FR2789180A1 - Procede de mesure de l'epaisseur d'un revetement depose sur un melange vulcanise - Google Patents
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Abstract
L'invention concerne un procédé de mesure de l'épaisseur d'un revêtement de composition donnée déposé sur un mélange vulcanisé. Il est caractérisé en ce que ledit mélange vulcanisé contient au moins un élément détectable par analyse d'un rayonnement secondaire émis en réponse à une exposition à un rayonnement X et en ce qu'il comporte :a) un calibrage par la mesure du niveau ou de l'atténuation du rayonnement secondaire pour une pluralité d'échantillons témoins pourvus d'un dit revêtement ayant une épaisseur connueb) au moins une mesure d'épaisseur sur un échantillon à mesurer, par détection du niveau ou de l'atténuation du rayonnement secondaire.
Description
PROCEDE DE MESURE DE L'EPAISSEUR D'UN REVETEMENT DEPOSE
SUR UN MEIELANGE VULCANISE
La présente invention a pour objet un procédé de mesure de
l'épaisseur d'un revêtement déposé sur un mélange vulcanisé.
Il existe actuellement des procédés de mesure de l'épaisseur d'un revêtement, mais ces procédés ne pem'ettent pas de réaliser de manière satisfaisante
des mesures en continu sur une ligne de fabrication.
Un but de l'invention est de permettre de mesurer en continu
l'épaisseur d'un revêtement, tel qu'un vemrnis, déposé sur un mélange vulcanisé.
Un autre but de l'invention est de permettre de mesurer l'épaisseur d'un revêtement, tel qu'un vemrnis, déposé sur un mélange vulcanisé, sans connaître la
composition du revêtement.
Un autre but de l'invention est de permettre de mesurer l'épaisseur de différents types de revêtements, par exemple de vemrnis, susceptibles d'être déposés sur
un mélange vulcanisé.
Au moins un des buts précités est atteint par un procédé de mesure de l'épaisseur d'un revêtement de composition donnée déposé sur un mélange vulcanisé, caractérisé en ce que ledit mélange vulcanisé contient au moins un élément détectable par analyse d'un rayonnement secondaire émis en réponse à une exposition à un rayonnement X et en ce qu'il comporte: a) un calibrage par la mesure du niveau ou de l'atténuation du rayonnement secondaire pour une pluralité d'échantillons témoins pourvus d'un dit revêtement ayant une épaisseur connue b) au moins une mesure d'épaisseur sur un échantillon à mesurer, par
détection du niveau ou de l'atténuation du rayonnement secondaire.
Pour une application à une ligne de fabrication en continu, au cours de laquelle un produit à base d'un mélange vulcanisé est revêtu d'une couche par exemple de vemrnis, le procédé comporte une pluralité de mesures espacées dans le temps, ce qui permet de suivre les variations éventuelles de l'épaisseur de la couche déposée en cours de fabrication. Le procédé peut alors comporter un asservissement de l'épaisseur du revêtement appliqué au cours de ladite fabrication en continu, en
fonction desdites mesures espacées dans le temps.
L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va
suivre, donnée à titre d'exemple non limitatif.
Dans le domaine de la chimie analytique, l'identification des éléments par rayonnement X a fait ses preuves depuis des années. Le principe d'une telle mesure est d'exposer un échantillon à un rayonnement X primaire, d'o il résulte, par fluorescence X, l'émission de rayonnements secondaires spécifiques de chaque élément. Cette technique est généralement utilisée pour déterminer la teneur d'un
échantillon en un ou plusieurs éléments donnés.
Selon l'invention, on mesure le rayonnement secondaire correspondant à un élément donné d'un mélange vulcanisé, en général un élément de la classification périodique des éléments, et de préférence le soufre. Le signal ainsi obtenu peut servir de signal de référence. Lorsqu'un vernis est déposé en surface, le signal émis est proportionnellement atténué en fonction de l'épaisseur du revêtement, notamment un vernis d'épaisseur comprise entre 2 Fi et 10 l. Le niveau ou l'atténuation dudit signal est calibrée à partir d'une pluralité, de préférence 10 ou plus, témoins de calibration. Les témoins présentent différentes épaisseurs d'un même vernis, ces épaisseurs étant mesurées au microscope électronique. Le niveau ou facteur d'atténuation étant connu, il est possible de procéder ensuite à des mesures
d'épaisseurs pour un vernis du même type.
