JP2000030531A - Formation of pattern - Google Patents

Formation of pattern

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JP2000030531A
JP2000030531A JP10207191A JP20719198A JP2000030531A JP 2000030531 A JP2000030531 A JP 2000030531A JP 10207191 A JP10207191 A JP 10207191A JP 20719198 A JP20719198 A JP 20719198A JP 2000030531 A JP2000030531 A JP 2000030531A
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JP
Japan
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transfer layer
film
pattern
photomask
transfer
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Application number
JP10207191A
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Japanese (ja)
Inventor
Masayuki Kamiyoshiya
雅之 上美谷
Sukeyuki Nishimura
祐行 西村
Toshikazu Kagami
壽員 各務
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Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pattern formation method for easily forming an electrode pattern of a plasma display panel or the like at high precision. SOLUTION: A transfer layer 33 having at least an inorganic component containing conductive powder and glass frit, and further having an organic component containing a photosensitive resin composition removable at a baking process, is formed on a base film for use as a transfer sheet. In this case, the transfer layer 33 is transferred to a substrate and a photo mask M is laid for the transfer layer 33 under the formation of in-plane irregularities equal to or less than ±50 μm within the range of 50 to 500 μm. Furthermore, the transfer layer 33 is exposed to parallel beams via the photo mask M and then developed for patterning. Thereafter, the pattern is baked to form an electrode pattern.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はパターン形成方法に
係り、特に電極パターンを高い精度で形成するためのパ
ターン形成方法に関する。
The present invention relates to a pattern forming method, and more particularly to a pattern forming method for forming an electrode pattern with high accuracy.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、プラズマディスプレイパネル(P
DP)における電極パターン形成は、層厚やパターンの
精度を高いレベルで維持しながら、低い製造コストで実
施可能なことが要求されている。
2. Description of the Related Art In recent years, plasma display panels (P
It is required that the electrode pattern formation in DP) can be performed at a low manufacturing cost while maintaining a high level of layer thickness and pattern accuracy.

【0003】従来、PDPにおける電極パターン等の形
成は、所望の特性を有するペーストを用いてスクリーン
印刷やオフセット印刷等の印刷法により被膜を形成し、
乾燥後に焼成する印刷法等により行われていた。
Conventionally, formation of an electrode pattern or the like in a PDP is performed by forming a film by a printing method such as screen printing or offset printing using a paste having desired characteristics.
It has been performed by a printing method of baking after drying or the like.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の印刷法
は、工程が簡略であり製造コストの低減が期待される
が、スクリーン印刷法ではスクリーン印刷版を構成する
メッシュ材料の伸びによる印刷精度の限界があり、ま
た、形成したパターンにメッシュ目が生じたりパターン
のにじみが発生し、パターンのエッジ精度が悪いという
問題がある。また、オフセット印刷法では、印刷回数が
進むにつれてパターン形成用ペーストが完全に基板に転
写されずにブランケットに残るようになり、層厚やパタ
ーンの精度の低下が生じる。したがって、ブランケット
の交換を随時行いペーストのブランケット残りを防止し
て電極パターンの形成精度を維持する必要があり、この
ため作業が極めて煩雑であるという問題があった。
However, the above-mentioned printing method is expected to simplify the process and reduce the manufacturing cost. However, in the screen printing method, the printing accuracy due to the elongation of the mesh material constituting the screen printing plate is reduced. There is a limit, and there is a problem that the formed pattern has meshes or blurs of the pattern, resulting in poor edge accuracy of the pattern. Further, in the offset printing method, as the number of printings increases, the pattern forming paste is not completely transferred to the substrate but remains on the blanket, and the layer thickness and the accuracy of the pattern are reduced. Therefore, it is necessary to replace the blanket at any time to prevent the blanket of the paste from remaining, and to maintain the accuracy of forming the electrode pattern. Therefore, there is a problem that the operation is extremely complicated.

【0005】本発明は、上述のような事情に鑑みてなさ
れたものであり、プラズマディスプレイパネル等の電極
パターンを高い精度で簡便に形成するためのパターン形
成方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a pattern forming method for forming an electrode pattern of a plasma display panel or the like with high accuracy and ease.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は導電性粉体とガラスフリットを含む
無機成分と焼成除去可能な感光性樹脂組成物を含む有機
成分とを少なくとも含有する転写層をベースフィルム上
に備えた転写シートを用いて、基板上に転写層を圧着し
て重ね合わせ、その後、ベースフィルムを剥離して転写
層を基板上に転写し、該転写層に対して50〜500μ
mの範囲で面内ばらつきが±50μm以内の間隙を設け
てフォトマスクを配設し、該フォトマスクを介して平行
光による転写層の露光を行い、その後、現像してパター
ニングした後、焼成して電極パターンを形成するような
構成とした。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention comprises at least an inorganic component containing a conductive powder and a glass frit and an organic component containing a photosensitive resin composition that can be removed by firing. Using a transfer sheet provided with a transfer layer on a base film, the transfer layer is pressure-bonded on the substrate and superimposed, and then the base film is peeled off and the transfer layer is transferred onto the substrate, and the transfer layer 50-500μ
In the range of m, a photomask is provided with a gap having an in-plane variation of within ± 50 μm, the transfer layer is exposed to parallel light through the photomask, and then developed and patterned, and then baked. To form an electrode pattern.

【0007】また、本発明は導電性粉体とガラスフリッ
トを含む無機成分と焼成除去可能な感光性樹脂組成物を
含む有機成分とを少なくとも含有する転写層をベースフ
ィルム上に備えた転写シートを用いて、基板上に転写層
を圧着して重ね合わせ、ベースフィルムに対して50〜
500μmの範囲で面内ばらつきが±50μm以内の間
隙を設けてフォトマスクを配設し、該フォトマスクを介
して平行光による転写層の露光を行い、その後、ベース
フィルムを剥離して転写層を基板上に転写し、現像して
パターニングした後、焼成して電極パターンを形成する
ような構成とした。
Further, the present invention provides a transfer sheet provided on a base film having a transfer layer containing at least an inorganic component containing a conductive powder, a glass frit, and an organic component containing a photosensitive resin composition which can be removed by firing. Using, the transfer layer is pressed on the substrate and superimposed, and 50 to
A photomask is provided with a gap having an in-plane variation within ± 50 μm within a range of 500 μm, and the transfer layer is exposed to parallel light through the photomask. After transferring onto a substrate, developing and patterning, it was baked to form an electrode pattern.

【0008】上記のような本発明では、基板上に転写さ
れた転写層とフォトマスクとの間、あるいは、基板上に
圧着された転写シートのベースフィルムとフォトマスク
との間に設けられた間隙は、フォトマスクの汚染防止と
ゴミ付着防止の作用をなし、また、このフォトマスクを
介して転写層に照射される光が平行光であるので、フォ
トマスクの開口パターンを忠実に再現した高精度の露光
を転写層に対して行うことができる。
In the present invention as described above, the gap provided between the transfer layer transferred onto the substrate and the photomask, or between the base film of the transfer sheet pressed onto the substrate and the photomask. Has a function of preventing contamination of the photomask and adhesion of dust, and since the light irradiated to the transfer layer through the photomask is parallel light, a high-precision which faithfully reproduces the opening pattern of the photomask. Can be performed on the transfer layer.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。パターン形成方法の説明 本発明のパターン形成方法を、プラズマディスプレイパ
ネル(PDP)の電極パターンの形成を例として説明す
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Description of Pattern Forming Method The pattern forming method of the present invention will be described with reference to an example of forming an electrode pattern of a plasma display panel (PDP).

【0010】まず、本発明のパターン形成方法を説明す
る前に、AC型のPDPについて説明する。
First, before describing the pattern forming method of the present invention, an AC type PDP will be described.

【0011】図1はAC型PDPを示す概略構成図であ
り、前面板と背面板を離した状態を示したものである。
図1において、PDP1は前面板11と背面板21とが
互いに平行に、かつ対向して配設されており、背面板2
1の前面側には、立設するように障壁26が形成され、
この障壁26によって前面板11と背面板21とが一定
間隔で保持される。
FIG. 1 is a schematic structural view showing an AC type PDP, showing a state in which a front plate and a rear plate are separated.
In FIG. 1, a PDP 1 has a front plate 11 and a rear plate 21 arranged in parallel and opposed to each other.
A barrier 26 is formed on the front side of 1 so as to be erected,
The front plate 11 and the rear plate 21 are held at regular intervals by the barrier 26.

【0012】前面板11は、前面ガラス基板12を有
し、この前面ガラス基板12の背面側に透明電極である
維持電極13と金属電極であるバス電極14とからなる
複合電極が互いに平行に形成され、これを覆って誘電体
層15が形成されており、さらにその上にMgO層16
が形成されている。
The front plate 11 has a front glass substrate 12, and on the back side of the front glass substrate 12, composite electrodes composed of a sustain electrode 13 which is a transparent electrode and a bus electrode 14 which is a metal electrode are formed in parallel with each other. A dielectric layer 15 is formed so as to cover this, and an MgO layer 16 is further formed thereon.
Are formed.

【0013】また、背面板21は、背面ガラス基板22
を有し、この背面ガラス基板22の前面側には下地層2
3を介して上記複合電極と直交するように障壁26の間
に位置してアドレス電極24が互いに平行に形成され、
また、これを覆って誘電体層25が形成されており、さ
らに障壁26の壁面とセルの底面を覆うようにして蛍光
体層27が設けられている。
The back plate 21 includes a back glass substrate 22
The underlayer 2 is provided on the front side of the rear glass substrate 22.
3, address electrodes 24 are formed parallel to each other and located between the barriers 26 so as to be orthogonal to the composite electrode.
A dielectric layer 25 is formed so as to cover this, and a phosphor layer 27 is provided so as to cover the wall surface of the barrier 26 and the bottom surface of the cell.

【0014】このAC型PDPでは、前面ガラス基板1
2上の複合電極間に交流電源から所定の電圧を印加して
電場を形成することにより、前面ガラス基板12と背面
ガラス基板22と障壁26とで区画される表示要素とし
ての各セル内で放電が行われる。そして、この放電によ
り生じる紫外線により蛍光体層27が発光させられ、前
面ガラス基板12を透過してくるこの光を観察者が視認
するようになっている。
In this AC type PDP, the front glass substrate 1
By applying a predetermined voltage from an AC power supply between the composite electrodes on the upper electrode 2 to form an electric field, discharge occurs in each cell as a display element defined by the front glass substrate 12, the rear glass substrate 22, and the barrier 26. Is performed. Then, the phosphor layer 27 is caused to emit light by the ultraviolet light generated by the discharge, and the light transmitted through the front glass substrate 12 is visually recognized by an observer.

【0015】尚、図1に示されるAC型PDPでは、下
地層23を介して背面ガラス基板22上にアドレス電極
24等が設けられているが、下地層23を形成しないも
のであってもよい。
In the AC type PDP shown in FIG. 1, the address electrodes 24 and the like are provided on the rear glass substrate 22 with the base layer 23 interposed therebetween, but the base layer 23 may not be formed. .

