FR2925525A1 - Appareil et procede pour traitement de surface au moyen d'une decharge a barriere dielectrique dans un gaz permettant de traiter deux substrats simultanement - Google Patents

Appareil et procede pour traitement de surface au moyen d'une decharge a barriere dielectrique dans un gaz permettant de traiter deux substrats simultanement Download PDF

Info

Publication number
FR2925525A1
FR2925525A1 FR0759972A FR0759972A FR2925525A1 FR 2925525 A1 FR2925525 A1 FR 2925525A1 FR 0759972 A FR0759972 A FR 0759972A FR 0759972 A FR0759972 A FR 0759972A FR 2925525 A1 FR2925525 A1 FR 2925525A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
electrode
substrates
electrodes
dielectric barrier
discharge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR0759972A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2925525B1 (fr
Inventor
Denis Jahan
Alain Madec
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Air Liquide SA
LAir Liquide SA pour lEtude et lExploitation des Procedes Georges Claude
Original Assignee
Air Liquide SA
LAir Liquide SA pour lEtude et lExploitation des Procedes Georges Claude
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Air Liquide SA, LAir Liquide SA pour lEtude et lExploitation des Procedes Georges Claude filed Critical Air Liquide SA
Priority to FR0759972A priority Critical patent/FR2925525B1/fr
Priority to TW097145848A priority patent/TW200929565A/zh
Priority to PCT/FR2008/052209 priority patent/WO2009080943A1/fr
Publication of FR2925525A1 publication Critical patent/FR2925525A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR2925525B1 publication Critical patent/FR2925525B1/fr
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
    • C23C16/30Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
    • C23C16/34Nitrides
    • C23C16/345Silicon nitride
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/54Apparatus specially adapted for continuous coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32348Dielectric barrier discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32532Electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02109Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
    • H01L21/02112Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
    • H01L21/02123Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon
    • H01L21/0217Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon the material being a silicon nitride not containing oxygen, e.g. SixNy or SixByNz
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

Appareil pour la mise en oeuvre d'un procédé de traitement en continu de substrats par décharge à barrière diélectrique permettant le traitement simultané de deux substrats, comprenant:- une première électrode,- une deuxième électrode, l'une au moins des électrodes étant recouverte d'une barrière diélectrique,- des moyens d'amenée d'au moins deux substrats dans l'espace entre les deux électrodes ;- un moyen de mise en contact intime de la première électrode avec l'une des faces d'un premier substrat,- un moyen de mise en contact intime de la seconde électrode avec l'une des faces d'un second substrat,- un moyen de maintien de la deuxième électrode à une distance constante de la première électrode,- un moyen d'alimentation de l'espace situé entre les deux substrats en un gaz de traitement ;lesdites première et deuxième électrodes étant reliées à une source d'alimentation électrique de façon à ce que la décharge se fasse entre les électrodes, et de façon à créer un plasma dans le gaz de traitement entre les deux substrats.

