JP2000011103A - Ic card reading and writing device - Google Patents

Ic card reading and writing device

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JP2000011103A
JP2000011103A JP10180240A JP18024098A JP2000011103A JP 2000011103 A JP2000011103 A JP 2000011103A JP 10180240 A JP10180240 A JP 10180240A JP 18024098 A JP18024098 A JP 18024098A JP 2000011103 A JP2000011103 A JP 2000011103A
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signal terminal
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均 高木
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To inspect a contact state between a contact pin and the terminal of an IC card. SOLUTION: When any two terminals of a reset signal terminal 36, clock signal terminal 37 and data input and output terminal 38 of an IC card are turned into an L level, and the other terminal is turned into an H level, the abnormality of the currents of the terminals is detected by a voltage detecting means 25 so that a contact state between a power supply voltage terminal 35 of the IC card and a contact pin 10 can be decided. When any two terminals of the reset signal terminal 36, clock signal terminal 37 and data input and output terminal 38 of the IC card are turned into an H level, and the other terminal is turned into an L level, the abnormality of the currents of the terminals is detected by the voltage detecting means 25 so that a contact state between a ground terminal 39 of the IC card and the contact pin 11 can be decided.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体記憶回路を
内蔵したカード状記憶媒体からデータを読み出したり、
またこれにデータを書き込むICカード読取り・書き込
み装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for reading data from a card-shaped storage medium having a built-in semiconductor storage circuit,
The present invention also relates to an IC card reading / writing device for writing data into the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体記憶回路を内蔵したカード状記憶
媒体、いわゆるICカード30は、図4に示したように
EEPROM等の半導体記憶デバイス31と、ICカー
ド読取り・書き込み装置との間での通信を行って半導体
記憶デバイス31からデータを読出したり、また書き込
むための制御を実行する制御デバイス32をプラスチッ
クでモールドして板状に成形するとともに、表面にIC
カード読取り・書き込み装置のコンタクトヘッドのコン
タクトピンに接触してコンタクトを形成する複数の端子
35〜42を設けて構成されている。
2. Description of the Related Art As shown in FIG. 4, a card-shaped storage medium incorporating a semiconductor storage circuit, a so-called IC card 30, communicates between a semiconductor storage device 31 such as an EEPROM and an IC card reading / writing device. A control device 32 for performing control for reading data from and writing data to the semiconductor storage device 31 by molding is molded into a plate shape by molding with plastic, and an IC is formed on the surface.
A plurality of terminals 35 to 42 for forming contacts by contacting contact pins of a contact head of a card reading / writing device are provided.

【0003】ところで、このようなICカード30に設
けられている電源電圧(Vcc)端子35、リセット信
号(RST)端子36、クロック信号(CLK)端子3
7、データ入出力(I/O)端子38、グランド(GN
D)端子39はサイズが極めて小さいため、短絡や接触
不良が生じやすいという問題がある。それでもICカー
ド30の端子35〜42は外部に露出しているため、布
などにより端子を簡単に清浄にすることが可能である
が、ICカード読取り・書き込み装置のコンタクトピン
は、筐体の奥に位置するため、例えば特開昭60-15887号
公報に示されたようなクリーニング部材を用いて端子の
クリーニング操作を行うことも提案されているが、端子
が損傷を受けている場合等にはこのような操作によって
も正常なコンタクトが確保できない。
Incidentally, a power supply voltage (Vcc) terminal 35, a reset signal (RST) terminal 36, and a clock signal (CLK) terminal 3 provided on such an IC card 30 are provided.
7, data input / output (I / O) terminal 38, ground (GN)
D) Since the terminal 39 is extremely small in size, there is a problem that a short circuit or poor contact is likely to occur. Nevertheless, since the terminals 35 to 42 of the IC card 30 are exposed to the outside, the terminals can be easily cleaned with a cloth or the like. For example, it has been proposed to perform a terminal cleaning operation using a cleaning member as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-15887, but when the terminal is damaged, etc. Even by such an operation, a normal contact cannot be secured.

