JP2000021092A - 情報記憶媒体の欠陥管理方法、ディスクドライブ装置、情報記憶媒体および情報処理システム - Google Patents

情報記憶媒体の欠陥管理方法、ディスクドライブ装置、情報記憶媒体および情報処理システム

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JP2000021092A
JP2000021092A JP18597898A JP18597898A JP2000021092A JP 2000021092 A JP2000021092 A JP 2000021092A JP 18597898 A JP18597898 A JP 18597898A JP 18597898 A JP18597898 A JP 18597898A JP 2000021092 A JP2000021092 A JP 2000021092A
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芳稔 後藤
Hiroshi Ueda
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Yoshihisa Fukushima
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 欠陥セクタの交替処理に伴うアクセスの遅延
を削減することを目的とする。 【解決手段】 セクタを挿入する情報として挿入先セク
タ番号と挿入元セクタ番号を持つＴＤＬを用いて、以前
の挿入先セクタ番号が領域に含まれる場合に挿入先セク
タ番号を領域の最後に変更するＴＤＬ移動先移動処理を
行い、領域に含まれる欠陥セクタを持つＳＤＬエントリ
ーを抽出する変換候補抽出処理を行い、抽出した欠陥セ
クタをＰＤＬに抽出した交替セクタをＴＤＬに変換する
ＰＤＬ／ＴＤＬ追加処理を行い、最後に、変換済みのＳ
ＤＬエントリーを削除するエントリー抹消処理を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、情報記憶媒体の欠
陥管理方法に関するものであって、特に欠陥セクタの交
替処理による遅延を回避するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、大容量で交換可能な情報記憶媒体
を扱うディスクドライブ装置が普及し始めている。特に
光ディスク装置は、レーザ光を用いて光ディスク上に微
少なピットを形成することによって記録再生を行うの
で、大容量で交換可能な情報記録に適している。しかし
ながら、光ディスクは、その記録面に欠陥を持つ媒体で
あって、生のバイトエラーレート（ＢＥＲ：Byte Error
Rate）は１０の−４乗程度を想定しなければならな
い。そこで、エラー訂正コードを付加することによっ
て、訂正後のＢＥＲを１０の−１２乗以下に押さえてい
る。これは、欠陥がランダムに分布している仮定のもと
であって、エラー訂正の限界を超えるようなバーストエ
ラーも存在しうる。そこでさらに、エラー訂正の限界を
超える場所は他のよい場所で交替させる欠陥管理が行わ
れる。
【０００３】従来の光ディスク装置で用いられる欠陥管
理については、小林らによる特開昭６３−４８６６２号
公報等によって開示されている。さらにリアルタイム性
が要求されるＡＶ(Audio Visual)データに適合したファ
イルシステムによる欠陥管理については、後藤らによる
特願平２５８０７８によって開示されている。ここで
は、光ディスク装置で行われる欠陥管理について、９０
ｍｍ光ディスクの国際標準規格であるＩＳＯ１００９０
（以下ＩＳＯ規格と略す）を取り上げて説明する。
【０００４】ＩＳＯ規格の１８章にディスクのレイアウ
トに関する記述がある。図２６は、欠陥管理を説明する
レイアウト図である。図２６（ａ）は、ＩＳＯ規格の表
５から抜粋したデータエリアのレイアウト図である。図
２６（ａ）において、ＤＭＡ１〜４と示されている領域
が、欠陥管理に関する情報が納められている領域であ
る。ＤＭＡ１〜４には、全て同じ情報が多重記録されて
いる。これは、ＤＭＡ１〜４自身が欠陥に冒されている
場合の備えである。図２６（ｂ）は、各ＤＭＡの構成要
素を示す図である。ＤＤＳに、次に述べる書換エリアの
パーティションに関する情報が納められている。ＰＤＬ
（Primary Defect List）とＳＤＬ（Secondary Defect
List）に、欠陥セクタの位置情報が納められている。Ｐ
ＤＬに登録されている欠陥セクタには、セクタスリッピ
ング（Sector Slipping）アルゴリズムが適用され、Ｓ
ＤＬに格納されている欠陥セクタには、リニアリプレー
スメント（Linear Replacement）アルゴリズムが適用さ
れる。図２６（ｃ）は、ＩＳＯ規格の表６から抜粋した
書換エリア（Rewritable Area）のパーティション図で
ある。書換エリアは、複数のグループに分けられる。各
グループには、ユーザセクタとスペアセクタが用意され
ている。このグループが欠陥管理の単位となり、欠陥と
判断されたユーザセクタは、基本的に同一グループのス
ペアセクタによって交替される。
【０００５】ＩＳＯ規格の１９章に欠陥管理に関する記
述がある。欠陥管理には２つのアルゴリズムがあり、１
つはＰＤＬを用いたセクタスリッピングアルゴリズム
で、もう１つはＳＤＬを用いたリニアリプレースメント
アルゴリズムである。
【０００６】（１）セクタスリッピングアルゴリズム 図２７（ａ）は、ＰＤＬの構成図である。ＰＤＬは、ヘ
ッダと複数のエントリーからなっている。ヘッダには、
ＰＤＬを示す識別子およびエントリー総数などが記載さ
れている。各エントリーは、欠陥セクタの位置を示す情
報で構成される。ここで、セクタの位置を示す情報と
は、一般的にセクタ番号のことである。
【０００７】図２８は、書換エリアのレイアウトとＰＤ
Ｌの関係を示した図である。図２８（ａ）は、書換エリ
アのレイアウト図である。図２８（ａ）において、四角
の小片がセクタを示し、セクタ番号は左上から順に右に
向かって増加し、右端までくると一行下の左端に続くも
のとする。例えば、ＣＡＶ（Constant Angler Velocit
y）フォーマットだと、横一行がＩＳＯ規格でトラック
と呼ばれるディスク一周分に相当する。この図におい
て、書換エリアは２つのグループに分割されており、各
グループはユーザセクタとスペアセクタから構成され
る。ここで、網掛けされた小片が欠陥セクタを示し、図
示された位置に存在するとする。図２８（ｂ）は、ＰＤ
Ｌの内容を示す図である。図２８（ｂ）において、６つ
の欠陥セクタの位置（ＰＤ１からＰＤ６）が、セクタ番
号の昇順にリストアップされる。
【０００８】図２９は、セクタスリッピングアルゴリズ
ムの概念図である。図２９において、四角の小片はセク
タを、小片の中の記号はＬＳＮ（Logical Sector Numbe
r）を示す。図２９（ａ）はＰＤＬに欠陥セクタが１つ
も登録されていない場合で、図２９（ｂ）はＰＤＬに１
つの欠陥セクタが登録された場合を示す。ＬＳＮとは、
光ディスク装置の上位装置であるコンピュータ等から見
えるセクタの番号である。区別を明確にするために、デ
ィスクに記載されたセクタ番号を物理セクタ番号と呼
び、上位装置から見えるセクタ番号を論理セクタ番号と
呼ぶことがある。図２９（ａ）のように欠陥セクタが１
つもない場合には、先頭のユーザセクタから最後のユー
ザセクタまで、順番にＬＳＮが割り当てられる。ところ
が、ＬＳＮ＝ｉに相当するユーザセクタが欠陥セクタの
場合には、図２９（ｂ）のようにＬＳＮの割当が変わ
る。欠陥セクタの代わりにその直後のセクタにＬＳＮ＝
ｉが割り当てられ、それ以降のセクタも１つずつＬＳＮ
がずれることになる。欠陥セクタがない場合に最後のユ
ーザセクタに割り当てられるＬＳＮ＝ｍは、最初のスペ
アセクタにスリップアウトする。このように、セクタス
リッピングアルゴリズムは、欠陥セクタ以降の全てのセ
クタが後方にスリップして、欠陥セクタを避けるアルゴ
リズムである。
【０００９】図３０は、セクタスリッピング時のセクタ
番号とＬＳＮの関係図である。図３０において、横軸は
セクタ番号で、縦軸がＬＳＮで、書換エリアは２つのグ
ループに分割されている。一点鎖線（ｂ）は欠陥セクタ
が無い場合の関係を示し、実線（ａ）は６つの欠陥セク
タがある場合の関係を示す。どの欠陥セクタもＬＳＮが
割り当てられないように、以降の全てのセクタがスリッ
プする。但し、スリッピングはグループ内で完結するた
め、他のグループに影響することはない。
【００１０】（２）リニアリプレースメントアルゴリズ
ム 図２７（ｂ）は、ＳＤＬの構成図である。図２７（ｂ）
において、ＳＤＬは、ヘッダと複数のエントリーからな
っている。ヘッダには、ＳＤＬを示す識別子とエントリ
ー総数などが記載されている。各エントリーは、欠陥セ
クタの位置と、それを代替する交替セクタの位置との情
報から構成されている。
【００１１】図３１は、書換エリアのレイアウトとＳＤ
Ｌの関係を示した図である。図３１（ａ）は、書換エリ
アのレイアウト図で、基本的に図２８（ａ）と同じよう
に表現している。図３１（ｂ）は、ＳＤＬの内容を示す
図である。図３１（ｂ）において、３つの欠陥セクタの
位置（ＳＤ１からＳＤ３）と、それぞれを置き換える交
替セクタの位置（ＳＲ１からＳＲ３）が、欠陥セクタの
セクタ番号の昇順にリストアップされる。
【００１２】図３２は、リニアリプレースメントアルゴ
リズムの概念図である。図３２（ａ）はＳＤＬに欠陥セ
クタが１つも登録されていない場合で、図３２（ｂ）は
ＳＤＬに１つの欠陥セクタが登録された場合を示す。図
３２（ｂ）において、ＬＳＮ＝ｉに相当するユーザセク
タが欠陥セクタで、利用されていないスペアセクタの中
でセクタ番号が一番小さいもの（この場合は先頭のスペ
アセクタ）が交替セクタとして割り当てられてＬＳＮ＝
ｉになる。このように、リニアリプレースメントアルゴ
リズムは、他のセクタに影響を与えずに、欠陥セクタと
交替セクタが入れ替わることで、欠陥セクタを避けるア
ルゴリズムである。
【００１３】図３３は、リニアリプレースメント時のセ
クタ番号とＬＳＮの関係図で、基本的に図３０と同じよ
うに表現している。実線（ａ）は、３つの欠陥セクタが
ある場合の関係を示す。各欠陥セクタは、できる限り同
じグループのスペアセクタから割り当てられる交替セク
タによって、一対一に置き換えられる。同じグループに
利用可能なスペアセクタが残っていない場合に限り、他
のグループのスペアセクタを交替セクタとして割り当て
る。
【００１４】（３）欠陥管理アルゴリズムの長所と短所 セクタスリッピングについて、図３０を参照しながら、
その長所と短所について説明する。まず長所は、欠陥セ
クタによるアクセスの遅延が小さいことが挙げられる。
欠陥セクタが１つにつき、１セクタ分の回転待ちだけで
アクセスできる。逆に短所は、欠陥セクタによって、そ
れ以降の全てのセクタのＬＳＮがずれることである。ホ
ストＰＣなどの上位装置は、ＬＳＮによってセクタを識
別するために、ＬＳＮがずれると情報の管理をすること
ができない。従って、光ディスクにユーザデータが既に
記録していれば、新しく欠陥セクタを検出したからとい
って、セクタスリッピングを適用することはできない。
【００１５】リニアリプレースメントについて、図３３
を参照しながら、その長所と短所について説明する。端
的に言うと、セクタスリッピングの逆である。欠陥セク
タがあるとその交替セクタへアクセスするために、かな
りの距離のシーク動作を伴うことになる。従って、欠点
は、欠陥セクタによるアクセス遅延が大きいことであ
る。長所は、欠陥セクタと交替セクタが一対一に対応
し、他のセクタには影響を与えないことである。
【００１６】このような長所と短所があるために、一般
的には次のようにそれぞれのアルゴリズムが用いられ
る。フォーマット処理と呼ばれるディスク初期化時に、
検出された欠陥セクタはＰＤＬに登録され、セクタスリ
ッピングアルゴリズムが適用される。ディスク初期化以
降に、検出された欠陥セクタはＳＤＬに登録され、リニ
アリプレースメントアルゴリズムが適用される。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】従来のようにデータの
信頼性、特に可読性（Readability）が最優先された欠
陥管理の考え方では、リアルタイム性が重要視されるＡ
Ｖデータに適応できないという問題点があった。データ
再生動作に関しては、ＳＣＳＩなどのホストインタフェ
ース規格で、Read Continuousというデータが誤ってい
てもよいから連続的にデータを読み出すモードが定義さ
れているのに比べて、データ記録動作には何らの示唆も
無い。
【００１８】特に、リニアリプレースメントアルゴリズ
ムによるアクセスの遅延は、可能な限り回避しなければ
ならない問題である。先にも引例として挙げた後藤らに
よる国際公開98/14938号は、同じ問題点に着眼して、コ