Description

Appareil et Procédé pour traitement de surface au moyen d'une décharge à barrière diélectrique dans un gaz permettant de traiter deux substrats simultanément La présente invention concerne le domaine des traitements de surface par décharge électrique dans un gaz selon le mode d'excitation dit à barrière diélectrique (DBD), à la pression atmosphérique. Plus particulièrement, l'invention concerne un appareil adapté au dépôt industriel et continu de couches de nitrure de silicium sur des cellules photovoltaïques, par excitation d'une vapeur chimique au moyen d'une telle décharge à barrière diélectrique. La fabrication des cellules photovoltaïques est un procédé industriel nécessitant la mise en oeuvre de plusieurs étapes pour la réalisation des différents éléments des cellules. Les cellules photovoltaïques basées sur des substrats de silicium dominent le marché actuel. Ces cellules sont, dans la majorité des cas, caractérisées par le dépôt d'une couche antireflet et de passivation qui est majoritairement du nitrure de silicium, qui doit être à la fois fine et résistante. La fonction antireflet (ARC, Anti Reflective Coating ) permet de maximiser le flux de rayonnement solaire pénétrant dans la cellule. La fonction de passivation de la surface et du coeur du matériau actif permet de neutraliser les pièges à porteurs libres et donc de maximiser la production de courant électrique photovoltaïque. Cette couche contribue donc à un meilleur rendement de la cellule photovoltaïque. Les propriétés couramment attendues pour cette couche de nitrure de silicium peuvent être résumées ainsi .
Pour la propriété antireflet : un indice de réfraction n de la couche de l'ordre de 2, une épaisseur e de la couche de l'ordre de 80 nm, un coefficient d'absorption k nul ou très faible.
Pour les propriétés de passivation, on cherche une concentration en atomes d'hydrogène suffisante dans la couche de passivation. Ainsi, ces atomes d'hydrogène pourront migrer vers le coeur du matériau et passiver les impuretés et défauts résiduels qui agissent comme des centres de recombinaison des porteurs de charge minoritaires et donc réduisent leur durée de vie. Le plus souvent dans cette industrie, la couche de nitrure de silicium est déposée sous vide par la technique dite PECVD (pour Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition), dans un mélange de gaz Silane (SiH4) / Ammoniac (NH3) (voir par exemple les travaux de A. Aberle parus dans Solar Energy Materials & Solar Cells, 65 (2001) 239-248). Ces processus à pression réduite imposent un traitement par lot (on dit aussi batch ) des cellules, ce qui interrompt l'amenée continue de celles-ci dans la ligne de fabrication. Ainsi, les cadences de production se trouvent diminuées, ce qui nuit à la viabilité économique de la filière, d'autant plus que les moyens d'entretien du vide représentent des coûts d'investissement et de fonctionnement supplémentaires. On note que plusieurs sociétés commercialisent des équipements pour réaliser ces dépôts sous vide avec des mélanges silane (SiH4) / ammoniaque (NH3) On peut citer notamment les sociétés Centrotherm, Roth & Rau, Shimadzu, SEMCO, MVSystems Inc., ou encore OTB. Les conditions opératoires de ces procédés sont typiquement les suivantes: - Fréquence : DC, de 40 à environ 400 kHz, ou 13,56 MHz ou encore 2,45 GHz - Pression : inférieure à 1 mbar - Température : entre 300 et 450 °C 5 - Capacité : entre 500 et 3000 plaquettes/heure Le prix de ces équipements varie entre 700 et 3 000 k{. Divers études ont déjà montré la possibilité de 10 déposer des couches minces à l'aide d'une décharge à barrière diélectrique, en particulier les travaux de S. Martin, F. Massines, N. Gherardi et S. Jimenez pour le dépôt d'oxyde de silicium parus dans Surface and Coatings Technol., 177-178 (2004) 693-698. Un tel procédé, décrit 15 notamment dans le document US2003/0104141, comprend les étapes d'assembler un jeu d'électrodes en ménageant une barrière diélectrique sur la surface de l'électrode supérieure et/ou de l'électrode inférieure, l'espace inter-électrodes formant l'espace d'activation, de 20 remplir ledit espace réactif, de placer d'activation, puis potentiel entre les par un mélange gaz porteur/gaz le substrat dans ledit espace d'appliquer une différence de deux électrodes pour créer une décharge dans l'espace d'activation, aboutissant à la 25 formation d'un plasma, pour réaliser le revêtement du substrat.
Le procédé CVD implémenté dans un réacteur à la pression atmosphérique, donc ouvert, permet un traitement 30 des plaquettes en continu cadence de production. et donc une augmentation de la On verra ci-dessous que la présente invention s'attache à proposer une solution technique permettant d'améliorer encore notablement cette cadence de production.
