FR3050822A1 - Support de mesure apte a determiner l'intensite et la position d'application d'un effort - Google Patents

Support de mesure apte a determiner l'intensite et la position d'application d'un effort Download PDF

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Abstract

L'invention concerne un support de mesure (1) comprenant au moins un capteur de force (2) apte à être monté en position fixe sur une embase (4) et un plateau (3) reposant sur ledit capteur de force (2), le capteur de force (2) comprenant un dispositif électronique (20) comprenant : - un premier circuit (30) apte à générer un signal de mesure lorsqu'une force est appliquée sur le plateau (3), - un deuxième circuit (31) apte à générer un signal de mesure en fonction d'un moment de ladite force appliquée par rapport à l'axe (X) de la portion longitudinale (7), et - un troisième circuit (32) apte à générer un signal de mesure en fonction d'un autre moment de ladite force appliquée par rapport à un autre axe (Y) dans lequel ladite portion longitudinale (7) est apte à se déformer.

Description

Support de mesure apte à déterminer l’intensité et la position d’application d’un effort
La présente invention se rapporte à un support de mesure apte à déterminer l’intensité et la position d’application d’un effort lorsque l’effort est précisément appliqué sur le support.
Dans le domaine des mesures d’effort, un problème bien connu est d’arriver à déterminer la position d’application d’un effort lorsqu’il peut être appliqué en plusieurs endroits distincts. Ainsi, à titre d’exemple, dans le domaine de l’usinage de pièces mécaniques, un besoin, à des fins d’automatisation des machines-outils, est de pouvoir déterminer la position d’application et l’intensité d’un effort produit par un outil, par exemple une tête de fraisage, sur un support.
Aussi, il existe le besoin d’un support de mesure adapté pour déterminer à la fois l’intensité d’un effort appliqué et la position d’application de cet effort sur le support.
On propose un support de mesure, en particulier un support de mesure pour pièce à usiner, comprenant au moins un capteur de force apte à être monté en position fixe sur une embase et un plateau, en particulier adapté pour recevoir la pièce à usiner, reposant sur ledit capteur de force, ledit capteur de force comprenant un corps d’épreuve comportant au moins une portion longitudinale apte à se déformer sous l’effet d’une force, s’étendant selon un axe parallèle au plateau, et deux retours opposés l’un à l’autre par rapport à ladite portion longitudinale, le premier retour étant destiné à être monté en position fixe sur l’embase tandis que le plateau repose, en particulier est monté en position fixe, sur le deuxième retour, le capteur de force comprenant en outre un dispositif électronique installé sur une face de ladite portion longitudinale du corps d’épreuve, comprenant : un premier circuit apte à générer un signal de mesure lorsqu’une force est appliquée sur le plateau, un deuxième circuit apte à générer un signal de mesure en fonction d’un moment de ladite force appliquée par rapport à l’axe de la portion longitudinale, et un troisième circuit apte à générer un signal de mesure en fonction d’un autre moment de ladite force appliquée par rapport à un autre axe dans lequel ladite portion longitudinale est apte à se déformer.
Ainsi, on obtient un dispositif apte à mesurer à la fois l’intensité de l’effort appliqué sur le plateau et la position d’application de l’effort sur le plateau de manière relativement précise.
Avantageusement et de manière non limitative, le premier circuit comprend un montage en pont complet de jauges de déformation. Ainsi, la force appliquée sur le plateau peut être déterminée de manière relativement fiable et peu coûteuse.
Avantageusement et de manière non limitative, le deuxième circuit et/ou le troisième circuit comprennent un montage en demi pont de jauges de déformation. Ainsi, on peut déterminer un premier moment, en particulier le moment de l’axe de la portion longitudinale, de manière fiable et peu coûteuse.
Avantageusement et de manière non limitative, ledit autre axe dans lequel ladite portion longitudinale est apte à se déformer s’étend perpendiculairement audit axe de la portion longitudinale et parallèlement audit plateau. Ainsi, on peut déterminer un autre moment, en particulier un moment perpendiculaire à l’axe de la portion longitudinale, de manière fiable et peu coûteuse.
En particulier lorsque les premier, deuxième et troisième circuits sont composés respectivement d’un montage en pont complet, d’un montage en demi-pont et d’un autre montage en demi-pont, on peut mesurer de manière relativement fiable et peu coûteuse, l’intensité d’un effort et la position de cet effort exercé sur le plateau du support.
