JP2000011468A - Method of inspecting optical disk protective coat and inspecting device using it - Google Patents

Method of inspecting optical disk protective coat and inspecting device using it

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JP2000011468A
JP2000011468A JP10172946A JP17294698A JP2000011468A JP 2000011468 A JP2000011468 A JP 2000011468A JP 10172946 A JP10172946 A JP 10172946A JP 17294698 A JP17294698 A JP 17294698A JP 2000011468 A JP2000011468 A JP 2000011468A
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JP
Japan
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optical disk
fixed pattern
film
protective coat
shadow
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JP10172946A
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Japanese (ja)
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Koji Tonomura
孝次 外村
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of inspecting an optical disk protective coat which automatically distinguishes the presence or absence of 'coat irregularity' of the protective coat of an optical disk 1, and to provide an inspecting device using the method. SOLUTION: A protective coat of an optical disk 1 and a reflecting coat are irradiated with light beam (s) containing a shadow of a fixed form pattern by an illumination means 5 covered with a net like body of the fixed form pattern in front of a light source, and a picture of the reflected light (t) containing the shadow of the fixed form pattern projected on the protective coat of the optical disk 1 and the reflecting coat is taken by a photographing means 4. And, in a reference optical disk 1 having a normal protective coat, the shadow of the fixed form pattern is taken beforehand by the photographing device 4, and the shadow image is used as an reference image. And, at inspection, a shadow of the fixed form pattern in photographed on the optical disk to be inspected 1, and compared with the reference image by an image recognition means 8, and the presence or absence of 'coat irregularity' is judged by a discrimination means 9 by recognizing deformed conditions of the fixed form pattern.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、コンパクトディス
ク(以下CDと云う)等の光ディスクの蒸着膜の表面を
保護する保護コート膜の「コートむら」を検査する検査
方法及びその検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection method and an inspection apparatus for inspecting "coat unevenness" of a protective coating film for protecting the surface of a vapor-deposited film on an optical disk such as a compact disk (hereinafter referred to as a CD).

【0002】[0002]

【従来の技術】光学ディスクは、成形された信号形成面
に反射膜としてアルミニュームが蒸着され、そして前記
反射膜の酸化を防ぐため、その上面に保護コート材を塗
布する工程を経て生産されることが、一般的である。保
護コート材を塗布する方法としては、いわゆる「スピン
コート法」がよく用いられ、特開平4−195744号
公報にその例を見ることができる。他の方法として、保
護コート液をコーティング幅に応じた帯状に吐出するオ
リフィスを配置し、ディスクを一回転させるだけでほぼ
一定の厚みの塗布膜を得るものもある。そして、従来、
このような保護コート材が均一に塗布されているかどう
かを判別する方法は、目視検査が殆どである。一般的
に、この保護コート膜が均一に塗布されているのが正常
な状態であるが、時に、保護コート膜に波状の凹凸がで
きてしまうことがあり、これを「コートむら」と呼び不
良品と判定される。
2. Description of the Related Art An optical disc is produced through a process in which aluminum is deposited as a reflective film on a molded signal forming surface, and a protective coating material is applied to the upper surface of the optical disk to prevent oxidation of the reflective film. That is common. As a method of applying a protective coating material, a so-called "spin coating method" is often used, and an example thereof can be found in JP-A-4-195744. As another method, there is a method in which an orifice for discharging a protective coating solution in a band shape corresponding to the coating width is arranged, and a coating film having a substantially constant thickness is obtained by simply rotating the disk once. And conventionally,
Most of the methods for determining whether such a protective coating material is applied uniformly are visual inspections. In general, it is normal that the protective coat film is applied uniformly, but sometimes the protective coat film may have wavy irregularities, which is not called “coat unevenness”. It is determined to be good.

