the rod 102 while contacting the rod 102. Further, micrometers 105 and 10 are provided in each block 103 and 104.
6 are attached respectively.
【0028】また、各マイクロメータ105及び106
を通る直線に対して直交する方向に、屋根型形状に形成
されたブロック107及び108(図示せず)が、ロッ
ド102に当接しながら、当該ロッド102を中心とし
た対称位置に配置されている。さらに各ブロック107
及び108にはマイクロメータ109及び110がそれ
ぞれ取り付けられている。Further, each of the micrometers 105 and 106
The blocks 107 and 108 (not shown) formed in a roof shape are arranged at symmetrical positions around the rod 102 while abutting on the rod 102 in a direction orthogonal to a straight line passing through. . Further, each block 107
And 108 are provided with micrometers 109 and 110, respectively.
【0029】このようにロッド102は、各マイクロメ
ータ105及び106並びに109及び110の先端部
に取り付けられたブロック103及び104並びに10
7及び108によって4方向から挟み込まれ、回転でき
ないように固定されている。As described above, the rod 102 is connected to the blocks 103, 104, and 10 attached to the tips of the micrometers 105, 106, 109, and 110.
It is sandwiched from four directions by 7 and 108 and is fixed so that it cannot rotate.
【0030】各マイクロメータ105及び106並びに
109及び110は、つまみ部105A及び106A並
びに109A及び110Aと、ブロック103及び10
4並びに107及び108に取り付けられている軸部1
05B及び106B並びに109B及び110Bとをそ
れぞれ有している。これにより各マイクロメータ105
及び106並びに109及び110においては、ユーザ
がつまみ部105A及び106A並びに109A及び1
10Aを回すと、軸部105B及び106B並びに10
9B及び110Bが、当該マイクロメータ105及び1
06並びに109及び110の中心軸に沿ってそれぞれ
直線的に移動するようになされている。このように各マ
イクロメータ105及び106並びに109及び110
においては、軸部105B及び106B並びに109B
及び110Bが回動することを防止する構造になってお
り、ユーザがつまみ部105A及び106A並びに10
9A及び110Aを回すことに応じて直線的に移動する
ねじ送り機構を有している。Each of the micrometers 105 and 106 and 109 and 110 is provided with knobs 105A and 106A and 109A and 110A, and blocks 103 and 10A.
4 and shaft 1 attached to 107 and 108
05B and 106B, and 109B and 110B, respectively. Thereby, each micrometer 105
And 106 and 109 and 110, the user operates the knobs 105A and 106A and 109A and 1
By turning 10A, the shaft portions 105B and 106B and 10
9B and 110B are the micrometer 105 and 1
06 and 109 and 110 are respectively moved linearly along the central axis. Thus, each micrometer 105 and 106 and 109 and 110
, The shaft portions 105B and 106B and 109B
And 110B are prevented from rotating, and the user can use the knobs 105A and 106A and 10A.
It has a screw feed mechanism that moves linearly in response to turning 9A and 110A.
【0031】また、ツールケース100から球面軸受1
01を介して突出しているロッド102の先端部には、
上述のボンディングツール75が取り付けられている。
この場合、ボンディングツール75の取り付け位置から
球面軸受101及びロッド102の連結位置までの距離
Xは、ブロック103及び104並びに107及び10
8がロッド102に当接している位置から球面軸受10
1及びロッド102の連結位置までの距離Yに比して短
くなるように設定されている。Further, the spherical bearing 1 is removed from the tool case 100.
01 at the tip of the rod 102 projecting through
The bonding tool 75 described above is attached.
In this case, the distance X from the mounting position of the bonding tool 75 to the connecting position of the spherical bearing 101 and the rod 102 is equal to blocks 103 and 104 and 107 and 10.
8 comes into contact with the rod 102 from the spherical bearing 10
It is set to be shorter than the distance Y to the connecting position of the rod 1 and the rod 102.
【0032】ここで図6において、ボンディングツール
75のプリント基板81(図1)に対する平行度を調整
するときのあおり機構部74の各部の動きを説明する。
ロッド102は、各ブロック103及び104並びに1
07及び108によって4方向から挟み込まれ、ツール
ケース100の中心軸に固定されている。この状態にお
いて、ユーザがマイクロメータ105及び106のつま
み部105A及び106Aをそれぞれ所定の異なる方向
に回すと、マイクロメータ105の軸部105Bが図中
矢印m方向に伸びると共に、マイクロメータ106の軸
部106Bが図中矢印m方向に縮まる。Referring to FIG. 6, the movement of each part of the swing mechanism 74 when adjusting the parallelism of the bonding tool 75 to the printed circuit board 81 (FIG. 1) will be described.
The rod 102 is connected to each of the blocks 103 and 104 and 1
It is sandwiched from four directions by 07 and 108 and is fixed to the central axis of the tool case 100. In this state, when the user turns the knobs 105A and 106A of the micrometers 105 and 106 in predetermined different directions, the shaft 105B of the micrometer 105 extends in the direction indicated by the arrow m in FIG. 106B contracts in the direction of arrow m in the figure.
【0033】従って、マイクロメータ105の軸部10
5Bに取り付けられたブロック103は図中矢印m方向
に移動すると共に、マイクロメータ106の軸部106
Bに取り付けられたブロック104は図中矢印m方向に
移動する。これによりロッド102は、ブロック103
及び104が図中矢印m方向に移動することに連動して
当該ブロック103及び104に当接しながら、ロッド
102とブロック103及び104の接触部分102R
及び102Lが円弧を描くように徐々に傾いていく。一
方、マイクロメータ109及び110を通る直線方向に
ついては、ロッド102は、ブロック107及び108
によって固定されており、図中m方向に傾くことに応じ
てブロック107及び108を摺動する。Therefore, the shaft 10 of the micrometer 105
5B moves in the direction of arrow m in FIG.
