FR3046248A1

FR3046248A1 -

Info

Publication number: FR3046248A1
Application number: FR1662946A
Authority: FR
Inventors: Ki-Man Kim; Hyun-Ho Jang; Jae-Bong Jung
Original assignee: Mando Hella Electronics Corp
Current assignee: HL Klemove Corp
Priority date: 2015-12-23
Filing date: 2016-12-20
Publication date: 2017-06-30
Anticipated expiration: 2036-12-20
Also published as: FR3046248B1; KR101751310B1; US20170184652A1; US10627438B2

Abstract

L'invention concerne un système de détection de défauts de circuit et un procédé permettant la détection de défauts de circuit. Un système de détection de défauts de circuit (1000) comprend : un circuit de détection comprenant une diode (D1), une première résistance (R1) et une deuxième résistance (R2), qui sont positionnées entre une source de tension appliquée (V2) et une partie supérieure d'un circuit cible de détection (1) en série, et une troisième résistance (R3) et une quatrième résistance (R4), qui sont positionnées entre le circuit cible de détection (1) et une terre en série, une unité d'entrée (10) comprenant un premier terminal d'entrée configuré pour recevoir une tension mesurée entre la première résistance (R1) et la deuxième résistance (R2) en tant qu'entrée, et un second terminal d'entrée configuré pour recevoir une tension mesurée entre la troisième résistance (R3) et la quatrième résistance (R4) en tant qu'entrée, un contrôleur (100) configuré pour détecter un défaut dans le circuit cible de détection (1) et dans un fonctionnement du circuit cible de détection (1) sur la base de valeurs des tensions détectées par l'unité d'entrée, et une unité d'affichage (400) configurée pour fournir un avertissement à un utilisateur lorsque le défaut est détecté.

Description

SYSTEME DE DETECTION DE DEFAUTS DE CIRCUIT ET PROCEDE DE

COMMANDE ASSOCIE

REFERENCE CROISEE A UNE DEMANDE ASSOCIEE

La présente demande revendique le bénéfice de la demande de brevet coréen n° 2015-0184926, déposée le 23 décembre 2015 à l’Office de la propriété intellectuelle coréen.

CONTEXTE 1. Domaine

Les modes de réalisation de la présente invention concernent un système permettant de détecter une erreur pouvant se produire dans un circuit, ainsi qu’un procédé de commande associé. 2. Description de l’art connexe

En général, il n’est pas facile pour un système de circuit intégré (CI) de détecter des erreurs présentes à l’intérieur de celui-ci.

Par exemple, lorsqu’une température de fonctionnement dans un CI ou une tension d’alimentation électrique change de manière significative ou lorsqu’un court-circuit à la terre, une connexion électrique, ou un phénomène de circuit ouvert a lieu à l’intérieur du circuit, un défaut se produit.

Etant donné qu’un défaut se produit de manière continue lorsqu’une pièce dans laquelle un problème survient n’est pas contrôlée rapidement quand le défaut se produit, les circuits utilisés dans une famille de produits à haut risque comme les voitures peuvent entraîner des dommages matériels ou corporels en raison d’un tel défaut.

De plus, les recherches concernant un procédé de commande pour la détection d’une erreur dans un circuit à moindre coût avancent de manière continue, comme un cas dans lequel un système de détection d’erreurs de circuit est garanti en utilisant un schéma de circuit composé uniquement de résistances qui sont des éléments passifs, à l’exception des diodes, afin de détecter un défaut qui sont des éléments passifs, à l’exception des diodes, afin de détecter un défaut dans un circuit.

RESUME

Selon un mode de réalisation de la présente invention, lorsque des erreurs de circuit sont détectées, un circuit composé uniquement de résistances qui sont des éléments passifs, à l’exception des diodes, est utilisé de façon à permettre la détection d’erreurs de circuit à moindre coût.

De plus, le système de détection de défauts de circuit et le procédé permettant la détection de défauts de circuit selon les modes de réalisation peuvent détecter divers dysfonctionnements en attribuant des valeurs de résistance sans chevaucher les valeurs de tension des nœuds d’entrée lorsque les conditions pour de possibles erreurs sont classifiées.

