FR2584007A1 - Dispositif a positionnement optique - Google Patents

Dispositif a positionnement optique Download PDF

Info

Publication number
FR2584007A1
FR2584007A1 FR8609203A FR8609203A FR2584007A1 FR 2584007 A1 FR2584007 A1 FR 2584007A1 FR 8609203 A FR8609203 A FR 8609203A FR 8609203 A FR8609203 A FR 8609203A FR 2584007 A1 FR2584007 A1 FR 2584007A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
plane
envelope
optical
image side
reproduction system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
FR8609203A
Other languages
English (en)
Inventor
Werner Krieg
Johannes Mobius
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik AG
Original Assignee
Carl Zeiss Jena GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss Jena GmbH filed Critical Carl Zeiss Jena GmbH
Publication of FR2584007A1 publication Critical patent/FR2584007A1/fr
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G01B11/27Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
    • G01B11/272Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes using photoelectric detection means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)

Abstract

DISPOSITIF A POSITIONNEMENT OPTIQUE POUR PALPEURS, PIECES D'USINAGE ET OUTILS QUI COMPREND UNE ENVELOPPE CONTENANT UN REPERE DE VISEE OU UN DISPOSITIF DE RECEPTION PHOTOELECTRIQUE ET QUI PEUT ETRE PLACE SUR LE TRAJET DES RAYONS D'UN LASER OU D'UN COLLIMATEUR AU NIVEAU DE L'OBJET A MESURER OU A POSITIONNER, CARACTERISE EN CE QU'A L'INTERIEUR DE L'ENVELOPPE 6, DANS LA ZONE COMPRISE ENTRE LE REPERE DE VISEE 7, 7 OU LE DISPOSITIF DE RECEPTION ET LE SYSTEME DE PROJECTION 1 OU LE LASER, IL COMPORTE UN SYSTEME DE REPRODUCTION OPTIQUE 8 REALISE DE TELLE MANIERE QUE LE PLAN CONTENANT LE REPERE DE VISEE 7, 7 OU LE DISPOSITIF DE RECEPTION SE TROUVE A UNE DISTANCE DU PLAN PRINCIPAL, COTE IMAGE, DU SYSTEME DE REPRODUCTION 8, INFERIEURE OU EGALE A SA DISTANCE FOCALE COTE IMAGE, EN CE QUE L'ENVELOPPE 6 CONTIENT EN PLUS, DES ELEMENTS OPTIQUES 14 REALISANT UN TRAJET DE RAYONS D'OBSERVATION OU D'EXPLOITATION 15 ET EN CE QUE L'ENVELOPPE 6 COMPORTE, DANS LA ZONE COTE IMAGE DU SYSTEME DE REPRODUCTION 8, DES DISPOSITIFS QUI MARQUENT L'EMPLACEMENT D'EXPLOITATION OU LE PLAN QUI LE CONTIENT AU NIVEAU DE L'OBJET OU DE LA PIECE A MESURER OU QUI PEUVENT ETRE PLACES A L'EMPLACEMENT D'EXPLORATION OU DANS SON PLAN.

