FR2677125A1 - Appareil et procede de detection de defauts sur pieces metalliques. - Google Patents
Appareil et procede de detection de defauts sur pieces metalliques. Download PDFInfo
- Publication number
- FR2677125A1 FR2677125A1 FR9106507A FR9106507A FR2677125A1 FR 2677125 A1 FR2677125 A1 FR 2677125A1 FR 9106507 A FR9106507 A FR 9106507A FR 9106507 A FR9106507 A FR 9106507A FR 2677125 A1 FR2677125 A1 FR 2677125A1
- Authority
- FR
- France
- Prior art keywords
- frequency
- measured
- metal part
- oscillator
- point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
- G01N27/9053—Compensating for probe to workpiece spacing
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
L'invention concerne la détection de criques (35) sur une pièce métallique (15) brute de fonderie par l'utilisation de courants de Foucault induits par une bobine (11) alimentée par un oscillateur (13). L'invention réside dans le fait que l'on mesure pour chaque point de la pièce le rapport deltaF'1/F'1 et l'amplitude A'1 du signal de l'oscillateur (13) ainsi que la distance (d) entre la bobine et la pièce métallique. Les mesures de deltaF'1/F'1 et A'1 sont corrigées pour tenir compte de la distance d et sont comparées aux valeurs non corrigées pour donner des différences D'1 et D'2 qui sont comparées à des différences D1 et D2 obtenues de la même manière avec une pièce métallique de référence et pour les mêmes points. Tout écart indique la présence d'un défaut au point de mesure.
Description
APPAREIL ET PROCEDE DE DETECTION
DE DEFAUTS SUR PIECES METALLIQUES
L'invention concerne le test non destructif des pièces métalliques, notamment celles sortant de fonderie et, plus particulièrement un appareil et un procédé de détection des défauts sur lesdites pièces par courants de Foucault.
DE DEFAUTS SUR PIECES METALLIQUES
L'invention concerne le test non destructif des pièces métalliques, notamment celles sortant de fonderie et, plus particulièrement un appareil et un procédé de détection des défauts sur lesdites pièces par courants de Foucault.
Le principe du test non destructif d'une pièce métallique par courants de Foucault est bien connu. Il consiste à faire circuler des courants dans la pièce métallique à tester par induction à partir d'une bobine adjacente qui est alimentée par un signal alternatif fourni par un oscillateur de fréquence F. Les courants induits dans la pièce métallique sont de même fréquence
F et engendrent en retour des champs magnétiques dans la bobine qui y induisent des tensions.
F et engendrent en retour des champs magnétiques dans la bobine qui y induisent des tensions.
Les tensions qui sont induites dans la bobine ont un angle de phase et une amplitude qui dépendent de la pièce à tester Ces tensions induites sont mesurées à l'aide d'un appareil électronique approprié qui mesure soit la variation de tension, soit la variation de l'impédance équivalente de la bobine.
Avec les procédés habituels de tests qui consistent à balayer la pièce métallique à l'aide de la bobine, la détection rapide de défauts de petites dimensions ou criques est difficile car, d'une part, une trop grande proximité de la bobine et de la pièce métallique risque de détériorer ou au moins d'user rapidement la bobine et, d'autre part, un éloignement trop important diminue la sensibilité de la détection. En outre, les imprécisions des pièces brutes de fonderie provoquent des variations de distance entre la pièce métallique et la bobine qui perturbent les résultats de la mesure.
Un but de la présente invention est donc de réaliser un appareil de détection de criques sur pièces métalliques qui permet la détection rapide et précise des criques.
Un autre but de la présente invention est aussi un appareil de détection de criques sur pièces métalliques dans lequel la détection des criques est indépendante de la distance entre les pièces métalliques et la bobine dans la gamme des distances habituelles.
Pour atteindre ces buts, l'invention propose de mesurer une variation de fréquence entre les signaux d'alimentation de la bobine et les signaux induits par les courants de Foucault. Comme cette première mesure dépend de l'écartement entre la pièce métallique et la bobine, l'invention propose de mesurer cet écartement et d'utiliser cette deuxième mesure pour modifier la première mesure.