De plus, selon un mode de réalisation de la présente invention, une possibilité d’occurrence d’erreur est déterminée en attendant des données concernant de possibles erreurs dans des étapes, et des données concernant une erreur qui s’est produite sont obtenues.

De plus, selon un mode de réalisation de la présente invention, lorsque les conditions pour de possibles erreurs sont classifiées, des valeurs de résistance sont attribuées sans chevaucher les valeurs de tension des nœuds d’entrée, de sorte que divers dysfonctionnements soient détectés.

Selon un aspect de la présente invention, un système de détection de défauts de circuit comprend : un circuit de détection comprenant une diode, une première résistance et une deuxième résistance, qui sont positionnées entre une source de tension appliquée et une partie supérieure d’un circuit cible de détection en série, et une troisième résistance et une quatrième résistance, qui sont positionnées entre le circuit cible de détection et une terre en série ; une unité d’entrée comprenant un premier terminal d’entrée configuré pour recevoir une tension mesurée entre la première résistance et la deuxième résistance en tant qu’entrée, et un second terminal d’entrée configuré pour recevoir une tension mesurée entre la troisième résistance et la quatrième résistance en tant qu’entrée ; un contrôleur configuré pour détecter un défaut dans le circuit cible de détection et dans un fonctionnement du circuit cible de détection sur la base de valeurs des tensions détectées par l’unité d’entrée ; et une unité d’affichage configurée pour fournir un avertissement à un utilisateur lorsque le défaut est détecté.

Les première à quatrième résistances du circuit de détection peuvent avoir des valeurs supérieures aux valeurs de résistance équivalentes du circuit cible de détection.

Le contrôleur peut comprendre des données d’erreur qui se produisent dans au moins un du circuit cible de détection ou du fonctionnement du circuit cible de détection sur la base des valeurs des tensions détectées par l’unité d’entrée.

Le contrôleur peut contrôler les données d’erreur à afficher à l’utilisateur lorsqu’un défaut correspondant aux données d’erreur est détecté.

Un défaut qui se produit dans le circuit cible de détection peut être l’un parmi un circuit ouvert dans le circuit cible de détection, un court-circuit à la batterie et un court-circuit à la terre.

Selon un autre aspect de la présente invention, un procédé de commande de détection de défauts de circuit comprend : dans un circuit de détection comprenant une diode, une première résistance et une deuxième résistance, qui sont positionnées entre une source de tension appliquée et une partie supérieure d’un circuit cible de détection en série, et une troisième résistance et une quatrième résistance, qui sont positionnées entre le circuit cible de détection et une terre en série, la mesure d’une première tension entre la première résistance et la deuxième résistance ; la mesure d’une seconde tension entre la troisième résistance et la quatrième résistance ; la détection d’un défaut dans le circuit cible de détection et dans un fonctionnement du circuit cible de détection sur la base d’une valeur de la première tension mesurée et d’une valeur de la seconde tension mesurée ; et la fourniture d’un avertissement à un utilisateur lorsque le défaut est détecté.

Le défaut dans le circuit cible de détection peut comprendre un circuit ouvert dans le circuit cible de détection, un court-circuit à la batterie et un court-circuit à la terre.

Le procédé peut en outre comprendre la mesure d’une valeur de tension au niveau d’une partie supérieure du circuit cible de détection et d’une valeur de tension au niveau d’une partie inférieure de celui-ci afin de détecter une erreur dans le fonctionnement du circuit cible de détection.

BREVE DESCRIPTION DES DESSINS

Ces et/ou d’autres aspects de l’invention ressortiront plus clairement à la lecture de la description suivante des modes de réalisation, faite en référence aux dessins annexés parmi lesquels :

La Figure 1 est un diagramme schématique illustrant un circuit de détection permettant de détecter un défaut de circuit selon un mode de réalisation de la présente invention.

La Figure 2 est un schéma de principe d’un système de détection de défauts de circuit.

La Figure 3 est un tableau illustrant les conditions de surveillance selon un mode de réalisation de la présente invention.

La Figure 4 est un tableau stocké dans l’unité de commande électronique afin de détecter des informations de défaut détaillées dans le circuit cible de détection.

