FR2588978A1 - Procede et appareil pour tester des systemes analogiques de commande et de protection de processus - Google Patents

Abstract

LE PROCEDE ET L'APPAREIL SELON LA PRESENTE INVENTION SONT DESTINES A TESTER UN SYSTEME ANALOGIQUE 4 DE COMMANDE ET DE PROTECTION DE PROCESSUS COMPRENANT UNE PLURALITE DE VOIES 2 COMPORTANT CHACUNE UNE BORNE D'ENTREE DESTINEE A RECEVOIR UN SIGNAL A CONTROLER, AU MOINS UN COMPOSANT DE CONTROLE DE SIGNAL POUR FORMER UN SIGNAL DE COMMANDE A PARTIR DU SIGNAL APPLIQUE ET UNE BORNE DE SORTIE CONNECTEE DE MANIERE A DELIVRER LE SIGNAL DE COMMANDE A UN AUTRE DISPOSITIF DE COMMANDE DE PROCESSUS. DANS CE PROCEDE ET CET APPAREIL ON TESTE CHAQUE VOIE INDIVIDUELLEMENT EN RELIANT LA BORNE D'ENTREE DE VOIE DE MANIERE QU'ELLE RECOIVE AU MOINS UN SIGNAL DE TEST A LA PLACE DU SIGNAL A CONTROLER, ON CONTROLE LA REPONSE DUDIT COMPOSANT AU SIGNAL DE TEST ET ON FAIT EN SORTE QUE LA BORNE DE SORTIE DE VOIE PRESENTE UN SIGNAL DE COMMANDE SIMULE.

Description

E588978

PROCEDE ET APPAREIL POUR TESTER DES SYSTEMES ANALOGIQUES DE COMMANDE

ET DE PROTECTION DE PROCESSUS.

La présente invention concerne un procédé et un appareil pour tester des systèmes analogiques de commande et de protection de processus qui comportent une pluralité de voies servant chacune à

contrôler un paramètre choisi du processus.

De tels systèmes de protection et de commande sont utilisés dans une grande diversité d'installations industrielles comprenant, par exemple, les centrales nucléaires. On demande à de tels systèmes de

fonctionner d'une façon précise avec un degré effet de fiabilité.

On sait que l'on teste périodiquement chaque voie en appliquant à l'entrée de la voie un signal simulant un mauvais fonctionnement ou un autre état en présence duquel le système devrait réagir et on

observe si ou ou non cette réaction a lieu.

Dans certains cas, comme par exemple dans une centrale nucléaire, on améliore la fiabilité de la réaction ou réponse à un état normal,

fiabilité qui comprend l'absence de réaction à des indications para-

sites d'état normal, en contrôlant un état critique particulier de façon indépendante dans plusieurs, par exemple quatre, voies de contrble et en comparant les signaux de commande aux sorties des voies pour déterminer si oui ou non un état anormal a, en fait, eu

lieu. A titre d'exemple, si deux quelconques des quatre voies fournis-

sent des signaux de sortie indiquant un état anormal, on suppose que l'état anormal a réellement existé et que le système est amené à réagir, par exemple en arrêtant le fonctionnement du réacteur. Un signal de sortie d'état anormal dans une seule des diverses voies est

donc traité comme étant un signal parasite.

Il est de pratique courante de tester manuellement de tels systèmes à l'aide d'une procédure qui demande jusqu'à deux heures par voie et qui nécessite l'application, à la voie sous test, d'un signal

d'entrée représentant l'état défectueux auquel cette voie réagit.

L'apparition d'un signal de sortie d'état anormal à la sortie de la

voie sous test indique que cette voie fonctionne.

Toutefois, en plus du fait qu'une telle procédure de test demande beaucoup de temps, cette procédure a pour inconvénient que si, pendant le test, toute autre voie associée produit un signal parasite d'état

anormal, le système réagit comme si l'état anormal existait réellement.

La présente invention réduit le temps nécessaire pour tester un

tel système.

L'invention réduit également le risque d'une réaction du système à des signaux de sortie parasites pendant le test et facilite une visualisation et une documentation permanente des résultats de chaque test en même temps qu'elle diminue la vulnérabilité de ces tests à

l'erreur humaine.