ンピュータなどの上位装置のファイルシステムによっ
て、リニアリプレースメントアルゴリズムの代わりとな
る欠陥管理を提案している。しかしながら、ファイルシ
ステムを含む上位装置とその外部記憶装置であるディス
クドライブ装置との関係が、従来から大きく変化するた
めに、システムの移行にはかなりの困難であるという問
題点を有していた。
【００１９】また、一井らによる特公平６−６４８５９
号公報で記録もしくは再生しようとする目的セクタの位
置情報が欠落した場合に、その目的セクタの前のセクタ
からカウンタ等でタイミングを測って補完することによ
って、その目的セクタを記録もしくは再生する技術が開
示されている。この技術を用いれば、ＩＳＯ規格で規定
された欠陥セクタであっても、データの記録および再生
が可能となる。さらには、ディスク表面に付着した汚れ
（指紋や埃など）で欠陥セクタとされたセクタに関して
は、ディスクのクリーニングをすれば、データの記録お
よび再生ができるセクタに戻る。この様に、欠陥セクタ
として扱われるセクタの中には、データの記録および再
生が十分可能なセクタもある。しかしながら、従来の欠
陥管理では、一旦欠陥セクタとして登録されたセクタを
記録できるセクタに復帰させることが、媒体の初期化時
以外にはできないという問題点を有していた。
【００２０】そこで本発明は、従来のシステムから容易
に移行できるように、Read Continuousの対になる言わ
ばWrite Continuousを実現する欠陥管理方法を開示する
ことを目的とする。
【００２１】
【課題を解決するための手段】情報記憶媒体を欠陥管理
の単位である１つ以上のグループに分割し、欠陥セクタ
とその交替セクタを１エントリーとする欠陥リストを用
いる情報記憶媒体の欠陥管理方法であって、上位装置の
指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もしくは一部分
の所定領域に対する欠陥管理処理において、前記欠陥リ
ストにエントリーとして登録されて且つ所定領域に属す
る欠陥セクタを抽出する検査候補抽出ステップと、前記
検査候補抽出ステップで抽出されたセクタを検査して欠
陥セクタがどうかを判断するセクタ検査ステップと、前
記セクタ検査ステップで欠陥セクタでないと判断された
エントリーを前記欠陥リストから抹消する欠陥エントリ
ー抹消ステップとを備えたことを特徴とする情報記憶媒
体の欠陥管理方法である。
【００２２】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１つ
以上のグループに分割し、欠陥セクタとその交替セクタ
を１エントリーとする欠陥リストを用いる情報記憶媒体
の欠陥管理方法であって、上位装置の指示に基づいて行
う情報記憶媒体の全体もしくは一部分の所定領域に対す
る欠陥管理処理において、前記欠陥リストにエントリー
として登録されて且つ所定領域に属する欠陥セクタを抽
出する検査候補抽出ステップと、前記検査候補抽出ステ
ップで抽出されたセクタを検査して欠陥セクタがどうか
を判断するセクタ検査ステップと、前記セクタ検査ステ
ップで欠陥セクタでないと判断されたエントリーを前記
欠陥リストから抹消する欠陥エントリー抹消ステップ
と、前記欠陥エントリー抹消ステップで一部分が抹消さ
れた欠陥リストに対して、情報記憶媒体に用意された交
替セクタのアドレスの昇順に、交替セクタを前記欠陥リ
ストに登録し直す交替セクタ再割当ステップとを備えた
ことを特徴とする情報記憶媒体の欠陥管理方法である。
【００２３】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１つ
以上のグループに分割し、欠陥セクタとその交替セクタ
を１エントリーとする欠陥リストを用いる情報記憶媒体
の欠陥管理方法であって、上位装置の指示に基づいて行
う情報記憶媒体の全体もしくは一部分の所定領域に対す
る欠陥管理処理において、前記欠陥リストにエントリー
として登録されて且つ所定領域に属する欠陥セクタを抽
出する検査候補抽出ステップと、前記検査候補抽出ステ
ップで抽出されたセクタを検査して欠陥セクタがどうか
を判断するセクタ検査ステップと、前記セクタ検査ステ
ップで欠陥セクタでないと判断されたエントリーを前記
欠陥リストから抹消する欠陥エントリー抹消ステップ
と、前記欠陥エントリー抹消ステップで一部分が抹消さ
れた欠陥リストに対して、欠陥セクタの属するグループ
に用意された交替セクタから優先して、その交替セクタ
のアドレスの昇順に、交替セクタを前記欠陥リストに登
録し直す交替セクタ再割当ステップとを備えたことを特
徴とする情報記憶媒体の欠陥管理方法である。
【００２４】前記セクタ検査ステップは、検査する欠陥
セクタの交替セクタからデータを読み出して、そのデー
タを欠陥セクタに書き戻す動作を含むことを特徴とする
情報記憶媒体の欠陥管理方法である。
【００２５】前記交替セクタ再割当ステップは、入替元
の交替セクタからデータを読み出して、そのデータを入
れ替え先の交替セクタに書き戻す動作を含むことを特徴
とする情報記憶媒体の欠陥管理方法である。
【００２６】前記セクタ検査ステップは、目的とするセ
クタ自体のセクタ位置情報を取得できない場合に、手前
に位置するセクタのセクタ位置情報からタイミングを測
って、目的とするセクタのデータを記録もしくは再生す
る動作を含むことを特徴とする情報記憶媒体の欠陥管理
方法である。
【００２７】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１つ
以上のグループに分割し、欠陥セクタを１エントリーと
する一次欠陥リストと、挿入位置とそこに挿入する交替
セクタを１エントリーとする三次欠陥リストを用いる情
報記憶媒体の欠陥管理方法であって、上位装置の指示に
基づいて行う情報記憶媒体の全体もしくは一部分の所定
領域に対する欠陥管理処理において、前記一次欠陥リス
トにエントリーとして登録された欠陥セクタを、前記上
位装置から見たデータ空間から取り除くセクタずらしス
テップと、前記三次欠陥リストにエントリーとして登録
された交替セクタを、前記上位装置から見たデータ空間
に挿入するセクタ挿入ステップと、を備えたことを特徴
とする情報記憶媒体の欠陥管理方法である。
【００２８】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１つ
以上のグループに分割し、欠陥セクタを１エントリーと
する一次欠陥リストと、欠陥セクタとその交替セクタを
１エントリーとする二次欠陥リストと、挿入位置とそこ
に挿入する交替セクタを１エントリーとする三次欠陥リ
ストを用いる情報記憶媒体の欠陥管理方法であって、上
位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もしく
は一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、前
記二次欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ所
定領域に属する欠陥セクタを有するエントリーを抽出す
る変換候補抽出ステップと、前記変換候補抽出ステップ
で抽出されたエントリーに登録された欠陥セクタを、前
記一次欠陥リストのエントリーの欠陥セクタとして登録
する第一の変換ステップと、前記変換候補抽出ステップ
で抽出されたエントリーに登録された交替セクタを、前
記三次欠陥リストのエントリーの交替セクタとして登録
する第二の変換ステップと、前記第一の変換ステップと
前記第二の変換ステップで、変換された前記二次欠陥リ
ストのエントリーを前記二次欠陥リストから抹消する欠
陥エントリー抹消ステップとを備えたことを特徴とする
情報記憶媒体の欠陥管理方法である。
【００２９】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１つ
以上のグループに分割し、欠陥セクタを１エントリーと
する一次欠陥リストと、欠陥セクタとその交替セクタを
１エントリーとする二次欠陥リストと、挿入位置とそこ
に挿入する交替セクタを１エントリーとする三次欠陥リ
ストを用いる情報記憶媒体の欠陥管理方法であって、上
位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もしく
は一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、前
記三次欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ所
定領域に属する挿入位置を有するエントリーに対して、
前記挿入位置を所定領域の最終位置に変更する挿入先移
動ステップと、前記二次欠陥リストにエントリーとして
登録されて且つ所定領域に属する欠陥セクタを有するエ
ントリーを抽出する変換候補抽出ステップと、前記変換
候補抽出ステップで抽出されたエントリーに登録された
欠陥セクタを、前記一次欠陥リストのエントリーの欠陥
セクタとして登録する第一の変換ステップと、前記変換
候補抽出ステップで抽出されたエントリーに登録された
交替セクタを、前記三次欠陥リストのエントリーの交替
セクタとして登録する第二の変換ステップと、前記第一
の変換ステップと前記第二の変換ステップで、変換され
た前記二次欠陥リストのエントリーを前記二次欠陥リス
トから抹消する欠陥エントリー抹消ステップとを備えた
ことを特徴とする情報記憶媒体の欠陥管理方法である。
【００３０】さらに、上述した欠陥管理方法を備えたデ
ィスクドライブ装置である。欠陥セクタを１エントリー
とする一次欠陥リストと、挿入位置とそこに挿入する交
替セクタを１エントリーとする三次欠陥リストとを有す
る情報記憶媒体である。
【００３１】上述した欠陥管理方法を有するディスクド
ライブ装置と、前記ディスクドライブ装置を制御する上
位装置とを備えた情報処理システムであって、前記上位
装置は、ファイルの領域を割り付けるときに、前記ディ
スクドライブ装置に、そのファイル割付領域を指定し
て、アクセス遅延を発生する欠陥セクタの削減を命令す
る手段と、前記上位装置は、ファイルの領域を割り付け
た後に、前記ディスクドライブ装置に、ファイル割付領
域にそのファイルデータの記録を命令する手段とを備え
たことを特徴とする情報処理システムである。
【００３２】上述した欠陥管理方法を有するディスクド
ライブ装置と、前記ディスクドライブ装置を制御する上
位装置とを備えた情報処理システムであって、前記上位
装置は、ファイルの領域を割り付けるときに、前記ディ
スクドライブ装置に、そのファイル割付領域を指定し
て、アクセス遅延の大きい欠陥管理方法からアクセス遅
延の少ない欠陥管理方法への変換を命令する手段と、前
記上位装置は、ファイルの領域を割り付けた後に、前記
ディスクドライブ装置に、ファイル割付領域にそのファ
イルデータの記録を命令する手段とを備えたことを特徴
とする情報処理システムである。
【００３３】上述した欠陥管理方法を有するディスクド
ライブ装置と、前記ディスクドライブ装置を制御する上
位装置とを備えた情報処理システムであって、前記上位
装置は、ファイルの領域を割り付けるときに、前記ディ
スクドライブ装置に、そのファイル割付領域を指定し
て、アクセス遅延の大きい欠陥管理方法からアクセス遅
延の少ない欠陥管理方法への変換を命令する手段と、前
記上位装置は、前記ディスクドライブ装置から遅延の少
ない連続アクセス可能な領域情報を得て、ファイル割付
領域を前記連続アクセス可能な領域に補正する手段と、
前記上位装置は、ファイルの領域を補正して割り付けた
後に、前記ディスクドライブ装置に、補正したファイル
割付領域にそのファイルデータの記録を命令する手段と
を備えたことを特徴とする情報処理システムである。
【００３４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図１から図２５を用いて説明する。
【００３５】（実施の形態１）図１は、本発明のディス
クドライブ装置を含む情報処理システムの構成図であ
る。
【００３６】Ｄ１は上位装置、Ｄ２はディスク記録・再
生ドライブ、Ｄ３は書き換え可能な光ディスク、Ｄ４は
表示処理部、Ｄ５は入力部、Ｄ６はハードディスク装
置、Ｄ７はＩ／Ｏバスである。
【００３７】上位装置Ｄ１は、ＣＰＵＤ１ａ、主記憶Ｄ
１ｄ、バスインタフェースＤ１ｃ、プロセッサバスＤ１
ｂを含む。上位装置Ｄ１はＩ／Ｏバスを介して、ディス
ク記録・再生ドライブＤ２と表示処理部Ｄ４と入力部Ｄ
５とハードディスク装置Ｄ６と接続される。
【００３８】Ｉ／ＯバスＤ７は、ＳＣＳＩ（Small Comp
uter System Interface）やＡＴＡ（AT Attachment）や
ＵＳＢ（Universal Serial Bus）やＩＥＥＥ１３９４な
どを含む汎用的なバスである。
【００３９】表示処理部Ｄ４は、Ｉ／ＯバスＤ７から送
られた表示情報を、ＲＧＢ等の信号に変換してディスプ