The block 104 attached to B moves in the direction of arrow m in the figure. As a result, the rod 102 is
And 104 contact the blocks 103 and 104 in conjunction with the movement of the rods 102 and 104 in the direction of the arrow m in FIG.
And 102L gradually incline so as to draw an arc. On the other hand, in the linear direction passing through the micrometers 109 and 110, the rod 102
And slides the blocks 107 and 108 in accordance with the inclination in the direction m in the figure.
【0034】このようにユーザは、マイクロメータ10
5及び106のつまみ部105A及び106Aを回す
と、ロッド102の傾きがマイクロメータ105及び1
06を通る直線方向について変化することから、当該ロ
ッド102に取り付けられたボンディングツール75が
プリント基板81(図1)に対して平行になるように調
整することができる。As described above, the user can use the micrometer 10
By turning the knobs 105A and 106A of the rods 5 and 106, the inclination of the rod 102 becomes
Since it changes in the straight line direction passing through 06, it can be adjusted so that the bonding tool 75 attached to the rod 102 is parallel to the printed circuit board 81 (FIG. 1).
【0035】これに対して、ユーザがマイクロメータ1
09及び110を回すと、ロッド102の傾きがマイク
ロメータ109及び110を通る直線方向(すなわちマ
イクロメータ105及び106を通る直線に対して直交
する方向)について変化することから、当該ロッド10
2に取り付けられたボンディングツール75がプリント
基板81(図1)に対して平行になるように調整するこ
とができる。On the other hand, when the user
When turning 09 and 110, the inclination of the rod 102 changes in the direction of a straight line passing through the micrometers 109 and 110 (ie, the direction orthogonal to the straight line passing through the micrometers 105 and 106).
2 can be adjusted so that the bonding tool 75 attached thereto is parallel to the printed circuit board 81 (FIG. 1).
【0036】このようにしてロッド102は、球面軸受
101を旋回支点として揺動自在に取り付けられている
ことから、マイクロメータ105及び106並びに10
9及び110の伸縮動作に連動して、ロッド102に取
り付けられたボンディングツール75のプリント基板8
1(図1)に対する平行度を調整し得るようになされて
いる。Since the rod 102 is swingably mounted on the spherical bearing 101 as a fulcrum, the micrometers 105, 106 and 10
The printed circuit board 8 of the bonding tool 75 attached to the rod 102 in conjunction with the expansion and contraction operation of 9 and 110
1 (FIG. 1) can be adjusted.
【0037】因みに、実際にボンディングツール75の
平行度を調整する範囲は、「±1」度以内である。この
ため、ロッド102が各ブロック103及び104並び
に107及び108を摺動する滑り量は、非常に小さ
く、ロッド102は、摩擦抵抗の影響を受けずに揺動す
ることができる。Incidentally, the range in which the parallelism of the bonding tool 75 is actually adjusted is within “± 1” degrees. Therefore, the sliding amount of the rod 102 sliding on each of the blocks 103 and 104 and 107 and 108 is very small, and the rod 102 can swing without being affected by the frictional resistance.
【0038】ところで、このあおり機構部74では、ボ
ンディングツール75のプリント基板81(図1)に対
する平行度を確認するものとして、圧力を色に変換して
表示する感圧紙120を用いている。感圧紙120は、
ボンディングツール75とプリント基板81との間に挿
入されるようにプリント基板81に敷設され、加えられ
た圧力の大きさに応じて色の濃淡が変化するものであ
り、圧力が大きい場合には濃い色が表示され、圧力が小
さい場合には淡い色が表示される。従ってユーザは、感
圧紙120の色の濃淡によってボンディングツール75
のプリント基板81に対する平行度を知ることができ
る。In the tilting mechanism 74, a pressure-sensitive paper 120 for converting pressure into a color and displaying the converted color is used to check the parallelism of the bonding tool 75 with the printed circuit board 81 (FIG. 1). The pressure-sensitive paper 120 is
The printed circuit board 81 is laid on the printed circuit board 81 so as to be inserted between the bonding tool 75 and the printed circuit board 81, and the density of the color changes in accordance with the magnitude of the applied pressure. A color is displayed, and a light color is displayed when the pressure is small. Therefore, the user can change the color of the pressure-sensitive paper 120 by using the bonding tool 75.
Of the printed circuit board 81 can be known.
【0039】感圧紙120では、図7(A)に示すよう
に、端部120A及び120Bによって挟まれている領
域の色が濃い場合には、この領域付近に加えられている
圧力が高いことを表している。従ってユーザは、マイク
ロメータ105及び106を図中「−X」方向に移動さ
せることにより、ボンディングツール75のうち、感圧
紙120の端部120A及び120Bによって挟まれて
いる領域に対応する部分が、プリント基板81から遠ざ
かるように当該ボンディングツール75の傾きを調整す
る。In the pressure-sensitive paper 120, as shown in FIG. 7A, when the color of the region sandwiched between the ends 120A and 120B is dark, it is determined that the pressure applied near this region is high. Represents. Therefore, the user moves the micrometers 105 and 106 in the “−X” direction in the drawing, so that the portion of the bonding tool 75 corresponding to the region sandwiched between the ends 120A and 120B of the pressure-sensitive paper 120 becomes The inclination of the bonding tool 75 is adjusted so as to move away from the printed board 81.