L'invention, sous sa forme large, comprend un procédé pour tester un système analogique qui commande un processus, ce système étant composé d'une pluralité de voies, chaque voie comprenant une borne d'entrée connectée normalement de manière à recevoir un signal analogique à contrôler, au moins un composant (52, 54) de contrôle de signal pour former un signal de commande à partir du signal analogique

appliqué à la borne d'entrée, et une borne de sortie connectée normale-

ment, dans le circuit, à au moins un composant (54) pour délivrer le signal de commande à un autre dispositif commandant le processus, ledit procédé comprenant le test de chaque voie individuellement et étant caractérisé par les étapes consistant à commuter la borne d'entrée de voie de manière qu'elle reçoive au moins un signal de test à la place du signal à contrôler; à fournir ledit signal de test à la borne d'entrée de voies; à contrôler la réaction dudit composant à au moins un signal de test; et à amener la borne de sortie de voie à présenter un signal de commande simulé pendant le temps durant lequel la borne d'entrée de voie est commutée de manière à recevoir ledit signal de test, ce signal de commande simulé correspondant au signal de commande produit quand les bornes d'entrée et de sortie sont connectées normalement et quand le signal à contrôler aune

valeur indiquant un déroulement normal du processus.

On va décrire ci-après un procédé pour tester un système analo- gique qui commande un processus, ce système étant composé d'une

pluralité de voies, chaque voie comportant une borne d'entrée connec-

tée normalement de manière à recevoir un signal à contrôler, au moins un composant de contrôle de signal pour former un signal de commande 0 à partir du signal appliqué à la borne d'entrée, et une borne de sortie connectée normalement, dans le circuit, audit composant pour délivrer le signal de commande à un autre dispositif commandant le processus, ce procédé consistantà tester chaque voie individuellement à l'aide d'étapes consistant: à commuter la borne d'entrée de voie de manière qu'elle reçoive un signal de test à la place du signal à contrôler; à fournir ledit signal de test à la borne d'entrée de voie; à contrôler la réaction dudit composant audit signal de test; et à amener la borne de sortie de voie à présenter un signal de commande simulé pendant le temps durant lequel la borne de voie est commutée de manière à recevoir ledit signal de test, ce signal de commande simulé correspondant au signal de commande produit quand les bornes d'entrée et de sortie sont connectées normalement et quand le signal à contrôler a une valeur indiquant un déroulement normal du processus.

On va décrire également dans le présent exposé un système analo-

gique de commande de processus comportant une voie qui comprend une borne d'entrée connectée normalement de manière à recevoir un signal à contrôler, au moins un composant de contrôle de signal pourvu d'une entrée connectée normalement à la borne d'entrée pour former un signal de commande à partir du signal appliqué à la borne d'entrée, ce composant étant pourvu en outre d'une sortie, et une borne de

sortie connectée normalement, dans le circuit, à la sortie du compo-

sant pour délivrer le signal de commande à un dispositif de commande de processus, le système analogique sus-visé comprenant un moyen de test de voies constitué par: des moyens connecteurs pour tests

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comprenant au moins un connecteur d'entrée pour fournir un signal de test et au moins un connecteur de sortie pour recevoir un signal de réaction ou réponse au test; et des moyens de commutation pouvant

être commandés électriquement et comprenant des éléments de commuta-

tion connectés dans la voie, les moyens de commutation pouvant être permutés entre un état de fonctionnement normal dans lequel les éléments de commutation relient l'entrée du composant à la borne d'entrée et la sortie du composant à la borne de sortie, et un état de test dans lequel les éléments de commutation déconnectent l'entrée du composant de la borne d'entrée et la sortie du composant de la borne de sortie et connectent l'entrée du composant au connecteur

d'entrée et la sortie du composant au connecteur de sortie.