レイに送る。
【００４０】入力部Ｄ５は、キーボードやマウス等の入
力デバイスからの入力を、Ｉ／ＯバスＤ７を介して上位
装置Ｄ１へ知らせる。
【００４１】ハードディスク装置Ｄ６は、Ｉ／ＯバスＤ
７を介して上位装置Ｄ１とデータの入出力を行う補助記
憶装置である。
【００４２】以上が一般的なコンピュータの構成要素で
ある。光ディスクＤ３は、後藤らによる国際公開98/149
38号や一井らによる特公平６−６４８５９号公報で示さ
れたセクタ単位にデータを記録および再生できるディス
ク上の記憶媒体である。
【００４３】ディスク記録・再生ドライブＤ２は、ドラ
イブ全体を制御するマイクロプロセッサＤ２ｄ、Ｉ／Ｏ
バスＤ７を介して上位装置Ｄ１とコマンドやデータの送
受信を制御するバス制御回路Ｄ２ａ、光ディスクＤ３に
対するデータ記録やデータ検証動作を含むデータ再生を
行うデータ記録・再生・検査部Ｄ２ｅ、記録データや再
生データ、そしてデータ検証のために読み出したデータ
を一時的に格納するバッファ部Ｄ２ｂ、バッファ部Ｄ２
ｂのデータ転送制御を行うバッファ制御部Ｄ２ｃを含
む。マイクロプロセッサＤ２ｄは、内部に格納された制
御プログラムにしたがって、以下に記載する欠陥管理を
行う。
【００４４】図２は、本発明の実施の形態１および実施
の形態２に共通の上位装置とディスク記録・再生ドライ
ブとの間のプロトコルを示す図である。ここでの上位装
置は、後藤らによる国際公開98/14938号で開示された制
御部と同じである。
【００４５】先ず、（Ｐ１０１）上位装置Ｄ１は光ディ
スクＤ３の装着時に予め読み出して主記憶Ｄ１ｄに格納
されたファイルシステム情報を参照して、ＡＶファイル
を記録するための連続した空き領域を選定する。
【００４６】次に、（Ｐ１０２）上位装置Ｄ１は、選定
した領域でリニアリプレースメントによる遅延を極力な
くすように指示する"CLEAN UP SDL(ADR,LEN)"コマンド
を発行する。ここで、引数ADRはデータ記録を開始する
先頭アドレスを、引数LENはデータ記録するセクタ数を
示している。このコマンドは、本発明で新たに定義した
コマンドである。（Ｐ１０３）ディスク記録・再生ドラ
イブＤ２は、このコマンドを受けると後述する実施の形
態１もしくは実施の形態２に示した処理を行い、（Ｐ１
０４）処理が終了すると終了ステータスを上位装置Ｄ１
に報告する。
【００４７】続いて、（Ｐ１０５）上位装置Ｄ１は、選
定した領域にデータを記録するためのコマンドとして"W
RITE(ADR,LEN)"を発行する。ここで、引数ADRはデータ
記録を開始する先頭アドレスを、引数LENはデータ記録
するセクタ数を示している。このコマンドは、ＳＣＳＩ
で定義された"WRITE(6)"コマンドや"WRITE(10"コマンド
等と同じである。（Ｐ１０６）上位装置Ｄ１は、このコ
マンドに伴う記録データの転送を行い、（Ｐ１０７）こ
のコマンドを受けたディスク記録・再生ドライブＤ２
は、転送される記録データを光ディスクＤ３に記録し、
（Ｐ１０８）記録が終了すると終了ステータスを上位装
置Ｄ１に報告する。
【００４８】このように、ファイルシステムを含む上位
装置とその外部記憶装置であるディスク記録・再生装置
の間のプロトコルは、従来の"WRITE"コマンドに先立っ
て、同じ引数を持つ"CLEAN UP SDL"コマンドを発行を追
加するだけである。よって、従来のシステムからの移行
が容易にできる。
【００４９】（表１）は、本発明の実施の形態１および
実施の形態２に共通の検査管理データのデータ構造を示
す表である。
【００５０】
【表１】
【００５１】（表１）の横一行が１つのエントリーにな
っている。１つのエントリーは、左から順に、欠陥セク
タ番号、交替セクタ番号、検査結果、ＳＤＬ抹消、交替
再利用から構成される。欠陥セクタ番号は、ＳＤＬから
抽出される。交替セクタ番号は、最初にＳＤＬから抽出
され、交替セクタの再配置を行った場合には、入れ替え
た交替セクタのセクタ番号に更新される。検査結果に
は、そのエントリーの欠陥セクタが記録および再生に使
える（＝正常セクタ）かどうかの検査結果が入る。ＳＤ
Ｌ抹消には、記録および再生に使えると判断された欠陥
セクタをＳＤＬから抹消し終えた（＝ＳＤＬ抹消の処理
済）かどうかが入る。交替再利用には、ＳＤＬから抹消
された交替セクタを再配置し終えた（＝交替再利用の処
理済）かどうかが入る。この検査管理データは、図１の
マイクロプロセッサＤ２ｄに内蔵されるＲＡＭに記憶さ
れて、マイクロプロセッサＤ２ｄが欠陥管理を実行する
ために、参照および更新して利用する。
【００５２】それでは、表に示した具体例を交えて、本
発明の欠陥管理方法の全体像を説明する。
【００５３】本発明の実施の形態１において、書換エリ
アは１つのグループで構成され、ユーザセクタはセクタ
番号０〜９９９８９、スペアセクタはセクタ番号９９９
９０〜９９９９９とする。
【００５４】図３は、本発明の実施の形態１における欠
陥管理方法の全体フローを示す図である。
【００５５】表２は、本発明の実施の形態１におけるＳ
ＤＬの変化を示す表である。（表２ａ）は、検査候補抽
出処理で参照する元々のＳＤＬである。
【００５６】（表２ｂ）は、エントリー抹消処理後のＳ
ＤＬである。（表２ｃ）は、交替セクタ再割当処理後の
ＳＤＬである。
【００５７】表３は、本発明の実施の形態１における検
査管理データの変化を示す表である。
【００５８】（表３ａ）は、検査候補抽出処理後の検査
管理データである。（表３ｂ）は、セクタ検査処理後の
検査管理データである。
【００５９】（表３ｃ）は、エントリー抹消処理後の検
査管理データである。（表３ｄ）は、交替セクタ再割当
処理後の検査管理データである。
【００６０】図３において、大きな処理の流れは、検査
候補抽出処理、セクタ検査処理、エントリー抹消処理、
交替セクタ再割当処理の順である。
【００６１】これらの処理は、（図２のＰ１０２）ＳＤ
Ｌに登録されている欠陥セクタの中で記録および再生に
利用できるものは復活せよという上位装置からの命令に
応じたもので、この命令に付随するパラメータとして、
検査すべき領域データも与えられる。
【００６２】検査候補抽出処理は、検査するセクタ情報
をＳＤＬから抽出する処理である。この処理では、領域
データとＳＤＬを参照して、検査すべき欠陥セクタ番号
とその交替セクタ番号がＳＤＬから抽出されて、検査管
理データに格納される。
【００６３】
【表２】
【００６４】（表２ａ）で示したＳＤＬから、セクタ番
号０１００００〜０４００００の領域にある欠陥セクタ
を持つエントリーは３つある。これら３つのエントリー
の内容が、検査管理データの欠陥セクタ番号フィールド
と交替セクタ番号フィールドに格納される。この処理を
行う前に、検査管理データの各フィールドは、初期状態
を示す値に初期化されることとする。例えば、欠陥セク
タ番号と交替セクタ番号のフィールドには、識別の為に
有り得ない値（−１）を格納するものとする。この処理
によって、検査管理データは（表３ａ）のようになる。
【００６５】
【表３】
【００６６】セクタ検査処理は、抽出した欠陥セクタを
検査する処理である。この処理では、検査管理データに
格納された欠陥セクタ番号を参照して、該当する欠陥セ
クタを記録および再生に利用できる（＝正常セクタ）か
どうかが検査され、その検査結果が検査管理データに格
納される。
【００６７】（表３ｂ）で、セクタ番号が０１４３２８
と０３６２４９のセクタが、検査の結果、正常セクタと
判断されたことを示す。
【００６８】エントリー抹消処理は、ＳＤＬから利用可
能な欠陥セクタのエントリーを抹消する処理である。こ
の処理では、検査管理データの中から検査結果が正常セ
クタであるエントリーの欠陥セクタ番号とＳＤＬの欠陥
セクタ番号とが照合され、一致した欠陥セクタ番号を持
つＳＤＬのエントリーが削除されて、検査管理データに
ＳＤＬ抹消は処理済と記載される。
【００６９】（表３ｂ）を参照すると、この処理の対象
は、セクタ番号０１４３２８と０３６２４９の欠陥セク
タを持つＳＤＬエントリーである。この２つのＳＤＬエ
ントリーを（表２ａ）から削除した結果、ＳＤＬは（表
２ｂ）になる。これに対応する検査管理データのＳＤＬ
抹消フィールドに処理済が格納されて、（表３ｃ）にな
る。
【００７０】交替セクタ再割当処理は、ＳＤＬから抹消
されたエントリーに登録されていた交替セクタを割り当
てし直す処理である。この処理では、検査管理データの
中からＳＤＬ抹消の処理済のエントリーの交替セクタ番
号を参照して、利用可能な交替セクタを認識する。次に
ＳＤＬのエントリーを参照して、そのエントリーの交替
セクタと利用可能と認識した交替セクタを入れ替えた方
が、シーク距離が短くなるなどのアクセス時間の観点か
ら望ましいかどうかを判断する。入れ替えた方が望まし
いと判断すると、ＳＤＬのそのエントリーの交替セクタ
番号と、検査管理データのそのエントリーの交替セクタ
番号を入れ替える。この入替は、どのＳＤＬのエントリ
ーの交替セクタと入れ替えることが望ましくと判断され
なくなるまで繰り返される。最後に、検査管理データの
交替再利用は処理済と記載される。
【００７１】（表３ｃ）を参照すると、利用可能な交替
セクタは、セクタ番号が０９９９９２と０９９９９７の
セクタであることが分かる。（表２ｂ）で示したＳＤＬ
を参照すれば、これらよりも大きいセクタ番号を持つ交
替セクタのエントリーがあるのが分かる。シーク距離を
短くするには、交替セクタとしてより小さいセクタ番号
のセクタを選択した方が有利であるから、これらを入れ
替えることになる。ＳＤＬと検査管理データの交替セク
タ番号を入れ替えた結果、ＳＤＬは（表２ｃ）に、検査
管理データは（表３ｄ）になる。
【００７２】それでは、各処理の詳細について、フロー
チャートを用いて説明する。便宜上、検査管理データ(E
stimation Management Data)をＥＭＤと略し、ＳＤＬお
よびＥＭＤのエントリーを参照するためのインデックス
(Index)をそれぞれＳＩとＥＩと表記する。また、ＳＤ
Ｌのエントリーの各フィールドに関して、欠陥セクタ番
号(Defect Sector Number)をＤＳＮと、交替セクタ番号
(ReplacementSector Number)をＲＳＮと略する。同様
に、ＥＭＤのエントリーの各フィールドに関して、欠陥
セクタ番号をＤＳＮと、交替セクタ番号をＲＳＮと略す
る。ここで、ＥＭＤ［０］．ＤＳＮと表記すると、（表
３ａ）の最初のエントリーの一番左のフィールドにある
０１４３２８を指すことを意味する。
【００７３】図４は、本発明の実施の形態１における検
査候補抽出処理のフローチャートである。
【００７４】先ず、（４０１）ＳＤＬおよびＥＭＤのエ
ントリーを参照する為のインデックスを初期化する。
【００７５】次に、（４０２）ＳＤＬの全てのエントリ
ーを参照したかどうかを判断する為に、ＳＩとＳＤＬの
エントリー総数を比較する。全てのＳＤＬエントリーを
参照し終えたならば終了し、そうでなければ以下のステ
ップを実行する。
【００７６】（４０３）ＳＤＬに登録されている欠陥セ
クタが、検査する領域に含まれているかどうかを判断す
る。領域に含まれていない場合は、引き続くステップを
スキップして、（４０６）次のＳＤＬのエントリーへと
進む。領域に含まれている場合は、（４０４）該当する
ＳＤＬの欠陥セクタ番号と交替セクタ番号の対を、ＥＭ
Ｄの欠陥セクタ番号フィールドと交替セクタ番号フィー
ルドにコピーし、（４０５）次に格納すべきＥＭＤのエ
ントリーを１つ進める為に、ＥＩをインクリメントし、
（４０６）次のＳＤＬのエントリーへと進む。
【００７７】図５は、本発明の実施の形態１におけるセ
クタ検査処理のフローチャートである。
【００７８】先ず、（５０１）ＥＭＤのエントリーを参
照する為のインデックスを初期化する。
【００７９】次に、（５０２）ＥＭＤの全てのエントリ
ーを参照したかどうかを判断する為に、ＥＭＤのＤＳＮ
フィールドが未登録であることを示す値（−１）か比較
する。全てのＥＭＤエントリーを参照し終えたならば終
了し、そうでなければ以下のステップを実行する。
【００８０】（５０３）１セクタコピー処理として、Ｅ
ＭＤに登録されている欠陥セクタから交替セクタへ、セ
クタに格納されているデータをコピーするとともに、そ
の交替セクタが利用できるかどうかを検査する。その結
果が致命的な失敗であれば終了する。その結果が正常セ
クタか欠陥セクタかのいずれかであれば、（５０４）そ
の結果をＥＭＤの検査結果フィールドに格納し、（５０
５）次のＥＭＤエントリーへ進む為に、ＥＩをインクリ
メントする。
【００８１】図６は、本発明の実施の形態１における１
セクタコピー処理のフローチャートである。
【００８２】コピー元のセクタ番号をＳＲＣ、コピー先
のセクタ番号をＤＳＴとする。最初に、コピー元のセク
タのデータを読み出す為に、（６０１）コピー元のセク
タへ位置決めし、（６０２）コピー元のセクタのデータ
をバッファに読み出す。いずれかのステップで失敗する
