ITPI20100110A1 - Metodo e dispositivo per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto - Google Patents
Metodo e dispositivo per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto Download PDFInfo
- Publication number
- ITPI20100110A1 ITPI20100110A1 IT000110A ITPI20100110A ITPI20100110A1 IT PI20100110 A1 ITPI20100110 A1 IT PI20100110A1 IT 000110 A IT000110 A IT 000110A IT PI20100110 A ITPI20100110 A IT PI20100110A IT PI20100110 A1 ITPI20100110 A1 IT PI20100110A1
- Authority
- IT
- Italy
- Prior art keywords
- radiation
- radiation beam
- point
- source
- defect
- Prior art date
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims description 88
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 28
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 102
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims description 14
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 claims 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 27
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 22
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 11
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 2
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 2
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 229960005486 vaccine Drugs 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/03—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring coordinates of points
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
“METODO E DISPOSITIVO PER RILEVARE LA POSIZIONE GEOMETRICA DI UN DIFETTO IN UN OGGETTOâ€
DESCRIZIONE
Ambito dell’invenzione
La presente invenzione riguarda un metodo per misurare la posizione geometrica di uno o più difetti in un oggetto che à ̈ trasparente rispetto ad una determinata tecnologia di ispezione, ad esempio, un cilindro o tubo di vetro o altre tipologie di prodotti .
Inoltre, l’invenzione riguarda un dispositivo atto a realizzare tale metodo.
Brevi cenni alla tecnica nota - Problemi tecnici
Come noto, nei processi di automazione industriale sono utilizzati sistemi di visione per il controllo della qualità dei prodotti. In particolare, tali sistemi si basano su tecnologia a telecamere, come in WO0077499, WO9834096 o EP1816466, o su tecnologia a laser corredate entrambe da un software di analisi delle immagini, come in US4136779 o in US4168907.
L’applicazione di tali sistemi di visione à ̈ utilizzata per monitorare il processo produttivo di oggetti. Ad esempio, nel caso di tubi o cilindri di vetro utilizzati come prodotto di partenza per realizzare molti prodotti nel settore farmaceutico come fiale, siringhe ecc. È quindi particolarmente importante, in questo ambito, produrre un cilindro di vetro privo di difetti e di qualità molto elevata, in particolare per ottenere siringhe contenenti ad esempio farmaci/vaccini monodose. In quest’ultimo caso, infatti il farmaco si deve preservare da contaminazione biologica. Nel caso di difetti superficiali presenti sul cilindro di vetro vi sarebbe una contaminazione della sostanza che potrebbe provocare danni diretti all’utilizzatore.
Gli attuali sistemi di ispezione, comunemente montati in corrispondenza di una linea di produzione, riescono ad identificare difetti, anche microscopici, presenti nel vetro. Tali difetti sono nella maggior parte dei casi cavità dovute a bolle d’aria, formatesi durante il processo produttivo, o scheggiature dovute alla movimentazione del prodotto stesso. È utile precisare come tali difetti sono classificabili tra cavità chiuse e cavità aperte. In particolare, le cavità chiuse si formano completamente all’interno dello spessore del vetro, mentre le cavità aperte si trovano in prossimità della superficie interna o esterna del tubo vetro e si affacciano direttamente verso l’interno/esterno dello stesso. Di seguito, i difetti verranno indicati indifferentemente con i termini cavità o impurità .
Ad esempio, in US4483615 à ̈ descritto un sistema di ispezione di tubi vetro basato su tecnologia a telecamera lineare che consente di identificare difetti superficiali presenti sulla superficie del vetro facendo ruotare il tubo attorno al proprio asse. Il sistema evidenzia solamente se un difetto à ̈ presente o meno, e non à ̈ quindi in grado di posizionare il difetto all’interno della parete del tubo.
In altre parole, i suddetti sistemi di ispezione non riescono a identificare la posizione e la tipologia di difetto all’interno del vetro in modo da individuare a che profondità si trova il difetto rispetto alla superficie esterna o interna.
In particolare non riescono a discriminare tra cavità chiuse e cavità aperte. Di conseguenza, tali sistemi di visione portano a scartare tutti i prodotti che presentano un qualsiasi tipo di difetto, non distinguendo le caratteristiche e la posizione dello stesso. Ad esempio, può presentarsi il caso che un difetto a cavità chiusa sia inglobato nello spessore dell’oggetto in posizione di mezzeria e che quindi non implichi nessun rischio di rottura o contaminazione del prodotto. D’altro canto, à ̈ possibile che il difetto a cavità chiusa sia posizionato in prossimità dalla superficie interna o esterna e possa diventare una cavità aperta per effetto dello stress meccanico o termico a cui à ̈ sottoposto l’oggetto.
Lo scarto indiscriminato implica una maggiorazione dei costi e dei tempi di produzione. Conoscendo la posizione e la tipologia di difetto si può pensare di utilizzare il tubo in applicazioni compatibili con i difetti evidenziati.
Sintesi dell’invenzione
È quindi scopo della presente invenzione fornire un metodo per rilevare un difetto in un oggetto trasparente rispetto alla tecnologia utilizzata per l’ispezione che permetta di determinare la posizione del difetto all’interno dell’oggetto.
È altro scopo della presente invenzione fornire un metodo per rilevare un difetto in un oggetto che consenta di identificare la geometria e la tipologia di difetto presente sull’oggetto.
È altro scopo della presente invenzione fornire un metodo per rilevare le caratteristiche di un difetto in un oggetto che consenta di selezionare l’oggetto in funzione di un livello di qualità prescelto.
È altro scopo della presente invenzione fornire un’apparecchiatura per rilevare un difetto in un oggetto che raggiunga i medesimi scopi.
È anche scopo della presente invenzione fornire un’apparecchiatura per rilevare un difetto in un oggetto che sia costruttivamente semplice ed economica da realizzare.
È anche scopo della presente invenzione fornire un’apparecchiatura per rilevare un difetto in un oggetto che possa essere applicata e adattata ad una qualsiasi linea di produzione.
Questi ed altri scopi sono raggiunti da un metodo per rilevare la posizione geometrica di un difetto rispetto ad una predeterminata radiazione, detto metodo comprendendo le fasi di:
– rilevare e/o acquisire la geometria di detto oggetto;
– far passare attraverso un punto di detto oggetto almeno un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione in modo che detti primo e secondo fascio di radiazione siano incidenti tra loro secondo un angolo predeterminato;
– misurare da posizione nota detto primo fascio di radiazione e detto secondo fascio di radiazione dopo che detto primo e secondo fascio di radiazione hanno colpito detto punto, detta fase di misurare eseguendo la misura di una alterazione che si à ̈ verificata nell’attraversamento di detto punto da parte di detti primo e secondo fascio di radiazione, detta fase di rilevare fornendo un primo e un secondo segnale di difetto in caso detta alterazione superi una soglia predeterminata,
– elaborare detto primo e detto secondo segnale di difetto in modo tale da ricavare, rispetto a detta posizione di rilevazione nota, una posizione geometrica di detto punto in detto oggetto.