L'invention concerne un appareil de détection de défauts sur une pièce métallique du type à courants de Foucault dans lequel une bobine dtinduction est alimentée par des signaux de fréquence F1 fournis par un oscillateur, caractérisé en ce qu'il comprend - des premiers moyens pour mesurer la fréquence (F1) et
l'amplitude (Al) des signaux de l'oscillateur, - des deuxièmes moyens pour mesurer la distance d entre
ladite bobine et la pièce métallique, - des troisièmes moyens pour calculer les écarts de
fréquence et d'amplitude des signaux de l'oscillateur
dus aux courants de Foucault en s'affranchissant de la
variation de la distance d et les comparer à des
écarts de fréquence et d'amplitude pour une pièce
métallique de référence de manière à déterminer la
présence d'un défaut lorsque la comparaison indique
une différence des écarts supérieure à un certain
seuil.
l'amplitude (Al) des signaux de l'oscillateur, - des deuxièmes moyens pour mesurer la distance d entre
ladite bobine et la pièce métallique, - des troisièmes moyens pour calculer les écarts de
fréquence et d'amplitude des signaux de l'oscillateur
dus aux courants de Foucault en s'affranchissant de la
variation de la distance d et les comparer à des
écarts de fréquence et d'amplitude pour une pièce
métallique de référence de manière à déterminer la
présence d'un défaut lorsque la comparaison indique
une différence des écarts supérieure à un certain
seuil.
L'invention concerne également un procédé de détection de défauts sur une pièce métallique à l'aide de l'appareil décrit ci-dessus, caractérisé en ce qu'il comprend les opérations suivantes (al) étalonnage pour relever la courbe de variation EF1
de la fréquence Fl et de variation de la fréquence
F2 en fonction de la distance (d) entre la bobine
d'induction et la pièce métallique de référence, (a2) calcul de EF1/F1 et Al en fonction de la fréquence
F2, (a3) mesure, pour chaque point xi, yi de la pièce
métallique de référence, de EF1/F1, Al et F2, (a4) calcul pour chaque point xi, yi des différences
Dl=SFl/Fl (mesurée) -SFl/Fl (corrigée avec F2 mesurée)
D2=Al(mesurée)-Al(corrigée avec F2 mesurée) (a5) mise en place de la pièce métallique à tester, (a6) mesure, pour chaque point xi, yi, de
SF'1/F'1, A'1 et F'2, (a7) calcul (pour chaque point xi, yi) des différences
D'1=#F'1/F'1(mesurée)-#F'1/F'1(corrigée avec F'2
mesurée),
D'2=A'l(mesuree)-A'l(corrigée avec F'2 mesurée) (a8) calcul pour chaque point xi, yi des différences,
(D1-D'1) et (D2-D'2), (a9) élaboration d'un signal de défaut lorsque les
différences (D1-D'1) et (D2-D'2) pour un point xi,
yi dépassent un seuil déterminé.
de la fréquence Fl et de variation de la fréquence
F2 en fonction de la distance (d) entre la bobine
d'induction et la pièce métallique de référence, (a2) calcul de EF1/F1 et Al en fonction de la fréquence
F2, (a3) mesure, pour chaque point xi, yi de la pièce
métallique de référence, de EF1/F1, Al et F2, (a4) calcul pour chaque point xi, yi des différences
Dl=SFl/Fl (mesurée) -SFl/Fl (corrigée avec F2 mesurée)
D2=Al(mesurée)-Al(corrigée avec F2 mesurée) (a5) mise en place de la pièce métallique à tester, (a6) mesure, pour chaque point xi, yi, de
SF'1/F'1, A'1 et F'2, (a7) calcul (pour chaque point xi, yi) des différences
D'1=#F'1/F'1(mesurée)-#F'1/F'1(corrigée avec F'2
mesurée),
D'2=A'l(mesuree)-A'l(corrigée avec F'2 mesurée) (a8) calcul pour chaque point xi, yi des différences,
(D1-D'1) et (D2-D'2), (a9) élaboration d'un signal de défaut lorsque les
différences (D1-D'1) et (D2-D'2) pour un point xi,
yi dépassent un seuil déterminé.