Description

La présente invention est relative à un dispositif à positionnement optique pour palpeurs, pièces d'usinage et outils utilisé avec des appareils de mesure et des machines outils, de préférence pour le positionnement de ces éléments à des emplacements difficilement accessibles et pour le réglage de leur alignement.
Au cours des opérations de fabrication, il est souvent indispensable d'orienter des pièces de manière à ce qu'elles soient alignées ou de vérifier leur alignement réciproque. Les essais d'alignement sont souvent effectués par voie optique en utilisant une lunette d'alignement et un repère de visée d'un système de projection, le repère de visée étant observé à travers la lunette de visée.
D'après le document ATM V 8224-16 de février 1963, pages 39 et 40, on peut également, à partir du plan oculaire d'une lunette d'alignement, projeter un repère ou un trait sur un repère de visée situé à l'emplacement de visée. Le dispositif de mesure ou de réglage se trouve donc à l'intérieur ou à proximité de l'objet qui doit être aligné.
L'inconvénient de ce système réside dans le fait que l'emplacement de mesure doit être accessible et doit pouvoir être observé. La focalisation après coup de la lunette d'alignement s'accompagne d'erreurs dues au déplacement de la ligne de fuite.
Lorsqu'on utilise une lunette d'alignement comportant un prisme Posters, le trait projeté d'un miroir concave placé au niveau de l'objet mesuré est renvoyé dans le plan oculaire de la lunette, le milieu du miroir concave se trouvant à l'emplacement de l'image aérienne du repère. Ce système permet d'éviter les erreurs de guidage inhérentes à la focalisation de la lunette, mais il faut encore, dans ce cas également, que l'emplacement à mesurer soit accessible pour qu'on puisse y placer le miroir concave. La construction de la lunette elle-même est compliquée du fait de l'adjonction de prismes.
D'après le document Feingeràtetechnik 3 (1954) 6, pages 273 à 275, il est connu de réaliser à l'aide d'un collimateur, un repère éclairé le long de la ligne de visée.
Cette image est observée à la lunette d'alignement.
Le DE-OS 3 226 881 décrit un dispositif d'ajustage pour la mise en alignement d'un support d'arbre à plusieurs emplacements, dans lequel un organe sensible à la position des rayons et des moyens d'affichage se trouvent dans un manchon cylindrique et dans lequel le plan de mesure se trouve à l'intérieur ou sur la surface avant du manchon.
L'éclairage est assuré par un dispositif à laser, le trajet du faisceau laser constituant la ligne de fuite. Si cependant un organe sensible constitué de cette manière est relié par exemple à un outil ou à une cale d'ajustage pour le centrage de petits alésages, il se produit, même pour de faibles écarts de direction, des erreurs de comparateur.
Avec ce dispositif, on ne peut obtenir des résultats satisfaisants, pour la mise en alignement des pièces ou pour le contrôle de l'alignement, que si l'appareil sensible peut être placé directement à proximité ou à l'intérieur de l'objet à mesurer, c'est-à-dire qu'il faut que l'objet soit accessible.
De plus, dans l'état de la technique connu, on utilise, pour la réalisation d'alignement précis d'outils ou de pièces sur des machines outils, un microscope de centrage qui est utilisé par exemple dans le cône d'outil de la machine, pour viser des mises centrées dans les pièces et portant des repères de visée. En raison d'un décalage des repères visés, le principe du comparateur est également mis en défaut et des erreurs d'alignement sont inévitables.
Le but de l'inventior est d'éliminer les inconvénients correspondant à l'état de la technique, d'augmenter, au moyen d'appareils assurant l'alignement, la précision du positionnement, notamment dans le cas des opérations de traçage et de palpage, et d'élargir le domaine d'application de ces appareils.
Le but de l'invention est donc de réaliser -un dispositif à positionnement optique qui permette d'effectuer des opérations d'alignement, de palpage et de marquage sur des machines et des appareils et qui soit facile à construire et à manier et permette, dans de larges limites et avec une grande précision, d'effectuer, même pour de petits objets ou des parties d'objets inaccessibles ou difficilement accessibles, des opérations d'alignement, de palpage et de marquage et de réaliser une automatisation des opérations de réglage.
Ce but est atteint, suivant l'invention, par l'utilisation d'un dispositif à positionnement optique pour palpeurs, pièces d'usinage et outils qui comprend une enveloppe contenant un repère de visée ou un dispositif récepteur photoélectrique et qui peut être placé sur le trajet d'un faisceau laser ou d'un faisceau de collimateur au niveau de l'objet à mesurer ou à positionner, caractérisé en ce qu'à l'intérieur de l'enveloppe, dans l'espace compris entre le repère de visée ou le dispositif récepteur et le système de projection ou le laser, le dispositif comporte un système de reproduction optique réalisé de telle manière que le plan contenant le repère de visée ou le dispositif récepteur est situé à une distance du plan principal, côté image du système de reproduction optique inférieure ou égale à sa distance focale côté image et, de plus en ce que l'enveloppe contient des éléments optiques réalisent un trajet de rayons d'observation ou d'exploration et que l'enveloppe comporte dans la zone côté image du système de reproduction optique, des dispositifs qui marquent l'emplacement d'exploration ou le plan qui le contient au niveau de l'objet à mesurer ou de la pièce ou qui peuvent être placés à l'emplacement d'exploration ou dans son plan.
Il est avantageux que les dispositifs qui peuvent être placés sur l'enveloppe soient des doigts palpeurs, des outils, des vérins de centrage ou des appareils analogues.