【0016】次に、本発明のパターン形成方法の第1の
実施形態による上述のPDPの背面板21におけるアド
レス電極24の形成を説明する。
Next, the formation of the address electrodes 24 on the back plate 21 of the PDP according to the first embodiment of the pattern forming method of the present invention will be described.

【0017】図2は本発明による転写シートを用いた電
極パターンの形成を説明するための工程図である。尚、
この場合の転写シートの転写層は、焼成除去可能な感光
性樹脂組成物としてネガ型の感光性樹脂組成物を含有す
るものとする。
FIG. 2 is a process chart for explaining the formation of an electrode pattern using the transfer sheet according to the present invention. still,
In this case, the transfer layer of the transfer sheet contains a negative photosensitive resin composition as a photosensitive resin composition that can be removed by baking.

【0018】図2において、まず、下地層23が設けら
れた背面ガラス基板22上(下地層23を設けず背面ガ
ラス基板22に直接でもよい)に電極パターン形成用の
転写シート31の転写層33側を圧着し、ベースフィル
ム32を剥離して転写層33を転写する(図2
(A))。この転写工程では、転写層33の転写に加熱
が必要な場合、背面ガラス基板22の加熱、圧着ロール
による加熱等を行ってもよい。
In FIG. 2, first, the transfer layer 33 of the transfer sheet 31 for forming an electrode pattern is formed on the back glass substrate 22 provided with the base layer 23 (or directly on the back glass substrate 22 without providing the base layer 23). Side, the base film 32 is peeled off, and the transfer layer 33 is transferred (FIG. 2).
(A)). In this transfer step, when heating is necessary for transfer of the transfer layer 33, heating of the back glass substrate 22, heating with a pressure roll, or the like may be performed.

【0019】次に、転写層33との間に間隙を設けてフ
ォトマスクMを配設し、このフォトマスクMを介して転
写層33を露光する(図2(B))。フォトマスクMと
転写層33との間隙は、50〜500μmの範囲であ
り、かつ、面内での間隙のばらつきは±50μm以内と
する。フォトマスクMと転写層33との間隙が50μm
未満であると、フォトマスクMの汚染が発生しやすく、
500μmを超えると、露光パターンの線幅が太くな
り、高精細なパターン形成が困難となる。また、間隙の
面内ばらつきが±50μmを超えると、露光パターンの
線幅にばらつきが生じて、高い精度でパターンを形成す
ることが困難となる。
Next, a photomask M is provided with a gap between the transfer layer 33 and the transfer layer 33 is exposed through the photomask M (FIG. 2B). The gap between the photomask M and the transfer layer 33 is in the range of 50 to 500 μm, and the variation of the gap in the plane is within ± 50 μm. The gap between the photomask M and the transfer layer 33 is 50 μm
If it is less than 1, contamination of the photomask M is likely to occur,
If it exceeds 500 μm, the line width of the exposure pattern becomes large, and it becomes difficult to form a high-definition pattern. If the in-plane variation of the gap exceeds ± 50 μm, the line width of the exposed pattern varies, making it difficult to form the pattern with high accuracy.

【0020】本発明では、転写層33の露光に平行光を
使用する。平行光の光源は、従来公知の種々の光源から
適宜選定することができる。
In the present invention, parallel light is used for exposing the transfer layer 33. The light source of the parallel light can be appropriately selected from various conventionally known light sources.

【0021】次いで、転写層33を現像することによ
り、パターン33´を下地層23上に形成し(図2
(C))、その後、焼成を行ってパターン33´の有機
成分を除去することにより、アドレス電極パターン24
を形成する(図2(D))。
Next, a pattern 33 'is formed on the underlayer 23 by developing the transfer layer 33 (FIG. 2).
(C)) Thereafter, baking is performed to remove the organic components of the pattern 33 ', thereby forming the address electrode pattern 24.
Is formed (FIG. 2D).

【0022】このようなアドレス電極パターン24の形
成では、上述のように転写層33とフォトマスクMとの
間に設けられた間隙が、50〜500μmの範囲で面内
ばらつきが±50μm以内であり、かつ、露光に平行光
を使用するので、フォトマスクMの開口パターンを忠実
に再現した高精度の露光を転写層33に対して行うこと
ができる。また、上記の間隙設定により、フォトマスク
Mへの転写層33の付着による汚染が防止され、さら
に、転写層33へのゴミ付着が防止され、ゴミ付着によ
る欠陥を生じることなく高精細なアドレス電極パターン
24を形成することができる。
In the formation of such an address electrode pattern 24, as described above, the gap provided between the transfer layer 33 and the photomask M is within the range of 50 to 500 μm, and the in-plane variation is within ± 50 μm. In addition, since parallel light is used for exposure, high-precision exposure that faithfully reproduces the opening pattern of the photomask M can be performed on the transfer layer 33. Further, by setting the above gap, contamination due to the adhesion of the transfer layer 33 to the photomask M is prevented, and furthermore, dust is prevented from being adhered to the transfer layer 33. The pattern 24 can be formed.

【0023】次に、本発明のパターン形成方法の第2の
実施形態による上述のPDPの背面板21におけるアド
レス電極24の形成を説明する。
Next, the formation of the address electrodes 24 on the back plate 21 of the PDP according to the second embodiment of the pattern forming method of the present invention will be described.

【0024】図3は本発明による転写シートを用いた電
極パターンの形成を説明するための工程図である。尚、
この場合の転写シートの転写層は、焼成除去可能な感光
性樹脂組成物としてネガ型の感光性樹脂組成物を含有す
るものとする。
FIG. 3 is a process chart for explaining the formation of an electrode pattern using the transfer sheet according to the present invention. still,
In this case, the transfer layer of the transfer sheet contains a negative photosensitive resin composition as a photosensitive resin composition that can be removed by baking.

【0025】図3において、まず、下地層23が設けら
れた背面ガラス基板22上(下地層23を設けず背面ガ
ラス基板22に直接でもよい)に電極パターン形成用の
転写シート31の転写層33側を圧着する(図3
(A))。この転写層33の圧着において加熱が必要な
場合、背面ガラス基板22の加熱、圧着ロールによる加
熱等を行ってもよい。
In FIG. 3, first, the transfer layer 33 of the transfer sheet 31 for forming an electrode pattern is formed on the back glass substrate 22 provided with the base layer 23 (or directly on the back glass substrate 22 without providing the base layer 23). Crimp the sides (Fig. 3
(A)). If heating is required in the pressing of the transfer layer 33, heating of the rear glass substrate 22, heating by a pressing roll, or the like may be performed.

【0026】次に、転写シート31のベースフィルム3
2との間に間隙を設けるようにしてフォトマスクMを配
設し、このフォトマスクMを介して転写層33を露光す
る(図3(B))。ベースフィルム32とフォトマスク
Mとの間隙は、50〜500μmの範囲であり、かつ、
面内での間隙のばらつきは±50μm以内とする。ベー
スフィルム32とフォトマスクMとの間隙が50μm未
満であると、フォトマスクMの汚染が発生しやすく、5
00μmを超えると、露光パターンの線幅が太くなり、
高精細なパターン形成が困難となる。また、間隙の面内
ばらつきが±50%を超えると、露光パターンの線幅に
ばらつきが生じて、高い精度でパターンを形成すること
が困難となる。
Next, the base film 3 of the transfer sheet 31
A photomask M is arranged so as to provide a gap between the transfer layer 33 and the transfer layer 33 (FIG. 3B). The gap between the base film 32 and the photomask M is in the range of 50 to 500 μm, and
The variation of the gap in the plane is within ± 50 μm. If the gap between the base film 32 and the photomask M is less than 50 μm, contamination of the photomask M is likely to occur, and
If it exceeds 00 μm, the line width of the exposure pattern becomes large,
It becomes difficult to form a high-definition pattern. If the in-plane variation of the gap exceeds ± 50%, the line width of the exposure pattern varies, making it difficult to form the pattern with high accuracy.

【0027】本発明では、転写層33の露光に平行光を
使用する。平行光の光源は、従来公知の種々の光源から
適宜選定することができる。
In the present invention, parallel light is used for exposing the transfer layer 33. The light source of the parallel light can be appropriately selected from various conventionally known light sources.

【0028】次に、ベースフィルム32を剥離して露光
が完了した転写層33を転写し、次いで、転写層33を
現像することにより、パターン33´を下地層23上に
形成する(図3(C))。その後、焼成を行ってパター
ン33´の有機成分を除去することにより、アドレス電
極パターン24を形成する(図3(D))。
Next, the base layer 32 is peeled off to transfer the exposed transfer layer 33, and then the transfer layer 33 is developed to form a pattern 33 'on the underlayer 23 (FIG. 3 ( C)). Thereafter, baking is performed to remove the organic components of the pattern 33 ', thereby forming the address electrode pattern 24 (FIG. 3D).

【0029】このようなアドレス電極パターン24の形
成では、上述のようにベースフィルム32とフォトマス
クMとの間に設けられた間隙が、50〜500μmの範
囲で面内ばらつきが±50μm以内であり、かつ、露光
に平行光を使用するので、フォトマスクMの開口パター
ンを忠実に再現した高精度の露光を転写層33に対して
行うことができる。また、ベースフィルムを剥離せずに
残した状態で露光を行うので、フォトマスクMへの転写
層33の付着による汚染が防止され、さらに、転写層3
3にゴミが付着することがなく、ゴミ付着による欠陥を
生じることなく高精細なアドレス電極パターン24を形
成することができる。本発明に使用する転写シートの説明 次に、本発明のパターン形成方法に使用する転写シート
について説明する。
In the formation of the address electrode pattern 24, the gap provided between the base film 32 and the photomask M is within the range of 50 to 500 μm and the in-plane variation is within ± 50 μm as described above. In addition, since parallel light is used for exposure, high-precision exposure that faithfully reproduces the opening pattern of the photomask M can be performed on the transfer layer 33. Further, since the exposure is performed in a state where the base film is left without being peeled, the contamination due to the adhesion of the transfer layer 33 to the photomask M is prevented.
Thus, the address electrode pattern 24 can be formed with high precision without causing dust to adhere to the third electrode 3 and without causing a defect due to the dust. Description of Transfer Sheet Used in the Present Invention Next, the transfer sheet used in the pattern forming method of the present invention will be described.