【0003】コンパクトディスク(以下「CD」と云
う。)等の表面には、CDに記録された記録内容を表示
するため、この保護コート膜上にメーカー名、曲名、演
奏者名等が印刷されている。CDの印刷とは、この保護
コート膜上にインク印刷するものであり、印刷検査する
段階では、保護コート膜の上に印刷されていない「無印
刷状態」と、保護コート膜の上に印刷されている「印刷
状態」に分けることができる。そして「コートむら」が
発生している場合、「印刷状態」の下の「コートむら」
を目視検査することは、印刷がコート面の影響を受けて
印刷にむらができるので、結果として「印刷むら」とし
て目視できる。しかし、「無印刷状態」では、保護コー
ト材が半透明であることと下地の蒸着面が鏡面であるこ
とのために、保護コート膜の「コートむら」を目視する
ことはひじょうに難しい。
On the surface of a compact disk (hereinafter referred to as "CD") or the like, a maker name, a song name, a player name, etc. are printed on this protective coat film in order to display the recorded content recorded on the CD. ing. CD printing refers to printing ink on this protective coat film. At the stage of print inspection, a “non-printed state” where no print is made on the protective coat film and a case where it is printed on the protective coat film Can be divided into “printing states”. If "coat unevenness" has occurred, "coat unevenness" under "printing status"
By visually inspecting the prints, the prints may be uneven due to the influence of the coated surface, and as a result, the prints may be visually observed as “print unevenness”. However, in the “non-printed state”, it is very difficult to visually check the “coat unevenness” of the protective coat film because the protective coat material is translucent and the underlying vapor deposition surface is a mirror surface.

【0004】また、一般的に、前記印刷面の状態を検査
する場合には、印刷面検査装置を用いるが、印刷面検査
装置では、通常、CD全面に均一な照明を照射する。こ
のような均一な照明では、コート面上の微妙な凹凸の変
化は、鏡面による光の反射のために正確に認識すること
ができない。
In general, when inspecting the state of the printing surface, a printing surface inspection device is used. In the printing surface inspection device, uniform illumination is usually applied to the entire surface of the CD. With such uniform illumination, a subtle change in unevenness on the coated surface cannot be accurately recognized due to reflection of light by a mirror surface.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、前述するよ
うな目視検査によらず、光学ディスクの保護コート材の
塗布状態を自動的に判別するものであって、「無印刷状
態」の保護コート膜においても「コートむら」の有無を
正確に検出することができる保護コート膜の検査方法及
びそれを使用した検査装置を提供することを課題とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention automatically discriminates the state of application of a protective coating material on an optical disk without using the above-described visual inspection. An object of the present invention is to provide a method for inspecting a protective coat film, which can accurately detect the presence or absence of “coat unevenness” even in a coat film, and an inspection apparatus using the same.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明の保護コート膜検
査方法では、光学ディスクの反射膜上に、定型模様の陰
影を映してその陰影を撮像し、反射膜上に形成された保
護コート膜によって生じる、前記格子模様の陰影の変形
を検出することにより、保護コート膜の表面状態を検査
する。
According to the method for inspecting a protective coat film of the present invention, a shadow of a fixed pattern is projected on a reflective film of an optical disc, and the shadow is imaged, and the protective coat film formed on the reflective film is formed. The surface state of the protective coating film is inspected by detecting the deformation of the shading of the lattice pattern caused by the above.

【0007】また、本発明の他の保護コート膜検査方法
では、光学ディスクの反射膜上に、所定の入射角で定型
模様の陰影を含む光線を照射して、前記定型模様の陰影
を含む前記反射膜からの反射光を撮像し、反射膜上に形
成された保護コート膜表面の波状凹凸形状によって生じ
る、前記定型模様の陰影の変形を検出することにより、
保護コート膜表面の波状凹凸形状の有無を判別する。
In another method for inspecting a protective coat film according to the present invention, a light beam including a shadow of a fixed pattern is irradiated onto a reflective film of an optical disk at a predetermined incident angle, and the light having a shadow of the fixed pattern is irradiated. By imaging the reflected light from the reflective film, by detecting the deformation of the shading of the fixed pattern, which is caused by the wavy irregularities on the surface of the protective coat film formed on the reflective film,
The presence or absence of a wavy uneven shape on the surface of the protective coat film is determined.

【0008】また、本発明のさらに他の保護コート膜検
査方法では、前記記載の他の保護コート膜検査方法に対
して、光学ディスクの反射膜上に、真上から定型模様の
陰影を含む光線を照射して、前記定型模様の陰影を含む
前記反射膜からの反射光を撮像し、反射膜上に形成され
た保護コート膜表面の波状凹凸形状によって生じる、前
記定型模様の陰影の変形を検出することにより、保護コ
ート膜表面の波状凹凸形状の有無を判別する。
According to still another method for inspecting a protective coat film of the present invention, a light beam including a shadow of a fixed pattern from directly above on a reflective film of an optical disk is provided in comparison with the above-described method for inspecting a protective coat film. Irradiates the reflected light from the reflective film including the shadow of the fixed pattern, and detects the deformation of the fixed pattern shadow caused by the wavy irregularities on the surface of the protective coat film formed on the reflective film. By doing so, the presence or absence of a wavy uneven shape on the surface of the protective coat film is determined.