D'autres buts, caractéristiques et avantages de la présente invention apparaîtront à la lecture de la description suivante d'exemples particuliers de réalisation, ladite description étant faite en relation avec les dessins joints dans lesquels - la figure 1 est un schéma fonctionnel d'un appareil de
détection des défauts sur des pièces métalliques selon
l'invention, - la figure 2 est un schéma électronique de réalisation
d'un oscillateur, notamment de l'oscillateur 13 de la
figure 1, - la figure 3 est une vue de dessus de l'élément 16 de
la figure 1 concourant à mesurer la distance entre la
bobine 11 et la pièce métallique 15, - la figure 4 est un schéma analogue à celui de la
figure 1 mais montrant un autre moyen de mesure de la
distance entre la bobine 11 et la pièce métallique à
tester, et - la figure 5 montre deux courbes résultant de mesures
de fréquence et d'amplitude qui permettent de faire
apparaître des défauts.
détection des défauts sur des pièces métalliques selon
l'invention, - la figure 2 est un schéma électronique de réalisation
d'un oscillateur, notamment de l'oscillateur 13 de la
figure 1, - la figure 3 est une vue de dessus de l'élément 16 de
la figure 1 concourant à mesurer la distance entre la
bobine 11 et la pièce métallique 15, - la figure 4 est un schéma analogue à celui de la
figure 1 mais montrant un autre moyen de mesure de la
distance entre la bobine 11 et la pièce métallique à
tester, et - la figure 5 montre deux courbes résultant de mesures
de fréquence et d'amplitude qui permettent de faire
apparaître des défauts.
L'appareil de détection 10 de défaut tels que la crique 35 sur une pièce métallique 15 comprend un premier dispositif 30 pour mesurer la fréquence F1 et l'amplitude A1 des signaux induits dans une bobine de détection 10 par la pièce métallique 15, un deuxième dispositif 31 pour mesurer la distance d entre la bobine de détection 10 et la pièce métallique 15, et un calculateur 22 pour déterminer, en fonction des mesures de F1, A1 et d, la présence ou l'absence de défauts sur la pièce métallique 15.
Le dispositif 30 comprend une bobine 11 qui est placée en regard de l'une des faces de la pièce 15 à tester.
Cette bobine a deux bornes B1 et B2 qui sont connectées, l'une B1 à une borne de sortie S1 d'un oscillateur 13 de fréquence F1 par l'intermédiaire d'un condensateur 12 et l'autre B2 à une borne de sortie S2 par l'intermédiaire d'un circuit comprenant la résistance 14 et le condensateur 32 en parallèle. Une troisième borne de sortie S3 de l'oscillateur 13 est connectée à la borne d'entrée d'un fréquencemètre 19 qui mesure la valeur F1 de la fréquence instantanée de l'oscillateur 13. La borne de sortie du fréquencemètre 19 est connectée à un calculateur 22.
La borne B2 de la bobine 11 et la borne S2 de l'oscillateur 13 sont connectées à un convertisseur analogique-numérique 20 qui fournit un code numérique représentatif de l'amplitude Al du signal apparaissant aux bornes de la résistance 14.
Le dispositif 31 comprend une plaque métallique 16 qui est placée entre la bobine 11 et la pièce métallique 15 et qui est solidaire de la bobine.
Un point C de cette plaque métallique 16 est connecté à une première borne de sortie S'1 d'un oscillateur 18, similaire à l'oscillateur 13, dont une deuxième borne de sortie S'2 est connectée au point C par un self 17. Une troisième borne de sortie S'3 de l'oscillateur 13 est connectée à un fréquencemètre 21 qui mesure la fréquence
F2 d'oscillation par exemple sous la forme d'un code numérique. La borne de sortie du fréquencemètre 21 est connectée au calculateur 22.
F2 d'oscillation par exemple sous la forme d'un code numérique. La borne de sortie du fréquencemètre 21 est connectée au calculateur 22.
Les oscillateurs 13 et 18 oscillent à des fréquences très différentes, par exemple à une fréquence Fl inférieure à 100 kilohertz pour l'oscillateur 13 et à une fréquence F2 supérieure à 10 Mégahertz pour l'oscillateur 18 de manière à minimiser les influences réciproques des deux oscillations.
