HU186153B - Method for dynamic and quasi-dynamic froming and stability testing of assembled printed circuits and devices - Google Patents

Method for dynamic and quasi-dynamic froming and stability testing of assembled printed circuits and devices Download PDF

Info

Publication number
HU186153B
HU186153B HU354382A HU354382A HU186153B HU 186153 B HU186153 B HU 186153B HU 354382 A HU354382 A HU 354382A HU 354382 A HU354382 A HU 354382A HU 186153 B HU186153 B HU 186153B
Authority
HU
Hungary
Prior art keywords
periods
dynamic
test
test object
hours
Prior art date
Application number
HU354382A
Other languages
Hungarian (hu)
Inventor
Jozsef Bartolf
Istvan Kasza
Jozsef Kelemen
Janos Nagy
Laszlo Voelgyesi
Original Assignee
Elektronikus
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Elektronikus filed Critical Elektronikus
Priority to HU354382A priority Critical patent/HU186153B/en
Publication of HU186153B publication Critical patent/HU186153B/en

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

A találmány tárgya eljárás szerelt nyomtatott áramkörök és elektronikus berendezések dinamikus vagy kvázidinamikus formálására és stabilitásvizsgálatára. A találmány szerinti dinamikus formálásnál és stabilitásvizsgálatnál a vizsgált tárgy (3) klímatérbe (5) történő helyezése és tápfeszültséggel (1) történő ellátása után pseudo random generátorral (2) és etalont tartalmazó érzékelő egységgel (4) összekapcsoljuk. A klímatérben (5) a vizsgált tárgy (3) 20 °C és 25 °C közötti üzemi hőmérsékleténél 30 °C 45 °C-kal magasabb, illetve -30 °C--35 °C-kal alacsonyabb hőmérsékletet alkalmazunk. A két különböző értékű hőmérsékletet azonos ideig, egymást követő periódusokban hozzuk létre, a periódusok ideje 11-13 óra, a periódusok száma legalább 14. A pseudo random generátor (2) 10 kHz és 4 MHz között változtatható, a vizsgált tárgy (3) üzemi frekvenciatartományának megfelelően beállított frekvenciahatárok közötti négyszögjelével sweepeltetjük a formálási idő alatt a vizsgált tárgyat (3). A vizsgálatot folyamatosan vagy szakaszosan végezzük, miközben az érzékelő egységben (4) előállított etalon jelekkel állandóan összehasonlítjuk a pseudo random generátor (2) meghajtójelére adott válaszjeleket, s előre megállapított toleranciahatárok túllépése esetén hibajelzést adunk (2. ábra). Kvázidinamikus formálásnál és stabilitásvizsgá- 2. ábra 1________I 3. ábra -1-The present invention relates to a method for dynamic or quasi-dynamic shaping and stability testing of mounted printed circuits and electronic devices. In the dynamic shaping and stability tests according to the invention, after the test object (3) is placed in the air space (5) and supplied with the supply voltage (1), it is connected with a pseudo random generator (2) and a reference unit (4) containing a benchmark. The temperature of the test object (3) at 20 ° C to 25 ° C is 30 ° C to 45 ° C or lower at -30 ° C to 35 ° C. The temperature of the two different values is created at the same time in successive periods, the time periods are 11-13 hours, the number of periods is at least 14. The pseudo random generator (2) can be changed between 10 kHz and 4 MHz, the operation of the tested object (3). The frequency of the test object (3) is sweeped during the forming time by a square signal between the frequency limits set according to the frequency range. The test is performed continuously or intermittently, while the reference signals produced in the sensor unit (4) continuously compare the response signals to the drive signal of the pseudo random generator (2), and an error indication is given when the predetermined tolerance limits are exceeded (Figure 2). For Quasi-Dynamic Formation and Stability Test Figure 2 1________I Figure 3 -1-

Description

A klímatérben (5) a vizsgált tárgy (3) 20 °C és 25 °C közötti üzemi hőmérsékleténél 30 °C 45 °C-kal magasabb, illetve -30 °C--35 °C-kal alacsonyabb hőmérsékletet alkalmazunk. A két különböző értékű hőmérsékletet azonos ideig, egymást követő periódusokban hozzuk létre, a periódusok ideje 11-13 óra, a periódusok száma legalább 14.In the climate compartment (5), the temperature of the test object (3) is 30 ° C, 45 ° C, or -30 ° C to 35 ° C lower than the operating temperature of the test object (20). The two temperatures are set at the same time for successive periods of 11 to 13 hours and at least 14.