【0009】また、本発明の保護コート膜検査装置で
は、前面を定型模様の網状体で覆った光源を有し、該光
源により、光学ディスクの反射膜に向けて所定の入射角
で、前記定型模様の陰影を含む光線(s)を照射する照
明手段と、前記反射膜と反射膜上に形成された保護コー
ト膜上に映し出された前記網状体の定型模様の陰影を含
む反射光(t)を撮像する撮像手段と、前記撮像手段が
取り込んだ定型模様の陰影画像を処理し、該陰影画像の
定型模様の陰影の変形の有無を認識する画像認識手段
と、前記画像認識手段の検出結果に基づいて、前記光学
ディスクの保護コート膜表面の波状凹凸形状の有無を判
別する判別手段とを備えてものである。
Further, the protective coating film inspection apparatus of the present invention has a light source whose front surface is covered with a net-like body having a fixed pattern, and the light source uses the fixed light to face the reflective film of the optical disk at a predetermined incident angle. Illuminating means for irradiating a light beam (s) including a shadow of the pattern; and reflected light (t) including a shadow of the fixed pattern of the mesh projected on the reflective film and the protective coat film formed on the reflective film. Image processing means for processing the shadow image of the fixed pattern captured by the imaging means, and an image recognition means for recognizing the presence or absence of deformation of the shadow of the fixed pattern of the shadow image; and a detection result of the image recognition means. Determining means for determining the presence or absence of a wavy uneven shape on the surface of the protective coating film of the optical disk based on the determination.

【0010】また、本発明の保護コート膜検査装置の他
の形態は、前記光学ディスクの軸線と同軸に、光学ディ
スク、ハーフミラー、撮像手段の順で配設し、照明手段
は、前記光学ディスクの軸線と直交するように配設した
構成において、前面を定型模様の網状体で覆われた光源
を有し、前記ハーフミラー面に向けて45度の入射角
で、前記定型模様の陰影を含む光線(x)を照射する照
明手段と、前記光学ディスクの軸線に対して45度の傾
きを有し、前記照明手段から照射された前記定型模様の
陰影を含む光線(x)を、光学ディスクの反射膜に向
け、真下に反射させるハーフミラーと、前記反射膜と反
射膜上に形成された保護コート膜から反射された前記定
型模様の陰影を含む反射光(y)を前記ハーフミラーを
透して撮像する撮像手段と、前記撮像手段が取り込んだ
画像を処理し、前記網状体による定型模様の陰影の変形
の有無を認識する画像認識手段と、前記画像認識手段の
検出結果に基づいて、前記光学ディスクの保護コート膜
表面の波状凹凸形状の有無を判別する判別手段とを備え
たものである。
In another embodiment of the protective coat film inspection apparatus according to the present invention, an optical disk, a half mirror, and an image pickup means are arranged coaxially with an axis of the optical disk in this order. A light source whose front surface is covered with a mesh of a standard pattern, including a shadow of the standard pattern at an incident angle of 45 degrees toward the half mirror surface. An illuminating means for irradiating a light beam (x); and a light beam (x) having a 45-degree inclination with respect to the axis of the optical disk and containing a shadow of the fixed pattern emitted from the illuminating means. A half mirror that reflects the light downward toward the reflection film, and reflected light (y) including the shadow of the fixed pattern reflected from the reflection film and the protective coat film formed on the reflection film passes through the half mirror. Imaging hand An image recognition unit that processes the image captured by the imaging unit and recognizes whether or not the shading of the fixed pattern is deformed by the net-like body; and a protection coat for the optical disk based on a detection result of the image recognition unit. Determining means for determining the presence or absence of a wavy uneven shape on the film surface.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】本発明の保護コート膜検査方法を
使用した検査装置の一実施例(●)を、図に基づいて説
明する。図1は、本実施例における保護コート膜検査装
置10の主要な構成を示す概略説明図で、ターンテーブ
ル2に載置されたCD等の光学ディスク1の反射膜10
1上に塗布された保護コート材(102)の塗布状態を
検査するものである。つまり、このコート材が均一に塗
布されている状態が正常であり、塗布方法等によって、
保護コート材表面に凹凸ができてしまうことがあり、こ
れを「コートむら」と呼び、不良と判定する。(図2参
照)5は、光学ディスク1を照射する照明手段で、光学
ディスク1に対して所定の入射角で入射光を照射するよ
うに設置されている。照明手段5は、均一な平行光を発
生する光源6、該光源6の前面を覆った定型模様(格
子、ドット等)を有する網状体7(光源6を覆うように
脱着自在に取り付けてある。)で構成されている。そし
て照明手段5は、光学ディスク1に向け、斜め上方から
所定の入射角で入射光(s)を照射し得る位置に設置さ
れ、光学ディスク1の反射膜及び保護コート膜上に前記
定型模様の陰影を含む入射光(s)を照射し、該反射膜
及び保護コート膜上に前記定型模様の陰影を映し出す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment (●) of an inspection apparatus using the protective coating film inspection method of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic explanatory view showing a main configuration of a protective coat film inspection apparatus 10 according to the present embodiment, and a reflection film 10 of an optical disc 1 such as a CD mounted on a turntable 2.
1 is to inspect the applied state of the protective coating material (102) applied on the surface 1. That is, it is normal that the coating material is uniformly applied, and depending on the application method and the like,
Irregularities may be formed on the surface of the protective coating material, which is called “coat unevenness” and is determined to be defective. (See FIG. 2) Reference numeral 5 denotes an illuminating unit for irradiating the optical disk 1, which is installed so as to irradiate the optical disk 1 with incident light at a predetermined incident angle. The illuminating means 5 is provided with a light source 6 for generating uniform parallel light, and a reticulated body 7 having a fixed pattern (grating, dots, etc.) covering the front surface of the light source 6 (removably attached so as to cover the light source 6). ). The illuminating means 5 is installed at a position where the incident light (s) can be irradiated at a predetermined angle of incidence from obliquely upward toward the optical disk 1, and the above-mentioned fixed pattern is formed on the reflection film and the protective coating film of the optical disk 1. The incident light (s) including a shadow is irradiated, and the shadow of the fixed pattern is projected on the reflective film and the protective coat film.