L'invention permet de réaliser un dispositif à positionnement optique qui est simple à construire et à manier et permet des applications variées et, surtout, de régler avec une grande précision des problèmes d'alignement et de repérage même pour de petits objets inaccessibles ou d'accès difficile. De plus, les dispositifs en question permettent en association avec des lasers d'alignement, des lunettes d'alignement assurant la projection et d'autres systèmes de projection, de résoudre ces problèmes très rapidement. Les erreurs de comparateur sont éliminées en grande partie.
Diverses autres caractéristiques de l'invention ressortent d'ailleurs de la description détaillée qui suit.
Des formes de réalisation de objet de l'invention sont représentées, à titre d'exemples non limitatifs aux dessins annexés.
La fig. 1 représente la structure de principe du dispositif.
La fig. 2 indique le trajet des rayons et le mode de formation des images dans le dispositif.
La fig. 3 représente un dispositif comportant un disque de centrage.
La fig. 4 représente un dispositif comportant une sphère de centrage.
La fig. 5 représente un dispositif comportant un cylindre de centrage et une unité d'affichage.
La fig. 6 représente un dispositif comportant un cône de centrage.
La fig. 7 représente un raccord à câble photoconducteur.
La fig. I représente schématiquement un dispositif suivant l'invention qui peut être positionné optiquement, et un système de projection 1, qui comprend notamment une source lumineuse 2, un trait de repère 3,3' et un système optique 4 reproduisant l'image de ce trait de repère 3. Le dispositif 5 comprend une enveloppe 6 qui contient un repère de visée 7,7' et, dans l'espace compris entre le repère de visée 7,7' et le sytème de projection 1, un système de reproduction optique 8, le plan E' contenant le repère de visée 7 se trouvant par rapport au plan H' (fig. 2) du système de reproduction optique 8 du côté image, à une distance a' inférieure à sa distance focale f' du côté image.Sur l'enveloppe 6 peuvent être montés un palpeur 9 (fig. 1), un disque de centrage 10 (fig. 3) ou un palpeur 11 associé à une bille de centrage 12 (fig. 4) ou à un cylindre de centrage 13 (fig. 5), pour que l'on puisse effectuer différents réglages ou différentes mesures. De même, un dispositif à pointeau (non représenté) peut être monté sur l'enveloppe 6. Tous ces dispositifs sont montés dans l'espace situé du côté image du système de reproduction optique 8 et sont optiquement inaccessibles.
Le dispositif 5 comprend en outre des éléments optiques, par exemple un miroir diviseur de faisceau 14 pour la production d'un faisceau de rayons d'observation et/ou d'exploration 15, ce miroir 14 se trouvant dans la zone située du côté objet du sytème 8 de reproduction, donc entre le plan principal H du sytème de reproduction optique 8, du côté objet , et le collimateur 1.
Comme la fig. 2, l'indique, pour la mise en évidence du fonctionnement du dispositif 5, le trait de repère 3 est projeté virtuellement, de la zone de l'objet à la zone image par le système de projection sur le plan d'exploration
E, dans lequel se trouve, par exemple le point de contact
P, du palpeur 9. Le sytème de reproduction optique 8 du dispositif 5 placé sur le trajet des rayons fournit l'image réelle du trait de repère 3 dans la zone comprise entre le plan principal H' et le foyer F' du sytème de reproduction optique 8 du côté image dans le plan E' au point d'image P', la distance a' entre le plan E' et le plan principal H' étant égale à a' a+f' , a étant la distance comprise
af' entre le plan d'exploration E et le plan principal H du sytème de reproduction optique qui est situé du côté objet.
Le point d'exploration P qui se trouve sur l'axe optique 16 a son image au point image P'. Il en est de même pour les rayons qui, dans la zone située du côté objet dans le système de reproduction optique 8, passent par le point P.
Au moyen du repèredevisée 7,7' placé au point image P' ou d'un palpeur photoélectrique 17 (fig. 5) sensible à la position, on peut donc savoir si le dispositif 5 équipé du système de reproduction optique 8 est orienté ou non dans le prolongement du point d'exploration P et du trajet des rayons du système de projection 1. L'orientation est indiquée par le trajet des rayons d'observation 15.
La fig. 5 représente un dispositif qui peut être positionné et dont l'enveloppe 6 contient à côté du système de reproduction optique 8, un filtre 20 pour la suppression de la lumière parasite et, au lieu du trait de visée, un palpeur photoéléctrique 17 sensible à la position. Sur ce palpeur 17,17', le sytème de reproduction optique 8 forme l'image du trait de repère 3,3'. L'état d'orientation ou de réglage du cylindre de centrage 13 par exemple par rapport à l'objet 18 qui doit être mesuré ou orienté peut être indiqué par une unité d'affichage 19 liée au palpeur 17. La combinaison du système de reproduction optique 8 et du palpeur photoélectrique 17 permet, à côté de l'action géomé trique qui élimine les erreurs, une optimisation des valeurs phototechniques transmises à l'unité d'affichage 19.
Le dispositif représenté par la fig. 6 comporte un système optique raccourci comprenant, dans la zone de reproduction optique 8, située du côté image, un miroir de déviation 21 qui envoie la lumière sur le palpeur 22. L'enve loppe 23 comporte un dispositif 24 qui centre le palpeur 22 dans le plan d'exploration E, par exemple a' après le bord d'un alésage 25 d'un outil 26 qui doit être visé. La visée du trait de visée ou du palpeur 22 peut s'effectuer au moyen d'un microscope centré non représenté.
L'enveloppe 23 peut également comporter un câble photoconducteur 27 rattaché au point image P' (fig. 27) pour le guidage de signaux à des emplacements très visibles.
Au lieu d'un système de projection, on peut également utiliser un laser d'alignement dont le faisceau lumineux est dirigé sur un repère de visée réalise en conséquence ou sur un palpeur photoélectrique sensible à la position.