Pour mieux faire comprendre la présente invention, on va donner

ci-après une description purement illustrative et non limitative d'un

mode de réalisation préféré en se référant aux dessins annexés, sur lesquels la figure 1 est un schéma synoptique d'un mode de réalisation d'un appareil de test pour effectuer des tests ou essais de voies utilisant la présente invention; la figure 2 est un schéma de principe d'une voie typique de système de commande de processus muni de composants d'acheminement de signal de tests selon un mode de réalisation de l'invention; la figure 3 est un tracé de formes d'onde illustrant un des

types d'opération de test selon un mode de réalisation de l'invention.

La figure 1 montre, sous une forme synoptique, une voie 2 d'un système analogique 4 de protection et de commande de processus que l'on doit tester au moyen d'un appareil 6 de collecte et d'analyse de données par microprocesseur, cet appareil étant formé de composants numériques, à savoir un convertisseur numérique/analogique 8 et un

convertisseur analogique/numérique 10.

L'appareil 6 peut comprendre, par exemple, un microprocesseur 14 servant d'unité de traitement centrale, un dispositif d'entraInement de disque, ou autre dispositif d'entrée/sortie 16, un dispositif 18, tel qu'un traçeur de courbe X-Y pour donner sur papier des copies sur papier de résultats de test, un terminal 20 de visualisation de graphique sur tube à rayons cathodiques comprenant un clasier, un écran à touches interactives, ou autre élément d'entrée, une source d'alimentation 22, des dispositifs 24 d'étalonnage automatique pour engendrer divers types de signaux de test tels que des simulations de courbe de résistance et RTD. L'appareil 6 communique avec la voie 2 par l'intermédiaire d'un câble multiconducteur 30 composé d'un groupe de conducteurs 32 de transmission et d'un groupe de conducteurs 34 de réception. Le câble est accouplé, à l'extrémité associée à la voie 2, à un connecteur 36 monté sur le meuble contenant le système analogique 4 dont fait

partie la voie 2.

Chaque voie 2 possède son propre connecteur associé et, de préférence, chaque connecteur 36 est codé individuellement, à l'aide d'une ou plusieurs connexions volantes reliant l'une à l'autre deux broches du connecteur d'une manière qui peut être interprétée par l'appareil 6 d'une telle façon qu'il n'accepte que le programme de

tests approprié.

Une fois que le câble 30 a été accouplé au connecteur 36 d'une voie choisie 2, on peut charger le dispositif 16 d'entraînement de disque avec un disque choisi contenant des informations de tests nécessaires pour cette voie et on introduit ces informations dans le

microprocesseur 14.

La figure 2 montre un exemple de voie de système analogique équipée pour être testée conformément à la présente inventon. Cette

voie est connectée à une source 50 de signaux, c'est-à-dire un trans-

ducteur contrôlant un paramètre choisi, tel que le niveau d'un fluide dans un réservoir, et est composée d'un convertisseur courant-tension 52 et d'un détecteur 54 de seuil. Pendant un fonctionnement normal, le signal de sortie du détecteur 54 présente une valeur haute quand le niveau du fluide dans le réservoir se trouve en dessous d'une hauteur prédéterminée et une valeur basse quand le niveau du fluide se trouve au- dessus de cette hauteur prédéterminée. Ainsi, par exemple,

une tension de sortie basse du détecteur 54 représente l'état désiré.

Pour que cette voie puisse être testée conformément à la présente invention, elle est munie d'un nombre approprié de commutateurs télécommandables pour déconnecter l'entrée de la voie de la source 50 de signaux et la sortie de la voie du dispositif de commande auquel elle est reliée pendant un fonctionnement normal, cela pour permettre aux signaux de tests d'être appliqués à l'entrée du convertisseur 52 et pour que les signaux de sortie du convertisseur 52 et du détecteur

54 puissent être contrôlés.