【0012】4はCCDカメラ等の撮像手段で、前記反
射膜及び保護コート膜上に映し出された定型模様の陰影
を含む反射光(t)を所定の反射角をもって斜め上方か
ら撮像し得る位置に設置されている。
Reference numeral 4 denotes imaging means such as a CCD camera or the like at a position where the reflected light (t) including the shadow of the fixed pattern projected on the reflection film and the protective coating film can be imaged from a diagonally upper side at a predetermined reflection angle. is set up.

【0013】8は画像認識手段で、撮像手段4が取り込
んだ撮像画像を処理し、前記定型模様の陰影画像に変形
があるかどうかを認識する。
Reference numeral 8 denotes an image recognizing unit which processes the captured image captured by the image capturing unit 4 and recognizes whether or not the shading image of the fixed pattern is deformed.

【0014】9は判別手段で、前記画像認識手段8の認
識結果に基づいて、光学ディスクの保護コート膜に「コ
ートむら」が存在するかどうか判別する。
Numeral 9 denotes a judging means for judging whether or not "coat unevenness" exists in the protective coat film of the optical disk based on the recognition result of the image recognizing means 8.

【0015】図2は、本実施例を適用する光学ディスク
1の構造を示す断面図であり、ディジタル化された信号
が転写された透明な成形基板100の信号形成面には、
図中下方から照射される信号再生用のレーザー光線を反
射させるため、アルミニュームの蒸着膜からなる反射膜
101が形成されている。102は、反射膜101の酸
化を防止するための保護コート膜で、図2は、保護コー
ト膜の一成形方法であるスピンコート法で形成した場合
を示し、スピンコ−ト法では、保護コート液が遠心力に
よってディスク周縁に広がるため、図2のように、周縁
に向かうにつれ波長が拡がる波が発生し、そのまま硬化
すると、波状の凹凸が表面に残った、保護膜102が形
成されることになる。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing the structure of the optical disc 1 to which the present embodiment is applied. The signal forming surface of the transparent molded substrate 100 onto which the digitized signal is transferred is shown in FIG.
In order to reflect a laser beam for signal reproduction emitted from below in the figure, a reflection film 101 made of an aluminum vapor deposition film is formed. Reference numeral 102 denotes a protective coating film for preventing the reflection film 101 from being oxidized. FIG. 2 shows a case in which the protective coating film is formed by a spin coating method, which is a method of forming the protective coating film. 2 spreads to the periphery of the disk due to centrifugal force, as shown in FIG. 2, a wave whose wavelength increases toward the periphery is generated, and when cured as it is, the protective film 102 with wavy irregularities remaining on the surface is formed. Become.

