HU183621B - X-ray fluorescence analyser arrangement - Google Patents

Description

A találmány összetett minták egy vagy egynéhány elemi összetevőjének a meghatározására szolgáló röntgenfluoreszcencia analizátor elrendezése. Az elektromágneses sugárfonás által besugárzott minta másodlagos sugárzásának mérése ionizációs érzékelők, valamint alul- és felülvágó kiegyensúlyozott szűrőpár kombinációjából kialakított energiaszelektív érzékelővel történik. Sugárforrásként célszerű röntgencsövet alkalmazni.

1. Az egyik legfontosabb kémiai analitikai módszer, a röntgenfluoreszcencia analízis azon alapul, hogy a vizsgált minta atomjainak belső héjai geijesztó'sugárzás hatására ionizálódnak, és az ezt követő fluoreszcens röntgen sugárzás energiája jellemző a kibocsátó atomra. Meghatározva a különböző energiájú röntgensugárzások intenzitását, következtetni lehet a minta (százalékos) összetételére. A geijesztést legtöbb esetben gamma- vagy röntgensugárzással végzik, amelyek származhatnak radioaktív forrásból vagy röntgencsőből. Töltött részekkel (elektronokkal, protonokkal stb.) történő geijesztést speciális vizsgálatok esetén alkalmaznak.

A röntgenfluoreszcencia analizátorokat három csoportba soroljuk aszerint, hogy a mintában levő elemek karakterisztikus röntgensugárzását milyen módszerrel választjuk szét:

a) A hullámhossz diszperzív (kristálydiffrakciós) spektrométerek jó felbontást adnak, de kis fényerejük miatt a geijesztés nagyteljesítményű (néhány kW) röntgencsővel történik. A minta összetevőinek karakterisztikus röntgensugárzásai meghatározott Bragg-szögeknél jelennek meg, ahol a koncentrációval arányos intenzitásuk ionizációs-, proporcionális- vagy szcintillációs érzékelővel regisztrálható. Több elem vizsgálata a kristály és az érzékelő együttes mozgatásával vagy több érzékelő egyidejű elhelyezésével oldható meg. A jó feloldás eléréséhez szükséges nagy teljesítmény és hőmérséklet stabilizálás csak nagyméretű laboratóriumi, következésképpen igen költséges berendezések építését teszi lehetővé.

b) A nemdiszperzív vagy energiaszelektív röntgenspektrométerek esetében azt használják fel, hogy a különböző érzékelők az érzékeny térfogatukban elnyelődött röntgenkvantum energiájával arányos jelet adnak. A legfontosabb ilyen érzékelők az energiafelbontás csökkenő sorrendjében a félvezető (Si(Li), Ge(Li), stb.), a gáztöltésű proporcionális-, és a szcintillációs spektrométerek. Ezen spektrométerek jobb fényereje lehetővé teszi a radioaktív forrásból vagy kis teljesítményű (<10 W) röntgencsőből származó geijesztő sugárzások felhasználását. A proporcionális- és a szcintillációs spektrométerek önmagukban nem biztosítanak olyan feloldást, amely lehetővé tenné a szomszédos elemek szétválasztását, míg a jó feloldású Si (Li) és Ge(Li) spektrométerek alkalmazását a cseppfolyós nitrogénnel történő hűtés szükségessége nehezíti meg.

c) A harmadik csoportba sorolható műszereknél az energiaszelekciót nem spektrométer segítségével oldják meg, hanem két különböző elemből készített K- (vagy L-) abszorpciós-él típusú szűrővel kapott mérési eredmények különbsége adja a vizsgált sugárzás intenzitását. A szűrők anyagát úgy kell megválasztani, hogy az első ne abszorbeálja a vizsgált elem röntgensugárzását, a második pedig abszorbeálja azt. Vastagságuk megválasztásával elérhető, hogy abszorpciójuk a vizsgált tartományon kívül közel azonos legyen (kiegyensúlyozott szűrő pár).

A szűrőn átmenő sugárzás (felül vágó elrendezés) helyett a szűrő fluoreszcens röntgensugárzást is detektálhatjuk (alul vágó elrendezés). Ekkor a szűrő helyett a szóró elnevezést használjuk. Szóró-elrendezés használata jelentős érzékenység-csökkenést eredményez, amit nem mindig kompenzál a háttér csökkenése. Szóró és szűrő elrendezés együttes alkalmazása is előfordul.

