FR3114402B1 - Procédé et dispositif pour la caractérisation de la réponse, notamment fréquentielle, d’un système - Google Patents

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Procédé et dispositif pour la caractérisation de la réponse, notamment fréquentielle, d’un système Procédé pour caractériser la réponse d’un système (S) comportant une entrée optique et une sortie électronique, comportant : l’envoi dans ladite entrée optique d’un battement optique à dérive de fréquence généré par mélange de la lumière provenant d’un premier laser monochromatique (11) et d’une impulsion chirpée provenant d’un deuxième laser (12), la mesure du signal temporel de la sortie électronique en réponse à ce battement à dérive de fréquence, et la caractérisation de la réponse à partir à partir de la mesure de ce signal temporel de sortie. Figure pour l’abrégé : Fig. 1
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