A pseudo random generátor (2) 10 kHz és 4 MHz között változtatható, a vizsgált tárgy (3) üzemi frekvenciatartományának megfelelően beállított frekvenciahatárok közötti négyszögjelével sweepeltetjük a formálási idő alatt a vizsgált tárgyat (3).The pseudo-random generator (2) is sweepable between the 10 kHz and 4 MHz rectangle between the frequency limits set according to the operating frequency range of the object (3) during the shaping time (3).

A vizsgálatot folyamatosan vagy szakaszosan végezzük, miközben az érzékelő egységben (4) előállított etalon jelekkel állandóan összehasonlítjuk a pseudo random generátor (2) meghajtójelére adott válaszjeleket, s előre megállapított toleranciahatárok túllépése esetén hibajelzést adunk (2. ábra).The test is performed continuously or intermittently by continuously comparing the response signals to the drive signal of the pseudo random generator (2) with the reference signals produced in the detector unit (4) and providing an error message when the predetermined tolerance limits are exceeded (Fig. 2).

Kvázidinamikus formálásnál és stabilitásvizsgá-In quasi-dynamic formation and stability tests,

2. ábraFigure 2

1________I1________I

3. óbraEpisode 3

-1I-1I

186 153 latnál a vizsgált tárgyhoz (3) tápfeszültséget (1) tápfeszültség vezérlő egységen keresztül (6) csatlakoztatunk. A tápfeszültség vezérlő egységgel (6) rövid időközönként, célszerűen 5 s-onként bekikapcsoljuk a tápfeszültséget (1) a formálási idő alatt, miközben a klímatérben (5) a dinamikus eljárásnál ismertetett módon váltakozva kétféle hőmérsékletet alkalmazunk.At 186,153 lats, the test object (3) is connected to a power supply (1) via a power supply control unit (6). The power control unit (6) switches the power supply (1) on at short intervals, preferably every 5 s, during the shaping time while alternating two temperatures in the climate compartment (5) as described in the dynamic process.

A vizsgálatot szakaszosan végezzük, s 7 periódus után (célszerűen 84 óra) minősítő vizsgálatot végzünk, s amennyiben a vizsgált tárgy (3) nem hibásodon meg, úgy tovább folytatjuk a formálást 14 periódusig (168 óra), ha pedig a vizsgált tárgy (3) meghibásodott, akkor a hiba kijavítása után a formálást elölről kezdjük.The test is performed intermittently, and after 7 periods (preferably 84 hours), a qualifying examination is performed, and if the test object (3) is not damaged, it is continued forming for 14 periods (168 hours) if the test object (3) is broken, we will start formatting again after correcting the error.

A találmány tárgya eljárás szerelt nyomtatott áramkörök és elektronikus berendezések (továbbiakban mindkettő: vizsgált tárgy) dinamikus vagy kvázidinamikus formálásra és stabilitásvizsgálatára. A gyártó vállalatok mielőtt gyártmányaikat gyárukból kiszállítják, azokat és szerelvényeiket az üzemi feltételeket meghaladó terheléseknek teszik ki, formálják. A formált tárgyakat ellenőrző, tartós vizsgálatnak vetik alá. A gyártó vállalat célja: a vizsgálat legyen minél rövidebb idő alatt lefolytatható és nyújtson biztosítékot a tekintetben, hogy a garanciális időn belül ne érkezzen reklamáció a felhasználótól, sőt a garanciális időn túl se hosszú ideig. A technikai szintet képviselő ismert megoldás pl. az öregbítési eljárás (Burn-in teszt), amelynél megemelt hőmérsékletű igénybevétel mellett folyamatosan minősíti a gyártott berendezéseket. A minősítés mértéke berendezésfüggő. Ez minden gyártónál más és más, féltveőrzött titok, hogy hogyan biztosítják termékeik optimális minőségét, a legkisebb ráfordítás mellett. Az irodalomban általános szempontok találhatók, de konkrét megoldás nem, hiszen hosszú kisérletsorozattal, valamint a gyártás közbeni szigorú ellenőrzéssel (technológiai fegyelem betartásával) lehet eldönteni az optimális Burn-i teszt stratégiát.The present invention relates to a method for dynamic or quasi-dynamic shaping and stability testing of assembled printed circuits and electronic devices (hereinafter referred to as "test object"). Manufacturing companies expose their products and fittings to loads that exceed operating conditions before they leave their factory. The molded objects are subjected to a permanent inspection. The purpose of the manufacturing company is to carry out the investigation in the shortest possible time and to provide assurance that no complaints will be received from the user within the warranty period or even for a long period after the warranty period. A known solution of the prior art is e.g. the aging procedure (Burn-in test), which continuously qualifies manufactured equipment at elevated temperatures. The degree of certification depends on the equipment. It is a different, half-secreted secret for every manufacturer, about how to ensure the optimum quality of their products at minimal cost. There are general considerations in the literature, but no specific solution, as long trials and rigorous in-process control (technological discipline) can determine the optimal Burn test strategy.