Avantageusement et de manière non limitative, le support comprend quatre capteurs de force sur lesquels repose le plateau. Ainsi il est possible de mesurer et de déterminer la position d’efforts appliqués sur un plateau de relativement grande dimension. En particulier les quatre capteurs sont installés aux voisinages des coins du plateau lorsque ce plateau est sensiblement rectangulaire ou carré.
Avantageusement et de manière non limitative, le support comprend un autre dispositif électronique, similaire audit un dispositif électronique, installé sur une face perpendiculaire à la face sur laquelle ledit dispositif électronique est installé. Ainsi, on peut en outre mesurer le couple appliqué sur le corps d’épreuve. L’invention concerne aussi un procédé de mesure d’une force appliquée sur un plateau d’un support de mesure tel que décrit précédemment et de détermination de la position d’exercice de la force sur ledit plateau, comprenant une étape d’étalonnage au cours de laquelle on applique successivement une pluralité de forces sur le plateau en des endroits distincts, et au cours de laquelle on mesure les signaux générés par le premier circuit, le deuxième circuit et le troisième circuit, de sorte à déterminer des paramètres permettant d’estimer la position et la valeur de forces appliquées sur le plateau.
Avantageusement et de manière non limitative, le procédé comprend une étape de mesure et de détermination de la position d’exercice d’une force sur le plateau du support en fonction des signaux générés par le premier circuit, le deuxième circuit et le troisième circuit et des paramètres déterminés lors de l’étape d’étalonnage. L’invention concerne aussi un organe de mesure et de détermination de la position d’une force apte à mettre en oeuvre un procédé tel que décrit précédemment. L’invention concerne aussi un ensemble d’usinage de pièces comprenant un support de mesure pour pièce à usiner tel que décrit précédemment et un organe de mesure et de détermination de la position d’application d’une force tel que décrit précédemment, de telle sorte que lorsqu’un outil d’usinage produit une force sur le plateau du support, l’organe de mesure et de détermination est apte à mesurer et à déterminer la position de la force appliquée sur ledit plateau.
Cependant l’invention ne se limite pas à ce domaine particulier. Un support selon l’invention peut être installé par exemple pour des plateformes de pesées, par exemple pour la pesée de véhicules avec répartition de la masse par essieu, ou encore dans le domaine médical afin de déterminer le centre de gravité d’un patient, par exemple en posturologie, ou encore pour la détection de frappes sur un clavier d’ordinateur formé d’un support selon l’invention. D’autres particularités et avantages de l’invention ressortiront à la lecture de la description faite ci-après d’un mode de réalisation particulier de l’invention, donné à titre indicatif mais non limitatif, en référence aux dessins annexés sur lesquels : - la figure 1 est une vue en perspective d’un support selon un mode de réalisation de l’invention ; - la figure 2 est une vue d’une portion longitudinale du corps d’épreuve du capteur de force du support selon le mode de réalisation de la figure 1 ; - la figure 3 est un schéma électrique du dispositif électronique du capteur de force du support selon le mode de réalisation de la figure 1.
Dans un premier mode de réalisation en référence à la figure 1, un support 1 de mesure comprend un capteur de force 2 monté en position fixe sur une embase 4 et un plateau 3.
Le plateau 3 est dans ce mode de réalisation destiné à supporter une pièce à usiner, par exemple en vue d’un fraisage ou d’un perçage.
Aussi, le plateau 3 est rigide et définit une surface plane.
Le plateau est maintenu à distance de l’embase 4 par le capteur de force 2.
Le capteur de force 2 est adapté pour mesurer un effort exercé sur le plateau 3 et pour déterminer la position d’application de cet effort sur le plateau 3.
On entend par la notion d’effort, toute force appliquée sur le plateau 3, par exemple le poids d’un objet posé sur le plateau 3 ou toute force exercée sur le plateau 3, directement ou par l’intermédiaire d’un autre objet.
Le capteur de force 2 comprend un corps d’épreuve 6 et un dispositif électronique 20 installé sur le corps d’épreuve 6.
Le corps d’épreuve 6 présente une portion longitudinale 7 et de deux retours 8, 9 opposés l’un de l’autre par rapport à la portion longitudinale 7.