Un procédé de dépôt à la pression atmosphérique assisté par une décharge à barrière diélectrique, et un dispositif pour le mettre en oeuvre, conformes à l'art antérieur, sont illustrés en figure 1 ci-après, un zoom sur la zone de dépôt étant présenté en Figure 2.
Pour une telle configuration, le nombre de plaquettes traitées à l'heure dépend du nombre de zones de dépôt successives (2 zones dans le cas de la Figure 1), du nombre de lignes de plaquettes (2 lignes pour le cas de la Figure 1) et surtout de la vitesse de dépôt maximum réalisable par cette technologie. Cette vitesse de dépôt va être limitée par des mécanismes physiques et chimiques propres à la décharge utilisée. Or, à l'heure actuelle, pour que cette technologie soit viable économiquement, il lui faut traiter les plaquettes avec une cadence très élevée, typiquement de 3000 à 4000 plaquettes/heure, correspondant à une capacité de production annuelle de l'ordre de 100 MWp (exprimée en unité caractéristique utilisée dans l'industrie photovoltaïque). Pour l'avenir d'ailleurs, des articles prospectifs (par exemple l'article de Podewils et al paru en mars 2007 dans Photon International) avancent que les grandes unités de fabrication de cellules solaires photovoltaïques pourront être composées de plusieurs sous-unités dont la capacité annuelle de production serait de 100 MWp. En 2007, seuls deux équipementiers semblent être en mesure de fournir des machines, fonctionnant toujours sous vide avec les contraintes que l'on connaît, dont une seule unité assurerait les cadences de production requises (100 MWp). Il s'agit de Roth & Rau pour la solution PECVD qui traite 3000 plaquettes/heure et d'AMAT qui propose un outil permettant de traiter 3400 plaquettes/heure avec une solution technologique alternative : la pulvérisation cathodique. Pour la configuration de dispositif présentée en Figure 1 (deux lignes de plaquettes en défilement sous deux zones de dépôt à la pression atmosphérique), la vitesse de dépôt ne permettra pas nécessairement d'atteindre les cadences nettes de production requises. Comme on le verra plus en détail dans ce qui suit, la présente invention propose une solution permettant d'accroître sensiblement la cadence de production d'un équipement. Pour cela elle propose de traiter deux plaquettes ou substrats simultanément. Plus précisément, l'invention concerne un appareil pour la mise en oeuvre d'un procédé de traitement de substrats par décharge à barrière diélectrique permettant le traitement simultané de deux substrats, comprenant : une première électrode, - une deuxième électrode, l'une au moins des électrodes étant recouverte d'une barrière diélectrique, - des moyens d'amenée d'au moins deux substrats dans l'espace entre les deux électrodes ; un moyen de mise en contact intime de la première électrode avec l'une des faces d'un premier substrat, un moyen de mise en contact intime de la seconde électrode avec l'une des faces d'un second substrat, un moyen de maintien de la deuxième électrode à une distance constante de la première électrode, 6 2925525
- un moyen d'alimentation de l'espace situé entre les deux substrats en un gaz de traitement ; lesdites première et deuxième électrodes étant reliées à 5 une source d'alimentation électrique de façon à ce que la décharge se fasse entre les électrodes, et de façon à créer un plasma dans le gaz de traitement entre les deux substrats. L'invention concerne également un procédé de traitement de deux substrats simultanément par décharge à barrière 10 diélectrique, se caractérisant en ce que le traitement est réalisé dans un appareil conforme à l'invention.
La présente invention sera mieux comprise à la lumière de la description détaillée de certains modes de réalisation tels 15 que décrits sur les dessins annexés. Ces modes de réalisation particuliers ne sont présentés que dans un but d'illustration et ne peuvent être considérés comme limitatifs de l'invention.
- La figure 1 illustre une installation de dépôt de couches 20 minces (par exemple a-SiNX:H) sur substrats à la pression atmosphérique par décharge à barrière diélectrique, conforme à l'art antérieur. - la figure 2 présente un zoom sur la zone de dépôt de l'installation de la figure 1. 25 - la figure 3 illustre un schéma de principe en vue schématique partielle de la zone de dépôt/décharge d'une installation conforme à l'invention. - la figure 4 illustre un exemple de mise en œuvre de l'invention pour des substrats traités en parallèle et en 30 position horizontale (traitement de deux plaquettes / substrats simultanément ; les plaquettes ne sont représentées que sur la vue latérale).
La figure 3 illustre donc un schéma de principe en vue schématique partielle de la zone de dépôt/décharge d'une installation conforme à l'invention dans une configuration horizontale.