Az 1. ábrán a vizsgált tárgy üzemidő - megbízhatósági arány függvény látható, ahol I. a hibafelderítő szakasz, II. a normál működés, III. az élettartam utáni szakasz 20-25 ’C közötti üzemi hőmérsékleten. A gyártó célja (ez a műszaki optimum), hogy az egyes szakaszokon túljuttassa a vizsgált tárgyat. A szakaszhatárokra a viszonylag nagy meghibásodás a jellemző. Az Ϊ. szakaszon belül a kezdeti hiba és a korai kiesési hiba kb. 3/3-¼ arányban oszlik meg. A hőmérséklet növelésével a meghibásodás hamarabb következik be.Figure 1 illustrates the test-to-confidence ratio function of the test object, where I. is the fault detection phase, II. normal operation, III. the after-life phase at operating temperatures between 20-25'C. The aim of the manufacturer (this is the technical optimum) is to pass the test object through each section. The section boundaries are characterized by a relatively large failure. The Ϊ. during the phase, the initial error and the early outage error are approx. It is distributed in a ratio of 3/3 to ¼. By increasing the temperature, the failure occurs faster.

Az öregbítés célja, hogy az I. szakaszon túljuttassák - még a beépítés előtt - áramköreiket. Alkalmazásánál tudni kell, hogy minden gyártó eltérő mélységű öregbítést tervez. A nagyberendezéseknél megkövetelik a nagymegbízhatóságú alkatrészeket, ezért szükséges az öregbítést a gyártási technológia részévé tenni. A gyártási technológiában ezért általábanThe purpose of aging is to move beyond their Phase I circuits before they are installed. When applying it, be aware that all manufacturers are planning different depths of aging. Large equipment requires high-reliability components, and it is therefore necessary to incorporate aging into manufacturing technology. Therefore, in manufacturing technology in general

- alkatrészszintű,- at component level,

- kártyaszintü,- card level,

- rendszerszíntű (készülékszintü) öregbítést szoktak alkalmazni.- system-level (device-level) aging is used.

A megfelelő stratégia kiválasztását előzetes hibaeloszlási, hibafelderítési vizsgálatoknak kell megelőznie. Azonos készüléken ki kell próbálni a három módszert (esetleg azok kombinációját is), hogy megállapíthassák, hogyan lehet a legalacsonyabb ráfordítások mellett az alkatrészek korai kiesésének okát meghatározni. Valószínűleg a három módszer valamely kombinációja adja az optimumot, hiszen néhány alkatrész, pl. RC-elemek, kapcsolók, csatlakozók alkatrészszintű Burn-in tesztje nehezen kivitelezhető és képzelhető el a drága berendezések miatt.The selection of the appropriate strategy should be preceded by preliminary fault-finding and fault-finding tests. On the same device, you should try the three methods (or a combination of them) to determine how to determine the cause of early component loss at the lowest cost. Probably some combination of the three methods gives the optimum, since some components, eg. Component-level Burn-in testing of RCs, switches, connectors is difficult to implement and imagine due to expensive equipment.

Az ismert terhelési eljárások jellege statikus. A vizsgált tárgyakat az üzemi hőmérsékletet (20-25 ’C) mintegy 25%-kal meghaladó állandó hőmérsékletnek és magasabb üzemi feszültségnek vetik alá. Ennek az eljárásnak következő hátrányai vannak:The known loading methods are static in nature. The test articles are subjected to a constant temperature and a higher operating voltage of approximately 25% above the operating temperature (20-25 'C). The disadvantages of this procedure are:

- a vizsgált tárgy csak mintegy 1000 óra üzemeltetés után hibásodik meg. Tehát már a felhasználónál, pl. Kínában, de a garanciális időn belül. Ez igen hátrányos és a költségeket ugyanakkor a gyártó viseli.- the test item fails only after approximately 1000 hours of operation. So the user, e.g. In China, but within the warranty period. This is very disadvantageous and the costs are borne by the manufacturer.