Ces comutateurs comprennent un commutateur 56 qui connecte normalement la source 50 de signaux au convertisseur 52 et qui peut être commuté de manière à déconnecter le convertisseur 52 de la source 50 et de-la connectera une broche 57 du connecteur 36;

un commutateur 58 qui connecte normalement l'entrée du convertis-

seur 52 à un point de test 80 sur le meuble du système et qui peut être commuté de manière à connecter l'entrée du convertisseur 52 à la borne 74 du connecteur 36;

un commutateur 60 qui connecte normalement la sortie du conver-

tisseur 52 à un point de test 82 du meuble du système et qui peut être commuté de manière à connecter la sortie du convertisseur 52 à une broche 76 du connecteur 36; et un commutateur 62 qui connecte normalement la partie sortie du détecteur 54 de seuil à son dispositif de commande associé et qui peut être commuté de manière à connecter la sortie du détecteur 54 à

une broche 78 du connecteur 36.

Les points de tests, 80 et 82, sont montés sur le meuble qui loge la voie et sont accessibles pendant un fonctionnement normal de cette voie. Les broches 72, 74, 76 et 78 font partie du connecteur 36

associé à la voie en vue d'une connexion à l'appareil de test 6.

Les commutateurs 56, 58, 60 et 62 sont des contacts de relais actionnés par des bobines 86, 88, 90 et 92 de relais, chaque bobine étant connectée entre deux broches 94, 96; 98, 100; 102, 104; et 106

et 108, respectivement, du connecteur 36.

Du fait que les contacts 56, 58, 60 et 62 sont normalement actionnés en même temps, il serait également possible d'incorporer

ces contacts dans un seul relais comportant une seule bobine d'action-

nement. Cette disposition simplifierait bien entendu la structure

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utilisée pour exécuter la procédure de test et r&duirait le nombre de

broches nécessaires dans le connecteur 36.

Pour exécuter le test de la voie représentée sur la figure 2, on connecte le câble 30 de la figure 1 au connecteur 36, on insère le disque approprié, ou autre support de stockage d'informations, dans le dispositif 16 et on met en marche l'appareil 6. Au début du fonctionnement, le système détermine tout d'abord si oui ou non on a inséré le support de stockage d'informations correct pour cette voie en se basant, par exemple, sur le codage particulier du connecteur

36.

Ensuite, les signaux de test appropriés sont appliqués par l'intermédiaire des conducteurs 32 au connecteur 36 pour actionner tout d'abord les relais 86, 88, 90 et 92 et appliquer ensuite à la broche 72 du connecteur une séquence de signaux de test choisis préalablement. Pendant que ces signaux sont appliqués, les signaux de réponse qui apparaissent sur les broches 74, 76 et 78 sont délivrés par l'intermédiaire des conducteurs 34 et du convertisseur 10 au dispositif 14, 18 et 20 pour contrôler la réponse aux réactions de la voie. Les signaux appliqués à la broche 72 du connecteur sont engendrés par des dispositifs 24 sous la commande de la CPU 14 et en réponse aux informations fournies par le support de stockage d'informations

du dispositif 16.

Les signaux apparaissant sur les broches 74, 76 et 78 du connec-

teur en réponse aux signaux d'essais appliqués à la broche 72 du

connecteur peuvent être enregistrés sur le support de stockage d'infor-

mations du dispositif 16 en vue d'une lecture et d'une analyse ultérieures.

Les informations contenues dans le support de stockage d'informa-

tions inséré dans le dispositif 16 peuvent comprendre une valeur nominale donnée pour le signal de réponse apparaissant à chaque broche 74, 76 et 78 du connecteur à chaque signal appliqué à la broche 72 de ce connecteur. Si une valeur mesurée prélevée sur l'une

des broches de sortie ne se situe pas dans les.limites d'un pourcen-

tage prédéterminé de la valeur nominale, l'appareil 6 signale à l'opérateur du système qu'il existe un mauvais fonctionnement dans la voie et que des dispositions correctrices appropriées peuvent alors être prises. Si tous les signaux de sortie se situent dans les limites prédéterminées, l'appareil rétablit automatiquement la voie dans son mode de fonctionnement normal, après quoi on peut déconnecter le câble 30 du connecteur 36 et on peut commencer le test de la voie suivante. Pendant l'opération de test, le contact 62 se trouve dans une position telle que la sortie de la voie se trouve en circuit ouvert de sorte que la tension à la sortie de la voie est nulle. Si un niveau de tension nulle correspond à la tension qui apparatt à la sortie de la voie quand cette voie en cours de contrôle se trouve dans un état normal, alors, pendant le test, la voie soumise au test continue de fournir à son dispositif de commande associé un signal indiquant que la source 50 de signaux fournit un signal de sortie

acceptable.

