FR3097385A1 - Dispositif et procede de caracterisation electrique locale de cellules photovoltaiques - Google Patents
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Abstract
Dispositif (100) de caractérisation électrique d’au moins une cellule photovoltaïque (102), comprenant : - un support (114) configuré pour supporter mécaniquement la cellule et comportant plusieurs premiers éléments de contact (116) chacun configuré pour être en contact électriquement avec au moins une première métallisation disposée contre une face arrière de la cellule ; - au moins un deuxième élément de contact (122) configuré pour être en contact électriquement avec au moins une deuxième métallisation disposée contre une face avant de la cellule ; - un dispositif de mesure I-V auquel les premiers éléments de contact et le deuxième élément de contact sont couplés électriquement ; et dans lequel le dispositif de caractérisation est configuré pour réaliser des mesures I-V transverses entre le deuxième élément de contact et chacun des premiers éléments de contact indépendamment des autres premiers éléments de contact. Figure pour l’abrégé : figure 2.
Description
DOMAINE TECHNIQUE ET ART ANTÉRIEUR
L’invention concerne le domaine de la caractérisation électrique et de la mesure de performances électriques de cellules photovoltaïques. L’invention est avantageusement mise en œuvre pour caractériser des sous-cellules photovoltaïques d’une même cellule photovoltaïque, c’est-à-dire réalisées sur un même wafer, ou même substrat.
Plusieurs techniques ont été développées pour tenter de cartographier les performances de cellules photovoltaïques, c’est-à-dire caractériser électriquement différentes régions d’une cellule photovoltaïque.
Il existe notamment des techniques d’imagerie par photoluminescence (PL) et électroluminescence (EL) d’une part, et de « Dark Lock-in Thermography » (DLIT) d’autre part, qui permettraient, selon un protocole particulier, de remonter à une cartographie de rendement d’une cellule photovoltaïque, comme décrit par exemple dans le document « Comparison of DLIT- and PL-based Local Solar Cell Efficiency Analysis », de O. Bretenstein et al., Energy Procedia 38, 2013, pp. 2-12, ou dans le document « Improved local efficiency imaging via photoluminescence for silicon solar cells » de C. Shen et al., Solar Energy Materials and Solar Cells, Vol.123, 2014, pp. 41-46. Pour générer cette cartographie, un protocole d’acquisition et des traitements analytiques impliquant un certain nombre d’hypothèses sont utilisés. Toutefois, le protocole et les traitements analytiques varient selon la technique mise en œuvre. Les images obtenues diffèrent donc suivant la technique utilisée. Ces techniques d’imageries ne sont donc pas bien adaptées pour réaliser une mesure standard des performances de cellules photovoltaïques.
Les mesures courant-tension, ou mesures I-V, à l’obscurité et sous lumière, sont couramment utilisées pour évaluer les performances des cellules photovoltaïques et comprendre les phénomènes à l’origine de certaines limitations des performances des cellules. Une telle mesure I-V consiste à mesurer le courant délivré par la cellule en fonction de la tension à ses bornes. Cette mesure permet notamment de déterminer le courant de court-circuit, la tension de circuit-ouvert, ainsi que le courant et la tension à la puissance maximale de la cellule photovoltaïque.
L’instrument généralement utilisé pour réaliser une mesure I-V est une station de test. La cellule photovoltaïque testée est placée sur un socle de la station de test qui prend un contact électrique en face arrière de la cellule. Des peignes de pointes conductrices sont positionnés sur les bus barres, également appelées busbars ou barres collectrices, se trouvant en face avant de la cellule. Chaque peigne comporte plusieurs groupes de pointes permettant de réaliser les mesures en courant et tension. Lorsque la cellule est dite bifaciale, c’est-à-dire comporte également des bus barres en face arrière, ce même type de peigne est utilisé pour la prise de contact en face arrière des cellules. Ces peignes permettent notamment de limiter l’ombrage sur la cellule lors des mesures et assurent une bonne homogénéité des mesures réalisées.
La disposition des pointes de contact a été étudiée dans la littérature et a été définie de façon à limiter les chutes de potentiel entre chaque groupe de pointes, comme décrit par exemple dans le document « Contacting bare solar cells for STC measurements » de J. Hohl-Ebinger et al., Proceedings of 23rd PVSEC, 2008. Selon ce document, disposer le plus grand nombre de groupes de pointes sur un bus barre permet d’assurer une prise de contact uniforme le long du bus barre. En outre, plus la résistance de la ligne du métal composant le bus barre est élevée, plus cette chute de potentiel est élevée.
Les mesures I-V sont généralement pratiquées à l’échelle d’une cellule photovoltaïque entière en fin de procédé de fabrication et ne permettent pas de rendre compte de pertes de puissance locales au sein de la cellule, pouvant émaner d’inhomogénéité des matériaux utilisés pour réaliser la cellule et/ou des procédés de fabrication mis en œuvre et/ou d’effet de bord de la cellule.
Plusieurs travaux décrits dans la littérature s’intéressent aux performances locales au sein de cellules photovoltaïques. On y trouve notamment des études sur l’influence des effets de bord et des stratégies pour les limiter. Néanmoins, les cartographies obtenues sont généralement des mesures indirectes et peu précises ne permettant pas de réaliser une caractérisation électrique locale satisfaisante.
Un but de la présente invention est de proposer un dispositif de caractérisation électrique d’au moins une cellule photovoltaïque permettant de mesurer les performances de plusieurs parties de la cellule photovoltaïque indépendamment les unes des autres, et réaliser ainsi une caractérisation électrique locale de la cellule photovoltaïque.
Pour cela, la présente invention propose un dispositif de caractérisation électrique d’au moins une cellule photovoltaïque, comprenant :
- un support configuré pour supporter mécaniquement la cellule photovoltaïque et comportant plusieurs premiers éléments de contact chacun configuré pour être en contact électriquement avec au moins une première métallisation disposée contre une face arrière de la cellule photovoltaïque lorsque la cellule photovoltaïque est disposée sur le support ;
- au moins un deuxième élément de contact configuré pour être en contact électriquement avec au moins une deuxième métallisation disposée contre une face avant de la cellule photovoltaïque lorsque la cellule photovoltaïque est disposée sur le support ;
- un dispositif de mesure I-V auquel les premiers éléments de contact et le deuxième élément de contact sont couplés électriquement ;
et dans lequel le dispositif de caractérisation est configuré pour réaliser des mesures I-V transverses entre le deuxième élément de contact et chacun des premiers éléments de contact indépendamment des autres premiers éléments de contact.