In tal modo, il metodo permette attraverso il primo e secondo fascio di radiazione, di posizionare il difetto all’interno della parete dell’oggetto scansionandolo da due direzioni di osservazione distinte con il primo e secondo fascio di radiazione, che incidono con un angolo α noto in un punto. Conoscendo il posizionamento dei due punti di osservazione e l’angolo α, si ottiene una triangolazione che consente di determinare una posizione di profondità del difetto all’interno della parete dell’oggetto. Tale metodo à ̈ applicabile sia quando l’oggetto scorre in continuo, sia a singoli oggetti in una postazione di scansione. In aggiunta, il metodo può essere reiterato per una pluralità di punti in modo da poter individuare identificare la forma complessiva del difetto.
In particolare, à ̈ prevista una fase di rilevazione e/o acquisizione della geometria di detto oggetto. Ad esempio, per un oggetto tubolare a sezione cilindrica à ̈ necessario rilevare/acquisire il diametro della circonferenza esterna e il diametro della circonferenza interna da cui à ̈ determinabile lo spessore della parete del cilindro. In tal modo, scelti due punti di osservazione A e B, si rileva il centro del tubo vetro. Il punto di osservazione A vede l’impurità a distanza relativa P0 rispetto al centro tubo. Quindi si osserva l’impurità dal secondo punto di osservazione B che vede l’impurità a distanza p rispetto al centro del cilindro. La distanza p varia in funzione del posizionamento del difetto all’interno della parete del cilindro: p varia tra un possibile valore P1 corrispondente all’impurità posizionata a contatto con la superficie esterna del cilindro, ad un valore P2 corrispondente all’impurità posizionata a contatto con la superficie interna del cilindro. Detto posizionamento dell’impurità può intendersi relativo sia ad un punto dell’impurità , che ad una sequenza di tali punti, che alla figura complessiva dell’impurità così come osservata dai due punti di osservazione.
In particolare, i valori limite P1 e P2 possono essere calcolati con un modello simulativo sia on-line che offline che riproduce le caratteristiche geometriche dell’oggetto da ispezionare e del comportamento del fascio rispetto alle caratteristiche dell’oggetto. Tale simulazione permette di determinare per ogni punto P0 su A i relativi valori limite P1 e P2 su B in funzione della geometria dell’oggetto. Ad esempio, se in corrispondenza di una impurità osservata in un P0 su A, si osserva su B l’impurità in un punto p che si trova all’esterno dell’intervallo [P1,P2] relativo a tale P0, significa che vi à ̈ una non conformità di forma nel cilindro. Ad esempio, à ̈ possibile che l’oggetto presenti un difetto di forma.
Vantaggiosamente, oltre agli intervalli [P1,P2], si possono aggiungere una o più soglie di sicurezza all’interno di tali intervalli per rendere più ristretto tale range. In tal modo, la posizione delle impurità può essere conformata ad un grado di qualità più ristretto, rispetto a posizioni particolari all’interno della parete del cilindro. Ad esempio, un cilindro che abbia un difetto a cavità chiusa che si trova in prossimità della superficie interna o esterna del cilindro può essere considerato da scartare. Questo consente di identificare oggetti con un difetto a cavità chiusa con uno spessore inferiore ad un valore prefissato. Infatti, una linea a cavità chiusa può diventare una cavità aperta per effetto dello stress meccanico o termico.
In una prima forma realizzativa, detta fase di far passare un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione attraverso detto punto di detto oggetto comprende una fase di disposizione di una prima ed una seconda sorgente di radiazione tra loro angolarmente spaziate secondo detto angolo.
In una seconda forma realizzativa, detta fase di far passare un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione attraverso detto punto di detto oggetto comprende una fase di disposizione di una unica sorgente di radiazione atta ad emettere un fascio di radiazione emessa e una fase di dirigere selettivamente detto fascio di radiazione emessa secondo una prima direzione in modo da costituire detto primo fascio di radiazione, e in una seconda direzione in modo da costituire detto secondo fascio di radiazione.
In particolare, detta fase di dirigere detto fascio di radiazione emessa comprende una fase di rotazione di una sorgente secondo detto angolo.
Nelle suddette forme realizzative, detta fase di rilevare comprende una fase di predisposizione di un primo sensore ed un secondo sensore spaziati di detto angolo.
In una terza forma realizzativa, detta fase di far passare un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione attraverso detto punto di detto oggetto, comprende una fase di emissione di detto fascio di radiazione emessa e una fase di rotazione di detto oggetto secondo detto angolo tra una prima ed una seconda posizione spaziate di detto angolo, in modo che quando detto oggetto à ̈ in detta prima posizione detto fascio di radiazione emessa costituisce detto primo fascio di radiazione, e quando detto oggetto à ̈ in detta seconda posizione detto fascio di radiazione emessa costituisce detto secondo fascio di radiazione. Nella terza forma realizzativa à ̈ possibile individuare con un solo sensore la posizione del difetto attraverso un solo punto di osservazione facendo ruotare l’oggetto di α gradi.
In alternativa, detta fase di rilevare comprende una fase di predisposizione di un unico sensore mobile tra detta prima e seconda posizione spaziate di detto angolo.
Nei suddetti casi particolari, à ̈ possibile variare l’angolo α, in modo da massimizzare la precisione nel posizionamento del difetto. Ad esempio, per ispezionare difetti lungo tutto l’oggetto à ̈ necessario far scorrere quest’ultimo rispetto ai punti di osservazione, oppure far scorrere i punti di osservazione, ovvero inquadrare la totalità del cilindro dai punti di osservazione.
Secondo un altro aspetto dell’invenzione un’apparecchiatura per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto, detto dispositivo comprendendo:
– mezzi per far passare attraverso un punto di detto oggetto almeno un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione in modo che detti primo e secondo fascio di radiazione siano incidenti tra loro secondo un angolo predeterminato;
– mezzi per rilevare da una posizione nota detto primo fascio di radiazione e detto secondo fascio di radiazione dopo che essi hanno attraversato detto punto, detti mezzi per rilevare essendo atti a rilevare l’alterazione del fascio che si à ̈ verificato nell’attraversamento di detto punto da parte di detti primo e secondo fascio di radiazione, detti mezzi per rilevare fornendo un primo e un secondo segnale di difetto in caso detta alterazione superi una soglia predeterminata,
– mezzi a programma atti ad elaborare detto primo e detto secondo segnale di difetto in modo tale da ricavare, da detta posizione nota, una posizione geometrica di detto punto in detto oggetto.