La solution présentée met en oeuvre un jeu de cales placées entre les deux substrats/plaquettes. Les cales servent d'une part à mettre en contact intime chaque substrat sur son électrode respective, et de plus la distance inter électrodes est ainsi bien maîtrisée ce qui, on le sait par ailleurs, est indispensable au bon fonctionnement de la décharge. Cette solution, on le visualise parfaitement, permet donc de traiter deux plaquettes simultanément. De plus, l'utilisation des gaz actifs est optimisée et les dépôts intempestifs sur les électrodes (par exemple des dépôts de silice dans le cas de la mise en oeuvre de mélanges comportant du silane) sont évités puisque celles-ci sont, par principe même, protégées par les plaquettes. La capacité de l'équipement est donc considérablement augmentée, et le temps de non- production résultant notamment des nettoyages (pour ôter au moins les dépôts intempestifs précités) est réduit. Enfin, dans le cas d'un dépôt de couche minces, la quantité de gaz utilisée par surface de substrat traitée est considérablement diminuée.
La Figure 4 montre un exemple de mode de réalisation utilisant cette solution, pour des plaquettes traitées en parallèle et horizontalement. On l'aura compris à la lecture de ce qui précède, la qualité du contact entre la plaquette et le diélectrique est un élément constitutif et important du procédé. En effet, tout défaut de contact entraînera la présence d'une atmosphère en face arrière de la plaquette (entre l'électrode et la plaquette) et donc potentiellement la création d'une décharge parasite dommageable à la qualité de la décharge en face avant et du dépôt de a-SiNX:H résultant. Plusieurs moyens sont envisageables pour assurer un contact optimal i.e intime entre la plaquette et le diélectrique. Parmi ceux-ci, on peut citer la méthode électrostatique, utilisée d'ailleurs pour les équipements de gravure et CVD en fabrication de semi-conducteurs, qui permet d'assurer le contact entre les plaquettes et le diélectrique (des tensions continues et opposées sont appliquées sur chaque élément). La solution qui vient d'être exposée (configuration horizontale) se concentre sur le passage dans le plasma proprement dit, i.e. en faisant abstraction de la séquence cinématique qui permet de disposer ainsi une paire de substrats par rapport aux électrodes, puis de désassembler l'agencement, afin d'assurer une transition rationnelle avec le chargement/déchargement et le convoyage en amont et en aval du module de dépôt, mais cette question du convoyage de substrats à l'intérieur d'un espace de décharge est bien connue de l'Homme du Métier et elle ne sera donc pas détaillée ici. On donnera simplement dans ce qui suit d'autres exemples de réalisation et d'orientation, pour illustrer les nombreuses possibilités et géométries envisageables : selon un autre mode de réalisation possible (différent de ce qui a été illustré ci-dessus), on adopte une configuration d'électrodes verticales, et pour faire arriver les plaquettes en position verticale dans l'espace inter-électrodes on met en oeuvre un système adéquat, associé à la solution de convoyage des plaquettes de telle sorte que l'orientation des plaquettes soit changée au cours du déplacement (les plaquettes sont convoyées en position horizontale, puis sont progressivement relevées et mises face à face, elles pénètrent dans la zone de dépôt en position verticale. Une fois traitées et sorties de la zone de dépôt, elles sont remises progressivement en position horizontale). selon un autre mode de réalisation, on peut utiliser un système de portes-substrat. Ainsi, les plaquettes convoyées avec une solution adéquate (tapis roulant, roulettes...) viennent se positionner sur les portes-substrat. Préférentiellement, ces portes-substrat comportent des empreintes pour recevoir chaque plaquette et optimiser ainsi son positionnement et sa stabilité. Exemples de mises en oeuvre : La configuration de la figure 3 a été utilisée pour des essais de traitement simultané de deux substrats dans une même zone plasma. Ces essais ont abouti à l'obtention de dépôts de couches de nitrure de silicium simultanément sur les deux substrats. Les conditions des essais étaient les suivantes . - plasma par décharge à barrière diélectrique à la pression atmosphérique dans une zone de 5 cm par 5 cm; - 2 plaquettes de silicium monocristallin, 25 positionnées horizontalement en regard l'une de l'autre, distantes de 1 mm et traitées simultanément dans la même zone plasma ; - mélange gazeux utilisé : He (5 standard 1/mn) / SiH4 (9% dans He ; 25 standard cm3/mn) / NH3 (6,5 standard 30 cm3 /mn) ; - tension appliquée par un générateur pulsé avec une fréquence de 25 kHz et une puissance entre 1 et 2 W.
Avec une telle configuration, une couche de a-SiNX:H a été déposée sur chacune des deux plaques. La solution proposée permet intrinsèquement de traiter deux fois plus de substrats avec une machine de capacité 5 donnée.