A szűrők (vagy szórók) alkalmazása a kristálydiffrakciós spektrométerekhez hasonlóan lehetővé teszi a kis energia feloldású detektorok alkalmazását. Ezek a szcintillációs-, proporcionális-, szobahőmérsékletű Si(Li) stb. érzékelők. Az ionizációs érzékelőt, amelynél az ionizációs áram mérése belső gázerősítés nélkül valósul meg az irodalomban (K.G. Carr-Brion, X-ray Spectrometry 9/1980/184-188) röntgenfluoreszcencia analízis céljaira a részecskeszám-számlálást megvalósító érzékelőknél alkalmatlanabbnak ítélik.

Az e csoportba tartozó röntgenfluoreszcencia analizátorok egyszerűbbek és olcsóbbak az első két csoportba sorolhatóknál. Széles körben alkalmazhatók a bányászatban és nyersanyagfeldolgozásban folyamatszabályozás céljaira, a kohászatban és gépiparban alapanyag és alkatrész ellenőrzésére és válogatására stb. azaz mindenütt, ahol a meghatározást üzemben vagy terepen kell végezni, és egy vagy egynéhány összetevő ismerete elegendő a döntés meghozatalára. Elterjedésüknek azonban gátat vet az, hogy a jelenleg alkalmazott mérési elrendezések sok esetben nem elégítik ki a felhasználók igényeit. Például a radioizotópos gerjesztéssel üzemelő, szcintillációs detektoros hordozható berendezések vas ötvözőit közel egy perces mérés alatt 0,2%—0,3% hibával határozzák meg (pl. „Texas Instrument” cég'gyártmányismertetőjét). Ez a pontosság elegendő a rozsdamentes acélfajták Cr, Ni tartalom alapján történő szétválogatásához, de nem megfelelő a Mn ötvözetek esetében, ahol 0,3— 0,5%-ban különböző acélfajtákat kell megkülönböztetni, vagy a gyártási minőségét ellenőrizni. Számos más példa is azt mutatja, hogy az érzékenység, azzal együtt a pontosság egy nagyságrenddel történő megnövelése hasonló arányban bővíti ki a műszer alkalmazhatósági körét.

A jelen találmány célja egy olyan mérési elrendezés ismertetése, amely lehetővé teszi a fentebb vázolt magasabb igények kielégítését.

2. A találmány egyrészt azon a felismerésen alapul, hogy a jelenleg használatos röntgenfluoreszcencia analizátorok (érzékelők) nem alkalmasak a röntgencsövek által biztosított, a radioaktív forrásokhoz képest több nagyságrenddel intenzívebb gerjesztő sugárzások által biztosított előnyök kiaknázására.

A kristálydiffrakciós analizátoroktól eltekintve, amelyek kis transzmissziójuk miatt eleve nagyteljesítményű (<1 kW) röntgencsövek alkalmazását igénylik, az általunk második csoportba sorolt energiaszelektív félvezető- és proporcionális spektrométerek csak néhányszor 10⁴ s'¹ detektált impulzusszámig biztosítják a szükséges energiafeloldást, a harmadik csoportba tartozó érzékelők sem képesek néhányszor 10^s s’¹ impulzusnál nagyobb beütésszámok feldolgozására. Mivel kis koncentrációk vizsgálatánál a teljes beütésszám döntő része a mátrixból eredhet (pl. a már említett Mn meghatározás Fe-ban) belátható, hogy a hasznos beütésszám nagyon kicsi a háttérhez képest, következésképpen a meghatározás hibája nagy lesz. Ez csak hosszú mérési idő alkalmazásával kompenzálható.

183 621

1-10 W-os röntgencsövekkel optimális feltételek mellett a fenti beütésszámok 100—1000-szerese is elérhető. Ez a statisztikus hiba szerepének lényeges lecsökkenését eredményezheti, ami a mérési idő lecsökkenésében és/vagy az elérhető pontosság javulásában mutatkozhat meg.

Másrészt belátható, hogj' az ionizációs számláló röntgensugárzás iránti érzéketlenségére vonatkozó feltételezés impulzus-centrikus szemléleten alapul. Valóban, a kisenergiájú (<15 keV) röntgensugarakra az ionizációs érzékelők olyan kis impulzusokat adnak, amelyek szobahőmérsékletű elektronikus elemekkel nem dolgozhatók fel eredményesen. Azonban ha impulzusszámlálásról az ionizációs áram mérésére, vagy egy adott időtartam alatt keletkező töltésmennyiség meghatározására térünk át, nagy intenzitások detektálására is alkalmas, holtidő nélküli érzékelőt kapunk. A röntgensugárzás abszorpciója az ionizációs kamra gázában semmivel sem marad el a hasonló töltetű proporcionális számláló mögött, és megfelelő nemesgáz töltet (Ar, Kr, Xe), nyomás és kamraméret alkalmazásával elérhető 50%-nál nagyobb abszorbció is. Az ion-rekombináció korlátozása az elektróda-távolság, gáztisztaság, gáznyomás, kamraméret és tápfeszültség összehangolásával érhető el. A modem elektrométerek lehetővé teszik a keletkező áramok (töltések) pontos meghatározását.