Les deux retours 8, 9 sont opposés dans la direction longitudinale de la portion longitudinale 7, et sont aussi opposés par rapport à un plan moyen, dans lequel s’étend l’axe X de la portion longitudinale 7. Autrement dit, lorsque la portion longitudinale 7 s’étend sensiblement horizontalement, alors un retour 8 s’étend sous la portion longitudinale 7 alors que l’autre retour 9 s’étend au dessus de la portion longitudinale 7, chacun à une extrémité longitudinale.
Le corps d’épreuve 6 est destiné à être déformé sous l’effet d’un effort appliqué sur le plateau 3, et cette déformation est mesurée par le dispositif électronique 20 configuré de sorte qu’il est apte à déterminer l’intensité de l’effort et la position de l’effort sur le plateau 3.
La portion longitudinale 7 présente une section droite sensiblement carrée. Selon une alternative la portion longitudinale 7 peut présenter une section droite rectangulaire, toute section droite polygonale ou encore circulaire. Cependant, pour simplifier l’installation et la configuration du dispositif électronique 20 sur le corps d’épreuve, on préfère une portion longitudinale 7 présentant au moins une partie plane 7’, parallèle au plateau 3 suffisamment étendue pour recevoir le dispositif électronique 20.
Ici, la partie plane 7’ est une face plane 7’ de la portion longitudinale 7 en regard du plateau 3.
En particulier, le corps d’épreuve 6 est installé sur l’embase 4 de telle sorte que la portion longitudinale 7 s’étend sensiblement parallèlement au plateau 3.
Les deux retours 8, 9 sont fixés chacun à une extrémité de la portion longitudinale 7.
Les deux retours 8, 9 peuvent être obtenus d’une pièce avec la portion longitudinale 7, mais ils peuvent aussi être obtenus séparément de la portion longitudinale 7 avant d’y être monté en fixation.
Ici, les deux retours 8, 9 présentent chacun une section droite sensiblement carrée. Selon une alternative les deux retours 8, 9 peuvent présenter chacun une section droite rectangulaire, toute section droite polygonale ou encore circulaire, identiques l’une de l’autre ou bien encore différentes.
Avantageusement, les deux retours 8, 9 présentent une section droite similaire à la section droite de la portion longitudinale 7, ce qui simplifie la fabrication du corps d’épreuve 6.
Chaque retour 8, 9 forme un angle sensiblement perpendiculaire à ladite portion longitudinale 7.
Un premier retour 8 est monté en position fixe sur l’embase 4, et est solidaire de la portion longitudinale 7 de sorte que toute la portion longitudinale 6 repose sur ce premier retour 8.
Un deuxième retour 9 est solidaire de la portion longitudinale 7, et s’étend en direction du plateau 3, de sorte que le plateau 3 repose sur le deuxième retour 9.
Dans ce mode de réalisation, le support 1 ne comprend qu’un capteur d’effort 2, et le plateau 3 repose uniquement sur ce capteur d’effort 2, plus précisément sur le deuxième retour 9 du capteur d’effort 2.
Le dispositif électronique 20 est installé sur la face plane 7’ de la portion longitudinale 7 du corps d’épreuve 6.
Le dispositif électronique 20 comprend un circuit imprimé 21 longitudinal, s’étendant dans la longueur de la portion longitudinale, sur lequel sont installés un premier circuit 30, un deuxième circuit 31 et un troisième circuit 32.
Le premier circuit 30 est apte à générer un signal de mesure lorsqu’une force est appliquée sur le plateau 3.
Le premier circuit 30 comprend un montage 30 en pont de Wheatstone de quatre jauges de déformation R1, R2, R3, R4. Autrement dit, le premier circuit 30 comprend quatre jauges de déformation R1, R2, R3, R4, montées ensemble selon un schéma bien connu de l’homme du métier, dit montage en pont de Wheatstone complet, généralement dit montage en pont complet.
Par soucis de lisibilité, on se référera dans la suite de la description aux jauges de déformations comme étant simplement des jauges.
Les jauges de déformation R1, R2, R3, R4 du premier montage en pont complet 30 sont appariées deux à deux, de sorte qu’une première paire de jauges R1, R3 est opposée à la deuxième paire de jauges R2, R4 dans la longueur du circuit imprimé 21. Chaque paire de jauges R2, R4 et R1, R3 sont installées chacune au voisinage des extrémités longitudinales du circuit imprimé 21.