- a vizsgált tárgy rövidesen a garanciális idő lejárta után romlik el, aminek a rossz hírnév a következménye.- the object being tested will deteriorate shortly after the warranty period has expired, resulting in a bad reputation.

Az ismert megoldásoknál továbbá állandó frekvenciájú négyszögjelet alkalmaznak, valamint a formálás megszakításával közbenső mérést végeznek, aminek az a hátránya, hogy igen időigényes.The known solutions also employ a constant frequency rectangular signal and interrupt the measurement by interrupting the shaping, which has the disadvantage that it is very time consuming.

A találmány célul tűzte ki az ismert megoldások hátrányainak megszüntetését és olyan eljárás kidolgozását, amelynél a formálás feltételei úgy kerülnek meghatározásra, hogy a vizsgált tárgy rövid idő alatt, célszerűen 168 órán belül meghibásodjék. Tehát már a gyártó vállalatnál, a 168 órás próbaüzemeltetés alatt. Ennek az az előnye, hogy csökken a vizsgálati idő és növekszik a megbízhatóság.It is an object of the present invention to overcome the drawbacks of the known solutions and to provide a method in which the conditions of formation are determined such that the object under investigation is defective within a short time, preferably within 168 hours. So already at the manufacturing company during the 168 hour trial run. This has the advantage of reducing test time and increasing reliability.

A találmány szerinti megoldás azon a felismerésen alapul, hogyha a formálást dinamikussá teszszük, tehát a terhelési feltételeket szigorítjuk és váltakozva kétféle, az üzemi hőmérséklettől pozitív és negatív irányban jelentős mértékben eltérő hőmérsékletet alkalmazunk, továbbá meghajtójelként változó frekvenciájú négyszögjelet használunk, s a vizsgálatot periodikusan végezzük, akkor biztosítható a rövid idő alatt még a gyártó vállalatnál bekövetkező meghibásodás. A formálást kvázidinamikussá is tehetjük, amennyiben tápfeszültség be-kikapcsolásával szintén kétféle hőmérséklet mellett szakaszosan végezzük a formálást, A dinamikus formálás során vizsgált tárgyat klímatérbe helyezzük és üzemelteléshez szükséges tápfeszültséggel látjuk el. Az eljárás lényege, hogy a vizsgált tárgyat pseudo random generátorral és etalont tartalmazó érzékelő egységgel összekapcsoljuk, majd a klímatérben váltakozva kétféle hőmérsékletet alkalmazunk, mégpedig a vizsgált tárgy 20 ’C és 25 ’C közötti üzemi hőmérsékleténél 30 C-45 °C-kal magasabbat, illetve —30 ’C--35 °C-kal alacsonyabbat. A két különböző értékű hőmérsékletet azonos ideig, egymást követő periódusban hozzuk létre. A periódusok ideje 11-13 óra, a periódusokThe present invention is based on the discovery that by making the shaping dynamic, that is, the load conditions are tightened and two different temperatures, substantially different from the operating temperature, are used alternately, and a variable frequency rectangle is used as the drive signal. failure in the manufacturing company can be ensured in a short time. The shaping can also be made quasi-dynamic if the power is turned on intermittently at two temperatures as well. The object being dynamically shaped is placed in a climatic space and is supplied with the power needed for operation. The essence of the procedure is to connect the test object to a pseudo-random generator and a standard sensing unit and then alternate two temperatures in the climate, 30 ° C to 45 ° C higher than the operating temperature of the test object between 20 ° C and 25 ° C, and -30 ° C to 35 ° C lower. The two temperatures of different values are created for the same time in successive periods. Periods are 11-13 hours, periods

-2száma legalább 14. A pseudo random generátor 10 kHz és 4 MHz között változtatható, a vizsgált tárgy üzemi frekvenciatartományának megfelelően beállított frekvenciahatárok közötti négyszögjelével sweepeltetjük a formálási idő alatt a vizsgált tárgyat. A vizsgálatot folyamatosan vagy szakaszosan végezzük, miközben az érzékelő egységben előállított etalon jelekkel állandóan összehasonlítjuk a pseudo random generátor meghajlójelére adott válaszjeleket, s előre megállapított toleranciahatárok túllépése esetén hibajelzést adunk.-2 is at least 14. The pseudo-random generator is sweepable with a rectangular signal between 10 kHz and 4 MHz within the frequency ranges set according to the operating frequency range of the object being tested. The test is performed continuously or intermittently while the response signals to the pseudo-random generator drive signal are continuously compared with the reference signals generated in the sensor unit and an error signal is given when the predetermined tolerance limits are exceeded.