In particolare, la posizione del difetto può essere determinata all’interno o sulla superficie dell’oggetto trasparente. Inoltre, da una sequenza di punti può essere ottenuta una figura e forma complessiva del difetto.
Vantaggiosamente, detti mezzi per far passare un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione attraverso detto punto di detto oggetto comprendono una prima ed una seconda sorgente di radiazione tra loro angolarmente spaziate secondo detto angolo, in particolare detta prima e seconda sorgente di radiazione sono una prima ed una seconda sorgente luminosa, in particolare sono dispositivi di illuminazione ad alta uniformità e raggi altamente collimati.
In alternativa, detti mezzi per far passare un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione attraverso detto punto di detto oggetto comprendono una unica sorgente di radiazione, in particolare una sorgente luminosa, atta ad emettere un fascio luminoso sorgente e mezzi per dirigere selettivamente detto fascio luminoso sorgente secondo una prima direzione in modo da costituire detto primo fascio luminoso, e in una seconda direzione in modo da costituire detto secondo fascio luminoso.
In particolare, detti mezzi per dirigere detto fascio luminoso sorgente comprendono mezzi per ruotare detta unica sorgente luminosa secondo detto angolo.
In una ulteriore alternativa, detti mezzi per far passare un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione attraverso detto punto di detto oggetto comprendono una unica sorgente di radiazione, in particolare una sorgente luminosa, atta ad emettere un fascio luminoso sorgente e mezzi per ruotare detto oggetto secondo detto angolo predeterminato tra una prima ed una seconda posizione spaziate di detto angolo α, in modo che quando detto oggetto à ̈ in detta prima posizione detto fascio luminoso sorgente costituisce detto primo fascio luminoso, e quando detto oggetto à ̈ in detta seconda posizione detto fascio luminoso sorgente costituisce detto secondo fascio luminoso. La rotazione secondo l’angolo α avviene rispetto ad un punto tra la sorgente luminosa ed il sensore, e detto punto può anche essere posizionato idealmente all’interno dell’oggetto trasparente.
In particolare, detti mezzi per rilevare comprendono un primo sensore ed un secondo sensore spaziati di detto angolo α, in particolare detto primo e detto secondo sensore sono telecamere, in particolare telecamere lineari.
Vantaggiosamente, detta prima e seconda telecamera sono posizionate in modo che il sensore lineare ispezioni ortogonalmente e radialmente detto oggetto. In particolare, nel caso di un oggetto cilindrico, dette telecamere lineari sono posizionate radialmente al cilindro, ortogonalmente rispetto all’asse longitudinale del cilindro. In tal caso, il modello simulativo simula il passaggio dei raggi della sorgente luminosa attraverso il cilindro di vetro verso il la camera lineare considerando le caratteristiche geometriche del cilindro e l’angolo α formato dalle direzioni di osservazione delle due telecamere che ispezionano la medesima porzione di cilindro.
In particolare, possono essere predisposte una pluralità di telecamere associate a rispettivi illuminatori in modo da ispezionare corrispettive porzioni di detto cilindro. In tal modo, à ̈ possibile scegliere arbitrariamente l’angolo α al centro cilindro formato dalle direzioni di osservazione delle telecamere. Questo può essere scelto in modo da massimizzare la capacità risolutiva o in modo da minimizzare il numero delle telecamere.
Ad esempio, la configurazione con angoli al centro cilindro pari a 45° permette di osservare i calibri commerciali più diffusi di cilindro vetro con quattro telecamere, ed una buona risoluzione. Tale configurazione, vede le quattro telecamere poste dallo stesso lato del cilindro o, in alternativa vede una delle due telecamere centrali spostata al lato opposto del cilindro. Si fa presente che il metodo di ispezione rimane valido modificando sia l’angolo al centro, che il numero degli assi, che il posizionamento delle telecamere su uno dei due lati del tubo. Inoltre, gli assi dei punti di osservazione possono essere posti anche su piani diversi, ad esempio lungo l’asse longitudinale del cilindro.
Il modello simulativo permette di ricavare per ogni posizione in cui una prima telecamera osserva la cavità , l’intervallo delle posizioni in cui la cavità può essere vista da una seconda telecamera. Le posizioni estreme di tali intervalli corrispondono a punti dell’impurità posizionati a contatto con la superficie esterna ed interna del cilindro vetro.
Inoltre, detta prima e detta seconda sorgente luminosa tra loro angolarmente spaziate sono una prima ed una seconda sorgente laser, in particolare ciascuna di dette prima e seconda sorgente laser à ̈ atta ad emettere un singolo fascio che incide su un rispettivo elemento a specchio in modo da ottenere un fascio ad incidenza variabile in uscita atto a scansionare una rispettiva porzione di detto oggetto, la combinazione tra un primo ed una secondo fascio ad incidenza variabile consente di scansionare completamente detto oggetto e rilevare la posizione del difetto.
In particolare detti mezzi per rilevare associati a detta prima e seconda sorgente laser comprendono un prima ed un seconda coppia di diodi fotosensibili che rilevano la rifrazione di ciascuno di detto primo e secondo fascio ad incidenza variabile.
Vantaggiosamente, possono essere predisposti un primo ed un secondo array di raggi laser angolarmente spaziati tra loro, atti a generare ciascuno una pluralità di raggi paralleli che abbraccia completamente detto oggetto.
In particolare, sono previsti mezzi di simulazione per simulare un percorso di rifrazione di detti fasci di radiazione attraverso detto oggetto trasparente in modo da determinare la posizione effettiva di detto punto in detto oggetto trasparente.
Breve descrizione dei disegni
L’invenzione verrà di seguito illustrata con la descrizione di una sua forma realizzativa, fatta a titolo esemplificativo e non limitativo, con riferimento ai disegni annessi, in cui:
– la figura 1 mostra una vista schematica di una apparecchiatura per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto, secondo l’invenzione, secondo una prima forma realizzativa con tecnologia a telecamere;
– la figura 2 mostra una vista prospettica e relative viste ingrandite 2A, 2B e 2C di un cilindro di vetro e di differenti tipologie di difetto identificabili attraverso l’apparecchiatura di figura 1;
– la figura 3 mostra una vista schematica di una seconda forma realizzativa che prevede un'unica sorgente luminosa in grado di ruotare secondo un angolo predeterminato;
– la figura 4 mostra una vista schematica di una ulteriore forma realizzativa che prevede due sorgenti luminose e un unico sensore atto a ruotare tra una prima posizione ed una seconda posizione angolarmente spaziate;
– le figure 4A e 4B mostrano una vista schematica di una ulteriore forma realizzativa che prevede due sorgenti luminose e un unico sensore fisso e mezzi per ruotare l’oggetto tra una prima ed una seconda posizione angolarmente spaziate tra loro;
– la figura 4C mostra una vista schematica di una forma realizzativa che comprende una unica sorgente luminosa ed una unica telecamera, entrambe mobili tra una prima ed una seconda posizione in modo da osservare il difetto da due punti distinti spaziati di un angolo predeterminato;
– la figura 5 mostra una vista schematica dell’apparecchiatura per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto in una quarta forma realizzativa che adotta sorgente una tecnologia laser con fotodiodi sensibili;
– la figura 6 mostra una vista schematica di un diagramma a blocchi utilizzato per elaborare i dati provenienti dalle telecamere o fotodiodi e determinare la posizione e le caratteristiche dimensionali del difetto riscontrato nell’oggetto;
– infine, le figure 7, 8 e 9 mostrano in vista schematica una ulteriore forma realizzativa che adotta più telecamere e rispettive sorgenti in modo da massimizzare la risoluzione di ispezione.
