JP2000021800A - ウエハ処理装置 - Google Patents

ウエハ処理装置

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JP2000021800A
JP2000021800A JP10188563A JP18856398A JP2000021800A JP 2000021800 A JP2000021800 A JP 2000021800A JP 10188563 A JP10188563 A JP 10188563A JP 18856398 A JP18856398 A JP 18856398A JP 2000021800 A JP2000021800 A JP 2000021800A
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JP
Japan
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wafer
temperature
temp
metal
reflectivity
Prior art date
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Application number
JP10188563A
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English (en)
Inventor
Nobuyuki Mise
信行 三瀬
Tomoji Watanabe
智司 渡辺
Fumihide Ikeda
文秀 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Hitachi Ltd
Kokusai Electric Corp
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Kokusai Electric Corp filed Critical Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の目的は、ウエハの温度を短時間で上げ
て、かつ短時間で下げるのに必要な装置および手段を提
供することにある。 【解決手段】ウエハ1の温度を上げるときにはウエハ1
に向き合う位置に反射率の高い部材7を置き、ウエハ1
の温度をさげるときにはウエハ1に向き合う位置に放射
率の高い部材8を置く。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はウエハ処理プロセス
において、ウエハ表面に金属膜,金属シリサイド膜,酸
化膜,窒化膜,ポリシリコン膜,高誘電体膜などを形成
する熱CVD装置、あるいはエピタキシャルシリコン膜
など形成するエピタキシャル装置、また、リンやボロン
などの不純物を拡散するための拡散装置など約800℃
以上の温度で処理するための装置に関わり、特に一枚ず
つウエハを処理する枚葉式装置あるいは二枚程度の少数
のウエハを同時に処理する疑似枚葉式装置あるいはほぼ
同一の面内に置かれた複数のウエハを一度に処理する装
置において、単位時間に処理するウエハを増加する方法
及びそれを実現する装置の構造、そして、その方法や装
置を用いたウエハ,デバイスに関する。
【0002】
【従来の技術】ウエハ上にデバイスを形成するにはウエ
ハがほぼ一定の温度に保たれた反応室に反応性のガスを
供給して酸化,CVD,エピタキシャル成長などの処理
を施す必要があり、その処理にかかる時間をできるたけ
短くすることが要求されている。
【0003】ところが、室温に保たれたウエハを反応室
内で加熱し上記の処理に適切な温度にしたり、逆に上記
の処理に適切な温度に保たれたウエハを搬送するのに適
切な温度にまで下げるのは時間がかかることが多い。
【0004】ウエハの温度上昇に必要な時間を短縮する
ためのひとつの方法として、特開昭61−251126号公報あ
るいは特開昭58−37000 号公報にあるように、ウエハの
両面から加熱するという方法がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ウエハの両面から加熱
する方式では、ウエハの温度を上げるのに要する時間は
短縮できるが、ウエハの温度を下げるのに要する時間が
長くなるという欠点があった。しかも、二つの加熱源を
用いてウエハを加熱すると、制御装置が必要で高価格に
なるという欠点に加え、故障により装置の稼働率が下が
りやすいという欠点があった。
【0006】そこで、本発明の目的はウエハの温度を短
時間で上げ下げする装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の課題は、ウエハの
温度を上昇させるときには反射率の高い部材をウエハに
向かい合うように設置し、ウエハの温度を下降させると
きには吸収率の高い部材をウエハに向かい合うように設
置することで解決できる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図を用い
て説明する。説明上、ウエハを1100℃に保ち、水素
(H2),シラン(SiH4)を用いてエピタキシャルシ
リコン膜を形成するプロセスを例にとる。
【0009】図1は本発明の一実施例である。ウエハ1
はカーボン製のサセプタ2上に置かれ、サセプタ2はそ
の下に位置するコイル3を通る高周波電流によって誘導
加熱され、結果的にウエハを加熱することができる。水
素及びシランは中央のノズル4から石英製のベルジャー
5内に供給される。その一部はウエハ1上にシリコンの
エピタキシャル膜を形成する。その他のガスは排気口か
ら排出される。ウエハ1,サセプタ2,コイル3を囲む
ように石英製のベルジャー5及び金属製の台6が位置
し、Oリングなどのシールによってベルジャー5及び金
属製の台6で囲まれた空間の内部と外部は隔離されてい
る。
【0010】ウエハ1がサセプタ2上に置かれるとき、
あるいはウエハ1をサセプタ2から他の位置へ移動する
ときにはウエハ1の温度は800℃以下にする。それ
は、搬送装置が正常に稼働するにはある程度温度を下げ
なければならず、また、高い温度に保たれたウエハ1を
搬送するとスリップが発生する恐れがあるためである。
【0011】本発明の一実施例の図1では、上記の構成
において金属製の囲い7にメッキを施している。このメ
ッキは金属製の囲い7の反射率を1に近くするために施
すので、金メッキなどが適当である。これによりウエハ
1を加熱する際に、ウエハ1から放射され、メッキのな
い金属製の囲い7に吸収されていたエネルギーの一部が
金メッキで反射されて、再びウエハ1に到達する。その
結果、ウエハ1が放出するエネルギーが減り、短時間で
ウエハ1の温度を上昇させることができる。金属製の台
6などにも金メッキを施しておくと、さらに熱が逃げに
くくなり、さらに短時間でウエハ1の温度を上昇させる
ことができる。
【0012】ところが、このままではウエハ1の温度を