A kvázidinamikus formálás során vizsgált tárgyat klímatérbe helyezzük, s a vizsgált tárgyhoz tápfeszültséget tápfeszültség vezérlő egységen keresztül csatlakoztatunk. A tápfeszültség vezérlő egységgel rövid időközönként, célszerűen 5 s-onként be-kikapcsoljuk a tápfeszültséget, miközben a klímatérben a dinamikus eljárásnál ismertetett módon szintén kétféle hőmérsékletet alkalmazunk. Ennél az eljárásnál a vizsgálatot szakaszosan végezzük, s 7 periódus után (célszerűen 84 óra) minősítő vizsgálatot végzünk, s amennyiben a vizsgált tárgy nem hibásodott meg, úgy tovább folytatjuk a formálást 14 periódusig (168 óra). Ha pedig a vizsgált tárgy meghibásodott, akkor a hiba kijavítása után a formálást elölről kezdjük.During quasi-dynamic shaping, the test object is placed in a climatic space and power is applied to the test object via a power control unit. The power control unit switches the power on at short intervals, preferably every 5 s, while using two different temperatures in the climate as described in the dynamic process. In this procedure, the test is performed intermittently, and after 7 periods (preferably 84 hours), a qualifying examination is performed and, if the subject is not defective, it is continued forming for 14 periods (168 hours). If the object under examination is defective, then after correcting the defect, the formation is restarted.

Az ismert és a találmány szerinti megoldást rajzok alapján ismertetjük, melyek a következők:The present invention and the present invention will be described with reference to the following drawings, in which:

az 1. ábra a vizsgált tárgy üzemidő-megbízhatósági arány függvényt, a 2. ábra a dinamikus formálási eljárást, a 3. ábra a kvázidinamikus formálási eljárást ábrázolja.Figure 1 depicts the lifetime-to-confidence ratio function of the test object, Figure 2 shows the dynamic molding process, and Figure 3 shows the quasi-dynamic molding process.

A 2. ábrán látható dinamikus eljárásnál 2 vizsgált tárgyat 3 klímatérbe helyezünk és üzemeltetéshez szükséges 1 tápfeszültséggel látjuk el. A 3 vizsgált tárgyat 2 pseudo random generátorral és etalont tartalmazó 4 érzékelő egységgel összekapcsoljuk, majd az 5 klímatérben váltakozva kétféle hőmérsékletet alkalmazunk, mégpedig a 3 vizsgált tárgy 20 ’C és 25 °C közötti üzemi hőmérsékleténél jóval magasabbat, illetve jóval alacsonyabbat. Pl. legyen a jóval magasabb hőmérséklet 65 ’C, a jóval alacsonyabb hőmérséklet — 10 ’C. A két különböző értékű hőmérsékletet azonos ideig, egymást követő periódusokban hozzuk létre. A periódus ideje legyen pl. előnyösen 12 óra, a periódusok száma legalább 14, így a formálási idő 168 óra. A 2 pseudo random generátor frekvenciája 10 kHz és 4 MHz között változtatható, s ezen belül a vizsgált tárgy üzemi frekvenciatartományának megfelelően állítjuk be, s a beállított frekvenciahatárok között sweepeltetjük a formálási idő alatt a 3 vizsgált tárgyat.In the dynamic process shown in Figure 2, the test object 2 is placed in an air conditioner 3 and supplied with a supply voltage 1 for operation. The test object 3 is connected to a pseudo-random generator 2 and a sensor unit 4 containing a standard, and two temperatures are applied alternately in the climatic space 5, well above or below the operating temperature of 20 ° C to 25 ° C. For example, let the much higher temperature be 65 'C and the much lower temperature 10' C. The two temperatures of different values are generated for the same time in successive periods. The period should be eg. preferably 12 hours, the number of periods being at least 14, thus forming time 168 hours. The frequency of the pseudo-random generator 2 can be varied between 10 kHz and 4 MHz, within which it is adjusted according to the operating frequency range of the object under study, and within the set frequency ranges the object under examination is sweeped.