【0040】また感圧紙120では、図7(B)に示す
ように、端部120D付近の領域の色が濃い場合には、
この領域に加えられている圧力が高いことを表してい
る。従ってユーザは、マイクロメータ105及び106
を図中「+X」方向に移動させると共にマイクロメータ
109及び110を「−Y」方向に移動させることによ
り、ボンディングツール75のうち、感圧紙120の端
部120D付近の領域に対応する部分が、プリント基板
81から遠ざかるように当該ボンディングツール75の
傾きを調整する。In the pressure-sensitive paper 120, as shown in FIG. 7B, when the color near the end 120D is dark,
This indicates that the pressure applied to this region is high. Therefore, the user can use the micrometers 105 and 106
Is moved in the “+ X” direction in the figure and the micrometers 109 and 110 are moved in the “−Y” direction, so that the portion of the bonding tool 75 corresponding to the area near the end 120D of the pressure-sensitive paper 120 is The inclination of the bonding tool 75 is adjusted so as to move away from the printed board 81.
【0041】そしてユーザは、図7(C)に示すよう
に、図7(A)及び図7(B)に示す状態から、感圧紙
120が均一な色を表示するまで、すなわち加えられる
圧力が均一になるまでボンディングツール75の傾きを
調整する。Then, as shown in FIG. 7 (C), the user changes from the state shown in FIGS. 7 (A) and 7 (B) until the pressure-sensitive paper 120 displays a uniform color, that is, the applied pressure is The inclination of the bonding tool 75 is adjusted until it becomes uniform.
【0042】図8は、フリップチップボンダ50の回路
構成を示す。フリップチップボンダ50は、フリップチ
ップボンダ本体51と、当該フリップチップボンダ本体
51を制御する制御部52と、操作手段としての操作部
53と、カメラ77及び84と、当該カメラ77及び8
4によって撮影された画像を表示するモニタ54とから
構成されている。FIG. 8 shows a circuit configuration of the flip chip bonder 50. The flip chip bonder 50 includes a flip chip bonder main body 51, a control unit 52 for controlling the flip chip bonder main body 51, an operation unit 53 as operation means, cameras 77 and 84, and cameras 77 and 8
And a monitor 54 for displaying an image taken by the camera 4.
【0043】操作部53は、入力機器及び表示機器等か
ら構成されている。操作部53は、ユーザの入力操作に
応じて、フリップチップボンダ本体51を手動又は自動
いずれの方法で動作させるかを示す動作モード指定情報
S1や、ベアチップ60をプリント基板81にボンディ
ングする際の温度、圧力及び時間を示す熱圧着条件情報
S2や、ベアチップ60の形状及びプリント基板81に
対する実装位置を示す機種データ情報S3を制御部52
に送出する。The operation unit 53 includes an input device, a display device, and the like. The operation unit 53 includes operation mode designation information S1 indicating whether the flip chip bonder main body 51 is to be operated manually or automatically according to a user's input operation, and a temperature at which the bare chip 60 is bonded to the printed circuit board 81. , Pressure and time, and thermo-compression condition information S2 indicating the shape and the mounting position of the bare chip 60 on the printed circuit board 81.
To send to.
【0044】制御部52は、電源、制御機器、モータド
ライバ、温度調節装置、画像処理装置等から構成されて
おり、操作部53から入力された動作モード指定情報S
1、熱圧着条件情報S2及び機種データ情報S3に対し
て所定のデータ処理を施し、その結果得た動作指令情報
S4及び加熱電力S5をフリップチップボンダ本体51
に送出する。The control unit 52 includes a power supply, control equipment, a motor driver, a temperature control device, an image processing device, and the like. The operation mode designation information S input from the operation unit 53 is provided.
1. Predetermined data processing is performed on the thermocompression condition information S2 and the model data information S3, and the resulting operation command information S4 and heating power S5 are transferred to the flip chip bonder body 51.
To send to.
【0045】フリップチップボンダ本体51は、XYテ
ーブル80を駆動するモータ82及び83、Xテーブル
65を駆動するモータ68、Yテーブル57を駆動する
モータ58、ボンディングツール75を回転又は上下動
させるモータ76、あおり機構部74、加熱用ヒータ等
から構成されており、制御部52から供給される動作指
令情報S4及び加熱電力S5に基づいて動作するように
なされている。The flip chip bonder body 51 includes motors 82 and 83 for driving an XY table 80, a motor 68 for driving an X table 65, a motor 58 for driving a Y table 57, and a motor 76 for rotating or vertically moving a bonding tool 75. , A swing mechanism 74, a heater for heating, and the like, and operate based on operation command information S4 and heating power S5 supplied from the controller 52.
【0046】フリップチップボンダ本体51は、動作指
令情報S4及び加熱電力S5に応じて動作したときの各
部の位置情報S6や、ベアチップ60をプリント基板8
1にボンディングする際の温度及び圧力を示すデータ情
報S7を生成し、これらを制御部52に送出する。制御
部52は、位置情報S6やデータ情報S7を基に、ボン
ディング時の温度及び圧力や、電源及び異常の状態を表
示する表示情報S8を生成し、これを操作部53に送出
して、当該操作部53の出力機器に表示させる。The flip chip bonder main body 51 transfers the position information S6 of each part when operating according to the operation command information S4 and the heating power S5 and the bare chip 60 to the printed circuit board 8.
Data information S7 indicating the temperature and pressure at the time of bonding to No. 1 is generated and sent to the control unit 52. The control unit 52 generates display information S8 indicating the temperature and pressure during bonding, the power supply, and the state of the abnormality based on the position information S6 and the data information S7, and sends out the display information S8 to the operation unit 53. It is displayed on the output device of the operation unit 53.
