FI93582B - Sovitelma prosessissa olevan optisen ikkunan puhdistamiseksi - Google Patents

Sovitelma prosessissa olevan optisen ikkunan puhdistamiseksi Download PDF

Info

Publication number
FI93582B
FI93582B FI914385A FI914385A FI93582B FI 93582 B FI93582 B FI 93582B FI 914385 A FI914385 A FI 914385A FI 914385 A FI914385 A FI 914385A FI 93582 B FI93582 B FI 93582B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
optical window
cleaning
nozzle
arrangement
body part
Prior art date
Application number
FI914385A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI914385A (fi
FI914385A0 (fi
FI93582C (fi
Inventor
Esko Kamrat
Original Assignee
Janesko Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Janesko Oy filed Critical Janesko Oy
Priority to FI914385A priority Critical patent/FI93582C/fi
Publication of FI914385A0 publication Critical patent/FI914385A0/fi
Publication of FI914385A publication Critical patent/FI914385A/fi
Publication of FI93582B publication Critical patent/FI93582B/fi
Priority to US08/390,374 priority patent/US5563737A/en
Application granted granted Critical
Publication of FI93582C publication Critical patent/FI93582C/fi

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B3/02Cleaning by the force of jets or sprays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/15Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N21/8507Probe photometers, i.e. with optical measuring part dipped into fluid sample
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0006Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 with means to keep optical surfaces clean, e.g. by preventing or removing dirt, stains, contamination, condensation
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B2230/00Other cleaning aspects applicable to all B08B range
    • B08B2230/01Cleaning with steam

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Accessory Devices And Overall Control Thereof (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)