【0016】本実施例(●)の動作について説明する。 (a)図1のように、照明手段5により、光学ディスク
1の保護コート膜及び反射膜上に定型模様の陰影を含む
入射光(s)を照射する。 (b)撮像手段4により、光学ディスク1の保護コート
膜及び反射膜上に映された定型模様の陰影を含む反射光
(t)を撮像する。(図3に「コートむら」(A部)を
有するCDの定型模様(格子柄)の陰影画像を示す。) (c)前もって、正常な保護コート膜(「コートむら」
の無い。)を有する基準光学ディスク1において、定型
模様の陰影を撮像し、該陰影画像を基準画像とする。 (d)検査時は、検査する光学ディスク1において、定
型模様の陰影を撮像し、該陰影画像と前記基準画像とを
比較し、定型模様の陰影の変形具合を認識することによ
り、「コートむら」の有無を判定する。
The operation of the embodiment (●) will be described. (A) As shown in FIG. 1, the illumination means 5 irradiates incident light (s) including a shadow of a fixed pattern on the protective coat film and the reflective film of the optical disc 1. (B) The imaging means 4 images the reflected light (t) including the shadow of the fixed pattern projected on the protective coating film and the reflection film of the optical disc 1. (FIG. 3 shows a shaded image of a standard pattern (lattice pattern) of a CD having “coat unevenness” (part A).) (C) In advance, a normal protective coat film (“coat unevenness”)
Without. ), A shadow of a fixed pattern is imaged, and the shadow image is used as a reference image. (D) At the time of inspection, on the optical disk 1 to be inspected, a shadow of the fixed pattern is imaged, the shadow image is compared with the reference image, and the degree of deformation of the fixed pattern is recognized to thereby determine “coat unevenness”. Is determined.

【0017】本発明の保護コート膜検査方法を使用した
検査装置の他の実施例(●)を、図に基づいて説明す
る。
Another embodiment (●) of the inspection apparatus using the protective coat film inspection method of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0018】図4は、本実施例における保護コート膜検
査装置10の主要な構成を示す概略説明図である。1は
検査テーブル2上に載置された光学ディスクである。
FIG. 4 is a schematic explanatory view showing a main configuration of the protective coat film inspection apparatus 10 according to the present embodiment. Reference numeral 1 denotes an optical disk placed on the inspection table 2.

【0019】光学ディスク1、ハーフミラー3、撮像装
置4、照明手段5のそれぞれの位置関係は、光学ディス
ク1、ハーフミラー3、撮像装置4の順で中心軸を一致
させるように所定間隔で配設されている。照明手段5の
中心軸は、前記光学ディスク1、ハーフミラー3、撮像
装置4の中心軸と直交し、ハーフミラー3に照明手段5
からの光が入射角45度にて入射する。
The positional relationship among the optical disk 1, the half mirror 3, the image pickup device 4, and the illuminating means 5 is arranged at predetermined intervals so that the center axes of the optical disk 1, the half mirror 3, and the image pickup device 4 are aligned in this order. Has been established. The central axis of the illuminating means 5 is orthogonal to the central axes of the optical disk 1, the half mirror 3, and the imaging device 4.
Is incident at an incident angle of 45 degrees.

【0020】ハーフミラー3は、前記光学ディスク1の
上方に、光学ディスク1の軸線に対して45度の傾きを
持って配設されている。
The half mirror 3 is disposed above the optical disc 1 at an angle of 45 degrees with respect to the axis of the optical disc 1.

【0021】照明手段5は、均一な平行光を発生する光
源6と、光源6の前面を覆うように取り付けられた定型
模様(格子、ドット等)を有する網状体(光源1を覆う
ように脱着自在に取り付けてある。)で構成され、光源
6から発生した平行光に定型模様の陰影を含んだ平行光
を発生させる。
The illuminating means 5 comprises a light source 6 for generating uniform parallel light, and a mesh having a fixed pattern (gratings, dots, etc.) attached so as to cover the front surface of the light source 6 (removably so as to cover the light source 1). The light source 6 generates parallel light including a shading of a fixed pattern in the parallel light generated from the light source 6.

【0022】前記照明手段5は、前記光学ディスク1の
軸線に対して直交するように配設され、前記ハーフミラ
ー3に45度の入射角で入射光(x)を照射する。
The illuminating means 5 is disposed so as to be orthogonal to the axis of the optical disk 1, and irradiates the half mirror 3 with incident light (x) at an incident angle of 45 degrees.

【0023】ハーフミラー3は、入射光(x)を真下に
反射させ、光学ディスク1の反射膜上に入射光(x)を
照射し、光学ディスク1の反射膜及び保護コート膜上に
定型模様の陰影を映し出す。
The half mirror 3 reflects the incident light (x) right below, irradiates the incident light (x) on the reflective film of the optical disk 1, and forms a fixed pattern on the reflective film and the protective coat film of the optical disk 1. Reflect the shadow of.