La figure 2 est un schéma électronique de type classique d'un tel oscillateur 13 ou 18 qui comprend un transistor
T1 dont le collecteur est connecté à la tension d'alimentation Vcc tandis que l'émetteur est connecté à la borne de sortie S3 par un condensateur C1 et à la borne de sortie S2 par une résistance R1. La base du transistor T1 est connectée à la tension d'alimentation
Vcc par une résistance R2, à la borne de sortie S2 par une résistance R3 et par deux condensateurs en série C3 et C4, à la borne de sortie S1 par un condensateur C1.
T1 dont le collecteur est connecté à la tension d'alimentation Vcc tandis que l'émetteur est connecté à la borne de sortie S3 par un condensateur C1 et à la borne de sortie S2 par une résistance R1. La base du transistor T1 est connectée à la tension d'alimentation
Vcc par une résistance R2, à la borne de sortie S2 par une résistance R3 et par deux condensateurs en série C3 et C4, à la borne de sortie S1 par un condensateur C1.
La plaque métallique 16 est constituée d'une plaque circulaire (figure 3) qui est percée de fentes radiales 33 aboutissant à un trou central 34.
Une telle réalisation évite l'induction de courants de
Foucault dans la plaque 16. Cette plaque 16 constitue l'une des armatures d'un condensateur dont l'autre armature est constituée par la face à tester de la pièce métallique 15. La variation de la distance (d) entre la plaque 16 et la pièce métallique modifie la capacité et donc la fréquence F2 de I'oscillateur 18 selon la formule :
dans laquelle L est la valeur de la self 17, S est la surface de la plaque 16 et E la constante diélectrique du milieu entre la plaque 16 et la pièce métallique 15.
Foucault dans la plaque 16. Cette plaque 16 constitue l'une des armatures d'un condensateur dont l'autre armature est constituée par la face à tester de la pièce métallique 15. La variation de la distance (d) entre la plaque 16 et la pièce métallique modifie la capacité et donc la fréquence F2 de I'oscillateur 18 selon la formule :
dans laquelle L est la valeur de la self 17, S est la surface de la plaque 16 et E la constante diélectrique du milieu entre la plaque 16 et la pièce métallique 15.
Le schéma de la figure 4 donne une variante du dispositif de mesure de la distance d entre la bobine 10 et la pièce métallique 15. Ce dispositif est constitué d'un générateur 25 de gaz tel que de l'air qui alimente un conduit 26 présentant une restriction 27.
L'orifice 28 de ce conduit 26 débouche au niveau de la bobine 11 et projette un jet d'air 29 en direction de la pièce 15. A cet orifice 28 est associé un conduit 35 d'un capteur de pression 23 dont la mesure P est transformée en un code numérique par un convertisseur analogique-numérique 24 pour être fourni au calculateur 22. La pression P permet de mesurer la distance d entre la bobine 11 et la pièce métallique 15.
L'appareil de la figure 1 et la variante de la figure 4 doivent être étalonnés en fonction de chaque pièce métallique à tester et, plus précisément, de chaque face de la pièce à tester.
Un premier étalonnage consiste à relever la courbe #F1
F1 en fonction de la distance d; un deuxième étalonnage consiste à relever la courbe de l'amplitude Al en fonction de la distance d. Ces deux étalonnages sont effectués avec une pièce ne présentant aucun défaut à l'endroit des mesures. Par l'intermédiaire de la formule (1), le calculateur 22 établit les relations S'Fl ~~~~~ en fonction de F2 et Al en fonction de F2.
Fl
Pour examiner, un lot de pièces métalliques identiques, l'invention prévoit d'abord d'utiliser une pièce métallique de référence ne présentant aucun défaut et de relever pour chaque point d'un ensemble de n points de coordonnées xi, Yi (i variant de 1 à n) la valeur normalisée ~ la valeur de F2 et la valeur de Al.
Pour examiner, un lot de pièces métalliques identiques, l'invention prévoit d'abord d'utiliser une pièce métallique de référence ne présentant aucun défaut et de relever pour chaque point d'un ensemble de n points de coordonnées xi, Yi (i variant de 1 à n) la valeur normalisée ~ la valeur de F2 et la valeur de Al.