下げるときにも熱が逃げにくくなり、ウエハ1の温度を
下げるのに時間がかかってしまう。そこで本発明では、
ウエハ1の温度を下げるときには石英製のベルジャー5
と内面が金メッキされた金属製の囲い7の間に放射率が
1に近いカーボンなどの部材8、あるいは金属のように
部材そのものの放射率は低いがその表面を十分に厚く黒
い塗料を塗り、実質的な放射率を1に近くした部材8を
挿入するように工夫を凝らしている。
【0013】このような部材8をウエハ1に向き合うよ
うに置くことで、ウエハ1が放出するエネルギーをでき
るだけ吸収し、再びウエハ1に到達する割合を減らすこ
とができる。さらに、この部材8を積極的に冷却できる
ように、内部に冷却用の水を通す流路を設けている。
【0014】これとは逆に金属製の囲い7を黒い塗料で
塗り放射率を1に近い状態に保ち、ウエハ1の温度を上
げるときに石英製のベルジャー5と金属製の囲い7の間
に金メッキ施した部材をウエハ1に向き合うように挿入
しても、同等の効果が得られる。
【0015】また本発明の他の実施例(図2)では、石
英製のベルジャー5と金属製の囲い7の間に、ウエハ1
に対し、向き合う面を変えられるように回転可能な表裏
で放射率(反射率)が大きく異なる部材9を設けてい
る。この部材9は、一つの面には金メッキなどが施され
ており反射率が1に近い状態に保たれ、他の面には黒い
塗料が塗られて放射率が1に近い状態に保たれている。
【0016】ウエハ1の温度を上げるときには、ウエハ
1に反射率が1に近い面が向き合うように部材9を調整
し、ウエハ1の温度を下げるときには放射率が1に近い
面が向くように部材9を調整することで、ウエハ1の温
度を上げるにも下げるのにも時間がかからないようにす
ることができる。
【0017】図1のような方法では、ウエハ1を同時に
複数処理するような場合、石英製のベルジャー5と金属
製の囲いの間に挿入して、ウエハ1の温度を下げるのを
短縮するには部材8がベルジャー5程度には大きいこと
が必要で装置が全体として大きくなることは避けられな
い。ところが、図2の部材9を複数設ける方法では装置
を大きくしなくても同等の効果が得られるという長所も
ある。
【0018】図1の発明も図2の発明も、従来の装置と
異なる部材は石英製のベルジャー5の外側に設けられて
おり、ウエハ1に汚染などの影響を与えることは小さ
い。
【0019】本発明の他の実施例を図3に示す。これは
加熱源が図1や図2に示した高周波電流による誘導加熱
方式ではなく、ランプを用いた方式の場合に短時間でウ
エハ1の温度を下げる発明である。ウエハ1の加熱源で
ある複数のランプ10は石英製のベルジャー5の外側に
置かれ、ウエハ1を両面から加熱することができる。所
定の温度に保たれたウエハ1を冷却するときには、ラン
プ10の出力を低下させ、石英製のベルジャー5とラン
プ10の間に、少なくともウエハ1に向き合う面が黒い
部材8を移動させる。
【0020】これにより、ランプ10の放射熱を遮ると
ともに、ウエハ1からの放射熱を奪い、短時間でウエハ
1が冷却できる。部材8はランプ10からの熱とウエハ
1からの熱を受けて温度が上昇するのを抑えるため、内
部に流路を設け、水などで冷却できる構造となってい
る。
【0021】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、部材た
とえばカーボンなどをウエハに向き合うように配置する
ことで、ウエハが放出するエネルギーを吸収し、再びウ
エハに到達する割合を減らして、ウエハの温度を短時間
で制御することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のウエハ処理装置を示す側断
面図。
【図2】本発明の他の実施例のウエハ処理装置を示す側
断面図。
【図3】本発明の他の実施例のウエハ処理装置を示す側
断面図。
【符号の説明】
1…ウエハ、2…サセプタ、3…コイル、4…ノズル、
5…(石英製の)ベルジャー、6…(金属製の)台、7
…(金属製の)囲い、8…放射率が1に近い部材、9…
表と裏で放射率(反射率)が大きく異なる部材、10…
ランプ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渡辺 智司 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社日 立製作所機械研究所内 (72)発明者 池田 文秀 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内 Fターム(参考) 4K030 CA12 FA10 KA23 5F045 AA03 AB03 AB32 AB33 AC01 AD12 AE29 BB08 DP04 EK03 EK12 EK13 EK21 EK24 EM10

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】反応室にガスを供給してほぼ一定の温度に
    保たれたウエハを処理する装置において、ウエハの温度
    を上げる際に反射率が1に近い金属、あるいはそれ自体
    の反射率は低いが表面にメッキを施して実質的な反射率
    が1に近い部材を移動あるいは回転しウエハに向き合う
    位置に配備することを特徴とするウエハ処理装置。
JP10188563A 1998-07-03 1998-07-03 ウエハ処理装置 Pending JP2000021800A (ja)

Priority Applications (1)

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JP10188563A JP2000021800A (ja) 1998-07-03 1998-07-03 ウエハ処理装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP10188563A JP2000021800A (ja) 1998-07-03 1998-07-03 ウエハ処理装置

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Family

ID=16225889

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JP10188563A Pending JP2000021800A (ja) 1998-07-03 1998-07-03 ウエハ処理装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109649694A (zh) * 2018-12-20 2019-04-19 深圳航天东方红海特卫星有限公司 一种电致变色热控机构

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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