と、結果を致命的失敗に設定して終了する。
【００８３】次に、コピー先のセクタへデータを記録す
る為に、（６０３）コピー先のセクタへ位置決めし、
（６０４）バッファに読み出されたコピー元のデータを
用いて、コピー先のセクタへ記録する。いずれかのステ
ップで失敗すると、結果を欠陥セクタとして終了する。
ここで、ステップ（６０４）において、一井らによる特
公平６−６４８５９で開示された技術、記録もしくは再
生しようとする目的セクタの位置情報が欠落した場合
に、その目的セクタの前のセクタからカウンタ等でタイ
ミングを測って補完することを用いてもよい。
【００８４】最後に必要であれば、コピー先のデータが
正常に再生できるかどうかを確認する為に、（６０５）
コピー元のセクタへ位置決めし、（６０６）コピー元の
セクタのデータをバッファに読み出して、訂正された誤
りバイト数が所定以下かどうかなどの検証を行う。いず
れかのステップで失敗すると、結果を欠陥セクタとして
終了する。
【００８５】上記の全てのステップで成功した場合は、
結果を正常セクタとして終了する。図７は、本発明の実
施の形態１におけるエントリー抹消処理のフローチャー
トである。
【００８６】先ず、（７０１）ＥＭＤのエントリーを参
照する為のインデックスを初期化する。
【００８７】次に、（７０２）ＥＭＤの全てのエントリ
ーを参照したかどうかを判断する為に、ＥＭＤのＤＳＮ
フィールドが未登録であることを示す値（−１）か比較
する。全てのＥＭＤエントリーを参照し終えたならば終
了し、そうでなければ以下のステップを実行する。
【００８８】（７０３）ＥＭＤに登録された欠陥セクタ
に対して、検査の結果に従って、該当するＳＤＬのエン
トリーを削除するかどうかを判断する。ＳＤＬから抹消
する必要がない場合は、引き続くステップをスキップし
て、（７０６）次のＥＭＤのエントリーへと進む。ＳＤ
Ｌから抹消する必要がある場合は、（７０４）１エント
リー削除処理として、該当するＳＤＬのエントリーを削
除し、（７０５）削除したことをＥＭＤに記載し、（７
０６）次のＥＭＤのエントリーへと進む。
【００８９】図８は、本発明の実施の形態１における１
エントリー削除処理のフローチャートである。
【００９０】先ず、（８０１）ＳＤＬのエントリーを参
照する為のインデックスを初期化する。
【００９１】次に、（８０２）ＳＤＬの全てのエントリ
ーを参照したかどうかを判断する為に、ＳＩとＳＤＬの
エントリー総数を比較する。全てのＳＤＬエントリーを
参照し終えたならば終了し、そうでなければ、（８０
３）ＳＤＬに登録されている欠陥セクタ番地とＥＭＤに
登録されている欠陥セクタ番地が一致するまで、（８０
４）次のＳＤＬのエントリーへ進み、それらの欠陥セク
タ番地が一致したならば、以下のステップを実行する。
【００９２】削除するエントリーから後のエントリー
を、それぞれ１エントリーずつ前へ詰める為に、（８０
５）ＳＩ＋１のエントリーの内容を、ＳＩのエントリー
へコピーし、（８０６）次のＳＤＬのエントリーへ進
み、（８０７）最後のＳＤＬエントリーまで到達するま
で繰り返し、到達したら、（８０８）ＳＤＬの総エント
リー数のフィールドの値を１減じる。
【００９３】図９は、本発明の実施の形態１における交
替セクタ再割当処理のフローチャートである。
【００９４】先ず、（９０１）ＥＭＤのエントリーを参
照する為のインデックスを初期化する。
【００９５】次に、（９０２）ＥＭＤの全てのエントリ
ーを参照したかどうかを判断する為に、ＥＭＤのＤＳＮ
フィールドが未登録であることを示す値（−１）か比較
する。全てのＥＭＤエントリーを参照し終えたならば終
了し、そうでなければ以下のステップを実行する。
【００９６】（９０３）ＳＤＬからエントリーを抹消し
たことによって利用されていない交替セクタがあれば、
（９０４）その交替セクタを再利用セクタ番号として採
用する。（９０５）その再利用セクタと入れ替えた方が
望ましい交替セクタがＳＤＬにあるか検索する。入れ替
えるべき交替セクタがあれば、（９０６）１セクタコピ
ー処理として、入れ替えるべき交替セクタに記録された
データを、その再利用セクタへ記録する。１セクタコピ
ー処理が成功すれば、（９０７）ＳＤＬの交替セクタフ
ィールドにその再利用セクタ番号を書込んで、ＥＭＤの
交替セクタフィールドに入れ替えられた交替セクタ番号
を書込み、再び（９０４）入れ替えた交替セクタ番号を
再利用セクタ番号として処理を続ける。
【００９７】（９０３）利用されていない交替セクタが
無かったり、（９０５）入れ替えるべき交替セクタが無
かったり、（９０６）１セクタコピーに失敗したら、
（９０８）ＥＭＤの交替再利用フィールドに処理済みを
記載して、（９０９）次のＥＭＤエントリーへ進む。
【００９８】図１０は、本発明の実施の形態１における
入替セクタ検索処理のフローチャートである。
【００９９】本発明の実施の形態１において、書換エリ
アは１つのグループで構成されているので、ＳＤＬに登
録されている交替セクタ番号の中で一番大きいものを選
べばよい。
【０１００】先ず、（１００１）この処理でのみ用いる
一時的なＳＤＬのエントリーを指すインデックスＩを初
期化し、入替先のセクタ番号の初期値として入替元のセ
クタ番号を設定する。
【０１０１】次に、（１００２）ＳＤＬの全てのエント
リーを参照したかどうかを判断する為に、ＩとＳＤＬの
エントリー総数を比較する。全てのＳＤＬエントリーを
参照し終えたならば終了し、そうでなければ以下のステ
ップを実行する。
【０１０２】（１００３）入替先のセクタ番号よりも大
きい交替セクタ番号を見つけたならば、（１００４）入
替先のセクタ番号をより大きい交替セクタ番号に書き換
えて、そのＳＤＬのインデックスをＳＩに記憶してお
く。それから、（１００５）次のＳＤＬのエントリーへ
進む。
【０１０３】図１１は、本発明の実施の形態１の効果を
示す図である。図１１（ａ）は、（表２ａ）で示した検
査候補抽出処理で参照する元々のＳＤＬに基づく、リニ
アリプレースメント時のセクタ番号とＬＳＮの関係図で
ある。図１１（ｂ）は、（表２ｃ）で示した交替セクタ
再割当処理後のＳＤＬに基づく、リニアリプレースメン
ト時のセクタ番号とＬＳＮの関係図である。
【０１０４】図１１（ａ）と図１１（ｂ）を比較して分
かるように、正常セクタに戻った欠陥セクタの分だけア
クセスに時間のかかる箇所が減少し、交替セクタを再配
置した分だけシークする距離も減少する。
【０１０５】交替セクタを再配置したことは、アクセス
面だけでなく、今後に利用可能なスペアセクタを増加さ
せるという利点がある。その理由は次の通りである。ス
ペアセクタは、そのセクタ番号の昇順に、交替セクタと
して利用されるという原則がある。この為、利用可能な
スペアセクタを求めようとすれば、ＳＤＬに登録された
交替セクタの中で最も大きいセクタ番号を見つけ出し、
それに１を足したセクタ番号を持つセクタとして求めら
れる。上述した交替セクタの再配置は、より小さいセク
タ番号のスペアセクタをＳＤＬに交替セクタとして登録
する為、結果的に利用可能なスペアセクタが増加するこ
とになる。利用可能なスペアセクタを求めることに関す
る詳細については、伊藤らによる特願平７ー９６４０１
号もしくは米国特許５，７１５，２２１によって開示さ
れている。
【０１０６】又、セクタ検査処理において、検査する欠
陥セクタへの書込みデータに交替セクタからの読み出し
データを利用したこと（図５のステップ５０３）で、エ
ントリー抹消処理の前後を通じて同一ＬＳＮには同一デ
ータが格納される。さらに、交替セクタ再割当処理にお
いて、入れ替えるべき交替セクタに記録されたデータ
を、その再利用セクタへ記録すること（図９のステップ
９０６）によって、交替セクタ再割当処理の前後を通じ
て同一ＬＳＮには同一データが格納される。即ち、コン
ピュータなどの上位装置からは、図１１の（ａ）と
（ｂ）とで、全ての領域に同じデータが記録されている
ように見える。
【０１０７】以上から、本発明の実施の形態１におい
て、検査候補抽出処理とセクタ検査処理とエントリー抹
消処理を用いれば、リニアリプレースメントによるアク
セスに遅延が生じる箇所が少なくなる。また、セクタ検
査処理において、検査に用いる書込みデータに交替先セ
クタのデータを用いることで、上位装置から同じデータ
を持つ情報記憶媒体に見える。さらに、交替セクタ再割
当処理を用いれば、アクセスの遅延が少なくなるととも
に利用可能なスペアセクタが増加する。また、交替セク
タ再割当処理においても、入替先のセクタへ記録するデ
ータは、入替元のセクタのデータを用いるので、上位装
置から同じデータを持つ情報記憶媒体に見える。
【０１０８】（実施の形態２）本発明の実施の形態２に
ついて、図面を参照しながら説明する。本発明の実施の
形態２は、実施の形態１を拡張して、書換エリアが複数
のグループに分かれている場合に対応したものである。
【０１０９】本発明の実施の形態１と比較して、処理内
容で異なるのは、交替セクタ割当処理における入替セク
タの検索（図９のステップ９０５）だけである。複数グ
ループにより参照されるＳＤＬの交替セクタの割当が異
なるので、全体像をもう一度説明する。
【０１１０】本発明の実施の形態２において、書換エリ
アは２つのグループで構成され、ユーザセクタはセクタ
番号０〜４９９９４と５００００〜９９９９４、スペア
セクタはセクタ番号４９９９５〜４９９９９と９９９９
５〜９９９９９とする。
【０１１１】表４は、本発明の実施の形態２におけるＳ
ＤＬの変化を示す表である。（表４ａ）は、検査候補抽
出処理で参照する元々のＳＤＬである。
【０１１２】（表４ｂ）は、エントリー抹消処理後のＳ
ＤＬである。（表４ｃ）は、交替セクタ再割当処理後の
ＳＤＬである。
【０１１３】表５は、本発明の実施の形態２における検
査管理データの変化を示す表である。
【０１１４】（表４ａ）は、検査候補抽出処理後の検査
管理データである。（表４ｂ）は、セクタ検査処理後の
検査管理データである。
【０１１５】（表４ｃ）は、エントリー抹消処理後の検
査管理データである。（表４ｄ）は、交替セクタ再割当
処理後の検査管理データである。
【０１１６】図３において、大きな処理の流れは、検査
候補抽出処理、セクタ検査処理、エントリー抹消処理、
交替セクタ再割当処理の順である。
【０１１７】検査候補抽出処理は、検査するセクタ情報
をＳＤＬから抽出する処理である。この処理では、領域
データとＳＤＬを参照して、検査すべき欠陥セクタ番号
とその交替セクタ番号がＳＤＬから抽出されて、検査管
理データに格納される。
【０１１８】
【表４】
【０１１９】（表４ａ）で示したＳＤＬから、セクタ番
号０１００００〜０４００００の領域にある欠陥セクタ
を持つエントリーは３つある。これら３つのエントリー
の内容が、検査管理データの欠陥セクタ番号フィールド
と交替セクタ番号フィールドに格納される。この処理を
行う前に、検査管理データの各フィールドは、初期状態
を示す値に初期化されることとする。例えば、欠陥セク
タ番号と交替セクタ番号のフィールドには、識別の為に
有り得ない値（−１）を格納するものとする。この処理
によって、検査管理データは（表５ａ）のようになる。
【０１２０】
【表５】
【０１２１】セクタ検査処理は、抽出した欠陥セクタを
検査する処理である。この処理では、検査管理データに
格納された欠陥セクタ番号を参照して、該当する欠陥セ
クタを記録および再生に利用できる（＝正常セクタ）か
どうかが検査され、その検査結果が検査管理データに格
納される。
【０１２２】（表５ｂ）で、セクタ番号が０１４３２８
と０３６２４９のセクタが、検査の結果、正常セクタと
判断されたことを示す。
【０１２３】エントリー抹消処理は、ＳＤＬから利用可
能な欠陥セクタのエントリーを抹消する処理である。こ
の処理では、検査管理データの中から検査結果が正常セ
クタであるエントリーの欠陥セクタ番号とＳＤＬの欠陥
セクタ番号とが照合され、一致した欠陥セクタ番号を持
つＳＤＬのエントリーが削除されて、検査管理データに
ＳＤＬ抹消は処理済と記載される。
【０１２４】（表５ｂ）を参照すると、この処理の対象
は、セクタ番号０１４３２８と０３６２４９の欠陥セク
タを持つＳＤＬエントリーである。この２つのＳＤＬエ
ントリーを（表４ａ）から削除した結果、ＳＤＬは（表
４ｂ）になる。これに対応する検査管理データのＳＤＬ
抹消フィールドに処理済が格納されて、（表５ｃ）にな
る。
【０１２５】交替セクタ再割当処理は、ＳＤＬから抹消
されたエントリーに登録されていた交替セクタを割り当
てし直す処理である。この処理では、検査管理データの
中からＳＤＬ抹消の処理済のエントリーの交替セクタ番
号を参照して、利用可能な交替セクタを認識する。次に
ＳＤＬのエントリーを参照して、そのエントリーの交替
セクタと利用可能と認識した交替セクタを入れ替えた方
が、シーク距離が短くなるなどのアクセス時間の観点か
ら望ましいかどうかを判断する。入れ替えた方が望まし
いと判断すると、ＳＤＬのそのエントリーの交替セクタ
番号と、検査管理データのそのエントリーの交替セクタ