Fl
A l'aide des deux étalonnages décrits ci-dessus, le calculateur 22 calcule pour chaque point les différences #F1 #F1 D1 = F1 (mesurée) - F1 (calculée avec F2 mesurée)
D2 = A1 (mesurée) - A1 (calculée avec F2 mesurée)
Ces n valeurs de D1 et n valeurs de D2 sont enregistrées dans une mémoire de calculateur 22.
A l'aide des deux étalonnages décrits ci-dessus, le calculateur 22 calcule pour chaque point les différences #F1 #F1 D1 = F1 (mesurée) - F1 (calculée avec F2 mesurée)
D2 = A1 (mesurée) - A1 (calculée avec F2 mesurée)
Ces n valeurs de D1 et n valeurs de D2 sont enregistrées dans une mémoire de calculateur 22.
Lors du test de chaque pièce métallique, pour chaque
SF'l point (xi, Yi), on releve ~ ,F'2 et A'1 et on calcule
F'1 les différences.
SF'l point (xi, Yi), on releve ~ ,F'2 et A'1 et on calcule
F'1 les différences.
SF'1 EF'1
D'1 = (mesurée) (calculée avec F'2 mesurée)
F'1 F'1
D'2 = A'1 (mesurée)- A'1 (calculée avec F'2 mesurée)
Ces différences D'1 et D'2 pour chaque point xi, yi de la pièce métallique en cours de test sont comparées aux différences D1 et D2 pour le même point (xi, Yi) de la pièce de référence, par exemple en effectuant les différences (D1-D'1) et (D2-D'2).
Si ces différences sont égales à zéro, la pièce métallique sous test ne présente pas de crique au point de mesure (xi, yi).
Si ces différences s'écartent du zéro au-delà d'un certain seuil, la pièce métallique sous test présente une crique au point de mesure (xi, yi).
A titre illustratif, la figure 4 présente deux courbes 37 et 38 dont la première 37 représente la différence (Dî-D'1), tandis que la deuxième 38 représente la différence (D2-D'2) pour une pièce métallique en forme de tambour qui présente un défaut au point 39 d'un cercle de tambour.
Il est clair que dans le cas de l'appareil de la figure 4, la mesure de la fréquence F2 est remplacée par celle de la pression P dans toutes les opérations décrites ci-dessus.
Bien entendu, l'invention peut être mise en oeuvre avec une variable autre que F2 et P qui serait une fonction de la distance d.
Le procédé décrit ci-dessus doit être répété pour chacune des faces à tester de la pièce métallique.
Claims (8)
1. Appareil de détection de défauts (35) sur une pièce métallique (15) du type à courants de Foucault dans lequel une bobine d'induction (11) est alimentée par des signaux de fréquence F1 fournis par un oscillateur (13), caractérisé en ce qu'il comprend - des premiers moyens (30) pour mesurer la fréquence
(F1) et l'amplitude (A1) des signaux de l'oscillateur
(13), - des deuxièmes moyens (31) pour mesurer la distance d
entre ladite bobine (11) et la pièce métallique (15), - des troisièmes moyens (22) pour calculer les écarts de
fréquence et d'amplitude des signaux de l'oscillateur
dus aux courants de Foucault en s'affranchissant de la
variation de la distance d et les comparer à des
écarts de fréquence et d'amplitude pour une pièce
métallique de référence de manière à déterminer la
présence d'un défaut lorsque la comparaison indique
une différence des écarts supérieure à un certain
seuil.
2. Appareil selon la revendication 1, caractérisé en ce que les premiers moyens (30) comprennent un fréquencemètre (19) et un voltmètre (20) recevant le signal du circuit oscillant constitué par ledit oscillateur (13) et la bobine d'induction (11).
3. Appareil selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que les deuxièmes moyens (31) comprennent - un oscillateur (18) dont le circuit oscillant comporte
une self (17) et un condensateur constitué par une
plaque métallique (16) qui est disposée entre la
bobine d'induction (11) et la pièce métallique (15),
et - un fréquencemètre (21) pour mesurer la fréquence de
l'oscillateur (18).