Les variations de la tension mesurée S1 au centre du pont complet, en référence à la figure 3, représentant la variation des jauges de déformation R1, R2, R3, R4, permettent de déterminer la valeur de l’effort appliqué sur le corps d’épreuve 6 au niveau de la face plane 7’ de la portion longitudinale 7, et par conséquent, sur le plateau 3 reposant sur le deuxième retour 9 du corps d’épreuve 6.
La tension mesurée S1 au centre du pont complet correspond à la différence de potentiels mesurés respectivement à la jonction entre une première jauge R1 de la première paire de jauges R1 ,R3 et une première jauge R2 de la deuxième paire de jauges R2,R4 et à la jonction entre une deuxième jauge R3 de la première paire de jauges R1 ,R3 et une deuxième jauge R4 de la deuxième paire de jauges R2,R4.
Le deuxième circuit 31 est un circuit apte à générer un signal de mesure en fonction d’un moment de l’effort appliqué sur le plateau par rapport à l’axe X de la portion longitudinale 7.
Le deuxième circuit 31 comprend un montage 31 en demi-pont de Wheatstone, formé de deux jauges de déformations R9, R10. Le demi-pont de Wheatstone est complété par deux jauges R1, R3 issues du premier pont complet 30. Les deux jauges complétant le demi-pont correspondent aux deux jauges R1, R3 les plus éloignées du deuxième retour 9 du corps d’épreuve, de sorte que ces deux jauges R1, R3, ici la première paire de jauges R1, R3, correspondent au jauges du pont complet les moins mobilisées lorsqu’un effort est transmis du plateau 3 au corps d’épreuve 6 par le deuxième retour 9.
Les deux jauges R9, R10 du deuxième circuit 31 sont installées côte à côte, sensiblement perpendiculairement l’une par rapport à l’autre. Une première jauge R9 étant orientée de manière similaire aux jauges R1, R2, R3, R4 du premier circuit 30 et une deuxième jauge R10 étant orientée de manière perpendiculaire aux jauges R1, R2, R3, R4 du premier circuit 30.
On mesure une tension S3 correspondant à la différence de potentiels mesurés entre respectivement la jonction entre la deuxième jauge R3 de la première paire de jauges R1, R3 du premier circuit 30 et la deuxième jauge R4 de la deuxième paire de jauges R2, R4 du premier circuit 30, et la jonction entre les deux jauges R9, R10 du deuxième circuit.
Les variations de la tension S3 permettent ainsi de détecter d’un moment de l’effort appliqué sur le plateau par rapport à l’axe X de la portion longitudinale 7.
Le troisième circuit 32 est un circuit apte à générer un signal de mesure en fonction d’un autre moment de ladite force appliquée par rapport à un autre axe Y dans lequel ladite portion longitudinale 7 est apte à se déformer.
Ici, l’autre axe Y est l’axe perpendiculaire à l’axe X de la portion longitudinale 7 formant un plan parallèle au plan de la partie plane 7’ de la portion longitudinale 7.
Le troisième circuit 32 comprend un montage 32 en demi-pont de Wheatstone formé de deux jauges de déformations R5, R6. De la même manière que pour le deuxième circuit 31, le demi-pont de Wheatstone du troisième circuit 32 est complété par deux jauges R1, R3 issues du premier pont complet 30. Les deux jauges complétant le demi-pont correspondent aux deux jauges R1, R3 les plus éloignées du deuxième retour 9 du corps d’épreuve, de sorte que ces deux jauges R1, R3, ici la première paire de jauges R1, R3, correspondent au jauges du pont complet les moins mobilisées lorsqu’un effort est transmis du plateau 3 au corps d’épreuve 6 par le deuxième retour 9.
Les deux jauges de déformation R5, R6 du demi-pont du troisième circuit 32 sont disposées de sorte à former un angle l’une par rapport à l’autre égal à 90°. Ces deux jauges de déformation R5, R6 sont en outre disposées de manière à former chacune un angle de 45° par rapport à direction longitudinale de la portion longitudinale 7.
On mesure une tension S2 correspondant à la différence de potentiels mesurés entre respectivement la jonction entre la deuxième jauge R3 de la première paire de jauges R1, R3 du premier circuit 30 et la deuxième jauge R4 de la deuxième paire de jauges R2, R4 du premier circuit 30, et la jonction entre les deux jauges R5, R6 du deuxième circuit.
Les variations de la tension S2 permettent de détecter le moment d’une force appliquée par rapport à l’axe Y perpendiculaire à l’axe X de la portion longitudinale 7 formant un plan parallèle au plan de la partie plane 7’ de la portion longitudinale 7.