Claims (2)

REVENDICATIONS
1. Appareil pour la mise en oeuvre d'un procédé de traitement de substrats par décharge à barrière diélectrique permettant le traitement simultané de deux substrats, comprenant : une première électrode, une deuxième électrode, l'une au moins des 10 électrodes étant recouverte d'une barrière diélectrique, - des moyens d'amenée d'au moins deux substrats dans l'espace entre les deux électrodes ; - un moyen de mise en contact intime de la première électrode avec l'une des faces d'un premier substrat, 15 un moyen de mise en contact intime de la seconde électrode avec l'une des faces d'un second substrat, - un moyen de maintien de la deuxième électrode à une distance constante de la première électrode, - un moyen d'alimentation de l'espace situé entre 20 les deux substrats en un gaz de traitement ; lesdites première et deuxième électrodes étant reliées à une source d'alimentation électrique de façon à ce que la décharge se fasse entre les électrodes, et de façon à créer un plasma dans le gaz de traitement entre les deux 25 substrats.
2. Procédé de traitement de deux substrats simultanément par décharge à barrière diélectrique, caractérisé en ce que le traitement est réalisé dans un Appareil conforme à la revendication 1. 30
FR0759972A 2007-12-19 2007-12-19 Appareil et procede pour traitement de surface au moyen d'une decharge a barriere dielectrique dans un gaz permettant de traiter deux substrats simultanement Active FR2925525B1 (fr)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0759972A FR2925525B1 (fr) 2007-12-19 2007-12-19 Appareil et procede pour traitement de surface au moyen d'une decharge a barriere dielectrique dans un gaz permettant de traiter deux substrats simultanement
TW097145848A TW200929565A (en) 2007-12-19 2008-11-27 Device and process for surface treatment by means of a dielectric barrier discharge in a gas enabling two substrates to be treated simultaneously
PCT/FR2008/052209 WO2009080943A1 (fr) 2007-12-19 2008-12-04 Appareil et procede pour traitement de surface au moyen d'une decharge a barriere dielectrique dans un gaz permettant de traiter deux substrats simultanement

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0759972A FR2925525B1 (fr) 2007-12-19 2007-12-19 Appareil et procede pour traitement de surface au moyen d'une decharge a barriere dielectrique dans un gaz permettant de traiter deux substrats simultanement

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2925525A1 true FR2925525A1 (fr) 2009-06-26
FR2925525B1 FR2925525B1 (fr) 2010-03-26

Family

ID=39474043

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR0759972A Active FR2925525B1 (fr) 2007-12-19 2007-12-19 Appareil et procede pour traitement de surface au moyen d'une decharge a barriere dielectrique dans un gaz permettant de traiter deux substrats simultanement

Country Status (3)