【0024】4は撮像装置で、光学ディスク1の中心軸
に撮像装置の光軸中心が一致する。撮像装置4は、ハー
フミラー3を透して前記光学ディスク1の反射膜上及び
保護コート膜上に映し出された前記定型模様の陰影を含
む反射光(y)を撮像する。
Reference numeral 4 denotes an image pickup device. The center of the optical axis of the image pickup device coincides with the center axis of the optical disk 1. The imaging device 4 captures reflected light (y) including the shadow of the fixed pattern projected on the reflection film and the protective coat film of the optical disk 1 through the half mirror 3.

【0025】8は、前記撮像手段4が取り込んだ画像を
処理し、前記網状体7による定型模様の陰影画像の変形
の有無を確認する画像認識手段である。
Reference numeral 8 denotes an image recognizing means for processing the image captured by the image pickup means 4 and confirming whether or not the shading image of the fixed pattern is deformed by the net-like body 7.

【0026】9は、前記画像認識手段の検出結果に基づ
いて、前記光学ディスク1の保護コート膜の「コートむ
ら」(保護コート面の波状凹凸形状)の有無を判別する
判別手段である。
Numeral 9 is a discriminating means for discriminating the presence or absence of "coat unevenness" (corrugated unevenness of the protective coat surface) of the protective coat film of the optical disc 1 based on the detection result of the image recognition means.

【0027】本実施例(●)の動作を図4において説明
する。 (a)前記光源5を出た均一な平行光は、網状体7を通
過することにより、定型模様の陰影を含んだ入射光
(x)となる。該入射光(x)は、ハーフミラー3に入
射し、真下に反射し、光学ディスク1の反射膜に照射
し、光学ディスク1の反射膜及び保護コート膜上に定型
模様の陰影を映し出す。該反射膜及び保護コート膜上に
映し出された陰影を含む反射光(y)をハーフミラー3
を透して撮像装置4により撮影する。 (b)前もって、正常な保護コート膜(「コートむら」
の無い。)を有する基準光学ディスク1で定型模様の陰
影を撮像し、その陰影画像を基準画像とする。 (c)検査時は、検査する光学ディスク1において、定
型模様の陰影を撮像し、該陰影画像と前記基準画像とを
比較し、定型模様の陰影の変形具合を認識することによ
り、「コートむら」の有無を判定する。
The operation of this embodiment (●) will be described with reference to FIG. (A) The uniform parallel light emitted from the light source 5 passes through the mesh body 7 to become incident light (x) including a shadow of a fixed pattern. The incident light (x) is incident on the half mirror 3, reflected right below, irradiates the reflection film of the optical disk 1, and projects a fixed pattern shadow on the reflection film and the protective coating film of the optical disk 1. The half mirror 3 reflects the reflected light (y) including the shadow projected on the reflection film and the protective coat film.
Through the imaging device 4. (B) A normal protective coat film (“coat unevenness”)
Without. ) Is taken as a reference image using the reference optical disk 1 having the standard pattern. (C) At the time of inspection, on the optical disk 1 to be inspected, a shadow of a fixed pattern is imaged, and the shadow image is compared with the reference image to recognize the degree of deformation of the fixed pattern. Is determined.

【0028】実施例(●)と実施例(●)の効果を比較
すると、実施例(●)は、撮像手段4と照明手段5を光
学ディスク1に対して所定の角度を持って配設し、斜め
から撮像するため、スペース的に大きく拡がる傾向にあ
るが、実施例(●)のようにハーフミラー等を用いてい
ないので安価に実現できる。実施例(●)は、撮像手段
4と照明手段5を直角に配設し、ハーフミラー3を透し
て照明するため、実施例(●)のように各部品の取り付
けが拡がらず、スペース的にコンパクトにできる。
Comparing the effects of the embodiment (●) and the embodiment (●), in the embodiment (●), the imaging means 4 and the illuminating means 5 are arranged at a predetermined angle with respect to the optical disk 1. However, since the image is taken obliquely, the space tends to greatly expand. However, since a half mirror or the like is not used as in the embodiment (●), it can be realized at low cost. In the embodiment (●), since the imaging means 4 and the illuminating means 5 are arranged at right angles and illuminated through the half mirror 3, the mounting of each component does not expand as in the embodiment (●), and It can be made compact.

