FR2604514A1 - Procede de detection d'un defaut d'alignement - Google Patents

Procede de detection d'un defaut d'alignement Download PDF

Info

Publication number
FR2604514A1
FR2604514A1 FR8713134A FR8713134A FR2604514A1 FR 2604514 A1 FR2604514 A1 FR 2604514A1 FR 8713134 A FR8713134 A FR 8713134A FR 8713134 A FR8713134 A FR 8713134A FR 2604514 A1 FR2604514 A1 FR 2604514A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
lens
reflected
opening
double reflection
alignment fault
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
FR8713134A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Ian Robert Fothergill
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
UK Atomic Energy Authority
Original Assignee
UK Atomic Energy Authority
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by UK Atomic Energy Authority filed Critical UK Atomic Energy Authority
Publication of FR2604514A1 publication Critical patent/FR2604514A1/fr
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Telescopes (AREA)
FR8713134A 1986-09-29 1987-09-23 Procede de detection d'un defaut d'alignement Pending FR2604514A1 (fr)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB08623400A GB2195465A (en) 1986-09-29 1986-09-29 Misalignment detection

Publications (1)

Publication Number Publication Date
FR2604514A1 true FR2604514A1 (fr) 1988-04-01

Family

ID=10604975

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR8713134A Pending FR2604514A1 (fr) 1986-09-29 1987-09-23 Procede de detection d'un defaut d'alignement

Country Status (2)

Country Link
FR (1) FR2604514A1 (enrdf_load_stackoverflow)
GB (1) GB2195465A (enrdf_load_stackoverflow)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8531787D0 (en) * 1985-12-24 1986-02-05 Rayner C Plummets
JPH0797014B2 (ja) * 1988-10-28 1995-10-18 信越半導体株式会社 中心線ずれ量測定装置
FR2763169B1 (fr) * 1997-05-12 1999-12-24 Framatome Sa Procede et dispositif de mise en place d'un composant d'une centrale nucleaire a l'interieur d'une piscine de la centrale nucleaire
GB2335286B (en) * 1998-03-12 2002-09-11 Alvis Logistics Ltd Mechanical coupling assembly

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1346868A (fr) * 1963-02-12 1963-12-20 Atomic Energy Authority Uk Mesures de l'épaisseur de tubes ou de plaques
US3507597A (en) * 1967-09-26 1970-04-21 Bausch & Lomb Lens axial alignment method and apparatus
WO1984003176A1 (en) * 1983-02-07 1984-08-16 Hughes Aircraft Co Self-compensating hydrostatic flattening of semiconductor substrates

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1346868A (fr) * 1963-02-12 1963-12-20 Atomic Energy Authority Uk Mesures de l'épaisseur de tubes ou de plaques
US3507597A (en) * 1967-09-26 1970-04-21 Bausch & Lomb Lens axial alignment method and apparatus
WO1984003176A1 (en) * 1983-02-07 1984-08-16 Hughes Aircraft Co Self-compensating hydrostatic flattening of semiconductor substrates

Also Published As

Publication number Publication date
GB2195465A (en) 1988-04-07
GB8623400D0 (en) 1986-11-05
GB2195465B (enrdf_load_stackoverflow) 1990-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8427633B1 (en) Laser beam analysis apparatus
EP0425333B1 (fr) Dispositif de localisation en temps réel de sources de rayonnement
CN101210806B (zh) 基于辅助光源的激光发射轴与机械基准面法线沿方位轴方向角度偏差及俯仰角度偏差的测量方法
US10677739B2 (en) Method and apparatus for inspecting defects on transparent substrate
EP0119883A1 (fr) Procédé et dispositif d'alignement d'un faisceau laser par l'intermédiaire de moyens optiques de visée, et procédé de mise en oeuvre du dispositif, pour contrôler l'alignement
EP1183518B1 (fr) Dispositif pour determiner les valeurs d'au moins un parametre de particules, notamment de gouttelettes d'eau
CN101206183A (zh) 孔内壁影像检视方法及装置
CN103109152A (zh) 选择性观察物体特征的高速采集视觉系统及方法
FR2709837A1 (fr) Appareil de mesure optique de distance, et lentille et élément photorécepteur pour sa mise en oeuvre.
FR2562249A1 (fr) Cellule humide tres radio-active, blindee, pour une installation nucleaire, avec un dispositif pour la reconnaissance des fuites et procede pour l'utilisation d'une telle cellule
EP1052476B1 (fr) Procédé et dispositif pour détecter les erreurs d'harmonisation de l'axe d'un instrument optique
FR2604514A1 (fr) Procede de detection d'un defaut d'alignement
FR2861851A1 (fr) Dispositif de detection optique d'un objet distant
CN101801585B (zh) 激光焊接检查装置
EP0189217B1 (fr) Analyseur optico-mécanique ayant un champ de télémétrie fixe
FR2678192A1 (fr) Tete de soudage pour mesure de parametres de soudage et son application au soudage automatique.
JP3232269B2 (ja) ガラス容器の肉厚測定装置
FR2567651A1 (fr) Equipement de mesure de vitesse d'un projectile par interferometrie utilisant un faisceau laser propage par un guide d'onde optique unique
WO2007063343A1 (en) Laser processing tool
NL1009873C2 (nl) Optisch systeem voor het verrichten van metingen aan en/of voor het inspecteren van een of meer objecten over een bepaalde hoek.
CN218455537U (zh) 一种用于焊接场景的激光器功率稳定性检测装置
FR2506329A1 (fr) Procede de determination par voie optique du profil des charges dans le gueulard d'un haut fourneau
BE1026154A1 (fr) Système optique
FR2571864A2 (fr) Appareil de visee comportant une voie ecartometrique.
JP2001324314A (ja) 測定装置