番号を入れ替える。この入替は、どのＳＤＬのエントリ
ーの交替セクタと入れ替えることが望ましくと判断され
なくなるまで繰り返される。最後に、検査管理データの
交替再利用は処理済と記載される。
【０１２６】（表５ｃ）を参照すると、利用可能な交替
セクタは、セクタ番号が０４９９９７と０９９９９９の
セクタであることが分かる。（表４ｂ）で示したＳＤＬ
を参照すれば、欠陥セクタとその交替セクタとが異なる
グループに属していたり、同じグループに属している
が、これらよりも大きいセクタ番号を持つ交替セクタの
エントリーがあるのが分かる。シーク距離を短くした
り、後述する別の要因から、欠陥セクタとその交替セク
タは、同じグループに属した方が有利である。欠陥セク
タとその交替セクタが、同じグループに属しているなら
ば、シーク距離を短くする為に、交替セクタとしてより
小さいセクタ番号のセクタを選択した方が有利である。
このような状況を考慮して、これらを入れ替えることに
なる。ＳＤＬと検査管理データの交替セクタ番号を入れ
替えた結果、ＳＤＬは（表４ｃ）に、検査管理データは
（表５ｄ）になる。
【０１２７】特にＺＣＬＶ（Zoned Constant Velocir
y）フォーマットの場合、欠陥セクタを同じグループの
スペアセクタで交替した方がアクセス時間が有利であ
る。その理由を説明する為に、このＺＣＬＶフォーマッ
トについて、簡単に紹介する。
【０１２８】ＺＣＬＶ方式は、ＣＬＶ（Constant Linea
r Velociry）方式と、ＣＡＶ（Constant Angular Veloc
ity）方式をミックスした方式である。ＣＬＶ方式だ
と、ディスク全面に渡って線速度が一定なので、アクセ
スしているディスクの半径に反比例する回転数でディス
クを回転させるように制御する。ＣＡＶ方式は、ディス
ク全面に渡って角速度が一定なので、アクセスしている
ディスクの半径に関係なく一定の回転数でディスクを回
転させるように制御する。ＺＣＬＶ方式は、ゾーンと呼
ばれるディスクの半径をある区間に分割する。ゾーン内
はＣＡＶ方式でディスクの回転数は一定である。あるゾ
ーンの中心での回転数と、他のゾーンの中心の回転数と
は、ＣＬＶ方式と同じ関係になる。例えば、ゾーンＡの
中心の半径とゾーンＢの中心の半径の比が２：３であれ
ば、ゾーンＡの回転数とゾーンＢの回転数の比は３：２
になる。従って、ＺＣＬＶ方式では、ゾーンの境界で、
階段状にディスク回転数を変化することになる。ディス
クの回転数を切り替える時間は、モーターのトルクとデ
ィスクの慣性モーメントとディスク表面の空気抵抗とか
ら決まるが、決して短い時間とは言えない。
【０１２９】ＺＣＬＶ方式において、欠陥管理のグルー
プという単位は、ゾーンと一致させるのが一般的であ
る。従って、欠陥セクタを交替するセクタを異なるグル
ープから割り当ててしまうと、上述したディスクの回転
数を切り替える時間がかかってしまうことになる。従っ
て、アクセス時間の観点からは、欠陥セクタとその交替
セクタを、同じグループに属した方が有利である。
【０１３０】それでは、本発明の実施の形態１と異なる
点に関して、より詳細に説明する。図１２は、本発明の
実施の形態２における入替セクタ検索処理のフローチャ
ートである。
【０１３１】本発明の実施の形態２において、書換エリ
アは複数のグループで構成されているので、次の優先順
序で交替セクタを選ぶ必要がある。
【０１３２】（１）入替先のセクタと同じグループに属
する欠陥セクタを持ち、且つ異なるグループに属する交
替セクタを持つＳＤＬエントリーの交替セクタを選択す
る。
【０１３３】（２）入替先のセクタと同じグループに属
する欠陥セクタと交替セクタを持つＳＤＬエントリーの
中で、最も大きい交替セクタ番号を持つＳＤＬエントリ
ーの交替セクタを選択する。
【０１３４】（３）入替先のセクタと欠陥セクタとその
交替セクタの３つともが異なるグループに属し、且つ、
入替先のセクタと欠陥セクタのグループ差が欠陥セクタ
とその交替セクタのグループ差よりも小さく、且つ、入
替先のセクタと欠陥セクタとが最も近いグループにある
ＳＤＬエントリーの交替セクタを選択する。
【０１３５】（４）入替先のセクタと欠陥セクタとその
交替セクタの３つともが異なるグループに属し、且つ、
入替先のセクタと欠陥セクタのグループ差が欠陥セクタ
とその交替セクタのグループ差よりも小さく、且つ、そ
れらのグループ差の開きが大きいものを持つＳＤＬエン
トリーの交替セクタを選択する。
【０１３６】図１２においては、希なケースの（３）と
（４）は省いて、（１）と（２）のケースに対応したア
ルゴリズムだけを示す。
【０１３７】先ず、（１２０１）この処理でのみ用いる
一時的なＳＤＬのエントリーを指すインデックスＩを初
期化し、入替先のセクタ番号の初期値として入替元のセ
クタ番号を設定する。
【０１３８】次に、（１２０２）入替元のセクタ番号が
属するグループＧ１を求める。続いて、（１２０３）Ｓ
ＤＬの全てのエントリーを参照したかどうかを判断する
為に、ＩとＳＤＬのエントリー総数を比較する。全ての
ＳＤＬエントリーを参照し終えたならば終了し、そうで
なければ以下のステップを実行する。
【０１３９】（１２０４）ＳＤＬに登録されている欠陥
セクタのグループＧ２を求め、Ｇ２とＧ１が等しけれ
ば、（１２０５）ＳＤＬに登録されている交替セクタの
グループＧ３を求め、Ｇ３とＧ１が異なっていれば、
（１２０９）そのエントリーを選択し、その交替セクタ
番号を入替先のセクタ番号として設定して、終了する。
（１２０５）Ｇ３とＧ１が等しくて、（１２０６）入替
先のセクタ番号よりも大きい交替セクタ番号を見つけた
ならば、（１２０７）入替先のセクタ番号をより大きい
交替セクタ番号に書き換えて、そのＳＤＬのインデック
スをＳＩに記憶しておく。それから、（１２０８）次の
ＳＤＬのエントリーへ進む。（１２０４）Ｇ２とＧ１が
異なっていれば、（１２０８）次のＳＤＬのエントリー
へ進む。
【０１４０】セクタ番号からその所属するグループ番号
を求めることについて、簡単に説明しておく。
【０１４１】書換エリアをグループに分割したときに、
各グループの先頭セクタと最終セクタのセクタ番号が決
まる。従って、与えられたセクタ番号が、あるグループ
の先頭セクタのセクタ番号より大きく、最終セクタのセ
クタ番号より小さいならば、そのグループの番号が求め
るべき値である。
【０１４２】図１３は、本発明の実施の形態２の効果を
示す図である。図１３（ａ）は、（表４ａ）で示した検
査候補抽出処理で参照する元々のＳＤＬに基づく、リニ
アリプレースメント時のセクタ番号とＬＳＮの関係図で
ある。図１３（ｂ）は、（表４ｃ）で示した交替セクタ
再割当処理後のＳＤＬに基づく、リニアリプレースメン
ト時のセクタ番号とＬＳＮの関係図である。
【０１４３】図１３（ａ）と図１３（ｂ）を比較して分
かるように、正常セクタに戻った欠陥セクタの分だけア
クセスに時間のかかる箇所が減少し、交替セクタを再配
置した分だけシークする距離も減少する。特に、欠陥セ
クタとその交替セクタとが同一グループに属することを
優先させて再配置しているので、欠陥セクタとその交替
セクタとが異なるグループに属するものが削減されてい
るのが分かる。
【０１４４】以上から、本発明の実施の形態２におい
て、本発明の実施の形態２の利点に加えて、複数グルー
プに分割されて欠陥管理が行われている情報記憶媒体に
対応し、特にＺＣＬＶ方式の場合に、大幅なアクセス時
間の短縮が期待できる。
【０１４５】（実施の形態３）本発明の実施の形態３に
ついて、図面を参照しながら説明する。
【０１４６】図１４は、本発明の実施の形態３における
欠陥管理を説明するレイアウト図である。図１４（ａ）
は、データエリアのレイアウト図、図１４（ｂ）は各Ｄ
ＭＡの構成要素を示す図、図１４（ｃ）は書換エリア
（Rewritable Area）のパーティション図である。この
図に相当する従来例の図２６に比較して、ＤＭＡを構成
する要素として、ＴＤＬ（Thirdly Defect List）が加
えられている。このＴＤＬは、ＰＤＬと共に用いて、新
しい交替処理アルゴリズム（以下、境界付きスリッピン
グ：bounded slippingと呼ぶこととする）が適用され
る。以下、境界付きスリッピングアルゴリズムについて
説明する。
【０１４７】図１５は、ＴＤＬの構成図である。ＴＤＬ
は、ヘッダと複数のエントリーからなっている。ヘッダ
には、ＴＤＬを示す識別子とエントリー総数などが記載
されている。各エントリーは、セクタを挿入する位置を
示す物理セクタ番号（挿入先セクタ番号）と、そこに挿
入する物理セクタのセクタ番号（挿入元セクタ番号）と
の情報から構成されている。
【０１４８】図１６は、書換エリアのレイアウトとＰＤ
ＬとＴＤＬの関係を示した図である。図１６（ａ）は、
書換エリアのレイアウト図で、四角の小片がセクタを示
し、セクタ番号は左上から順に右に向かって増加し、右
端までくると一行下の左端に続くものとする。この図に
おいて、書換エリアは２つのグループに分割されてお
り、各グループはユーザセクタとスペアセクタから構成
される。ここで、網掛けされた小片が欠陥セクタを示
し、図示された位置に存在するとする。図１６（ｂ）
は、ＰＤＬの内容を示す図で、３つの欠陥セクタの位置
（ＰＤ１からＰＤ３）が、セクタ番号の昇順にリストア
ップされる。図１６（ｃ）は、ＴＤＬの内容を示す図
で、セクタ番号Ｐ１の前に２つのセクタＲ１とＲ２を挿
入し、セクタ番号Ｐ２の前に１つのセクタＲ３を挿入す
ることが記載されている。このリストは、挿入先セクタ
番号の昇順に並べられる。
【０１４９】図１７は、新しい交替処理である境界付き
スリッピングアルゴリズムの概念図である。図１７にお
いて、四角の小片はセクタを、小片の中の記号はＬＳＮ
を示す。図１７（ａ）はＰＤＬに欠陥セクタが１つも登
録されていなくて、ＴＤＬにも挿入セクタが１つも登録
されていない場合である。図１７（ｂ）はＰＤＬに１つ
の欠陥セクタが登録されて、ＴＤＬに１つの挿入セクタ
が登録ｌされた場合を示す。図１７（ａ）のように欠陥
セクタが１つもない場合には、先頭のユーザセクタから
最後のユーザセクタまで、順番にＬＳＮが割り当てられ
る。図１７（ｂ）のように、ＬＳＮ＝ｉに相当するユー
ザセクタが欠陥セクタだと、欠陥セクタの代わりにその
直後のセクタにＬＳＮ＝ｉが割り当てられ、それ以降の
セクタも１つずつＬＳＮがずれる。但し、そのずれは、
ＬＳＮ＝ｎのセクタの前に、スペアセクタをＬＳＮ＝ｎ
−１として挿入することによって、せき止められる。こ
のように、境界付きスリッピングアルゴリズムは、欠陥
セクタ以降から任意の境界までのセクタが後方にスリッ
プして、欠陥セクタを避けるアルゴリズムである。
【０１５０】図１８は、新しい交替処理である境界付き
スリッピング時のセクタ番号とＬＳＮの関係図である。
図１８において、横軸はセクタ番号で、縦軸がＬＳＮ
で、書換エリアは２つのグループに分割されている。一
点鎖線（ｂ）は欠陥セクタが無い場合の関係を示し、実
線（ａ）は３つの欠陥セクタがある場合の関係を示す。
どの欠陥セクタもＬＳＮが割り当てられないように、以
降のセクタがスリップする。但し、挿入先セクタの位置
にスリップしたセクタ分を相殺するセクタが挿入元セク
タから供給されるため、スリッピングによるＬＳＮのず
れは、挿入された位置以降に影響することはない。
【０１５１】図１９は、上位装置とディスク記録・再生
ドライブとの間のプロトコルを示す図である。ここでの
上位装置は、後藤らによる国際公開98/14938号で開示さ
れた制御部と同じである。
【０１５２】先ず、（Ｐ２０１）上位装置Ｄ１は光ディ
スクＤ３の装着時に予め読み出して主記憶Ｄ１ｄに格納
されたファイルシステム情報を参照して、ＡＶファイル
を記録するための連続した空き領域を選定する。
【０１５３】次に、（Ｐ２０２）上位装置Ｄ１は、選定
した領域は、今から記録するので以前に記録したデータ
は必要なく、その領域内で境界付きスリッピングアルゴ
リズムを適用することを指示する"SET BOUNDEDSLIPPING
(ADR,LEN)"コマンドを発行する。ここで、引数ADRはデ
ータ記録を開始する先頭アドレスを、引数LENはデータ
記録するセクタ数を示している。このコマンドは、本発
明で新たに定義したコマンドである。（Ｐ２０３）ディ
スク記録・再生ドライブＤ２は、このコマンドを受ける
と後述するリニアリプレースメントアルゴリズムを境界
付きスリッピングアルゴリズムへ変換する処理を行い、
（Ｐ２０４）処理が終了すると終了ステータスを上位装
置Ｄ１に報告する。ここで、終了ステータスを報告する
際に、スリッピングを含むもののほぼディスク上に連続
して割付けることのできたセクタ数も報告するようにし
てよい。
【０１５４】続いて、（Ｐ２０５）上位装置Ｄ１は、選
定した領域にデータを記録するためのコマンドとして"W
RITE(ADR,LEN-α)"を発行する。ここで、引数ADRはデー
タ記録を開始する先頭アドレスを、引数LEN-αはデータ