【0004】特に電源電圧端子及びグランド端子の一方
との接触が確保されていない場合には、リセット信号
(RST)端子36、クロック信号(CLK)端子3
7、データ入出力(I/O)端子38、グランド(GN
D)端子39等から、またはこれらの端子に常時とは異
なる電流が回りこみ、不正な状態でICカード30にア
クセスが行われてICカードのデータが破壊するという
問題がある。
In particular, when contact with one of the power supply voltage terminal and the ground terminal is not ensured, the reset signal (RST) terminal 36 and the clock signal (CLK) terminal 3
7, data input / output (I / O) terminal 38, ground (GN)
D) There is a problem that a current different from usual flows from the terminals 39 or the like or to these terminals, and the IC card 30 is accessed in an illegal state, thereby destroying the data of the IC card.

【0005】このような問題を解消するため、たとえば
特開平9-330381号公報に見られるようにICカードのリ
セット信号端子をローレベルとするともに、集積回路の
クロック信号をローレベルに制御した状態で電源電圧端
子に電源電圧を印加し、データ入出力端子の電圧を基準
値と比較するものが提案されている。
In order to solve such a problem, for example, as shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-330381, the reset signal terminal of the IC card is set to low level and the clock signal of the integrated circuit is controlled to low level. A method of applying a power supply voltage to a power supply voltage terminal and comparing the voltage of a data input / output terminal with a reference value has been proposed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】これによれば、ICカ
ードの電源電圧端子とコンタクトヘッドの該当コンタク
トとの接触不良を検出することができるものの、電源供
給時に他方の端子となるグランド端子との接触状態まで
検出することができず、場合によって不正なアクセスが
行われて半導体記憶デバイスのデータを消失するという
問題がある。本発明はこのような問題に鑑みてなされた
ものであって、その目的とするところは、ICカードの
電源電圧端子及びグランド端子とコンタクトヘッドのコ
ンタクトピンとのコンタクト状態を検出して、半導体記
憶デバイスのデータの消失を防止することができるIC
カード読取り・書き込み装置を提供することである。
According to this, a contact failure between the power supply voltage terminal of the IC card and the corresponding contact of the contact head can be detected. There is a problem that the contact state cannot be detected, and in some cases, unauthorized access is performed and data in the semiconductor storage device is lost. The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to detect a contact state between a power supply voltage terminal and a ground terminal of an IC card and a contact pin of a contact head to thereby provide a semiconductor storage device. IC that can prevent data loss
An object of the present invention is to provide a card reading / writing device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】このような問題を解消す
るために本発明においては、ICカードの端子に接触す
るコンタクトピンを備えたコンタクトヘッドと、前記I
Cカードとの通信を制御するアクセス制御手段とを備え
たICカード読取り・書き込み装置において、前記IC
カードのリセット信号端子、クロック信号端子、データ
入出力端子のいずれか2つの端子をLレベルとし、他の
1つの端子をHレベルとして当該端子の電流の異常を検
出する検出手段により検出して前記ICカードの電源電
圧端子と前記コンタクトピンとの接触状態を判定し、ま
た、前記ICカードのリセット信号端子、クロック信号
端子、データ入出力端子のいずれか2つの端子をHレベ
ルと、他の1つの端子をLレベルとして当該端子の電流
の異常を前記検出手段により検出して前記ICカードの
グランド端子と前記コンタクトピンとの接触状態を判定
するようにした。
According to the present invention, there is provided a contact head having contact pins for contacting terminals of an IC card.
An IC card read / write device having access control means for controlling communication with a C card;
Any two of the reset signal terminal, the clock signal terminal, and the data input / output terminal of the card are set to the L level, and the other terminal is set to the H level, and detected by the detecting means for detecting an abnormality in the current of the terminal. A contact state between a power supply voltage terminal of the IC card and the contact pin is determined. Further, one of two terminals of the reset signal terminal, the clock signal terminal, and the data input / output terminal of the IC card is set to H level, The terminal is set to the L level, and the abnormality of the current of the terminal is detected by the detection means to determine the contact state between the ground terminal of the IC card and the contact pin.