Description

93582
Sovitelma prosessissa olevan optisen ikkunan puhdistamiseksi
Keksinnön kohteena on sovitelma prosessissa olevan 5 optisen ikkunan puhdistamiseksi, joka sovitelma käsittää välineet puhdistusväliaineen johtamiseksi prosessiin kuuluvan virtauksen tai vastaavan yhteyteen sovitettavalle optiselle ikkunalle, jotka välineet käsittävät suuttimen, joka on sovitettu kohdistamaan väliainesuihkun optisen ikkunan 10 pinnalle.
Prosessissa olevia optisia ikkunoita käytetään nykyään hyvin monilla eri teollisuuden aloilla, esimerkkinä voidaan mainita elintarviketeollisuus, paperiteollisuus, kemiallinen teollisuus ja erilaiset tutkimukset. Optinen 15 ikkuna voi kuulua osana erilaisiin mittalaitteisiin, esimerkkinä voidaan mainita prosessirefraktometri, jolla mitataan liuoksen pitoisuutta. Prosessirefraktometrissä optinen ikkuna voi muodostua esimerkiksi prismasta. Esimerkkinä tällaisista prosessirefraktometreistä voidaan mainita K-20 Patents Oy:n valmistama Process Refractometer PR-01.
Prosessiin sovitettujen optisten ikkunoiden ongelmana on ollut niiden likaantuminen, jolloin mittauksen lopputulos muodostuu epätarkaksi ja jopa virheelliseksi. Esimerkkinä alalla aiemmin käytetyistä ratkaisuista voidaan 25 mainita suutin, joka on sovitettu kohdistamaan esimerkiksi höyry- tai vesisuihkun optisen ikkunan pinnalle. Toisena esimerkkinä voidaan mainita mekaanisten puhdistusvälineiden, esimerkiksi pyyhkijöiden käyttö. Em. ratkaisut eivät kuitenkaan toimi riittävän hyvin vaikeissa olosuhteissa.
30 Suutinratkaisujen huonona puolena on ollut mm. niiden huono suunnattavuus ja herkkyys mitattavan virtauksen vaikutuksille. Mekaanisten puhdistuslaitteiden heikkoutena on ollut niiden herkkyys epäpuhtauksille, jolloin toiminta on ollut epäluotettavaa.
35 Em. syistä johtuen alalla on kehitetty uudenlaisia 2 93582 ratkaisuja, joiden tarkoituksena on optisen ikkunan luotettava puhdistus myös vaikeissa olosuhteissa. Esimerkkinä tällaisista laitteista voidaan mainita laitteisto, joka sovitetaan prosessiputken seinämään mittapäähän nähden 5 vastakkaiselle puolelle, jolloin puhdistuslaitteisto sijaitsee samalla kohdalla kuin mittapäässä oleva optinen ikkuna, mutta prosessiputken vastakkaisella seinällä. Puhdistuslaite siirretään paineilman avulla prosessiputken poikki kosketuksiin mittapään optisen ikkunan kanssa niin, 10 että puhdistuslaitteen kuppimainen elin ympäröi optista ikkunaa. Seuraavassa vaiheessa kuppimaiseen elimeen syötetään suolahappoa ennaltamäärätyn ajan. Ajatuksena on siis, että suolahappo puhdistaa optisen ikkunan. Puhdistusvaiheen päätyttyä kuppimainen elin siirretään takaisin alkuasen-15 toonsa. Edellä esitetty laitteisto on tarkoitettu toimimaan erityisesti viherlipeän yhteydessä tapahtuvissa mittauksissa.
Edellä esitetyn ratkaisun huonona puolena on ennen kaikkea sen monimutkaisuus ja liikkuvat mekanismit, jotka 20 jumittuvat helposti mekanismin likaantumisen seurauksena. Hapon käyttö ei myöskään ainakaan helpota laitteen käyttöä, sillä hapon käyttö on työturvallisuuden ja ympäristön kannalta ongelmallista. Huonona puolena on edelleen laitteiston hinta, joka monimutkaisuudesta johtuen nousee korkeak-25 si. Edellä mainitun tunnetun laitteiston käyttökustannukset muodostuvat myös korkeiksi lähinnä suuren huoltotar-peen takia.
Keksinnön tarkoituksena on aikaansaada sovitelma, jonka avulla aiemmin tunnetun tekniikan epäkohdat voidaan 30 eliminoida. Tähän on päästy keksinnön mukaisen sovitelman avulla, joka on tunnettu siitä, että suutin on sovitettu optisen ikkunan välittömään läheisyyteen sovittamalla se runko-osaan ja sovittamalla runko-osa tukevasti pienillä toleransseilla optisen ikkunan kiinnityskappaleeseen, jol-35 loin väliainesuihku saadaan suunnattua tarkasti optisen ikkunan pinnalle.
Keksinnön etuna on ennen kaikkea se, että keksinnön 3 93582 avulla pystytään aikaansaamaan tehokas optisen ikkunan puhdistus ilman hankaluuksia aiheuttavia liikkuvia mekanismeja ja voimakkaita liuottimia. Etuna on laitteiston yksinkertaisuus, josta johtuen valmistuskustannukset ja käyttökus-5 tannukset muodostuvat edullisiksi. Yksinkertaisesta rakenteesta johtuen keksinnön mukaisen sovitelman toimintavarmuus on hyvä. Etuna on edelleen sovitelman pieni koko, jolloin sovitelman sijoituksessa ei ole käytännön ongelmia. Sovitelman sijotettavuutta prosessiin helpottaa myös se, 10 että väliaine on täysin vaaratonta.
Keksintöä ryhdytään selvittämään seuraavassa tarkemmin oheisessa piirustuksessa esitetyn erään edullisen sovellutusesimerkin avulla, jolloin kuvio 1 esittää perspektiivikuvantona keksinnön mu-15 kaista sovitelmaa prosessirefraktometrin yhteydessä, kuviot 2-4 esittävät keksinnön mukaisen sovitelman runko-osaa eri suunnista nähtyinä kuvantoina ja kuvio 5 esittää keksinnön mukaisen sovitelman suu-tinta sivulta nähtynä kuvantona.
20 Kuviossa 1 on esitetty keksinnön mukainen sovitelma prosessirefraktometrin yhteyteen sovitettuna. Kuvion esimerkissä prosessirefraktometri on K-Patents Oy:n valmistama Process Refractometer PR-01. Optinen ikkuna, kuvion 1 esimerkissä prisma, on esitetty viitenumerolla 1.