Un tel dispositif permet donc une caractérisation électrique locale de différentes régions d’une cellule photovoltaïque indépendamment les unes des autres, grâce à l’indépendance des premiers éléments de contact les uns des autres lors des mesures.
Un tel dispositif est avantageusement utilisé pour caractériser plusieurs sous-cellules photovoltaïques réalisées sur un même substrat, indépendamment les unes des autres. Une sous-cellule photovoltaïque correspond à une cellule photovoltaïque de plus petit taille que le wafer, ou substrat, dans lequel la sous-cellule est réalisée. Le wafer, ou substrat, peut comporter une ou plusieurs sous-cellules photovoltaïques.
Un tel dispositif est avantageusement utilisé pour réaliser une cartographie automatique des performances électriques d’une cellule photovoltaïque.
Ce dispositif de caractérisation permet de mieux déterminer les sources locales de limitation des performances électriques des cellules photovoltaïques.
Les premiers et le deuxième éléments de contact permettent de prendre des contacts électriques en face avant et en face arrière de chacune des parties de la cellule photovoltaïque à caractériser, et réaliser des mesures I-V locales indépendantes les unes des autres.
La ou les premières et/ou deuxièmes métallisations peuvent correspondre à des bus barres de la cellule photovoltaïque.
Le support peut comporter plusieurs zones indépendantes équipées chacune d’au moins un premier élément de contact électrique indépendant des premiers éléments de contact électriques des autres zones du support.
Le dispositif de mesure I-V peut comporter une ou plusieurs cartes de multiplexage permettant d’adresser et d’isoler le premier élément de contact à utiliser lors d’une mesure d’une partie ou d’une région de la cellule photovoltaïque, ou d’une sous-cellule, par rapport aux autres premiers éléments de contact.
Le dispositif peut comporter en outre un dispositif de déplacement du support vis-à-vis du deuxième élément de contact au moins dans un plan parallèle à une face du support sur laquelle la cellule photovoltaïque est destinée à être disposée. Ce dispositif de déplacement du support vis-à-vis du deuxième élément de contact peut être motorisé. Ce dispositif de déplacement du support peut assurer le déplacement du support selon au moins deux axes perpendiculaires l’un par rapport à l’autre et appartenant au plan parallèle à la face du support sur laquelle la cellule photovoltaïque est destinée à être disposée.
En outre, le dispositif de déplacement du support peut être configuré pour déplacer le support parallèlement à un axe perpendiculaire à la face du support sur laquelle la cellule photovoltaïque est destinée à être disposée. Ainsi, le dispositif de déplacement du support permet d’éviter une détérioration (par frottement) du deuxième élément de contact et de la cellule photovoltaïque lors du déplacement du support dans le plan parallèle à la face du support sur laquelle la cellule photovoltaïque est disposée, et permet également d’assurer un bon contact électrique entre le deuxième élément de contact et la ou les deuxièmes métallisations présentes en face avant de la cellule photovoltaïque.
Le dispositif de caractérisation peut être configuré pour réaliser chacune des mesures I-V transverses avec l’un des premiers éléments de contact choisi en fonction de la position du support vis-à-vis du deuxième élément de contact.
Chacun des premiers éléments de contact et/ou le deuxième élément de contact peut comporter plusieurs pointes électriquement conductrices et/ou plusieurs lames électriquement conductrices, et dans lequel les pointes électriquement conductrices et/ou les lames électriquement conductrices de chacun des premiers éléments de contact ne sont pas reliées électriquement aux pointes électriquement conductrices et/ou aux lames électriquement conductrices des autres premiers éléments de contact.
Les pointes électriquement conductrices peuvent être escamotables.
Le dispositif peut comporter en outre un dispositif d’illumination d’au moins une partie de la cellule photovoltaïque. Ainsi, il est possible de mesurer les caractéristiques I-V de la cellule photovoltaïque sous illumination.
Le dispositif peut comporter en outre un dispositif de commande et de calcul incluant le dispositif de mesure I-V et configuré pour automatiser une mise en œuvre successive de mesures I-V transverses entre le deuxième élément de contact et chacun des premiers éléments de contact.
Lorsque le dispositif de caractérisation électrique comporte le dispositif de commande et de calcul et le dispositif de déplacement du support, un logiciel ou ensemble de logiciels de mesure I-V automatisées de différentes régions de la cellule photovoltaïque ou de sous-cellules formées sur un ou plusieurs wafers peut gérer les déplacements du support motorisé pour positionner la deuxième métallisation de la région ou de la sous-cellule à caractériser en regard du deuxième élément de contact, gérer éventuellement les déplacements du support pour la prise de contact électrique du deuxième élément de contact et de l’un des premiers éléments de contact avec les métallisations de la sous-cellule ou de la région de la cellule à caractériser, assurer la gestion des premiers éléments de contact (choix de l’un des premiers éléments de contact) en fonction de la sous-cellule ou de la région de la cellule positionnée sous le deuxième élément de contact ou en fonction de la position du support ou des sites de mesure, et gérer la mise en œuvre des mesures électriques I-V pour chacun des premiers éléments de contact électrique.
Le dispositif peut ainsi mesurer indépendamment et automatiquement les caractéristiques I-V de chacune des sous-cellules photovoltaïques localisées sur un même wafer, ou sur différents wafers, avec un même équipement de mesure électrique I-V en déplaçant automatiquement le support sur lequel repose le ou les wafers. Le support peut être équipé de premiers éléments de contact chacun muni de groupes de pointes de mesure indépendants des groupes de pointes de mesure des autres premiers éléments de contact. Le choix des groupes de pointes du support à utiliser pour caractériser chaque sous-cellule peut être géré par un logiciel ou un ensemble de logiciels associé.
Le support peut comporter un dispositif de chauffage et/ou de refroidissement configuré pour chauffer et/ou refroidir la cellule photovoltaïque lors des mesures I-V transverses.
L’invention concerne également un procédé de caractérisation électrique d’au moins une cellule photovoltaïque mis en œuvre avec un dispositif de caractérisation tel que décrit ci-dessus, comportant au moins :
- mise en place de la cellule photovoltaïque sur le support du dispositif de caractérisation, la première métallisation étant électriquement en contact avec l’un des premiers éléments de contact du dispositif de caractérisation ;
- mise en contact du deuxième élément de contact du dispositif de caractérisation avec la deuxième métallisation ;
- réalisation de mesures I-V transverses entre le deuxième élément de contact et ledit un des premiers éléments de contact du dispositif de caractérisation.