【0047】また、カメラは、プリント基板81におけ
るベアチップ60の搭載位置を認識する基板認識カメラ
としてのカメラ77と、ベアチップ60の位置を認識す
るチップ認識カメラとしてのカメラ84とから構成され
ている。これらカメラ77及び84によって撮影された
画像情報S9は、制御部52に送出される。制御部52
は、この画像情報S9に対して所定のデータ処理を施す
ことにより画像処理結果情報S10を生成し、これを表
示パネルを有するモニタ54に出力して表示させる。The camera is composed of a camera 77 as a board recognition camera for recognizing the mounting position of the bare chip 60 on the printed circuit board 81 and a camera 84 as a chip recognition camera for recognizing the position of the bare chip 60. Image information S9 captured by these cameras 77 and 84 is sent to the control unit 52. Control unit 52
Performs predetermined data processing on the image information S9 to generate image processing result information S10, and outputs and displays the image processing result information on a monitor 54 having a display panel.
【0048】ここでフリップチップボンダ50によるボ
ンディング手順について図9に示すフローチヤートを用
いて説明する。まずステップSP1から入ったステップ
SP2において、ユーザは、プリント基板81をXYテ
ーブル80の所定位置に載置する。ステップSP3にお
いて、ユーザは、あおり機構部74を操作することによ
りボンディングツール75がプリント基板81に対して
平行になるように調整する。ステップSP4において、
ユーザは、Yテーブル57の所定位置にチップトレイ5
9を載置する。Here, the bonding procedure using the flip chip bonder 50 will be described with reference to the flowchart shown in FIG. First, in step SP2 entered from step SP1, the user places the printed circuit board 81 at a predetermined position on the XY table 80. In step SP <b> 3, the user operates the tilt mechanism 74 to adjust the bonding tool 75 so as to be parallel to the printed circuit board 81. In step SP4,
The user places the chip tray 5 at a predetermined position on the Y table 57.
9 is placed.
【0049】ステップSP5において、チップ反転アー
ム67は、その先端部分に取り付けられているチップ吸
着ノズルによって、チップトレイ59に置かれている複
数のベアチップ60のうち所望のものを吸着する。ステ
ップSP6において、チップ反転アーム67は、180
度回転する(図2)。ステップSP7において、チップ
反転アーム67は、チップ吸着ノズルからベアチップ6
0をボンディングツール75に受け渡す。In step SP5, the chip reversing arm 67 sucks a desired one of the plurality of bare chips 60 placed on the chip tray 59 by the chip suction nozzle attached to the tip thereof. In step SP6, the chip reversing arm 67
(Figure 2). In step SP7, the chip reversing arm 67 moves the bare chip 6 from the chip suction nozzle.
0 is transferred to the bonding tool 75.
【0050】ステップSP8において、カメラ77は、
プリント基板81を撮像し、その画像から当該プリント
基板81のチップ搭載位置を認識する。ステップSP9
において、カメラ84は、ベアチップ60を撮像し、そ
の画像から当該ベアチップ60の位置を認識する。In step SP8, the camera 77
The printed circuit board 81 is imaged, and the chip mounting position of the printed circuit board 81 is recognized from the image. Step SP9
In, the camera 84 captures an image of the bare chip 60 and recognizes the position of the bare chip 60 from the image.
【0051】ステップSP10において、制御部52
は、カメラ77及び84から供給された画像情報を基
に、ツール回転軸73の回転角度及びXYテーブル80
の位置を演算し、その演算結果に応じてツール制御機構
部72並びにモータ82及び83を駆動することによ
り、ツール回転軸73の回転角度及びXYテーブル80
の位置を補正する。In step SP10, the control unit 52
Are the rotation angle of the tool rotation shaft 73 and the XY table 80 based on the image information supplied from the cameras 77 and 84.
Is calculated, and the tool control mechanism 72 and the motors 82 and 83 are driven in accordance with the calculation result, so that the rotation angle of the tool rotation shaft 73 and the XY table 80 are calculated.
Correct the position of.
【0052】ステップSP11において、制御部52
は、モータ76を駆動することによりボンディングツー
ル75を下降させ、ベアチップ60をプリント基板81
に搭載させる。ステップSP12において、制御部52
は、ツール制御機構部72によってベアチップ60を加
圧する。ステップSP13において、制御部52は、ボ
ンディングツール75に組み込まれている加熱用ヒータ
によってベアチップ60を加熱する。次にステップSP
14に移って処理を終了する。In step SP11, the control unit 52
Lowers the bonding tool 75 by driving the motor 76 to move the bare chip 60 to the printed circuit board 81.
To be mounted. In step SP12, the control unit 52
Presses the bare chip 60 by the tool control mechanism 72. In step SP13, the control unit 52 heats the bare chip 60 by the heater for heating incorporated in the bonding tool 75. Next, step SP
The process proceeds to 14 and ends.
【0053】以上の構成において、あおり機構部74で
は、中心軸に対して対称形状でなるツールケース100
の下面部材100Aに、球面軸受101を旋回支点とし
てロッド102がツールケース100の中心軸上に揺動
自在に支持される。また、ツールケース100から球面
軸受101を介して突出するロッド102の先端部に
は、ベアチップ60を吸着するボンディングツール75
が取り付けられている。In the above structure, the tilting mechanism 74 has a tool case 100 symmetrical with respect to the center axis.
The rod 102 is swingably supported on the central axis of the tool case 100 with the spherical bearing 101 as a fulcrum. Further, a bonding tool 75 for attracting the bare chip 60 is attached to the tip of a rod 102 projecting from the tool case 100 via the spherical bearing 101.
Is attached.