【0030】図4は、本発明に使用できる転写シートの
一例を示す概略断面図である。図4において、転写シー
ト31は、ベースフィルム32と転写層33と、さら
に、転写層33上に剥離可能に設けられた保護フィルム
34とを備えた電極パターン形成用の転写シートであ
る。転写層33はベースフィルム32に対して剥離可能
に設けられたものであり、導電性粉体とガラスフリット
を含む無機成分、焼成除去可能な感光性樹脂組成物を含
む有機成分を少なくとも含有する。
FIG. 4 is a schematic sectional view showing an example of a transfer sheet that can be used in the present invention. In FIG. 4, a transfer sheet 31 is a transfer sheet for forming an electrode pattern including a base film 32, a transfer layer 33, and a protective film 34 provided on the transfer layer 33 so as to be peelable. The transfer layer 33 is provided releasably from the base film 32 and contains at least an inorganic component containing conductive powder and glass frit, and an organic component containing a photosensitive resin composition that can be removed by firing.

【0031】このような転写シート31は、シート状、
長尺状のいずれであってもよく、長尺状の場合はコアに
巻き回したロール形状とすることができる。使用するコ
アは、ごみ発生、紙粉発生を防止するためにABS樹
脂、塩化ビニル樹脂、ベークライト等で成形されたコ
ア、樹脂を含浸させた紙管等が好ましい。
The transfer sheet 31 has a sheet shape.
Any of long shapes may be used, and in the case of a long shape, a roll shape wound around a core can be used. The core used is preferably a core formed of an ABS resin, a vinyl chloride resin, bakelite, or the like in order to prevent generation of dust and paper dust, and a paper tube impregnated with the resin.

【0032】次に、上記の転写シート31の構成につい
て説明する。 (ベースフィルム)転写シート31を構成するベースフ
ィルム32は、転写層33を形成するときのインキ組成
物に対して安定であり、また、柔軟性を有し、かつ、張
力もしくは圧力で著しい変形を生じない材料を使用す
る。さらに、上述のパターン形成方法の第2の実施形態
のように、ベースフィルム32を介して露光を行う場合
は、露光に用いる光に対して透過性を有する材料を使用
する。
Next, the structure of the transfer sheet 31 will be described. (Base Film) The base film 32 constituting the transfer sheet 31 is stable with respect to the ink composition when forming the transfer layer 33, has flexibility, and undergoes significant deformation due to tension or pressure. Use materials that do not occur. Further, when exposure is performed through the base film 32 as in the second embodiment of the pattern formation method described above, a material having transparency to light used for exposure is used.

【0033】用いる材料としては、まず、樹脂フィルム
を挙げることができる。樹脂フィルムの具体例として
は、ポリエチレンフィルム、エチレンー 酢酸ビニル共重
合体フィルム、エチレン- ビニルアルコール共重合体フ
ィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリスチレンフィル
ム、ポリメタクリル酸エステルフィルム、ポリ塩化ビニ
ルフィルム、ポリビニルアルコールフィルム、ポリビニ
ルブチラールフィルム、ナイロンフィルム、ポリエーテ
ルケトンフィルム、ポリフェニレンサルファイドフィル
ム、ポリサルフォンフィルム、ポリエーテルサルフォン
フィルム、ポリテトラフルオロエチレン−パーフルオロ
アルキルビニルエーテルフィルム、ポリビニルフルオラ
イドフィルム、テトラフルオロエチレン−エチレンフィ
ルム、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピ
レンフィルム、ポリクロロトリフルオロエチレンフィル
ム、ポリビニリデンフルオライドフィルム、ポリエチレ
ンテレフタレートフィルム、1,4−ポリシクロヘキシ
レンジメチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレン
ナフタレートフィルム、ポリエステルフィルム、トリ酢
酸セルロースフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポ
リウレタンフィルム、ポリイミドフィルム、ポリエーテ
ルイミドフィルム、これらの樹脂材料にフィラーを配合
したフィルム、これらの樹脂材料を用いたフィルムを1
軸延伸もしくは2軸延伸したもの、これらの樹脂材料を
用いて流れ方向より幅方向の延伸倍率を高めた2軸延伸
フィルム、これらの樹脂材料を用いて幅方向より流れ方
向の延伸倍率を高めた2軸延伸フィルム、これらのフィ
ルムのうちの同種または異種のフィルムを貼り合わせた
もの、および、これらのフィルムに用いられる原料樹脂
から選ばれる同種または異種の樹脂を共押し出しするこ
とによって作成される複合フィルム等を挙げることがで
きる。また、上記の樹脂フィルムに処理を施したもの、
例えば、シリコン処理ポリエチレンテレフタレート、コ
ロナ処理ポリエチレンテレフタレート、シリコン処理ポ
リプロピレン、コロナ処理ポリプロピレン等を使用して
もよい。
As a material to be used, first, a resin film can be used. Specific examples of the resin film include a polyethylene film, an ethylene-vinyl acetate copolymer film, an ethylene-vinyl alcohol copolymer film, a polypropylene film, a polystyrene film, a polymethacrylate film, a polyvinyl chloride film, a polyvinyl alcohol film, and a polyvinyl film. Butyral film, nylon film, polyetherketone film, polyphenylene sulfide film, polysulfone film, polyethersulfone film, polytetrafluoroethylene-perfluoroalkylvinyl ether film, polyvinyl fluoride film, tetrafluoroethylene-ethylene film, tetrafluoroethylene -Hexafluoropropylene film, polychlorotrifluoroethylene Film, polyvinylidene fluoride film, polyethylene terephthalate film, 1,4-polycyclohexylene dimethylene terephthalate film, polyethylene naphthalate film, polyester film, cellulose triacetate film, polycarbonate film, polyurethane film, polyimide film, polyetherimide Films, films in which fillers are blended with these resin materials, and films using these resin materials
Axial stretching or biaxial stretching, a biaxially stretched film using these resin materials to increase the stretching ratio in the width direction from the flow direction, and using these resin materials to increase the stretching ratio in the flow direction from the width direction Biaxially stretched films, composites formed by laminating the same or different films of these films, and composites formed by co-extruding the same or different resins selected from the raw resin used for these films Films and the like can be mentioned. In addition, those obtained by treating the above resin film,
For example, silicon-treated polyethylene terephthalate, corona-treated polyethylene terephthalate, silicon-treated polypropylene, corona-treated polypropylene, or the like may be used.

【0034】また、ベースフィルム32に光透過性を必
要としない場合、金属箔や金属鋼帯を用いることもでき
る。このような金属箔や金属鋼帯の具体例として、銅
箔、銅鋼帯、アルミニウム箔、アルミニウム鋼帯、SU
S430、SUS301、SUS304、SUS420
J2およびSUS631等のステンレス鋼帯、ベリリウ
ム鋼帯等を挙げることができる。さらに、上述の金属箔
あるいは金属鋼帯を上述の樹脂フィルムに貼り合わせた
ものを使用することもできる。
When the base film 32 does not require light transmittance, a metal foil or a metal steel strip can be used. Specific examples of such metal foil and metal steel strip include copper foil, copper steel strip, aluminum foil, aluminum steel strip, and SU.
S430, SUS301, SUS304, SUS420
Examples include stainless steel strips such as J2 and SUS631, beryllium steel strips, and the like. Further, the above-mentioned metal foil or metal steel strip bonded to the above-mentioned resin film may be used.

【0035】尚、上述のパターン形成方法の第2の実施
形態のように、ベースフィルム32を介して露光を行う
場合、転写層における反射により発生した散乱光を吸収
して高い精度の露光を行うために、ベースフィルム32
に紫外線吸収剤や着色剤を含有させてもよい。紫外線吸
収剤としては、従来公知の紫外線吸収剤を用いることが
でき、例えば、ヒドロキシベンゾフェノン系化合物、ヒ
ドロキシナフトフェノン系化合物、フェニルサリチレー
ト系化合物、ベンゾトリアゾール系化合物等を挙げるこ
とができる。また、着色剤としては、従来公知の黒色顔
料、黒色染料を使用することができ、具体的には、カー
ボンブラック、アニリンブラック、鉄黒等の1種または
2種以上を使用することができる。ベースフィルム32
における紫外線吸収剤や着色剤の含有量は、5〜50重
量%の範囲で設定することができる。
When the exposure is performed through the base film 32 as in the second embodiment of the pattern forming method described above, highly accurate exposure is performed by absorbing the scattered light generated by the reflection on the transfer layer. For the base film 32
May contain an ultraviolet absorber or a coloring agent. As the ultraviolet absorber, a conventionally known ultraviolet absorber can be used, and examples thereof include a hydroxybenzophenone-based compound, a hydroxynaphthophenone-based compound, a phenylsalicylate-based compound, and a benzotriazole-based compound. As the colorant, conventionally known black pigments and black dyes can be used, and specifically, one or more of carbon black, aniline black, iron black and the like can be used. Base film 32
Can be set in the range of 5 to 50% by weight.

【0036】上記のようなベースフィルム32の厚み
は、4〜400μm、好ましくは10〜150μmの範
囲で設定することができる。 (転写層)転写層33は、導電性粉体とガラスフリット
を含む無機成分と、焼成除去可能な感光性樹脂組成物を
含む有機成分を少なくとも含有するインキ組成物を、ベ
ースフィルム32上にダイレクトグラビアコーティング
法、グラビアリバースコーティング法、リバースロール
コーティング法、スライドダイコーティング法、スリッ
トダイコーティング法、コンマコーティング法、スリッ
トリバースコーティング法等の公知の塗布手段により塗
布、乾燥して形成することができる。 無機成分 上記のガラスフリットとしては、例えば、軟化温度が3
50〜650℃であり、熱膨張係数α300 が60×10
-7〜100×10-7/℃であるガラスフリットを使用す
ることができる。ガラスフリットの軟化温度が650℃
を超えると焼成温度を高くする必要があり、例えば、被
パターン形成体の耐熱性が低い場合には焼成段階で熱変
形を生じることになり好ましくない。また、ガラスフリ
ットの軟化温度が350℃未満では、焼成により有機成
分が完全に分解、揮発して除去される前にガラスフリッ
トが融着するため、空隙を生じやすく好ましくない。さ
らに、ガラスフリットの熱膨張係数α300 が60×10
-7/℃未満、あるいは、100×10-7/℃を超える
と、被パターン形成体の熱膨張係数との差が大きくなり
すぎる場合があり、歪み等を生じることになり好ましく
ない。このようなガラスフリットの平均粒径は0.1〜
10μmの範囲が好ましい。このようなガラスフリット
としては、例えばBi23 、ZnOまたはPbOを主
成分とするガラスフリットを使用することができる。
The thickness of the base film 32 as described above can be set in the range of 4 to 400 μm, preferably 10 to 150 μm. (Transfer Layer) The transfer layer 33 is a method in which an ink composition containing at least an inorganic component containing conductive powder and glass frit and an organic component containing a photosensitive resin composition that can be removed by baking is directly applied on the base film 32. It can be formed by applying and drying by a known application means such as a gravure coating method, a gravure reverse coating method, a reverse roll coating method, a slide die coating method, a slit die coating method, a comma coating method, and a slit reverse coating method. Inorganic component As the above glass frit, for example, a softening temperature of 3
50 to 650 ° C., and the coefficient of thermal expansion α 300 is 60 × 10
A glass frit having a temperature of −7 to 100 × 10 −7 / ° C. can be used. Glass frit softening temperature 650 ℃
If the temperature exceeds the above, it is necessary to increase the firing temperature. For example, if the heat resistance of the pattern formation target is low, thermal deformation occurs in the firing step, which is not preferable. On the other hand, if the softening temperature of the glass frit is lower than 350 ° C., the glass frit is fused before the organic components are completely decomposed, volatilized and removed by baking, which is not preferable because voids are easily formed. Furthermore, the coefficient of thermal expansion α 300 of the glass frit is 60 × 10
If it is less than -7 / ° C or more than 100 × 10-7 / ° C, the difference from the coefficient of thermal expansion of the pattern-formed body may become too large, causing distortion and the like, which is not preferable. The average particle size of such a glass frit is 0.1 to
A range of 10 μm is preferred. As such a glass frit, for example, a glass frit containing Bi 2 O 3 , ZnO or PbO as a main component can be used.