25 Kuviossa 1 näkyvän prosessirefraktometrin rakenne ja toiminta on alan ammattimiehelle täysin normaalia tekniikkaa, joten ko. seikkoja ei esitetä tässä yhteydessä tarkemmin. Prosessirefraktometrin rakenteesta ja toiminnasta todetaan tässä yhteydessä ainoastaan yleisesti, että laite 30 sovitetaan esimerkiksi prosessiputken seinämään niin, että laitteen se pää, jossa optinen ikkuna 1 on, tulee kosketuksiin putkessa virtaavan aineen, esimerkiksi viherlipeän kanssa. Laitteen sisällä on valonlähde, josta valo johdetaan optiselle ikkunalle 1 niin, että optisen ikkunan 1 ku-35 viossa 1 näkyvässä pinnassa, joka on kosketuksissa putkessa 93582 4 virtaavaan aineeseen, tapahtuu valonsäteiden taipumista ja kokonaisheijastusta riippuen putkessa virtaavan aineen kon-sentraatiosta. Tieto siitä kulmasta, jossa kokonaisheijastus tapahtuu, muunnetaan sähköiseen muotoon laitteen elekt-5 roniikan avulla ja johdetaan edelleen laitteen ulkopuolelle esimerkiksi säätötoimenpiteitä tai taltiontia varten.
Kuvioihin on viitenumeron 2 avulla merkitty sovitel-man runko-osa. Runko-osa 2 on esitetty eri suunnista nähtyinä kuvantoina kuvioissa 2-4. Viitenumeron 3 avulla ku-10 vioihin on merkitty suutin ja viitenumeron 4 avulla vastaavasti putki väliaineen johtamista varten. Suutin 3 on kiinnitetty runko-osaan 2 ja putken 4 toinen pää vastaavasti myös runko-osaan 2. Putken 4 toinen pää yhdistetään väli-ainelähteeseen, jota ei ole esitetty kuvioissa.
15 Keksinnön perusidean mukaisesti optinen ikkuna 1 puhdistetaan suuttimesta 3, runko-osasta 2 ja putkesta 4 muodostuvan laitteiston avulla sijoittamalla suutin 3 optisen ikkunan 1 välittömään läheisyyteen ja kohdistamalla suuttimella 3 korkeapaineinen väliainesuihku optisen ikku-20 nan 1 pinnalle. Väliaineena voidaan käyttää esimerkiksi painevettä. Paineväliainesuihku puhdistaa optisen ikkunan 1 pinnan mekaanisesti iskeytyessään ko. pintaan. Aiemmin tunnetussa tekniikassa optinen ikkuna on puhdistettu esimerkiksi kemiallisesti. Suihku ohjataan optisen ikkunan 1 25 pintaan sopivassa kulmassa, kulma voi vaihdella kulloisenkin tilanteen mukaan. Esimerkkinä sopivista kulmista voidaan mainita 25°.
Suutin 3 on kiinnitetty optisen ikkunan 1 välittömään läheisyyteen kiinnittämällä se tukevasti pienillä 30 toleransseilla optisen ikkunan 1 kiinnityskappaleeseen. Väliainesuihku saadaan tällöin suunnattua tarkasti optisen ikkunan pinnalle. Tukeva kiinnitys ja pienet toleranssit, esimerkiksi työstökonetarkkuus, saavat aikaan sen että suihkun tarkkuus saadaan riitävän hyväksi ja tarkkuuden 35 pysyvyys myös riittäväksi myös vaikeissa tilanteissa.
tl- 5 93582
Kuvioiden esimerkissä suutin 3 on sovitettu kiinteästi refraktometriin, ts. samaan kappaleeseen kuin optinen ikkuna 1. Em. seikka on erittäin tärkeä, kuten edellä on todettu, sillä tällöin paineväliainesuihku saadaan suunnat-5 tua hyvin pienillä toleransseilla oikein ja puhdistustapah-tuma saadaan optimaaliseksi. Kuvioiden esimerkissä suutin 3 on kiinnitetty runko-osaan 2 ja runko-osa 2 vastaavasti refraktometriin optisen ikkunan välittömään läheisyyteen. Suutin 3 voidaan kiinnittää runko-osaan 2 esimerkiksi kier-10 rekiinnityksellä ja runko-osa vastaavasti ruuveilla 5.
Erityisen edulliseksi on havaittu sovittaa suutin 3 syvennykseen 6 niin, että syvennyksen 6 reunat suojaavat suutinta 3 prosessiin kuuluvalta virtaukselta. Em. seikka on olennainen, koska tällöin paineväliainesuihku pääsee 15 kehittymään suojassa mitattavan prosessiaineen virtaukselta optisen ikkunan kokoiseksi ja optinen ikkuna 1 saadaan peitettyä kokonaan tehokkaasti paineväliainesuihkulla. Em. seikalla on selvä vaikutus puhdistustulokseen. On huomattava, että prosessiin kuuluvalla aineella voi olla korkea 20 viskositetti ja virtaus voi olla suuri, jolloin virtaus voi ilman erityisjärjestelyjä häiritä paineväliainesuihkua olennaisesti. Kuvioiden esimerkissä syvennys 6 on muodostettu porauksesta. Suutin 3 sijoitetaan tässä sovellutus-muodossa porauksen pohjalle.
25 Kuvioiden esimerkkiä ei ole mitenkään tarkoitettu rajoittamaan keksintöä, vaan keksintöä voidaan muunnella patenttivaatimusten puitteissa täysin vapaasti. Näin ollen on selvää, että keksinnön mukaisen sovitelman tai sen osien ei välttämättä tarvitse olla juuri sellaisia kuin kuvioissa 30 on esitetty, vaan muunlaisiakin ratkaisuja voidaan käyttää. Suutinta ja runko-osaa ei tarvitse välttämättä muodostaa erillisiksi osiksi, vaan suutin voidaan muodostaa, esimerkiksi työstää runko-osaan, runko-osa muodostaa refraktomet-rin tai muun vastaavan laitteen kiinteäksi osaksi jne. Pai-35 neväliaineen paine voi vaihdella tarpeen mukaan, olennaista 6 93582 on ainoastaan se, että puhdistavan väliaineen paine on korkea kuten edellä on todettu. Esimerkkinä voidaan mainita 50 - 100 barin paine, jolloin suihkun mekaaninen efekti ja samalla puhdistusteho on hyvä. Väliaineen korkea paine 5 voidaan kehittää millä tahansa sinänsä tunnetulla tavalla.
Il:

