FR2381316A1 - Dispositif d'essais pour semi-conducteurs - Google Patents

Dispositif d'essais pour semi-conducteurs

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Abstract

Dispositif d'essais pour semi-conducteurs. Ce dispositif comporte un organe d'affichage à deux entrées, un organe d'émission de signaux à trois sorties, une première impédance entre la première sortie et la masse, des moyens pour mettre en parallèle avec la première impédance, la jonction à essayer, une seconde impédance entre la seconde sortie et la masse, une troisième impédance entre la troisième sortie et la masse et des moyens pour brancher et débrancher sélectivement de la troisième sortie la troisième impédance. Ce dispositif permet de déterminer les conditions opératoires de jonctions simples ou multiples à semi-conducteurs, par exemple des jonctions émetteur-collecteur de transistors ou des jonctions de condensateurs électrolytiques.
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