記録するセクタ数を示している。αは０以上の整数で、
LEN-αが"SET BOUNDED SLIPPING"コマンドで得られた連
続して割付けることのできたセクタ数にする。"WRITE"
コマンドは、ＳＣＳＩで定義された"WRITE(6)"コマンド
や"WRITE(10"コマンド等と同じである。（Ｐ２０６）上
位装置Ｄ１は、このコマンドに伴う記録データの転送を
行い、（Ｐ２０７）このコマンドを受けたディスク記録
・再生ドライブＤ２は、転送される記録データを光ディ
スクＤ３に記録する。ここで、この記録の際に新たに検
出された欠陥セクタも、従来はリニアリプレースメント
アルゴリズムによって扱われたが、本発明では境界付き
セクタスリッピングアルゴリズムで扱われる。（Ｐ２０
８）記録が終了すると終了ステータスを上位装置Ｄ１に
報告する。ここで、（Ｐ２０５）から（Ｐ２０８）は、
シーケンシャルなアクセスを行うように、データ記録す
るセクタ数を小さくして、複数の"WRITE"コマンドに分
割してもよい。
【０１５５】このように、ファイルシステムを含む上位
装置とその外部記憶装置であるディスク記録・再生装置
の間のプロトコルは、従来の"WRITE"コマンドに先立っ
て、ほぼ同じ引数を持つ"SET BOUNDED SLIPPING"コマン
ドを発行を追加するだけである。よって、従来のシステ
ムからの移行が容易にできる。
【０１５６】（表６）は、本発明の実施の形態３に用い
る変換管理データのデータ構造を示す表である。
【０１５７】
【表６】
【０１５８】（表６）の横一行が１つのエントリーにな
っている。１つのエントリーは、左から順に、欠陥セク
タ番号、交替セクタ番号、リスト追加、ＳＤＬ抹消から
構成される。欠陥セクタ番号および交替セクタ番号は、
ＳＤＬから抽出される。リスト変換は、ＳＤＬから抽出
したエントリーに相当するＰＤＬとＴＤＬのエントリー
を作成し終えたかどうかが入る。ＳＤＬ抹消には、ＰＤ
ＬとＴＤＬに変換されたＳＤＬのエントリーを抹消し終
えたかどうかが入る。この検査管理データは、図１のマ
イクロプロセッサＤ２ｄに内蔵されるＲＡＭに記憶され
て、マイクロプロセッサＤ２ｄが欠陥管理を実行するた
めに、参照および更新して利用する。
【０１５９】それでは、表に示した具体例を交えて、本
発明の境界付きセクタスリッピングアルゴリズムの全体
像を説明する。
【０１６０】図２０は、新しい交替処理方法である境界
付きスリッピングの全体フローを示す図である。
【０１６１】本発明の実施の形態３において、書換エリ
アは２つのグループで構成され、ユーザセクタはセクタ
番号０〜４９９９４と５００００〜９９９９４、スペア
セクタはセクタ番号４９９９５〜４９９９９と９９９９
５〜９９９９９とする。
【０１６２】表７は、本発明の実施の形態３におけるＳ
ＤＬの変化を示す表である。（表７ａ）は、変換候補抽
出処理で参照する元々のＳＤＬである。
【０１６３】（表７ｂ）は、エントリー抹消処理後のＳ
ＤＬである。表８は、本発明の実施の形態３におけるＰ
ＤＬの変化を示す表である。
【０１６４】（表８ａ）は、ＰＤＬ／ＴＤＬ追加処理前
のＰＤＬである。（表８ａ）は、ＰＤＬ／ＴＤＬ追加処
理後のＰＤＬである。
【０１６５】表９は、本発明の実施の形態３におけるＴ
ＤＬの変化を示す表である。（表９ａ）は、ＰＤＬ／Ｔ
ＤＬ追加処理前のＴＤＬである。
【０１６６】（表９ａ）は、ＰＤＬ／ＴＤＬ追加処理後
のＴＤＬである。表１０は、本発明の実施の形態３にお
ける変換管理データの変化を示す表である。
【０１６７】（表１０ａ）は、変換候補抽出処理後の変
換管理データである。（表１０ｂ）は、ＰＤＬ／ＴＤＬ
追加処理後の変換管理データである。
【０１６８】（表１０ｃ）は、エントリー抹消処理後の
変換管理データである。図２０において、大きな処理の
流れは、ＴＤＬ挿入先移動処理、変換候補抽出処理、Ｐ
ＤＬ／ＴＤＬ追加処理、エントリー抹消処理の順であ
る。
【０１６９】これらの処理は、（図１９のＰ２０２）境
界付きスリッピングアルゴリズムを適用することを指示
する命令に応じたもので、この命令に付随するパラメー
タとして、検査すべき領域データも与えられる。
【０１７０】ＴＤＬ挿入先移動処理は、既にＴＤＬに登
録されている挿入先セクタ番号が、領域データの範囲に
含まれている場合に、登録済みの挿入先セクタ番号を領
域データの一番最後のセクタ番号に書き換える処理であ
る。
【０１７１】変換候補抽出処理は、変換するセクタ情報
をＳＤＬから抽出する処理である。この処理では、領域
データとＳＤＬを参照して、検査すべき欠陥セクタ番号
とその交替セクタ番号がＳＤＬから抽出されて、変換管
理データに格納される。
【０１７２】
【表７】
【０１７３】
【表８】
【０１７４】
【表９】
【０１７５】（表７ａ）で示したＳＤＬから、セクタ番
号０１００００〜０４００００の領域にある欠陥セクタ
を持つエントリーは３つある。これら３つのエントリー
の内容が、変換管理データの欠陥セクタ番号フィールド
と交替セクタ番号フィールドに格納される。この処理を
行う前に、変換管理データの各フィールドは、初期状態
を示す値に初期化されることとする。例えば、欠陥セク
タ番号と交替セクタ番号のフィールドには、識別の為に
有り得ない値（−１）を格納するものとする。この処理
によって、変換管理データは（表１０ａ）のようにな
る。
【０１７６】
【表１０】
【０１７７】ＰＤＬ／ＴＤＬ追加処理は、抽出した欠陥
セクタをＰＤＬエントリーとして追加し、領域データと
抽出した交替セクタをＴＤＬエントリーとして追加する
処理である。この処理より前のＰＤＬとＴＤＬを、それ
ぞれ（表８ａ）と（表９ａ）とする。
【０１７８】この処理によって、ＰＤＬとＴＤＬは、そ
れぞれ（表８ｂ）と（表９ｂ）のようになるとともに、
変換管理データのリスト追加には処理済と記載される。
【０１７９】エントリー抹消処理は、ＳＤＬから利用可
能な欠陥セクタのエントリーを抹消する処理である。こ
の処理では、変換管理データの中からＰＤＬ／ＴＤＬへ
のリスト追加が処理済みになったエントリーの欠陥セク
タ番号とＳＤＬの欠陥セクタ番号とが照合され、一致し
た欠陥セクタ番号を持つＳＤＬのエントリーが削除され
て、変換管理データにＳＤＬ抹消は処理済と記載され
る。
【０１８０】（表１０ｂ）を参照すると、この処理の対
象は、セクタ番号０１４３２８と０２７７７４と０３６
２４９の欠陥セクタを持つＳＤＬエントリーである。こ
の３つのＳＤＬエントリーを（表７ａ）から削除した結
果、ＳＤＬは（表７ｂ）になる。これに対応する変換管
理データのＳＤＬ抹消フィールドに処理済が格納され
て、（表１０ｃ）になる。
【０１８１】それでは、各処理の詳細について、フロー
チャートを用いて説明する。便宜上、変換管理データ
は、本発明の実施の形態１および実施の形態２で用いた
検査管理データとほぼ同じフォーマットなので、同じく
ＥＭＤと略し、ＰＤＬ、ＳＤＬ、ＴＤＬおよびＥＭＤの
エントリーを参照するためのインデックス(Index)をそ
れぞれＰＩ、ＳＩ、ＴＩとＥＩと表記する。また、ＰＤ
ＬとＳＤＬのエントリーの各フィールドに関して、欠陥
セクタ番号(Defect Sector Number)をＤＳＮと、交替セ
クタ番号(Replacement Sector Number)をＲＳＮと略す
る。同様に、ＥＭＤのエントリーの各フィールドに関し
て、欠陥セクタ番号をＤＳＮと、交替セクタ番号をＲＳ
Ｎと略する。さらに、ＴＤＬのエントリーの各フィール
ドに関して、挿入先セクタ番号(Inserted Destination
Sector Number)をＩＤＳＮと、挿入元セクタ番号(Inser
ted Source Sector Number)をＩＳＳＮと略する。ここ
で、ＥＭＤ［０］．ＤＳＮと表記すると、（表１０ａ）
の最初のエントリーの一番左のフィールドにある０１４
３２８を指すことを意味する。
【０１８２】但し、変換候補抽出処理は、本発明の実施
の形態１および実施の形態２で説明した検査候補抽出処
理と同じなので、ここでの説明は省略する。また、エン
トリー抹消処理も、本発明の実施の形態１および実施の
形態２のエントリー抹消処理と同じなので、ここでの説
明は省略する。
【０１８３】図２１は、ＴＤＬ挿入先移動処理のフロー
チャートである。先ず、（２１０１）ＴＤＬのエントリ
ーを参照する為のインデックスを初期化する。
【０１８４】次に、（２１０２）ＴＤＬの全てのエント
リーを参照したかどうかを判断する為に、ＴＩとＴＤＬ
のエントリー総数を比較する。全てのＴＤＬエントリー
を参照し終えたならば終了し、そうでなければ以下のス
テップを実行する。
【０１８５】（２１０３）ＴＤＬに登録されている欠陥
セクタが、変換する領域に含まれているかどうかを判断
する。領域に含まれていない場合は、引き続くステップ
をスキップして、（２１０５）次のＴＤＬのエントリー
へと進む。領域に含まれている場合は、（２１０４）該
当するＴＤＬの挿入先セクタ番号として、領域の最終セ
クタ番号を代入し、（２１０５）次のＴＤＬのエントリ
ーへと進む。
【０１８６】図２２は、ＰＤＬ／ＴＤＬ追加処理のフロ
ーチャートである。先ず、（２２０１）ＥＭＤのエント
リーを参照する為のインデックスを初期化する。
【０１８７】次に、（２２０２）ＥＭＤの全てのエント
リーを参照したかどうかを判断する為に、ＥＭＤのＤＳ
Ｎフィールドが未登録であることを示す値（−１）か比
較する。全てのＥＭＤエントリーを参照し終えたならば
終了し、そうでなければ以下のステップを実行する。
【０１８８】次に、（２２０３）ＥＭＤ［ＥＩ］．ＤＳ
ＮをＰＤＬのエントリーとして追加し、（２２０４）領
域の最終セクタ番号を挿入先セクタ番号とし、ＥＭＤ
［ＥＩ］．ＲＳＮを挿入元セクタ番号としてＴＤＬのエ
ントリーに追加し、（２２０５）ＰＤＬ／ＴＤＬに追加
したことをＥＭＤに記載し、（２２０６）次のＥＭＤの
エントリーへと進む。
【０１８９】図２３は、ＰＤＬエントリー追加処理のフ
ローチャートである。（２３０１）〜（２３０４）挿入
するＰＤＬのエントリー番号をＰＩに求め、（２３０
５）〜（２３０８）ＰＩよりも後のエントリーを１エン
トリーずつ後方に移動して、挿入するエントリー位置に
空きをつくり、（２３０９）新しいＰＤＬエントリーと
してＥＭＤ［ＥＩ］．ＤＳＮを登録し、（２３１０）Ｐ
ＤＬのエントリー総数をインクリメントする。
【０１９０】図２４は、ＴＤＬエントリー追加処理のフ
ローチャートである。（２４０１）〜（２４０４）挿入
するＴＤＬのエントリー番号をＴＩに求め、（２４０
５）〜（２４０８）ＴＩよりも後のエントリーを１エン
トリーずつ後方に移動して、挿入するエントリー位置に
空きをつくり、（２４０９）新しいＴＤＬエントリーと
して、領域の最終セクタ番号を挿入先セクタ番号に、Ｅ
ＭＤ［ＥＩ］．ＲＳＮを挿入元セクタ番号に登録し、
（２４１０）ＴＤＬのエントリー総数をインクリメント
する。
【０１９１】図２５は、本発明の実施の形態３の効果を
示す図である。図２５（ａ）は、（表７ａ）と（表８
ａ）で示したＳＤＬとＰＤＬに基づく、リニアリプレー
スメントとセクタスリッピング時のセクタ番号とＬＳＮ
の関係図である。図２５（ｂ）は、（表７ｂ）と（表８
ｂ）と（表９ｂ）で示したＳＤＬとＰＤＬとＴＤＬに基
づく、境界付きスリッピングアルゴリズムに一部変換し
た時のセクタ番号とＬＳＮの関係図である。
【０１９２】図２５（ａ）と図２５（ｂ）を比較して分
かるように、境界付きスリッピングアルゴリズムに変換
された領域は、その指定領域の最後を除いてセクタスリ
ッピングアルゴリズムと等しいアクセス時間が実現でき
ることが分かる。また、その指定領域以外の領域では、
セクタスリッピングのようにＬＳＮずれを起こしていな
いことも同時に分かる。従って、上位装置が書き換えよ
うとする領域はセクタスリッピングと同等のアクセス時
間を実現し、上位装置が書き換えようとしない領域はそ
のままに保つことができる。また、リニアリプレースメ
ントアルゴリズムから境界付きスリッピングアルゴリズ
ムへ変換できることから、記録もしくは再生時に検出さ
れた欠陥セクタを、従来のリニアリプレースメントアル
ゴリズムで交替していた代わりに、境界付きスリッピン
グアルゴリズムで交替することができるのも明白であ
る。
【０１９３】なお、欠陥管理の単位であるグループ全体
が、上位装置から指示された指定領域に含まれる場合
は、そのグループに関しては、従来のセクタスリッピン
グアルゴリズムを適用するだけでよい。但し、グループ
の一部でも、上位装置から指示された領域に含まれない
場合は、そのグループに関して、境界付きスリッピング
アルゴリズムを適用する必要がある。例えば、上位装置
から指示された領域が、グループの途中から最後までの
場合、ＴＤＬがないと、リニアリプレースメントアルゴ
リズムで利用されたスペアセクタとセクタスリッピング
アルゴリズムで利用されたスペアセクタを判別できなく
なる。
【０１９４】本発明の実施の形態３において、図１５で
示したＴＤＬは、一つの例にすぎない。挿入する位置と
挿入されるセクタの位置が分かればよい。また、境界付