A 4 érzékelő egységben elhelyezett etalont itt ugyanazzal a meghajtójellel vezéreljük mint a 3 vizsgált tárgyat, így a meghajtójelre adott válaszjeleknek is azonosaknak kell lenniük. Amennyiben egy előre megállapított toleranciaértéket túllép az eltérés, úgy hibajelzést adunk.The reference in the sensor unit 4 is controlled here by the same drive signal as the object under test 3, so that the response signals to the drive signal must also be the same. If a predetermined tolerance value is exceeded, an error message is given.

Pl. 12 óra periódusidőnél és 168 óráig tartó formálásnál szerelt nyomtatott áramköröknél a következőképpen végezzük a vizsgálatot:For example, for printed circuits with a 12-hour period and a 168-hour shaping, test as follows:

idő (óra) 0-12 12-24 24-36 ...144-156 156-168 hőmérséklet (’C) -10 65 -10 ...-10 65time (hours) 0-12 12-24 24-36 ... 144-156 156-168 temperature ('C) -10 65 -10 ...- 10 65

Pl. kész berendezések esetén elegendő az üzemi hőmérsékletnél jóval magasabb hőmérsékletet 50 ’C-ra megválasztani, a jóval alacsonyabb hőmérsékle! pedig szintén — 10 ’C.For example, for finished equipment, it is sufficient to set the temperature well above the operating temperature to 50 'C, the much lower temperature! and also - 10 'C.

A dinamikus eljárást ott célszerű alkalmazni, ahol a 3 vizsgált tárgy nagy bonyolultságú és legalább 150 IC-t tartalmaz. A 3. ábrán látható kvázidinamikus eljárásnál a 3 vizsgált tárgyat szintén 3 klímatérbe helyezünk, és az 1 tápfeszültséget a 3 vizsgált tárgyhoz 6 tápfeszültség vezérlő egységen keresztül csatlakoztatunk. A 6 tápfeszültség vezérlő egységgel rövid időközönként, célszerűen 5 s-onként be-kikapcsoljuk az 1 tápfeszültséget, s az 5 klímatérben a dinamikus eljárásnál ismertetett módon szintén kétféle hőmérsékletet alkalmazunk, pl. - IC ’C-ot és 65 ’C-ot. Az 5 s-onkénti be-kikapcsolás egy 168 órás formálás alatt 120 960 be-kikapcsolást jelent, s igy kvázidinamikus öregbitési eljárás valósítható meg. Ennél az eljárásnál a vizsgálatot szakaszosan végezzük, s pl. 7 periódus (84 óra) után minősítő vizsgálatot végzünk. A minősítő vizsgálat azt jelenti, hogy a 3 vizsgált tárgyat pl. egy mérőautomatán megvizsgáljuk, s megállapítjuk, hogy jó-e, vagy pedig meghibásodott. Amennyiben a 3 vizsgált tárgy nem hibásodott meg, úgy tovább folytatjuk a formálást 168 óráig. Ha a 3 vizsgált tárgy hibásnak minősül, akkor pedig a hiba kijavítása után a formálást ismételten elölről kezdjük.The dynamic method is preferably used where the subject 3 is highly complex and has at least 150 ICs. In the quasi-dynamic process shown in Fig. 3, the test object 3 is also placed in a climatic space 3 and the supply voltage 1 is connected to the test object 3 via a power control unit 6. With the power control unit 6, the power supply 1 is switched on at short intervals, preferably every 5 s, and in the climatic space 5, two different temperatures are also used, e.g. - IC 'C and 65' C. Turning on every 5 s means 120 960 turns on during a 168-hour shaping, thus providing a quasi-dynamic aging process. In this procedure, the assay is performed batchwise, e.g. After 7 periods (84 hours), a qualifying study is performed. The qualifying test means that the 3 items examined are eg. we test it on a measuring machine to determine if it is OK or faulty. If the 3 test items are not damaged, we continue the shaping for 168 hours. If the object under test 3 is defective, then once the error has been corrected, the formation is repeated from the beginning.

A kvázidinamikus eljárást egyszerű felépítésű, pl. 15C-nél kevesebb IC-t tartalmazó 3 vizsgált tárgy ese.én célszerű alkalmazni.The quasi-dynamic process is simple in structure, e.g. It is advisable to use this in the case of 3 test subjects with an IC of less than 15C.