La Figure 5 est un organigramme illustrant un procédé de commande du système de détection de défauts de circuit.

DESCRIPTION DETAILLEE

Ci-après, les modes de réalisation de la présente invention seront décrits en détail en référence aux dessins annexés. Les modes de réalisation suivants sont fournis pour faire comprendre pleinement la portée de la présente invention à l’homme du métier. La présente invention ne se limite pas uniquement aux modes de réalisation fournis dans les présentes, et peut être réalisée sous différentes formes. Les parties sans rapport avec la description seront omises dans les dessins afin d’expliquer clairement la présente invention, et les dimensions des composants pourront être légèrement exagérées afin d’aider à la compréhension de la présente invention.

Tout d’abord, la Figure 1 est un diagramme schématique illustrant un circuit de détection permettant de détecter un défaut de circuit selon un mode de réalisation de la présente invention, et la Figure 2 est un schéma de principe d’un système de détection de défauts de circuit comprenant une première unité d’entrée et une seconde unité d’entrée du circuit de détection de la Figure 1.

Comme illustré sur la Figure 1, un circuit cible de détection peut être positionné dans un rectangle 1 indiqué par une ligne pointillée. De manière spécifique, le circuit cible de détection 1 peut être positionné au niveau d’une tension d’alimentation électrique VI appliquée au circuit cible de détection 1 et Rl indiquée en tant que résistance équivalente dans le circuit cible de détection 1.

Le circuit cible de détection 1 peut comprendre un commutateur supérieur, qui est déconnecté de ou connecté à la tension d’alimentation électrique VI afin d’appliquer la tension d’alimentation électrique VI appliquée au circuit cible de détection 1, et un commutateur inférieur, qui est déconnecté de ou connecté à la terre.

Le circuit de détection selon la présente invention comprend une source de tension appliquée V2, une diode DI et quatre résistances.

Le terme « supérieur » se réfère à un côté plus proche de la source de tension appliquée V2, et le terme « inférieur » se réfère à un côté plus proche de la terre. De manière spécifique, la diode Dl, une première résistance Rl, une deuxième résistance R2 et une première unité d’entrée, qui mesure une valeur de tension entre la première résistance Rl et la deuxième résistance R2, peuvent être positionnées au niveau de la partie supérieure du circuit de détection.

Dans le cas ci-dessus, étant donné que la diode Dl est positionnée juste au-dessous de la source de tension appliquée V2, la tension d’alimentation électrique VI du circuit cible de détection 1 peut empêcher un courant de circuler vers la source de tension appliquée V2.

Ensuite, une troisième résistance R3, une quatrième résistance R4 et une seconde unité d’entrée, qui mesure une valeur de tension entre la troisième résistance R3 et la quatrième résistance R4, peuvent être positionnées au niveau de la partie inférieure du circuit de détection.

Les valeurs de tension mesurées dans la première unité d’entrée et la seconde unité d’entrée peuvent être transmises à une unité de commande électronique 100 illustrée sur la Figure 2, et l’unité de commande électronique 100 peut déterminer si une erreur existe dans le circuit cible de détection 1 sur la base des valeurs de tension reçues.

Ensuite, la Figure 2 est un schéma de principe d’un système de détection de défauts de circuit comprenant la première unité d’entrée et la seconde unité d’entrée du circuit de détection de la Figure 1.

Un tel système de détection de défauts de circuit 1000 comprend une unité d’entrée 10, l’unité de commande électronique 100, et une unité d’affichage 400, comme illustré sur la Figure 2. L’unité d’entrée 10, qui comprend la première unité d’entrée et la seconde unité d’entrée, transmet les valeurs de tension mesurées à l’unité de commande électronique 100.

De plus, l’unité d’entrée 10 peut comprendre une valeur de tension V+ mesurée au niveau d’un point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et une valeur de tension V- mesurée au niveau d’un point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur en tant que valeurs d’entrée afin de détecter un défaut dans un fonctionnement du circuit cible de détection 1.

Cela signifie que l’unité d’entrée 10 peut comprendre les valeurs de tension mesurées dans la première unité d’entrée, la seconde unité d’entrée, un nœud V+, et un nœud V- en tant que valeurs d’entrée.