Descrizione di forme realizzative preferite
Con riferimento alla figura 1, un’apparecchiatura per rilevare la posizione geometrica di un difetto o impurità 70 in un oggetto 1, ad esempio un tubo di vetro 1. L’apparecchiatura comprende mezzi 100 per far passare attraverso un punto 50 dell’oggetto almeno un primo fascio di radiazione 10 ed un secondo fascio di radiazione 20, in modo che il primo 10 e secondo 20 fascio di radiazione formino tra loro un angolo predeterminato α. In particolare, secondo una prima forma realizzativa, nel caso in cui l’oggetto sia di materiale vetro, il primo e secondo fascio di radiazione sono fasci luminosi generati da rispettivi illuminatori 110 e 120, tra loro angolarmente spaziate secondo un angolo α.
Sempre, come mostrato in figura 1, si suppone che nel punto 50 sia presente un difetto 70. In particolare la posizione del punto 50 si distingue tra una posizione Pm in cui il difetto 70 à ̈ interno all’oggetto e due posizioni limite P1 e P2 in cui il difetto si trova rispettivamente sulla superficie interna 1a o esterna 1b del tubo.
L’apparecchiatura, comprende inoltre mezzi per rilevare 200, da posizione nota, il primo fascio luminoso 10 e il secondo fascio luminoso 20 dopo che essi hanno attraversato il punto 50. In particolare, i mezzi per rilevare 200 sono atti a rilevare l’alterazione luminosa che si à ̈ verificata nell’attraversamento del punto 50 da parte del primo 10 e secondo 20 fascio luminoso e a fornire un primo 150 e un secondo 160 segnale di difetto nel caso tale alterazione superi una soglia predeterminata. Più precisamente, per alterazione si intende un valore prefissato di intensità luminosa che viene rilevato dai rilevatori 200. Ciò significa che il fascio luminoso ha colpito il difetto 70 ed à ̈ stato alterato, per cui il rilevatore rileva una intensità luminosa minore del valore prefissato, come successivamente descritto in dettaglio.
In particolare, la prima sorgente luminosa 110 à ̈ atta ad emettere il primo fascio luminoso 10 incidente sull’oggetto 1 e un primo sensore di rilevazione 210 à ̈ disposto lungo un primo piano diametralmente opposto rispetto alla prima sorgente luminosa 110. In particolare, il primo sensore di luce 110 à ̈ atto a generare il primo segnale di difetto 150 uscente dall’oggetto 1 in modo da individuare una prima posizione P0 di riferimento del difetto 70. Allo stesso modo, la seconda sorgente luminosa 120 à ̈ atta ad emettere il secondo fascio luminoso 20 ed un secondo sensore di luce 220 disposto lungo un secondo piano diametralmente opposto rispetto alla seconda sorgente luminosa 120 genera il secondo segnale di difetto 160.
L’apparecchiatura comprende inoltre, associati ai mezzi di rilevazione 200 mezzi a programma 300 atti ad elaborare il primo 150 e il secondo 160 segnale di difetto in modo tale da ricavare, a partire dalla posizione nota dei sensori di rilevazione 210/220, una posizione geometrica del punto 50, attraverso un modello simulativo rappresentato in figura 6. Più precisamente, il calcolatore 300 riceve in ingresso il primo 150 e il secondo 160 segnale luminoso e conoscendo l’angolo di incidenza dei fasci 10/20 oltre alla posizione geometrica dei due sensori 210/220 ottiene una triangolazione dalla quale à ̈ possibile ricavare la posizione geometrica del difetto all’interno dell’oggetto 1.
In tal modo, à ̈ possibile discriminare difetti inglobati all’interno dello spessore dell’oggetto, ossia coincidenti con un punto Pm, oppure difetti prossimi alla sua superficie interna 1a od esterna 1b, ossia nei punti P1 o P2. Più precisamente, come mostrato nella figura 2, il difetto 70 può trovarsi all’interno dello spessore 1c (Fig.2A) o sulla superficie dell’oggetto 1, in particolare sulla superficie interna 1a (Fig.2B) o sulla superficie esterna 1b (Fig.2C). In uno di questi due casi estremi, il difetto può rappresentare una cricca di innesco di una frattura, rendendo il tubo estremamente vulnerabile e destinato ad una facile rottura alla minima sollecitazione.
Costruttivamente, secondo una prima forma realizzativa, il primo 210 e il secondo 220 sensore sono telecamere, in particolare telecamere lineari, mentre la prima 110 e la seconda 120 sorgente luminosa sono dispositivi di illuminazione ad alta uniformità e raggi altamente collimati. In tal modo, il difetto 70 à ̈ identificato dalla prima telecamera 210 come una alterazione del fascio luminoso 10 in un punto P0 usato come primo riferimento, la seconda telecamera 220 à ̈ utilizzata, invece, per individuare la posizione geometrica del difetto 70 all’interno della parete e dedurre quindi il suo posizionamento tridimensionale attraverso l’alterazione del secondo fascio luminoso 20. Più precisamente, la seconda telecamera 220 può vedere tale alterazione e quindi il difetto 70 all’interno delle posizioni limite P1 e P2, che corrispondono rispettivamente alla posizione del difetto 70 a contatto con la superficie interna 1a dell’oggetto 1 o a contatto con la superficie esterna 1b dell’oggetto.
I valori numerici delle due posizioni limite, in funzione della posizione P0 vista sulla prima telecamera 210, sono elaborati mediante il calcolatore 300 comprendente dedicati mezzi a programma che elaborano i segnali secondo lo schema di figura 6. In altre parole, le posizioni limite P1 e P2 definiscono un intervallo all’interno del quale la seconda telecamera 220 può trovare l’impurità , in funzione del punto P0 in cui la prima telecamera 210 osserva l’impurità 70. Gli intervalli generati vengono utilizzati per impostare il valore oltre il quale l’impurità 70 viene considerata a contatto con la parete interna 1a o esterna 1b del cilindro. I mezzi a programma elaborano i segnali 150/160 in modo da includere gli effetti della rifrazione dei raggi sul vetro e considerare che l’ottica sulla telecamera 210/220 mette a fuoco gli oggetti sul piano focale, mentre mano a mano che ci si allontana dal piano focale gli oggetti sono più sfuocati.