【0008】[0008]

【作用】コンタクトピンと電源電圧端子またはグランド
端子とが正常に接触していない場合には、リセット信号
端子、クロック信号端子、及びデータ入出力端子に異常
な電流が流れるから、これを検出手段により検出して電
源電圧端子とコンタクトピン、との接触状態、及びグラ
ンド端子とコンタクトピンとの接触状態を検出する。
When the contact pin is not in normal contact with the power supply voltage terminal or the ground terminal, an abnormal current flows through the reset signal terminal, the clock signal terminal, and the data input / output terminal. Then, the contact state between the power supply voltage terminal and the contact pin and the contact state between the ground terminal and the contact pin are detected.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】そこで以下に本発明の詳細を図示
した実施例に基づいて説明する。図1はICカード読取
り・書き込み装置の一実施例を示すものであって、IC
カード搬送手段1は、搬送路2のカード挿入口3の近傍
に設けられたICカード検出手段4からの信号により作
動するモータ5と、このモータ5に接続するローラ6と
から構成され、回転軸7を中心にバネ8によりローラ6
を搬送路2側に常時付勢するように構成されている。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of the present invention. FIG. 1 shows an embodiment of an IC card reading / writing apparatus.
The card conveying means 1 is composed of a motor 5 operated by a signal from an IC card detecting means 4 provided near the card insertion slot 3 of the conveying path 2 and a roller 6 connected to the motor 5. Roller 6 with spring 8 around 7
Is constantly biased toward the transport path 2 side.

【0010】コンタクトヘッド9は、ICカードが所定
の位置に静止したとき、ICカード30の電源電圧(V
cc)端子35、リセット信号(RST)端子36、ク
ロック信号(CLK)端子37、データ入出力(I/
O)端子38、グランド(GND)端子39と接触コン
タクトができる位置にコンタクトピン10、11、1
2、13、14を備え、検出器18によりICカード3
0が所定の位置に到達したことが検知されたときに、ソ
レノイド等の駆動手段19によりコンタクトピン10〜
14をICカード30の端子35〜39に弾接するよう
に構成されている。
When the IC card is stopped at a predetermined position, the contact head 9 supplies the power supply voltage (V) to the IC card 30.
cc) terminal 35, reset signal (RST) terminal 36, clock signal (CLK) terminal 37, data input / output (I /
O) Contact pins 10, 11, 1 at positions where contact can be made with terminal 38 and ground (GND) terminal 39.
2, 13 and 14, and the IC card 3
0 is detected to reach a predetermined position, the contact pins 10 to 10 are driven by driving means 19 such as a solenoid.
14 is configured to elastically contact the terminals 35 to 39 of the IC card 30.

【0011】図2は、ICカード読取り・書き込み装置
の一実施例を示すもので、電源電圧供給手段20は、I
Cカード30の電源電圧端子35とグランド端子39と
に接触するコンタクトピン10、14にICカード30
を駆動するのに適した一定の電圧を供給するものであ
る。
FIG. 2 shows an embodiment of an IC card reading / writing apparatus.
The IC card 30 is connected to the contact pins 10 and 14 that contact the power supply voltage terminal 35 and the ground terminal 39 of the C card 30.
To supply a constant voltage suitable for driving the.

【0012】アクセス制御手段21は、後述する接触検
査手段22からのアクセス不許可信号が入力していない
場合にだけ、ICカード30の端子36、37に接続す
るコンタクトピン11、12のそれぞれにリセット信
号、クロック信号を供給してアクセスし、半導体記憶デ
バイスのデータをデータ入出力端子38に接触するコン
タクトピン13から読出したり、また半導体記憶手段4
5にデータを書き込みを実行する。一方、接触検査手段
22からアクセス不許可信号が入力した場合にはICカ
ード30へのアクセスを中止するように構成されてい
る。
The access control means 21 resets each of the contact pins 11 and 12 connected to the terminals 36 and 37 of the IC card 30 only when an access denial signal from the contact inspection means 22 described later is not input. A signal and a clock signal are supplied to access and read data of the semiconductor memory device from the contact pin 13 contacting the data input / output terminal 38, and read the semiconductor memory device 4
5 is written. On the other hand, when an access denial signal is input from the contact inspection means 22, access to the IC card 30 is stopped.

【0013】そして、電源電圧端子35とコンタクトピ
ン10とのコンタクト状況の検査時にはICカード30
のリセット信号端子36、クロック信号端子37、デー
タ入出力端子38のいずれか2つの端子をLレベル、他
の1つの端子をHレベルとし、またグランド端子39と
コンタクトピン14とのコンタクト状況の検査時にはリ
セット信号端子36、クロック信号端子37、データ入
出力端子38のいずれか2つの端子をHレベル、他の1
つの端子をLレベルとするように構成されている。
At the time of checking the state of contact between the power supply voltage terminal 35 and the contact pin 10, the IC card 30
Of the reset signal terminal 36, the clock signal terminal 37, and the data input / output terminal 38 are set to L level, the other terminal is set to H level, and the contact state between the ground terminal 39 and the contact pin 14 is inspected. Sometimes, any two terminals of the reset signal terminal 36, the clock signal terminal 37, and the data input / output terminal 38 are set to the H level,
One terminal is configured to be at the L level.