Le procédé peut être tel que :
- la cellule photovoltaïque comporte plusieurs sous-cellules indépendantes les unes des autres, et
- chacun des premiers éléments de contact est utilisé pour caractériser une des sous-cellules de la cellule photovoltaïque.
En variante, le procédé peut être tel que :
- plusieurs cellules photovoltaïques sont disposées simultanément sur le support du dispositif de caractérisation ;
- chacun des premiers éléments de contact est utilisé pour caractériser une des cellules photovoltaïques ou une sous-cellule d’une des cellules photovoltaïques.
Les étapes de mise en contact du deuxième élément de contact du dispositif de caractérisation avec la deuxième métallisation et de réalisation des mesures I-V transverses peuvent être répétées pour caractériser chacune des sous-cellules ou chacune des cellules photovoltaïques présentes sur le support du dispositif de caractérisation.
Le procédé peut être tel que, avant la mise en contact du deuxième élément de contact du dispositif de caractérisation avec la deuxième métallisation, le support est déplacé tel que le deuxième élément de contact du dispositif de caractérisation soit disposé en regard de la deuxième métallisation.
La présente invention sera mieux comprise à la lecture de la description d’exemples de réalisation donnés à titre purement indicatif et nullement limitatif en faisant référence aux dessins annexés sur lesquels :
Des parties identiques, similaires ou équivalentes des différentes figures décrites ci-après portent les mêmes références numériques de façon à faciliter le passage d’une figure à l’autre.
Les différentes parties représentées sur les figures ne le sont pas nécessairement selon une échelle uniforme, pour rendre les figures plus lisibles.
Les différentes possibilités (variantes et modes de réalisation) doivent être comprises comme n’étant pas exclusives les unes des autres et peuvent se combiner entre elles.
EXPOSÉ DÉTAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIEURS
On décrit ci-dessous, en lien avec les figures 1 à 8, un dispositif 100 de caractérisation électrique d’au moins une cellule photovoltaïque 102 ainsi qu’un procédé de caractérisation électrique de cette cellule 102 mis en œuvre avec un tel dispositif 100.
Les figures 1A et 1B représentent schématiquement la cellule 102 destinée à être caractérisée électriquement. La figure 1A représente une vue de dessus de la cellule 102, et la figure 1B représente une vue en coupe de la cellule 102.
La cellule 102 comporte une face avant 104 et une face arrière 106 formant les faces principales de la cellule 102. La cellule 102 est ici destinée à recevoir un rayonnement lumineux sur sa face avant 104.
Les faces avant 104 et arrière 106 ont par exemple des dimensions égales à 162 mm x 162 mm.
Dans l’exemple décrit ici, la cellule 102 comporte plusieurs parties distinctes formant chacune une sous-cellule 108 que le dispositif 100 est destiné à caractériser chacune indépendamment des autres sous-cellules 108. Sur l’exemple représenté sur les figures 1A et 1B, la cellule 102 comporte neuf sous-cellules 108.1-108.9 chacune comprenant par exemple, dans les plans des faces avant 104 et arrière 106, des dimensions égales à 5 cm x 5 cm. Chaque sous-cellule 108 est espacée de chacune des sous-cellules 108 voisines par un espace par exemple égal à environ 1 mm. Une des sous-cellules 108, référencée 108.5 sur la figure 1A, forme une sous-cellule centrale se trouvant au milieu de la cellule 102.
La cellule 102 comporte, au moins sur sa face avant 104, des métallisations, par exemple à base d’argent, destinées à collecter le courant électrique généré par le ou les semi-conducteurs de la cellule 102. Ces métallisations correspondent à des premiers éléments appelés doigts 110, et des deuxièmes éléments appelés bus barres 112 et qui sont orientés perpendiculairement aux doigts 110. Les bus barres 112 sont formés sur les doigts 110 et collectent les courants électriques obtenus dans les doigts 110. Dans l’exemple décrit ici, de telles métallisations sont présentes sur la face avant 104 et sur la face arrière 106 de la cellule 102.
En variante, il est possible que ces métallisations ne soient présentes que sur la face avant 104 de la cellule 102. Dans cette variante, toute la face arrière de chaque sous-cellule 108 est métallisée, c’est-à-dire recouverte d’une couche métallique.
Dans chacune des sous-cellules 108, les motifs des métallisations sont identiques d’une sous-cellule à l’autre. De plus, dans l’exemple de réalisation décrit ici, ces métallisations présentes sur la face avant 104 sont identiques à celles présentes sur la face arrière 106.
Sur chacune des faces avant 104 et arrière 106, chaque sous-cellule 108 comporte une multitude de doigts 110, par exemple de dimensions proches ou égales à 50 µm x 48 mm, parallèles entre eux et espacés de 1,8 mm les uns des autres. Sur chacune des faces avant 104 et arrière 106, chaque sous-cellule 108 comporte un bus barre 112 de dimensions par exemple égales à 0,8 mm x 48 mm, orienté perpendiculairement aux doigts 110. Dans chaque sous-cellule 108, les bus barres 112 présents sur les faces avant 104 et arrière 106 sont par exemple localisés sur un axe de symétrie de la sous-cellule 108. Les bus barres 112 sont parallèles entre eux.
Lorsque la cellule 102 est à hétérojonction de silicium, une couche d’ITO très conductrice est généralement déposée avant les métallisations sur chaque face 104, 106 de la cellule 102 pour assurer un transport latéral des charges en plus du substrat de silicium et des métallisations présentes en face avant 104 et arrière 106. Un détourage des dépôts d’ITO peut dans ce cas être réalisé dans les régions considérées comme ne faisant pas partie de celles à caractériser, afin d’éviter un contact parasite entre les différentes sous-cellules. Il est également possible d’appliquer un masque dur pendant le dépôt d’ITO afin d’éviter de déposer de l’ITO entre les différentes sous-cellules, ou d’utiliser un procédé de gravure sélective pour le retrait de cette couche dans les régions désirées.
La figure 2 représente schématiquement le dispositif 100 destiné à caractériser les sous-cellules 108 de la cellule 102 précédemment décrite en lien avec les figures 1A et 1B.
Le dispositif 100 comporte un support 114 configuré pour supporter mécaniquement la cellule photovoltaïque 102 lors de sa caractérisation. Afin de pouvoir caractériser chacune des sous-cellules 108, le support 114 comporte plusieurs régions de mesure distinctes chacune configurée pour caractériser électriquement l’une des sous-cellules 108. Chaque région de mesure du support 114 comprend au moins un premier élément de contact 116 configuré pour venir en contact électriquement avec au moins une métallisation présente sur une face arrière 106 de la cellule photovoltaïque 102 lorsqu’elle est disposée sur le support 114. Dans l’exemple de réalisation décrit ici, chaque premier élément de contact 116 est configuré pour venir en contact électriquement avec le bus barre 112 présent en face arrière d’une des sous-cellules 108.