Claims (2)

REVENDICATIONS
1. Dispositif à positionnement optique pour palpeurs, pièces d'usinage et outils qui comprend une enveloppe contenant un repère de visée ou un dispositif de réception photoélectrique et qui peut être placé sur le trajet des rayons d'un laser ou d'un collimateur au niveau de l'objet à mesurer ou à positionner, caractérisé en ce qu'à l'intérieur de l'enveloppe (6), dans la zone comprise entre le repère de visée (7,7') ou le dispositif de réception et le système de projection (1) ou le laser, il comporte un sytème de reproduction optique (8) réalisé de telle manière que le plan contenant le repère de visée (7,7') ou le dispositif de réception se trouve à une distance du plan principal, côté image, du système de reproduction (8), inférieure ou égale à sa distance focale côté image, en ce que l'enveloppe (6) contient, en plus, des éléments optiques (14) réalisant un trajet de rayons d'observation ou d'exploration (15) et en ce que l'enveloppe (6) comporte, dans la zone côté image du système de reproduction (8) des dispositifs qui marquent l'emplacement d'exploration ou le plan qui le contient au.
niveau de l'objet ou de la pièce à mesurer ou qui peuvent être placés à l'emplacement d'exploration ou dans son plan.
2. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que les dispositifs qui peuvent être placés sur l'enveloppe (6) sont des doigts d'exploration, des outils, des cylindres de centrage et des dispositifs analogues.
FR8609203A 1985-07-01 1986-06-25 Dispositif a positionnement optique Withdrawn FR2584007A1 (fr)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD27806985A DD238938A1 (de) 1985-07-01 1985-07-01 Optisch positionierbare einrichtung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
FR2584007A1 true FR2584007A1 (fr) 1987-01-02

Family

ID=5569192

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR8609203A Withdrawn FR2584007A1 (fr) 1985-07-01 1986-06-25 Dispositif a positionnement optique

Country Status (3)

Country Link
DD (1) DD238938A1 (fr)
DE (1) DE3611030A1 (fr)
FR (1) FR2584007A1 (fr)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0643282A1 (fr) * 1993-09-13 1995-03-15 Sfim Optronique Pour La Defense Et Le Spatial Dispositif optique de mesure d'écart transversal
GB2461382A (en) * 2008-07-02 2010-01-06 Bosch Gmbh Robert Compass saw with camera
US8040023B2 (en) 2008-08-08 2011-10-18 Robert Bosch Gmbh Bending transducer for generating electrical energy from mechanical deformations

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5201145A (en) * 1990-03-31 1993-04-13 Shin-Etsu Handotai Company, Limited Monocrystal ingot attitude-adjusting/surface-grinding/conveying apparatus
AT404517B (de) * 1995-02-07 1998-12-28 Plastounik Guenther Vorrichtung zum positionieren von elementen

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE730290C (de) * 1937-09-28 1943-01-08 Herbert Lindner Fa Anvisiermikroskop mit geknickter optischer Achse und Beleuchtungseinrichtung, das durch eine Haltevorrichtung an eine Werkzeugspindel, insbesondere die Werkzeugspindel einer Koordinatenbohrmaschine, ansetzbar ist
DE817671C (de) * 1950-02-15 1951-10-18 Friedrich Stuebbe Geraet zum Ausrichten zusammenarbeitender Teile von Werkzeugmaschinen
DE921717C (de) * 1952-12-16 1954-12-23 Bernard Eugene Marie Cuny Optische Pruefvorrichtungen fuer Zentrierungen, koaxiale Einstellungen und Ausrichtungen
US3124880A (en) * 1959-03-12 1964-03-17 Rantsch
DE3226881A1 (de) * 1982-07-17 1984-01-19 Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8000 München Justierscheibe fuer hochgenaue lagerung von achsen und wellen