【0014】接触検査手段22は、ICカード30のリ
セット信号端子36、クロック信号端子37、データ入
出力端子38に接触するコンタクトピン11、12、1
3の1つを第1切換手段23により選択し、電源電圧端
子35、グランド端子39とに接触するコンタクトピン
10、またはコンタクトピン14の一方を第2切換手段
24に選択し、電源電圧端子35とコンタクトピン10
とのコンタクト状況の検査時にはHレベルに設定された
リセット信号端子36、クロック信号端子37、データ
入出力端子38と接触するコンタクトピン11、12、
13に接続する抵抗R11、R12、R13の電圧を、グラン
ド端子39とコンタクトピン14とのコンタクト状況の
検査時にはLレベルに設定されたリセット信号端子3
6、クロック信号端子37、データ入出力端子38に接
続する抵抗R11、R12、R13の電圧を検出する電圧検出
手段25と、電圧検出手段25の電圧が基準値を越える
か否かを判定し、基準値を越える場合にはアクセス制御
手段21にアクセス不許可信号を出力する判定手段26
と、検査時点、例えばICカードが挿入された直後に信
号を出力して判定手段26を作動させる検査信号出力手
段27とから構成されている。
The contact inspection means 22 includes contact pins 11, 12, 1, which contact the reset signal terminal 36, the clock signal terminal 37, and the data input / output terminal 38 of the IC card 30.
3 is selected by the first switching means 23, and one of the contact pin 10 or the contact pin 14 which is in contact with the power supply voltage terminal 35, the ground terminal 39 is selected by the second switching means 24, and the power supply voltage terminal 35 is selected. And contact pin 10
When the contact status with the contact pins 11, 12, which are in contact with the reset signal terminal 36, the clock signal terminal 37, and the data input / output terminal 38 set to the H level,
The voltage of the resistors R11, R12 and R13 connected to the reset signal terminal 3 which is set to L level when the contact state between the ground terminal 39 and the contact pin 14 is inspected.
6. Voltage detecting means 25 for detecting the voltages of the resistors R11, R12, R13 connected to the clock signal terminal 37 and the data input / output terminal 38, and determining whether or not the voltage of the voltage detecting means 25 exceeds a reference value. A determination means for outputting an access denial signal to the access control means if the reference value is exceeded;
And an inspection signal output unit 27 that outputs a signal at the time of inspection, for example, immediately after an IC card is inserted, and activates the determination unit 26.

【0015】この基準値は、ICカード30の電源電圧
端子35、グランド端子39とコンタクトヘッド9のコ
ンタクトピン10、14とが正常なコンタクトを形成し
ている場合の、抵抗R11、R12、R13に流れる電流によ
って生じる電圧に基づいて設定されている。
This reference value is applied to the resistors R11, R12, R13 when the power supply voltage terminal 35, the ground terminal 39 of the IC card 30 and the contact pins 10, 14 of the contact head 9 form a normal contact. It is set based on the voltage generated by the flowing current.

【0016】この実施例において、ICカード30が挿
入されてコンタクトヘッド9のコンタクトピン10〜1
4がICカード30の各端子35〜39に弾接すると、
電源電圧供給手段20からICカード30に電源電圧が
供給され、ICカード30の活性化が行われる(図
3)。
In this embodiment, the IC card 30 is inserted and the contact pins 10 to 1 of the contact head 9 are inserted.
When 4 makes elastic contact with the terminals 35 to 39 of the IC card 30,
A power supply voltage is supplied from the power supply voltage supply means 20 to the IC card 30, and the IC card 30 is activated (FIG. 3).

【0017】検査信号出力手段27は、アクセス制御手
段21に検査信号を出力してリセット信号端子36、ク
ロック信号端子37、データ入出力端子38のいずれ
か、たとえばリセット信号端子36をHレベルとし、ク
ロック信号端子37及びデータ入出力端子38をLレベ
ルとする。そして第1切替手段23によりリセット信号
端子36を、また第2切替手段24によりグランド端子
39に当接するコンタクトピン14を選択する。
The test signal output means 27 outputs a test signal to the access control means 21 to set one of the reset signal terminal 36, the clock signal terminal 37, and the data input / output terminal 38, for example, the reset signal terminal 36 to the H level. The clock signal terminal 37 and the data input / output terminal 38 are set to L level. Then, the reset signal terminal 36 is selected by the first switching means 23, and the contact pin 14 contacting the ground terminal 39 is selected by the second switching means 24.