In particolare, per calcolare la posizione del difetto à ̈ prevista una fase di rilevazione e/o acquisizione della geometria dell’oggetto 1. Ad esempio, per un oggetto tubolare a sezione cilindrica, come mostrato in figura 1, à ̈ necessario rilevare/acquisire il diametro della circonferenza esterna deste il diametro della circonferenza interna dintda cui à ̈ determinabile lo spessore s della parete del cilindro. In tal modo, scelti i due punti di osservazione A e B, ossia le direzioni del primo 10 e secondo 20 fascio luminoso, à ̈ possibile determinare il centro O del tubo vetro. In particolare, il punto di osservazione A vede l’impurità a distanza relativa P0 rispetto al centro tubo. Quindi si osserva l’impurità dal secondo punto di osservazione B che vede l’impurità a distanza p rispetto al centro del cilindro. La distanza p varia in funzione del posizionamento del difetto all’interno della parete del cilindro: p varia tra un possibile valore P1 corrispondente all’impurità posizionata a contatto con la superficie esterna del cilindro, ad un valore P2 corrispondente all’impurità posizionata a contatto con la superficie interna del cilindro.
In particolare, i valori limite P1 e P2 possono essere calcolati con un modello simulativo che riproduce le caratteristiche geometriche dell’oggetto da ispezionare e dei fasci di radiazione e permette di determinare per ogni punto P0 su A i relativi valori limite P1 e P2 su B in funzione della geometria dell’oggetto. Ad esempio, se in corrispondenza di una impurità osservata in un P0 su A, si osserva su B l’impurità in un punto che si trova all’esterno dell’intervallo [P1,P2] relativo a tale P0, significa che vi à ̈ una non conformità di forma nel cilindro. Ad esempio, à ̈ possibile che l’oggetto presenti un difetto di forma. In tal caso, à ̈ prevista una fase di inviare un segnale per classificare ed eventualmente di scarto se il difetto individuato à ̈ posizionato all’interno dell’oggetto in posizione non conforme rispetto ai parametri di qualità forniti al sistema di ispezione.
Inoltre, oltre agli intervalli [P1,P2], si possono aggiungere una o più soglie di sicurezza all’interno di tali intervalli per rendere più ristretto tale range, o per aggiungere criteri di qualità ulteriori più o meno stringenti. In tal modo, la posizione delle impurità può essere conformata ad un grado di qualità più ristretto, rispetto a posizioni particolari all’interno della parete del cilindro 1. Ad esempio, un cilindro che abbia un difetto a cavità chiusa che si trova in prossimità della superficie interna 1a o esterna 1b del cilindro può essere considerato da scartare. Questo consente di scartare oggetti con un difetto a cavità chiusa con uno spessore inferiore ad un valore prefissato. Infatti, una cavità chiusa può diventare una cavità aperta per effetto dello stress meccanico.
Il posizionamento del difetto può essere effettuato considerando sia un punto del difetto, che una sequenza di detti punti, che definiscono la figura complessiva del difetto.
In particolare, per settare le telecamere 210/220 e mettere a punto l’apparecchiatura di ispezione à ̈ sufficiente effettuare una simulazione per ogni tipo di cilindro da ispezionare, in funzione del diametro esterno deste dello spessore s del cilindro, nonché del tipo di vetro e del tipo di illuminazione.
In una seconda forma realizzativa, mostrata schematicamente in figura 3, i mezzi 100 per far passare un primo fascio luminoso ed un secondo fascio luminoso comprendono una unica sorgente luminosa 130, atta ad emettere un fascio luminoso sorgente 30 e mezzi per dirigere selettivamente il fascio luminoso sorgente 30 secondo una prima direzione in modo da costituire il primo fascio luminoso 10, e in una seconda direzione in modo da costituire il secondo fascio luminoso 20. In particolare, i mezzi per dirigere il fascio luminoso sorgente 30 comprendono mezzi per ruotare (non mostrati) la sorgente luminosa 130 secondo l’angolo α .
Una soluzione alternativa, mostrata schematicamente in figura 4, prevede le due sorgenti luminose 110/120 e un unico sensore 230 atto a ruotare tra una prima posizione C ed una seconda posizione D spaziate dell’angolo α. Questa soluzione può prevedere, in alternativa, come mostrato nelle figure 4A e 4B, di mantenere fisso l’unico sensore 230 e ruotare l’oggetto 1 dell’angolo α. In entrambi i casi, à ̈ possibile individuare la posizione del difetto 70 attraverso un solo punto di osservazione facendo ruotare il punto di osservazione 230 di α gradi intorno all’oggetto 1, o facendo ruotare l’oggetto 1 con angolo α rispetto al punto di osservazione 230.
Ancora in alternativa, come mostrato nella figura 4C, Ã ̈ prevista una unica sorgente luminosa 130 mobile, ed un unico sensore 230 anche questo mobile tra una prima A ed una seconda B posizione. In tal modo, nella prima posizione A, il fascio luminoso sorgente costituisce il primo fascio luminoso 10, mentre nella seconda posizione B, il fascio luminoso sorgente costituisce il secondo fascio luminoso 20.
La figura 5 mostra una ulteriore forma realizzativa dell’apparecchiatura realizzata con tecnologia laser. In particolare, questa forma realizzativa prevede un primo 140 ed un secondo 150 laser atti a scansionare linearmente l’oggetto con andamento nel tempo noto, come mostrato in riferimento al laser 140, e una coppia di rispettivi fotodiodi fotosensibili 240/250 posti a lati opposti del cilindro in modo da captare i raggi laser rifratti dall’oggetto, in dettaglio il cilindro 1. In particolare, ciascuna sorgente laser 140/150 emette un rispettivo fascio sorgente 142/152, che colpisce un rispettivo elemento a specchio 145/155, in dettaglio uno specchio oscillante, in modo da generare un fascio mobile in uscita 146 atto a scansionare la sezione del cilindro 1 da parete a parete. In dettaglio, la figura 5 mostra solo relativamente allo specchio 145, una pluralità di raggi che rappresentano la variazione di incidenza temporale del fascio laser in uscita 146 dallo specchio 145. Allo stesso modo funziona la scansione del fascio mobile in uscita dallo specchio 155. Più in particolare, la frequenza di oscillazione di ciascuno degli specchi oscillanti 145/155 determina la frequenza di scansione delle sorgenti laser 140/150. Quando il fascio scansiona una porzione di cilindro, i raggi vengono in parte rifratti verso uno o entrambi i fotodiodi 240 secondo un pattern noto. Se il pattern noto sui diodi fotosensibili varia, significa che si à ̈ incontrata una impurità 70.