【0037】また、転写層33は、無機成分として酸化
アルミニウム、酸化硼素、シリカ、酸化チタン、酸化マ
グネシウム、酸化カルシウム、酸化ストロンチウム、酸
化バリウム、炭酸カルシウム等の無機粉体をガラスフリ
ット100重量部に対して30重量部以下の範囲で含有
することができる。このような無機粉体は、平均粒径が
0.1〜10μmの範囲が好ましく、骨材として焼成時
のパターン流延防止の作用をなし、また、反射率や誘電
率を制御する作用をなすものである。
The transfer layer 33 is formed by adding an inorganic powder such as aluminum oxide, boron oxide, silica, titanium oxide, magnesium oxide, calcium oxide, strontium oxide, barium oxide, or calcium carbonate as an inorganic component to 100 parts by weight of glass frit. On the other hand, it can be contained in a range of 30 parts by weight or less. Such an inorganic powder preferably has an average particle size in the range of 0.1 to 10 μm, and serves as an aggregate to prevent pattern casting during firing and to control the reflectance and the dielectric constant. Things.

【0038】尚、露光時の転写層33内での光の反射を
低減したり、形成したパターンの外光反射を低減するた
めに、無機成分として耐火性の黒色顔料あるいは白色顔
料を転写層33に含有させることができる。耐火性の黒
色顔料としては、Co−Cr−Fe,Co−Mn−F
e,Co−Fe−Mn−Al,Co−Ni−Cr−F
e,Co−Ni−Mn−Cr−Fe,Co−Ni−Al
−Cr−Fe,Co−Mn−Al−Cr−Fe−Si等
を挙げることができる。また、耐火性の白色顔料として
は、酸化チタン、酸化アルミニウム、シリカ、炭酸カル
シウム等が挙げられる。
In order to reduce the reflection of light in the transfer layer 33 at the time of exposure or to reduce the reflection of external light of the formed pattern, a fire-resistant black or white pigment is used as an inorganic component in the transfer layer 33. Can be contained. As the fire-resistant black pigment, Co-Cr-Fe, Co-Mn-F
e, Co-Fe-Mn-Al, Co-Ni-Cr-F
e, Co-Ni-Mn-Cr-Fe, Co-Ni-Al
-Cr-Fe, Co-Mn-Al-Cr-Fe-Si and the like. Examples of the fire-resistant white pigment include titanium oxide, aluminum oxide, silica, and calcium carbonate.

【0039】転写層33に含有させる導電性粉体として
は、Au粉体、Ag粉体、Cu粉体、Ni粉体、Al粉
体、Ag−Pd粉体等の1種または2種以上を使用する
ことができる。この導電性粉体の形状は、球状、板状、
塊状、円錐状、棒状等の種々の形状であってよいが、凝
集性がなく分散性が良好な球状の導電性粉体が好まし
く、その平均粒径は0.05〜10μmの範囲が好まし
い。転写層33における導電性粉体と上記のガラスフリ
ットとの含有割合は、導電性粉末100重量部に対して
ガラスフリットが2〜20重量部、好ましくは2〜15
重量部の範囲とすることができる。 有機成分 転写層33に含有される焼成除去可能な感光性樹脂組成
物は、少なくともポリマー、モノマーおよび開始剤を含
有するものであり、焼成によって揮発、分解して、焼成
後の膜中に炭化物を残存させることのないものである。
As the conductive powder to be contained in the transfer layer 33, one or more of Au powder, Ag powder, Cu powder, Ni powder, Al powder, Ag-Pd powder and the like can be used. Can be used. The shape of this conductive powder is spherical, plate-like,
It may be in various shapes such as a lump, a cone, a rod, etc., but a spherical conductive powder having no cohesive property and good dispersibility is preferable, and the average particle diameter is preferably in a range of 0.05 to 10 μm. The content ratio of the conductive powder and the above glass frit in the transfer layer 33 is such that the glass frit is 2 to 20 parts by weight, preferably 2 to 15 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the conductive powder.
It can be in the range of parts by weight. The photosensitive resin composition that can be removed by baking contained in the organic component transfer layer 33 contains at least a polymer, a monomer, and an initiator, and is volatilized and decomposed by baking to form a carbide in the film after baking. It will not be left.

【0040】ポリマーとしては、メチルアクリレート、
メチルメタクリレート、エチルアクリレート、エチルメ
タクリレート、n−プロピルアクリレート、n−プロピ
ルメタクリレート、イソプロピルアクリレート、イソプ
ロピルメタクリレート、n−ブチルアクリレート、n−
ブチルメタクリレート、イソブチルアクリレート、イソ
ブチルメタクリレート、tert−ブチルアクリレート、te
rt−ブチルメタクリレート、n−ペンチルアクリレー
ト、n−ペンチルメタクリレート、n−ヘキシルアクリ
レート、n−ヘキシルメタクリレート、2−エチルヘキ
シルアクリレート、2−エチルヘキシルメタクリレー
ト、n−オクチルアクリレート、n−オクチルメタクリ
レート、n−デシルアクリレート、n−デシルメタクリ
レート、ヒドロキシエチルアクリレート、ヒドロキシエ
チルメタクリレート、ヒドロキシプロピルアクリレー
ト、ヒドロキシプロピルメタクリレート、スチレン、α
−メチルスチレン、N−ビニル−2−ピロリドンの1種
以上と、アクリル酸、メタクリル酸、アクリル酸の二量
体(例えば、東亜合成(株)製M−5600)、コハク
酸2−メタクリロイルオキシエチル、コハク酸2−アク
リロイルオキシエチル、フタル酸2−メタクリロイルオ
キシエチル、フタル酸2−アクリロイルオキシエチル、
ヘキサヒドロフタル酸2−メタクリロイルオキシエチ
ル、ヘキサヒドロフタル酸2−アクリロイルオキシエチ
ル、イタコン酸、クロトン酸、マレイン酸、フマル酸、
ビニル酢酸、これらの酸無水物等の1種以上からなるポ
リマーまたはコポリマー、カルボキシル基含有セルロー
ス誘導体等が挙げられる。
As the polymer, methyl acrylate,
Methyl methacrylate, ethyl acrylate, ethyl methacrylate, n-propyl acrylate, n-propyl methacrylate, isopropyl acrylate, isopropyl methacrylate, n-butyl acrylate, n-
Butyl methacrylate, isobutyl acrylate, isobutyl methacrylate, tert-butyl acrylate, te
rt-butyl methacrylate, n-pentyl acrylate, n-pentyl methacrylate, n-hexyl acrylate, n-hexyl methacrylate, 2-ethylhexyl acrylate, 2-ethylhexyl methacrylate, n-octyl acrylate, n-octyl methacrylate, n-decyl acrylate, n-decyl methacrylate, hydroxyethyl acrylate, hydroxyethyl methacrylate, hydroxypropyl acrylate, hydroxypropyl methacrylate, styrene, α
-Methylstyrene, one or more of N-vinyl-2-pyrrolidone, acrylic acid, methacrylic acid, dimer of acrylic acid (for example, M-5600 manufactured by Toagosei Co., Ltd.), 2-methacryloyloxyethyl succinate 2-acryloyloxyethyl succinate, 2-methacryloyloxyethyl phthalate, 2-acryloyloxyethyl phthalate,
2-methacryloyloxyethyl hexahydrophthalate, 2-acryloyloxyethyl hexahydrophthalate, itaconic acid, crotonic acid, maleic acid, fumaric acid,
Examples thereof include vinyl acetic acid, polymers or copolymers of one or more of these acid anhydrides, and carboxyl group-containing cellulose derivatives.

【0041】また、上記のコポリマーにグリシジル基ま
たは水酸基を有するエチレン性不飽和化合物を付加させ
たポリマー等が挙げられるが、これらに限定されるもの
ではない。
Examples of the copolymer include a polymer obtained by adding an ethylenically unsaturated compound having a glycidyl group or a hydroxyl group to the above copolymer, but the present invention is not limited thereto.

【0042】上記のポリマーの分子量は、5,000〜
300,000、好ましくは30,000〜150,0
00の範囲である。また、上記のポリマーに他のポリマ
ー、例えば、メタクリル酸エステルポリマー、ポリビニ
ルアルコール誘導体、N−メチル−2−ピロリドンポリ
マー、セルロース誘導体、スチレンポリマー等を混合す
ることができる。
The molecular weight of the above polymer is from 5,000 to
300,000, preferably 30,000 to 150,0
00 range. Further, other polymers such as a methacrylate polymer, a polyvinyl alcohol derivative, an N-methyl-2-pyrrolidone polymer, a cellulose derivative, and a styrene polymer can be mixed with the above-mentioned polymer.