【0018】電源電圧端子35とコンタクトピン10と
が正常に接触してる場合には、供給された電源電圧によ
る電流のほとんどは、電源電圧端子35からグランド端
子39に流れるが、電源電圧端子35とコンタクトピン
10との接触が異常である場合には、1つだけHレベル
に設定されているリセット信号端子36の電圧が最も高
レベルとなるから、リセット信号端子36からグランド
端子39に正常時以外の余分な電流が流れ、抵抗R11の
電圧が変化する。
When the power supply voltage terminal 35 and the contact pin 10 are normally in contact with each other, most of the current due to the supplied power supply voltage flows from the power supply voltage terminal 35 to the ground terminal 39. If the contact with the contact pin 10 is abnormal, the voltage of only one reset signal terminal 36 set to the H level becomes the highest level. Extra current flows, and the voltage of the resistor R11 changes.

【0019】判定手段26は抵抗R11の電圧と基準値と
を比較してコンタクトピン10と電源電圧端子35との
接触が不良であると判定する。
The judging means 26 judges that the contact between the contact pin 10 and the power supply voltage terminal 35 is defective by comparing the voltage of the resistor R11 with a reference value.

【0020】同様にクロック信号端子37をHレベルと
し、リセット信号端子36、及びデータ入出力端子38
を共にLレベルとすると、コンタクトピン10と電源電
圧端子35との接触が不良である場合には、クロック信
号端子37が最も高レベルとなるから、クロック信号端
子37からグランド端子39に正常時以外の余分な電流
が流れ、抵抗R12の電圧が変化する。
Similarly, the clock signal terminal 37 is set to the H level, and the reset signal terminal 36 and the data input / output terminal 38
Are both at L level, when the contact between the contact pin 10 and the power supply voltage terminal 35 is defective, the clock signal terminal 37 is at the highest level. Extra current flows, and the voltage of the resistor R12 changes.

【0021】さらにデータ入出力端子38をHレベルと
し、リセット信号端子36、及びクロック信号端子37
を共にLレベルとすると、コンタクトピン10と電源電
圧端子35との接触が不良である場合には、データ入出
力端子38が最も高レベルとなるから、データ入出力端
子38からグランド端子39に正常時以外の余分な電流
が流れ、抵抗R13の電圧が変化する。
Further, the data input / output terminal 38 is set to the H level, and the reset signal terminal 36 and the clock signal terminal 37 are set.
Are set to L level, if the contact between the contact pin 10 and the power supply voltage terminal 35 is defective, the data input / output terminal 38 is at the highest level. Excess current flows except at the time, and the voltage of the resistor R13 changes.

【0022】したがって、リセット信号端子36、クロ
ック信号端子37、データ入出力端子38のうち、Hレ
ベルに設定された端子の抵抗R11、R12、R13の電圧を
検出することにより、コンタクトピン10と電源電圧端
子35との接触不良の有無を判定することができる。
Therefore, by detecting the voltages of the resistors R11, R12, and R13 of the terminals set to the H level among the reset signal terminal 36, the clock signal terminal 37, and the data input / output terminal 38, the contact pin 10 and the power supply are detected. The presence / absence of a contact failure with the voltage terminal 35 can be determined.

【0023】そして、検査時の異常な動作を防止する意
味でリセット信号端子36はLレベルに、またデータ入
出力端子38は初期状態ではHレベルに保持されている
から、検査時にもHレベルに維持させる。これに対して
クロック信号端子37には通常時においても交番信号が
印加されていてHレベル、Lレベルのいずれをも印加で
きるので、クロック信号端子37にLレベルを印加し
て、検査状態の電圧設定するのが望ましい。
Since the reset signal terminal 36 is held at the L level and the data input / output terminal 38 is held at the H level in the initial state in order to prevent an abnormal operation at the time of the inspection, the reset signal terminal 36 is also at the H level at the time of the inspection. Let it be maintained. On the other hand, the alternating signal is applied to the clock signal terminal 37 even in the normal state, and either the H level or the L level can be applied. It is desirable to set.