Le deuxième circuit 31 et le troisième circuit 32 sont installés sur le circuit imprimé 21, au voisinage de la deuxième paire de jauges R2, R4. Autrement dit on installe le deuxième circuit 31 et le troisième circuit 32 sur le circuit imprimé 21 de sorte à les rapprocher du deuxième retour 9 sur lequel repose le plateau. En effet, plus on rapproche les circuits du deuxième retour 9 sur la portion transversale 7, plus la déformation liée à un effort appliqué sur le plateau 3 sera importante, et à contrario, plus le circuit sera rapproché du premier retour 8 solidaire de l’embase 4, donc au voisinage de la première paire de jauges R1, R3, moins les jauges de déformations seront sensibles à un effort produit sur le plateau 3.
Le support 1 comprend en outre un organe apte à mettre en oeuvre un procédé de mesure d’une force appliquée sur le plateau 3 et de détermination de la position d’application de la force sur le plateau 3.
Cet organe, non représenté, comprend par exemple un microprocesseur, une mémoire et des entrées-sorties aptes à communiquer avec les trois circuits 30, 31, 32 du capteur de force 2.
Le procédé comprend une première étape d’étalonnage au cours de laquelle on applique successivement une pluralité de forces sur le plateau 3 en des endroits distincts prédéterminés, par exemple entre dix et cent applications de forces sur le plateau 3, et en ce qu’on mesure les signaux générés par le premier circuit 30, le deuxième circuit 31 et le troisième circuit 32, de sorte à déterminer des paramètres a1, b1, c1, a2, b2, c2, a3, b3, c3, d1, d2, d3 permettant d’estimer la position et la valeur de forces appliquées sur le plateau.
Ces paramètres a1, b1, c1, a2, b2, c2, a3, b3, c3, d1, d2, d3 permettant de résoudre l’équation suivante :
Dans laquelle F est l’intensité de la force appliquée sur le plateau, F.x la projection de cette intensité de force sur l’axe X de la portion longitudinale 7, et F.y la projection de cette intensité de force sur l’axe Y perpendiculaire à l’axe X de la portion longitudinale 7 et formant avec cet axe X un plan parallèle au plan de la partie plane 7’ de la portion longitudinale 7.
Une fois ces paramètres a1, b1, c1, a2, b2, c2, a3, b3, c3, d1, d2, d3 déterminés, on peut réorganiser ces équations, par des méthodes mathématiques connus de l’homme du métier de manière à isoler les valeurs F, x et y de sorte à obtenir des équations de la forme :
Dans lesquels A1, B1, C1, A2, B2, C2, A3, B3, C3 sont d’autres paramètres fonction des paramètres a1, b1, c1, a2, b2, c2, a3, b3, c3, d1, d2, d3 déterminés lors de l’étalonnage, et F correspond à l’intensité de la force appliquée sur le plateau 3, Xf et YF les coordonnées de la force appliquée sur le plateau, par rapport à une position de référence.
Ainsi, une fois ces autres paramètres déterminés, on peut, en fonction des tensions S1, S3, S2 respectivement des premier 30, deuxième 31 et troisième 32 circuits déterminer l’intensité et la position d’un effort appliqué sur le plateau 3.
Dans un deuxième mode de réalisation, non représenté, on installe un deuxième dispositif électronique, identique au premier dispositif électronique 20, sur une face de la portion longitudinale 7 du corps d’épreuve 6, perpendiculaire à la face plane 7’ sur laquelle est installée sur premier dispositif électronique 20. Ce deuxième dispositif électronique, comprend un autre circuit imprimé longitudinal s’étendant dans la longueur de la portion longitudinale 7. Ainsi, avec ce deuxième dispositif électronique, on peut déterminer en outre le couple appliqué sur le corps d’épreuve 6.
Dans un troisième mode de réalisation, le plateau 3 présente une aire importante, ne permettant pas de le fixer uniquement à un seul capteur de force. A cet effet, on installe plusieurs capteurs de forces répartis sous le plateau. En particulier, dans le cadre d’un plateau 3 de forme sensiblement rectangulaire ou carré, on installera un capteur de force au voisinage de chaque coin du plateau 3. Cependant l’invention n’est pas limitée à ce nombre précis de capteur et il est possible de prévoir plus ou moins de capteurs de force selon l’invention en fonction des dimensions et de la forme du plateau du support.