Ensuite, l’unité de commande électronique 100 commande de manière collective le système de détection de défauts de circuit 1000 selon la présente invention.

De manière spécifique, l’unité de commande électronique 100 comprend un processeur principal 200, qui détermine si un défaut existe dans le circuit cible de détection 1 ou le fonctionnement du circuit cible de détection 1 sur la base des valeurs de tension reçues, et une mémoire 300 qui stocke divers types de données.

Le processeur principal 200 détermine si un défaut existe dans le circuit cible de détection 1 ou le fonctionnement du circuit cible de détection 1 sur la base des conditions d’erreur illustrées sur les Figures 3 et 4.

Ensuite, la mémoire 300 stocke un programme et des données du système de détection de défauts de circuit 1000 selon la présente invention.

De manière spécifique, la mémoire 300 peut comprendre une mémoire volatile comme une mémoire vive statique (SRAM) et une mémoire vive dynamique (DRAM), et une mémoire non volatile comme une mémoire flash, une mémoire morte (ROM), une mémoire morte effaçable et programmable (EPROM) et une mémoire morte effaçable et programmable électriquement (EEPROM).

La mémoire non volatile peut stocker de manière semi-permanente un programme de commande et des données de commande afin de commander un fonctionnement du système de détection de défauts de circuit 1000, et la mémoire volatile peut lire le programme de commande et les données de commande provenant de la mémoire non volatile afin de stocker temporairement le programme de commande et les données de commande lus, et peut stocker temporairement les valeurs de tension obtenues à partir de l’unité d’entrée 10 et divers types de signaux de commande émis depuis le processeur principal 200.

Par conséquent, la mémoire non volatile peut stocker de manière permanente les tableaux de détection d’erreur illustrés sur les Figures 3 et 4 afin de commander le fonctionnement du système de détection de défauts de circuit 1000.

De manière spécifique, la Figure 3 est un tableau illustrant les conditions de surveillance selon un mode de réalisation de la présente invention, et la Figure 4 est un tableau illustrant les conditions d’erreur détaillées selon un mode de réalisation de la présente invention.

Tout d’abord, la Figure 3 est un tableau stocké dans l’unité de commande électronique 100 afin de détecter des informations de défaut concernant la présence d’un circuit ouvert à l’intérieur du circuit cible de détection 1, d’un court-circuit à la batterie ou d’un court-circuit à la terre.

Comme illustré sur la Figure 3, la tension d’alimentation électrique VI peut être connectée au circuit de détection alors que la tension d’alimentation électrique VI n’est pas appliquée afin de détecter un défaut dans le circuit cible de détection 1, et dans ce cas, il est possible de déterminer si un défaut existe dans le circuit cible de détection 1 sur la base des valeurs de tension mesurées dans la première unité d’entrée et la seconde unité d’entrée.

Par exemple, comme illustré sur la Figure 3, dans un cas où la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est V2 [v] et la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est 0 [v], il peut être déterminé qu’une erreur s’est produite, dans laquelle l’intérieur du circuit cible de détection 1 est déconnecté, c’est-à-dire ouvert.

De plus, par exemple, comme illustré sur la Figure 3, dans un cas où la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est VI [v] et la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est la même VI [v], il peut être déterminé qu’une erreur s’est produite, dans laquelle l’intérieur du circuit cible de détection 1 est connecté à une batterie, qui est une tension appliquée.

En outre, par exemple, comme illustré sur la Figure 3, dans un cas où la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est {R2/(R1+R2)}*V2 [v] et la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est 0 [v], il peut être déterminé qu’une erreur s’est produite, dans laquelle l’intérieur du circuit cible de détection 1 est connecté à la terre.

Comme illustré sur la Figure 3, dans un cas où la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est {(R2+R3+R4)/(R 1+R2+R3+R4)} *V2 [v] et la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est {R4/(R 1+R2+R3+R4)}*V2 [v], il peut être déterminé qu’aucune erreur ne s’est produite dans le circuit cible de détection 1.