4. Appareil selon la revendication 3, caractérisé en ce que la plaque métallique (16) comporte des fentes (33) qui empêchent la circulation de courants de Foucault dans ladite plaque.
5. Appareil selon la revendication 4, caractérisé en ce que la plaque métallique (16) est circulaire et que les fentes (33) sont radiales.
6. Appareil selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que les deuxièmes moyens comprennent un générateur (25, 26, 27, 28) de fluide gazeux en direction de la pièce métallique (15) et un capteur de pression (23) pour mesurer la pression au niveau du débouché du fluide gazeux.
7. Procédé de détection de défauts (35) sur une pièce métallique (15) à l'aide d'un appareil selon l'une quelconque des revendications précédentes caractérisé en ce qu'il comprend les opérations suivantes (al) étalonnage pour relever la courbe de variation EF1
de la fréquence F1 et de variation de la fréquence
F2 en fonction de la distance (d) entre la bobine
d'induction (11) et la pièce métallique de
référence (15), (a2) calcul de EF1/F1 et Al en fonction de la fréquence
F2, (a3) mesure, pour chaque point xi, yi de la pièce
métallique de référence, de SF1/F1, Al et F2, (a4) calcul pour chaque point xi, yi des différences
D1=SF1/Fl(mesurée)-SF1/Fl(corrigée avec F2 mesurée)
D2=Al(mesurée)-Al(corrigée avec F2 mesurée) (a5) mise en place de la pièce métallique à tester, (a6) mesure, pour chaque point xi, y, de
SF'1/F'1, A'1 et F'2, (a7) calcul (pour chaque point xi, yi) des différences
D'1=SF'1/F'l(mesurée)-GF'1/F'l(corrigée avec F'2
mesurée),
D'2=A'l(mesurée)-A'l(corrigée avec F'2 mesurée) (a8) calcul pour chaque point Xi, yi des différences,
(D1-D'1) et (D2-D'2), (a9) élaboration d'un signal de défaut lorsque les
différences (D1-D'1) et (D2-D'2) pour un point xi,
yi dépassent un seuil déterminé.
8. Procédé selon la revendication 7, caractérisé en ce qu'il comprend, en outre, l'opération suivante (alO)enregistrement dans une mémoire des points de
coordonnées Xi, yi qui présentent un défaut.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9106507A FR2677125B1 (fr) | 1991-05-30 | 1991-05-30 | Appareil et procede de detection de defauts sur pieces metalliques. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9106507A FR2677125B1 (fr) | 1991-05-30 | 1991-05-30 | Appareil et procede de detection de defauts sur pieces metalliques. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2677125A1 true FR2677125A1 (fr) | 1992-12-04 |
| FR2677125B1 FR2677125B1 (fr) | 1997-01-17 |
Family
ID=9413273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR9106507A Expired - Fee Related FR2677125B1 (fr) | 1991-05-30 | 1991-05-30 | Appareil et procede de detection de defauts sur pieces metalliques. |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| FR (1) | FR2677125B1 (fr) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1005816A (en) * | 1960-10-14 | 1965-09-29 | Gkn Group Services Ltd | Improvements relating to methods of and apparatus for the detection of flaws |
| FR2196711A5 (fr) * | 1972-08-15 | 1974-03-15 | Nippon Kokan Kk | |
| JPS5752856A (en) * | 1980-09-16 | 1982-03-29 | Hitachi Ltd | Electromagnetic ultrasonic flaw detecting device |
| JPS5926054A (ja) * | 1982-08-02 | 1984-02-10 | Mitsubishi Electric Corp | 探傷用検出ヘツド |
| JPS61219857A (ja) * | 1985-03-26 | 1986-09-30 | Nichizou Tec:Kk | 塗膜のある金属表面の渦流探傷方法および装置 |
| US4843318A (en) * | 1987-07-15 | 1989-06-27 | Magnetic Analysis Corporation | Distance compensation in magnetic probe testing systems wherein object to probe spacing is employed as an exponent in excitings probes or processing probe outputs |
-
1991
- 1991-05-30 FR FR9106507A patent/FR2677125B1/fr not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1005816A (en) * | 1960-10-14 | 1965-09-29 | Gkn Group Services Ltd | Improvements relating to methods of and apparatus for the detection of flaws |