【0024】このようにして電源電圧端子35とコンタ
クトピン10とが正常に接触していることが確認できた
段階で、検査信号出力手段27は、アクセス制御手段2
1に検査信号を出力してリセット信号端子36、クロッ
ク信号端子37、データ入出力端子38のいずれか、た
とえばリセット信号端子36をLレベルとし、クロック
信号端子37及びデータ入出力端子38をHレベルとす
る。そして第1切替手段23によりリセット信号端子3
6を、また第2切替手段24により電源電圧端子35に
当接するコンタクトピン10を選択する。
When it is confirmed that the power supply voltage terminal 35 and the contact pin 10 are normally in contact with each other in this manner, the inspection signal output means 27
1 to output an inspection signal to any one of the reset signal terminal 36, the clock signal terminal 37, and the data input / output terminal 38, for example, the reset signal terminal 36 at the L level, and the clock signal terminal 37 and the data input / output terminal 38 at the H level. And Then, the first switching means 23 causes the reset signal terminal 3
6 and the contact pin 10 contacting the power supply voltage terminal 35 by the second switching means 24.

【0025】グランド端子39とコンタクトピン14と
が正常に接触してる場合には、供給された電源電圧によ
る電流のほとんどは、電源電圧端子35からグランド端
子39に流れるが、グランド端子39とコンタクトピン
14との接触が異常である場合には、リセット信号端子
36の電圧が最も低レベルとなるため、電源電圧端子3
5からリセット信号端子36に正常時以外の余分な電流
が流れ、抵抗R11の電圧が変化する。
When the ground terminal 39 and the contact pin 14 are in normal contact, most of the current due to the supplied power supply voltage flows from the power supply voltage terminal 35 to the ground terminal 39. 14 is abnormal, the voltage of the reset signal terminal 36 becomes the lowest level.
An extra current other than the normal current flows from 5 to the reset signal terminal 36, and the voltage of the resistor R11 changes.

【0026】判定手段26は抵抗R11の電圧と基準値と
を比較してコンタクトピン14とリセット信号端子39
との接触が不良であると判定する。
The judging means 26 compares the voltage of the resistor R11 with a reference value, and compares the contact pin 14 with the reset signal terminal 39.
Is determined to be bad.

【0027】同様にクロック信号端子37をLレベルと
し、リセット信号端子36、及びデータ入出力端子38
を共にHレベルとすると、コンタクトピン14とグラン
ド端子39との接触が不良である場合には、クロック信
号端子37が最も低レベルとなるから、電源電圧端子3
5からクロック信号端子37に正常時以外の余分な電流
が流れ、抵抗R12の電圧が変化する。
Similarly, the clock signal terminal 37 is set to L level, and the reset signal terminal 36 and the data input / output terminal 38
Are set to H level, if the contact between the contact pin 14 and the ground terminal 39 is defective, the clock signal terminal 37 becomes the lowest level.
An extra current other than normal flows from 5 to the clock signal terminal 37, and the voltage of the resistor R12 changes.

【0028】同様にデータ入出力端子38をLレベルと
し、リセット信号端子36、及びクロック信号端子37
を共にHレベルとすると、コンタクトピン14とグラン
ド端子39との接触が不良である場合には、データ入出
力端子38が最も低レベルとなるから、電源電圧端子3
5からデータ入出力端子38に正常時以外の余分な電流
が流れ、抵抗R13の電圧が変化する。
Similarly, the data input / output terminal 38 is set to L level, and the reset signal terminal 36 and the clock signal terminal 37
Are at H level, if the contact between the contact pin 14 and the ground terminal 39 is defective, the data input / output terminal 38 is at the lowest level.
An extra current other than the normal current flows from 5 to the data input / output terminal 38, and the voltage of the resistor R13 changes.

【0029】したがって、リセット信号端子36、クロ
ック信号端子37、データ入出力端子38のうち、Lレ
ベルに設定された端子の抵抗R11、R12、R13の電圧を
検出することにより、コンタクトピン14とグランド端
子39との接触不良の有無を判定することができる。
Therefore, by detecting the voltages of the resistors R11, R12, and R13 of the terminals set to the L level among the reset signal terminal 36, the clock signal terminal 37, and the data input / output terminal 38, the contact pin 14 and the ground are detected. The presence / absence of a contact failure with the terminal 39 can be determined.