Cela signifie que, comme illustré sur la Figure 3, le processeur principal 200 peut comparer les valeurs de tension reçues depuis la première unité d’entrée et la seconde unité d’entrée avec les conditions d’erreur de la Figure 3 afin de déterminer quel problème est survenu lorsqu’une erreur se produit dans le circuit cible de détection 1.

Ensuite, la Figure 4 est un tableau stocké dans l’unité de commande électronique 100 afin de détecter des informations de défaut détaillées pouvant se produire dans le circuit cible de détection 1.

Afin de détecter les informations de défaut détaillées pouvant se produire dans le circuit cible de détection 1, l’unité d’entrée 10 comprend la valeur de tension V+ mesurée au niveau d’un point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et la valeur de tension V- mesurée au niveau d’un point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur en plus des valeurs de tension mesurées dans la première unité d’entrée et la seconde imité d’entrée en tant que valeurs d’entrée.

Par exemple, comme illustré sur la Figure 4, lorsqu’une valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est V2 [v], une valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est 0 [v], Rl se réfère aux résistances équivalentes du circuit cible de détection 1 et il est déterminé que le circuit est déconnecté sur la base de la valeur de tension V+ mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et de la valeur de tension V— mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur, l’unité de commande électronique 100 peut déterminer qu’une erreur de circuit ouvert, comme une déconnexion de circuit (une charge ouverte), s’est produite pendant le fonctionnement du circuit cible de détection 1 indépendamment du fait de savoir si un circuit supérieur ou inférieur est déconnecté ou normal.

En outre, par exemple, comme illustré sur la Figure 4, lorsqu’une valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est V2 [v], une valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est 0 [v], Rl se réfère aux résistances équivalentes du circuit cible de détection 1 et il est déterminé que le circuit est déconnecté sur la base de la valeur de tension V+ mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et de la valeur de tension V- mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur, et même lorsqu’il est déterminé que le circuit supérieur est déconnecté ou normal et que le circuit inférieur est connecté à la terre sur la base des valeurs de tension mesurées, l’unité de commande électronique 100 peut déterminer qu’une erreur de circuit ouvert, comme une déconnexion de circuit (une charge ouverte), s’est produite pendant le fonctionnement du circuit cible de détection 1.

En outre, par exemple, comme illustré sur la Figure 4, lorsque la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est V2 [v], la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est {R4/(R3+R4)}*V1 [v], Rl se réfère aux résistances équivalentes du circuit cible de détection 1, il est déterminé que le circuit est déconnecté sur la base de la valeur de tension V+ mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et de la valeur de tension V- mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur, et il est déterminé que le circuit supérieur est déconnecté ou normal et que la valeur de tension mesurée au niveau du circuit inférieur est VI, l’unité de commande électronique 100 peut déterminer qu’une erreur de circuit ouvert, comme une déconnexion de circuit, s’est produite pendant le fonctionnement du circuit cible de détection 1 et qu’une erreur s’est produite, dans laquelle le circuit inférieur est connecté à VI, qui est une tension appliquée.

En outre, par exemple, comme illustré sur la Figure 4, lorsque la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est {R2/(R1+R2)}*V2 [v], la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est 0 [v], Rl se réfère aux résistances équivalentes du circuit cible de détection 1, il est déterminé que le circuit est déconnecté sur la base de la valeur de tension V+ mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et de la valeur de tension V— mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur, et il est déterminé que le circuit supérieur est connecté à la terre et que le circuit inférieur est déconnecté, est normal, ou est connecté à la terre, l’unité de commande électronique 100 peut déterminer qu’une erreur de circuit ouvert, comme une déconnexion de circuit, s’est produite pendant le fonctionnement du circuit cible de détection 1 et qu’une erreur, dans laquelle le circuit supérieur ou inférieur est connecté à la terre, s’est produite.