S'il en est pas ainsi, c'est-àdire si un niveau de tension nulle à la sortie de la voie représente un état anormal auquel le système analogique doit répondre, c'est-à-dire réagir, alors on pourrait utiliser, comme représenté en traits interrompus sur la figure 2, un autre contact de relais qui serait actionné en parallèle avec le contact 62 par la bobine 92 de relais et qui, lors de l'excitation de la bobine 92, connectrait la sortie de la voie de manière que soit appliqué à cette sortie, par l'intermédiaire du connecteur 36, un signal correspondant à une sortie d'état normal de la source 50 de signaux. Une voie du système, tel que celle représentée sur la figure 2, peut être constituée par plusieurs cartes, contenant chacune un composant de voie correspondant, et par une carte contenant les relais et les points de test associés. Apres que le câble 30 a été connecté au connecteur 36 et que le support d'informations approprié a été inséré dans le dispositif 16, la CPU 14 engendre une série de mots de test qui correspondent aux adresses des cartes de test associées. La reconnaissance de ces mots provoque l'actionnement des relais de la figure 2 de manière qu'ils connectent le dispositif de test aux points de signaux associés, c'est-a-dire aux points de tests de chaque carte. L'opérateur peut alors choisir ceux des points de tests qui doivent être contrôlés, ce qui amène la CPU à déclencher la génération d'un flot de bits en série qui sont introduits de façon synchronisée dans le registre à décalage pour exciter les bobines 86,

92 de relais.

Pendant que sont exécutées les étapes ci-dessus, l'appareil de test peut contrôler l'état de commutation de tous les contacts 56, 62

de relais par l'intermédiaire de lignes-d'interruption de sécurité.

Si un contact quelconque est commuté à partir de son état de test correspondant à l'excitation de la bobine de relais associé, les signaux résultants présents sur les lignes d'interruption de sécurité associées agissent de manière à stopper toute autre opération de test jusqu'à ce que les états appropriés des contacts aient été établis. A ce stade, on peut injecter un signal de test préalable pour s'assurer que le test est bien exécuté sur la voie et aux points de tests corrects. Une fois qu'il a été établi que les connexions appropriées ont été effectuées et que les contacts de commande des relais se trouvent dans leurs états appropriés, l'appareil 6 injecte des signaux de test fournis par des dispositifs 24. Un tel signal pourrait être un signal en dents de scie qui est souhaitable pour contrôler l'étalonnage des réseaux à avance/retard de phase disposés dans la voie. Toutefois, ceci peut nécessiter une période de temps allant jusqu'à 2 000

secondes.

Pour réduire la durée d'un tel test, on peut utiliser un signal injecté qui correspond au signal produit si on fait passer un tel signal en dents de scies à travers un réseau équivalent à l'inverse de la fonction avance/retard de telle manière qu'un signal en dents de scie correspondant apparaisse à la sortie de ce réseau à avance/

retard de phase.

Un réseau avance/retard de phase est un dispositif connu dans lequel la phase du signal de sortie diffère d'une manière choisie de

la phase du signal d'entrée.

La figure 3 représente les formes d'onde d'une tension V en fonction du temps T pour un signal avance/retard inverse 110 et pour un signal en dents de scie 112 qui apparalt à la sortie d'un réseau particulier à avance/retard de phase, fonctionnant correctement, si le signal 110 est appliqué à son entrée. Pour tester un tel réseau à avance/retard de phase faisant partie de la voie analogique en cours de test, les informations relatives au test qui sont stockées sur le disque chargé dans le dispositif 16 d'entraînement de disque contiennent une représentation des formes d'onde 110 et 112 et des informations relatives aux

caractéristiques de temporisation du réseau à avance/retard de phase.