Claims (4)

7 93582
1. Sovitelma prosessissa olevan optisen ikkunan puhdistamiseksi, joka sovitelma käsittää välineet puhdistusvä-5 liaineen johtamiseksi prosessiin kuuluvan virtauksen tai vastaavan yhteyteen sovitettavalle optiselle ikkunalle (1), jotka välineet käsittävät suuttimen, joka on sovitettu kohdistamaan väliainesuihku optisen ikkunan pinnalle, tunnettu siitä, että suutin (3) on sovitettu optisen ik-10 kunan (1) välittömään läheisyyteen sovittamalla se runko-osaan (2) ja sovittamalla runko-osa (2) tukevasti pienillä toleransseilla optisen ikkunan (1) kiinnityskappaleeseen, jolloin väliainesuihku saadaan suunnattua tarkasti optisen ikkunan (1) pinnalle.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen sovitelma, tun nettu siitä, että suuttimen (3) avulla optisen ikkunan (1) pinnalle suunnattava väliainesuihku on korkeapainesuih-ku.
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen sovitelma, 20 tunnettu siitä, että suutin (3) on sovitettu runko- osaan (2) muodostettuun syvennykseen (6) niin, että syvennyksen (6) reunat suojaavat sitä prosessiin kuuluvalta virtaukselta.
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen sovitelma, t u n -25 n e t t u siitä, että syvennys (6) on muodostettu porauksesta ja että suutin (3) on sovitettu porauksen pohjalle. 8 93582
FI914385A 1991-09-18 1991-09-18 Sovitelma prosessissa olevan optisen ikkunan puhdistamiseksi FI93582C (fi)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI914385A FI93582C (fi) 1991-09-18 1991-09-18 Sovitelma prosessissa olevan optisen ikkunan puhdistamiseksi
US08/390,374 US5563737A (en) 1991-09-18 1995-02-16 Arrangement for cleaning an optical window in a process