De plus, même lorsque la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est {R2/(R1+R2)}*V2 [v], la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est 0 [v], Rl se réfère aux résistances équivalentes du circuit cible de détection 1, il est déterminé que le circuit est normal sur la base de la valeur de tension V+ mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et de la valeur de tension V- mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur, et il est déterminé que le circuit supérieur est déconnecté ou normal et que le circuit inférieur est connecté à la terre, ou que le circuit supérieur est connecté à la terre ou que le circuit inférieur est déconnecté, est normal ou est connecté à la terre, l’unité de commande électronique 100 peut déterminer qu’une erreur de circuit ouvert, comme une déconnexion de circuit, s’est produite pendant le fonctionnement du circuit cible de détection 1 et qu’une erreur, dans laquelle le circuit supérieur ou inférieur est connecté à la terre, s’est produite.

En outre, par exemple, comme illustré sur la Figure 4, lorsque la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est {R2/(R1+R2)}*V2 [v], la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est {R4/(R3 +R4)}*V1 [v], Rl se réfère aux résistances équivalentes du circuit cible de détection 1, il est déterminé que le circuit est déconnecté ou normal sur la base de la valeur de tension V+ mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et de la valeur de tension V— mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur, et il est déterminé que le circuit supérieur est connecté à la terre et que le circuit inférieur est connecté à VI, l’unité de commande électronique 100 peut déterminer qu’une erreur s’est produite, dans laquelle le circuit supérieur est connecté à la terre et le circuit inférieur est connecté à V1.

Ensuite, lorsque la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est {(R2+R3+R4)/(R1+R2+R3+R4)}*V2 [v], la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est (R4/(R1+R2+R3+R4)}*V2 [v], Rl se réfère aux résistances équivalentes du circuit cible de détection 1, il est déterminé que le circuit est normal sur la base de la valeur de tension V+ mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et de la valeur de tension V- mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur, et il est déterminé que le circuit supérieur ou le circuit inférieur est déconnecté ou normal, l’unité de commande électronique 100 peut déterminer que le circuit cible de détection 1 fonctionne normalement.

En outre, par exemple, comme illustré sur la Figure 4, lorsque la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est VI [v], la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est 0 [v], Rl se réfère aux résistances équivalentes du circuit cible de détection 1, il est déterminé que le circuit est déconnecté sur la base de la valeur de tension V+ mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et de la valeur de tension V- mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur, et il est déterminé que le circuit supérieur est connecté à VI et que le circuit inférieur est déconnecté, est normal, ou est connecté à la terre, l’unité de commande électronique 100 peut déterminer qu’une erreur dans laquelle le circuit supérieur est connecté à VI s’est produite pendant le fonctionnement du circuit cible de détection 1 et qu’une erreur de circuit ouvert, comme une déconnexion de circuit, s’est produite ou qu’une erreur dans laquelle le circuit inférieur est connecté à la terre s’est produite.

En outre, par exemple, comme illustré sur la Figure 4, lorsque la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est VI [v], la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est 0 [v], Rl se réfère aux résistances équivalentes du circuit cible de détection 1, il est déterminé que le circuit est normal sur la base de la valeur de tension V+ mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et de la valeur de tension V- mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur, et il est déterminé que le circuit supérieur est connecté à VI et que le circuit inférieur est connecté à la terre, l’unité de commande électronique 100 peut déterminer qu’une erreur dans laquelle le circuit supérieur est connecté à VI ou le circuit inférieur est connecté à la terre s’est produite pendant le fonctionnement du circuit cible de détection 1.

En outre, par exemple, comme illustré sur la Figure 4, lorsque la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est VI [v], la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est {R4/(R3+R4)}*V1 [v], Rl se réfère aux résistances équivalentes du circuit cible de détection 1, il est déterminé que le circuit est déconnecté ou normal sur la base de la valeur de tension V+ mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et de la valeur de tension V- mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur, et il est déterminé que le circuit supérieur est connecté à VI et que le circuit inférieur est déconnecté, est normal, ou est connecté à VI, l’unité de commande électronique 100 peut déterminer qu’une erreur dans laquelle le circuit supérieur est connecté à VI s’est produite pendant le fonctionnement du circuit cible de détection 1.