きスリッピングで参照する欠陥リストのＰＤＬとＴＤＬ
を一つにする形態もある。例えば、各エントリーは、
(1)スリッピングされる欠陥セクタのセクタ番号、(2)挿
入する位置を示すセクタ番号、(3)挿入される交替セク
タのセクタ番号、から構成することもできる。
【０１９５】以上から、本発明の実施の形態３におい
て、新しく考案された境界付きスリッピングアルゴリズ
ムを用いれば、ディスク初期化だけでなく任意のタイミ
ングで、任意の領域に対して、スリッピングアルゴリズ
ムと同等のアクセス速度を提供することができる。
【０１９６】以上説明したように、本発明の実施の形態
１において、リニアリプレースメントによるアクセスに
遅延が生じる箇所が少なくなる。また、処理の前後で
も、上位装置から同じデータを持つ情報記憶媒体に見え
る。さらに、リニアリプレースメントによる、アクセス
の遅延が少なくなるとともに利用可能なスペアセクタが
増加する。本発明の実施の形態２において、実施の形態
１に加えて、複数グループに分割されて欠陥管理が行わ
れている情報記憶媒体に対応し、特にＺＣＬＶ方式の場
合に、大幅なアクセス時間の短縮が期待できる。本発明
の実施の形態３において、任意のタイミングで、任意の
領域に対して、セクタスリッピングと同等のアクセス速
度を提供できる。また、実施の形態３に、実施の形態１
もしくは実施の形態２を組み合わせれば、セクタスリッ
ピングされるセクタ自体も減らすことができるので、最
もアクセス時間を短縮することができる。
【０１９７】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、一旦欠陥
セクタとして登録されたセクタの中から、データの記録
および再生が十分に可能なセクタを、欠陥セクタでない
正常なセクタとして復帰させるので、交替セクタへアク
セスする頻度が削減できるという有利な効果が得られ
る。さらに交替セクタをその欠陥セクタからアクセス時
間が短くて済む場所に再配置することができるという有
利な効果が得られる。また、任意のタイミングで任意の
領域に対して、リニアリプレースメントアルゴリズムで
扱われる欠陥セクタを、セクタスリッピングアルゴリズ
ムで扱うように変換できるので、欠陥セクタの交替処理
によるアクセス遅延を削減することができるという有利
な効果が得られる。また、処理の前後において、上位装
置から同じデータを持つ情報記憶媒体に見えるので、媒
体の初期化時以外にも実行できるという有利な効果が得
られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のディスクドライブ装置を含む情報処理
システムの構成図
【図２】本発明の実施の形態１および実施の形態２に共
通の上位装置とディスク記録・再生ドライブとの間のプ
ロトコルを示す図
【図３】本発明の実施の形態１における欠陥管理方法の
全体フローを示す図
【図４】本発明の実施の形態１における検査候補抽出処
理のフローチャート
【図５】本発明の実施の形態１におけるセクタ検査処理
のフローチャート
【図６】本発明の実施の形態１における１セクタコピー
処理のフローチャート
【図７】本発明の実施の形態１におけるエントリー抹消
処理のフローチャート
【図８】本発明の実施の形態１における１エントリー削
除処理のフローチャート
【図９】本発明の実施の形態１における交替セクタ再割
当処理のフローチャート
【図１０】本発明の実施の形態１における入替セクタ検
索処理のフローチャート
【図１１】本発明の実施の形態１の効果を示す図
【図１２】本発明の実施の形態２における入替セクタ検
索処理のフローチャート
【図１３】本発明の実施の形態２の効果を示す図
【図１４】本発明の実施の形態３における欠陥管理を説
明するレイアウトを示す図
【図１５】本発明の実施の形態３におけるＴＤＬの構成
図
【図１６】本発明の実施の形態３における書換エリアの
レイアウトとＰＤＬとＴＤＬの関係を示した図
【図１７】本発明の実施の形態３における新しい交替処
理アルゴリズムの概念図
【図１８】本発明の実施の形態３における新しい交替処
理時のセクタ番号とＬＳＮの関係図
【図１９】本発明の実施の形態３における上位装置とデ
ィスク記録・再生ドライブとの間のプロトコルを示す図
【図２０】本発明の実施の形態３における交替処理方法
の全体フローを示す図
【図２１】本発明の実施の形態３におけるＴＤＬ挿入先
移動処理のフローチャート
【図２２】本発明の実施の形態３におけるＰＤＬ／ＴＤ
Ｌ追加処理のフローチャート
【図２３】本発明の実施の形態３におけるＰＤＬエント
リー追加処理のフローチャート
【図２４】本発明の実施の形態３におけるＴＤＬエント
リー追加処理のフローチャート
【図２５】本発明の実施の形態３の効果を示す図
【図２６】従来例における欠陥管理を説明するレイアウ
トを示す図
【図２７】従来例におけるＰＤＬとＳＤＬの構成図
【図２８】従来例における書換エリアのレイアウトとＰ
ＤＬの関係を示した図
【図２９】従来例におけるセクタスリッピングアルゴリ
ズムの概念図
【図３０】従来例におけるセクタスリッピング時のセク
タ番号とＬＳＮの関係図
【図３１】従来例における書換エリアのレイアウトとＳ
ＤＬの関係を示した図
【図３２】従来例におけるリニアリプレースメントアル
ゴリズムの概念図
【図３３】従来例におけるリニアリプレースメント時の
セクタ番号とＬＳＮの関係図
【符号の説明】
Ｄ１ 上位装置 Ｄ１ａ ＣＰＵ Ｄ１ｂ プロセッサバス Ｄ１ｃ バスインタフェース Ｄ１ｄ 主記憶 Ｄ２ ディスク記録・再生ドライブ Ｄ２ａ バス制御回路 Ｄ２ｂ バッファ部 Ｄ２ｃ バッファ制御部 Ｄ２ｄ マイクロプロセッサ Ｄ２ｅ データ記録・再生・検査部 Ｄ３ 書き換え可能な光ディスク Ｄ４ 表示処理部 Ｄ５ 入力部 Ｄ６ ハードディスク装置 Ｄ７ Ｉ／Ｏバス
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ (72)発明者 植田 宏 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 福島 能久 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D044 AB05 AB07 BC02 CC04 DE03 DE12 DE49 DE53 DE62 DE64 DE96 EF05 FG18

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１つ
    以上のグループに分割し、欠陥セクタとその交替セクタ
    を１エントリーとする欠陥リストを用いる情報記憶媒体
    の欠陥管理方法であって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ所定
    領域に属する欠陥セクタを抽出する検査候補抽出ステッ
    プと、 前記検査候補抽出ステップで抽出されたセクタを検査し
    て欠陥セクタがどうかを判断するセクタ検査ステップ
    と、 前記セクタ検査ステップで欠陥セクタでないと判断され
    たエントリーを前記欠陥リストから抹消する欠陥エント
    リー抹消ステップとを備えたことを特徴とする情報記憶
    媒体の欠陥管理方法。
  2. 【請求項２】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１つ
    以上のグループに分割し、欠陥セクタとその交替セクタ
    を１エントリーとする欠陥リストを用いる情報記憶媒体
    の欠陥管理方法であって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ所定
    領域に属する欠陥セクタを抽出する検査候補抽出ステッ
    プと、 前記検査候補抽出ステップで抽出されたセクタを検査し
    て欠陥セクタがどうかを判断するセクタ検査ステップ
    と、 前記セクタ検査ステップで欠陥セクタでないと判断され
    たエントリーを前記欠陥リストから抹消する欠陥エント
    リー抹消ステップと、 前記欠陥エントリー抹消ステップで一部分が抹消された
    欠陥リストに対して、情報記憶媒体に用意された交替セ
    クタのアドレスの昇順に、交替セクタを前記欠陥リスト
    に登録し直す交替セクタ再割当ステップとを備えたこと
    を特徴とする情報記憶媒体の欠陥管理方法。
  3. 【請求項３】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１つ
    以上のグループに分割し、欠陥セクタとその交替セクタ
    を１エントリーとする欠陥リストを用いる情報記憶媒体
    の欠陥管理方法であって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ所定
    領域に属する欠陥セクタを抽出する検査候補抽出ステッ
    プと、 前記検査候補抽出ステップで抽出されたセクタを検査し
    て欠陥セクタがどうかを判断するセクタ検査ステップ
    と、 前記セクタ検査ステップで欠陥セクタでないと判断され
    たエントリーを前記欠陥リストから抹消する欠陥エント
    リー抹消ステップと、 前記欠陥エントリー抹消ステップで一部分が抹消された
    欠陥リストに対して、欠陥セクタの属するグループに用
    意された交替セクタから優先して、その交替セクタのア
    ドレスの昇順に、交替セクタを前記欠陥リストに登録し
    直す交替セクタ再割当ステップとを備えたことを特徴と
    する情報記憶媒体の欠陥管理方法。
  4. 【請求項４】前記セクタ検査ステップは、検査する欠陥
    セクタの交替セクタからデータを読み出して、そのデー
    タを欠陥セクタに書き戻す動作を含むことを特徴とする
    請求項１記載の情報記憶媒体の欠陥管理方法。
  5. 【請求項５】前記セクタ検査ステップは、検査する欠陥
    セクタの交替セクタからデータを読み出して、そのデー
    タを欠陥セクタに書き戻す動作を含み、 前記交替セクタ再割当ステップは、入替元の交替セクタ
    からデータを読み出して、そのデータを入れ替え先の交
    替セクタに書き戻す動作を含むことを特徴とする請求項
    ２、３記載の情報記憶媒体の欠陥管理方法。
  6. 【請求項６】前記セクタ検査ステップは、 目的とするセクタ自体のセクタ位置情報を取得できない
    場合に、手前に位置するセクタのセクタ位置情報からタ
    イミングを測って、目的とするセクタのデータを記録も
    しくは再生する動作を含むことを特徴とする請求項１、
    ２、３記載の情報記憶媒体の欠陥管理方法。
  7. 【請求項７】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１つ
    以上のグループに分割し、欠陥セクタを１エントリーと
    する一次欠陥リストと、挿入位置とそこに挿入する交替
    セクタを１エントリーとする三次欠陥リストを用いる情
    報記憶媒体の欠陥管理方法であって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記一次欠陥リストにエントリーとして登録された欠陥
    セクタを、前記上位装置から見たデータ空間から取り除
    くセクタずらしステップと、 前記三次欠陥リストにエントリーとして登録された交替
    セクタを、前記上位装置から見たデータ空間に挿入する
    セクタ挿入ステップと、を備えたことを特徴とする情報
    記憶媒体の欠陥管理方法。
  8. 【請求項８】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１つ
    以上のグループに分割し、欠陥セクタを１エントリーと
    する一次欠陥リストと、欠陥セクタとその交替セクタを
    １エントリーとする二次欠陥リストと、挿入位置とそこ
    に挿入する交替セクタを１エントリーとする三次欠陥リ
    ストを用いる情報記憶媒体の欠陥管理方法であって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記二次欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ
    所定領域に属する欠陥セクタを有するエントリーを抽出
    する変換候補抽出ステップと、 前記変換候補抽出ステップで抽出されたエントリーに登
    録された欠陥セクタを、前記一次欠陥リストのエントリ
    ーの欠陥セクタとして登録する第一の変換ステップと、 前記変換候補抽出ステップで抽出されたエントリーに登
    録された交替セクタを、前記三次欠陥リストのエントリ
    ーの交替セクタとして登録する第二の変換ステップと、 前記第一の変換ステップと前記第二の変換ステップで、