【0054】さらにロッド102には、球面軸受101
との連結位置からボンディングツール75が取り付けら
れた位置までの距離に比して長い距離だけ離れた位置
に、中心軸に対してラジアル方向に、ブロック103及
び104をそれぞれ介してマイクロメータ105及び1
06が、当該ロッド102を中心とした対称位置にそれ
ぞれ配置されている。さらにこれらマイクロメータ10
5及び106を通る直線に対して直交する方向に、ブロ
ック107及び108をそれぞれ介してマイクロメータ
109及び110が、当該ロッド102を中心とした対
称位置にそれぞれ配置されている。Further, the spherical bearing 101 is attached to the rod 102.
At a distance longer than the distance from the connection position with the bonding tool 75 to the position where the bonding tool 75 is attached, radially with respect to the central axis, via the blocks 103 and 104, the micrometers 105 and 1 respectively.
Reference numerals 06 are arranged at symmetrical positions around the rod 102. Furthermore, these micrometer 10
Micrometers 109 and 110 are arranged at positions symmetrical about the rod 102 in the direction orthogonal to the straight line passing through the rods 5 and 106 via the blocks 107 and 108, respectively.
【0055】この状態において、ユーザがマイクロメー
タ105及び106並びに109及び110のつまみ部
105A及び106A並びに109A及び110Aを回
すと、軸部105B及び106B並びに109B及び1
10Bが伸縮することにより、マイクロメータ105及
び106並びに109及び110が伸縮する。このマイ
クロメータ105及び106並びに109及び110の
伸縮動作に応じてロッド102の傾きが変化し、当該ロ
ッド102に取り付けられたボンディングツール75が
プリント基板81に対して平行になるように調整され
る。In this state, when the user turns the knobs 105A and 106A and 109A and 110A of the micrometers 105 and 106 and 109 and 110, the shafts 105B and 106B and 109B and 1
When 10B expands and contracts, the micrometers 105 and 106 and 109 and 110 expand and contract. The inclination of the rod 102 changes in accordance with the expansion and contraction of the micrometers 105 and 106 and 109 and 110, and the bonding tool 75 attached to the rod 102 is adjusted so as to be parallel to the printed circuit board 81.
【0056】このようにツールケース100の下面部材
100Aに、球面軸受101を旋回支点としてロッド1
02をツールケース100の中心軸上に揺動自在に取り
付けたことにより、従来のあおり機構部1(図10)に
比して、その構造及び形状を単純化することができ、依
って装置全体を小型化及び軽量化することができる。As described above, the rod 1 is mounted on the lower surface member 100A of the tool case 100 with the spherical bearing 101 as a pivot point.
02 is mounted on the center axis of the tool case 100 so as to be swingable, so that the structure and shape thereof can be simplified as compared with the conventional tilting mechanism 1 (FIG. 10), so that the entire apparatus Can be reduced in size and weight.
【0057】また、マイクロメータ105及び106並
びに109及び110のロッド102に対する作用点か
ら球面軸受101までの距離を、球面軸受101からボ
ンディングツール75までの距離よりも長くしたことに
より、ボンディングツール75がプリント基板81に対
して平行になるような微小量の調整を高精度に行うこと
ができる。Further, by making the distance from the point of action of the micrometers 105 and 106 and 109 and 110 to the rod 102 to the spherical bearing 101 longer than the distance from the spherical bearing 101 to the bonding tool 75, the bonding tool 75 becomes A minute amount of adjustment can be performed with high precision so as to be parallel to the printed circuit board 81.
【0058】また、あおり機構部74は、中心軸に対し
て対称な形状でなることから、ボンディングツール75
に組み込まれた加熱用ヒータによってベアチップ60の
加熱が行われ、これに伴ってロッド102に熱が伝わっ
ても、中心軸方向に熱膨張するだけで中心軸に変形が生
じることはなく、また、球面軸受101に熱が伝わって
も、ロッド102の場合と同様に、中心軸方向に熱膨張
するだけで中心軸に変形が生じることはなく、従ってボ
ンディングツール75の平行度を維持することができ
る。Since the tilting mechanism 74 has a shape symmetrical with respect to the central axis, the bonding tool 75 is formed.
The heating of the bare chip 60 is performed by the heater for heating incorporated in the core 102, and even if heat is transmitted to the rod 102 with this, the central axis does not deform due to thermal expansion only in the central axis direction. Even when heat is transmitted to the spherical bearing 101, the central axis is not thermally deformed only by thermal expansion in the central axis direction as in the case of the rod 102, and therefore, the parallelism of the bonding tool 75 can be maintained. .
【0059】また、ベアチップ60をボンディングする
際に加えられた圧力は、ツールケース100、球面軸受
101及びロッド102を順に経由してボンディングツ
ール75に伝えられる。これらツールケース100、球
面軸受101及びロッド102は、あおり機構部74の
中心軸に対して全て対称な形状でなり、ボンディングツ
ール75についてもあおり機構部74の中心軸上に位置
することから、圧力が加えられても、中心軸を対称にし
て変形するだけであり、従ってボンディングツール75
の平行度を維持することができる。The pressure applied when bonding the bare chip 60 is transmitted to the bonding tool 75 via the tool case 100, the spherical bearing 101 and the rod 102 in this order. The tool case 100, the spherical bearing 101, and the rod 102 are all symmetrical with respect to the center axis of the tilt mechanism 74, and the bonding tool 75 is located on the center axis of the tilt mechanism 74. Is only deformed with the central axis symmetrical, so that the bonding tool 75
Can be maintained.