Pour tester ce réseau, la forme d'onde 110 est engendrée dans le dispositif 24 d'après les informations stockées et elle est appliquée à l'entrée du réseau à avance/retard de phase. Le signal de sortie résultant qui, si le réseau fonctionnait correctement, aurait l'allure de la forme d'onde 112, est converti sous une forme numérique dans l'appareil 6 et est comparé, compte tenu du retard inhérent au réseau, avec la représentation stockée de la forme d'onde 112. Si le résultat montre une coïncidence avec une plage comprise entre certaines limites de tolérance, on considère que le réseau à avance/retard de phase est

en état de fonctionner.

L'appareil 6 échantillonne la réponse analogique de la voie à chaque point de test choisi, convertit l'échantillon analogique en une valeur numérique, et compare cette dernière avec des limites programmées pour le signal qui doit apparaître à ce point de test. Si on constate qu'une valeur échantillonnée se situe en dehors de la plage programmée préalablement, on peut programmer l'appareil 6 pour qu'il effectue le même essai un certain nombre de fois supplémentaires, par exemple deux fois, avant de fournir une indication d'une réponse de défaillance. Sinon, le programme introduit dans l'appareil 6 passe aux points de tests suivants. Quand tous les points ont été testés, l'appareil 6 peut engendrer un signal de remise à l'état initial qui rétablit la voie dans son mode de fonctionnement normal. Pour être sûr que la voie a bien ainsi été rétablie, on peut appliquer un signal d'entrée auquel on donne un valeur extrême qui, normalement, provoquerait un changement dans l'état de la voie si l'entrée de la voie était encore connectée au système de test. Si ce changement ne se produit réellement pas, on en conclut que la voie a été remise dans on état initial et que le test de la voie suivante peut être exécute. Le procédé et l'appareil selon la présente invention utilise un dispositif de test à base de microprocesseur qui fonctionne de manière à isoler chaque voie successivement, à vérifer que la voie désirée a été placée en mode de test, à injecter les signaux de test analogiques et à contrôler les réponses de la voie aux points de test choisis, à comparer les valeurs de réponse réelles ainsi que les temps de réponse avec des valeurs ou des plages de valeurs nominales programmées préalablement, à alerter l'opérateur de l'apparition d'une réponse indiquant un défaut de fonctionnement, à verifier que la voie a bien été remise dans son mode de fonctionnement normal à la fin du test et

à fournir un affichage et une documentation des résultats de test.

Il est bien entendu que la description qui précède n'a été

donnée qu'à titre purement illustratif et non limitatif et que des variantes ou des modifications peuvent y être apportées dans le cadre

de la présente invention.

Claims (12)

REVENDICATIONS

1. Procédé pour tester un système analogique qui commande un processus, ce système étant composé d'une pluralité de voies, chaque voie comprenant une borne d'entrée connectée normalement de manière à recevoir un signal analogique à contrôler, au moins un composant (52, 54) de contrôle de signal pour former un signal de commande à partir du signal analogique appliqué à la borne d'entrée, et une borne de sortie connectée normalement, dans le circuit, à un au moins un

composant (54) pour délivrer le signal de commande à un autre dispo-

sitif commandant le processus, ledit procédé comprenant le test de chaque voie individuellement et étant caractérisé par les étapes consistant: (a) à commuter la borne d'entrée de voie de manière qu'elle reçoive au moins un signal de test à la place du signal à contrôler; (b) à appliquer au moins un signal de test à la borne d'entrée de voie; (c) à contrôler la réponse dudit composant audit signal de test; et (d) à amener la borne de sortie de voie à présenter un signal de commande simulé pendant le temps durant lequel la borne d'entrée de voie est commutée de manière à recevoir ledit signal de test, ce signal de commande simulé correspondant au signal de commande

produit quand les bornes d'entrée et de sortie sont connectées norma-

lement et quand le signal à contrôler a une valeur indiquant un

déroulement normal du processus.

2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé par le fait que

chaque voie est pourvue de commutateurs (56, 62) pouvant être comnman-

dés électriquement et connectés, respectivement, à la borne d'entrée de la voie et à la sortie du composant et par le fait que l'état de

commutation comprend la commande électrique des commutateurs.

