FR2305719A1 - Systeme de commande pour dispositifs utilisant les spectres de diffraction engendres par etincelle sur des echantillons metalliques - Google Patents

Systeme de commande pour dispositifs utilisant les spectres de diffraction engendres par etincelle sur des echantillons metalliques

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    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
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