【0060】また、あおり機構部74では、ツール制御
機構部72から圧力が伝えられる経路に、平行度を調整
するマイクロメータ105及び106並びに109及び
110がないことから、当該マイクロメータ105及び
106並びに109及び110に圧力の影響を及ぼすこ
とはなく、従来のあおり機構部1(図10)に比して平
行度の微調整を精度良く行うことができ、作業性を向上
させることができる。Further, in the swing mechanism 74, since the micrometers 105 and 106 and 109 and 110 for adjusting the parallelism are not provided on the path to which the pressure is transmitted from the tool control mechanism 72, the micrometers 105 and 106 and the There is no influence of the pressure on 109 and 110, and the fine adjustment of the parallelism can be performed with higher precision as compared with the conventional tilting mechanism 1 (FIG. 10), and the workability can be improved.
【0061】以上の構成によれば、ロッド102の先端
部にボンディングツール75を取り付け、当該ボンディ
ングツール75が取り付けられた位置から所定の距離だ
け離れた位置を旋回支点として球面軸受101によって
揺動自在に支持し、さらに旋回支点からボンディングツ
ール75及び球面軸受101間の距離に比して長い距離
だけ離れた位置に、ロッド102に対してラジアル方向
にマイクロメータ105及び106をロッド102を中
心とした対称位置にそれぞれ配置すると共に、当該マイ
クロメータ105及び106を通る直線に対して直交す
る方向に、マイクロメータ109及び110をロッド1
02を中心とした対称位置にそれぞれ配置したことによ
り、ボンディングツール75のプリント基板81に対す
る平行度を微調整することができると共に、ベアチップ
60をボンディングする際に行われる加熱及び加圧動作
によって平行度が変化することを回避することができ、
かくして従来に比して一段とベアチップ60の位置決め
を高精度に行い得ると共に、ベアチップ60をプリント
基板81に接続する際の信頼性を向上し得る。According to the above configuration, the bonding tool 75 is attached to the distal end of the rod 102, and the spherical bearing 101 can swing freely at a position separated by a predetermined distance from the position where the bonding tool 75 is attached as a pivot point. The micrometers 105 and 106 are arranged radially with respect to the rod 102 at a position away from the pivot point by a distance longer than the distance between the bonding tool 75 and the spherical bearing 101 with the rod 102 as the center. The micrometers 109 and 110 are arranged at symmetrical positions, respectively, and the micrometers 109 and 110 are placed in a direction perpendicular to a straight line passing through the micrometers 105 and 106.
By arranging them at symmetrical positions around the center 02, the parallelism of the bonding tool 75 with respect to the printed circuit board 81 can be finely adjusted, and the parallelism can be adjusted by heating and pressing operations performed when bonding the bare chip 60. Can be prevented from changing,
Thus, the positioning of the bare chip 60 can be performed with higher precision than before, and the reliability when the bare chip 60 is connected to the printed circuit board 81 can be improved.
【0062】なお上述の実施の形態においては、ロッド
102を球面軸受101を介してツールケース100の
下面部材100Aに揺動自在に支持した場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、自動調心型の玉軸受
け、又はロッド102とツールケース100を一体化
し、これらロッド102とツールケース100の連結部
分に変形可能な材料を適用しても上述の場合と同様の効
果を得ることができる。In the above-described embodiment, the case where the rod 102 is swingably supported on the lower surface member 100A of the tool case 100 via the spherical bearing 101 has been described, but the present invention is not limited to this, and the present invention is not limited thereto. Even if the aligning type ball bearing or the rod 102 and the tool case 100 are integrated and a deformable material is applied to the connecting portion between the rod 102 and the tool case 100, the same effect as that described above can be obtained. .
【0063】また上述の実施の形態においては、ボンデ
ィングツール75の平行度を調整する手段として、マイ
クロメータ105及び106並びに109及び110を
適用した場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、例えば圧電素子、精密ねじ、モータ及びボールネジ
を組み合わせたものを適用しても上述の場合と同様の効
果を得ることができる。In the above-described embodiment, the case where the micrometers 105 and 106 and 109 and 110 are applied as means for adjusting the parallelism of the bonding tool 75 has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, even when a combination of a piezoelectric element, a precision screw, a motor and a ball screw is applied, the same effect as in the above case can be obtained.
【0064】また上述の実施の形態においては、ロッド
102に対してラジアル方向にマイクロメータ105及
び106をロッド102を中心とした対称位置にそれぞ
れ配置すると共に、当該マイクロメータ105及び10
6を通る直線に対して直交する方向に、マイクロメータ
109及び110をロッド102を中心とした対称位置
にそれぞれ配置した場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、3つのマイクロメータをロッド102を中
心として120度単位に配置し、ロッド102を3方向
から規制しても良い。この場合も、3つのマイクロメー
タをそれぞれ移動させれば、ボンディングツール75の
平行度を調整することができる。In the above-described embodiment, the micrometers 105 and 106 are arranged radially with respect to the rod 102 at symmetrical positions around the rod 102, respectively.
The case where the micrometers 109 and 110 are arranged at symmetrical positions around the rod 102 in the direction orthogonal to the straight line passing through the line 6 has been described. However, the present invention is not limited to this. The rod 102 may be arranged in units of 120 degrees around the center 102 and the rod 102 may be regulated from three directions. Also in this case, the parallelism of the bonding tool 75 can be adjusted by moving each of the three micrometers.