A gyakorlati tapasztalatok azt mutatják, hogy a hagyományos öregbitési eljárás esetén 100 vizsgált tárgyból 60% jó és 40% hibás, addig a találmány szerinti megoldások alkalmazásával 98% jó és csupán 2% lesz hibás.Practical experience has shown that 60% of the 100 items tested are good and 40% are defective in the conventional aging process, whereas 98% are good and only 2% are defective using the present invention.

A találmány teljesítette célkitűzéseit, nevezetesen:The invention has achieved its objects, namely:

- a formálás és a vizsgált dinamikussá, illetve kvázidinamikussá tételével sikerült lerövidíteni a vizsgálat idejét és biztosítani a meghibásodásnak rövid idő alatt a gyártó vállalatnál történő bekövetkezését,- by shortening the formulation and rendering the test dynamic and quasi-dynamic, it has been possible to shorten the test time and ensure that the failure occurs within the manufacturing company in a short time,

- a megbízhatóság lényeges növelését.- a significant increase in reliability.

Claims (2)

Szabadalmi igénypontokPatent claims 1. Eljárás szerek nyomtatott áramkörök és berendezések dinamikus formálására és stabilitásvizsgálatára, melynek során vizsgált tárgyat (3) klímatérbe (5) helyezünk és üzemeltetéshez szükséges tápfeszültséggel (1) látjuk el, azzal jellemezve, hogy a vizsgált tárgyat (3) pseudo random generátorral (2) és etalont tartalmazó érzékelő egységgel (4) öszszekapcsoljuk, majd a klímatérben (5) váltakozva kétféle hőmérsékletet alkalmazunk, mégpedig a vizsgált tárgy (3) 20 ’C és 25 ’C közötti üzemi hőmérsékleténél 30 °C-45 °C-kal magasabbat, illetve -30 ’C--35 ’C-kal alacsonyabbat, a két különböző értékű hőmérsékletet azonos ideig, egymást követő periódusokban hozzuk létre, a periódusok ideje 11—13 óra, a periódusok száma leg3CLAIMS 1. A method for dynamically shaping and stability testing printed circuits and equipment, wherein the test object (3) is placed in a climate space (5) and is supplied with an operating voltage (1), characterized in that the test object (3) is pseudo-random generator ) and a standard sensor unit (4) and alternately apply two temperatures in the climate compartment (5), 30 ° C to 45 ° C higher than the operating temperature of the test object (3) between 20 ° C and 25 ° C, or -30 'C to 35' C, two temperatures of different values are created for the same time in successive periods, the duration of the periods is 11-13 hours, the number of periods is 3 -3186 153 alább 14, a pseudo random generátor (2) 10 kHz és 4 MHz között változtatható, a vizsgált tárgy (3) üzemi frekvenciatartományának megfelelően beállított frekvenciahatárok közötti négyszögjelével sweepeltetjük a formálási idő alatt a vizsgált tárgyat (3), a vizsgálatot folyamatosan vagy szakaszosan végezzük, miközben az érzékelő egységben (4) előállított etalon jelekkel állandóan összehasonlítjuk a pseudo random generátor (2) meghajtójelére adott válaszjeleket, s előre megállapított toleranciahatárok túllépése esetén hibajelzést adunk. (Elsőbbsége: 1982. 11.04.)14186 below, the pseudo-random generator (2) is sweeped with a rectangular signal between the frequency limits set between the operating frequency range of the object (3) and the frequency range between 10 kHz and 4 MHz during the shaping time, continuously or performing intermittently while continuously comparing the response signals to the drive signal of the pseudo random generator (2) with the reference signals generated in the detector unit (4), and providing an error message when the predetermined tolerance limits are exceeded. (Priority: 11/04/1982) 2. Eljárás szerelt nyomtatott áramkörök és berendezések kvázidinamikus formálására és stabilitásvizsgálatára, amelynek során vizsgált tárgyat (3) klímatérbe (5) helyezünk, azzal jellemezve, hogy a vizsgált tárgyhoz (3) tápfeszültséget (1) tápfeszültség vezérlő egységen keresztül (6) csatlakoztatunk, a tápfeszültség vezérlő egységgel (6) rövid időközönként, célszerűen 5 s-onként be-kikapcsoljuk a tápfeszültséget (1) a formálási idő alatt, miközben a klímatérben (5) váltakozva kétféle hőmérsékletét 5 alkalmazunk, mégpedig a vizsgált tárgy (3) 20 “C és 25 °C közötti üzemi hőmérsékleténél 30 *C-45 °C-kal magasabbat, illetve -30 ’C--35 ’C-kal alacsonyabbat, a két különböző értékű hőmérsékletet azonos ideig, egymást követő periódusokbanMethod for quasi-dynamic shaping and stability testing of mounted printed circuits and equipment, wherein the test object (3) is placed in an air space (5), characterized in that a power supply (1) is connected to the test object (3) via a power control unit (6). with the power control unit (6), the power (1) is switched on at short intervals, preferably every 5 s, during the shaping time, alternating between two temperatures 5 of the air conditioner (5), namely 20 ° C and 30 ° C-45 ° C higher, and -30 'C lower than -35' C lower than 25 ° C operating temperature, with two different temperatures for the same time in successive periods 10 hozzuk létre, a periódusok ideje 11—13 óra, a periódusok száma legalább 14, a vizsgálatot szakaszosan végezzük, s 7 periódus után (célszerűen 84 óra) minősítő vizsgálatot végzünk, s amennyiben a vizsgált tárgy (3) nem hibásodon meg, úgy tovább10, the period of time is 11-13 hours, the number of periods is at least 14, the examination is performed intermittently, and after 7 periods (preferably 84 hours) a qualifying examination is performed, and if the subject (3) does not fail, 15 folytatjuk a formálást 14 periódusig (168 óra), ha pedig a vizsgált tárgy (3) meghibásodott, akkor a hiba kijavítása után a formálást elölről kezdjük. (Elsőbbsége: 1984. 09. 28.)15 continue forming for 14 periods (168 hours), and if the object under test (3) is defective, after repairing the defect, the forming is started from the beginning. (Priority: September 28, 1984)
HU354382A 1982-11-04 1982-11-04 Method for dynamic and quasi-dynamic froming and stability testing of assembled printed circuits and devices HU186153B (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
HU354382A HU186153B (en) 1982-11-04 1982-11-04 Method for dynamic and quasi-dynamic froming and stability testing of assembled printed circuits and devices