Country Link
FR (1) FR2925525B1 (fr)
TW (1) TW200929565A (fr)
WO (1) WO2009080943A1 (fr)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030104141A1 (en) * 2001-08-27 2003-06-05 Amato-Wierda Carmela C. Dielectric barrier discharge process for depositing silicon nitride film on substrates
EP1383359A2 (fr) * 2002-07-19 2004-01-21 Fuji Photo Film B.V. Procédé et dispositif de traitement d'un substrat par décharge luminescente sous pression atmosphérique

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030104141A1 (en) * 2001-08-27 2003-06-05 Amato-Wierda Carmela C. Dielectric barrier discharge process for depositing silicon nitride film on substrates
EP1383359A2 (fr) * 2002-07-19 2004-01-21 Fuji Photo Film B.V. Procédé et dispositif de traitement d'un substrat par décharge luminescente sous pression atmosphérique

Also Published As

Publication number Publication date
WO2009080943A1 (fr) 2009-07-02
TW200929565A (en) 2009-07-01
FR2925525B1 (fr) 2010-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2714961B1 (fr) Procede de depot de couches sur un substrat verrier par pecvd a faible pression
US20130247972A1 (en) Passivation film stack for silicon-based solar cells
KR101019273B1 (ko) 다중-접합 태양 전지들과 이를 형성하기 위한 방법들 및 장치들
TW201427036A (zh) 用於結晶矽太陽能電池之最佳化的抗反射塗層
KR20100016382A (ko) 태양 전지를 위한 실리콘 질화물 패시베이션
US20150140726A1 (en) Method for manufacturing semiconductor device
EP2471111B1 (fr) Procede de nettoyage de la surface d'un substrat de silicium
JP6909267B2 (ja) 光電変換装置の製造方法
JP2011023655A (ja) 窒化シリコン薄膜成膜方法および窒化シリコン薄膜成膜装置
FR2527384A1 (fr) Porte magnetique a gaz
Shin et al. Optimization of intrinsic hydrogenated amorphous silicon deposited by very high-frequency plasma-enhanced chemical vapor deposition using the relationship between Urbach energy and silane depletion fraction for solar cell application
EP0263788A1 (fr) Procédé et installation de dépôt de silicium amorphe hydrogène sur un substrat dans une enceinte à plasma
WO2003021690A2 (fr) Procede de depot d'une couche d'oxyde sur un substrat et cellule photovoltaique utilisant ce substrat
Schropp Present status of micro-and polycrystalline silicon solar cells made by hot-wire chemical vapor deposition
Lien et al. Influence of CH4 flow rate on properties of HF-PECVD a-SiC films and solar cell application
Finger et al. High efficiency microcrystalline silicon solar cells with Hot-Wire CVD buffer layer
FR2925525A1 (fr) Appareil et procede pour traitement de surface au moyen d'une decharge a barriere dielectrique dans un gaz permettant de traiter deux substrats simultanement
Hashimoto et al. Effects of filter gap of cluster-eliminating filter on cluster eliminating efficiency
Kakiuchi et al. High-rate deposition of intrinsic amorphous silicon layers for solar cells using very high frequency plasma at atmospheric pressure
Zimmermann et al. Inline deposition of microcrystalline silicon solar cells using a linear plasma source
Sergeev et al. Doped microcrystalline silicon as front surface field layer in bifacial silicon heterojunction solar cells
TWI790245B (zh) 光電轉換裝置之製造方法
Shin et al. Investigation of structural disorder using electron temperature in VHF-PECVD on hydrogenated amorphous silicon films for thin film solar cell applications
Zimmermann High-rate growth of hydrogenated amorphous and microcrystalline silicon for thin-film silicon solar cells using dynamic very-high frequency plasma-enhanced chemical vapor deposition
US20110171774A1 (en) Cleaning optimization of pecvd solar films

Legal Events

Date Code Title Description
PLFP Fee payment

Year of fee payment: 9

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 10

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 11

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 13

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 14

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 15

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 16

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 17