Claims (10)

  1. REVENDICATIONS
    1. Support de mesure (1) comprenant au moins un capteur de force (2) apte à être monté en position fixe sur une embase (4) et un plateau (3) reposant sur ledit capteur de force (2), ledit capteur de force (2) comprenant un corps d’épreuve (6) comportant au moins une portion longitudinale (7) apte à se déformer sous l’effet d’une force, s’étendant selon un axe (X) parallèle au plateau (3), et deux retours (8, 9) opposés l’un à l’autre par rapport à ladite portion longitudinale (7), le premier retour (8) étant destiné à être monté en position fixe sur l’embase (4) tandis que le plateau (3) repose sur le deuxième retour (9), le capteur de force (2) comprenant en outre un dispositif électronique (20) installé sur une face (7’) de ladite portion longitudinale (7) du corps d’épreuve (6), comprenant : - un premier circuit (30) apte à générer un signal de mesure lorsqu’une force est appliquée sur le plateau (3), - un deuxième circuit (31) apte à générer un signal de mesure en fonction d’un moment de ladite force appliquée par rapport à l’axe (X) de la portion longitudinale (7), et - un troisième circuit (32) apte à générer un signal de mesure en fonction d’un autre moment de ladite force appliquée par rapport à un autre axe (Y) dans lequel ladite portion longitudinale (7) est apte à se déformer.
  2. 2. Support de mesure selon la revendication 1, dans lequel le premier circuit (30) comprend un montage en pont complet de jauges de déformation.
  3. 3. Support de mesure selon la revendication 1 ou 2, dans lequel le deuxième circuit (31) et/ou le troisième circuit (32) comprennent un montage en demi-pont de jauges de déformation.
  4. 4. Support de mesure selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel ledit autre axe (Y) dans lequel ladite portion longitudinale (7) est apte à se déformer s’étend perpendiculairement audit axe (X) de la portion longitudinale (7) et parallèlement audit plateau (3).
  5. 5. Support de mesure selon l’une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce qu’il comprend 4 capteurs de force (2) sur lesquels repose le plateau (3).
  6. 6. Support de mesure selon l’une quelconque des revendications 1 à 5, comprenant un autre dispositif électronique, similaire audit dispositif électronique (20), installé sur une face perpendiculaire à la face (T) sur laquelle ledit dispositif électronique (20) est installé.
  7. 7. Procédé de mesure d’une force appliquée sur un plateau d’un support de mesure selon l’une quelconque des revendications précédentes et de détermination de la position d’exercice de la force sur ledit plateau (3), comprenant une étape d’étalonnage au cours de laquelle on applique successivement une pluralité de forces sur le plateau (3) en des endroits distincts, et au cours de laquelle on mesure les signaux générés par le premier circuit (30), le deuxième circuit (31) et le troisième circuit (32), de sorte à déterminer des paramètres (a1, b1, ci, a2, b2, c2, a3, b3, c3, d1, d2, d3) permettant d’estimer la position et la valeur de forces appliquées sur le plateau (3).
  8. 8. Procédé selon la revendication 7, caractérisé en ce qu’il comprend une étape de mesure et de détermination de la position (Xf,Yf) d’exercice d’une force sur le plateau (3) du support (1) en fonction des signaux générés par le premier circuit (30), le deuxième circuit (31) et le troisième circuit (32) et des paramètres (a1, b1, c1, a2, b2, c2, a3, b3, c3, d1, d2, d3) déterminés lors de l’étape d’étalonnage.
  9. 9. Organe de mesure et de détermination de la position d’une force apte à mettre en oeuvre un procédé selon la revendication 7 ou 8.
  10. 10. Ensemble d’usinage de pièces comprenant un support de mesure (1) pour pièce à usiner selon l’une quelconque des revendications 1 à 6 et un organe de mesure et de détermination de la position d’une force selon la revendication 9, de telle sorte que lorsqu’un outil d’usinage produit une force sur le plateau (3) du support (1), l’organe de mesure et de détermination est apte à mesurer et à déterminer la position de la force appliquée sur ledit plateau (3).
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP0317429A1 (fr) * 1987-11-20 1989-05-24 Seb S.A. Procédé pour étalonner des appareils de mesure de force ou de moment et appareils s'y rapportant
EP0852329A1 (fr) * 1997-01-07 1998-07-08 Seb S.A. Appareil de pesage à clavier intégré au plateau

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