En outre, finalement, comme illustré sur la Figure 4, lorsque la valeur de tension mesurée dans la première unité d’entrée est {R1/(R1+R2)}*V1 [v], la valeur de tension mesurée dans la seconde unité d’entrée est {R4/(R3+R4)} *V1 [v], Rl se réfère aux résistances équivalentes du circuit cible de détection 1, il est déterminé que le circuit est normal sur la base de la valeur de tension V+ mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessous du commutateur supérieur et de la valeur de tension V- mesurée au niveau du point de contact positionné au-dessus du commutateur inférieur, et il est déterminé que le circuit supérieur est déconnecté ou normal et que le circuit inférieur est connecté à VI, l’unité de commande électronique 100 peut déterminer qu’une erreur dans laquelle le circuit inférieur est connecté à VI s’est produite pendant le fonctionnement du circuit cible de détection 1.

Ainsi, comme illustré sur la Figure 4, étant donné que les erreurs pouvant se produire pendant le fonctionnement du circuit cible de détection 1 peuvent être catégorisées et stockées dans la mémoire 300 de l’unité de commande électronique 100, les causes de défauts dans le circuit cible de détection 1 peuvent facilement être trouvées sur la base des valeurs de tension obtenues à partir de la première unité d’entrée, de la seconde unité d’entrée, du nœud V+ et du nœud V-.

Par conséquent, l’unité de commande électronique 100 transmet le signal de commande à l’unité d’affichage 400 de sorte qu’un utilisateur puisse vérifier une cause d’un défaut sur la base des valeurs de tension obtenues.

Ensuite, l’unité d’affichage 400 peut afficher les valeurs de tension obtenues à partir de l’unité d’entrée 10 et les erreurs qui se sont produites dans le circuit cible de détection 1 de sorte que l’utilisateur puisse vérifier les valeurs de tension et les erreurs.

Une configuration du système de détection de défauts de circuit 1000 selon la présente invention a été décrite ci-dessus.

Ci-après, la Figure 5 est un organigramme illustrant un procédé de commande du système de détection de défauts de circuit 1000 selon la présente invention.

Tout d’abord, le système de détection de défauts de circuit 1000 selon la présente invention détermine si le circuit cible de détection 1 se trouve dans une étape de fonctionnement (S5). De manière spécifique, l’étape S5 se réfère à une étape consistant à détecter des erreurs comme une erreur de circuit ouvert dans le circuit cible de détection 1, une erreur de court-circuit à la batterie et une erreur de court-circuit à la terre alors qu’une tension d’alimentation électrique appliquée au circuit cible de détection 1 n’est pas appliquée.

Dans ce cas, lorsque les conditions d’erreur ne correspondent pas (« NON » dans l’étape S5), une étape consistant à détecter une erreur de charge commence afin de détecter une erreur de fonctionnement du circuit cible de détection 1 (S 10). A cette fin, le système de détection de défauts de circuit 1000 détecte les valeurs de tension dans les première et seconde unités d’entrée (S20).

Dans ce cas, lorsque les conditions d’erreur correspondent (« OUI » dans l’étape S5), le système de détection de défauts de circuit 1000 peut transmettre les informations d’erreur détectées à l’unité d’affichage 400 afin de fournir un avertissement à un utilisateur (S70).

Lorsqu’une erreur de charge n’est pas détectée, le système de détection de défauts de circuit 1000 selon la présente invention détermine que le circuit cible de détection 1 fonctionne normalement et permet au circuit cible de détection 1 d’entrer dans un état de fonctionnement (S40).

Comme il ressort de la description ci-dessus, le système de détection de défauts de circuit et le procédé permettant la détection de défauts de circuit selon les modes de réalisation peuvent détecter une erreur dans un circuit à moindre coût, comme un cas dans lequel un système de détection d’erreurs de circuit est garanti en utilisant un schéma de circuit composé uniquement de résistances qui sont des éléments passifs à l’exception des diodes.

De plus, le système de détection de défauts de circuit et le procédé permettant la détection de défauts de circuit selon les modes de réalisation peuvent effectuer des recherches concernant un procédé de commande pour la détection d’une erreur dans un circuit à moindre coût, comme un cas dans lequel un système de détection d’erreurs de circuit est garanti en utilisant un schéma de circuit composé uniquement de résistances qui sont des éléments passifs à l’exception des diodes afin de détecter un défaut dans un circuit, en avançant de manière continue.