In particolare, quando i fotodiodi 240/250 non ricevono il segnale luminoso, proveniente dal laser 140/150 ossia vedono buio, significa che il fascio à ̈ stato deviato da un difetto 70. In tal modo, sulla base della frequenza di oscillazione dello specchio 145/155 à ̈ possibile determinare una prima direzione del fascio che ha colpito il difetto. Allo stesso modo, viene determinata la direzione del secondo fascio proveniente dalla seconda sorgente laser 150. Conoscendo tali direzioni e il loro angolo di incidenza, oltre che la posizione dei fotodiodi240/250 à ̈ possibile quindi determinare la posizione del difetto 70 all’interno dell’oggetto 1.
La tecnologia a scansione laser con fotodiodo permette quindi di identificare il difetto come nella tecnologia a telecamera sopradescritta. Applicando lo stesso algoritmo secondo lo schema a blocchi di figura 6, à ̈ quindi possibile posizionare il difetto 70 se viene osservato dalla coppia di fotodiodi 240/250, in posizione nota, incidenti sull’oggetto e spaziati angolarmente dell’angolo noto α.
In alternativa, agli specchi oscillanti 145/155 possono essere adottati un primo ed un secondo array di raggi laser altamente collimati che generano ciascuno una pluralità di raggi paralleli tra loro che abbracciano da parete a parete l’oggetto 1, e che quindi svolgono la spessa funzione del fascio mobile in uscita dagli specchi 145/155. Anche in tal caso, ciascun array di raggi laser à ̈ angolarmente spaziato tra loro dell’angolo α.
Relativamente alla tecnologia di rilevazione a telecamere, in una preferita forma realizzativa, come mostrato schematicamente nelle figure 7, 8 e 9 possono essere predisposte una pluralità di telecamere associate a rispettivi illuminatori in modo da ispezionare corrispettive porzioni 1c,1d,1e,1f di detto oggetto 1. In tal modo, à ̈ possibile scegliere arbitrariamente l’angolo α formato dalle direzioni di osservazione delle telecamere. Questo può essere scelto in modo da massimizzare la capacità risolutiva o in modo da minimizzare il numero delle telecamere.
Ad esempio, la configurazione con angoli al centro cilindro pari a 45° permette di osservare i calibri commerciali più diffusi di cilindro vetro 1 con quattro telecamere A,B,C e D e rispettivi illuminatori A’,B’,C’ e D’ ottenendo una buona risoluzione. In particolare, come mostrato nelle figure 7 e 8, le porzioni di cilindro identificate dallo stesso simbolo sono osservate dalla medesima coppia di telecamere. Tale configurazione, vede le quattro telecamere A,B,C e D poste dallo stesso lato del cilindro (Fig.7) o, in alternativa vede una telecamera B o C spostata da lato opposto del cilindro 1 (Fig.8). Si fa presente, che il metodo di ispezione rimane valido modificando sia l’angolo α, che il numero degli assi, che il posizionamento delle telecamere su uno dei due lati del cilindro 1. Inoltre, gli assi dei punti di osservazione possono essere posti anche su piani diversi, ad esempio lungo l’asse longitudinale del cilindro. Il modello simulativo permette di ricavare per ogni posizione in cui una prima telecamera osserva la cavità , l’intervallo in cui la stessa cavità può essere vista da una seconda telecamera. Gli estremi di tali intervalli corrispondono ad una impurità posizionata a contatto con la superficie esterna ed interna del cilindro vetro.
È utili precisare che possono essere utilizzati sensori e sorgenti di radiazione elettromagnetiche (radio, microonde, infrarosso, visibile, ultravioletto, X-ray, raggi gamma) in funzione anche del tipo di materiale. Preferibilmente, le onde migliori e relativa sensoristica, risultano essere quelle con lunghezza d'onda nel visibile.
La descrizione di cui sopra di forme realizzative del metodo e dell’apparato secondo l’invenzione, e delle modalità di utilizzo dell’apparato, à ̈ in grado di mostrare l’invenzione dal punto di vista concettuale in modo che altri, utilizzando la tecnica nota, potranno modificare e/o adattare in varie applicazioni tali forme realizzative specifiche senza ulteriori ricerche e senza allontanarsi dal concetto inventivo, e, quindi, si intende che tali adattamenti e modifiche saranno considerabili come equivalenti delle forme realizzative specifiche. I mezzi e i materiali per realizzare le varie funzioni descritte potranno essere di varia natura senza per questo uscire dall’ambito dell’invenzione. Si intende che le espressioni o la terminologia utilizzate hanno scopo puramente descrittivo e per questo non limitativo.
Claims (10)
- RIVENDICAZIONI 1. Un metodo per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto trasparente rispetto ad una predeterminata radiazione, detto metodo comprendendo le fasi di: – rilevare e/o acquisire la geometria di detto oggetto; – far passare attraverso un punto di detto oggetto almeno un primo fascio di detta radiazione ed un secondo fascio di detta radiazione in modo che detti primo e secondo fascio di radiazione siano incidenti tra loro secondo un angolo α predeterminato; – misurare da posizione nota detto primo fascio di radiazione e detto secondo fascio di radiazione dopo che detto primo e secondo fascio di radiazione hanno colpito detto punto, detta fase di misurare eseguendo la misura di una alterazione che si à ̈ verificata nell’attraversamento di detto punto da parte di detti primo e secondo fascio di radiazione, detta fase di rilevare fornendo un primo e un secondo segnale di difetto in caso detta alterazione superi una soglia predeterminata, – elaborare detto primo e detto secondo segnale di difetto in modo tale da ricavare, rispetto a detta posizione di rilevazione nota, una posizione geometrica di detto punto in detto oggetto.
- 2. Un metodo, secondo la rivendicazione 1, in cui detta fase di far passare un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione attraverso detto punto di detto oggetto comprende una fase di disposizione di una prima ed una seconda sorgente di radiazione tra loro angolarmente spaziate secondo detto angolo noto.
- 3. Un metodo, secondo la rivendicazione 1, in cui detta fase di far passare un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione attraverso detto punto di detto oggetto comprende una fase di disposizione di una unica sorgente di radiazione atta ad emettere un fascio di radiazione emessa e una fase di dirigere selettivamente detto fascio di radiazione emessa secondo una prima direzione in modo da costituire detto primo fascio di radiazione, e in una seconda direzione in modo da costituire detto secondo fascio di radiazione, in particolare, detta fase di dirigere detto fascio di radiazione emessa comprende una fase di rotazione di detta unica sorgente di radiazione secondo detto angolo α.