【0043】感光性樹脂組成物を構成する反応性モノマ
ーとしては、少なくとも1つの重合可能な炭素−炭素不
飽和結合を有する化合物を用いることができる。具体的
には、アリルアクリレート、ベンジルアクリレート、ブ
トキシエチルアクリレート、ブトキシエチレングリコー
ルアクリレート、シクロヘキシルアクリレート、ジシク
ロペンタニルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリ
レート、グリセロールアクリレート、グリシジルアクリ
レート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、2−ヒド
ロキシプロピルアクリレート、イソボニルアクリレー
ト、イソデキシルアクリレート、イソオクチルアクリレ
ート、ラウリルアクリレート、2−メトキシエチルアク
リレート、メトキシエチレングリコールアクリレート、
フェノキシエチルアクリレート、ステアリルアクリレー
ト、エチレングリコールジアクリレート、ジエチレング
リコールジアクリレート、1,4−ブタンジオールジア
クリレート、1,5−ペンタンジオールジアクリレー
ト、1,6−ヘキサンジオールジアクリレート、1,3
−プロパンジオールアクリレート、1,4−シクロヘキ
サンジオールジアクリレート、2,2−ジメチロールプ
ロパンジアクリレート、グリセロールジアクリレート、
トリプロピレングリコールジアクリレート、グリセロー
ルトリアクリレート、トリメチロールプロパントリアク
リレート、ポリオキシエチル化トリメチロールプロパン
トリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレ
ート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、エチ
レンオキサイド変性ペンタエリスリトールトリアクリレ
ート、エチレンオキサイド変性ペンタエリスリトールテ
トラアクリレート、プロピレンオキサイド変性ペンタエ
リスリトールトリアクリレート、プロピレンオキサイド
変性ペンタエリスリトールテトラアクリレート、トリエ
チレングリコールジアクリレート、ポリオキシプロピル
トリメチロールプロパントリアクリレート、ブチレング
リコールジアクリレート、1,2,4−ブタントリオー
ルトリアクリレート、2,2,4−トリメチル−1,3
−ペンタンジオールジアクリレート、ジアリルフマレー
ト、1,10−デカンジオールジメチルアクリレート、
ペンタエリスリトールヘキサアクリレート、および、上
記のアクリレートをメタクリレートに変えたもの、γ−
メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、1−ビニ
ル−2−ピロリドン等が挙げられる。上記の反応性モノ
マーは、1種または2種以上の混合物として、あるい
は、その他の化合物との混合物として使用することがで
きる。
As the reactive monomer constituting the photosensitive resin composition, a compound having at least one polymerizable carbon-carbon unsaturated bond can be used. Specifically, allyl acrylate, benzyl acrylate, butoxyethyl acrylate, butoxyethylene glycol acrylate, cyclohexyl acrylate, dicyclopentanyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, glycerol acrylate, glycidyl acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxypropyl Acrylate, isobonyl acrylate, isodexyl acrylate, isooctyl acrylate, lauryl acrylate, 2-methoxyethyl acrylate, methoxyethylene glycol acrylate,
Phenoxyethyl acrylate, stearyl acrylate, ethylene glycol diacrylate, diethylene glycol diacrylate, 1,4-butanediol diacrylate, 1,5-pentanediol diacrylate, 1,6-hexanediol diacrylate, 1,3
-Propanediol acrylate, 1,4-cyclohexanediol diacrylate, 2,2-dimethylolpropane diacrylate, glycerol diacrylate,
Tripropylene glycol diacrylate, glycerol triacrylate, trimethylolpropane triacrylate, polyoxyethylated trimethylolpropane triacrylate, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, ethylene oxide modified pentaerythritol triacrylate, ethylene oxide modified pentaerythritol tetra Acrylate, propylene oxide-modified pentaerythritol triacrylate, propylene oxide-modified pentaerythritol tetraacrylate, triethylene glycol diacrylate, polyoxypropyltrimethylolpropane triacrylate, butylene glycol diacrylate, 1,2,4-butanetriol triacrylate , 2,2,4-trimethyl-1,3
-Pentanediol diacrylate, diallyl fumarate, 1,10-decanediol dimethyl acrylate,
Pentaerythritol hexaacrylate, and the above acrylate changed to methacrylate, γ-
Methacryloxypropyltrimethoxysilane, 1-vinyl-2-pyrrolidone, and the like. The reactive monomers described above can be used as one kind or a mixture of two or more kinds, or as a mixture with other compounds.

【0044】感光性樹脂組成物を構成する光重合開始剤
としては、ベンゾフェノン、o−ベンゾイル安息香酸メ
チル、4,4−ビス(ジメチルアミン)ベンゾフェノ
ン、4,4−ビス(ジエチルアミン)ベンゾフェノン、
α−アミノ・アセトフェノン、4,4−ジクロロベンゾ
フェノン、4−ベンゾイル−4−メチルジフェニルケト
ン、ジベンジルケトン、フルオレノン、2,2−ジエト
キシアセトフォノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニ
ルアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピ
オフェノン、p−tert−ブチルジクロロアセトフェノ
ン、チオキサントン、2−メチルチオキサントン、2−
クロロチオキサントン、2−イソプロピルチオキサント
ン、ジエチルチオキサントン、ベンジルジメチルケター
ル、ベンジルメトキシエチルアセタール、ベンゾインメ
チルエーテル、ベンゾインブチルエーテル、アントラキ
ノン、2−tert−ブチルアントラキノン、2−アミルア
ントラキノン、β−クロルアントラキノン、アントロ
ン、ベンズアントロン、ジベンズスベロン、メチレンア
ントロン、4−アジドベンジルアセトフェノン、2,6
−ビス(p−アジドベンジリデン)シクロヘキサン、
2,6−ビス(p−アジドベンジリデン)−4−メチル
シクロヘキサノン、2−フェニル−1,2−ブタジオン
−2−(o−メトキシカルボニル)オキシム、1−フェ
ニル−プロパンジオン−2−(o−エトキシカルボニ
ル)オキシム、1,3−ジフェニル−プロパントリオン
−2−(o−エトキシカルボニル)オキシム、1−フェ
ニル−3−エトキシ−プロパントリオン−2−(o−ベ
ンゾイル)オキシム、ミヒラーケトン、2−メチル−
[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−
1−プロパン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1
−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン−1、ナフ
タレンスルホニルクロライド、キノリンスルホニルクロ
ライド、n−フェニルチオアクリドン、4,4−アゾビ
スイソブチロニトリル、ジフェニルジスルフィド、ベン
ズチアゾールジスルフィド、トリフェニルホスフィン、
カンファーキノン、四臭素化炭素、トリブロモフェニル
スルホン、過酸化ベンゾイン、エオシン、メチレンブル
ー等の光還元性の色素とアスコルビン酸、トリエタノー
ルアミン等の還元剤の組み合わせ等が挙げられ、これら
の光重合開始剤を1種または2種以上使用することがで
きる。
Examples of the photopolymerization initiator constituting the photosensitive resin composition include benzophenone, methyl o-benzoylbenzoate, 4,4-bis (dimethylamine) benzophenone, 4,4-bis (diethylamine) benzophenone,
α-amino acetophenone, 4,4-dichlorobenzophenone, 4-benzoyl-4-methyldiphenylketone, dibenzylketone, fluorenone, 2,2-diethoxyacetophonone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, -Hydroxy-2-methylpropiophenone, p-tert-butyldichloroacetophenone, thioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2-
Chlorothioxanthone, 2-isopropylthioxanthone, diethylthioxanthone, benzyldimethylketal, benzylmethoxyethylacetal, benzoinmethylether, benzoinbutylether, anthraquinone, 2-tert-butylanthraquinone, 2-amylanthraquinone, β-chloranthraquinone, anthrone, benzantrone , Dibenzsuberone, methyleneanthrone, 4-azidobenzylacetophenone, 2,6
-Bis (p-azidobenzylidene) cyclohexane,
2,6-bis (p-azidobenzylidene) -4-methylcyclohexanone, 2-phenyl-1,2-butadione-2- (o-methoxycarbonyl) oxime, 1-phenyl-propanedione-2- (o-ethoxy Carbonyl) oxime, 1,3-diphenyl-propanetrione-2- (o-ethoxycarbonyl) oxime, 1-phenyl-3-ethoxy-propanetrione-2- (o-benzoyl) oxime, Michler's ketone, 2-methyl-
[4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-
1-propane, 2-benzyl-2-dimethylamino-1
-(4-morpholinophenyl) -butanone-1, naphthalenesulfonyl chloride, quinoline sulfonyl chloride, n-phenylthioacridone, 4,4-azobisisobutyronitrile, diphenyl disulfide, benzthiazole disulfide, triphenylphosphine,
Examples include a combination of a photoreducing dye such as camphorquinone, carbon tetrabromide, tribromophenylsulfone, benzoin peroxide, eosin, and methylene blue with a reducing agent such as ascorbic acid and triethanolamine. One or more agents can be used.

【0045】このような感光性樹脂組成物の転写層33
における含有量は、上述の無機成分100重量部に対し
て3〜50重量部、好ましくは5〜30重量部の範囲で
設定することができる。感光性樹脂組成物の含有量が3
重量部未満であると、転写層33の形状保持性が低く、
特に、ロール状態での保存性、取扱性に問題を生じ、ま
た、転写シート31を所望の形状に切断(スリット)す
る場合に無機成分がごみとして発生し、パターン形成に
支障を来すことがある。一方、感光性樹脂組成物の含有
量が50重量部を超えると、焼成により有機成分を完全
に除去することができず、焼成後の膜中に炭化物が残り
品質が低下するので好ましくない。
The transfer layer 33 of such a photosensitive resin composition
Can be set in the range of 3 to 50 parts by weight, preferably 5 to 30 parts by weight, based on 100 parts by weight of the above-mentioned inorganic component. When the content of the photosensitive resin composition is 3
When the amount is less than the weight part, the shape retention of the transfer layer 33 is low,
In particular, there is a problem in the storability and handleability in a roll state, and when cutting (slitting) the transfer sheet 31 into a desired shape, inorganic components are generated as dust, which may hinder pattern formation. is there. On the other hand, if the content of the photosensitive resin composition exceeds 50 parts by weight, the organic components cannot be completely removed by firing, and carbides remain in the film after firing, which is not preferable because the quality deteriorates.

【0046】さらに、上述の感光性樹脂組成物には、添
加剤として、増感剤、重合停止剤、連鎖移動剤、レベリ
ング剤、分散剤、転写性付与剤、安定剤、消泡剤、増粘
剤、沈殿防止剤、剥離剤等を必要に応じて含有すること
ができる。
Further, in the above-mentioned photosensitive resin composition, a sensitizer, a polymerization terminator, a chain transfer agent, a leveling agent, a dispersant, a transferability-imparting agent, a stabilizer, a defoaming agent, A tackifier, a suspending agent, a release agent and the like can be contained as required.