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
HU354382A HU186153B (en) 1982-11-04 1982-11-04 Method for dynamic and quasi-dynamic froming and stability testing of assembled printed circuits and devices

Publications (1)

Publication Number Publication Date
HU186153B true HU186153B (en) 1985-06-28

Family

ID=10964471

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
HU354382A HU186153B (en) 1982-11-04 1982-11-04 Method for dynamic and quasi-dynamic froming and stability testing of assembled printed circuits and devices

Country Status (1)

Country Link
HU (1) HU186153B (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0653299A (en) Burn-in apparatus
US6356086B1 (en) Method and apparatus for the in-circuit testing of a capacitor
HU186153B (en) Method for dynamic and quasi-dynamic froming and stability testing of assembled printed circuits and devices
JP4030031B2 (en) Inspection method for electronic components
JP3461598B2 (en) Abnormal applied voltage detection circuit of semiconductor test equipment
JP2834047B2 (en) Semiconductor wafer and its test method
JPH1194919A (en) Method for inspecting electronic unit
JP2002131372A (en) Method and device for inspecting semiconductor device
JP2003084048A (en) Testing device for semiconductor
JP2000124280A (en) Semiconductor devices applicable to wafer burn-in
JP3598643B2 (en) Semiconductor integrated circuit measuring device and semiconductor integrated circuit device
JP2004239925A (en) Device for inspecting electronic circuit
JPH01156681A (en) Circuit board inspecting method
KR100200607B1 (en) Testing method of pin contact in pcb
KR200194289Y1 (en) Burn-in system in test equipment of semiconductor chip
JP2924995B2 (en) Logic function testing method and device
JPH01219578A (en) Semiconductor testing device
JP2003279514A (en) Method and apparatus for evaluation of bonding quality of semiconductor-device sealed product
JP2003248029A (en) Testing method for semiconductor device
JPH04177848A (en) Method for inspecting integrated circuit device
KR19990065680A (en) Semiconductor device manufacturing device that can be screwed in
JP2005127716A (en) Testing method for semiconductor integrated circuit
JPH0448272A (en) Automatic measuring system for insulation resistance of printed circuit board
JPH0679051B2 (en) Abnormal waveform inspection device
JP2001083212A (en) Method for inspecting signal

Legal Events

Date Code Title Description
HU90 Patent valid on 900628
HMM4 Cancellation of final prot. due to non-payment of fee