A gáztöltésű ionizációs kamrához hasonlóan a félvezető- ill. szilárdtest érzékelők is lehetővé teszik az ionizációs áram mérésére történő áttérést, ezért a továbbiakban ionizációs érzékelőnek tekintünk minden detektort, amelyben a röntgensugárzás által keltett töltéshordozó pároknak a detektor elektródáihoz történő mozgása útján jön létre az ionizációs áram, függetlenül a detektor konstrukciójától, anyagától, annak halmazállapotától.

Mivel az ionizációs áram mérése esetén energia szelekció az érzékelő jelei alapján nem lehetséges, azt detektálás előtt kell elvégezni. Belátható, hogy a legnagyobb érzékenység kiegyensúlyozott szűrőpárok energiaszelektorként történő felhasználásával érhető el. Árammérés esetén az eredmény a méréssel egyidejűleg leolvasható, ami igen gyors mérést tesz lehetővé. A pontosság növel he tő, ha közvetlen árammérés helyett egy meghatározott idő alatt létrejövő töltést mérjük. Ekkor a mérési időt a kivánt érzékenységnek megfelelően választhatjuk meg.

összefoglalva, a találmány szerinti röntgenfluoreszcencia analizátor (érzékelő) a minta elektromágneses (röntgen vagy gamma) sugárzással történő gerjesztésén, kiegyensúlyozott szűrőpár energiaszelektorként történő alkalmazásán és az érzékelőként alkalmazott ionizációs detektor áramának vagy ionizációs töltésének a mérésén alapul. A gerjesztő elektromágneses sugárzás eredhet radioaktív forrásból, gyorsítóból stb., legcélszerűbben azonban röntgencsővel állítható elő a röntgenfluoreszcencia analízis által igényelt energiatartományban.

3) A találmány szerinti elrendezésben (1. ábra) az R sugárforrás, ami röntgencső is lehet, az M minta és az E energiaszelektív érzékelőként alkalmazott K (vagy L) abszorpciós él típusú kiegyensúlyozott SZ szűrőpár, és IE ionizációs érzékelő(k) elhelyezése olyan, hogy az R sugárfoaásból jövő primer sugárzás besugározza az M mintát, az E energiaszelektív érzékelőt azonban csak az M mintából jövő másodlagos sugárzás éri, és az elnyelődik az érzékelő hasznos térfogatában. Az ionizác ós érzékelők árama az AQ áram- és/vagy töítésmérőbe jut. A találmány kiviteli alakjait az£ energiaszelektív érzékelő konkrét alakja különbözteti meg egymástól és minden más röntgenfluoreszcencia analizátortól.

Az első kiviteli alakban (2. ábra) az£' energiaszelektív érzékelő a D ionizációs érzékelőből és a felváltva eléje helyezhető kiegyensúlyozott szűrőpámak a vizsgált karakterisztikus sugárzás feletti abszorbciós élű SZF felülvágó, illetve az az alatti abszorbciós élű SZA alulvágó tagjából áll. A D ionizációs érzékelő kimenete az AQ áram- és/vagy töltésmérő egység bemenetére van kapcsolva A szűrőpár két helyzetében mért áram és/vagy töltés különbsége jellemző lesz a szűrők abszorpciós élei közötti enegia-intervallumba eső röntgensugárzások intenzitása a. Ebből megfelelő hitelesítéssel a vizsgált elem koncé at rációja meghatározható.

A második kiviteli alak (3. ábra) esetében a kiegyensúlyozott szűrőpár SZF felülvágó és SZA alulvágó tagja a fiiggetlen Dl és D2 ionizációs érzékelők elé helyezve alkotják az E energiaszelektív érzékelőt. A Dl és D2 ionizációs érzékelők kimenetei a különbséget képező K4Q áram- és/vagy töltésmérő bemenetére van kapc’olva. Az első elrendezéshez képest előnye, hogy az e edményt egyetlen mérésben kapjuk meg és nincs szükség a kiegyensúlyozott szűrőpár mozgatására. Hátránya, hogy egy helyett két ionizációs érzékelőt igényel.