【0029】また、両実施例は共に、光学ディスクの保
護コート膜に印刷が施されていない状態「無印刷状態」
においても、保護コート膜の「コートむら」の有無を良
好に検出することができる。また、本実施例の照明装置
は、従来の印刷面検査装置の光源の前面に網状体を追加
するだけで実現できるため非常に安価に実現でき、網状
体を脱着構造にすることにより、印刷面検査装置を保護
コート膜検査装置に簡単に切り替えることができる。
In both embodiments, the state where no printing is applied to the protective coating film of the optical disk is referred to as the “non-printing state”.
Also, the presence or absence of “coat unevenness” of the protective coat film can be detected satisfactorily. Further, the lighting device of the present embodiment can be realized at a very low cost because it can be realized only by adding a mesh to the front of the light source of the conventional printing surface inspection device. The inspection device can be easily switched to the protective coat film inspection device.

【0030】[0030]

【発明の効果】本発明は、照明手段の光源の前面を網状
体で覆うだけの簡単な機構で、保護コート膜の「コート
むら」の有無が自動的に判別されるため、人手に頼って
いた(従来は目視検査を行っていた。)保護コート膜の
「コートむら」有無検査を、自動化することができる。
また、従来の光学ディスクの印刷面の検査を行う印刷面
検査装置の光源に網状体を追加するだけで簡単に保護コ
ート膜検査装置に切り替えることができる。
The present invention is a simple mechanism in which the front surface of the light source of the illuminating means is simply covered with a mesh, and the presence or absence of "coat unevenness" of the protective coating film is automatically determined, so that it depends on human labor. In addition, a visual inspection was conventionally performed. Inspection of “unevenness” of the protective coat film can be automated.
Further, it is possible to easily switch to the protective coat film inspection apparatus simply by adding a net to the light source of the conventional print surface inspection apparatus for inspecting the print surface of an optical disc.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明における実施例(●)で、保護コート膜
検査装置の概略構成を説明する概略構成断面図である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view illustrating a schematic configuration of a protective coat film inspection apparatus according to an embodiment (●) of the present invention.

【図2】光学ディスクの構造を説明する断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating the structure of an optical disk.

【図3】撮像装置が撮像する定型模様の陰影を含む反射
光画像を説明する図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a reflected light image including a shadow of a fixed pattern captured by an imaging device.

【図4】本発明における他の実施例(●)で、保護コー
ト膜検査装置の概略構成を説明する概略構成断面図であ
る。
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view illustrating a schematic configuration of a protective coat film inspection apparatus according to another embodiment (●) of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光学ディスク s,入射光(光線) t,反射光 x,入射光(光線) y,反射光 10 保護コート膜検査装置 6 光源 7 網状体 5 照明手段 4 撮像手段 8 画像認識手段 9 判別手段 3 ハーフミラー REFERENCE SIGNS LIST 1 optical disk s, incident light (light ray) t, reflected light x, incident light (light ray) y, reflected light 10 protective coating film inspection device 6 light source 7 mesh body 5 lighting means 4 imaging means 8 image recognition means 9 discriminating means 3 Half mirror