- 4. Un metodo, secondo la rivendicazione 1, in cui detta fase di far passare un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione attraverso detto punto di detto oggetto comprende una fase di emissione di detto fascio di radiazione emessa e una fase di rotazione di detto oggetto secondo detto angolo tra una prima ed una seconda posizione spaziate di detto angolo, in modo che quando detto oggetto à ̈ in detta prima posizione detto fascio di radiazione emessa costituisce detto primo fascio di radiazione, e quando detto oggetto à ̈ in detta seconda posizione detto fascio di radiazione emessa costituisce detto secondo fascio di radiazione.
- 5. Un metodo, secondo la rivendicazione 1, in cui detta fase di rilevare à ̈ scelta tra una fase di: ï‚· predisposizione di un primo sensore ed un secondo sensore spaziati di detto angolo; ï‚· predisposizione di un unico sensore mobile tra detta prima e seconda posizione spaziate di detto angolo.
- 6. Un’apparecchiatura per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto, detto dispositivo comprendendo: – mezzi per far passare attraverso un punto di detto oggetto almeno un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione in modo che detti primo e secondo fascio di radiazione si incontrino in detto punto secondo un angolo predeterminato; – mezzi per rilevare da una posizione nota detto primo fascio di radiazione e detto secondo fascio di radiazione dopo che essi hanno attraversato detto punto, detti mezzi per rilevare essendo atti a rilevare un’alterazione che si à ̈ verificata nell’attraversamento di detto punto da parte di detti primo e secondo fascio di radiazione, detti mezzi per rilevare fornendo un primo e un secondo segnale di difetto in caso detta alterazione superi una soglia predeterminata, – mezzi a programma atti ad elaborare detto primo e detto secondo segnale di difetto in modo tale da ricavare, da detta posizione nota, una posizione geometrica di detto punto in detto oggetto.
- 7. Un’apparecchiatura, secondo la rivendicazione 6, in cui detti mezzi per far passare un primo fascio di radiazione ed un secondo fascio di radiazione attraverso detto punto di detto oggetto sono scelti tra: – una prima ed una seconda sorgente di radiazione tra loro angolarmente spaziate secondo detto angolo, in particolare detta prima e seconda sorgente di radiazione sono una prima ed una seconda sorgente luminosa, in particolare sono dispositivi di illuminazione ad alta uniformità e raggi altamente collimati; – una unica sorgente di radiazione atta ad emettere un fascio di radiazione sorgente e mezzi per dirigere selettivamente detto fascio di radiazione sorgente secondo una prima direzione in modo da costituire detto primo fascio di radiazione, e in una seconda direzione in modo da costituire detto secondo fascio di radiazione, in particolare, detti mezzi per dirigere detto fascio di radiazione sorgente comprendono mezzi per ruotare detta unica sorgente di radiazione secondo detto angolo; – una unica sorgente di radiazione atta ad emettere un fascio di radiazione sorgente e mezzi per ruotare detto oggetto secondo detto angolo predeterminato tra una prima ed una seconda posizione spaziate di detto angolo α, in modo che quando detto oggetto à ̈ in detta prima posizione detto fascio di radiazione sorgente costituisce detto primo fascio di radiazione, e quando detto oggetto à ̈ in detta seconda posizione detto fascio di radiazione sorgente costituisce detto secondo fascio di radiazione.
- 8. Un’apparecchiatura, secondo la rivendicazione 6, in cui detti mezzi per rilevare comprendono un primo sensore ed un secondo sensore spaziati tra loro di detto angolo α, in particolare detto primo e detto secondo sensore sono telecamere, in particolare telecamere lineari, in particolare detta prima e seconda telecamera sono posizionate ortogonalmente rispetto a detto oggetto, in particolare, detti mezzi per rilevare comprendono una pluralità di telecamere, in particolare telecamere lineari, angolarmente spaziate tra loro, ciascuna telecamera essendo associata ad una rispettiva sorgente luminosa in modo da ispezionare corrispettive porzioni di detto oggetto.
- 9. Un’apparecchiatura, secondo la rivendicazione 7, in cui detta prima e detta seconda sorgente luminosa tra loro angolarmente spaziate sono una prima ed una seconda sorgente laser, in particolare ciascuna di dette prima e seconda sorgente laser à ̈ atta ad emettere un singolo fascio che incide su un rispettivo elemento a specchio in modo da ottenere un fascio ad incidenza variabile in uscita atto a scansionare una rispettiva porzione di detto oggetto, la combinazione tra un primo ed un secondo fascio ad incidenza variabile consente di scansionare completamente detto oggetto e rilevare la posizione del difetto, in particolare detti mezzi per rilevare associati a detta prima e seconda sorgente laser comprendono un prima ed un seconda coppia di diodi fotosensibili che rilevano la rifrazione di ciascuno di detto primo e secondo fascio ad incidenza variabile, in particolare possono essere predisposti un primo ed un secondo array di raggi laser angolarmente spaziati tra loro, atti a generare ciascuno una pluralità di raggi paralleli che abbraccia completamente detto oggetto, detto primo e secondo array di raggi laser essendo associati a rispettivi sensori a fotodiodo.