【0047】転写性付与剤は、転写性、インキ組成物の
流動性を向上させることを目的として添加され、例え
ば、ジメチルフタレート、ジブチルフタレート、ジ−n
−オクチルフタレート等のノルマルアルキルフタレート
類、ジ−2−エチルヘキシルフタレート、ジイソデシル
フタレート、ブチルベンジルフタレート、ジイソノニル
フタレート、エチルフタリルエチルグリコレート、ブチ
ルフタリルブチルグリコレート等のフタル酸エステル
類、トリ−2−エチルヘキシルトリメリテート、トリ−
n−アルキルトリメリテート、トリイソノニルトリメリ
テート、トリイソデシルトリメリテート等のトリメリッ
ト酸エステル、ジメチルアジペート、ジブチルアジペー
ト、ジ−2−エチルヘキシルアジペート、ジイソデシル
アジペート、ジブチルジグリコールアジペート、ジ−2
−エチルヘキシルアゼテート、ジメチルセバケート、ジ
ブチルセバケート、ジ−2−エチルヘキシルセバケー
ト、ジ−2−エチルヘキシルマレート、アセチル−トリ
−(2−エチルヘキシル)シトレート、アセチル−トリ
−n−ブチルシトレート、アセチルトリブチルシトレー
ト等の脂肪族二塩基酸エステル類、ポリエチレングリコ
ールベンゾエート、トリエチレングリコール−ジ−(2
−エチルヘキソエート)、ポリグリコールエーテル等の
グリコール誘導体、グリセロールトリアセテート、グリ
セロールジアセチルモノラウレート等のグリセリン誘導
体、セバシン酸、アジピン酸、アゼライン酸、フタル酸
等からなるポリエステル系、分子量300〜3000の
低分子量ポリエーテル、同低分子量ポリ−α−スチレ
ン、同低分子量ポリスチレン、トリメチルホスフェー
ト、トリエチルホスフェート、トリブチルホスフェー
ト、トリ−2−エチルヘキシルホスフェート、トリブト
キシエチルホスフェート、トリフェニルホスフェート、
トリクレジルホスフェート、トリキシレニルホスフェー
ト、クレジルジフェニルホスフェート、キシレニルジフ
ェニルホスフェート、2−エチルヘキシルジフェニルホ
スフェート等の正リン酸エステル類、メチルアセチルリ
シノレート等のリシノール酸エステル類、ポリ−1,3
−ブタンジオールアジペート、エポキシ化大豆油等のポ
リエステル・エポキシ化エステル類、グリセリントリア
セテート、2−エチルヘキシルアセテート等の酢酸エス
テル類を挙げることができる。
The transferability-imparting agent is added for the purpose of improving the transferability and the fluidity of the ink composition. Examples thereof include dimethyl phthalate, dibutyl phthalate and di-n.
Normal alkyl phthalates such as octyl phthalate, phthalic acid esters such as di-2-ethylhexyl phthalate, diisodecyl phthalate, butyl benzyl phthalate, diisononyl phthalate, ethyl phthalyl ethyl glycolate and butyl phthalyl butyl glycolate; tri-2 -Ethylhexyl trimellitate, tri-
trimellitate such as n-alkyl trimellitate, triisononyl trimellitate, triisodecyl trimellitate, dimethyl adipate, dibutyl adipate, di-2-ethylhexyl adipate, diisodecyl adipate, dibutyl diglycol adipate, di- 2
-Ethylhexyl acetate, dimethyl sebacate, dibutyl sebacate, di-2-ethylhexyl sebacate, di-2-ethylhexyl malate, acetyl-tri- (2-ethylhexyl) citrate, acetyl-tri-n-butyl citrate, Aliphatic dibasic acid esters such as acetyl tributyl citrate, polyethylene glycol benzoate, triethylene glycol di- (2
-Ethylhexoate), glycol derivatives such as polyglycol ether, glycerin derivatives such as glycerol triacetate and glycerol diacetyl monolaurate, polyesters composed of sebacic acid, adipic acid, azelaic acid, phthalic acid, etc., having a molecular weight of 300 to 3,000. Low molecular weight polyether, the same low molecular weight poly-α-styrene, the same low molecular weight polystyrene, trimethyl phosphate, triethyl phosphate, tributyl phosphate, tri-2-ethylhexyl phosphate, tributoxyethyl phosphate, triphenyl phosphate,
Orthophosphates such as tricresyl phosphate, trixylenyl phosphate, cresyl diphenyl phosphate, xyenyl diphenyl phosphate, 2-ethylhexyl diphenyl phosphate, ricinoleates such as methyl acetyl ricinoleate, poly-1,3
-Polyester / epoxidized esters such as butanediol adipate and epoxidized soybean oil; and acetates such as glycerin triacetate and 2-ethylhexyl acetate.

【0048】また、分散剤、沈降防止剤は、上記の無機
粉体の分散性、沈降防止性の向上を目的とするものであ
り、例えば、リン酸エステル系、シリコーン系、ひまし
油エステル系、各種界面活性剤等が挙げられ、消泡剤と
しては、例えば、シリコーン系、アクリル系、各種界面
活性剤等が挙げられ、剥離剤としては、例えば、シリコ
ーン系、フッ素油系、パラフィン系、脂肪酸系、脂肪酸
エステル系、ひまし油系、ワックス系、コンパウンドタ
イプ等が挙げられ、レベリング剤としては、例えば、フ
ッ素系、シリコーン系、各種界面活性剤等が挙げられ、
それぞれ適量添加することができる。
The dispersant and the anti-settling agent are intended to improve the dispersibility and anti-settling property of the inorganic powder, and include, for example, a phosphate ester type, a silicone type, a castor oil ester type and various types. Surfactants and the like, examples of the antifoaming agent include silicone-based, acrylic-based, various surfactants and the like, and examples of the release agent include silicone-based, fluorine oil-based, paraffin-based, and fatty acid-based , Fatty acid ester type, castor oil type, wax type, compound type and the like, and as the leveling agent, for example, fluorine type, silicone type, various surfactants and the like,
Each can be added in an appropriate amount.

【0049】また、転写層33形成のために感光性樹脂
組成物とともに用いる溶剤としては、例えば、メタノー
ル、エタノール、n−プロパノール、イソプロパノー
ル、エチレングリコール、プロピレングリコール等のア
ルコール類、α−もしくはβ−テルピネオール等のテル
ペン類等、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキ
サノン、N−メチル−2−ピロリドン、ジエチルケト
ン、2−ヘプタノン、4−ヘプタノン等のケトン類、ト
ルエン、キシレン、テトラメチルベンゼン等の芳香族炭
化水素類、セロソルブ、メチルセロソルブ、エチルセロ
ソルブ、カルビトール、メチルカルビトール、エチルカ
ルビトール、ブチルカルビトール、プロピレングリコー
ルモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチ
ルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテ
ル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、トリ
エチレングリコールモノメチルエーテル、トリエチレン
グリコールモノエチルエーテル等のグリコールエーテル
類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、
エチルセロソルブアセテート、ブチルセロソルブアセテ
ート、カルビトールアセテート、エチルカルビトールア
セテート、ブチルカルビトールアセテート、プロピレン
グリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレン
グリコールモノエチルエーテルアセテート、2−メトキ
シエチルアセテート、シクロヘキシルアセテート、2−
エトキシエチルアセテート、3−メトキシブチルアセテ
ート等の酢酸エステル類、ジエチレングリコールジアル
キルエーテル、ジプロピレングリコールジアルキルエー
テル、3−エトキシプロピオン酸エチル、安息香酸メチ
ル、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチル
ホルムアミド等が挙げられる。 (保護フィルム)保護フィルム34は、柔軟で、張力も
しくは圧力で著しい変形を生じない材料を使用すること
ができる。具体的には、ポリエチレンフィルム、エチレ
ン−酢酸ビニル共重合体フィルム、エチレン−ビニルア
ルコール共重合体フィルム、ポリプロピレンフィルム、
ポリスチレンフィルム、ポリメタクリル酸フィルム、ポ
リ塩化ビニルフィルム、ポリビニルアルコールフィル
ム、ポリビニルブチラールフィルム、ナイロンフィル
ム、ポリエーテルエーテルケトンフィルム、ポリサルフ
ォンフィルム、ポリエーテルサルフォンフィルム、ポリ
テトラフルオロエチレン−パーフルオロアルキルビニル
エーテルフィルム、ポリビニルフルオライドフィルム、
テトラフルオロエチレン−エチレンフィルム、テトラフ
ルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレンフィルム、
ポリクロロトリフルオロエチレンフィルム、ポリビニリ
デンフルオライドフィルム、ポリエチレンテレフタレー
トフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルム、ポリ
エステルフィルム、トリ酢酸セルロースフィルム、ポリ
カーボネートフィルム、ポリウレタンフィルム、ポリイ
ミドフィルム、ポリエーテルイミドフィルム、これらの
樹脂材料にフィラーを配合したフィルム、これらの樹脂
材料を用いたフィルムを1軸延伸もしくは2軸延伸した
もの、これらの樹脂材料を用いて流れ方向より幅方向の
延伸倍率を高めた2軸延伸フィルム、これらの樹脂材料
を用いて幅方向より流れ方向の延伸倍率を高めた2軸延
伸フィルム、これらのフィルムのうちの同種または異種
のフィルムを貼り合わせたもの、および、これらのフィ
ルムに用いられる原料樹脂から選ばれる同種または異種
の樹脂を共押し出しすることによって作成される複合フ
ィルム等を挙げることができる。これらのフィルムのう
ちで、特に2軸延伸ポリエステルフィルムを使用するこ
とが好ましい。また、上記の樹脂フィルムに処理を施し
たもの、例えば、シリコン処理ポリエチレンテレフタレ
ート、コロナ処理ポリエチレンテレフタレート、メラミ
ン処理ポリエチレンテレフタレート、コロナ処理ポリエ
チレン、コロナ処理ポリプロピレン、シリコン処理ポリ
プロピレン等を使用してもよい。
Examples of the solvent used together with the photosensitive resin composition for forming the transfer layer 33 include alcohols such as methanol, ethanol, n-propanol, isopropanol, ethylene glycol and propylene glycol, α- and β-. Terpene such as terpineol, etc., ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, N-methyl-2-pyrrolidone, diethyl ketone, 2-heptanone and 4-heptanone, and aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene and tetramethylbenzene , Cellosolve, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, carbitol, methyl carbitol, ethyl carbitol, butyl carbitol, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether, dipropylene Glycol ethers such as ethylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monoethyl ether, triethylene glycol monomethyl ether, triethylene glycol monoethyl ether, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate,
Ethyl cellosolve acetate, butyl cellosolve acetate, carbitol acetate, ethyl carbitol acetate, butyl carbitol acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, propylene glycol monoethyl ether acetate, 2-methoxyethyl acetate, cyclohexyl acetate, 2-hexyl acetate
Acetates such as ethoxyethyl acetate and 3-methoxybutyl acetate, diethylene glycol dialkyl ether, dipropylene glycol dialkyl ether, ethyl 3-ethoxypropionate, methyl benzoate, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide and the like Is mentioned. (Protective Film) The protective film 34 can be made of a material that is flexible and does not significantly deform under tension or pressure. Specifically, polyethylene film, ethylene-vinyl acetate copolymer film, ethylene-vinyl alcohol copolymer film, polypropylene film,
Polystyrene film, polymethacrylic acid film, polyvinyl chloride film, polyvinyl alcohol film, polyvinyl butyral film, nylon film, polyetheretherketone film, polysulfone film, polyethersulfone film, polytetrafluoroethylene-perfluoroalkylvinylether film, Polyvinyl fluoride film,
Tetrafluoroethylene-ethylene film, tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene film,
Polychlorotrifluoroethylene film, polyvinylidene fluoride film, polyethylene terephthalate film, polyethylene naphthalate film, polyester film, cellulose triacetate film, polycarbonate film, polyurethane film, polyimide film, polyetherimide film, filler for these resin materials , A film obtained by uniaxially or biaxially stretching a film using these resin materials, a biaxially stretched film obtained by using these resin materials to increase the draw ratio in the width direction from the flow direction, and these resins Biaxially stretched film having a higher stretching ratio in the flow direction than in the width direction using a material, a film obtained by laminating the same or different films among these films, and used for these films It can be mentioned composite films created by co-extruding the same or different resin selected from the fee resin. Among these films, it is particularly preferable to use a biaxially stretched polyester film. Further, those obtained by treating the above resin film, for example, silicon-treated polyethylene terephthalate, corona-treated polyethylene terephthalate, melamine-treated polyethylene terephthalate, corona-treated polyethylene, corona-treated polypropylene, silicon-treated polypropylene, and the like may be used.