Le dispositif 100 comporte également un dispositif 118 de déplacement du support 114 permettant le déplacement du support 114 au moins dans le plan (X,Y) (qui correspond au plan parallèle à une face du support 114 sur laquelle la cellule 102 est destinée à être disposée). Ce dispositif 118 comporte notamment des moteurs permettant un déplacement du support 114 selon chacun des axes X et Y. Ce dispositif 118 est par exemple similaire aux moyens de déplacement de wafer utilisés dans les probers, ou station de tests électriques, pour wafer, par exemple semi-automatiques, tels qu’utilisés pour les tests de puces électroniques.
De manière avantageuse, le dispositif 118 peut également assurer le déplacement du support 114 selon l’axe Z, c’est-à-dire selon l’axe perpendiculaire à la face du support 114 sur laquelle la cellule 102 est destinée à être disposée.
Le dispositif 118 possède par exemple les caractéristiques suivantes :
- le dispositif 118 est configuré pour réaliser des déplacements motorisés du support 114 à vitesse contrôlée avec des moteurs linéaires sur chacun des axes X et Y, par exemple sur une distance égale à 162 mm ;
- le dispositif 118 est configuré pour réaliser un contrôle motorisé de la position verticale (selon l’axe Z) du support 114, permettant de contrôler la mise en contact de la face avant 104 de la cellule 102 avec des éléments de contact lors des mesures courant – tension ;
- résolution, répétabilité et précision selon chacun des axes X, Y et Z égales à quelques microns ;
- réglage motorisé de l’angle du support 114 par rapport au plan (X,Y), selon les axes X et Y, pour aligner correctement la cellule 102 avec les éléments de contact destinés à venir en contact avec les métallisations présentes en face avant 104 de la cellule 102.
Le dispositif 100 comporte également un dispositif de commande et de calcul 119, incluant par exemple une partie logicielle, permettant de gérer des programmes de déplacement du support 114 lors de la caractérisation successive des différentes sous-cellules 108 de la cellule 102 et de calculer les performances de chacune des sous-cellules 108 à partir des signaux de mesure obtenus. Ce dispositif de commande et de calcul 119 permet d’automatiser la mise en œuvre successive des mesures I-V transverses réalisées pour chacune des sous-cellules 108. Le dispositif de commande et de calcul 119 inclut un dispositif de mesure I-V permettant d’obtenir une caractéristique I-V à partir des signaux de mesure obtenus.
Le dispositif 100 comporte également un dispositif 120 d’illumination de la cellule 102. Ce dispositif 120 permet ici d’envoyer des faisceaux lumineux 121 sur la face avant 104 de la cellule 102 lorsque celle-ci est positionnée sur le support 114. Le dispositif 120 correspond par exemple à un simulateur solaire permettant notamment d’illuminer la cellule 102 avec des spectres normalisés, tel qu’un spectre solaire AM1.5 avec des intensités de 0 à 1 soleil de classe AAA, sur une surface de 5,1 cm x 5,1 cm afin d’illuminer une des sous-cellules 108. En variante, le dispositif 120 peut émettre une lumière de longueurs d’ondes différentes de celles du spectre solaire AM1.5, et/ou illuminer une surface de dimensions différentes de l’exemple indiqué précédemment.
Le dispositif 100 comporte également au moins un deuxième élément de contact 122 configuré pour venir en contact électriquement avec au moins une métallisation présente contre la face avant 104 de la cellule photovoltaïque 102 lorsqu’elle est disposée sur le support 114. Le deuxième élément de contact 122 correspond par exemple à une carte à pointes munie de plusieurs groupes de pointes de contact, ou d’une carte à lames munie de lames conductrices, adaptés aux motifs des bus barres 112 présents en face avant 104 de la cellule 102 à caractériser. Le deuxième élément de contact 122 est ici solidaire d’un élément de maintien 124 ajouré et qui comporte une ouverture 126 permettant l’illumination d’une sous-cellule 108 et minimisant l’ombrage de la sous-cellule 108 lors de sa caractérisation. L’ouverture 126 a par exemple une section, dans le plan (X,Y), de forme carrée et de dimensions égales à 5 cm x 5 cm, ou plus généralement une section correspondant à celle d’une des sous-cellules 108.
En variante, contrairement à ce qui est décrit ci-dessus, l’élément de maintien 124 peut être tel qu’il ne forme pas un masque vis-à-vis des faisceaux lumineux 121. Une surface plus importante que celle correspondant à la sous-cellule 108 caractérisée peut dans ce cas être illuminée lors d’une mesure I-V d’une sous-cellule 108.
Le deuxième élément de contact 122 comporte par exemple un peigne comprenant plusieurs groupes de pointes alignées selon un axe parallèle à l’axe des bus barres 112. Chaque groupe de pointes comprend par exemple deux pointes servant à la mesure de courant et une pointe servant à la mesure de tension. La pointe de mesure de tension est avantageusement disposée entre les deux pointes de mesure de courant. Les pointes comprennent par exemple un alliage de cuivre et de béryllium. Les pointes peuvent être escamotables et/ou montées sur ressort pour optimiser le contact électrique avec les bus barres 112 de la cellule 102.
Selon un exemple de réalisation, le deuxième élément de contact 122 comporte douze pointes de contact référencées 123.1 – 123.12, séparées en quatre groupes de trois pointes, comme représenté sur la figure 3. Sur cette figure 3, les pointes référencées 123.1, 123.3, 123.4, 123.6, 123.7, 123.9, 123.10 et 123.12 sont destinées aux mesures de courant et sont reliées électriquement ensemble à une première broche du deuxième élément de contact 122. Les pointes référencées 123.2, 123.5, 123.8 et 123.11 sont destinées aux mesures de tension et sont reliées électriquement ensemble à une deuxième broche du deuxième élément de contact 122.
Lors de la caractérisation d’une sous-cellule 108, le support 114 est positionné par le dispositif 118 tel que l’ouverture 126 soit disposée en regard de la sous-cellule 108 à caractérisée. Les pointes de contact 123 du deuxième élément de contact 122 sont positionnées sur le bus barre 112 présent en face avant de la sous-cellule 108 caractérisée. Cette sous-cellule 108 est alors entièrement illuminée par la lumière émise par le dispositif 120, avec pour seuls ombrages les pointes de contact 123.