- 10. Un’apparecchiatura, secondo la rivendicazione 7, in cui sono previsti mezzi di simulazione per simulare un percorso di rifrazione di detti fasci di radiazione attraverso detto oggetto trasparente in modo da determinare la posizione effettiva di detto punto in detto oggetto trasparente.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| ITPI2010A000110A IT1402103B1 (it) | 2010-10-08 | 2010-10-08 | Metodo e dispositivo per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto |
| EP11817229.5A EP2627995A1 (en) | 2010-10-08 | 2011-10-10 | Method and apparatus for measuring the quality of a transparent tubular object |
| PCT/IB2011/002374 WO2012046136A1 (en) | 2010-10-08 | 2011-10-10 | Method and apparatus for measuring the quality of a transparent tubular object |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| ITPI2010A000110A IT1402103B1 (it) | 2010-10-08 | 2010-10-08 | Metodo e dispositivo per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ITPI20100110A1 true ITPI20100110A1 (it) | 2012-04-09 |
| IT1402103B1 IT1402103B1 (it) | 2013-08-28 |
Family
ID=43738233
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| ITPI2010A000110A IT1402103B1 (it) | 2010-10-08 | 2010-10-08 | Metodo e dispositivo per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP2627995A1 (it) |
| IT (1) | IT1402103B1 (it) |
| WO (1) | WO2012046136A1 (it) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112858333A (zh) * | 2021-02-23 | 2021-05-28 | 珠海迪沃航空工程有限公司 | 一种应用于飞机发动机涡轮叶片的曲面三维缺陷检测方法 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6432448B2 (ja) * | 2015-05-29 | 2018-12-05 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス管の検査方法 |
| JP6628185B2 (ja) * | 2016-03-11 | 2020-01-08 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 透明体の検査方法 |
| DE102016123865A1 (de) | 2016-12-08 | 2018-06-14 | Schott Ag | Verfahren zum Weiterverarbeiten eines Glasrohr-Halbzeugs einschließlich einer thermischen Umformung |
| US20180164226A1 (en) * | 2016-12-08 | 2018-06-14 | Schott Ag | Method for further processing a glass tube semi-finished product |
| DE102016124833A1 (de) | 2016-12-19 | 2018-06-21 | Schott Ag | Verfahren zum Herstellen eines Hohlglasprodukts aus einem Glasrohr-Halbzeug mit Markierungen, sowie Verwendungen hiervon |
| DE102016125129A1 (de) | 2016-12-21 | 2018-06-21 | Schott Ag | Verfahren zum Herstellen eines Glasrohr-Halbzeugs oder eines daraus hergestellten Hohlglasprodukts mit Markierungen, sowie Verwendungen hiervon |
| EP3968012A1 (en) * | 2020-09-11 | 2022-03-16 | Schott Ag | Apparatus for the inspection of a circular elongated element |
| CN112461863B (zh) * | 2020-11-17 | 2024-09-13 | 上海探见智能家居有限公司 | 一种玻璃窗破损检测及定位方法 |
| IT202000031394A1 (it) * | 2020-12-18 | 2022-06-18 | Nuova Ompi Srl | Apparato e metodo per ispezionare contenitori cilindrici trasparenti contenenti prodotti gel o viscosi trasparenti o semi trasparenti, in particolare per applicazioni medicali |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2697086A1 (fr) * | 1992-10-20 | 1994-04-22 | Thomson Csf | Procédé et dispositif d'inspection de matériau transparent. |
| WO2006039192A1 (en) * | 2004-09-29 | 2006-04-13 | Telco Testing Solutions, Llc | Apparatus and method for detection of contaminant particles or component defects |
| JP2009174918A (ja) * | 2008-01-22 | 2009-08-06 | Asahi Glass Co Ltd | 欠陥検査装置、欠陥検査方法及び板状体の製造方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4136779A (en) | 1977-12-22 | 1979-01-30 | Owens-Illinois, Inc. | Ampule score line detection |
| US4168907A (en) | 1977-12-30 | 1979-09-25 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Method for inspecting transparent rods |
| US4483615A (en) | 1981-12-18 | 1984-11-20 | Owens-Illinois, Inc. | Method and apparatus for detecting checks in glass tubes |
| WO1998034096A1 (en) | 1997-01-31 | 1998-08-06 | Medar, Inc. | Method and system for detecting defects in transparent objects having spatial variations in their optical density |
| NL1012323C2 (nl) | 1999-06-14 | 2000-12-19 | Eagle Vision Systems B V | Werkwijze voor het inspecteren van een doorzichtige verpakking, en inrichting en systeem ten gebruike daarbij. |
| US7342654B2 (en) * | 2003-12-19 | 2008-03-11 | International Business Machines Corporation | Detection of impurities in cylindrically shaped transparent media |
| EP1816466B1 (en) | 2004-11-24 | 2010-06-23 | Asahi Glass Company, Limited | Method and device for inspecting defect of transparent plate body |
-
2010
- 2010-10-08 IT ITPI2010A000110A patent/IT1402103B1/it active
-
2011
- 2011-10-10 EP EP11817229.5A patent/EP2627995A1/en not_active Withdrawn
- 2011-10-10 WO PCT/IB2011/002374 patent/WO2012046136A1/en active Application Filing
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2697086A1 (fr) * | 1992-10-20 | 1994-04-22 | Thomson Csf | Procédé et dispositif d'inspection de matériau transparent. |
| WO2006039192A1 (en) * | 2004-09-29 | 2006-04-13 | Telco Testing Solutions, Llc | Apparatus and method for detection of contaminant particles or component defects |
| JP2009174918A (ja) * | 2008-01-22 | 2009-08-06 | Asahi Glass Co Ltd | 欠陥検査装置、欠陥検査方法及び板状体の製造方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112858333A (zh) * | 2021-02-23 | 2021-05-28 | 珠海迪沃航空工程有限公司 | 一种应用于飞机发动机涡轮叶片的曲面三维缺陷检测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| IT1402103B1 (it) | 2013-08-28 |
| WO2012046136A1 (en) | 2012-04-12 |
| EP2627995A1 (en) | 2013-08-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ITPI20100110A1 (it) | Metodo e dispositivo per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto | |
| JP2023103397A (ja) | 透明なボディの光学検査を行う方法および装置 | |
| RU2601346C2 (ru) | Способ производства стеклянных изделий из материала для них и устройство для выполнения указанного способа | |
| US8390826B2 (en) | Method and system for optically inspecting parts | |
| JP7543307B2 (ja) | 複数の空のガラス容器を検査するためのライン | |
| JP2014240801A (ja) | 赤外線検査装置 | |
| US20160146671A1 (en) | Pyrometric detection device, method for calibrating the same, and apparatus for producing three-dimensional work pieces | |
| GB2473230A (en) | Automated cigarette production line inspection apparatus using a contact image sensor to examine a rotating smoking article | |
| CN107421966B (zh) | 用于检测透明物中的缺陷的方法和设备 | |
| KR20090077960A (ko) | 광반사 결함들을 검출하기 위한 광검사 장치 | |
| JP6279353B2 (ja) | ガラスびんの胴径測定器 | |
| IT201900013845A1 (it) | Apparato e metodo di misura del diametro interno di un tubo lungo la relativa linea di produzione | |
| US20060033919A1 (en) | Electro-optically inspecting and determining internal properties and characteristics of a longitudinally moving rod of material | |
| CN102393255A (zh) | 可解决小视场镜头波像差检测中光轴偏斜问题的系统及方法 | |
| CN202903141U (zh) | 新型薄膜厚度检测装置 | |
| CN114761790A (zh) | 检查由至少部分透明的材料制成的容器的壁厚度的方法 | |
| IT201800005143A1 (it) | Metodo per il controllo di un oggetto in materiale trasparente e relativo sistema di controllo | |
| JP2020020789A (ja) | 被包されたバイアルのクロージャにある欠陥を検出する方法およびデバイス | |
| CN103504471A (zh) | 用于评估烟草加工业的棒状产品的端面的设备和方法 | |
| CN114166744A (zh) | 用于检测圆形细长元件的装置 | |
| KR20140148067A (ko) | 광학 필름의 결함 판별 방법 | |
| JP2013205332A (ja) | 欠点検査装置および欠点検査方法 | |
| CN104180772A (zh) | 一种视觉检测装置 | |
| JP2013504768A (ja) | パウチ型電池内の異物検出装置 | |
| KR101376273B1 (ko) | 경면 영역을 가진 대상물을 검사하기 위한 비전 검사 장치 및 방법 |