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光学ディスクの反射膜上に、定型模様の陰
影を映してその陰影を撮像し、反射膜上に形成された保
護コート膜によって生じる、前記定型模様の陰影の変形
を検出することにより、保護コート膜の表面状態を検査
することを特徴とする光学ディスクの保護コート膜検査
方法。
An image of a fixed pattern is projected on a reflection film of an optical disk, and the deformation of the fixed pattern caused by a protective coating film formed on the reflection film is detected. A surface condition of the protective coat film, thereby inspecting the protective coat film of the optical disk.
【請求項2】光学ディスクの反射膜上に、所定の入射角
で定型模様の陰影を含む光線(s)を照射して、前記反
射膜からの反射光(t)を撮像し、反射膜上に形成され
た保護コート膜の波状凹凸形状によって生じる、前記定
型模様の陰影の変形を検出することにより、保護コート
膜の波状凹凸形状の有無を判別することを特徴とする光
学ディスクの保護コート膜検査方法。
2. A light beam (s) including a shading of a fixed pattern is radiated at a predetermined incident angle onto a reflection film of an optical disk, and reflected light (t) from the reflection film is imaged. Detecting the deformation of the shading of the fixed pattern caused by the wavy uneven shape of the protective coat film formed on the optical disk, thereby determining the presence or absence of the wavy uneven shape of the protective coat film. Inspection methods.
【請求項3】光学ディスクの反射膜上に、ハーフミラー
を透過して、真上から定型模様の陰影を含む光線(x)
を照射して、前記反射膜からの反射光(y)を前記ハー
フミラーを透過して撮像し、反射膜上に形成された保護
コート膜の波状凹凸形状によって生じる、前記定型模様
の陰影の変形を検出することにより、保護コート膜の波
状凹凸形状の有無を判別することを特徴とする光学ディ
スクの保護コート膜検査方法。
3. A light beam (x) transmitted through a half mirror and including a shadow of a fixed pattern from directly above, on a reflection film of an optical disk.
And the reflected light (y) from the reflective film is transmitted through the half mirror to capture an image, and the shading of the fixed pattern caused by the wavy irregularities of the protective coat film formed on the reflective film Detecting the presence or absence of a wavy uneven shape of the protective coat film by detecting the presence of a wavy irregular shape.
【請求項4】下記の構成を備えたことを特徴とする光学
ディスクの保護コート膜検査装置。 a.前面を定型模様の網状体で覆った光源を有し、光学
ディスクの反射膜に向けて所定の入射角で前記定型模様
の陰影を含む光線(s)を照射する照明手段。 b.前記反射膜及び反射膜上に形成された保護コート膜
から反射された前記定型模様の陰影を含む反射光(t)
を撮像する撮像手段。 c.前記撮像手段が取り込んだ画像を処理し、前記網状
体による定型模様の陰影の変形の有無を認識する画像認
識手段。 d.前記画像認識手段の検出結果に基づいて、前記光学
ディスクの保護コート膜表面の波状凹凸形状の有無を判
別する判別手段。
4. An apparatus for inspecting a protective coat film of an optical disk, comprising: a. Illumination means having a light source whose front surface is covered with a mesh of a fixed pattern, and irradiating a light beam (s) including a shadow of the fixed pattern at a predetermined incident angle toward a reflective film of an optical disk. b. Reflected light (t) including a shadow of the fixed pattern reflected from the reflective film and the protective coat film formed on the reflective film.
Imaging means for imaging the image. c. An image recognition unit that processes the image captured by the imaging unit and recognizes whether or not the shading of the fixed pattern is deformed by the mesh. d. Determining means for determining the presence or absence of a wavy uneven shape on the surface of the protective coating film of the optical disk based on a detection result of the image recognition means.
【請求項5】下記の構成を備えたことを特徴とする光学
ディスクの保護コート膜検査装置。前記光学ディスクの
軸線と同軸に、光学ディスク、ハーフミラー、撮像手段
の順で配設し、照明手段は、前記光学ディスクの軸線と
直交するように配設した構成において、 a.前面を定型模様の網状体で覆われた光源を有し、前
記ハーフミラー面に向けて45度の入射角で、前記定型
模様の陰影を含む光線(x)を照射する照明手段。 b.前記光学ディスクの軸線に対して45度の傾きを有
し、前記照明手段から照射された前記定型模様の陰影を
含む光線(x)を、光学ディスクの反射膜に向け、真下
に反射させるハーフミラー。 c.前記反射膜と反射膜上に形成された保護コート膜か
ら反射された前記定型模様の陰影を含む反射光(y)を
前記ハーフミラーを透して撮像する撮像手段。 d.前記撮像手段が取り込んだ画像を処理し、前記網状
体による定型模様の陰影の変形の有無を認識する画像認
識手段。 e.前記画像認識手段の検出結果に基づいて、前記光学
ディスクの保護コート膜表面の波状凹凸形状の有無を判
別する判別手段。
5. An apparatus for inspecting a protective coat film of an optical disk, comprising: A configuration in which an optical disk, a half mirror, and an imaging unit are arranged in this order coaxially with the axis of the optical disk, and the illumination unit is arranged so as to be orthogonal to the axis of the optical disk; Illumination means having a light source whose front surface is covered with a mesh of a fixed pattern, and irradiating a light beam (x) including a shadow of the fixed pattern at an incident angle of 45 degrees toward the half mirror surface. b. A half mirror having a 45-degree inclination with respect to the axis of the optical disk, and reflecting a light beam (x) emitted from the illuminating means and containing a shadow of the fixed pattern toward the reflection film of the optical disk and directly below the mirror. . c. Imaging means for imaging reflected light (y) including the shadow of the fixed pattern reflected from the reflection film and the protective coat film formed on the reflection film through the half mirror; d. An image recognition unit that processes the image captured by the imaging unit and recognizes whether or not the shading of the fixed pattern is deformed by the mesh. e. Determining means for determining the presence or absence of a wavy uneven shape on the surface of the protective coating film of the optical disk based on a detection result of the image recognition means.
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