【0050】上記のような保護フィルム34の厚みは、
4〜400μm、好ましくは6〜150μmの範囲で設
定することができる。
The thickness of the protective film 34 as described above is
It can be set in the range of 4 to 400 μm, preferably 6 to 150 μm.

【0051】本発明のパターン形成方法に上述の転写シ
ート31を使用する場合、保護フィルム34を剥離除去
した後に図2、図3と同様の操作により電極パターン形
成を行うことが可能である。
When the above-described transfer sheet 31 is used in the pattern forming method of the present invention, an electrode pattern can be formed by the same operation as in FIGS. 2 and 3 after the protective film 34 is peeled off.

【0052】また、本発明のパターン形成方法に用いる
転写シートは、転写層上に保護フィルムを備えていない
ものであってもよい。
The transfer sheet used in the pattern forming method of the present invention may not have a protective film on the transfer layer.

【0053】[0053]

【実施例】次に、実施例を示して本発明を更に詳細に説
明する。 (実施例1)まず、インキ組成物として下記組成の感光
性樹脂組成物を調製した。
Next, the present invention will be described in more detail with reference to examples. Example 1 First, a photosensitive resin composition having the following composition was prepared as an ink composition.

【0054】 感光性樹脂組成物の組成 ・銀粉(球形状、平均粒径1μm) … 96重量部 ・ガラスフリット … 4重量部 (主成分:Bi23 ,SiO2 ,B23 (無アルカリ) 軟化点=500℃) ・n−ブチルメタクリレート/2−ヒドロキシプロピルメタクリレート /メタクリル酸共重合体(グリシジルメタクリレート付加) (分子量=8万、酸価=110mgKOH/g) … 13重量部 ・ペンタエリスリトールトリ/テトラアクリレート … 11重量部 ・光重合開始剤(チバガイギ社製イルガキュア369)… 1重量部 ・3−メトキシブチルアセテート … 20重量部 次に、ベースフィルムとしてポリエチレンテレフタレー
トフィルム(東レ(株)製T−60)を準備し、このベ
ースフィルム上に上記のインキ組成物をブレードコート
法により塗布し乾燥(100℃、2分間)して厚み17
μmの転写層を形成した。
Composition of photosensitive resin composition: silver powder (spherical, average particle size: 1 μm): 96 parts by weight; glass frit: 4 parts by weight (main components: Bi 2 O 3 , SiO 2 , B 2 O 3 (none) N-butyl methacrylate / 2-hydroxypropyl methacrylate / methacrylic acid copolymer (glycidyl methacrylate addition) (molecular weight = 80,000, acid value = 110 mg KOH / g) 13 parts by weight pentaerythritol Tri / tetraacrylate 11 parts by weight Photopolymerization initiator (Irgacure 369 manufactured by Ciba Geigy) 1 part by weight 3-methoxybutyl acetate 20 parts by weight Next, a polyethylene terephthalate film (T by Toray Industries, Inc.) was used as a base film. -60), and the above ink composition was sprayed on the base film. Coating and drying (100 ° C., 2 minutes) by coating to a thickness 17
A transfer layer having a thickness of μm was formed.

【0055】次いで、この転写層に保護フィルムとして
シリコン処理ポリエチレンテレフタレートフィルム(東
セロ(株)製SP−PET−03−25−C)をラミネ
ートして、図4に示されるような電極パターン形成用の
転写シートAを作製した。
Next, a silicon-treated polyethylene terephthalate film (SP-PET-03-25-C manufactured by Tosello Co., Ltd.) was laminated on the transfer layer as a protective film to form an electrode pattern as shown in FIG. Transfer sheet A was prepared.

【0056】また、導電性粉体としての銀粉を含有しな
い下記組成の感光性樹脂組成物を調製し、これを使用し
て上記と同様の操作で転写シートBを作製した。
Further, a photosensitive resin composition having the following composition not containing silver powder as a conductive powder was prepared, and using this, a transfer sheet B was prepared in the same manner as above.

【0057】 感光性樹脂組成物の組成 ・ガラスフリット … 58重量部 (主成分:Bi23 ,SiO2 ,B23 (無アルカリ) 軟化点=500℃) ・n−ブチルメタクリレート/2−ヒドロキシプロピルメタクリレート /メタクリル酸共重合体(グリシジルメタクリレート付加) (分子量=8万、酸価=110mgKOH/g) … 13重量部 ・ペンタエリスリトールトリ/テトラアクリレート … 11重量部 ・光重合開始剤(チバガイギ社製イルガキュア369)… 1重量部 ・3−メトキシブチルアセテート … 20重量部 次に、上記の各転写シートを所定の幅にスリットし、保
護フィルムを剥離した後、60℃に加温したガラス基板
上に50℃の熱ロールで圧着し、ベースフィルムを剥離
して転写層をガラス基板に転写した。
Composition of photosensitive resin composition : Glass frit: 58 parts by weight (main component: Bi 2 O 3 , SiO 2 , B 2 O 3 (non-alkali), softening point = 500 ° C.) n-butyl methacrylate / 2 -Hydroxypropyl methacrylate / methacrylic acid copolymer (glycidyl methacrylate addition) (molecular weight = 80,000, acid value = 110 mgKOH / g) ... 13 parts by weight-Pentaerythritol tri / tetraacrylate ... 11 parts by weight-Photopolymerization initiator (Ciba-geigi) Irgacure 369) 1 part by weight 3-methoxybutyl acetate 20 parts by weight Next, each of the transfer sheets was slit into a predetermined width, the protective film was peeled off, and the glass substrate was heated to 60 ° C. The base film was peeled off by pressing with a hot roll at 50 ° C., and the transfer layer was transferred to a glass substrate.

【0058】次いで、室温まで冷却した後、プラズマデ
ィスプレイパネルの電極のネガパターンマスク(開口部
線幅150μm)を介して紫外線平行光あるいは紫外線
散乱光(光源:超高圧水銀ランプ)を照射(400mJ
/cm2 )して転写層を露光した。使用した転写シー
ト、および、露光時の転写層とネガパターンマスクとの
間隙およびマスク面内の間隙のばらつき、使用した紫外
線は、下記の表1に示すように設定した。
Then, after cooling to room temperature, irradiation with ultraviolet collimated light or ultraviolet scattered light (light source: ultra-high pressure mercury lamp) is performed (400 mJ) through a negative pattern mask (opening line width 150 μm) of the electrodes of the plasma display panel.
/ Cm 2 ) to expose the transfer layer. The used transfer sheet, the gap between the transfer layer and the negative pattern mask at the time of exposure and the variation in the gap in the mask surface, and the used ultraviolet light were set as shown in Table 1 below.

【0059】その後、0.5%炭酸ナトリウム水溶液を
用いて転写層を現像し、所定のパターンを得た。次い
で、ガラス基板を600℃で焼成して、パターン(試料
1〜試料12)を形成した。形成した各パターンの線幅
を測定して、下記の表1に示した。
Thereafter, the transfer layer was developed using a 0.5% aqueous sodium carbonate solution to obtain a predetermined pattern. Next, the glass substrate was fired at 600 ° C. to form patterns (samples 1 to 12). The line width of each formed pattern was measured and is shown in Table 1 below.

【0060】[0060]

【表1】 表1に示されるように、電極パターン形成用の転写シー
トAを使用し、転写層とネガパターンマスクとの間に設
けられた間隙が50〜500μmの範囲で面内ばらつき
が±50μm以内であり、かつ、露光に紫外線平行光を
使用して形成した電極パターン(試料1〜試料4)は、
線幅が高い精度であることが確認された。
[Table 1] As shown in Table 1, the transfer sheet A for forming an electrode pattern was used, and the gap provided between the transfer layer and the negative pattern mask was in the range of 50 to 500 μm, and the in-plane variation was within ± 50 μm. And, the electrode pattern (sample 1 to sample 4) formed using ultraviolet collimated light for exposure is
It was confirmed that the line width had high accuracy.

【0061】これに対して、転写層とネガパターンマス
クとの間隙を30μmとして形成した電極パターン(試
料5)は、線幅が高い精度であるものの、ネガパターン
マスクへの転写層材料の付着による汚染が生じた。
On the other hand, the electrode pattern (sample 5) formed with the gap between the transfer layer and the negative pattern mask being 30 μm has a high line width, but the transfer layer material adheres to the negative pattern mask. Contamination has occurred.

【0062】また、転写層とネガパターンマスクとの間
隙を600μmとして形成した電極パターン(試料
6)、および、露光に紫外線散乱光を用いて形成した電
極パターン(試料8)は、いずれも線幅の太りがみられ
精度の低いものであった。さらに、転写層とネガパター
ンマスクとの間隙のばらつきが±50μmを超える条件
で形成した電極パターン(試料7)は、線幅のばらつき
が大きく、精度の低いものであった。
The electrode pattern (sample 6) formed with a gap between the transfer layer and the negative pattern mask of 600 μm and the electrode pattern (sample 8) formed using ultraviolet scattered light for exposure are both line widths. And the accuracy was low. Further, the electrode pattern (sample 7) formed under the condition that the variation in the gap between the transfer layer and the negative pattern mask exceeded ± 50 μm had large variation in line width and low precision.

【0063】一方、転写層が導電性粉体(銀粉)を含有
しない転写シートBを使用し、電極パターンの試料2、
6、7、8と同様の条件でそれぞれ形成したパターン
(試料9〜11)は、いずれも上記の電極パターン(試
料1〜試料4)と同様に精度の高いものであった。この
ことから、導電性粉体を含有する転写層では、照射光が
反射されて散乱しやすく、高精度のパターン露光が困難
であり、本発明のパターン形成方法は、このような導電
性粉体を含有する転写層を備えた転写シートを用いるパ
ターン形成において、特に優れた効果を奏することが確
認された。(実施例2)まず、インキ組成物として下記
組成の感光性樹脂組成物を調製した。
On the other hand, using a transfer sheet B in which the transfer layer does not contain conductive powder (silver powder), the electrode pattern sample 2,
The patterns (samples 9 to 11) formed under the same conditions as 6, 7, and 8 were all as accurate as the above-mentioned electrode patterns (samples 1 to 4). For this reason, in the transfer layer containing the conductive powder, the irradiation light is easily reflected and scattered, and it is difficult to perform high-precision pattern exposure. It was confirmed that particularly excellent effects were exhibited in pattern formation using a transfer sheet provided with a transfer layer containing. Example 2 First, a photosensitive resin composition having the following composition was prepared as an ink composition.