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE730290C (de) * 1937-09-28 1943-01-08 Herbert Lindner Fa Anvisiermikroskop mit geknickter optischer Achse und Beleuchtungseinrichtung, das durch eine Haltevorrichtung an eine Werkzeugspindel, insbesondere die Werkzeugspindel einer Koordinatenbohrmaschine, ansetzbar ist
DE817671C (de) * 1950-02-15 1951-10-18 Friedrich Stuebbe Geraet zum Ausrichten zusammenarbeitender Teile von Werkzeugmaschinen
DE921717C (de) * 1952-12-16 1954-12-23 Bernard Eugene Marie Cuny Optische Pruefvorrichtungen fuer Zentrierungen, koaxiale Einstellungen und Ausrichtungen
US3124880A (en) * 1959-03-12 1964-03-17 Rantsch
DE3226881A1 (de) * 1982-07-17 1984-01-19 Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8000 München Justierscheibe fuer hochgenaue lagerung von achsen und wellen

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ATM ARCHIV FUER TECHNISCHES RECHNEN *
FEINGERAETETECHNIK *
SOVIET INVENTIONS ILLUSTRATED *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0643282A1 (fr) * 1993-09-13 1995-03-15 Sfim Optronique Pour La Defense Et Le Spatial Dispositif optique de mesure d'écart transversal
FR2710146A1 (fr) * 1993-09-13 1995-03-24 Matra Defense Dispositif optique de mesure d'écart transversal.
GB2461382A (en) * 2008-07-02 2010-01-06 Bosch Gmbh Robert Compass saw with camera
GB2461382B (en) * 2008-07-02 2012-07-11 Bosch Gmbh Robert Machine tool, in particular hand-held compass saw
US8040023B2 (en) 2008-08-08 2011-10-18 Robert Bosch Gmbh Bending transducer for generating electrical energy from mechanical deformations

Also Published As

Publication number Publication date
DE3611030A1 (de) 1987-01-08
DD238938A1 (de) 1986-09-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5902448B2 (ja) 多レンズ光学系の光学面の曲率中心の位置の測定
CN107796329A (zh) 一种凸非球面反射镜面形检测装置及检测方法
JP2004530898A (ja) 非球面表面および波面に対する干渉計スキャニング
US7492468B2 (en) Free-form optical surface measuring apparatus and method
US11243139B2 (en) Device and method for optical measurement of an internal contour of a spectacle frame
JP2002071513A (ja) 液浸系顕微鏡対物レンズ用干渉計および液浸系顕微鏡対物レンズの評価方法
US5309214A (en) Method for measuring distributed dispersion of gradient-index optical elements and optical system to be used for carrying out the method
CN100588934C (zh) 偏芯量测量方法
CN106249222A (zh) 一种飞秒激光跟踪仪光轴几何误差标定装置
US11391564B2 (en) Active alignment technique for measuring tilt errors in aspheric surfaces during optical assembly using lens alignment station (LAS)
FR2584007A1 (fr) Dispositif a positionnement optique
US6924897B2 (en) Point source module and methods of aligning and using the same
CN109959342A (zh) 物镜数值孔径的检测方法及装置
JP3120885B2 (ja) 鏡面の測定装置
CN104536148B (zh) 一种实现镜面定位仪光束快速对准装置及对准方法
CN106383396A (zh) 一种基于表面反射像的微米级光电定心方法及装置
GB240426A (en) Improvements in optical methods of and devices for testing the position of two axial directions
FR2889585A1 (fr) Procede et dispositif de mesure de concentricite d'un coeur de fibre optique.
CN206193312U (zh) 一种基于表面反射像的微米级光电定心装置
US6459490B1 (en) Dual field of view optical system for microscope, and microscope and interferometer containing the same
FR2606522A1 (fr) Dispositif et procede optique de mise au point photoelectrique, notamment pour microscopes d'operations chirurgicales
FR2713785A1 (fr) Système de repérage d'orientation d'un instrument d'observation.
FR2985811A1 (fr) Dispositif optique, banc de test optique et procede de test optique.
EP2294379B1 (fr) Procédé et dispositif pour la mesure de distances focales d' un système dioptrique quelconque
JP4093564B2 (ja) クランプ装置の傾き調整方法

Legal Events

Date Code Title Description
TP Transmission of property
ST Notification of lapse