    変換された前記二次欠陥リストのエントリーを前記二次
    欠陥リストから抹消する欠陥エントリー抹消ステップと
    を備えたことを特徴とする情報記憶媒体の欠陥管理方
    法。
  9. 【請求項９】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１つ
    以上のグループに分割し、欠陥セクタを１エントリーと
    する一次欠陥リストと、欠陥セクタとその交替セクタを
    １エントリーとする二次欠陥リストと、挿入位置とそこ
    に挿入する交替セクタを１エントリーとする三次欠陥リ
    ストを用いる情報記憶媒体の欠陥管理方法であって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記三次欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ
    所定領域に属する挿入位置を有するエントリーに対し
    て、前記挿入位置を所定領域の最終位置に変更する挿入
    先移動ステップと、 前記二次欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ
    所定領域に属する欠陥セクタを有するエントリーを抽出
    する変換候補抽出ステップと、 前記変換候補抽出ステップで抽出されたエントリーに登
    録された欠陥セクタを、前記一次欠陥リストのエントリ
    ーの欠陥セクタとして登録する第一の変換ステップと、 前記変換候補抽出ステップで抽出されたエントリーに登
    録された交替セクタを、前記三次欠陥リストのエントリ
    ーの交替セクタとして登録する第二の変換ステップと、 前記第一の変換ステップと前記第二の変換ステップで、
    変換された前記二次欠陥リストのエントリーを前記二次
    欠陥リストから抹消する欠陥エントリー抹消ステップと
    を備えたことを特徴とする情報記憶媒体の欠陥管理方
    法。
  10. 【請求項１０】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１
    つ以上のグループに分割し、欠陥セクタとその交替セク
    タを１エントリーとする欠陥リストを用いて欠陥管理を
    行うディスクドライブ装置であって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ所定
    領域に属する欠陥セクタを抽出する検査候補抽出手段
    と、 前記検査候補抽出手段で抽出されたセクタを検査して欠
    陥セクタがどうかを判断するセクタ検査手段と、 前記セクタ検査手段で欠陥セクタでないと判断されたエ
    ントリーを前記欠陥リストから抹消する欠陥エントリー
    抹消手段とを備えたことを特徴とするディスクドライブ
    装置。
  11. 【請求項１１】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１
    つ以上のグループに分割し、欠陥セクタとその交替セク
    タを１エントリーとする欠陥リストを用いて欠陥管理を
    行うディスクドライブ装置であって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ所定
    領域に属する欠陥セクタを抽出する検査候補抽出手段
    と、 前記検査候補抽出手段で抽出されたセクタを検査して欠
    陥セクタがどうかを判断するセクタ検査手段と、 前記セクタ検査手段で欠陥セクタでないと判断されたエ
    ントリーを前記欠陥リストから抹消する欠陥エントリー
    抹消手段と、 前記欠陥エントリー抹消手段で一部分が抹消された欠陥
    リストに対して、情報記憶媒体に用意された交替セクタ
    のアドレスの昇順に、交替セクタを前記欠陥リストに登
    録し直す交替セクタ再割当手段とを備えたことを特徴と
    するディスクドライブ装置。
  12. 【請求項１２】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１
    つ以上のグループに分割し、欠陥セクタとその交替セク
    タを１エントリーとする欠陥リストを用いて欠陥管理を
    行うディスクドライブ装置であって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ所定
    領域に属する欠陥セクタを抽出する検査候補抽出手段
    と、 前記検査候補抽出手段で抽出されたセクタを検査して欠
    陥セクタがどうかを判断するセクタ検査手段と、 前記セクタ検査手段で欠陥セクタでないと判断されたエ
    ントリーを前記欠陥リストから抹消する欠陥エントリー
    抹消手段と、 前記欠陥エントリー抹消手段で一部分が抹消された欠陥
    リストに対して、欠陥セクタの属するグループに用意さ
    れた交替セクタから優先して、その交替セクタのアドレ
    スの昇順に、交替セクタを前記欠陥リストに登録し直す
    交替セクタ再割当手段とを備えたことを特徴とするディ
    スクドライブ装置。
  13. 【請求項１３】前記セクタ検査手段は、検査する欠陥セ
    クタの交替セクタからデータを読み出して、そのデータ
    を欠陥セクタに書き戻す動作を含むことを特徴とする請
    求項１０記載のディスクドライブ装置。
  14. 【請求項１４】前記セクタ検査手段は、検査する欠陥セ
    クタの交替セクタからデータを読み出して、そのデータ
    を欠陥セクタに書き戻す動作を含み、 前記交替セクタ再割当手段は、入替元の交替セクタから
    データを読み出して、そのデータを入れ替え先の交替セ
    クタに書き戻す動作を含むことを特徴とする請求項１
    １、１２記載のディスクドライブ装置。
  15. 【請求項１５】前記セクタ検査手段は、 目的とするセクタ自体のセクタ位置情報を取得できない
    場合に、手前に位置するセクタのセクタ位置情報からタ
    イミングを測って、目的とするセクタのデータを記録も
    しくは再生する動作を含むことを特徴とする請求項１
    ０、１１、１２記載のディスクドライブ装置。
  16. 【請求項１６】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１
    つ以上のグループに分割し、欠陥セクタを１エントリー
    とする一次欠陥リストと、挿入位置とそこに挿入する交
    替セクタを１エントリーとする三次欠陥リストを用いて
    欠陥管理を行うディスクドライブ装置であって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記一次欠陥リストにエントリーとして登録された欠陥
    セクタを、前記上位装置から見たデータ空間から取り除
    くセクタずらし手段と、 前記三次欠陥リストにエントリーとして登録された交替
    セクタを、前記上位装置から見たデータ空間に挿入する
    セクタ挿入手段と、を備えたことを特徴とするディスク
    ドライブ装置。
  17. 【請求項１７】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１
    つ以上のグループに分割し、欠陥セクタを１エントリー
    とする一次欠陥リストと、欠陥セクタとその交替セクタ
    を１エントリーとする二次欠陥リストと、挿入位置とそ
    こに挿入する交替セクタを１エントリーとする三次欠陥
    リストを用いて欠陥管理を行うディスクドライブ装置で
    あって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記二次欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ
    所定領域に属する欠陥セクタを有するエントリーを抽出
    する変換候補抽出手段と、 前記変換候補抽出手段で抽出されたエントリーに登録さ
    れた欠陥セクタを、前記一次欠陥リストのエントリーの
    欠陥セクタとして登録する第一の変換手段と、 前記変換候補抽出手段で抽出されたエントリーに登録さ
    れた交替セクタを、前記三次欠陥リストのエントリーの
    交替セクタとして登録する第二の変換手段と、 前記第一の変換手段と前記第二の変換手段で、変換され
    た前記二次欠陥リストのエントリーを前記二次欠陥リス
    トから抹消する欠陥エントリー抹消手段とを備えたこと
    を特徴とするディスクドライブ装置。
  18. 【請求項１８】情報記憶媒体を欠陥管理の単位である１
    つ以上のグループに分割し、欠陥セクタを１エントリー
    とする一次欠陥リストと、欠陥セクタとその交替セクタ
    を１エントリーとする二次欠陥リストと、挿入位置とそ
    こに挿入する交替セクタを１エントリーとする三次欠陥
    リストを用いて欠陥管理を行うディスクドライブ装置で
    あって、 上位装置の指示に基づいて行う情報記憶媒体の全体もし
    くは一部分の所定領域に対する欠陥管理処理において、 前記三次欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ
    所定領域に属する挿入位置を有するエントリーに対し
    て、前記挿入位置を所定領域の最終位置に変更する挿入
    先移動手段と、 前記二次欠陥リストにエントリーとして登録されて且つ
    所定領域に属する欠陥セクタを有するエントリーを抽出
    する変換候補抽出手段と、 前記変換候補抽出手段で抽出されたエントリーに登録さ
    れた欠陥セクタを、前記一次欠陥リストのエントリーの
    欠陥セクタとして登録する第一の変換手段と、 前記変換候補抽出手段で抽出されたエントリーに登録さ
    れた交替セクタを、前記三次欠陥リストのエントリーの
    交替セクタとして登録する第二の変換手段と、 前記第一の変換手段と前記第二の変換手段で、変換され
    た前記二次欠陥リストのエントリーを前記二次欠陥リス
    トから抹消する欠陥エントリー抹消手段とを備えたこと
    を特徴とするディスクドライブ装置。
  19. 【請求項１９】欠陥セクタを１エントリーとする一次欠
    陥リストと、挿入位置とそこに挿入する交替セクタを１
    エントリーとする三次欠陥リストとを有する情報記憶媒
    体。
  20. 【請求項２０】請求項１０、１１、１２記載のディスク
    ドライブ装置と、前記ディスクドライブ装置を制御する
    上位装置とを備えた情報処理システムであって、 前記上位装置は、ファイルの領域を割り付けるときに、
    前記ディスクドライブ装置に、そのファイル割付領域を
    指定して、アクセス遅延を発生する欠陥セクタの削減を
    命令する手段と、 前記上位装置は、ファイルの領域を割り付けた後に、前
    記ディスクドライブ装置に、ファイル割付領域にそのフ
    ァイルデータの記録を命令する手段とを備えたことを特
    徴とする情報処理システム。
  21. 【請求項２１】請求項１７、１８記載のディスクドライ
    ブ装置と、前記ディスクドライブ装置を制御する上位装
    置とを備えた情報処理システムであって、 前記上位装置は、ファイルの領域を割り付けるときに、
    前記ディスクドライブ装置に、そのファイル割付領域を
    指定して、アクセス遅延の大きい欠陥管理方法からアク
    セス遅延の少ない欠陥管理方法への変換を命令する手段
    と、 前記上位装置は、ファイルの領域を割り付けた後に、前
    記ディスクドライブ装置に、ファイル割付領域にそのフ
    ァイルデータの記録を命令する手段とを備えたことを特
    徴とする情報処理システム。
  22. 【請求項２２】請求項１７、１８記載のディスクドライ
    ブ装置と、前記ディスクドライブ装置を制御する上位装
    置とを備えた情報処理システムであって、 前記上位装置は、ファイルの領域を割り付けるときに、
    前記ディスクドライブ装置に、そのファイル割付領域を
    指定して、アクセス遅延の大きい欠陥管理方法からアク
    セス遅延の少ない欠陥管理方法への変換を命令する手段
    と、 前記上位装置は、前記ディスクドライブ装置から遅延の
    少ない連続アクセス可能な領域情報を得て、ファイル割
    付領域を前記連続アクセス可能な領域に補正する手段
    と、 前記上位装置は、ファイルの領域を補正して割り付けた
    後に、前記ディスクドライブ装置に、補正したファイル
    割付領域にそのファイルデータの記録を命令する手段と
    を備えたことを特徴とする情報処理システム。
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