【0030】そして、検査時の異常な動作を防止する意
味でリセット信号端子36はLレベルに、またデータ入
出力端子38は初期状態ではHレベルに保持されている
から、検査時にもHレベルに維持させる。これに対して
クロック信号端子37には通常時においても交番信号が
印加されていてHレベル、Lレベルのいずれをも印加で
きるので、クロック信号端子37にHレベルを印加し
て、検査状態の電圧設定するのが望ましい。
The reset signal terminal 36 is held at the L level in order to prevent an abnormal operation during the test, and the data input / output terminal 38 is held at the H level in the initial state. Let it be maintained. On the other hand, the alternating signal is applied to the clock signal terminal 37 even in the normal state, and either the H level or the L level can be applied. It is desirable to set.

【0031】コンタクトピン10とグランド端子39と
の正常な接触が確認できない場合には、アクセス制御手
段21は、アクセス不許可信号を出力してICカード3
0へのアクセスを阻止する。
If normal contact between the contact pin 10 and the ground terminal 39 cannot be confirmed, the access control means 21 outputs an access denial signal to output the IC card 3
Block access to 0.

【0032】このようにして、少なくともコンタクトピ
ン10と電源電圧端子35、及びコンタクトピン14と
グランド端子39とが共に正常に接触していることが確
認できた段階で、判定手段26はアクセス制御手段21
にアクセス許可信号を出力して、ICカード30からの
データの読出や、ICカード30へのデータの書き込み
を可能ならしめる。
As described above, when it is confirmed that at least the contact pin 10 and the power supply voltage terminal 35 and the contact pin 14 and the ground terminal 39 are both in normal contact, the judging means 26 sets the access control means. 21
An access permission signal is output to the IC card 30 to enable reading of data from the IC card 30 and writing of data to the IC card 30.

【0033】なお、この実施例においてはリセット信号
端子36、クロック信号端子37、データ入出力端子3
8に流れる電流を、抵抗の電圧R11、R12、R13として
検出しているが、電流を直接検出しても同様の作用を奏
することは明らかである。
In this embodiment, the reset signal terminal 36, clock signal terminal 37, data input / output terminal 3
Although the current flowing through 8 is detected as the resistance voltages R11, R12, and R13, it is clear that the same effect can be obtained by directly detecting the current.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上、説明したように本発明において
は、ICカードのリセット信号端子、クロック信号端
子、データ入出力端子のいずれか2つの端子をLレベル
とし、他の1つの端子をHレベルとして当該端子の電流
の異常を検出する検出手段により検出してICカードの
電源電圧端子とコンタクトピンとの接触状態を判定し、
また、ICカードのリセット信号端子、クロック信号端
子、データ入出力端子のいずれか2つの端子をHレベル
とし、他の1つの端子をLレベルとして当該端子の電流
の異常を前記検出手段により検出してICカードのグラ
ンド端子と前記コンタクトピンとの接触状態を判定する
ようにしたので、電源電圧端子とコンタクトピン、との
接触状態、及びグランド端子とコンタクトピンとの接触
状態をともに検出して、ICカードへの不正なアクセス
によるデータの消失を未然に防止することができる。
As described above, according to the present invention, any two terminals of the reset signal terminal, the clock signal terminal, and the data input / output terminal of the IC card are set at the L level, and the other terminal is set at the H level. The contact state between the power supply voltage terminal of the IC card and the contact pin is determined by detecting the abnormality of the current of the terminal by detecting means,
Further, any two terminals of the reset signal terminal, the clock signal terminal, and the data input / output terminal of the IC card are set to the H level, and the other terminal is set to the L level, and the abnormality of the current of the terminal is detected by the detection means. The contact state between the ground terminal of the IC card and the contact pin is determined, so that the contact state between the power supply voltage terminal and the contact pin and the contact state between the ground terminal and the contact pin are both detected, and the IC card is detected. Data can be prevented from being lost due to unauthorized access to the server.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】ICカード読取り・書き込み装置の一実施例を
示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of an IC card reading / writing device.

【図2】本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

【図3】同上ICカードの動作を示す波形図である。FIG. 3 is a waveform chart showing an operation of the IC card.