3. Procédé selon la revendication 2, caractérisé par le fait que l'on exécute l'étape (c) de contrôle au moyen d'un appareil (6) de collecte et d'analyse de données, chaque voie étant pourvue d'un connecteur multibroche (36) et l'appareil (6) étant pourvu d'un câble multiconducteur (30) qui peut être connecté à chaque voie pour mettre

en oeuvre ledit procédé.

4. Procédé selon la revendication 3, caractérisé par le fait que l'ou exécute l'étape (b) d'application d'au moins un signal de test en engendrant le signal de test dans l'appareil (6) de collecte et

d'analyse de données.

5. Procédé selon la revendication 4, caractérisé par le fait que le signal de commande simulé est engendré dans l'appareil (6) de collecte et d'analyse de données.

6. Procédé selon la revendication 5, caractérisé par le fait qu'il comprend, en outre, l'étape de connexion du câble (30) de l'appareil (6) de collecte et d'analyse de données au connecteur (36) d'une voie choisie et l'exécution de ladite étape (a) de commutation avant lesdites étapes (b), (c) et (d) en acheminant de l'appareil (6) jusqu'à la voie choisie un signal de commutation pour commander les

commutateurs (56, 62).

7. Procédé selon la revendication 6, caractérisé par le fait que l'étape (a) de commutation comprend, en outre, le débranchement de la

borne de sortie d'avec ledit composant (54).

8. Appareil pour tester une voie d'un système analogique de commande de processus, cette voie comprenant une borne d'entrée connectée normalement de manière à recevoir un signal à contrôler, au moins un composant (52, 54) de contrôle de signal pourvu d'une entrée connectée normalement à la borne d'entrée pour former un signal de commande à partir du signal appliqué à la borne d'entrée, le composant (54) étant pourvu en outre d'une sortie, et une borne de sortie connectée normalement, dans le circuit, à la sortie du composant pour

délivrer le signal de commande à un dispositif de commande de proces-

sus, l'appareil de test sus-visé comprenant des moyens connecteurs (36) pour tests comprenant au moins un connecteur (72) d'entrée pour appliquer un signal de test et au moins un connecteur (78) de sortie pour recevoir un signal de réponse aux tests, caractérisé par des

moyens de commutation pouvant être commandés électriquement et compre-

nant des éléments de commutation (56, 58, 60, 62) connectés dans ladite voie, lesdits moyens de commutation pouvant être permutés entre un état de fonctionnement normal dans lequel lesdits éléments de commutation connectent l'entrée du composant à la borne d'entrée et la sortie du composant à la borne de sortie, et un état de test dans lequel lesdits éléments de commutation déconnectent l'entrée du composant d'avec la borne d'entrée et la sortie du composant d'avec

la borne de sortie et connectent l'entrée du composant aux connec-

teurs d'entrée et la sortie du composant aux connecteurs de sortie.

9. Appareil de tests selon la revendication 8, caractérisé par le fait que lesdits moyens de commutation comprennent un élément de

commande (86, 88, 90, 92) pour commuter lesdits éléments de commuta-

tion dans leur état de test en réponse à un signal de déclenchement de test et par le fait que lesdits moyens connecteurs comprennent un connecteur de signal de déclenchement de test connecté audit élément de commande pour appliquer à ce dernier un signal de déclenchement de test.

10. Appareil de test selon la revendication 9, caractérisé par le fait que lesdits moyens de commutation comprennent un relais composé d'une bobine (86, 88, 90, 92) constituant ledit élément de commande et des contacts (56, 58, 60, 62) de relais constituant

lesdits éléments de commutation.

11. Appareil de test selon la revendication 9, caractérisé par le fait que lesdits moyens de commutation comprennent en outre un élément de commutation connecté auxdits moyens de connecteurs et

pouvant être permuté dans un état de test par ledit élément de com-

mande pour appliquer un signal choisi à ladite borne de sortie.

12. Appareil de test selon la revendication 8, caractérisé par le fait que lesdits moyens connecteurs (36) sont codés d'une manière

pouvant être détectés électriquement pour identifier ladite voie.