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI914385A FI93582C (fi) 1991-09-18 1991-09-18 Sovitelma prosessissa olevan optisen ikkunan puhdistamiseksi
FI914385 1991-09-18

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI914385A0 FI914385A0 (fi) 1991-09-18
FI914385A FI914385A (fi) 1993-03-19
FI93582B true FI93582B (fi) 1995-01-13
FI93582C FI93582C (fi) 1995-04-25

Family

ID=8533149

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI914385A FI93582C (fi) 1991-09-18 1991-09-18 Sovitelma prosessissa olevan optisen ikkunan puhdistamiseksi

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5563737A (fi)
FI (1) FI93582C (fi)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5844668A (en) * 1996-08-28 1998-12-01 Sami Protection window for optical sensors in industrial applications
DE19856473A1 (de) * 1998-11-27 2000-05-31 Tony Manjah Schutz- und Reinigungsvorrichtung für Objektive
DE19917632A1 (de) 1999-04-19 2000-10-26 Gunther Krieg Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Reinigung von optoelektronischen Sensorsystemen zur Stoffanalyse
FI110720B (fi) * 2001-04-09 2003-03-14 Metso Paper Automation Oy Menetelmä ja sovitelma mittalaitteen puhtaanapitämiseksi
GB2379976B (en) * 2001-09-20 2005-02-02 Ndc Infrared Eng Ltd Optical sampling window
JP4338008B2 (ja) * 2001-10-05 2009-09-30 津田駒工業株式会社 糊濃度計の清浄装置
DE102004033807B4 (de) * 2004-07-12 2010-12-16 Sidacon Systemtechnik Gmbh Gehäuse für optische Sensor- oder optische Sende-/Empfangseinheiten
JP2008536095A (ja) * 2005-02-11 2008-09-04 スワゲロック カンパニー 流体濃度感知配置
US8001984B2 (en) * 2006-06-06 2011-08-23 Sasaki Larry S Laparoscopic lens cleaner
US9050036B2 (en) 2007-06-19 2015-06-09 Minimally Invasive Devices, Inc. Device for maintaining visualization with surgical scopes
CN102307511B (zh) 2008-12-10 2015-06-03 微创设备股份有限公司 使用手术窥镜期间优化和维持手术区可视化的系统
USD613403S1 (en) 2008-12-10 2010-04-06 Minimally Invasive Devices, Llc Sheath tip for maintaining surgical scope visualization
GB2472857A (en) * 2009-08-21 2011-02-23 Process Instr Oxygen sensor housing with self cleaning system
DE102009045472B4 (de) * 2009-10-08 2021-06-17 Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg Sensorsystem
US9078562B2 (en) 2010-01-11 2015-07-14 Minimally Invasive Devices, Inc. Systems and methods for optimizing and maintaining visualization of a surgical field during the use of surgical scopes
JP5968886B2 (ja) 2010-08-04 2016-08-10 ミニマリー インべーシブ デバイシーズ, インコーポレイテッド 手術用顕微鏡を使用する間に術野の可視化を最適化および維持するためのシステムおよび方法
WO2012075487A2 (en) 2010-12-03 2012-06-07 Minimally Invasive Devices, Llc Devices, systems, and methods for performing endoscopic surgical procedures
US9285312B2 (en) * 2012-01-25 2016-03-15 Bayer Ag Reflection probe
US9001319B2 (en) 2012-05-04 2015-04-07 Ecolab Usa Inc. Self-cleaning optical sensor
WO2014151824A1 (en) 2013-03-14 2014-09-25 Minimally Invasive Devices, Inc. Fluid dispensing control systems and methods
FI126449B (fi) 2014-06-11 2016-12-15 Janesko Oy Menetelmä ja sovitelma prosessinesteestä otetun erillisnäytteen mittauksen yhteydessä