En considérant l’exemple de réalisation décrit ci-dessus (ouverture 126 de dimensions égales à 5 cm x 5 cm ; deuxième élément de contact 122 comprenant un peigne de douze pointes de contact 123.1 – 123.12), et en considérant que le centre de l’ouverture 126 a une position, dans le plan (X,Y), de coordonnées X = 0 et Y = 0, avec la sous-cellule 108 à caractériser qui est centrée par rapport à l’ouverture 126, les pointes 123 sont par exemple positionnées, par rapport au centre de l’ouverture 126, telles qu’indiquées dans le tableau ci-dessous :
La figure 4 correspond à une vue en coupe d’un exemple de réalisation du support 114 du dispositif 100.
Le support 114 comporte un élément 128 supportant mécaniquement les premiers éléments de contact 116 qui sont destinés à venir en contact avec les métallisations arrières de la cellule 102. Le support 114 comporte également un dispositif 130 de chauffage et/ou de refroidissement sur lequel le support mécanique 128 est disposé. Le support 114 comporte également un socle d’accueil 132 disposé sur l’élément 128 et sur lequel la cellule 102 est destinée à être disposée. Des emplacements 134 sont formés dans le socle d’accueil 132, dans lesquels les premiers éléments de contact 116 sont disposés.
Les éléments 116, 128, 130 et 132 du support 114 comportent avantageusement du métal, par exemple du cuivre, ce qui permet l’obtention d’une bonne conduction thermique dans tout le support 114 et l’application d’une température homogène sur la cellule 102.
Le support 114 comporte également une couche 136 de matériau isolant électrique, comprenant par exemple du plastique et d’épaisseur par exemple égale 1 mm, disposée sur le socle d’accueil 132 et permettant d’éviter des conductions électriques parasites entre la cellule 102 et le socle d’accueil 132. La couche 136 est par exemple collée sur le socle d’accueil 132.
Les différents éléments du support 114 sont décrits ci-dessous de manière plus détaillée.
La figure 5 correspond à une vue de dessus de l’élément 128, sans les autres éléments du support 114.
Les caractéristiques du support 114 sont adaptées en fonction de celles de la cellule 102 destinée à être caractérisée, notamment pour pouvoir caractériser chacune des sous-cellules 108 indépendamment les unes des autres. Ainsi, dans l’exemple décrit ici, l’élément 128 comporte plusieurs zones 138 chacune de dimensions par exemple identiques à celles d’une des sous-cellules 108. Sur l’exemple de la figure 5, le premier élément 128 comporte neuf zones 138 de dimensions, dans le plan (X,Y), égales à 5 cm x 5 cm et espacées les unes des autres de 1 mm.
Chacune des neuf zones 138 est pourvue de deux connecteurs 140 auxquels les pointes de contact du premier élément de contact 116 associé à cette zone 138 sont destinées à être reliées. Les pointes de contact qui serviront à la mesure de tension seront reliées électriquement à l’un des deux connecteurs 140, et les pointes de contact qui serviront à la mesure de courant seront reliées électriquement à l’autre des deux connecteurs 140.
Chacune des neuf zones 138 est également pourvue d’éléments 142, par exemple des trous taraudés, permettant de fixer mécaniquement les premiers éléments de contact 116 à l’élément 128. Dans l’épaisseur de l’élément 128, des passages sont réalisés pour passer les câbles électriques reliant les connecteurs 140 à des plots de contact 144 accessibles sur un bord de l’élément 128. Chacun des plots de contact 144 est destiné à être relié à un dispositif de mesure courant – tension, par exemple par l’intermédiaire d’un élément de multiplexage, couplant ainsi les premiers éléments de contact 116 et le deuxième élément de contact 122 à ce dispositif de mesure courant – tension.
De plus, l’élément 128 est ici muni de trous 146 permettant la fixation de l’élément 128 au dispositif 130 et de trous taraudés 148 pour fixer le socle d’accueil 132 à l’élément 128.
Le support 114 comporte un nombre de premiers éléments de contact 116 égal au nombre de sous-cellules 108 à caractériser, c’est-à-dire neuf dans l’exemple décrit ici.
Un exemple de réalisation d’un des premiers éléments de contact 116 est représenté sur les figures 6A et 6B. La figure 6A correspond à une vue de dessus de ce premier élément de contact 116 et la figure 6B correspond à une vue en coupe de ce premier élément de contact 116.
Le premier élément de contact 116 comporte un élément de support 150, correspondant par exemple à un support de circuit imprimé de type PCB, sur lequel est disposée une barre 152, par exemple en céramique, destinée au montage de pointes de contact 154. Comme pour l’exemple de deuxième élément de contact 122 précédemment décrit, les pointes de contact 154 sont regroupées en plusieurs groupes, avec dans chaque groupe des pointes destinées à la mesure de courant et une pointe destinée à la mesure de tension. Ici, chaque groupe comporte trois pointes, avec deux pointes destinées à la mesure de courant et une pointe destinée à la mesure de tension (avantageusement disposée entre les deux pointes de mesure de courant). Sur l’exemple représenté sur les figures 6A et 6B, Les pointes référencées 154.1, 154.3, 154.4, 154.6, 154.7 et 154.9 correspondent aux pointes de mesure de courant et sont reliées électriquement à un premier connecteur 156, et les pointes référencées 154.2, 154.5 et 154.8 correspondent aux pointes de mesure de tension et sont reliées à un deuxième connecteur 158. Les premier et deuxième connecteurs 156, 158 sont reliés électriquement aux connecteurs 140. Le premier élément de contact 116 comporte également des trous 160 destinés à être alignés avec les trous 142 pour la fixation mécanique du premier élément de contact 116 à l’élément 128 à l’aide de visserie.
Les premiers éléments de contact 116 sont conçus de manière à ce qu’une fois montés sur l’élément 128, les pointes soient alignées le long de l’axe de symétrie de chacune des zones 138 et en contact avec les bus barres 112 présents en face arrière 106 de la cellule 102.
En considérant l’exemple de réalisation décrit ci-dessus (chaque zone 138 ayant des dimensions égales à 5 cm x 5 cm ; chaque premier élément de contact 116 comprenant neuf pointes de contact 154.1 – 154.9 alignées), et en considérant, pour chacune des zones 138, que le centre de la zone 138 a une position, dans le plan (X,Y), de coordonnées X = 0 et Y = 0, avec chaque sous-cellule 108 qui est centrée sur l’une des zones 138, les pointes 154 de chaque premier élément de contact 116 sont par exemple positionnées telles qu’indiquées dans le tableau ci-dessous :
Les figures 7A et 7B présentent les premiers éléments de contact 116 montés sur l’élément 128. On voit sur ces figures que les extrémités des pointes de contact 154 sont alignées sur un axe de symétrie de chacune des neuf zones 138.