| FR2196711A5 (fr) * | 1972-08-15 | 1974-03-15 | Nippon Kokan Kk | |
| JPS5752856A (en) * | 1980-09-16 | 1982-03-29 | Hitachi Ltd | Electromagnetic ultrasonic flaw detecting device |
| JPS5926054A (ja) * | 1982-08-02 | 1984-02-10 | Mitsubishi Electric Corp | 探傷用検出ヘツド |
| JPS61219857A (ja) * | 1985-03-26 | 1986-09-30 | Nichizou Tec:Kk | 塗膜のある金属表面の渦流探傷方法および装置 |
| US4843318A (en) * | 1987-07-15 | 1989-06-27 | Magnetic Analysis Corporation | Distance compensation in magnetic probe testing systems wherein object to probe spacing is employed as an exponent in excitings probes or processing probe outputs |
Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 11, no. 52 (P-548)(2499) 18 Février 1987 & JP-A-61 219 857 ( NICHIZOU TEC K.K. ) 30 Septembre 1986 * |
| PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 6, no. 125 (P-127)(1003) 10 Juillet 1982 & JP-A-57 052 856 ( HITACHI ) 29 Mars 1982 * |
| PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 8, no. 121 (P-278)(1558) 7 Juin 1984 & JP-A-59 026 054 ( MITSUBISHI ) 10 Février 1984 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2677125B1 (fr) | 1997-01-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4418574A (en) | Magnetic method and apparatus for measuring wall thickness | |
| US7956601B2 (en) | Device and process for detecting particles in a flowing liquid | |
| Takamura et al. | A study on precise measurement of diesel fuel injection rate | |
| CN101210904A (zh) | 金属磁记忆快速预检方法 | |
| FR2483073A1 (fr) | Procede et appareil de mesure des epaisseurs d'une couche de placage et d'un metal de base | |
| US5391988A (en) | Method and apparatus for detecting flaws within a conductive object while cancelling the effects of variation in distance between the detection apparatus and the conductive object | |
| US5847562A (en) | Thickness gauging of single-layer conductive materials with two-point non linear calibration algorithm | |
| Kido et al. | Technique for measuring infrared cyclotron resonance in ultrahigh magnetic fields | |
| FR2677125A1 (fr) | Appareil et procede de detection de defauts sur pieces metalliques. | |
| FR2699281A1 (fr) | Dispositif et méthode de caractérisation d'un milieu comportant au moins une partie conductrice. | |
| Thornton et al. | The effects of disk morphology on flying-height modulation: Experiment and simulation | |
| EP1155313A1 (fr) | Procede et dispositif de mesure in situ de la distance entre deux elements donnes dans une conduite tubulaire | |
| US6204668B1 (en) | DC/RF blood cell detector using isolated bridge circuit having automatic amplitude and phase balance components | |
| US7148694B1 (en) | Contact impedance test circuit and method | |
| Hadjadj et al. | Analytical compensation of stray capacitance effect in Kelvin probe measurements | |
| EP0061956B1 (fr) | Procédé de contrôle non destructif par courants de Foucault avec correction des effets d'entrefer et dispositif de mise en oeuvre | |
| EP0492392B1 (fr) | Dispositif de contrÔle non destructif à courants de Foucault | |
| EP0023456B1 (fr) | Procédé et dispositif de contrôle non destructif par courants de Foucault pour la détection de zônes carburées | |
| KR920002179B1 (ko) | 와류탐상 방법 및 장치 | |
| FR2584190A1 (fr) | Procede et dispositif de determination en volume de la teneur en composant magnetique d'un materiau | |
| JP2004117011A (ja) | 容量式電磁流量計 | |
| RU2194919C2 (ru) | Устройство для локализации места утечки жидкости из трубопровода | |
| FR2478313A1 (fr) | Procede et dispositif de controle electromagnetique des proprietes mecaniques d'un objet ferromagnetique en mouvement | |
| de Groot et al. | Polarization interferometer for flying height testing | |
| WO2021013808A1 (fr) | Dispositif de contrôle par fuite de flux magnétique et procédé associé |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| ST | Notification of lapse |