【0065】さらに上述に実施の形態においては、あお
り機構部74を中心軸に対して対称な形状とした場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、あおり機構部
に加えられた熱及び圧力が、ボンディングツール75の
中心を通りかつ当該ボンディングツール75の移動方向
に沿う中心軸に対して対称に伝わるような設計が施され
ていれば、必ずしも形状的に対称である必要はない。す
なわち、あおり機構部の中心軸に対して対称に加圧応力
や加熱応力のような他の種々の応力が生じるように形成
すれば良い。Further, in the above-described embodiment, the case where the tilt mechanism 74 is symmetrical with respect to the center axis has been described. However, the present invention is not limited to this, and the heat applied to the tilt mechanism may be reduced. If the pressure is designed to be transmitted symmetrically with respect to a center axis passing through the center of the bonding tool 75 and along the moving direction of the bonding tool 75, the shape need not always be symmetric. That is, it may be formed so that various other stresses such as a pressing stress and a heating stress are generated symmetrically with respect to the center axis of the tilting mechanism.
【0066】[0066]
【発明の効果】上述のように本発明によれば、吸着部の
中心を通りかつ当該吸着部の移動方向に沿う中心軸に対
して対称に応力が生じるように形成された棒状の軸部材
の先端部に吸着部を設け、当該中心軸に対して対称に応
力が生じるように形成された支持手段によって軸部材の
先端部から所定の距離だけ離れた位置を支点として揺動
自在に支持し、さらに支持手段から先端部及び支持手段
間の距離に比して長い距離だけ先端部の反対方向に離れ
た位置に、軸部材の傾きを変化させて吸着部の基板に対
する平行度を調整する調整手段を設けたことにより、吸
着部の基板に対する平行度を微調整することができると
共に、チップ部品をボンディングすることによって平行
度が変化することを回避することができ、かくして従来
に比して一段とチップ部品の位置決めを高精度に行い得
ると共に、チップ部品を基板に接続する際の信頼性を向
上し得る。As described above, according to the present invention, the rod-shaped shaft member is formed so that stress is generated symmetrically with respect to the center axis passing through the center of the suction portion and along the moving direction of the suction portion. A suction portion is provided at the distal end portion, and is supported swingably with a position distant from the distal end portion of the shaft member by a predetermined distance as a fulcrum by supporting means formed so that stress is generated symmetrically with respect to the central axis, Adjusting means for adjusting the degree of parallelism of the suction portion to the substrate by changing the inclination of the shaft member at a position apart from the supporting means by a distance longer than the distance between the tip and the supporting means in a direction opposite to the tip. With this arrangement, the parallelism of the suction portion to the substrate can be finely adjusted, and the parallelism can be prevented from being changed by bonding chip components. With obtaining performs positioning flop component with high accuracy, it can improve the reliability in connecting the chip component to the substrate.
【図1】本発明によるフリップチップボンダの一実施の
形態を示す略線図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of a flip chip bonder according to the present invention.
【図2】フリップチップボンダの構成を示す略線図であ
る。FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a configuration of a flip chip bonder.
【図3】フリップチップボンダの構成を示す略線図であ
る。FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a configuration of a flip chip bonder.
【図4】あおり機構部の構成を示す略線図である。FIG. 4 is a schematic diagram illustrating a configuration of a tilt mechanism unit.
【図5】あおり機構部の構成を示す略線図である。FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a configuration of a tilt mechanism unit.
【図6】あおり機構部の動作を示す略線図である。FIG. 6 is a schematic diagram illustrating an operation of a tilt mechanism unit.
【図7】感圧紙による平行度調整を示す略線図である。FIG. 7 is a schematic diagram illustrating parallelism adjustment using pressure-sensitive paper.
【図8】フリップチップボンダの回路構成を示すブロッ
ク図である。FIG. 8 is a block diagram showing a circuit configuration of a flip chip bonder.
【図9】フリップチップボンダによるボンディング手順
を示すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart showing a bonding procedure using a flip chip bonder.
【図10】従来のあおり機構部の構成を示す略線図であ
る。FIG. 10 is a schematic diagram illustrating a configuration of a conventional swing mechanism unit.
【図11】従来のあおり機構部の構成を示す略線図であ
る。FIG. 11 is a schematic diagram illustrating a configuration of a conventional swing mechanism unit.
50……フリップチップボンダ、51……フリップチッ
プボンダ本体、、60……ベアチップ、72……ツール
制御機構部、73……ツール回転軸、74……あおり機
構部、75……ボンディングツール、81……プリント
基板、100……ツールケース、101……球面軸受、
102……ロッド、103、104、107、108…
…ブロック、105、106、109、110……マイ
クロメータ。50 Flip chip bonder, 51 Flip chip bonder body, 60 Bare chip, 72 Tool control mechanism, 73 Tool rotation axis, 74 Tilt mechanism, 75 Bonding tool, 81 …… Printed circuit board, 100 …… Tool case, 101 …… Spherical bearing,
102 ... rod, 103, 104, 107, 108 ...
... Block, 105, 106, 109, 110...