La figure 8 représente une vue de dessus du support 114 avec le socle d’accueil 132 disposé sur l’élément 128 et les premiers éléments de contact électrique 116 (présents dans les logements 134). La surface de contact du socle d’accueil 132 avec l’élément 128 est avantageusement la plus grand possible pour favoriser la conduction de la chaleur entre l’élément 128 et le socle d’accueil 132. La face supérieure du socle 132 sur laquelle la cellule 102 est destinée à être disposée est recouverte par la couche isolante 136. Les extrémités des pointes 154 des premiers éléments de contact 116 dépassent de la face supérieure du support 114 sur laquelle la cellule 102 est destinée à être disposée, par exemple de 0,15 mm à 0,3 mm de façon à prendre un bon contact électrique avec la cellule 102. Le socle d’accueil 132 comporte des ouvertures 162, au nombre de neuf sur l’exemple de réalisation décrit ici, à travers lesquelles passent les extrémités des pointes 154. Chacune de ces ouvertures 162 a par exemple, dans le plan (X,Y), une section de forme rectangulaire. Le socle d’accueil 132 comporte également, sur sa surface supérieure, des rainures 164 pour la prise au vide de la cellule 102. Ces rainures 164 traversent la couche 136 et sont formées dans une partie de l’épaisseur du socle d’accueil 132. La colle entre la couche 136 et le socle d’accueil 132 a aussi un rôle pour confiner le vide dans les rainures 164. Pour chaque zone du socle d’accueil 132 sur laquelle l’une des sous-cellules 108 est destinée à être disposée, la ou les rainures 162 présentes dans cette zone sont reliées à un dispositif de pompage au vide au travers du socle d’accueil 132. Pour cela, dans l’épaisseur du socle d’accueil 132, des passages sont réalisés pour relier les rainures 164 au dispositif de pompage. Enfin, sur son bord, le socle d’accueil 132 présente une collerette 166, par exemple en plastique, isolant de l’électricité et servant à maintenir et positionner la cellule 102 centrée sur le socle d’accueil 132.
Le dispositif 130 de chauffage et/ou de refroidissement est par exemple refroidi par une circulation de liquide caloporteur dans son corps dont la température est contrôlée par un refroidisseur (« chiller » en anglais). Un thermocouple de régulation est par exemple positionné dans le corps du socle d’accueil 132. Le dispositif 130 permet d’appliquer à la cellule 102 une température par exemple comprise entre 15°C et 80°C.
Le contact thermique entre les différents éléments 130, 128 et 132 est avantageusement amélioré à l’aide des pattes thermiquement conductrices d’un de ces éléments et s’emboîtant dans des logements formés dans un autre de ces éléments.
Lors d’une caractérisation des sous-cellules 108, la cellule 102 est disposée sur le socle d’accueil 132. Tous les bus barres 112 présents en face arrière 106 de la cellule 102 sont en contact avec les pointes 154 des premiers éléments de contact 116. Du fait que les premiers éléments de contact 116 ne sont pas reliés électriquement entre eux, chaque sous-cellule 108 peut être caractérisée électriquement indépendamment les unes des autres par une mesure I-V en venant positionner les pointes 123 du deuxième élément de contact 122 contre le bus barre 112 présent en face avant de la sous-cellule 108 à caractériser.
Les mesures électriques I-V transverses sont avantageusement mises en œuvre sous illumination de la sous-cellule 108 qui est caractérisée. Le dispositif de commande et de calcul 119 du dispositif 100 permet notamment une mise en œuvre automatisée des mesures pour chacune des sous-cellules 108.
Les figures 9A à 9D représentent les déplacements du support 114 lors de mesures I-V mises en œuvre pour une sous-cellule 108.
Sur la figure 9A, le dispositif 118 déplace le support 114 tel que les pointes 123 du deuxième élément de contact 122 soient disposées en regard du bus barre 112 se trouvant en face avant de la sous-cellule 108 à caractériser.
Sur la figure 9B, le dispositif 118 déplace verticalement (selon l’axe perpendiculaire aux faces principales de la cellule 102) le support 114 afin de mettre en contact les pointes 123 du deuxième élément de contact 122 avec le bus barre 112 de la sous-cellule 108 à caractériser.
Après avoir réalisé les mesures I-V, et comme représenté sur la figure 9C, le dispositif 118 déplace verticalement le support 114 afin que les pointes 123 du deuxième élément de contact 122 ne soient plus en contact avec le bus barre 112 de la sous-cellule 108 caractérisée.
Sur la figure 9D, le dispositif 118 déplace ensuite le support 114 tel que les pointes 123 du deuxième élément de contact 122 soient disposées en regard du bus barre 122 se trouvant en face avant d’une autre sous-cellule 108 à caractériser.
Ces déplacements peuvent être répétés jusqu’à ce que toutes les sous-cellules 108 de la cellule 102 soient caractérisées.
Les fonctions mises en œuvre par le dispositif de commande et de calcul 119 sont par exemple :
- définition des différents sites (ou sous-sites) de mesure sur la cellule 102. Cette fonction permet à l’utilisateur de définir les différentes localisations du support 114 qui correspondent aux positions de contact souhaitées des pointes 123 du deuxième élément de contact 122 contre chacun des bus barres 112 présents en face avant des sous-cellules 108. A partir de ces localisations, un programme de déplacement du support 114 de sites (ou sous-sites) à sites (ou sous-sites) est défini.
- pour chacun des sites (ou sous-sites) définis, le déplacement et le positionnement dans le plan (X,Y) du support 114 dans la position adaptée pour une ou plusieurs mesures I-V, puis la mise en contact des pointes 123 contre le bus barre 112 de la sous-cellule 108 à caractériser, et enfin le retrait des pointes 123 par le déplacement selon l’axe Z du support 114 après la mesure.
- la configuration et le pilotage des équipements de mesures électriques pour les mesures nécessaires pour la caractérisation I-V des sous-cellules 108 (pilotage en tension ou en courant), choix des voies du SMU (« sourcemeter » en anglais) et des multimètres utilisés pour les mesures, programmation des plages de mesures (valeur de départ, valeur d’arrivée et pas de mesure, mesure par ordre croissant ou décroissant), enchainement des différentes courbes I-V. Les mesures I-V nécessaires pour déterminer les caractéristiques I-V transverses des sous-cellules 108 peuvent répondre aux normes relatives aux mesures I-V de cellules photovoltaïques (Différentes parties de la Norme IEC 60904 et/ou de la norme IEC 60891). Les cartes de multiplexage relient les équipements de mesures électriques et les broches du deuxième élément de contact 122 et du support 114 qui inclut les premiers éléments de contact 116.