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3027644A (en) * 1959-02-20 1962-04-03 Vincent J Piscitelli Dental instrument
US3516723A (en) * 1966-10-20 1970-06-23 William Guier Means for establishing visual communication in fluids resistant to light penetration
DE1775543C3 (de) * 1968-08-24 1974-01-10 Deutsche Praezisions-Ventil Gmbh, 6234 Hattersheim Wirbelsprüheinrichtung zur Abgabe eines Produktes
US3628867A (en) * 1969-08-20 1971-12-21 Anacon Inc Refractometer
US3861198A (en) * 1972-11-03 1975-01-21 Gam Rad Fluid analyzer with self-cleaning viewing windows
FR2389889B1 (fi) * 1977-05-05 1981-06-12 Sofrance Sa
US4281646A (en) * 1978-06-30 1981-08-04 Olympus Optical Co., Ltd. Cleaning device for an observation window of an endoscope
JPS5648102A (en) * 1979-09-27 1981-05-01 Suwa Seikosha Kk Method of manufacturing thin film resistor
US4516288A (en) * 1984-05-07 1985-05-14 Chrysler Corporation Windshield washer dual spray nozzle
NL8402872A (nl) * 1984-09-19 1986-04-16 Optische Ind De Oude Delft Nv Inrichting voor het afschermen van optische organen bij een automatisch lasproces.
IT208024Z2 (it) * 1986-07-01 1988-03-31 Gilardini Spa Specchio retrovisore esterno per autoveicoli con dispoditivo di lavaggio della lastra riflettente
CH670513A5 (fi) * 1986-09-01 1989-06-15 Benno Perren

Also Published As

Publication number Publication date
FI914385A (fi) 1993-03-19
FI914385A0 (fi) 1991-09-18
FI93582C (fi) 1995-04-25
US5563737A (en) 1996-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI93582B (fi) Sovitelma prosessissa olevan optisen ikkunan puhdistamiseksi
KR890015660A (ko) 잠재적으로 뒤틀린 프린트 회로판을 검사하는 보상 시스템
EP0582320A2 (en) Measuring apparatus and method
JP2686026B2 (ja) 導管の内側に蓄積された薄層の厚みを決定する方法および装置
US6952009B1 (en) Apparatus, a system and a method for monitoring a position of a shaft element in a cylinder and an apparatus, a system and a method for cleaning of the shaft element
US20040083815A1 (en) Pipe flaw detector
US7180053B2 (en) Apparatus, a system and method for determining a position within a cylinder
US9285312B2 (en) Reflection probe
US6137571A (en) Optical instrument
US4125019A (en) Probe type electromagnetic flow meter with debris shedding capability
US7294823B2 (en) System and method for detecting a position of a movable element
JPH09500447A (ja) けい光検出器、およびけい光検出器に交換可能試料キュベットを支持する装置
US6832506B1 (en) Apparatus and method for measuring a property of a liquid
CN110672723B (zh) 超声波检测缺陷测定尺
WO2008119987A1 (en) Beverage property measurement
US5114557A (en) Selective plating apparatus with optical alignment sensor
US5698775A (en) Device for locating the position of the separation between two mediums, and a receptacle and a detection process employing the device
SE503062C2 (sv) Anordning för neutronradiografisk provning av ett kokvattenreaktor-styrelement
JPH09166599A (ja) 血液分注ラインの液面検知センサ
DE50010436D1 (de) Vorrichtung zur Erfassung der Lage eines Kolbens
CN109490200A (zh) Omd油份测量仪的测试用工具
JPS64561Y2 (fi)
ES2052116T5 (es) Dispositivo de medicion de la deformacion fijado sobre una pieza de maquina alargada, en particular la barra de rascado de un dispositivo de recubrimiento.
GB2269456A (en) Gasoline detecting device
CN109752497A (zh) 一种用于食品的可靠性高的酸碱性检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Owner name: JANESKO OY

BB Publication of examined application
MA Patent expired