De plus, le système de détection de défauts de circuit et le procédé permettant la détection de défauts de circuit selon les modes de réalisation peuvent déterminer une possibilité d’occurrence d’erreur en attendant des données concernant de possibles erreurs dans des étapes, et peuvent obtenir des données concernant une erreur qui s’est produite.

Alors que des exemples de modes de réalisation de la présente invention ont été illustrés et décrits ci-dessus, la présente invention ne se limite pas aux exemples de modes de réalisation spécifiques susmentionnés. L’homme du métier peut de diverses manières modifier la présente invention sans s’éloigner de l’essentiel de la présente invention revendiquée dans les revendications annexées, et de telles modifications sont comprises dans la portée des revendications.

Claims

REVENDICATIONS

1. Système de détection de défauts de circuit (1000) comprenant : un circuit de détection comprenant une diode (Dl), une première résistance (RI) et une deuxième résistance (R2), qui sont positionnées entre une source de tension appliquée (V2) et une partie supérieure d’un circuit cible de détection (1) en série, et une troisième résistance (R3) et une quatrième résistance (R4), qui sont positionnées entre le circuit cible de détection (1) et une terre en série ; une unité d’entrée (10) comprenant un premier terminal d’entrée configuré pour recevoir une tension mesurée entre la première résistance (RI) et la deuxième résistance (R2) en tant qu’entrée, et un second terminal d’entrée configuré pour recevoir une tension mesurée entre la troisième résistance (R3) et la quatrième résistance (R4) en tant qu’entrée ; un contrôleur (100) configuré pour détecter un défaut dans le circuit cible de détection (1) et dans un fonctionnement du circuit cible de détection (1) sur la base de valeurs des tensions détectées par l’unité d’entrée ; et une unité d’affichage (400) configurée pour fournir un avertissement à un utilisateur lorsque le défaut est détecté.
2. Système selon la revendication 1, dans lequel les première à quatrième résistances du circuit de détection ont des valeurs supérieures aux valeurs de résistance équivalentes du circuit cible de détection.
3. Système selon la revendication 2, dans lequel le contrôleur comprend des données d’erreur qui se produisent dans au moins un du circuit cible de détection ou du fonctionnement du circuit cible de détection sur la base des valeurs des tensions détectées par l’unité d’entrée.
4. Système selon la revendication 3, dans lequel le contrôleur contrôle les données d’erreur à afficher à l’utilisateur lorsqu’un défaut correspondant aux données d’erreur est détecté.
5. Système selon la revendication 4, dans lequel un défaut qui se produit dans le circuit cible de détection est l’un parmi un circuit ouvert dans le circuit cible de détection, un court-circuit à la batterie et un court-circuit à la terre.
6. Procédé de commande de détection de défauts de circuit, le procédé comprenant : dans un circuit de détection comprenant une diode (Dl), une première résistance (RI) et une deuxième résistance (R2), qui sont positionnées entre une source de tension appliquée (V2) et une partie supérieure d’un circuit cible de détection (1) en série, et une troisième résistance (R3) et une quatrième résistance (R4), qui sont positionnées entre le circuit cible de détection (1) et une terre en série, la mesure (S20) d’une première tension entre la première résistance et la deuxième résistance ; la mesure (S20) d’une seconde tension entre la troisième résistance et la quatrième résistance ; la détection d’un défaut dans le circuit cible de détection et dans un fonctionnement du circuit cible de détection sur la base d’une valeur de la première tension mesurée et d’une valeur de la seconde tension mesurée ; et la fourniture (S70) d’un avertissement à un utilisateur lorsque le défaut est détecté.
7. Procédé selon la revendication 6, dans lequel le défaut dans le circuit cible de détection comprend un circuit ouvert dans le circuit cible de détection (1), un court-circuit à la batterie et un court-circuit à la terre.
8. Procédé selon la revendication 7, comprenant en outre la mesure d’une valeur de tension au niveau d’une partie supérieure du circuit cible de détection et d’une valeur de tension au niveau d’une partie inférieure de celui-ci afin de détecter une erreur dans le fonctionnement du circuit cible de détection (1).