【0064】 感光性樹脂組成物の組成 ・銀粉(球形状、平均粒径1μm) … 96重量部 ・ガラスフリット … 4重量部 (主成分:Bi23 ,SiO2 ,B23 (無アルカリ) 軟化点=500℃) ・n−ブチルメタクリレート/2−ヒドロキシプロピルメタクリレート /メタクリル酸共重合体(グリシジルメタクリレート付加) (分子量=8万、酸価=110mgKOH/g) … 13重量部 ・ペンタエリスリトールトリ/テトラアクリレート … 11重量部 ・光重合開始剤(チバガイギ社製イルガキュア369)… 1重量部 ・3−メトキシブチルアセテート … 24重量部 ・紫外線吸収剤 … 12重量部 次に、上記のインキ組成物を用いて、実施例1の転写シ
ートAと同様にして、図4に示されるような電極パター
ン形成用の転写シートを作製した。
Composition of photosensitive resin composition: silver powder (spherical, average particle size: 1 μm): 96 parts by weight; glass frit: 4 parts by weight (main components: Bi 2 O 3 , SiO 2 , B 2 O 3 (none) N-butyl methacrylate / 2-hydroxypropyl methacrylate / methacrylic acid copolymer (glycidyl methacrylate addition) (molecular weight = 80,000, acid value = 110 mg KOH / g) 13 parts by weight pentaerythritol Tri / tetraacrylate 11 parts by weight Photopolymerization initiator (Irgacure 369 manufactured by Ciba Geigy) 1 part by weight 3-methoxybutyl acetate 24 parts by weight Ultraviolet absorber 12 parts by weight Next, the above ink composition And transfer for forming an electrode pattern as shown in FIG. 4 in the same manner as in the transfer sheet A of Example 1. It was produced over door.

【0065】次に、上記の転写シートを所定の幅にスリ
ットし、保護フィルムを剥離した後、60℃に加温した
ガラス基板上に50℃の熱ロールで圧着した。
Next, the transfer sheet was slit into a predetermined width, the protective film was peeled off, and the transfer sheet was pressed on a glass substrate heated to 60 ° C. with a hot roll at 50 ° C.

【0066】次いで、室温まで冷却した後、プラズマデ
ィスプレイパネルの電極のネガパターンマスク(開口部
線幅150μm)を介して紫外線平行光あるいは紫外線
散乱光(光源:超高圧水銀ランプ)を照射(200mJ
/cm2 )して転写層を露光した。露光時のベースフィ
ルムとネガパターンマスクとの間隙およびマスク面内の
間隙のばらつき、使用した紫外線は、下記の表2に示す
ように設定した。
Then, after cooling to room temperature, irradiation with ultraviolet collimated light or ultraviolet scattered light (light source: ultrahigh pressure mercury lamp) is performed through a negative pattern mask (opening line width 150 μm) of the electrodes of the plasma display panel (200 mJ).
/ Cm 2 ) to expose the transfer layer. Variations in the gap between the base film and the negative pattern mask and the gap in the mask surface during exposure, and the used ultraviolet light were set as shown in Table 2 below.

【0067】次に、ベースフィルムを剥離して転写層を
ガラス基板に転写し、その後、0.5%炭酸ナトリウム
水溶液を用いて転写層を現像し、所定のパターンを得
た。次いで、ガラス基板を600℃で焼成して、電極パ
ターン(試料1〜試料7)を形成した。形成した各パタ
ーンの線幅を測定して、下記の表2に示した。
Next, the base layer was peeled off, and the transfer layer was transferred to a glass substrate. Thereafter, the transfer layer was developed using a 0.5% aqueous sodium carbonate solution to obtain a predetermined pattern. Next, the glass substrate was fired at 600 ° C. to form electrode patterns (samples 1 to 7). The line width of each formed pattern was measured and is shown in Table 2 below.

【0068】[0068]

【表2】 表2に示されるように、ベースフィルムとネガパターン
マスクとの間に設けられた間隙が50〜500μmの範
囲で面内ばらつきが±50μm以内であり、かつ、露光
に紫外線平行光を使用して形成した電極パターン(試料
1〜試料4)は、線幅が高い精度であることが確認され
た。
[Table 2] As shown in Table 2, the gap provided between the base film and the negative pattern mask has an in-plane variation within ± 50 μm within a range of 50 to 500 μm, and uses ultraviolet parallel light for exposure. It was confirmed that the formed electrode patterns (samples 1 to 4) had high line widths and high accuracy.

【0069】これに対して、ベースフィルムとネガパタ
ーンマスクとの間隙を600μmとして形成した電極パ
ターン(試料5)、および、露光に紫外線散乱光を用い
て形成した電極パターン(試料7)は、いずれも線幅の
太りがみられ精度の低いものであり、さらに、ベースフ
ィルムとネガパターンマスクとの間隙のばらつきが±5
0μmを超える条件で形成した電極パターン(試料6)
は、線幅のばらつきが大きく、精度の低いものであっ
た。
On the other hand, the electrode pattern (Sample 5) formed with the gap between the base film and the negative pattern mask being 600 μm and the electrode pattern (Sample 7) formed by using ultraviolet scattered light for exposure are both shown. The line width is also thick and the accuracy is low, and the variation in the gap between the base film and the negative pattern mask is ± 5.
Electrode pattern formed under conditions exceeding 0 μm (Sample 6)
Has large line width variations and low accuracy.

【0070】[0070]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば基
板上に転写された転写層とフォトマスクとの間に設けら
れた間隙、あるいは、基板上に圧着された転写シートの
ベースフィルムとフォトマスクとの間に設けられた間隙
が、50〜500μmの範囲内であり、間隙の面内ばら
つきが±50μm以内であり、かつ、露光に平行光を使
用するので、フォトマスクの開口パターンを忠実に再現
した高精度の露光を転写層に対して行うことができ、ま
た、上記の適正な間隙設定により、フォトマスクの汚染
防止とゴミ付着防止が可能となり、ゴミ付着による欠陥
のない高精細な電極パターンを高い精度で形成すること
ができる。
As described above in detail, according to the present invention, a gap provided between a transfer layer transferred on a substrate and a photomask, or a base film of a transfer sheet pressed on a substrate. The gap provided between the photomask and the photomask is in the range of 50 to 500 μm, the in-plane variation of the gap is within ± 50 μm, and parallel light is used for exposure. The exposure can be performed with high accuracy by faithfully reproducing the transfer layer, and the appropriate gap setting can prevent contamination of the photomask and adhesion of dust. A fine electrode pattern can be formed with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】プラズマディスプレイパネルの一例を示す概略
構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating an example of a plasma display panel.

【図2】本発明のパターン形成方法による電極パターン
形成の一例を説明するための工程図である。
FIG. 2 is a process chart for explaining an example of forming an electrode pattern by the pattern forming method of the present invention.

【図3】本発明のパターン形成方法による電極パターン
形成の他の例を説明するための工程図である。
FIG. 3 is a process chart for explaining another example of forming an electrode pattern by the pattern forming method of the present invention.

【図4】本発明に使用できる転写シートの一例を示す概
略断面図である。
FIG. 4 is a schematic sectional view showing an example of a transfer sheet that can be used in the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…プラズマディスプレイパネル 11…前面板 21…背面板 24…アドレス電極パターン 31…転写シート 32…ベースフィルム 33…転写層 34…保護フィルム M…フォトマスク DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Plasma display panel 11 ... Front plate 21 ... Back plate 24 ... Address electrode pattern 31 ... Transfer sheet 32 ... Base film 33 ... Transfer layer 34 ... Protective film M ... Photomask

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 各務 壽員 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 Fターム(参考) 5C027 AA01 5C040 FA01 GA03 GB14 GC18 GC19 JA15 JA19 JA21 KA01 KA09 KA16 KB03 KB17 KB24 MA22 MA24 5G301 DA03 DA36 DA37 DA38 DA42 DD01  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Toshi Kagami 1-1-1, Ichigaya-Kagacho, Shinjuku-ku, Tokyo Dai Nippon Printing Co., Ltd. F-term (reference) 5C027 AA01 5C040 FA01 GA03 GB14 GC18 GC19 JA15 JA19 JA21 KA01 KA09 KA16 KB03 KB17 KB24 MA22 MA24 5G301 DA03 DA36 DA37 DA38 DA42 DD01

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導電性粉体とガラスフリットを含む無機
成分と焼成除去可能な感光性樹脂組成物を含む有機成分
とを少なくとも含有する転写層をベースフィルム上に備
えた転写シートを用いて、基板上に転写層を圧着して重
ね合わせ、その後、ベースフィルムを剥離して転写層を
基板上に転写し、該転写層に対して50〜500μmの
範囲で面内ばらつきが±50μm以内の間隙を設けてフ
ォトマスクを配設し、該フォトマスクを介して平行光に
よる転写層の露光を行い、その後、現像してパターニン
グした後、焼成して電極パターンを形成することを特徴
としたパターン形成方法。
1. A transfer sheet comprising a base film having a transfer layer containing at least a conductive powder, an inorganic component containing a glass frit, and an organic component containing a photosensitive resin composition that can be removed by firing. The transfer layer is pressed onto the substrate and superimposed, then the base film is peeled off and the transfer layer is transferred onto the substrate, and a gap having an in-plane variation within ± 50 μm within a range of 50 to 500 μm with respect to the transfer layer. A pattern formation characterized by providing a photomask, exposing the transfer layer with parallel light through the photomask, developing and patterning, and then firing to form an electrode pattern Method.
【請求項2】 導電性粉体とガラスフリットを含む無機
成分と焼成除去可能な感光性樹脂組成物を含む有機成分
とを少なくとも含有する転写層をベースフィルム上に備
えた転写シートを用いて、基板上に転写層を圧着して重
ね合わせ、ベースフィルムに対して50〜500μmの
範囲で面内ばらつきが±50μm以内の間隙を設けてフ
ォトマスクを配設し、該フォトマスクを介して平行光に
よる転写層の露光を行い、その後、ベースフィルムを剥
離して転写層を基板上に転写し、現像してパターニング
した後、焼成して電極パターンを形成することを特徴と
したパターン形成方法。
2. A transfer sheet comprising a base film having a transfer layer containing at least an inorganic component containing a conductive powder and a glass frit and an organic component containing a photosensitive resin composition that can be removed by firing. A transfer layer is pressed on a substrate and superimposed, and a photomask is provided with a gap of ± 50 μm within a range of 50 to 500 μm in a plane within a range of 50 to 500 μm, and a parallel light is transmitted through the photomask. And exposing the transfer layer to a substrate, peeling the base film, transferring the transfer layer onto a substrate, developing and patterning, and baking to form an electrode pattern.
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