- de manière optionnelle, le dispositif de commande et de calcul 119 peut définir et appliquer automatiquement des conditions de mesure en température ou d’illumination pour chaque sous-cellule 108.
- détermination des pointes 154 des premiers éléments de contact 116 à utiliser en fonction de la position du support 114. Le dispositif de commande et de calcul 119 peut avoir pour fonction de choisir automatiquement, à l’aide de cartes de multiplexage, les groupes de pointes 154 du support 114 à utiliser pour les mesures I-V en fonction de la position du support 114 ou du site (ou sous-site) de mesure. Les cartes de multiplexage relient les équipements de mesures électriques et les broches des premiers et deuxièmes éléments de contact 116, 122.
Dans l’exemple précédent, il a été défini que le premier élément de contact 116 du support 114 à utiliser pour les mesures I-V est celui de la zone positionnée sous le centre du deuxième élément de contact 122. Ainsi, quand le deuxième élément de contact 122 est positionné au-dessus d’un bus barre 112 d’une sous-cellule 108, ce sont les groupes de pointes 154 du premier élément de contact 116 prenant les contacts en face arrière de cette même sous-cellule 108 qui seront utilisées, permettant ainsi de réaliser les mesures I-V transverses de la sous-cellule 108 nécessaire pour déterminer les caractéristiques I-V de la sous-cellule 108.
Le dispositif de commande et de calcul 119 peut également élaborer un protocole de mesures électriques qui définit les enchainements de groupes de pointes des premier et deuxième éléments de contact 116, 122 à utiliser sur les différentes voies des équipements de mesure pour les mesures électriques I-V sur un site, en définissant par exemple une liste chronologique des couples de broches à utiliser pour les mesures électrique de type 4 pointes réalisées sur chaque site de mesure.
Les broches auxquelles sont reliés les éléments des contacts électrique 116, 122 peuvent servir uniquement à mesurer des tensions et des courants, ou peuvent servir à appliquer et mesurer des tensions et des courants.
En outre, les différentes polarités des courants et tensions peuvent s’appliquer indifféremment sur les pointes des premier et deuxième éléments de contact 116, 124.
Lors d’une mesure électrique I-V d’une sous-cellule 108, les étapes suivantes peuvent être mises en œuvre :
- Réglage du dispositif 118 vis-à-vis de la cellule 102 ;
- Réglage du dispositif d’illumination 120 ;
- Réglage de la température par le dispositif 130 ;
- Définir les conditions de mesure électrique et l’enchainement des pointes de mesures à utiliser pour chaque sous-cellule 108 ;
- Programmation des mesures à enchainer et leurs conditions ;
- Mesures I-V en mode manuel ou automatique ;
- Calcul et affichage des caractéristiques I-V des différentes sous-cellules 108 à partir des mesures réalisées.
Dans les exemples précédemment décrits, le dispositif 100 comporte le dispositif 118 déplaçant le support 114 afin de positionner le bus barre 112 de la sous-cellule 108 à caractériser en regard des pointes 123 du deuxième élément de contact 122. En variante, il est possible que le dispositif 100 réalise les mesures I-V des différentes sous-cellules 108 sans déplacer le support 114 dans le plan des faces principales de la cellule 102. Pour cela, le dispositif 100 comporte plusieurs deuxièmes éléments de contact 122 permettant une prise de contact indépendante sur les bus barres 112 des différentes sous-cellules 108.
Il est également possible que le dispositif 100 comporte à la fois le dispositif 118 et plusieurs deuxièmes éléments de contact 122, permettant par exemple de mesurer simultanément les caractéristiques I-V de plusieurs sous-cellules 108.
Dans les exemples précédemment décrits, le dispositif 100 est utilisé pour caractériser électriquement des sous-cellules 108 d’une même cellule 102, c’est-à-dire formées sur un même substrat. En variante, il est possible que plusieurs cellules 102, formées à partir de substrats différents, soient disposées les unes à côté des autres sur le support 114. Le dispositif 100 permet dans ce cas de caractériser électriquement chacune des cellules 102 indépendamment les unes des autres, ou bien de caractériser chacune des sous-cellules 108 de chacune des cellules 102 indépendamment les unes des autres.
En variante, il est également possible que le dispositif 100 ne comporte pas le dispositif 120 d’illumination. Dans ce cas, les mesures I-V ne sont pas mises en œuvre en illuminant la cellule 102, et par exemple sous obscurité.
Les positions des pointes 123 du deuxième élément de contact 122 et/ou celles des pointes 154 des premiers éléments de contact 116 peuvent être réglables afin que le dispositif 100 puisse s’adapter à des cellules 102 différentes (en termes de géométrie, de nombre de sous-cellules 108, etc.).
En variante, il est possible que les premiers éléments de contact électrique 116 comportent, à la place des groupes de pointes conductrices 154 précédemment décrites, plusieurs surfaces électriquement conductrices et isolées électriquement les unes des autres.
Pour tous les exemples de réalisation précédemment décrits, le nombre de pointes pour chacun des premier et deuxième éléments de contact 116, 122 peut être adapté en fonction des caractéristiques des cellules 102 à caractériser, et également pour limiter les chutes de potentiel le long des bus barres sur lesquels les mesures sont réalisées.
Claims (14)
- Dispositif (100) de caractérisation électrique d’au moins une cellule photovoltaïque (102), comprenant :
- un support (114) configuré pour supporter mécaniquement la cellule photovoltaïque (102) et comportant plusieurs premiers éléments de contact (116) chacun configuré pour être en contact électriquement avec au moins une première métallisation (112) disposée contre une face arrière (106) de la cellule photovoltaïque (102) lorsque la cellule photovoltaïque (102) est disposée sur le support (114) ;
- au moins un deuxième élément de contact (122) configuré pour être en contact électriquement avec au moins une deuxième métallisation (112) disposée contre une face avant (104) de la cellule photovoltaïque (102) lorsque la cellule photovoltaïque (102) est disposée sur le support (114) ;
- un dispositif de mesure I-V auquel les premiers éléments de contact (116) et le deuxième élément de contact (122) sont couplés électriquement ;
et dans lequel le dispositif (100) de caractérisation est configuré pour réaliser des mesures I-V transverses entre le deuxième élément de contact (122) et chacun des premiers éléments de contact (116) indépendamment des autres premiers éléments de contact (116). - Dispositif (100) selon la revendication 1, comportant en outre un dispositif (118) de déplacement du support (114) vis-à-vis du deuxième élément de contact (122) au moins dans un plan parallèle à une face du support (114) sur laquelle la cellule photovoltaïque (102) est destinée à être disposée.