【図4】ICカードの一例を示す一部断面斜視図であ
る。
FIG. 4 is a partial sectional perspective view showing an example of an IC card.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

9 コンタクトヘッド 10〜14 コンタクトピン 22 接触検査手段 30 ICカード 35 電源電圧端子 36 リセット信号端子 37 クロック信号端子 38 データ入出力端子 39 グランド端子 9 Contact head 10-14 Contact pin 22 Contact inspection means 30 IC card 35 Power supply voltage terminal 36 Reset signal terminal 37 Clock signal terminal 38 Data input / output terminal 39 Ground terminal

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成11年9月27日(1999.9.2
7)
[Submission date] September 27, 1999 (September 9, 1999
7)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】特許請求の範囲[Correction target item name] Claims

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【特許請求の範囲】[Claims]

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ICカードの端子に接触するコンタクト
ピンを備えたコンタクトヘッドと、前記ICカードとの
通信を制御するアクセス制御手段とを備えたICカード
読取り・書き込み装置において、 前記ICカードのリセット信号端子、クロック信号端
子、データ入出力端子のいずれか2つの端子をLレベル
とし、他の1つの端子をHレベルとして当該端子の電流
の異常を検出する検出手段により検出して前記ICカー
ドの電源電圧端子と前記コンタクトピンとの接触状態を
判定し、 また、前記ICカードのリセット信号端子、クロック信
号端子、データ入出力端子のいずれか2つの端子をHレ
ベルとし、他の1つの端子をLレベルとして当該端子の
電流の異常を前記検出手段により検出して前記ICカー
ドのグランド端子と前記コンタクトピンとの接触状態を
判定するICカード読取り・書き込み装置。
1. An IC card read / write device comprising: a contact head having a contact pin for contacting a terminal of an IC card; and an access control means for controlling communication with the IC card. Any one of a signal terminal, a clock signal terminal, and a data input / output terminal is set to L level, and the other terminal is set to H level, and detected by detecting means for detecting an abnormality in current of the terminal, and the IC card is detected. A contact state between a power supply voltage terminal and the contact pin is determined. Further, any two terminals of a reset signal terminal, a clock signal terminal, and a data input / output terminal of the IC card are set to the H level, and the other terminal is set to the L level. An abnormality in the current of the terminal is detected by the detection means as a level, and the ground terminal of the IC card and the contact IC card reading and writing apparatus for determining the contact between the pin.
【請求項2】 前記電源電圧端子と前記コンタクトピン
との接触状態を判定時に、前記リセット信号端子、及び
データ入出力端子とがLレベルに、前記クロック信号端
子がHレベルに維持され、 また、前記グランド端子と前記コンタクトピンとの接触
状態の判定時に、前記クロック信号端子、及びデータ入
出力端子をHレベルに、前記リセット信号端子がLレベ
ルに維持される請求項1に記載のICカード読取り・書
き込み装置。
2. A reset signal terminal and a data input / output terminal are maintained at an L level and a clock signal terminal is maintained at an H level when determining a contact state between the power supply voltage terminal and the contact pin. 2. The IC card read / write according to claim 1, wherein the clock signal terminal and the data input / output terminal are maintained at the H level and the reset signal terminal is maintained at the L level when the contact state between the ground terminal and the contact pin is determined. apparatus.
【請求項3】 前記リセット信号端子、クロック信号端
子、及びデータ入出力端子とコンタクトを形成するコン
タクトピンに電流−電圧変換用の抵抗が接続され、前記
検出手段が電圧を検出する請求項1に記載のICカード
読取り・書き込み装置。
3. A current-voltage conversion resistor is connected to a contact pin forming a contact with the reset signal terminal, the clock signal terminal, and the data input / output terminal, and the detecting means detects a voltage. An IC card reader / writer according to any one of the preceding claims.
【請求項4】前記電源電圧端子と前記コンタクトピンと
の接触状態の判定時には、前記抵抗の1つとグランド端
子との間の、またグランド端子と前記コンタクトピンと
の接触状態の判定時には、前記抵抗の1つと前記電源電
圧端子との間の電圧を選択する切替手段を備えた請求項
3に記載のICカード読取り・書き込み装置。
4. A method for determining a contact state between the power supply voltage terminal and the contact pin when determining a contact state between one of the resistors and a ground terminal, and determining a contact state between the ground terminal and the contact pin when the contact state between the ground terminal and the contact pin. 4. The IC card reading / writing device according to claim 3, further comprising a switching unit that selects a voltage between the power supply terminal and the power supply voltage terminal.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105453111A (en) * 2014-06-11 2016-03-30 日立欧姆龙金融系统有限公司 Ic contact unit and ic card processing device

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