A harmadik elrendezés (4. ábra) abban különbözik a másodiktól, hogy a D3 és D4 ionizációs érzékelők esetében az irodalomból ismert (Enciklopedic Dictionary of Fhysics, ed. J. Thewíis, Pergamon Press, Oxford, 1961. Vol. 4., p, 52) kompenzációs kapcsolást alkalmazzuk. Ezek a kiegyensúlyozott szűrőpárral együtt alkotják az Γ energiaszelektív érzékelőt. A kompenzációs kapcsolás í.zt jelenti, hogy az érzékelők független elektródja ellenkező polaritású tápfeszültséget kap, így a közös elektródán a két érzékelő különbségi árama jelenik meg. Ez a különbségi áram jut az ACj áram és/vagy töltésmérő bemenetére. Ez az elrendezés egyszerűbb elektronikát igéíyel, mint a második, mert csak a különbségi áram mérése szükséges, hátránya, hogy két különböző polaritású tápfeszültséget kell használni.

4) A szabadalom tárgyát képező elrendezés előnyei az azonos kategóriába, azaz a harmadik csoportba tartozó műszerekkel szemben a következők: hasonló mérési idők mellett kb. egy nagyságrenddel csökkenthető a meghatározás hibája, vagy ami ezzel egyenértékű a kimutatható minimális koncentráció értéke. Ez az alkalmazhatósági kör arányos kibővülését eredményezi. Az elrendezés érzékenysége egyes esetekben elérheti az első és második csoportba sorolt analizátorokét is.

A kristálydiffrakciós röntgenfluoreszcencia analizátorokkal szemben előnye az egyszerűsége, kis fogyasztása, üzemi és terepkörülmények közötti alkalmazhatósága. Ez kedvezővé teszi felhasználását folyamatszabályozásban; olyan nagyméretű tárgyak és alkatrészek vizsgálatánál, amelyekből nem készíthető minta.

Mind a kriály diffrakciós, mind az energiaszelektív analizátorokkal szemben előnye a jelen találmánynak a meghatározás gyorsasága, ami nagy mintaszám, vagy gyors folyamatszabályozás esetén jelent további előnyt.

Claims (5)

1. Szabadalmi igénypontok

   1. Röntgenfluoreszcencia analizátor elrendezés összetett minták egy vagy egynéhány összetevője koncentrációjának a meghatározására, amely elektromágneses su- 5 gárzást kibocsátó sugárforrásból (R), annak sugárzási terébe helyezett mintából (M), a minta másodlagos sugárzásának terébe helyezett energiaszelektiv érzékelőből (Ej és a kimenetére csatlakozó mérőeszközből áll, azzal jellemezve, hogy az energiaszelektiv érzékelő 10 (E) kiegyensúlyozott szűrőpár(ok)ból (SZ) és ionizációs érzékelő(k)ből (IE) áll, a mérőeszköz pedig áram- és/vagy töltésmérő egység (AQ). (1. ábra).
2. 2. Az 1. igénypont szerinti röntgenfluoreszcencia analizátor elrendezés kiviteli alakja azzal jellemez- 15 ve, hogy az energiaszelektiv érzékelő (E) egyetlen ionizációs érzékelőből (D) áll, amely belépő ablaka előtt felváltva a kiegyensúlyozott szűrőpár felülvágó (SZF) és alulvágó (SZA) tagja helyezkedik el (2. ábra).
3. 3. Az 1. igénypont szerinti röntgenfluoreszcencia analizátor elrendezés kiviteli alakja, azzal jellemezv e, hogy az energiaszelektiv érzékelő (E) két ionizációs érzékelőből áll (Dl, D2), amelyek közül az egyik belépő ablaka előtt a szűrőpár felülvágó (SZF) tagja, a másik belépő ablaka előtt az alulvágó (SZA) tagja áll (3. ábra).
4. 4. A 3. igénypont szerinti röntgenfluoreszcencia analizátor elrendezés kiviteli alakja, azzal jellemezve, hogy a mérőeszköz különbségi áram- és/vagy töltésmérő egység (KA 0) (3. ábra).
5. 5. A 3. igénypont szerinti röntgenfluoreszcencia analizátor elrendezés kiviteli alakja, azzal jellemezve, hogy az ionizációs érzékelők (D3, D4) független elektródáira ellentétes polaritású tápfeszültségforrások vannak kötve és közös elektródájuk a mérőeszköz (AQ) bemenetére csatlakozik (4. ábra).