- Dispositif (100) selon la revendication 2, dans lequel le dispositif (118) de déplacement du support (114) est configuré pour déplacer le support (114) parallèlement à un axe perpendiculaire à la face du support (114) sur laquelle la cellule photovoltaïque (102) est destinée à être disposée.
- Dispositif (100) selon l’une des revendications 2 ou 3, dans lequel le dispositif (100) de caractérisation est configuré pour réaliser chacune des mesures I-V transverses avec l’un des premiers éléments de contact (116) choisi en fonction de la position du support (114) vis-à-vis du deuxième élément de contact (122).
- Dispositif (100) selon l’une des revendications précédentes, dans lequel chacun des premiers éléments de contact (116) et/ou le deuxième élément de contact (122) comporte plusieurs pointes électriquement conductrices (123, 154) et/ou plusieurs lames électriquement conductrices, et dans lequel les pointes électriquement conductrices (154) et/ou les lames électriquement conductrices de chacun des premiers éléments de contact (116) ne sont pas reliées électriquement aux pointes électriquement conductrices (154) et/ou aux lames électriquement conductrices des autres premiers éléments de contact (116).
- Dispositif (100) selon l’une des revendications précédentes, dans lequel les pointes (123, 154) électriquement conductrices sont escamotables.
- Dispositif (100) selon l’une des revendications précédentes, comportant en outre un dispositif (120) d’illumination d’au moins une partie de la cellule photovoltaïque (102).
- Dispositif (100) selon l’une des revendications précédentes, comportant en outre un dispositif de commande et de calcul (119) incluant le dispositif de mesure I-V et configuré pour automatiser une mise en œuvre successive de mesures I-V transverses entre le deuxième élément de contact (122) et chacun des premiers éléments de contact (116).
- Dispositif (100) selon l’une des revendications précédentes, dans lequel le support (114) comporte un dispositif (130) de chauffage et/ou de refroidissement configuré pour chauffer et/ou refroidir la cellule photovoltaïque (102) lors des mesures I-V transverses.
- Procédé de caractérisation électrique d’au moins une cellule photovoltaïque (102) mis en œuvre avec un dispositif (100) de caractérisation selon l’une des revendications précédentes, comportant au moins :
- mise en place de la cellule photovoltaïque (102) sur le support (114) du dispositif (100) de caractérisation, la première métallisation (112) étant électriquement en contact avec l’un des premiers éléments de contact (116) du dispositif (100) de caractérisation ;
- mise en contact du deuxième élément de contact (122) du dispositif (100) de caractérisation avec la deuxième métallisation (112) ;
- réalisation de mesures I-V transverses entre le deuxième élément de contact (122) et ledit un des premiers éléments de contact (116) du dispositif (100) de caractérisation. - Procédé selon la revendication 10, dans lequel :
- la cellule photovoltaïque (102) comporte plusieurs sous-cellules (108) indépendantes les unes des autres ;
- chacun des premiers éléments de contact (116) est utilisé pour caractériser une des sous-cellules (108) de la cellule photovoltaïque (102). - Procédé selon la revendication 10, dans lequel :
- plusieurs cellules photovoltaïques (102) sont disposées simultanément sur le support (114) du dispositif (100) de caractérisation ;
- chacun des premiers éléments de contact (116) est utilisé pour caractériser une des cellules photovoltaïques (102) ou une sous-cellule (108) d’une des cellules photovoltaïques (102). - Procédé selon l’une des revendications 11 ou 12, dans lequel les étapes de mise en contact du deuxième élément de contact (122) du dispositif (100) de caractérisation avec la deuxième métallisation (112) et de réalisation des mesures I-V transverses sont répétées pour caractériser chacune des sous-cellules (108) ou chacune des cellules photovoltaïques (102) présentes sur le support (114) du dispositif (100) de caractérisation.
- Procédé selon l’une des revendications 10 à 13, dans lequel, avant la mise en contact du deuxième élément de contact (122) du dispositif (100) de caractérisation avec la deuxième métallisation (112), le support (114) est déplacé tel que le deuxième élément de contact (122) du dispositif (100) de caractérisation soit disposé en regard de la deuxième métallisation (112).
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| FR1906440A FR3097385B1 (fr) | 2019-06-17 | 2019-06-17 | Dispositif et procede de caracterisation electrique locale de cellules photovoltaiques |
Applications Claiming Priority (2)
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Publications (2)
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| FR3097385B1 FR3097385B1 (fr) | 2021-07-02 |
Family
ID=68987755
Family Applications (1)
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| FR1906440A Active FR3097385B1 (fr) | 2019-06-17 | 2019-06-17 | Dispositif et procede de caracterisation electrique locale de cellules photovoltaiques |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| FR (1) | FR3097385B1 (fr) |
Citations (3)
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|---|---|---|---|---|
| WO2013115046A1 (fr) * | 2012-02-03 | 2013-08-08 | 山下電装株式会社 | Sonde de mesure des caractéristiques de cellule solaire |
| EP2650925A1 (fr) * | 2010-12-07 | 2013-10-16 | Dexerials Corporation | Dispositif de mesure d'émission de cellule solaire et procédé de mesure |
| DE102013227098A1 (de) * | 2013-04-24 | 2014-10-30 | Kyoshin Electric Co., Ltd | Schienenförmiger Prüfkopf und Messvorrichtung für Solarzellen |
-
2019
- 2019-06-17 FR FR1906440A patent/FR3097385B1/fr active Active
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| C. SHEN ET AL.: "Improved local efficiency imaging via photoluminescence for silicon solar cells", SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS, vol. 123, 2014, pages 41 - 46, XP028615845, DOI: 10.1016/j.solmat.2014.01.003 |
| J. HOHL-EBINGER ET AL.: "Contacting bare solar cells for STC measurements", PROCEEDINGS OF 23RD PVSEC, 2008 |
| O. BRETENSTEIN ET AL.: "Comparison of DLIT- and PL-based Local Solar Cell Efficiency Analysis", ENERGY PROCEDIA, vol. 38, 2013, pages 2 - 12, XP055468750, DOI: 10.1016/j.egypro.2013.07.243 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR3097385B1 (fr) | 2021-07-02 |
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