Pour un procédé de fabrication en continu, qui met en oeuvre l'application d'un revêtement, on réalise des mesures espacées dans le temps, par exemple à raison de 5 par minute. Ceci est en général suffisant, car les variations d'épaisseur constatées en cours de fabrication sont dues à des dérives lentes du procédé. Le procédé peut éventuellement mettre un oeuvre un asservissement
permettant de corriger les variations d'épaisseur constatées.
En général, on pourra se contenter d'une seule mesure de niveau effectuée sur le produit revêtu. Au cas o cependant la teneur de l'élément serait susceptible de varier, on pourra mesurer le niveau dans une zone non encore revêtue du produit, puis dans cette même zone une fois revêtue, par exemple au cours d'un procédé de fabrication en continu. On déduit le facteur d'atténuation qui permet de
déterminer l'épaisseur à partir de la calibration précédemment réalisée.
Un appareil particulièrement adapté dans le cadre de l'invention est l'analyseur de fluorescence X de type LAB-X 3000 de la Société OXFORD SENSOR
TECHNOLOGY LTD (OXFORD, Grande-Bretagne).
Claims (5)
1. Procédé de mesure de l'épaisseur d'un revêtement de composition donnée déposé sur un mélange vulcanisé, caractérisé en ce que ledit mélange vulcanisé contient au moins un élément détectable par analyse d'un rayonnement secondaire émis en réponse à une exposition à un rayonnement X et en ce qu'il comporte: a) un calibrage par la mesure du niveau ou de l'atténuation du rayonnement secondaire pour une pluralité d'échantillons témoins pourvus d'un dit revêtement ayant une épaisseur connue b) au moins une mesure d'épaisseur sur un échantillon à mesurer, par
détection du niveau ou de l'atténuation du rayonnement secondaire.
2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comporte une pluralité de mesures espacées dans le temps, réalisées sur une ligne de fabrication
en continu.
3. Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'il comporte un asservissement de l'épaisseur du revêtement appliqué au cours de ladite fabrication
en continu, en fonction desdites mesures espacées dans le temps.
4. Procédé selon une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que
ledit élément est le soufre.
5. Procédé selon une des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que
ledit revêtement est un vernis.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9901151A FR2789180B1 (fr) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | Procede de mesure de l'epaisseur d'un revetement depose sur un melange vulcanise |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9901151A FR2789180B1 (fr) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | Procede de mesure de l'epaisseur d'un revetement depose sur un melange vulcanise |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2789180A1 true FR2789180A1 (fr) | 2000-08-04 |
| FR2789180B1 FR2789180B1 (fr) | 2001-07-06 |
Family
ID=9541478
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR9901151A Expired - Fee Related FR2789180B1 (fr) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | Procede de mesure de l'epaisseur d'un revetement depose sur un melange vulcanise |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| FR (1) | FR2789180B1 (fr) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3754138A (en) * | 1971-10-07 | 1973-08-21 | Industrial Nucleonics Corp | Inner layer position measurement |
| US3914607A (en) * | 1973-12-12 | 1975-10-21 | Industrial Nucleonics Corp | Thickness measuring apparatus and method for tire ply and similar materials |
-
1999
- 1999-02-02 FR FR9901151A patent/FR2789180B1/fr not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3754138A (en) * | 1971-10-07 | 1973-08-21 | Industrial Nucleonics Corp | Inner layer position measurement |
| US3914607A (en) * | 1973-12-12 | 1975-10-21 | Industrial Nucleonics Corp | Thickness measuring apparatus and method for tire ply and similar materials |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2789180B1 (fr) | 2001-07-06 |
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Effective date: 20051031 |