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山内 学 東京都品川区北品川6丁目7番35号ソニー 株式会社内 (72)発明者 獺庭 和正 東京都品川区北品川6丁目7番35号ソニー 株式会社内 Fターム(参考) 2F062 AA03 AA80 AA81 BB14 BC28 CC22 CC26 EE09 EE15 EE22 EE65 FF14 GG09 GG45 GG46 GG71 LL19 LL20 2F069 AA03 AA83 BB15 CC06 DD25 DD27 GG04 GG07 GG22 GG52 GG62 HH24 JJ14 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing from the front page (72) Inventor Manabu Manabu 6-7-35 Kita-Shinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Sony Inside (72) Inventor Kazumasa Dasiwa 6-35-35 Kita-Shinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Sony Corporation F-term (reference) 2F062 AA03 AA80 AA81 BB14 BC28 CC22 CC26 EE09 EE15 EE22 EE65 FF14 GG09 GG45 GG46 GG71 LL19 LL20 2F069 AA03 AA83 BB15 CC06 DD25 DD27 GG04 GG07 GG22 GG24GG24
Claims (3)
圧着するボンディング装置に設けられ、当該チップ部品
を吸着する吸着部の上記基板に対する平行度を調整する
平行度調整装置において、 上記吸着部が先端部に設けられ、当該吸着部の中心を通
りかつ吸着部の移動方向に沿う中心軸に対して対称に応
力が生じるように形成された棒状の軸部材と、 上記軸部材の上記先端部から所定の距離だけ離れた位置
を支点として揺動自在に支持すると共に、所定の駆動手
段によって上記チップ部品の圧着方向に移動するように
設けられ、上記中心軸に対して対称に応力が生じるよう
に形成された支持手段と、 上記支持手段から上記先端部及び上記支持手段間の距離
に比して長い距離だけ上記先端部の反対方向に離れた位
置に、上記軸部材の傾きを変化させて上記吸着部の上記
基板に対する平行度を調整する調整手段とを具えること
を特徴とする平行度調整装置。1. A parallelism adjusting device provided in a bonding device for mounting and thermocompression bonding a chip component at a predetermined position on a substrate, and adjusting a parallelism of the suction portion for suctioning the chip component to the substrate. A rod-shaped shaft member that is provided at a tip portion and is formed so that stress is generated symmetrically with respect to a center axis passing through the center of the suction portion and along the moving direction of the suction portion; and the tip portion of the shaft member. Is provided so as to be swingable about a position distant from the chip component by a predetermined distance, and is moved by a predetermined driving means in the direction of crimping of the chip component, so that stress is generated symmetrically with respect to the central axis. The inclination of the shaft member is set at a position separated from the support means by a distance longer than the distance between the tip and the support in the opposite direction to the tip. By reduction parallelism adjusting apparatus characterized by comprising an adjustment means for adjusting the parallelism with respect to the substrate of the suction unit.
されたことを特徴とする請求項1に記載の平行度調整装
置。2. The parallelism adjusting device according to claim 1, wherein said shaft member and said support means are formed so as to generate heating stress symmetrically with respect to said central axis.
されたことを特徴とする請求項1に記載の平行度調整装
置。3. The parallelism adjusting device according to claim 1, wherein said shaft member and said support means are formed such that a pressing stress is generated symmetrically with respect to said central axis.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10215800A JP2000049199A (en) | 1998-07-30 | 1998-07-30 | Parallelism adjusting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10215800A JP2000049199A (en) | 1998-07-30 | 1998-07-30 | Parallelism adjusting device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000049199A true JP2000049199A (en) | 2000-02-18 |
Family
ID=16678468
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10215800A Pending JP2000049199A (en) | 1998-07-30 | 1998-07-30 | Parallelism adjusting device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000049199A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006324550A (en) * | 2005-05-20 | 2006-11-30 | Sony Corp | Element transfer device, element transfer method and method of manufacturing display device |
KR100979236B1 (en) | 2007-12-13 | 2010-08-31 | 주식회사 탑 엔지니어링 | Method for adjusting parallelism between bonding tool and bonding stage in bonding machine |
-
1998
- 1998-07-30 JP JP10215800A patent/JP2000049199A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006324550A (en) * | 2005-05-20 | 2006-11-30 | Sony Corp | Element transfer device, element transfer method and method of manufacturing display device |
JP4715301B2 (en) * | 2005-05-20 | 2011-07-06 | ソニー株式会社 | Element transfer device, element transfer method, and display device manufacturing method |
KR100979236B1 (en) | 2007-12-13 | 2010-08-31 | 주식회사 탑 엔지니어링 | Method for adjusting parallelism between bonding tool and bonding stage in bonding machine |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4817849A (en) | Method for bonding semiconductor laser element and apparatus therefor | |
JP2001257500A (en) | Chip mounter and aligning method for use therein | |
JP2000049199A (en) | Parallelism adjusting device | |
US20080093416A1 (en) | Wire bonding and wire bonding method | |
JP3962906B2 (en) | Component mounting apparatus and component mounting method | |
JP3305923B2 (en) | Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method | |
JP2004128384A (en) | Component mounting apparatus and component mounting method | |
JP4048896B2 (en) | Bonding equipment | |
KR20220100434A (en) | Flip chip bonder | |
US3747829A (en) | Semiconductor lead bonding machine | |
JPH10303241A (en) | Wire bonder | |
JPH05109808A (en) | Wire bonding method and device thereof | |
WO2021235269A1 (en) | Bonding device and adjustment method for bonding head | |
JP3593636B2 (en) | Parallel seam joining apparatus and parallel seam joining method | |
JPH0494553A (en) | Bonding device | |
JPH0927511A (en) | Wire clamping mechanism and wire bonding device with it | |
JP3747849B2 (en) | Electronic component bonding apparatus and bonding method | |
JP2004320030A (en) | Wire bonder with equipment deciding direction distance between capillary, image recognition system and method therefor | |
JP3673051B2 (en) | Bump forming method and bump bonder | |
JP2629646B2 (en) | Bonding head | |
JP2002009113A (en) | Mount accuracy measuring equipment and mount accuracy measuring method | |
JP3223071B2 (en) | Material piece supply method and material piece manufacturing method | |
JP2947624B2 (en) | Inner lead bonding equipment | |
JP3741578B2 (en) | Crimping device | |
JP2001060309A (en) | Thin-film magnetic head device having shorting part for preventing electrostatic breakdown, formation of this shorting part and device forming this shorting part |